JP4636118B2 - 電子機器及びプログラム - Google Patents

電子機器及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP4636118B2
JP4636118B2 JP2008124688A JP2008124688A JP4636118B2 JP 4636118 B2 JP4636118 B2 JP 4636118B2 JP 2008124688 A JP2008124688 A JP 2008124688A JP 2008124688 A JP2008124688 A JP 2008124688A JP 4636118 B2 JP4636118 B2 JP 4636118B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
backup
memory
temporary storage
diagnosis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008124688A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009276820A (ja
Inventor
恵司 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2008124688A priority Critical patent/JP4636118B2/ja
Priority to US12/463,484 priority patent/US8090494B2/en
Priority to DE102009020852.6A priority patent/DE102009020852B4/de
Publication of JP2009276820A publication Critical patent/JP2009276820A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4636118B2 publication Critical patent/JP4636118B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1415Saving, restoring, recovering or retrying at system level
    • G06F11/1441Resetting or repowering
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/44Indication or identification of errors, e.g. for repair
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C29/56008Error analysis, representation of errors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C2029/0407Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals on power on
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C2029/4402Internal storage of test result, quality data, chip identification, repair information

Description

本発明は、一時記憶メモリに書き込まれたデータを、バックアップメモリにバックアップする機能を備えた電子機器、及び、その電子機器に適用するプログラムに関する。
従来、電子機器としては、車両の故障情報や、車両制御に用いる制御パラメータの学習値などを、バックアップメモリに書き込んで、これらの情報を記憶保持する車両用の電子機器が知られている。
また、車両用の電子機器としては、バックアップメモリとして、アクセサリスイッチやイグニションスイッチがオフにされた状態でも、常時バッテリからの電源供給を受けて、データを記憶保持する揮発性メモリ(所謂SRAM)を備えたものが知られている。
この他、バックアップメモリとしては、フラッシュメモリやEEPROMなどの電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリが知られている。
ところで、電子機器が一時記憶メモリに記憶したデータのコピーを、バックアップメモリに書き込んで、データをバックアップするに際し、一時記憶メモリにバックアップ対象のデータが書き込まれる度、このデータを、バックアップメモリに書き込むと、バックアップ動作に係る電子機器の処理負荷が大きくなる。
また、フラッシュメモリやEEPROMなどの不揮発性メモリについては、書込回数に物理的な制限があることから、このような不揮発性メモリを用いて、上述した手法で、頻繁に、データをバックアップしようとすると、電子機器の寿命が短くなってしまう。
このため、一時記憶メモリに記憶されたデータのコピーを、バックアップメモリに書き込むバックアップ動作については、従来、これを、電子機器が所定量稼動する度に実行したり(特許文献1参照)、電子機器がシャットダウンされる直前に実行していた。
この他、従来の車両用の電子機器では、学習値のバックアップ動作に関して、車両の走行距離が閾値以上となったことや(特許文献2参照)、学習値の変化量が閾値以上となったことを条件として(特許文献3参照)、バックアップ動作を実行していた。
特開平10−252546号公報 特開2006−293650号公報 特開平11−159387号公報
しかしながら、電子機器がシャットダウンされる直前にデータをバックアップする手法では、電子機器に対するオフ操作がなされてから一定程度、電子機器をオンに維持して、その後に電子機器をシャットダウンさせる必要があり、そのための構成が必要になる。
例えば、車両用の電子機器の場合には、車両のイグニションスイッチ若しくはアクセサリスイッチがオフ操作された時点でバックアップ動作を実行し、その後、電子機器を停止させる必要があり、そのためのリレー回路が必要になる。
そして、このようなリレー回路を設ける場合には、当該リレー回路分、電子機器の製造コストが上がる。このように、電子機器がシャットダウンされる直前にデータをバックアップする手法では、製品の製造コストが上昇するといった問題がある。また、車両用の電子機器については、コストの問題から、低価格車に、そのようなリレー回路を設けることが難しく、リレー回路を用いたバックアップ動作を実現できないといった問題がある。
また、このような手法では、電子機器が正規の手続きを経ずにトラブル等で突然シャットダウンされた場合に、それまでの期間に一時記憶メモリに蓄積されたデータのバックアップをとることができないといった問題がある。
また、電子機器が所定量稼動する度にバックアップ動作を実行する手法では、そのバックアップ動作の実行条件である稼働量を少なくすると、上述した処理負荷やメモリの寿命の問題が大きくなり、上記稼動量を多くすると、バックアップに失敗するデータが増すといった問題がある。そして、このような問題は、車両の走行距離が閾値以上となったことを条件としてバックアップ動作を実行する手法に対しても同様に発生する。
この他、車両の走行距離が閾値以上となったことや、学習値の変化量が閾値以上となったことを条件として、バックアップ動作を実行する従来技術については、バックアップ対象のデータが学習値である場合、一定度、効率的にバックアップ動作を実現できるかもしれないが、車両の故障情報をバックアップするに際しては、必ずしもそうとは言えない。
車両制御に係る制御パラメータについては、車両の走行距離が長くなるほど、学習処理が長く実行されることになり、車両の走行距離が長くなるにつれて、最新の学習値と、既にバックアップした過去の学習値との差が大きくなる。換言すると、走行距離が短い場合には、学習値をバックアップしないことにしても、最新の学習値と、元々バックアップされている学習値とに大差がないことから、大きな問題とはならない。
これに対し、車両の故障については、内燃機関の作動時に実行される故障診断時に検出される可能性が高く、更には、それ以外の期間に、突然、故障が発生する可能性もあり、その事象が次にいつ発生するのかも予測できない。
即ち、バックアップすべき車両の故障情報は、走行距離とは関係なく、不規則に発生する。一方で、車両の故障情報は、故障が発生しない限り、特に、バックアップすべきものでもなく、車両の走行中繰返し更新される学習値とは異なる性質を有する。更に言えば、学習値の更新は高頻度に行われるが、故障の発生確率は、非常に低い。
よって、上述した学習値のバックアップに係る従来技術と同様の手法で、故障情報についてのバックアップ動作を実行すると、適切なタイミングでバックアップ動作を実行することはできないのである。即ち、従来技術では、走行距離や装置の稼働量に関係なく発生するデータをバックアップするに際して、バックアップの失敗の可能性を低くしつつも、効率的にバックアップ動作を実行できないといった問題があった。
本発明は、こうした問題に鑑みなされたものであり、従来よりも効率的にバックアップ動作を実行可能な技術を提供することを目的とする。
かかる目的を達成するためになされた本発明の電子機器は、揮発性メモリで構成されるデータを一時記憶するための一時記憶メモリと、予め定められた処理を実行し、その実行結果を表すデータを、一時記憶メモリに書き込む処理実行手段と、一時記憶メモリに書き込まれたデータに対応するバックアップデータを記憶保持するためのバックアップメモリと、を備えるものである。
この電子機器においては、処理実行手段により一時記憶メモリに書き込まれる少なくとも一部のデータが、バックアップメモリで記憶保持すべき保存対象のデータとして予め定められており、当該電子機器は、更に、バックアップ手段と、計測手段と、を備える。
バックアップ手段は、所定条件が満足されると、処理実行手段により一時記憶メモリに書き込まれた保存対象のデータのコピーを、バックアップデータとして、バックアップメモリに書き込む。また、計測手段は、一時記憶メモリに保存対象のデータに対応する新規データが書き込まれなくなった時点からの経過時間である非書込時間を、計測する。
具体的に、バックアップ手段は、計測手段の計測結果に基づき、非書込時間が、予め定められた閾値に到達したことを条件に、保存対象のデータのコピーを、バックアップデータとして、バックアップメモリに書き込む。
このように構成された本発明の電子機器によれば、新規データが一時記憶メモリに書き込まれなくなってからの経過時間によって、バックアップ動作の実行タイミングが決定されるので、走行距離や装置の稼働量に関係なく発生するデータを、効率的にバックアップすることができる。
例えば、この電子機器では、データが頻繁に一時記憶メモリに書き込まれている期間には、バックアップ動作が実行されないことになる。従って、一定度までは、上述の閾値を短くしても、それによって直ちにバックアップ動作の実行回数が増えるといったことはない。
