JP4650152B2 - 電子部品の特性測定・選別方法および装置 - Google Patents

Description

この発明は、電子部品の特性測定・選別方法および装置に関するもので、特に、一旦不良とされた電子部品について、特性測定および選別の各工程を再度実施するようにした、電子部品の特性測定・選別方法および装置に関するものである。

たとえば多層回路基板をもって構成されるモジュール部品のような電子部品は、外部接続用端子となるべき複数の外部電極を備えている。また、このような電子部品を出荷するにあたっては、その電気的特性を測定し、それによって得られた測定データに従って、良品と不良品とに選別される。電気的特性を測定する工程では、通常、複数の外部電極の各々に測定用端子を同時に接触させた状態で複数の測定項目について電気的特性が測定される。また、測定工程が、複数段階に分けて実施されることもある。

選別工程では、上述した測定工程での測定データに従って、良品と不良品とに選別されるが、不良品と判定される電子部品の中には、真の不良ではなく、単に、測定工程において測定用端子が電子部品の外部電極に適正に接触しなかったことが原因となっているものもある。

電子部品が、たとえばチップコンデンサのように安価なものである場合には、上述したような測定用端子の外部電極への接触不良が原因となって不良と判定された電子部品をも、不良品として処理されることにそれほど抵抗感はないが、モジュール部品のように比較的高価な電子部品の場合には、単なる接触不良をもって不良品と判定された電子部品をも、真の不良品とともに捨ててしまうことには少なからず抵抗感がある。

また、たとえばモジュール部品のような電子部品の場合、外部電極の数が３つ以上と多いため、測定工程において、これら外部電極の各々に測定用端子を同時に接触させたとき、いずれかの外部電極において接触不良が生じている確率が比較的高いことも考慮されなければならない。

そこで、選別工程において、一旦不良品と判定された電子部品が、真の不良品であるかどうかを見極めるため、一旦不良品とされた電子部品について、再度、測定工程および選別工程を実施することが、たとえば特開平５−９９９７１号公報（特許文献１）において提案されている。

特許文献１では、一旦不良とされた電子部品について、再度、測定工程を実施するとき、この測定工程での測定速度（検査速度）を遅くし、それによって、測定精度を高めるようにしている。その結果、接触不良が原因となって不良品と判定された電子部品、すなわち真の不良ではない電子部品の廃棄を避けることができる。このことは、特に比較的高価な電子部品にとって有利である。

しかしながら、特許文献１に記載の技術によれば、選別工程において不良品とされた電子部品のすべてについて、再び、測定工程および選別工程が実施される。したがって、１回目の選別工程において不良品とされた電子部品の数が多い場合、２回目の測定工程での測定速度が遅くされるので、２回目の測定工程および選別工程を迅速に終えることができない場合がある。また、１回目の選別工程において不良とされた電子部品において、接触不良が原因となった不良に対し、真の不良の比率が高い場合には、本来、２回目の測定工程および選別工程を実施する必要のない多くの電子部品に対して２回目の測定工程および選別工程を実施していることになるため、結果として、無駄の時間を多く費やしていたことになってしまう。
特開平５−９９９７１号公報

そこで、この発明の目的は、上述したような問題を解決し得る、電子部品の特性測定・選別方法および装置を提供しようとすることである。

この発明は、複数の外部電極を有する電子部品の電気的特性を、複数の外部電極の各々に測定用端子を同時に接触させた状態で測定する、測定工程と、測定工程での測定データに従って、電子部品を良品と不良品とに選別する、選別工程とを備える、電子部品の特性測定・選別方法にまず向けられるものであって、上述した技術的課題を解決するため、次のような構成を備えることを特徴としている。

すなわち、この発明に係る電子部品の特性測定・選別方法は、上記選別工程において不良品とされた電子部品のうち、上記測定工程での測定データから判断して、測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品を、特定の判断基準に従って選び出す、再測定要否判定工程をさらに備えることを特徴としている。この再測定要否判定工程で選び出された電子部品については、再び、測定工程および選別工程が実施される。

