ES2774184T3 - Aparato de medición que comprende componente adaptador - Google Patents

Aparato de medición que comprende componente adaptador Download PDF

Info

Publication number
ES2774184T3
ES2774184T3 ES09724366T ES09724366T ES2774184T3 ES 2774184 T3 ES2774184 T3 ES 2774184T3 ES 09724366 T ES09724366 T ES 09724366T ES 09724366 T ES09724366 T ES 09724366T ES 2774184 T3 ES2774184 T3 ES 2774184T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
conductive pattern
measuring
measurement
conductive
measuring apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
ES09724366T
Other languages
English (en)
Inventor
Henry Rimminen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MariCare Oy
Original Assignee
MariCare Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=39269471&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=ES2774184(T3) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by MariCare Oy filed Critical MariCare Oy
Application granted granted Critical
Publication of ES2774184T3 publication Critical patent/ES2774184T3/es
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • G01D5/2405Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by varying dielectric
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

Un aparato de medición, que comprende uno o más patrones conductores (1), medios de medición (3) para medir la impedancia producida por el acoplamiento eléctrico entre el patrón conductor y su entorno, y medios adaptadores (5) para adaptar la impedancia producida por el acoplamiento entre el patrón conductor (1) y su entorno a los medios de medición (3) anteriormente mencionados, caracterizado por que: los medios adaptadores (5) comprenden uno o más condensadores, y los medios adaptadores (5) están conectados en serie con el patrón conductor (1) anteriormente mencionado, en donde los patrones conductores (1) están configurados para instalarse como un grupo (4) debajo de una superficie del suelo y están conectados con conductores de sensor (2) al aparato de medición (3), y los patrones conductores están rodeados con aislamiento y cada patrón conductor está conectado solo a un conductor de sensor que está conectado al aparato de medición, y en donde el aparato de medición está configurado para medir corriente alterna utilizando el acoplamiento eléctrico entre cada patrón conductor y otros patrones conductores y/o la estructura que rodea los patrones conductores, en donde el intervalo de medición de los medios de medición (3) anteriormente mencionados sin los medios adaptadores (5) se encuentra fuera de un intervalo de impedancia producida por el acoplamiento eléctrico entre el patrón conductor (1) y su entorno, y los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados están adaptados para ajustar la impedancia producida por el acoplamiento eléctrico entre el patrón conductor (1) y su entorno para que se encuentre dentro del intervalo de medición de los medios de medición de tal modo que el aparato de medición es capaz de medir y controlar las resistencias de acoplamiento eléctrico específicas a un patrón conductor para detectar objetos (K, K1) dispuestos sobre o que se mueven sobre la superficie del suelo.