一方で、閾値を短くすれば、バックアップ対象のデータが一時記憶メモリに書き込まれなくなってから、短い時間で、これをバックアップすることができて、突然のシャットダウン等によるバックアップの失敗の可能性を低くすることができる。従って、本発明によれば、バックアップの失敗の可能性を低く抑えながらも、バックアップ動作の実行回数を減らして、効率的にバックアップ動作を実行することができる。
ところで、この発明は、電子機器をオンする操作がなされると作動し、バックアップメモリが記憶保持するバックアップデータを、一時記憶メモリに書き込む読出手段を備えた電子機器に適用することができる。
即ち、処理実行手段が、読出手段によって一時記憶メモリに書き込まれた過去の実行結果を表すデータに上書きするようにして、処理の実行結果を表すデータであって保存対象のデータを、一時記憶メモリに書き込む構成にされた電子機器に適用することができる。
そして、この種の電子機器に上述の発明を適用する場合、計測手段は、上記非書込時間として、一時記憶メモリが記憶する保存対象のデータが一時記憶メモリにおいて変更されなくなった時点からの経過時間を、計測する構成にすることができる。
このように電子機器を構成すれば、既にバックアップされているデータに対応する一時記憶メモリ内のデータが変更されなくなってからの経過時間によって、バックアップの実行タイミングが決定されるので、効率的に、新規データをバックアップすることができ、更には、バックアップの失敗の可能性を低くすることができる。
また、処理実行手段により実行される処理の種類が、複数種に及ぶ場合であって、各種類の処理の実行時期が異なる場合には、各処理にて生成される保存対象のデータのバックアップタイミングを、統一的に決定すると、各種類の処理で生成される保存対象のデータを、適切なタイミングでバックアップすることができない可能性がある。
従って、このような可能性がある場合には、保存対象のデータを、複数のグループに区分されるのがよい。そして、計測手段は、グループ毎に、当該グループの上記非書込時間を計測する構成にされるのがよい。
また、バックアップ手段は、グループ毎に、グループに属する保存対象のデータのコピーを、当該グループの非書込時間が閾値を超えたことを条件に、バックアップメモリに書き込む構成にされるとよい
このように電子機器を構成すれば、各種類の処理の実行時期が異なる場合に、各種類の処理の実行によって一時記憶メモリに書き込まれる新規データを、適切なタイミングでバックアップすることができる。
また、処理実行手段によって複数種類の処理の実行される場合には、閾値を、各グループに対して個別に設定されるのがよい。即ち、バックアップ手段は、各グループに対して個別に定められた閾値の情報に基づき、グループ毎に、当該グループの非書込時間が閾値を超えたか否かを判断する構成にされると好まし
このように電子機器を構成すれば、各処理にて一時記憶メモリに書き込まれる新規データを、一層適切なタイミングでバックアップすることができる。
この他、処理実行手段によって複数の処理が順次実行される場合には、その一連の処理の実行初期において、保存対象のデータのバックアップ動作を実行すると、時間の経たない内に、一連の処理の実行後期において発生した保存対象のデータを、バックアップしなければならない事態が生じる可能性がある。
従って、上述の電子機器には、処理実行手段により、予め定められた処理の内、特定の処理が実行されるまでは、計測手段及びバックアップ手段の少なくともいずれか一方の動作を禁止する禁止手段を設けるのが好ましい。
このようにして電子機器に禁止手段を設ければ、上記実行初期のバックアップ動作を禁止することができて、バックアップ動作の実行回数を減らし、効率的にデータのバックアップを行うことができる。
また、上述の発明は、車両に搭載される電子機器であって、処理実行手段が車両の故障の有無を診断する故障診断処理を実行し、保存対象のデータが、故障診断処理の実行結果を表すデータに定められた電子機器に適用されると好ましい。
車両の故障は、高頻度に発生するものではないので、繰返し故障診断処理を実行しても、故障診断処理の結果は、多くの場合「故障なし」との結果になる。また、車両の故障は、多くの場合、内燃機関の作動時に実行する初回の故障診断時に検出され、その後、繰返し行われる故障診断では、診断結果が変化するのはまれである。
従って、故障診断処理では、多くの場合、前回と診断結果が同じになって、その前回と同じ診断結果を表すデータが一時記憶メモリに上書きされるか、診断結果を表すデータの書込そのものが行われないことになり、一時記憶メモリ内のデータが変更されない
このような特徴を有する故障診断の診断結果をバックアップする場合に、上述した本発明の手法を採用すれば、車両の故障が発生して、診断結果をバックアップする必要が生じたときに、適切に、これをバックアップすることができると共に、無駄なバックアップ動作をしなくて済み、バックアップの失敗の可能性を低くしつつも、効率的に、故障診断の結果を、バックアップすることができる。
また、計測手段は、スタート時点からの経過時間を計測するタイマと、処理実行手段によって保存対象のデータが一時記憶メモリにおいて変更された時点で、タイマをスタートさせるタイマ制御手段と、を備え、保存対象のデータが一時記憶メモリにおいて変更された時点で、タイマをスタートさせることにより、タイマを用いて、非書込時間を計測する構成にすることができる。
また、上述の一時記憶メモリとしては、当該電子機器をオンする操作であるオン操作がなされたことを契機に電源供給され、当該電子機器をオフする操作であるオフ操作がなされたことを契機に電源供給が遮断される揮発性メモリを用いることができる。
また、バックアップメモリとしては、オン操作及びオフ操作に拘わらず、常時電源供給される揮発性メモリを用いることができる。この他、バックアップメモリとしては、電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリを用いても良い
バックアップメモリとして、電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリを備えた電子機器に、本発明を適用すれば、物理的に書込回数に制限のある不揮発性メモリ(フラッシュメモリやEEPROM)等に対する書込回数を少なくしつつ、効率的にデータをバックアップすることができて、製品の寿命が向上する。
また、上述した電子機器が備える各手段としての機能は、コンピュータに実現させることができる。
例えば、コンピュータと、コンピュータによってデータが書き込まれる揮発性メモリであって、コンピュータによって書き込まれたデータを一時記憶するための一時記憶メモリと、一時記憶メモリに書き込まれたデータに対応するバックアップデータを記憶保持するためのバックアップメモリと、を備える電子機器であって、当該電子機器をオンする操作がなされると、バックアップメモリが記憶保持するバックアップデータを読み出して一時記憶メモリに書き込む一方、この読み出しにより一時記憶メモリに書き込まれた過去の実行結果を表すデータに上書きするようにして、バックアップメモリで記憶保持すべき保存対象のデータに該当する予め定められた処理の実行時に得られた当該処理の実行結果を表すデータを、一時記憶メモリに書き込む電子機器には、次のプログラムを設けることができる。
即ち、一時記憶メモリが記憶する上記保存対象のデータが一時記憶メモリにおいて変更されなくなった時点からの経過時間を計測する手順Aと、当該経過時間が予め定められた閾値に到達すると、一時記憶メモリが記憶する上記保存対象のデータのコピーを、バックアップデータとして、バックアップメモリに書き込む手順Bと、予め定められた処理の内、特定の処理が実行されるまでは、手順A及び手順Bの少なくともいずれか一方の実行を禁止する手順Cとをコンピュータに実行させるためのプログラムを設けることができる。
以下に本発明の実施例について、図面と共に説明する。但し、本発明は、以下に説明する実施例に限定されるものではなく、種々の態様を採りうる。
図1は、第一実施例の電子制御装置100の構成を表すブロック図である。図1に示す電子制御装置100は、内燃機関を制御するための電子制御装置(所謂エンジンECU)であり、センサ類200(クランクセンサ、カムセンサ等)、及び、内燃機関を駆動するアクチュエータ類300(点火装置、インジェクタ等)に接続された構成にされている。
詳述すると、この電子制御装置100は、センサ類200からの入力信号を受け付けてCPU130に入力する入力回路110、アクチュエータ類300に対しCPU130から入力される制御信号を出力する出力回路120、プログラムに基づく処理を実行するCPU130、CPU130が実行するプログラムを記憶するROM140、作業用メモリ(一時記憶メモリ)として使用されるRAM150、データバックアップ用のメモリであるバックアップメモリ160、及び、通信回路170を備える。
この電子制御装置100は、バッテリ400にキースイッチSWを介して接続されており、車両乗員によってキースイッチSWをオンする操作がなされると、バッテリ400から電源が供給されて起動し、キースイッチSWをオフする操作がなされると、バッテリ400からの電源供給が遮断されて、停止する。
また、ROM140には、内燃機関を制御するためのプログラム、内燃機関の故障診断用のプログラム等が格納されており、電子制御装置100は、バッテリ400から電源が供給されて起動すると、CPU130にてROM140に記録された各種プログラムに基づく処理を実行することにより、内燃機関を制御すると共に、センサ類200やアクチュエータ類300を診断し、内燃機関内部の故障を検出する。
この他、ROM140には、通信プログラムが記憶されており、CPU130は、必要に応じて、このプログラムを実行し、通信回路170を通じて、車内LANに接続された他の端末(電子制御装置等)と通信する。
例えば、車内LANには、外部からテスタ500を接続可能な接続インタフェース(図示せず)が設けられており、この接続インタフェースを通じて車内LANにテスタ500が接続されると、CPU130は、通信回路170を通じて、テスタ500と通信し、故障診断の結果を表すダイアグ関連データをテスタ500に提供する。
また、本実施例の電子制御装置100には、RAM150で更新される上記故障診断の結果を表すダイアグ関連データを、バックアップメモリ160に保存する機能が設けられている。以下では、電子制御装置100で実現されるダイアグ関連データの更新態様、及び、ダイアグ関連データのバックアップ態様を簡単に説明し、その後で、これらの詳細な説明を展開する。
図2は、電子制御装置100における故障診断の実行態様及びRAM150におけるダイアグ関連データの更新態様を、グラフで示した図である。図2上段は、時間を横軸として、故障診断の実行回数の例を表したグラフであり、図2下段は、時間を横軸として、故障診断の実行によりRAM150で更新されるダイアグ関連データの更新回数の例を表したグラフである。
図2に示すように、本実施例の電子制御装置100は、キースイッチSWのオン操作(具体的には、アクセサリスイッチのオン操作)がなされることで、バッテリ400からの電源供給を受けて起動すると、CPU130にて、まずセンサ類200の断線を検出するための故障診断等を実行する。そして、イグニッションスイッチがオンされると内燃機関を始動させて、クランクセンサやカムセンサ等のセンサ類200の異常を検出するための故障診断等を実行する。