さらに、この発明に係る電子部品の特性測定・選別方法は、測定工程において、共通の外部電極と測定用端子との接触によって測定される少なくとも第１および第２の測定項目について、それぞれ、第１および第２の電気的特性が測定されることを特徴としている。このように、第１および第２の電気的特性が測定されるとき、これら第１および第２の電気的特性のいずれか一方のみが不良となっている場合、外部電極への測定用端子の接触不良ではありえない。なぜなら、接触不良であるならば、第１および第２の電気的特性のいずれもが不良となるからである。したがって、再測定要否判定工程では、第１および第２の電気的特性のいずれか一方のみが不良となった電子部品以外の電子部品を、測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品として選び出すようにされる。

この発明に係る電子部品の特性測定・選別方法は、次のように実施されてもよい。選別工程において不良品とされた電子部品のうち、真の不良と判断される電子部品を除いた電子部品の不良率を所定のしきい値と比較して、不良率がしきい値より高い場合には、再測定要否判定工程において、第１の実施態様に係る判断基準に従って、測定用端子の外部電極への接触不良が原因であると判断できる電子部品を選び出すようにされ、不良率がしきい値より低い場合には、再測定要否判定工程において、第２の実施態様による判断基準に従って、真の不良であると判断できる電子部品以外の電子部品を選び出すようにされる。

この発明は、また、複数の外部電極を有する電子部品の電気的特性を、複数の外部電極の各々に測定用端子を同時に接触させた状態で測定する、測定部と、測定部で測定された測定データに従って、電子部品を良品と不良品とに選別する、選別部とを備える、電子部品の特性測定・選別装置にも向けられる。

この発明に係る電子部品の特性測定・選別装置は、選別部において不良品とされた電子部品のうち、測定部で測定された測定データから判断して、測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品を、特定の判断基準に従って選び出す、再測定要否判定部をさらに備え、測定部において、共通の外部電極と測定用端子との接触によって測定される少なくとも第１および第２の測定項目について、それぞれ、第１および第２の電気的特性が測定され、再測定要否判定部において、判断基準に従って、第１および第２の電気的特性のいずれか一方のみが不良となった電子部品以外の電子部品を、測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品として選び出すようにされ、再測定要否判定部で選び出された電子部品を、再び、測定部および選別部へ戻すようにしたことを特徴としている。

この発明によれば、１回目の選別工程において不良品とされた電子部品のすべてを２回目の測定工程および選別工程へと送るのではなく、１回目の測定工程での測定データから判断して、測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品を、特定の判断基準に従って選び出す、再測定要否判定工程を実施し、この再測定要否判定工程で選び出された電子部品についてのみ、２回目の測定工程および選別工程を実施するようにしている。したがって、２回目の測定工程および選別工程が実施されるのは、再測定が必要とされる可能性のある電子部品に絞られ、再測定される電子部品の数を少なくすることができるため、２回目の測定工程および選別工程を迅速に終えることができる。

また、再測定要否判定工程において、真の不良であると判断できる電子部品以外の電子部品を選び出すようにしているので、真の不良であると判断できなかった電子部品については、たとえ真の不良であっても、２回目の測定工程および選別工程に送られる。そのため、特性測定および選別の精度が高められ、良品であるにも関わらず、不良品として処理される確率を低くすることができる。

選別工程において不良品とされた電子部品のうち、真の不良と判断される電子部品を除いた電子部品の不良率を所定のしきい値と比較し、不良率がしきい値より高い場合には、第１の実施態様に係る判断基準を採用し、不良率がしきい値より低い場合には、第２の実施態様に係る判断基準を採用するようにすれば、再測定要否判定工程において、良品であるにも関わらず不良品として処理される電子部品の数を低減しながらも、２回目の測定工程および選別工程の能率を低下させないようにすることができる。

図１は、この発明が適用され得る電子部品１を示す底面図である。

電子部品１は、たとえば多層回路基板をもって構成される電子部品本体２を備えるモジュール部品である。電子部品１は、外部接続用端子となるべき複数の、たとえば６つの外部電極３〜８を備えている。外部電極３〜８は、電子部品本体２の少なくとも底面９上に露出するように形成されている。

このような電子部品１を出荷するにあたっては、いくつかの測定項目について電気的特性を測定し、それによって得られた測定データに従って、良品と不良品とに選別することが行なわれている。電気的特性を測定する工程では、６つの外部電極３〜８の各々に測定用端子（図示せず。）を同時に接触させた状態で複数の測定項目について電気的特性が測定される。