Description

DESCRIPCIÓN
Aparato de medición que comprende componente adaptador
Campo de la invención
La presente invención se refiere a un aparato de medición que comprende medios de medición, medios adaptadores y uno o más patrones conductores.
Técnica anterior
En las soluciones de la técnica anterior, los aparatos que miden la conexión eléctrica de un electrodo se implementan con una pluralidad bastante grande de componentes que incluye, por ejemplo, convertidores AD (analógico a digital), convertidores DA (digital a analógico), multiplexores, componentes diseñados para regular la tensión y también condensadores, resistores y bobinas. Además, se utiliza un transformador de acuerdo con la impedancia del punto de medición en algunas soluciones de la técnica anterior como un adaptador entre el aparato de medición y el punto de medición. Estos tipos de disposiciones de medición y aparatos de medición que están implementados con una cantidad bastante grande de componentes son complejos y elevados en términos de costes, por ejemplo, debido a su complejidad, la cual resulta problemática por su uso en aplicaciones en las que los altos costes de la disposición de medición son perjudiciales o resultan un obstáculo para la utilización de la solución. Se han desarrollado componentes de medición de capacitancia multicanal integrados para implementar la interfaz de usuario de pequeños aparatos con sensores táctiles capacitivos que miden una conexión eléctrica. En algunas soluciones de la técnica anterior, se implementa un teclado que detecta el tacto con una medición de capacitancia que utiliza sensores de electrodo único tipo película o delgados. En este tipo de solución, se mide la conexión eléctrica a los electrodos de los otros botones y/o a cualquier otro lugar en el entorno para detectar un toque ejercido sobre un botón. Un ejemplo de los componentes utilizados en estos tipos de soluciones es la familia de productos CapTouch™ de Analog Device™ de microcontroladores de convertidores de capacitancia a digital (CDC). El intervalo de medición de estos tipos de microcontroladores se ve limitado a la medición de los cambios de capacitancia en casos en los que la capacitancia total es como máximo unas pocas decenas de picofaradios.
Las ventajas de un microcontrolador utilizado para la medición de capacitancia son, por ejemplo, la sencillez de la solución de circuito basada en este, la pequeña cantidad de componentes necesarios por la solución y la poca necesidad de espacio, el pequeño número de capas de la placa de circuito necesarias y también el bajo consumo de corriente y poca demanda de potencia conseguido con la solución.
Un problema de las soluciones de la técnica anterior es el intervalo de medición limitado de aparatos y componentes que son económicos y adecuados para medir una conexión eléctrica. Son adecuados, por ejemplo, para la implementación de teclados táctiles que utilizan electrodos a pequeña escala, pero las soluciones de sensor que tienen un tamaño más grande tienen tal elevada capacitancia que la impedancia implementada a la frecuencia de medición es tan baja en conexión con ellos que los microcontroladores CDC o componentes correspondientes, aunque resultan económicos, no son adecuados para su uso en mediciones.
Una aplicación de la técnica anterior de medición de impedancia es la detección de objetos situados o que se mueven en las proximidades de patrones conductores basándose en la medición de los niveles de impedancia de los patrones conductores. En la publicación de patente US6407556 (Sensor para indicar cambios en la presencia de personas u objetos) se describe una solución de técnica anterior. La conexión eléctrica a medir que se determina por el tamaño del patrón conductor típico a usar en estos tipos de disposiciones de medición, por las estructuras que lo rodean y por otros factores, se corresponde en su escala de magnitud típicamente a una capacitancia de 1-30 nanofaradios (nF).
Algunas otras soluciones de la técnica anterior se describen en los siguientes documentos: GB2136138A, US2003107388A1, WO9422026A, US3525937A, EP0647833A, US2003030443A1, JPH06242159A, US2007075710A1 y US2007247438A1.
Breve descripción de la invención
La invención se caracteriza por lo que se menciona en las reivindicaciones.
La invención presenta una disposición de circuito utilizada en la medición de capacitancia, mediante la utilización de la cual el aparato de medición se ajusta a los patrones conductores utilizados como sensores en la disposición de medición, cuando las impedancias medidas mediante los patrones conductores son bajas.
El sistema de acuerdo con la invención para medir una conexión eléctrica comprende un aparato de medición que mide la capacitancia, así como también uno o más patrones conductores. La invención está caracterizada por que el patrón conductor está conectado al aparato de medición utilizando un componente adaptador, el cual ajusta la impedancia producida por el patrón conductor para que sea adecuada para el aparato de medición. El componente adaptador es, por ejemplo, un condensador, que a la frecuencia de medición produce una impedancia adecuada cuando está conectado al patrón conductor y al aparato de medición.
En realizaciones de la invención, el componente adaptador es un componente que está permanentemente conectado al aparato de medición. Además, en realizaciones de la invención, el componente adaptador es un componente que está permanentemente conectado al campo conductor.
La invención se refiere a un componente adaptador que ajusta la impedancia producida por el patrón conductor para que sea adecuada para el aparato de medición.