更に、内燃機関に供給される冷却水の温度が上昇すると、失火検出用の故障診断を実行すると共に、サーモスタットの異常を検出するための故障診断等を実行する。そして、冷却水温度が十分に上昇して内燃機関が安定的に動作し始める頃には、一通りの故障診断を終了して、以後、一部の故障診断を定期的に繰返し実行する。
本実施例では、このようにして故障診断を実行し、RAM150が記憶するダイアグ関連データを更新する。但し、本実施例では、診断結果が既にRAM150に書き込まれた過去の診断結果と同じである場合、この診断結果をRAM150に書き込まない。
従って、内燃機関に故障が発生することで、内燃機関の運転初期において、RAM150に、その診断結果が書き込まれても、一通りの故障診断が終了した後の定期的な故障診断実行時には、多くの場合、診断結果が同じであるので、新規データがRAM150に書き込まれなくなる。
このため、本実施例では、RAM150に、ダイアグ関連データについての新規データが書き込まれなくなってからの経過時間を計測し、経過時間が閾値を超えた時点で、RAM150が記憶するダイアグ関連データを、バックアップメモリ160にバックアップする。
図3(a)は、本実施例の電子制御装置100において、バックアップ対象データに定められたダイアグ関連データの構成を表す説明図である。ダイアグ関連データは、当該電子制御装置100で行われる故障診断の項目毎に、診断結果情報、正常検出履歴情報及び異常検出履歴情報からなるレコードを有し、これらのレコード群からなるテーブルとして構成されている。
正常検出履歴情報は、故障診断により「正常」と判定されたことがあるか否かを示す情報であり、異常検出履歴情報は、故障診断により「異常」と判定されたことがあるか否かを示す情報である。本実施例において、診断結果情報は、「正常」又は「異常」との値を採り、正常検出履歴情報及び異常検出履歴情報は、「有り」又は「無し」との値を採る。
このような構成のダイアグ関連データの初期データは、ROM140に記憶されており、「異常」との値を示す診断結果情報と、「無し」との値を示す正常検出履歴情報及び異常検出履歴情報とからなるレコード群によって構成される。
この初期データは、電子制御装置100の初回起動時に、CPU130の動作により、RAM150の特定領域に読み出される。具体的には、特定領域として、予め定められたバックアップ対象データを一時記憶するためのバックアップ対象データ記憶領域に書き込まれる。
そして、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域に記憶されたダイアグ関連データは、CPU130の動作により、バックアップの実行条件が満足された時点で、バックアップメモリ160に書き込まれる(図3(b)参照)。以下では、RAM150からバックアップメモリ160にバックアップされたデータのことを「バックアップデータ」とも表現する。
また、バックアップメモリ160に書き込まれたバックアップデータ(ダイアグ関連データ)は、電子制御装置100の次回起動時に、CPU130の動作により、バックアップメモリ160から読み出されて、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域に書き込まれる。
そして、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域内で更新されたダイアグ関連データは、バックアップメモリ160内の旧ダイアグ関連データに上書きされるようにして、バックアップメモリ160に書き込まれる。このようにして、バックアップメモリ160が記憶するダイアグ関連データは、故障診断の結果に応じて変更される。
また、図4(a)は、ダイアグ関連データのバックアップ手法を説明したブロック図である。本実施例のCPU130は、ROM140に記録されたプログラムに従って、故障診断を含む診断記録処理と、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域が記憶するデータをバックアップするバックアップ制御処理と、を実行する。
そして、診断記録処理では、故障診断と共に、必要に応じて、RAM150が記憶するダイアグ関連データを更新し、ダイアグ関連データを更新した場合には、RAM150が更新フラグ記憶領域に記憶する更新フラグをオンに対応する値に設定する。
一方、バックアップ制御処理では、RAM150が記憶する更新フラグを監視し、更新フラグがオンに対応する値に設定されているか否かによって、RAM150が記憶するダイアグ関連データが更新されたか否かを判断する。
そして、ダイアグ関連データが更新されない時間が所定時間続くと、CPU130は、バックアップの実行条件が満足されたとして、メモリアクセスドライバを通じて、バックアップメモリ160としてのフラッシュメモリに、当該フラッシュメモリが記憶するダイアグ関連データに上書きするようにして、RAM150が記憶するダイアグ関連データを書き込むことで、フラッシュメモリが記憶するダイアグ関連データを更新する。
尚、本実施例では、電子制御装置100として、内燃機関制御用の電子制御装置を例に挙げているので、バックアップメモリ160として、電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリとして知られるフラッシュメモリを用いるが、他の用途に用いられる電子制御装置では、バックアップメモリ160として、SRAMを用いても構わない。
図4(b)は、バックアップメモリ160としてSRAMを用いた例を表す説明図である。バックアップメモリ160としてSRAMを用いる場合には、キースイッチSWのオン操作により電源供給され、キースイッチSWのオフ操作によって電源供給が遮断されるRAM150に記憶されたダイアグ関連データを、キースイッチSWのオン/オフ操作に拘わらずバッテリ400から電源が供給されるSRAMに書き込むことで、ダイアグ関連データをバックアップする。
バックアップメモリ160としてフラッシュメモリを用いるかSRAMを用いるかは、バックアップするデータの重要性やコスト、法規等を加味して決定する。バッテリ400の取り外しによってSRAM内のデータが揮発する可能性を許容できる電子制御装置であれば、バックアップメモリ160として、SRAMを用いることも可能である。
話を戻すが、本実施例の電子制御装置100においては、具体的に、図5及び図6に示す処理をCPU130で実行することにより、ダイアグ関連データのバックアップを実現する。
図5は、CPU130が実行する診断記録処理を表すフローチャートであり、図6は、CPU130が実行するバックアップ制御処理を表すフローチャートである。CPU130は、診断項目毎に、予め定められたタイミングで図5に示す診断記録処理を実行する。また、これとは独立して並列に、バックアップ制御処理を実行する。
診断記録処理を開始すると、CPU130は、当該診断記録処理に割り当てられた診断項目についての故障診断を実行し、当該診断項目に対応する診断結果(「正常」又は「異常」との値)を得る(S110)。故障診断の具体例は、上述した通りである。例えば、センサ類200の断線を検出するための処理を、故障診断として実行し、断線がある場合には「異常」と診断し、断線がない場合には「正常」と診断する。
S110での処理を終えると次には、今回の診断結果が、RAM150が記憶する当該診断項目の過去の診断結果と一致しているか否かを、RAM150が記憶する当該診断項目に対応するダイアグ関連データ内のレコードを参照して判断する(S120)。
具体的には、今回診断した項目についてのダイアグ関連データ内のレコードが「正常」との診断結果を示し、今回の診断結果が「正常」との診断結果である場合、又は、上記レコードが「異常」との診断結果を示し、今回の診断結果が「異常」との診断結果である場合、今回の診断結果がRAM150が記憶する過去の診断結果と一致していると判断する。一方、それ以外の場合(一方が「正常」で他方が「異常」である場合)には、今回の診断結果が過去の診断結果と一致していないと判断する。
そして、今回の診断結果が、RAM150が記憶する当該診断項目の過去の診断結果と一致していないと判断すると(S120でNo)、CPU130は、S130に移行する。一方、今回の診断結果が、RAM150が記憶する当該診断項目の過去の診断結果と一致していると判断すると(S120でYes)、S130に移行せず、今回の診断結果をRAM150のダイアグ関連データに記録しないまま、当該診断記録処理を終了する。
また、S130に移行すると、CPU130は、RAM150の更新フラグ記憶領域に記憶されている更新フラグをオンに対応する値に設定する。尚、更新フラグは、上述したように、バックアップ対象データがRAM150において更新されたか否かを表すデータであり、オンに対応する値として値「1」を採り、オフに対応する値として値「0」を採る。この更新フラグは、電子制御装置100の起動時、値0(オフ)に初期化される。以下では、更新フラグをオン(オフ)に対応する値に設定することを、単に「更新フラグをオン(オフ)に設定する」と表現する。
S130では、更新フラグをオンに設定することにより、バックアップ対象データがRAM150において更新されたことをRAM150に記録する。
また、S130での処理を終えると、CPU140は、今回の診断結果の情報を、RAM150がバックアップ対象データ記憶領域に記憶するダイアグ関連データの対応する診断項目の診断結果情報に上書きするようにして、RAM150に書き込む。このようにして、CPU130は、RAM150が記憶するバックアップ対象データとしてのダイアグ関連データを更新する(S140)。その後、S150に移行する。
また、S150に移行すると、CPU130は、今回の診断結果が「正常」との診断結果であるか否かを判断し、「正常」との診断結果であると判断した場合には(S150でYes)、RAM150が記憶するダイアグ関連データの当該診断項目における正常検出履歴情報を「有り」との値に変更し(S160)、診断記録処理を終了する。
一方、今回の診断結果が「異常」との診断結果であると判断した場合には(S150でNo)、RAM150が記憶するダイアグ関連データの当該診断項目における異常検出履歴情報を「有り」との値に変更し(S170)、診断記録処理を終了する。
続いて、CPU130が当該電子制御装置100の起動直後から実行するバックアップ制御処理について、図6を用いて説明する。
図6に示すバックアップ制御処理を開始すると、CPU130は、まず、バックアップメモリ160からバックアップデータを読み出して、これをRAM150のバックアップ対象データ記憶領域に書き込むことで、バックアップメモリ160に記憶されたダイアグ関連データのコピーデータをRAM150に記憶させる(S210)。
但し、バックアップメモリ160にバックアップデータが記憶されていない場合には、ROM140に記憶されたダイアグ関連データの初期データを、バックアップデータに代えて読み出して、これをRAM150のバックアップ対象データ記憶領域に書き込む。