図２は、電子部品の特性測定・選別装置において実施される、この発明の参考例としての電子部品の特性測定・選別方法を説明するためのフロー図である。図２に示すように、この参考例では、特性測定・選別装置に備える測定部は、第１ステーション１２および第２ステーション１３を備えていて、この測定部において実施される測定工程１１は、第１ステーション１２での測定と、これに続く第２ステーション１３での測定というように、２段階に分けて実施される。なお、測定工程１１は、３段階以上に分けて実施されてもよい。

図３は、図２に示した第１ステーション１２および第２ステーション１３においてそれぞれ測定される測定項目を示す図である。図３には、また、各測定項目の測定のために用いられる外部電極が示されている。

図３を参照して、第１ステーション１２では、外部電極３および４を用いて測定項目Ａについての電気的特性、外部電極３および４を用いて測定項目Ｂについての電気的特性、外部電極３および５を用いて測定項目Ｃについての電気的特性、ならびに外部電極３および６を用いて測定項目Ｄについての電気的特性がそれぞれ測定される。

次に、第２ステーション１３では、外部電極３および４を用いて測定項目Ａについての電気的特性、外部電極３および８を用いて測定項目Ｅについての電気的特性、外部電極３および５を用いて測定項目Ｆについての電気的特性、ならびに外部電極３および６を用いて測定項目Ｄについての電気的特性がそれぞれ測定される。

次いで、特定測定・選別装置に備える選別部において、選別工程１４が実施される。選別工程１４では、測定工程１１での測定データに従って、電子部品１の良否が判定され、この判定結果に基づき、良品と不良品とに選別される。選別工程１４において良品として選別された電子部品１は、良品収納部１５に供給される。

他方、選別工程１４において不良品とされた電子部品は、直ちに不良品収納部１６へと供給されるのではなく、まず、特定測定・選別装置に備える再測定要否判定部へと送られ、ここで、再測定の要否を判定するための再測定要否判定工程１７が実施される。

より詳細には、再測定要否判定工程１７では、選別工程１４において不良品とされた電子部品１のうち、測定工程１１での測定データから判断して、測定用端子の外部電極３〜８への接触不良が原因である可能性のある電子部品１を、特定の判断基準に従って選び出すことが行なわれる。そして、再測定要否判定工程１７で選び出された、再測定が必要な電子部品１についてのみ、再び、測定工程１１および選別工程１４が実施される。なお、このような測定工程１１および選別工程１４の実施の繰り返しは、通常、１回とされるが、取り扱われる電子部品１のコストとの関係で、複数回とされてもよい。

他方、再測定要否判定工程１７において、再測定が不要とされて選び出されなかった電子部品１については、不良品収納部１６へと供給される。

特に、この参考例では、再測定要否判定工程１７において、測定用端子の外部電極３〜８への接触不良が原因であると判断できる電子部品１を選び出すようにされる。このような判断基準は、たとえば、次のように具体化される。

図３を参照して、第１ステーション１２において測定される測定項目Ａは、第２ステーション１３においても測定される。この場合、第１ステーション１２での測定条件と第２ステーション１３での測定条件が互いに同じであるならば、測定項目Ａについて第１ステーション１２で測定した電気的特性の測定値は、第２ステーション１３で測定した電気的特性の測定値と実質的に同一でなければならない。あるいは、第１ステーション１２での測定条件と第２ステーション１３での測定条件とが互いに異なっていても、測定項目Ａについて第１ステーション１２で測定した電気的特性の測定値は、第２ステーション１３で測定した電気的特性の測定値と少なくとも所定の相関関係を有しているべきである。

したがって、この相関関係を満たしていない電子部品１については、測定用端子の外部電極３および４のいずれかへの接触不良が生じていた可能性が高く、このような電子部品１については、再び、測定工程１１および選別工程１４を実施するように選び出される。

他方、上述のように測定用端子の外部電極３および４のいずれかへの接触不良が原因であると判断できる電子部品１以外の電子部品１については、それが接触不良であろうが真の不良であろうが関係なく、再測定不要と判定され、不良品収納部１６へと送られる。