La invención se refiere adicionalmente a un campo conductor que comprende uno o más patrones conductores, cuyo campo conductor comprende uno o más componentes adaptadores que ajustan la impedancia producida por los patrones conductores para que sea adecuada para el aparato de medición.
El área de un patrón conductor individual de un campo conductor puede ser, por ejemplo, al menos 5, 50 o 500 centímetros cuadrados.
La invención se refiere a un aparato de medición, el cual comprende un componente adaptador que ajusta la impedancia producida por el patrón conductor para que sea adecuada para el aparato de medición. La impedancia más baja manejada por el aparato de medición puede corresponderse en la frecuencia de medición con, por ejemplo, una capacitancia de como máximo 60 picofaradios o 100 picofaradios. La frecuencia de medición utilizada por el dispositivo de medición puede ser, por ejemplo, 250 kHz. La capacitancia producida por un patrón conductor puede, en algunas realizaciones, encontrarse en su máximo, por ejemplo, al menos 101 o 200 picofaradios y, en algunas otras realizaciones (por ejemplo, con algunos otros patrones conductores) como máximo 5 nanofaradios. El componente adaptador está preferentemente dimensionado para aumentar la impedancia producida por el patrón conductor a una impedancia suficientemente grande para adecuarse al aparato de medición. Por ejemplo, un patrón conductor que en su máximo produce una capacitancia de 200 picofaradios puede equiparse con un condensador en serie de 80 picofaradios a un aparato que mide una capacitancia de como máximo 60 picofaradios, o un patrón conductor que en su máximo produce una capacitancia de 5 nanofaradios puede equiparse con un condensador en serie de 60 nanofaradios al mismo tipo de aparato de medición. Por otro lado, por ejemplo, un patrón conductor que en su máximo produce una capacitancia de 200 picofaradios puede equiparse con un condensador en serie de 200 picofaradios a un aparato que mide una capacitancia de como máximo 100 picofaradios.
El componente adaptador comprende uno o más condensadores. En algunas realizaciones preferentes el componente adaptador comprende al menos un condensador por patrón conductor. El componente adaptador está conectado en serie entre el patrón conductor y el aparato de medición.
La disposición de circuito de acuerdo con las distintas realizaciones de la invención para conectar el aparato de medición a los sensores permite, por ejemplo, un ajuste eléctrico entre el aparato de medición y los sensores de modo que se puede utilizar el mismo tipo de aparato de medición en conexión con las disposiciones de sensores que difieren en gran medida en sus propiedades eléctricas.
La invención también se refiere a una disposición que comprende uno o más patrones conductores, así como medios de medición para medir las conexiones eléctricas entre patrones conductores. La disposición comprende medios adaptadores para ajustar la impedancia producida por la conexión entre el patrón conductor y su entorno a los medios de medición (3) anteriormente mencionados.
Los medios adaptadores anteriormente mencionados ajustan la capacitancia del patrón conductor conectado a los medios de medición para que tenga una capacitancia adecuada para los medios de medición.
Los medios adaptadores anteriormente mencionados comprenden uno o más condensadores.
Los medios adaptadores anteriormente mencionados están conectados en serie con el patrón conductor anteriormente mencionado.
Los medios adaptadores anteriormente mencionados de acuerdo con una realización preferente son adecuados para medios de medición, cuyo intervalo de medición de capacitancia se amplía como máximo hasta 100 pF.
Los medios adaptadores anteriormente mencionados de acuerdo con una realización preferente se encuentran en su máximo adecuados para conectarse a un patrón conductor que produce como mínimo una capacitancia de 101 pF.
Una posible ventaja de la disposición de circuito de acuerdo con la invención con respecto a soluciones de la técnica anterior puede ser que un microcontrolador diseñado y concebido para otra finalidad de uso y, más en particular, para otra escala de tamaño, pueda utilizarse como el módulo de medición, cuyo microcontrolador contiene una gran cantidad de los medios necesarios en la medición y comprende una gran cantidad de los métodos necesarios en la medición. Un aparato de medición que utiliza este tipo de microcontrolador puede implementarse con una pequeña cantidad de componentes y con una disposición de circuito y placa de circuito sencillas, y resulta normalmente económico en sus costes totales. Ventajas adicionales de la disposición de circuito de acuerdo con la invención son su fiabilidad y bajo consumo de corriente. Una ventaja adicional de la disposición de circuito de acuerdo con la invención puede ser la sencillez del aparato de medición que se puede conseguir con la programabilidad del microcontrolador y la idoneidad para su uso en distintos puntos de medición. Otra ventaja más de la disposición de circuito de acuerdo con la invención puede ser que se pueden fabricar grandes cantidades del mismo aparato de medición simplemente seleccionando los componentes utilizados en el ajuste para cada finalidad de uso, con cuya solución se pueden lograr considerables ahorros en costes de diseño y costes de fabricación. Otra ventaja más de la disposición de circuito de acuerdo con la invención puede ser que solo los aparatos de medición, sin los componentes utilizados en el ajuste, pueden almacenarse para su uso en los diversos fines de uso de modo que los componentes a ajustar se instalan solo según la finalidad de uso y/o la ubicación de uso.
Descripción detallada de la invención