また、S210での処理を終えると、CPU130は、RAM150の更新フラグ記憶領域に記憶された更新フラグがオンに設定されているか否かを判断する(S220)。
そして、更新フラグがオンに設定されていると判断した場合には(S220でYes)、S230に移行し、更新フラグがオンに設定されていないと判断した場合には(S220でNo)、更新フラグがオンに設定されるまで待機し、更新フラグがオンに設定された時点で、S230に移行する。
S230に移行すると、CPU130は、RAM150が記憶する上記更新フラグをオフに設定変更すると共に、タイマをゼロクリアする(S240)。尚、本実施例のタイマは、ソフトウェア的なタイマであり、S240では、タイマとして機能するパラメータをゼロに初期化することで、タイマをゼロクリアする。
また、S240での処理を終えると、CPU130は、S250に移行して、RAM150が記憶する更新フラグがオンに設定されているか否かを判断する。そして、更新フラグがオンに設定されていると判断した場合には(S250でYes)、S230に移行して、更新フラグを再度オフに設定変更すると共に、タイマをゼロクリアする。その後、S250での判断を行う。尚、RAM150が記憶する更新フラグは、上述したように診断記録処理のS130でオンに設定変更される。
一方、更新フラグがオフに維持されていると判断した場合には(S250でNo)、タイマを加算する(S260)。即ち、タイマとして機能するパラメータの値をカウントアップする。
また、S260での処理を終えると、CPU130は、タイマの値が、予め定められた閾値を超えたか否かを判断し(S270)、タイマの値が、予め定められた閾値以下であると判断した場合には(S270でNo)、S250に移行する。このようにして、本実施例では、更新フラグが最後にオンに設定されてからの経過時間(換言すれば、更新フラグがオンに設定されなくなってからの経過時間)をタイマによりカウントする。
そして、タイマの値が上記閾値を越えたと判断すると(S270でYes)、CPU130は、S280に移行し、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域に記憶されたバックアップ対象データ(ダイアグ関連データ)を、バックアップメモリ160が記憶するバックアップデータ(ダイアグ関連データ)に上書きするようにして書き込むことで、バックアップメモリ160が記憶するバックアップデータを更新する。その後、S220に移行する。
そして、再び更新フラグがオンに設定されるまで待機し(S220)、更新フラグがオンに設定されると、S230以降の処理を実行する。
このような内容のバックアップ制御処理を実行することにより、本実施例では、RAM150においてバックアップ対象データが更新されなくなってからの経過時間を計測し、当該経過時間が閾値を超えた時点で、バックアップの実行条件が満足されたとして、バックアップ対象データ(ダイアグ関連データ)を、バックアップメモリ160にバックアップする。
従って、本実施例によれば、バックアップの実行回数を減らしつつも、RAM150が記憶するバックアップの必要なデータを、適切なタイミングでバックアップすることができる。よって、本実施例によれば、突然のシャットダウン等によってバックアップ対象データが揮発してしまう可能性を抑えつつも、ダイアグ関連データを効率的にバックアップメモリ160に記録することができる。
続いて、第二実施例について説明する。図7(a)は、第二実施例の電子制御装置100が備えるCPU130の構成を表すブロック図である。第二実施例の電子制御装置100については、第一実施例の電子制御装置100と同一構成にされている部位も多いので、以下では、第二実施例の電子制御装置100について、第一実施例とは異なる構成を選択的に説明し、第一実施例の電子制御装置100と同一構成に係る説明を省略する。
図7(a)に示すように、本実施例のCPU130は、プログラムに従う演算処理を実行する演算回路(CPUコア)とは別に、タイマ131及びメモリアクセス監視回路133がハードウェアとして内蔵された構成にされている。
タイマ131は、タイマ値が設定されると、タイマ値のカウントダウンを開始し、タイマ値がゼロとなった時点で割込要求を出力する構成にされたものである。この割込要求は、CPU130が内蔵する割込コントローラ135に入力される。以下では、タイマ131から出力される割込要求のことを「タイマ割込要求」と表現する。
一方、メモリアクセス監視回路133は、監視対象のメモリ領域(監視領域)が設定されると、監視対象のメモリ領域を監視し、当該メモリ領域にデータ書込動作がなされた時点で割込要求を出力する構成にされたものであり、この割込要求は、割込コントローラ135に入力される。以下では、メモリアクセス監視回路133から出力される割込要求のことを「メモリアクセス割込要求」と表現する。
割込コントローラ135は、割込要求を制御するものであり、タイマ131から入力されるタイマ割込要求及びメモリアクセス監視回路133から入力されるメモリアクセス割込要求を、重複しないタイミングで、CPU130の演算回路に入力する。
一方、本実施例の電子制御装置100は、ROM140に記録されたプログラムに従い、当該電子制御装置100の起動時に、CPU130で、図8(a)に示すバックアップ制御処理をソフトウェア的に実行する。
また、当該電子制御装置100は、ROM140に記録されたプログラムに従い、メモリアクセス割込要求が発生すると、この割込要求に対する例外処理として、図8(b)に示すメモリアクセス割込例外処理を、CPU130でソフトウェア的に実行する。この他、タイマ割込要求が発生すると、この割込要求に対する例外処理として、図8(c)に示すタイマ割込例外処理を、CPU130でソフトウェア的に実行する。
尚、図8(a)は、第二実施例において、CPU130が実行するバックアップ制御処理を表すフローチャートであり、図8(b)は、CPU130が実行するメモリアクセス割込例外処理を表すフローチャートであり、図8(c)は、CPU130が実行するタイマ割込例外処理を表すフローチャートである。
バックアップ制御処理を開始すると、CPU130は、第一実施例におけるS210での処理と同様、まずバックアップメモリ160からバックアップデータ(ダイアグ関連データ)を読み出し、これをRAM150のバックアップ対象データ記憶領域に書き込む(S310)。
その後、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域を、監視対象のメモリ領域に設定する(S320)。この設定が完了すると、メモリアクセス監視回路133からは、バックアップ対象データ記憶領域に対するデータ書込動作がなされる度に、メモリアクセス割込要求が出力される。このようにして、S320での処理を終えると、CPU130は、バックアップ制御処理を終了する。
一方、メモリアクセス割込要求が発生すると、CPU130は、メモリアクセス割込例外処理を開始し、予め定められた所定時間後に、タイマ割込要求が発生するように、タイマ131に対して上記所定時間に対応する所定のタイマ値を設定した後(S330)、当該メモリアクセス割込例外処理を終える。
この他、タイマ割込要求が発生すると、CPU130は、タイマ割込例外処理を開始し、RAM150のバックアップ対象データ記憶領域に記憶されたバックアップ対象データを、バックアップメモリ160が記憶するバックアップデータ(ダイアグ関連データ)に上書きするようにして書き込む。このようにして、バックアップメモリ160が記憶するバックアップデータを更新し、当該タイマ割込例外処理を終える。
CPU130がこのように処理を実行することで、本実施例の電子制御装置100は、具体的に、図7(b)に示すように動作する。
即ち、当該電子制御装置100では、監視対象のメモリ領域に対するデータ書込があると、メモリアクセス割込要求が発生して、メモリアクセス割込例外処理がCPU130により実行され、タイマ値が、上記所定時間に対応する値に設定される。また、タイマ値がゼロになるまでに、再び、監視対象のメモリ領域に対するデータ書込があると、メモリアクセス割込要求が発生して、メモリアクセス割込例外処理が再びCPU130により実行され、タイマ値が、上記所定時間に対応する値に戻される。
一方、監視対象のメモリ領域に対するデータ書込が所定時間なかった場合には、タイマ値がゼロとなってタイマ割込要求が発生し、CPU130がタイマ割込例外処理を実行して、RAM150に記憶されたバックアップ対象データがバックアップメモリ160にバックアップされる。
このように構成された第二実施例の電子制御装置100においても、第一実施例と同様の効果を得ることができる。また、第二実施例によれば、CPU130に内蔵されたタイマ131及びメモリアクセス監視回路133(ハードウェア)を用いて、監視対象のメモリ領域に対するデータ書込が最後に行われてからの経過時間を計測するので、第一実施例と比較してCPU130での演算処理に係る負荷が少なくて済む。
続いて、第三実施例について説明する。但し、第三実施例の電子制御装置100は、バックアップ制御処理の一部が、第一実施例と異なる程度であり、他の構成については、第一実施例と同一である。従って、以下では、第三実施例の説明として、CPU130が実行するバックアップ制御処理の内容を選択的に説明する。
図9は、第三実施例において、CPU130が実行するバックアップ制御処理を表すフローチャートである。図9では、図6に示すバックアップ制御処理と同内容のステップに、同一ステップ番号を付す。
本実施例のバックアップ制御処理では、第一実施例と同様にS210の処理を実行した後、S213の処理を実行し、その後、S220に移行して、後続の処理を、第一実施例と同様に実行する。即ち、本実施例のバックアップ制御処理では、まず、バックアップメモリ160からバックアップデータ(ダイアグ関連データ)を読み出して、これをRAM150のバックアップ対象データ記憶領域に書き込む(S210)。
その後、入力回路110を通じて入力される内燃機関の冷却水の温度を計測する水温センサからの計測結果を表す信号に基づき、冷却水の温度を特定し、冷却水の温度が、予め定められた閾値を超えているか否かを判断する(S213)。
そして、冷却水の温度が閾値以下であると判断すると(S213でNo)、冷却水の温度が閾値を超えるまで待機し、冷却水の温度が閾値を超えたと判断すると(S213でYes)、S220に移行する。
このようにして、本実施例では、水温センサの計測結果に基づき、内燃機関の始動後、冷却水の温度が所定温度(閾値)に上昇するまでは、タイマによる時間計測動作を禁止する。即ち、冷却水の温度が所定温度に上昇するまでは、S220に移行しないことで、診断記録処理により更新フラグがオンに設定された場合であってもタイマによる時間計測を開始しないようにする。
従って、本実施例では、冷却水の温度が所定温度に上昇する前に、更新フラグがオンに設定された場合であっても、冷却水の温度が所定温度に上昇し、その後所定時間経過するまでは、バックアップメモリ160へのバックアップ動作が実行されないことになる。