図４は、この発明の第１の実施形態による電子部品の特性測定・選別方法を説明するためのフロー図である。図４において、図２に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。図５は、図４に示した第１および第２ステーション１２および１３においてそれぞれ測定される測定項目を示す図であって、第１の実施形態を説明するためのものである。

第１の実施形態では、第１および第２ステーション１２および１３において、図５に示すように、参考例の場合と同様の測定項目についての電気的特性の測定が実施され、同様の選別工程１４が実施される。第１の実施形態では、再測定要否判定工程１７ａでの判断基準が、参考例における再測定要否判定工程１７での判断基準と異なっている。

第１の実施形態では、再測定要否判定工程１７ａにおいて、真の不良であると判断できる電子部品１以外の電子部品１を選び出すようにされる。この判断基準は、たとえば、次のように具体化される。

図５に示すように第１ステーション１２において測定される測定項目ＡおよびＢは、ともに、外部電極３および４と測定用端子との接触によって測定されるものである。 このような場合、測定項目ＡおよびＢのいずれか一方のみについての電気的特性の測定値が不良となっている状況の下では、外部電極３および４への測定用端子の接触不良であると考えることができる余地はない。なぜなら、接触不良であるならば、測定項目ＡおよびＢの双方について、電気的特性の測定値が不良となるからである。

したがって、再測定要否判定工程１７ａでは、測定項目ＡおよびＢのいずれか一方のみについての電気的特性の測定値が不良となった電子部品１以外の電子部品１を選び出し、これを、再び、測定工程１１および選別工程１４へと送るようにされる。したがって、第１の実施形態によれば、真の不良であると判断できなかった電子部品１については、たとえこれが真の不良であっても、２回目の測定工程１１および選別工程１４に送られることになり、その結果、特性測定および選別の精度が高められ、良品であるにも関わらず、不良品として処理される確率を低くすることができる。

図６は、図５に対応する図であって、第２の実施形態を説明するためのものである。第２の実施形態は、上記第１の実施形態の変形例であり、第２の実施形態に係る特性測定・選別方法の基本的構成については、図４に示されている。

第２の実施形態では、第１ステーション１２における測定項目Ｄまたは第２ステーション１３における測定項目Ｄに注目される。測定項目Ｄについての電気的特性は、たとえば「消費電流」などのように、測定用端子が外部電極３〜８に正しく接触していないと測定できないことが分かっているものである。

したがって、測定項目Ｄについての電気的特性が測定可能であり、しかも、この電気的特性の測定値が不良となった場合には、当該電子部品１を真の不良と判断することができる。その結果、図４に示した再測定要否判定工程１７ａでは、測定項目Ｄについての電気的特性の測定値が不良となった電子部品１以外の電子部品１を選び出すようにされる。

上述した第１および第２の実施形態では、再測定要否判定工程１７ａにおける判断基準は、測定工程１１における一方のステーション、たとえば第１ステーション１２おいて測定される測定項目のみに基づいている。したがって、第１または第２の実施形態は、測定工程１２が複数段階に分けられて実施されない場合にも適用することができる。

上述した参考例と第１または第２の実施形態とは、次のように使い分けられてもよい。すなわち、選別工程において不良品とされた電子部品１のうち、真の不良と判断される電子部品１を除いた電子部品１の不良率を所定のしきい値と比較して不良率がしきい値より高い場合には、図２に示した参考例が採用され、再測定要否判定工程１７において、測定用端子の外部電極３〜８への接触不良が原因であると判断できる電子部品１を再測定のために選び出すようにされ、他方、不良率がしきい値より低い場合には、図４に示した第１または第２の実施形態が採用され、再測定要否判定工程１７ａにおいて、真の不良であると判断できる電子部品１以外の電子部品１を再測定のために選び出すようにされる。

より具体的には、この発明に係る特性測定・選別装置において選別された電子部品１は、それぞれ、「良品」、「端子の接触不良が原因の不良」、「真の不良」および「どちらともいえない（端子の接触不良ではないが真の不良ともいえない）不良」のトレイ（箱）に分けて収納される。一定数の測定選別が終了した時点で、「端子の接触不良が原因の不良」および「どちらともいえない不良」の合計数の全数に対する割合を算出して不良率とし、これと予め設定してあったしきい値とを比較する。不良率がしきい値より大きい場合は、「端子の接触不良が原因の不良」のみを再測定に回し、不良率がしきい値より小さい場合は、「端子の接触不良が原因の不良」および「どちらともいえない不良」の双方を再測定に回す。