A continuación, se describirá la invención en más detalle haciendo referencia a las realizaciones presentadas a modo de ejemplo y a los dibujos adjuntos, en donde
La Fig. 1 presenta una disposición de conductor, que comprende un número de patrones conductores, utilizada en una realización de la invención.
La Fig. 2 presenta una disposición de circuito utilizada en una realización de la invención.
La Fig. 1 presenta una disposición de medición utilizada en una realización de la invención. Los patrones conductores (1) instalados como un grupo (4) debajo de la superficie del suelo están conectados con conductores de sensor (2) al aparato de medición (3). Los patrones conductores están rodeados con aislamiento y cada patrón conductor está conectado solo al conductor de sensor que está conectado al aparato de medición. El aparato de medición mide la corriente alterna utilizando la conexión eléctrica de cada patrón conductor con respecto a los otros patrones conductores y/o a la estructura que rodea los patrones conductores. La disposición de medición se utiliza para medir y controlar las resistencias de una conexión eléctrica específica con respecto a un patrón conductor con el fin de detectar objetos (K, K1) dispuestos sobre o que se mueven sobre la superficie del suelo.
La Fig. 2 presenta una disposición de circuito utilizada en una realización de la invención con respecto a la disposición que se encuentra en conexión con el aparato de medición. Esta parte de la disposición de circuito comprende un microcontrolador (6) utilizado como el módulo de medición en la medición y dispuesto en el aparato de medición (3) y condensadores (5) conectados en serie a cada conductor de sensor (2). El microcontrolador es uno multicanal y permite la conexión y uso de un número de sensores paralelos en la medición. El componente de medición utilizado hace una medición analógica y expresa el resultado de la medición como un valor digital. El microcontrolador puede programarse para medir a la frecuencia utilizada una conexión eléctrica específica de sensor de una magnitud de como máximo veinte picofaradios. El aparato de medición puede comprender otros componentes y conductores, que no se presentan en la Fig. 2. El condensador (5) se selecciona para el patrón conductor específico para que sea tal que cambia la corriente a medir que está implementada a la frecuencia de medición utilizada en la medición de la conexión del patrón conductor de modo que la corriente coincide con el intervalo que el microcontrolador (5) está ajustado para medir. Normalmente, se selecciona un tipo de condensador que produce corriente que se produce en el caso de la conexión que se corresponde con el límite superior del intervalo de medición en el caso del patrón conductor más fuerte posible en cuestión.
Se pueden utilizar procedimientos que difieren respecto a la instalación de los condensadores en serie en las distintas realizaciones de la invención. Los condensadores en serie pueden instalarse en el aparato de medición, por ejemplo, de forma permanente en conexión con la fabricación o cuando se instala el aparato de medición en conexión con la disposición de conductor instalada según la conexión eléctrica específica de conductor conocida y/o medible en el momento.
El condensador en serie utilizado de acuerdo con las distintas realizaciones de la invención limita la corriente que pasa a través del circuito a medir. La corriente alterna utilizada en la medición de resistencia del condensador es inversamente proporcional a la capacitancia del condensador. La capacitancia total del circuito a medir es la inversa de la suma de las inversiones de capacitancias individuales, en cuyo caso, la capacitancia total no puede formarse para que sea superior a la capacitancia del condensador en serie limitante incluso si la conexión del patrón conductor fuera superior.
La invención se refiere a una disposición que comprende uno o más patrones conductores (1) así como medios de medición (3) para medir las conexiones eléctricas entre patrones conductores. La disposición comprende medios adaptadores (5) para ajustar la impedancia producida por la conexión entre el patrón conductor (1) y su entorno a los medios de medición (3) anteriormente mencionados.
Los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados ajustan la capacitancia del patrón conductor (1) conectado a los medios de medición (3) para que tenga una capacitancia adecuada para los medios de medición.
Los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados comprenden uno o más condensadores.
Los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados están conectados en serie con el patrón conductor (1) anteriormente mencionado.
Los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados de acuerdo con una realización preferente son adecuados para medios de medición (3), cuyo intervalo de medición de capacitancia se amplía como máximo hasta 100 pF. Los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados de acuerdo con una realización preferente se encuentran en su máximo adecuados para conectarse a un patrón conductor (1) que produce como mínimo una capacitancia de 101 pF.
Resulta obvio para el experto en la técnica que las realizaciones ejemplares presentadas anteriormente son por motivos de claridad relativamente sencillas en su estructura y función. Siguiendo el modelo presentado en la primera solicitud de patente es posible construir soluciones distintas y también muy complejas que utilizan el concepto inventivo presentado en la presente solicitud de patente. La materia objeto para la cual se busca protección queda definida por las reivindicaciones adjuntas.