尚、このように時間計測動作及びバックアップ動作を禁止する理由は、冷却水の温度が上昇するまでは、サーモスタットが動作せず、サーモスタットの故障診断等の一部の故障診断を行うことができないためである。換言すれば、冷却水の温度が上昇して、内燃機関が安定的に動作するまでは、一通りの故障診断が完了しないためである。
上述したように、診断結果が同じである場合には、RAM150内のデータが更新されないことから、一通りの故障診断が終了し、定期的な故障診断が行われる程度となった時点では、RAM150においてダイアグ関連データが更新される可能性は、非常に低い。これに対して、一通りの故障診断が終了するまでは、RAM150においてダイアグ関連データが更新される可能性が高い。
従って、本実施例のようにバックアップ動作を実行すれば、ダイアグ関連データが更新される可能性が高いのにも拘らず、バックアップ動作を実行してしまうことで、バックアップ動作の実行回数が増えるのを抑制することができて、効率的に、ダイアグ関連データを、バックアップメモリ160にバックアップすることができる。よって、本実施例によれば、バックアップメモリ160へのデータ書込回数を減らし、製品の耐久性を上げることができる。
続いて、第四実施例について説明する。但し、第四実施例の電子制御装置100は、バックアップ制御処理及び診断記録処理の一部が、第一実施例と異なる程度のものであり、他の構成については、第一実施例と同一である。従って、以下では、第四実施例の説明として、CPU130が実行するバックアップ制御処理及び診断記録処理を選択的に説明する。
図10(a)は、第四実施例において、CPU130が実行するバックアップ制御処理を表すフローチャートであり、図10(b)は、第四実施例において、CPU130が特定の診断項目に対して実行する診断記録処理を表すフローチャートである。図10では、図5及び図6に示す処理と同内容のステップに、同一ステップ番号を付す。
本実施例のバックアップ制御処理では、第一実施例と同様にS210の処理を実行した後、S217の処理を実行する。その後、S220に移行して、後続の処理を、第一実施例と同様に実行する。
即ち、本実施例では、バックアップ制御処理を開始すると、バックアップメモリ160からバックアップデータ(ダイアグ関連データ)を読み出して、これをRAM150のバックアップ対象データ記憶領域に書き込み(S210)、その後、S217に移行して、特定の故障診断が完了するまで待機する。
本実施例では、図10(b)に示すように、診断項目毎の診断記録処理の内、特定の診断項目の診断記録処理が、当該診断記録処理の終了を、バックアップ制御処理に通知する構成にされている。
尚、特定の診断項目以外の診断記録処理については、第一実施例と同じ構成にされており、本実施例では、複数ある診断項目の内、ある一つの診断項目の診断記録処理のみが、上記特定の診断項目の診断記録処理として、図10(b)に示す構成にされている。
CPU130は、図10(b)に示す診断記録処理を開始すると、S120でYesと判断した後(図5参照)、又は、S160の処理を終了した後、又は、S170の処理を終了した後に、S190に移行して、当該診断記録処理の終了をバックアップ制御処理の実行タスクに対して通知する。
一方、バックアップ制御処理では、S217において、この終了通知を受けるまで待機し、終了通知を受けたと判断すると(S217でYes)、特定の故障診断が完了したとして、S220に移行する。そして、S220以降では、第一実施例と同様の処理を実行する。
以上に、第四実施例の電子制御装置100について説明したが、第四実施例によっても、第三実施例と同様の効果を得ることができる。
即ち、一通りの故障診断が終了する直前において実行される故障診断、換言すれば、順番的に最後に実行される故障診断に対応する診断記録処理を、図10(b)に示す構成にして、この診断記録処理が終了するまでは、S220への移行を禁止することで、一通りの故障診断が終了するまでは、診断記録処理により更新フラグがオンに設定された場合であってもタイマによる時間計測を開始しないようにすることができる。
従って、本実施例によれば、ダイアグ関連データが更新される可能性が高いのにも拘らず、バックアップ動作を実行してしまうことで、バックアップ動作の実行回数が増えるのを抑制することができて、効率的に、ダイアグ関連データを、バックアップメモリ160にバックアップすることができる。
尚、本実施例の電子制御装置100は、本発明の電子機器の一例に対応し、本実施例のRAM150は、「特許請求の範囲」記載の一時記憶メモリに対応する。また、「特許請求の範囲」記載の処理実行手段は、CPU130が診断項目毎に実行する診断記録処理にて実現され、読出手段及びバックアップ手段及び計測手段は、CPU130が実行するバックアップ制御処理にて実現されている。特に、読出手段は、S210の処理により実現され、計測手段は、S240〜S260の処理により実現され、バックアップ手段は、S270,S280の処理により実現されている。また、本実施例で実行されるS217での処理が、「特許請求の範囲」に記載の禁止手段に対応する。
続いて、第五実施例について説明する。但し、第五実施例の電子制御装置100は、グループ化されたバックアップ対象データに対して、グループ毎に、バックアップ制御処理を実行するものであり、グループ化に伴う構成以外については、第一実施例の電子制御装置100と同一構成である。従って、以下では、第五実施例の説明として、第一実施例とは異なる構成部分を、選択的に説明する。
図11(a)は、RAM150におけるデータ管理態様及びバックアップ制御処理の実行態様を示した説明図である。
上述したように、本実施例では、バックアップ対象データを、複数のグループにグループ化している。具体的には、ダイアグ関連データを構成する各レコードを、複数のグループのいずれかに分類して、グループ化している。
そして、RAM150においては、グループ毎に、グループに属するバックアップ対象データを一時記憶するための領域を、グループデータ記憶領域として設けている。図11(a)には、グループがN個あるものとして、第1グループデータ記憶領域から、第Nグループデータ記憶領域までがRAM150に確保されている態様を示す。この第1〜第Nグループデータ記憶領域の集合が、第一実施例におけるバックアップ対象データ記憶領域に対応する。
また、本実施例では、バックアップ対象データのグループ化に伴って、グループ毎に更新フラグを設けている。即ち、更新フラグを記憶するための更新フラグ記憶領域を、グループ毎に、RAM150に設けている。
以下では、N個あるグループを、第1〜第Nグループと名づけて、第iグループに対応するグループデータ記憶領域を、第iグループデータ記憶領域と表現し、第iグループに対応する更新フラグ記憶領域を、第iグループ更新フラグ記憶領域と表現する(但し、i=1,2,…,N)。
また、本実施例のバックアップ制御処理について詳述すると、第iグループに対応するバックアップ制御処理では、S210(図6参照)において、第iグループに属するバックアップ対象データについてのバックアップデータを、バックアップメモリ160から読み出し、これをRAM150の第iグループデータ記憶領域に書き込むことで、バックアップメモリ160に記憶された第iグループに属するダイアグ関連データのコピーをRAM150に記憶させる。
また、S220,S250では、第iグループ更新フラグ記憶領域に記憶された第iグループの更新フラグを参照して、第一実施例と同様の判断を行い、S220で更新フラグがオンに設定されていると判断した場合には、S230で、第iグループの更新フラグをオフに設定する。また、本実施例では、タイマもグループ毎に独立して設けられており、S240,S260では、第iグループのタイマに対して、第一実施例と同様の処理を行う。
そして、第iグループのタイマが、予め定められた閾値を超えた場合には(S270でYes)、RAM150の第iグループデータ記憶領域に記憶されているバックアップ対象データ(第iグループのダイアグ関連データ)を、バックアップメモリ160が記憶する第iグループのバックアップデータ(第iグループのダイアグ関連データ)に上書きするようにして書き込むことで、バックアップメモリ160が記憶する第iグループのバックアップデータを更新する(S280)。その後、S220に移行する。
尚、S270で用いられる閾値は、設計段階でグループ共通の値として定められてもよいし、グループ毎に個別に設定されてもよい。即ち、S270では、第iグループに対して予め設定された閾値を用いて、上述の判断を行うように、バックアップ制御処理は、構成されてもよい。
また、図11(b)は、第五実施例において、CPU130が実行する診断記録処理を表すフローチャートである。本実施例では、ダイアグ関連データがグループ化されているので、診断記録処理も間接的に、診断項目に対応したグループに分類されることになる。従って、以下では、第iグループに属している診断項目の故障診断を実行する診断記録処理を、第iグループの診断記録処理と表現する。
図11(b)に示すように、第iグループの診断記録処理では、S130において、更新フラグをオンに設定する際、第iグループの更新フラグをオンに設定する。そして、S140では、今回の診断結果の情報を、RAM150が第iグループデータ記憶領域に記憶する第iグループのダイアグ関連データの該当する診断結果情報に上書きするようにして書き込む。同様にして、第iグループデータ記憶領域に記憶されたダイアグ関連データを対象にS160,S170の処理を実行する(図5参照)。このようにして、CPU130は、RAM150が記憶するダイアグ関連データを更新する。
以上、第五実施例について説明したが、本実施例のようにバックアップ対象データをグループ化すると、バックアップメモリ160への書込回数が多くなるといった欠点があるものの、バックアップ対象データを、グループ毎に、適切なタイミングでバックアップすることができるといった利点がある。
例えば、グループ化としては、電子制御装置100の起動時点から実行される診断記録処理を、一通りの診断記録処理が実行されるまでの期間において、初期に実行されるグループ、中期に実行されるグループ、後期に実行されるグループの3つにグループ化する方法等が挙げられるが、このようにグループ化すれば、早期に実行されるグループから順にバックアップ動作を実行することができる。
このようにグループ化すれば、ダイアグ関連データが突然のシャットアウト等で揮発しないようしつつも、バックアップメモリ160へのデータ書込回数を抑えることができ、各グループのダイアグ関連データを適切なタイミングでバックアップすることができる。
また、第五実施例では、ダイアグ関連データを、グループ化した例を示したが、バックアップ対象データを、ダイアグ関連データ以外のデータにまで拡張する場合には、ダイアグ関連データを1グループとして取り扱うと共に、拡張したデータを、ダイアグ関連データとは別のグループとして取り扱うようにして、電子制御装置100を構成することも可能である(第六実施例)。
続いて、第六実施例について説明する。以下では、第六実施例の電子制御装置100の説明として、第一実施例の電子制御装置100とは異なる構成についての説明を、選択的にする。
図12は、本実施例におけるRAM150でのデータ管理態様及びバックアップ制御処理の実行態様を示した図である。