このように参考例と第１または第２の実施形態とを使い分けると、良品であるにも関わらず、不良として処理される電子部品１の数を低減しながらも、２回目の測定工程および選別工程の能率を低下させないようにすることができる。

この発明が適用される電子部品の一例を示す底面図である。 この発明の参考例としての電子部品の特性測定・選別方法を説明するためのフロー図である。 図２に示した第１および第２のステーション１２および１３においてそれぞれ測定される測定項目を示す図であって、参考例を説明するためのものである。 この発明の第１の実施形態による電子部品の特性測定・選別方法を説明するためのフロー図である。 図３に対応する図であって、第１の実施形態を説明するためのものである。 図５に対応する図であって、第２の実施形態を説明するためのものである。

符号の説明

１ 電子部品
３〜８ 外部電極
１１ 測定工程
１２ 第１ステーション
１３ 第２ステーション
１４ 選別工程
１７，１７ａ 再測定要否判定工程

Claims (3)

1. 複数の外部電極を有する電子部品の電気的特性を、複数の前記外部電極の各々に測定用端子を同時に接触させた状態で測定する、測定工程と、
   前記測定工程での測定データに従って、前記電子部品を良品と不良品とに選別する、選別工程と
   を備える、電子部品の特性測定・選別方法であって、
   前記選別工程において不良品とされた前記電子部品のうち、前記測定工程での測定データから判断して、前記測定用端子の前記外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品を、特定の判断基準に従って選び出す、再測定要否判定工程をさらに備え、
   前記測定工程において、共通の前記外部電極と前記測定用端子との接触によって測定される少なくとも第１および第２の測定項目について、それぞれ、第１および第２の電気的特性が測定され、
   前記再測定要否判定工程において、前記判断基準に従って、前記第１および第２の電気的特性のいずれか一方のみが不良となった電子部品以外の電子部品を、前記測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品として選び出すようにされ、
   前記再測定要否判定工程で選び出された前記電子部品について、再び、前記測定工程および前記選別工程を実施することを特徴とする、電子部品の特性測定・選別方法。
2. 前記選別工程において不良品とされた電子部品のうち、真の不良と判断される電子部品を除いた電子部品の不良率を所定のしきい値と比較する工程をさらに備え、前記不良率が前記しきい値より高い場合には、前記再測定要否判定工程において、前記判断基準に従って、前記測定用端子の前記外部電極への接触不良が原因であると判断できる電子部品を選び出すようにされ、前記不良率が前記しきい値より低い場合には、前記再測定要否判定工程において、前記判断基準に従って、真の不良であると判断できる電子部品以外の電子部品を選び出すようにされる、請求項１に記載の電子部品の特性測定・選別方法。
3. 複数の外部電極を有する電子部品の電気的特性を、複数の前記外部電極の各々に測定用端子を同時に接触させた状態で測定する、測定部と、
   前記測定部で測定された測定データに従って、前記電子部品を良品と不良品とに選別する、選別部と
   を備える、電子部品の特性測定・選別装置であって、
   前記選別部において不良品とされた前記電子部品のうち、前記測定部で測定された測定データから判断して、前記測定用端子の前記外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品を、特定の判断基準に従って選び出す、再測定要否判定部をさらに備え、
   前記測定部において、共通の前記外部電極と前記測定用端子との接触によって測定される少なくとも第１および第２の測定項目について、それぞれ、第１および第２の電気的特性が測定され、
   前記再測定要否判定部において、前記判断基準に従って、前記第１および第２の電気的特性のいずれか一方のみが不良となった電子部品以外の電子部品を、前記測定用端子の外部電極への接触不良が原因である可能性のある電子部品として選び出すようにされ、
   前記再測定要否判定部で選び出された前記電子部品を、再び、前記測定部および前記選別部へ戻すようにしたことを特徴とする、電子部品の特性測定・選別装置。

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