Claims (3)

REIVINDICACIONES
1. Un aparato de medición, que comprende uno o más patrones conductores (1), medios de medición (3) para medir la impedancia producida por el acoplamiento eléctrico entre el patrón conductor y su entorno, y medios adaptadores (5) para adaptar la impedancia producida por el acoplamiento entre el patrón conductor (1) y su entorno a los medios de medición (3) anteriormente mencionados, caracterizado por que:
los medios adaptadores (5) comprenden uno o más condensadores, y los medios adaptadores (5) están conectados en serie con el patrón conductor (1) anteriormente mencionado,
en donde los patrones conductores (1) están configurados para instalarse como un grupo (4) debajo de una superficie del suelo y están conectados con conductores de sensor (2) al aparato de medición (3), y los patrones conductores están rodeados con aislamiento y cada patrón conductor está conectado solo a un conductor de sensor que está conectado al aparato de medición, y
en donde el aparato de medición está configurado para medir corriente alterna utilizando el acoplamiento eléctrico entre cada patrón conductor y otros patrones conductores y/o la estructura que rodea los patrones conductores,
en donde el intervalo de medición de los medios de medición (3) anteriormente mencionados sin los medios adaptadores (5) se encuentra fuera de un intervalo de impedancia producida por el acoplamiento eléctrico entre el patrón conductor (1) y su entorno, y
los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados están adaptados para ajustar la impedancia producida por el acoplamiento eléctrico entre el patrón conductor (1) y su entorno para que se encuentre dentro del intervalo de medición de los medios de medición de tal modo que el aparato de medición es capaz de medir y controlar las resistencias de acoplamiento eléctrico específicas a un patrón conductor para detectar objetos (K, K1) dispuestos sobre o que se mueven sobre la superficie del suelo.
2. Un aparato de medición de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado por que los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados son adecuados para medios de medición (3), cuyo intervalo de medición de capacitancia se amplía como máximo hasta 100 pF.
3. Un aparato de medición de acuerdo con la reivindicación 2, caracterizado por que los medios adaptadores (5) anteriormente mencionados están en su máximo adecuados para conectarse a un patrón conductor (1) que produce al menos una capacitancia de 101 pF.
ES09724366T 2008-03-26 2009-03-24 Aparato de medición que comprende componente adaptador Active ES2774184T3 (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20080235A FI121979B (fi) 2008-03-26 2008-03-26 Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään
PCT/FI2009/050220 WO2009118453A2 (en) 2008-03-26 2009-03-24 Adaptor component for a measuring system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2774184T3 true ES2774184T3 (es) 2020-07-17