本実施例では、車両制御に用いる制御パラメータの学習値群で構成される学習関連データと、ダイアグ関連データと、をバックアップ対象データに定めており、これらバックアップ対象データの内、ダイアグ関連データを、第1グループ、学習関連データを、第2グループに定めている。
また、RAM150には、グループ毎に、当該グループに属するバックアップ対象データを一時記憶するための領域を、設けている。具体的には、ダイアグ関連データを一時記憶するための領域を、第1グループデータ記憶領域として設け、学習関連データを一時記憶するための領域を、第2グループデータ記憶領域として設けている。
この他、本実施例では、更新フラグを記憶するための領域を、グループ毎にRAM150に設けている。具体的には、ダイアグ関連データ用の更新フラグを記憶するための領域を、第1グループ更新フラグ記憶領域として設け、学習関連データ用の更新スラグを一時記憶するための領域を、第2グループデータ記憶領域として設けている。
このような構成の電子制御装置100において、CPU130は、第五実施例と同様の手法で、第1グループ及び第2グループの夫々に対しバックアップ制御処理を実行する。
また、CPU130は、診断記録処理(図5参照)のS130で、更新フラグをオンに設定する際、故障診断に対応するグループ(第1グループ)の更新フラグをオンに設定する。そして、S140では、今回の診断結果の情報を、RAM150が第1グループデータ記憶領域に記憶するダイアグ関連データの該当する診断結果情報に上書きするようにして、書き込む。同様にして、第1グループデータ記憶領域に記憶されたダイアグ関連データを対象にS160,S170の処理を実行する。このようにして、CPU130は、RAM150が記憶するダイアグ関連データを更新する。
この他、本実施例におけるCPU130は、上述の診断記録処理やバックアップ制御処理とは独立して、制御パラメータの学習値を算出する手順を含む学習記録処理を、制御パラメータ毎に繰返し実行する。図13は、CPU130が実行する学習記録処理を表すフローチャートである。
学習記録処理を開始すると、CPU130は、まず、当該学習記録処理に割り当てられた学習処理を実行して、制御パラメータの学習値を算出する(S510)。制御パラメータとしては、例えば、空燃比補正量を挙げることができる。
また、この処理を終えると、CPU130は、今回S510で算出した学習値Pと、当該学習値Pに対応する制御パラメータの過去の学習値P’であってRAM150が第2グループデータ記憶領域に記憶する学習関連データに記述された学習値P’との差分Δを算出する(S520)。
例えば、制御パラメータがスカラー値である場合には、今回の学習値PとRAM150が記憶する上記学習値P’との差P−P’の絶対値を、差分Δとして算出する。一方、制御パラメータがベクトル値である場合には、学習値Pと学習値P’との差P−P’のノルムを、差分Δとして算出すればよい。
また、S520での処理を終えると、CPU130は、S530に移行し、差分Δが予め定められた閾値を超えているか否かを判断する。
そして、差分Δが閾値を超えていると判断すると(S530でYes)、CPU130は、対応するグループ(即ち、第2グループ)の更新フラグをオンに設定する(S540)。また、今回の学習値Pを、RAM150が第2グループデータ記憶領域に記憶する学習関連データの該当する過去の学習値に上書きするようにして、書き込む(S550)。このようにして、CPU130は、RAM150が記憶する学習関連データを更新する。その後、当該学習記録処理を終了する。
一方、差分Δが閾値以下であると判断すると(S530でNo)、CPU130は、S540及びS550の処理を実行せずに、当該学習記録処理を終了する。即ち、算出した学習値Pを、RAM150の学習関連データに書き込むことなく、当該学習記録処理を終了する。
本実施例の電子制御装置100では、このような内容の学習記録処理を、制御パラメータ毎に、制御パラメータに応じた周期で実行することで、制御パラメータの学習を定期的に行い、前回記憶値との差分Δが大きくなった時点(閾値を超えた時点)で再び、最新の学習値Pを、RAM150の学習関連データへ書き込む。
以上、第六実施例について説明したが、本実施例によれば、学習値のバックアップについても、適切なタイミングで実行することができる。また、本実施例によれば、ダイアグ関連データと同手法によって制御パラメータの学習値をバックアップすることができるので、複雑にバックアップの実行タイミングを制御しなくても、シンプルな手順にて、各種類のデータを、適切なタイミングでバックアップすることができる。
続いて、第七実施例について説明する。第一実施例では、ダイアグ関連データとして、診断項目毎の診断結果を故障の「有り」又は「無し」で示したデータ、をRAM150やバックアップメモリ160に記録するようにしたが、車両の故障を記録する方法としては、故障が発生すると、発生した故障の種類を表すコード(以下、故障コードという。)を、RAM150やバックアップメモリ160に記録する方法も知られている。
第七実施例の電子制御装置100は、故障コードをRAM150やバックアップメモリ160に記録する電子制御装置に本発明を適用したものである。但し、本実施例の電子制御装置100は、ダイアグ関連データの記録方法が第一実施例と異なるものの、他の構成については、基本的に、第一実施例の電子制御装置100と同一構成である。従って、以下では、第七実施例の電子制御装置100について、第一実施例と異なる構成を選択的に説明し、他の説明を省略する。
図14(a)は、本実施例のダイアグ関連データの構成及び管理態様を示した図である。図14(a)に示すように、本実施例のダイアグ関連データは、故障コード及び当該故障コードの付属情報(例えば、故障の検出日時の情報など)からなるレコードの集合により構成されるものであり、バックアップメモリ160及びRAM150には、当該ダイアグ関連データを記憶するための領域(ダイアグ関連データ記憶領域)が予め定められている。尚、RAM150におけるダイアグ関連データ記憶領域は、第一実施例におけるバックアップ対象データ記憶領域に対応する。
この電子制御装置100では、バックアップ制御処理のS210において、バックアップメモリ160の上記ダイアグ関連データ記憶領域に記憶されたバックアップデータ(ダイアグ関連データ)を、RAM150の上記ダイアグ関連データ記憶領域に書き込むことで、ダイアグ関連データのコピーデータを、RAM150に記憶させる。
尚、本実施例のダイアグ関連データは、車両の故障がない限り、レコードが登録されていない空データの状態を採るが、本実施例では、S210において、空データであるか否かに拘わらず、ダイアグ関連データ記憶領域内のデータを、そのままダイアグ関連データとして、RAM150にコピーする。
同様に、S280では、RAM150におけるダイアグ関連データ記憶領域内のデータを、ダイアグ関連データとして、バックアップメモリ160のダイアグ関連データ記憶領域に書き込む。このようにして、本実施例では、ダイアグ関連データを読み出し、バックアップする。
一方、CPU130は、図5に示す内容の診断記録処理に代えて、図14(b)に示す診断記録処理を実行する。図14(b)は、第七実施例において、CPU130が実行する診断記録処理を表すフローチャートである。
図14(b)に示す診断記録処理を開始すると、CPU130は、この診断記録処理に割り当てられた診断項目についての故障診断を実行する(S610)。この故障診断によって、診断項目に対応する故障が車両に発生している場合には、当該診断項目に対応する故障が検出される。
そして、診断項目に対応する故障が検出されると、S620でYesと判断し、S630に移行する。一方、診断項目に対応する故障が検出されなかった場合には、S620でNoと判断して、S650に移行する。但し、S620においては、直前のS610で故障が検出されても、RAM150のダイアグ関連データ記憶領域に空きがない場合、形式的にNoと判断して、S650に移行する。
S630に移行すると、CPU130は、RAM150が記憶する更新フラグをオンに設定する。その後、検出された故障に対応する故障コード及び付属情報からなるレコードを、RAM150のダイアグ関連データ記憶領域に書き込む(S640)。
但し、S640では、今回発生した故障と同一故障コードのレコードがダイアグ関連データ記憶領域に既に登録されている場合、この既に登録されているレコードに上書きするようにして、今回発生した故障についてのレコードをダイアグ関連データ記憶領域に書き込む。このようにして、CPU130は、RAM150が記憶するダイアグ関連データを更新する。その後、当該診断記録処理を終了する。
一方、S650に移行した場合には、今回診断した項目に対応する故障コードの消去条件が満足されたか否かを判断する。但し、ここでは、今回診断した項目に対応する故障コードがRAM150のダイアグ関連データ記憶領域に記憶されていない場合、形式的に消去条件が満足されていないと判断する。この他、故障が検出されたにも拘わらず、上述した理由で、S650に移行した場合にも、形式的に、消去条件が満足されていないと判断する。
一方、今回故障が検出されず、今回診断した項目に対応する故障コードがRAM150のダイアグ関連データ記憶領域に記憶されている場合には、故障が長期に解消していると推定される場合に、故障コードの消去条件が満足されたと判断し、故障の解消が一時的であると推定される場合に、故障コードの消去条件が満足されていないと判断する。
尚、故障が長期に解消したか否かは、RAM150が記憶する故障コードに付された付属情報に基づいて判断することができる。例えば、付属情報に故障の検出日時が記録されている場合には、この検出日時から所定時間経過したか否かによって、故障が長期に解消したか否かを判断することができる。
また、上記付属情報としてトリップ数を記録する場合には、最後に故障が発生してからのトリップ数によって、故障が長期に解消したか否かを判断することができる。尚、トリップ数とは、車両の内燃機関が始動してから停止するまでを1トリップとした回数のことをいう。
S650において消去条件が満足されていないと判断すると(S650でNo)、CPU130は、S660及びS670の処理を実行せずに、当該診断記録処理を終了する。一方、消去条件が満足されたと判断すると(S650でYes)、RAM150が記憶する更新フラグをオンに設定すると共に(S660)、消去条件が満足された故障コード及び付属情報からなるレコードを、RAM150のダイアグ関連データ記憶領域から消去することで、ダイアグ関連データを更新する(S670)。その後、当該診断記録処理を終了する。
以上、第七実施例について説明したが、第七実施例の電子制御装置100においても、第一実施例と同様に、故障コードをバックアップメモリ160に適切にバックアップすることができる。
続いて、第八実施例について説明する。但し、第八実施例の電子制御装置100は、バックアップ制御処理の一部が、第一実施例の電子制御装置100と異なる程度であるので、以下では、第八実施例の電子制御装置100の説明として、第一実施例の電子制御装置100とは異なる構成を、選択的に説明する。
図15(a)は、第八実施例において、CPU130が実行するバックアップ制御処理を表すフローチャートである。図15(a)では、図6に示すバックアップ制御処理と同内容のステップに、同一ステップ番号を付す。
図15(a)に示すように、本実施例のバックアップ制御処理では、第一実施例と同様にS210の処理を実行した後、S219の処理を実行する。その後、S220に移行して、後続の処理を、第一実施例と同様に実行する。
S219では、入力回路110を通じて入力される外気温を計測する外気温センサからの信号(計測結果を表す信号)に基づき、外気温を特定する。そして、特定した外気温に基づいて、S270での判断に用いる閾値を設定する。具体的には、ROM140に記録された「設定すべき閾値と外気温との関係」に従って、図15(b)に示すように、外気温が低い程、閾値を大きい値に設定する。
尚、図15(b)は、上記「設定すべき閾値と外気温との関係」を表すグラフである。設定すべき閾値と外気温との関係は、実験により定められ、マップ若しくは関数の形態でROM140に記録される。
但し、ここで閾値を外気温に基づいて設定する目的は、内燃機関の始動直後に実行する故障診断において更新フラグがオンにされた場合であって、その後、新規データのRAM150への書込がなくタイマがゼロクリアされることがない場合でも、一通りの故障診断が終了するまでは、タイマ値が閾値を超えないようにするためである。従って、実験では、この目的が大凡適うようにして、閾値の適値を求める。
このように構成された本実施例の電子制御装置100によれば、一通りの故障診断が終了するまでは、ダイアグ関連データのバックアップ動作が行われないようにすることができるので、バックアップメモリ160への書込回数を減らすことができて、効率的にダイアグ関連データをバックアップすることができる。
電子制御装置100の構成を表すブロック図である。 故障診断の実行態様及びダイアグ関連データの更新態様を表すグラフである。 ダイアグ関連データの構成及び管理方法を表す説明図である。 ダイアグ関連データのバックアップ手法を説明したブロック図である。 CPU130が実行する診断記録処理を表すフローチャートである。 CPU130が実行するバックアップ制御処理を表すフローチャートである。 第二実施例におけるCPU130の構成を表すブロック図(a)及びCPU130が備えるタイマ131におけるタイマ値の変化の態様を表すグラフ(b)である。 第二実施例においてCPU130が実行する処理を表すフローチャートである。 第三実施例のバックアップ制御処理を表すフローチャートである。 第四実施例のバックアップ制御処理を表すフローチャートである。 第五実施例のRAM150におけるデータ管理態様を表す説明図(a)及び診断記録処理を表すフローチャート(b)である。 第六実施例のRAM150におけるデータ管理態様を表す説明図である。 第六実施例においてCPU130が実行する学習記録処理を表すフローチャートである。 第七実施例におけるダイアグ関連データの構成及び管理方法を表す説明図である。 第八実施例のバックアップ制御処理を表すフローチャートである。
符号の説明
100…電子制御装置、110…入力回路、120…出力回路、130…CPU、131…タイマ、133…メモリアクセス監視回路、135…割込コントローラ、140…ROM、150…RAM、160…バックアップメモリ、170…通信回路、200…センサ類、300…アクチュエータ類、400…バッテリ、500…テスタ、SW…キースイッチ

Claims (8)

  1. 揮発性メモリから構成され、データを一時記憶するための一時記憶メモリと、
    予め定められた処理を実行し、その実行結果を表すデータを、前記一時記憶メモリに書き込む処理実行手段と、
    前記一時記憶メモリに書き込まれたデータに対応するバックアップデータを記憶保持するためのバックアップメモリと、
    を備え、前記処理実行手段により前記一時記憶メモリに書き込まれる少なくとも一部のデータが、前記バックアップメモリで記憶保持すべき保存対象のデータとして予め定められた電子機器であって、
    前記処理実行手段は、前記バックアップメモリから読み出され前記一時記憶メモリに書き込まれた過去の実行結果を表すデータに上書きするようにして、前記保存対象のデータに該当する前記予め定められた処理の実行時に得られた当該処理の実行結果を表すデータを、前記一時記憶メモリに書き込む構成にされており、
    当該電子機器は、
    当該電子機器をオンする操作がなされると作動して、前記バックアップメモリが記憶保持する前記バックアップデータを、前記一時記憶メモリに書き込む読出手段と、
    前記一時記憶メモリが記憶する前記保存対象のデータが前記一時記憶メモリにおいて変更されなくなった時点からの経過時間である非書込時間を、計測する計測手段と、
    前記計測手段の計測結果に基づき、前記非書込時間が、予め定められた閾値に到達したことを条件に、前記処理実行手段により前記一時記憶メモリに書き込まれた前記保存対象のデータのコピーを、前記バックアップデータとして、前記バックアップメモリに書き込むバックアップ手段と、
    前記処理実行手段により、前記予め定められた処理の内、特定の処理が実行されるまでは、前記計測手段及び前記バックアップ手段の少なくともいずれか一方の動作を禁止する禁止手段と、
    を備えることを特徴とする電子機器。
  2. 前記保存対象のデータは、複数のグループに区分され、
    前記計測手段は、前記グループ毎に、当該グループに属する前記保存対象のデータが前記一時記憶メモリにおいて変更されなくなった時点からの経過時間である前記非書込時間を計測する構成にされ、
    前記バックアップ手段は、前記グループ毎に、当該グループに属する前記保存対象のデータのコピーを、前記バックアップデータとして、当該グループの前記非書込時間が閾値を超えたことを条件に、前記バックアップメモリに書き込む構成にされていること
    を特徴とする請求項1記載の電子機器。
  3. 前記バックアップ手段は、前記各グループに対して個別に定められた前記閾値の情報に基づき、前記グループ毎に、当該グループの前記非書込時間が前記閾値を超えたか否かを判断する構成にされていることを特徴とする請求項2記載の電子機器。
  4. 車両に搭載される請求項1〜請求項3のいずれかに記載の電子機器であって、
    前記処理実行手段は、前記予め定められた処理として、車両の故障の有無を診断する故障診断処理を実行する構成にされ、
    前記保存対象のデータは、前記故障診断処理の実行結果を表すデータであること
    を特徴とする電子機器。
  5. 前記計測手段は、
    スタート時点からの経過時間を計測するタイマと、
    前記処理実行手段によって前記保存対象のデータが前記一時記憶メモリにおいて変更された時点で、前記タイマをスタートさせるタイマ制御手段と、
    を備え、前記保存対象のデータが前記一時記憶メモリにおいて変更された時点で、前記タイマをスタートさせることにより、前記タイマを用いて、前記非書込時間を計測することを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載の電子機器。
  6. 前記一時記憶メモリは、当該電子機器をオンする操作であるオン操作がなされたことを契機に電源供給され、当該電子機器をオフする操作であるオフ操作がなされたことを契機に電源供給が遮断される揮発性メモリであり、
    前記バックアップメモリは、前記オン操作及びオフ操作に拘わらず、常時電源供給される揮発性メモリであることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれかに記載の電子機器。
  7. 前記バックアップメモリは、電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリであることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれかに記載の電子機器。
  8. コンピュータと、
    前記コンピュータによってデータが書き込まれる揮発性メモリであって、前記コンピュータによって書き込まれたデータを一時記憶するための一時記憶メモリと、
    前記一時記憶メモリに書き込まれたデータに対応するバックアップデータを記憶保持するためのバックアップメモリと、
    を備える電子機器であって、当該電子機器をオンする操作がなされると、前記バックアップメモリが記憶保持する前記バックアップデータを読み出して前記一時記憶メモリに書き込む一方、この読み出しにより前記一時記憶メモリに書き込まれた過去の実行結果を表すデータに上書きするようにして、前記バックアップメモリで記憶保持すべき保存対象のデータに該当する予め定められた処理の実行時に得られた当該処理の実行結果を表すデータを、前記一時記憶メモリに書き込む電子機器の前記コンピュータに、
    前記一時記憶メモリが記憶する前記保存対象のデータが前記一時記憶メモリにおいて変更されなくなった時点からの経過時間を、計測する手順と、
    前記経過時間が、予め定められた閾値に到達すると、前記一時記憶メモリが記憶する前記保存対象のデータのコピーを、前記バックアップデータとして、前記バックアップメモリに書き込む手順と、
    前記予め定められた処理の内、特定の処理が実行されるまでは、前記手順A及び前記手順Bの少なくともいずれか一方の実行を禁止する手順Cと
    を実行させるためのプログラム。
JP2008124688A 2008-05-12 2008-05-12 電子機器及びプログラム Active JP4636118B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008124688A JP4636118B2 (ja) 2008-05-12 2008-05-12 電子機器及びプログラム
US12/463,484 US8090494B2 (en) 2008-05-12 2009-05-11 Electronic apparatus and program storage medium
DE102009020852.6A DE102009020852B4 (de) 2008-05-12 2009-05-12 Elektronische Vorrichtung und Programmspeichermedium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008124688A JP4636118B2 (ja) 2008-05-12 2008-05-12 電子機器及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009276820A JP2009276820A (ja) 2009-11-26
JP4636118B2 true JP4636118B2 (ja) 2011-02-23

Family

ID=41267518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008124688A Active JP4636118B2 (ja) 2008-05-12 2008-05-12 電子機器及びプログラム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8090494B2 (ja)