Family

ID=39269471

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES09724366T Active ES2774184T3 (es) 2008-03-26 2009-03-24 Aparato de medición que comprende componente adaptador

Country Status (10)

Country Link
US (1) US9151641B2 (es)
EP (1) EP2274629B1 (es)
JP (1) JP5716249B2 (es)
KR (1) KR101541944B1 (es)
DK (1) DK2274629T3 (es)
ES (1) ES2774184T3 (es)
FI (1) FI121979B (es)
PL (1) PL2274629T3 (es)
PT (1) PT2274629T (es)
WO (1) WO2009118453A2 (es)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102466120B1 (ko) 2020-11-24 2022-11-11 이레산업(주) 3상 전력의 전압-전류 측정기용 전류측정 어댑터장치

Family Cites Families (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3372319A (en) * 1966-05-23 1968-03-05 Robertshaw Controls Co Sensing element for proximity detectors and the like
US3525937A (en) 1967-10-19 1970-08-25 Ibm Matched impedance test probe fixture
US4305007A (en) * 1979-08-22 1981-12-08 Gerald N. Stan Electronic two directional control apparatus
US4565966A (en) 1983-03-07 1986-01-21 Kollmorgen Technologies Corporation Method and apparatus for testing of electrical interconnection networks
US5053757A (en) * 1987-06-04 1991-10-01 Tektronix, Inc. Touch panel with adaptive noise reduction
US5073757A (en) * 1988-09-23 1991-12-17 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus for and method of measuring capacitance of a capacitive element
US5463388A (en) * 1993-01-29 1995-10-31 At&T Ipm Corp. Computer mouse or keyboard input device utilizing capacitive sensors
JPH06242159A (ja) * 1993-02-19 1994-09-02 New Japan Radio Co Ltd 静電容量測定装置
US5469364A (en) 1993-03-15 1995-11-21 Hughey; Bradley W. Apparatus and methods for measuring and detecting variations in the value of a capacitor
FI98567C (fi) 1993-09-29 1997-07-10 Vaisala Oy Impedanssianturi, etenkin radiosondikäyttöön, sekä menetelmä anturin valmistamiseksi
US5661269A (en) * 1994-02-03 1997-08-26 Wacom Co., Ltd. Position pointing device having resonant circuit with sequentially changed characteristics and combination thereof with position detecting device
JP3378337B2 (ja) * 1994-02-24 2003-02-17 株式会社ワコム 位置検出装置及びその位置指示器
JPH09280806A (ja) 1996-04-09 1997-10-31 Nissan Motor Co Ltd 静電容量式変位計
US5760715A (en) * 1996-04-15 1998-06-02 Pressenk Instruments Inc. Padless touch sensor
JPH10262951A (ja) * 1997-01-23 1998-10-06 Toshiba Corp 指照合システム
JP3262013B2 (ja) 1997-02-24 2002-03-04 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
SE511349C2 (sv) * 1997-03-06 1999-09-13 Jan Rudeke Kapacitiv sensor för närvaroindikering
US6304091B1 (en) * 1998-02-10 2001-10-16 Immersion Corporation Absolute position sensing by phase shift detection using a variable capacitor
JP3237629B2 (ja) * 1998-10-27 2001-12-10 ぺんてる株式会社 直接触式タッチパネル装置
US6466036B1 (en) * 1998-11-25 2002-10-15 Harald Philipp Charge transfer capacitance measurement circuit
JP2000172833A (ja) * 1998-12-10 2000-06-23 Omron Corp 指紋照合装置
US6452514B1 (en) * 1999-01-26 2002-09-17 Harald Philipp Capacitive sensor and array
WO2000075417A1 (en) 1999-06-04 2000-12-14 Interface, Inc. Floor covering with sensor
JP3771766B2 (ja) * 2000-02-16 2006-04-26 三菱重工業株式会社 静電チャック評価装置及び静電チャック評価方法
JP4336066B2 (ja) * 2001-07-11 2009-09-30 株式会社豊田中央研究所 静電容量型センサ装置
US6864687B2 (en) * 2001-08-01 2005-03-08 Amfit, Inc. Electrostatic sensor device and matrix
JP2003078365A (ja) * 2001-09-05 2003-03-14 Sony Corp オペアンプ回路、静電容量検出装置および指紋照合装置
US7088112B2 (en) 2001-09-06 2006-08-08 Tokyo Electron Limited Sensor capacity sensing apparatus and sensor capacity sensing method
US6927581B2 (en) * 2001-11-27 2005-08-09 Upek, Inc. Sensing element arrangement for a fingerprint sensor
US6922059B2 (en) 2001-12-10 2005-07-26 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc Electric field sensor
US6781391B2 (en) 2001-12-12 2004-08-24 Tektronix, Inc. Multi-channel, low input capacitance signal probe and probe head
US6720777B2 (en) * 2002-02-15 2004-04-13 Rosemount Inc. Bridged capacitor sensor measurement circuit
US7006078B2 (en) * 2002-05-07 2006-02-28 Mcquint, Inc. Apparatus and method for sensing the degree and touch strength of a human body on a sensor
GB0301980D0 (en) 2003-01-28 2003-02-26 Natural Environment Res Systems and methods for resistivity measurement
US6995573B2 (en) * 2003-05-07 2006-02-07 I F M Electronic Gmbh Process for determining the position of an influencing element with an inductive position sensor
JP4009953B2 (ja) * 2003-05-14 2007-11-21 オムロン株式会社 物体検知センサ
FI20040044A0 (fi) 2003-08-20 2004-01-15 Raimo Erik Sepponen Menetelmä ja laiteisto valvontaan
WO2005019766A2 (en) * 2003-08-21 2005-03-03 Harald Philipp Capacitive position sensor
US7208694B2 (en) * 2004-04-16 2007-04-24 Wabtec Holding Corp. Capacitance activated switch device
WO2006003245A1 (en) 2004-07-06 2006-01-12 Upm-Kymmene Corporation Sensor product for electric field sensing
EP1637875A1 (en) * 2004-09-17 2006-03-22 Fondazione Torino Wireless A multi-frequency capacitive measurement device and a method of operating the same
US8274481B2 (en) * 2004-10-22 2012-09-25 Sharp Kabushiki Kaisha Display device with touch sensor, and drive method for the device
US7023221B1 (en) * 2005-05-09 2006-04-04 Holylite Microectronics Corporation Structure of object proximity and position detector
US7288946B2 (en) * 2005-06-03 2007-10-30 Synaptics Incorporated Methods and systems for detecting a capacitance using sigma-delta measurement techniques
US20070024592A1 (en) * 2005-07-27 2007-02-01 Tyco Electronics Corporation Touch sensor circuitry and system
US20070074913A1 (en) * 2005-10-05 2007-04-05 Geaghan Bernard O Capacitive touch sensor with independently adjustable sense channels
JP2007121125A (ja) 2005-10-28 2007-05-17 Hioki Ee Corp 電流検出装置および静電容量測定装置
US7924029B2 (en) * 2005-12-22 2011-04-12 Synaptics Incorporated Half-bridge for capacitive sensing
US10203814B2 (en) * 2006-04-20 2019-02-12 Nokia Technologies Oy Sensor arrangement comprising a conductive layer
US20070268272A1 (en) * 2006-05-19 2007-11-22 N-Trig Ltd. Variable capacitor array
US8040321B2 (en) * 2006-07-10 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Touch-sensor with shared capacitive sensors
US9507465B2 (en) 2006-07-25 2016-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Technique for increasing the sensitivity of capacitive sensor arrays
US20080047764A1 (en) * 2006-08-28 2008-02-28 Cypress Semiconductor Corporation Temperature compensation method for capacitive sensors
US8547114B2 (en) * 2006-11-14 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to code converter with sigma-delta modulator
KR100834743B1 (ko) * 2006-12-21 2008-06-05 삼성전자주식회사 커패시턴스 측정 회로 및 그에 따른 커패시턴스 측정 방법
AU2008274151A1 (en) 2007-07-11 2009-01-15 Marimils Oy Method and device for capacitive detection of objects
US8059103B2 (en) * 2007-11-21 2011-11-15 3M Innovative Properties Company System and method for determining touch positions based on position-dependent electrical charges
KR100915396B1 (ko) * 2008-02-22 2009-09-03 삼성전자주식회사 현상제 카트리지, 현상유닛 및 이를 구비한 화상형성장치

Also Published As

Publication number Publication date
WO2009118453A3 (en) 2009-11-19
PT2274629T (pt) 2020-03-24
FI20080235A (fi) 2009-09-27
WO2009118453A2 (en) 2009-10-01
JP5716249B2 (ja) 2015-05-13
EP2274629A2 (en) 2011-01-19
FI20080235A0 (fi) 2008-03-26
DK2274629T3 (da) 2020-03-09
EP2274629B1 (en) 2019-12-25
KR101541944B1 (ko) 2015-08-04
US9151641B2 (en) 2015-10-06
US20110068808A1 (en) 2011-03-24
JP2011515692A (ja) 2011-05-19
KR20110029113A (ko) 2011-03-22
PL2274629T3 (pl) 2020-06-29
FI121979B (fi) 2011-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2855524T3 (es) Sensor de medición de tensión aislado y autocalibrado
JP5951005B2 (ja) 電束に関する異なる二つの値によって対象物の電位を非接触式に検出するための方法並びに装置
RU2565595C2 (ru) Детектор контакта с кожей
EP2741064A2 (en) Capacitive Tactile Sensor
WO2012144550A1 (ja) 静電容量型センサ装置
JP5379687B2 (ja) タッチ・センサー
TW201241710A (en) Two-dimensional capacitance touch panel with single-layer touch sensor
CN108072788B (zh) 用于非接触式电压测量装置的传感器子系统
TW200950177A (en) OLED illumination device with integrated proximity sensor
US11473938B2 (en) Enhancing sensitivity and robustness of mechanical rotation and position detection with capacitive sensors
JP2011065614A5 (ja) センサ基板および位置検出装置
TW201101686A (en) Proximity sensor and revolution operation detecting device
JP6294474B2 (ja) センシング
ES2774184T3 (es) Aparato de medición que comprende componente adaptador
JP2014527325A5 (es)
TWI432744B (zh) 利用共振頻移之電容式觸控螢幕之電氣特性檢查裝置
JP6522740B2 (ja) 荷重計測装置
CN111213028A (zh) 传感器未对准测量的方法和装置
JP7217445B2 (ja) 睡眠姿勢測定装置と睡眠姿勢測定方法
US9189120B2 (en) Device for detecting the location coordinates of a pressure point within a sensor field
RU131543U1 (ru) Конструкция емкостной кнопки (варианты)
Tarasenko et al. The capacitive absolute strain gauge