JP (1) JP4636118B2 (ja)
DE (1) DE102009020852B4 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4453764B2 (ja) * 2008-02-22 2010-04-21 トヨタ自動車株式会社 車両診断装置、車両診断システム、診断方法
JP5936671B2 (ja) * 2010-03-25 2016-06-22 キヤノン株式会社 情報処理装置及び情報処理装置の制御方法
JP5627525B2 (ja) * 2010-07-16 2014-11-19 トヨタ自動車株式会社 車載電子制御装置
JP5309263B2 (ja) * 2010-09-27 2013-10-09 株式会社日立製作所 計算機システム及びその管理方法
JP2014061793A (ja) * 2012-09-21 2014-04-10 Hitachi Automotive Systems Ltd 自動車用電子制御装置
JP2015010486A (ja) * 2013-06-27 2015-01-19 日立オートモティブシステムズ株式会社 自動車用電子制御装置
JP6248435B2 (ja) * 2013-07-04 2017-12-20 富士通株式会社 ストレージ装置、およびストレージ装置の制御方法
WO2015044999A1 (ja) * 2013-09-24 2015-04-02 富士通株式会社 メモリ制御装置、情報処理装置、及びメモリ制御方法
JP5811167B2 (ja) * 2013-12-20 2015-11-11 オンキヨー株式会社 電子機器
US9951704B2 (en) * 2015-09-08 2018-04-24 GM Global Technology Operations LLC No start event monitoring
US10830651B2 (en) * 2017-06-01 2020-11-10 Nissan North America, Inc. Thermostat monitoring system and method
US10705921B2 (en) * 2018-07-31 2020-07-07 EMC IP Holding Company LLC Client data driven smart backup scheduler
US11434846B2 (en) * 2019-09-11 2022-09-06 Denso Corporation Engine control device
JP7088567B2 (ja) * 2020-04-30 2022-06-21 Necプラットフォームズ株式会社 Raid制御装置、raid制御方法及びプログラム
CN111736030B (zh) * 2020-08-03 2020-12-11 北京航空航天大学 一种汽车的通用故障管理方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH064410A (ja) * 1992-06-23 1994-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 電子機器
JP2528990Y2 (ja) * 1990-09-20 1997-03-12 株式会社ケンウッド Eepromの書込装置
JPH11149418A (ja) * 1997-11-14 1999-06-02 Yaskawa Electric Corp メモリシステム
JPH11159387A (ja) * 1997-11-25 1999-06-15 Denso Corp 車両制御装置
JPH11328041A (ja) * 1998-05-14 1999-11-30 Seiko Epson Corp プリンタにおける不揮発性メモリへの書き込み制御方法及び装置
JP2000195314A (ja) * 1998-12-24 2000-07-14 Toshiba Lighting & Technology Corp ホリゾントライト
JP2001195314A (ja) * 2000-01-07 2001-07-19 Canon Inc バックアップ記憶制御装置、バックアップ記憶制御方法、及び記憶媒体
JP2002041367A (ja) * 2000-07-26 2002-02-08 Denso Corp 車両制御装置
JP2004232498A (ja) * 2003-01-28 2004-08-19 Denso Corp 時系列フリーズフレームデータ作成方法および車両の制御装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE8902226U1 (ja) 1989-02-24 1989-05-03 Bremer Vulkan Ag Schiffbau Und Maschinenfabrik, 2820 Bremen, De
JPH06505584A (ja) * 1991-03-05 1994-06-23 ザイテル コーポレーション キャッシュメモリ
US5594885A (en) * 1991-03-05 1997-01-14 Zitel Corporation Method for operating a cache memory system using a recycled register for identifying a reuse status of a corresponding cache entry
US6243630B1 (en) 1997-03-17 2001-06-05 Denso Corporation Vehicle control system
JP3211708B2 (ja) 1997-03-17 2001-09-25 株式会社デンソー 車両制御装置
TW388832B (en) 1997-11-26 2000-05-01 Seiko Epson Corp Printing apparatus and its control method
US6278913B1 (en) * 1999-03-12 2001-08-21 Mil-Com Technologies Pte Ltd. Automated flight data management system
US7184866B2 (en) * 1999-07-30 2007-02-27 Oshkosh Truck Corporation Equipment service vehicle with remote monitoring
US6246933B1 (en) * 1999-11-04 2001-06-12 BAGUé ADOLFO VAEZA Traffic accident data recorder and traffic accident reproduction system and method
US7114106B2 (en) * 2002-07-22 2006-09-26 Finisar Corporation Scalable network attached storage (NAS) testing tool
JP4760103B2 (ja) 2005-04-08 2011-08-31 トヨタ自動車株式会社 車両情報のバックアップ装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2528990Y2 (ja) * 1990-09-20 1997-03-12 株式会社ケンウッド Eepromの書込装置
JPH064410A (ja) * 1992-06-23 1994-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 電子機器
JPH11149418A (ja) * 1997-11-14 1999-06-02 Yaskawa Electric Corp メモリシステム
JPH11159387A (ja) * 1997-11-25 1999-06-15 Denso Corp 車両制御装置
JPH11328041A (ja) * 1998-05-14 1999-11-30 Seiko Epson Corp プリンタにおける不揮発性メモリへの書き込み制御方法及び装置
JP2000195314A (ja) * 1998-12-24 2000-07-14 Toshiba Lighting & Technology Corp ホリゾントライト
JP2001195314A (ja) * 2000-01-07 2001-07-19 Canon Inc バックアップ記憶制御装置、バックアップ記憶制御方法、及び記憶媒体
JP2002041367A (ja) * 2000-07-26 2002-02-08 Denso Corp 車両制御装置
JP2004232498A (ja) * 2003-01-28 2004-08-19 Denso Corp 時系列フリーズフレームデータ作成方法および車両の制御装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009276820A (ja) 2009-11-26
DE102009020852A1 (de) 2009-12-24
DE102009020852B4 (de) 2022-04-21
US20090281690A1 (en) 2009-11-12
US8090494B2 (en) 2012-01-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4636118B2 (ja) 電子機器及びプログラム
JP4803168B2 (ja) 車両用情報記憶装置
JP5176728B2 (ja) 車両用電子制御装置
JP4345708B2 (ja) 車両用電子制御装置
JP3969278B2 (ja) 電子制御装置
US8095263B2 (en) Electronic control unit and vehicle control system
JP2006291730A (ja) 車両用診断装置
JP4552982B2 (ja) 電子制御装置
JP4281808B2 (ja) 車両の制御装置およびその制御方法
JP2007162586A (ja) 車載制御装置
WO2018079537A1 (ja) 電子制御装置及びそのデータ保護方法
JP2007062632A (ja) 電子制御ユニットおよび異常発生時記憶用データの記憶方法
JP4760103B2 (ja) 車両情報のバックアップ装置
JP6376006B2 (ja) 電子制御装置
JP2004151944A (ja) 不揮発性記憶装置へのデータの書き込み方法、プログラム、および装置、ならびに車載電子制御装置
JP2010128942A (ja) 電子制御装置
JP4353126B2 (ja) 車両状態判定装置
US20050190656A1 (en) Data recording apparatus and data recording method
JP2012226674A (ja) 自動車用電子制御装置
JP3960212B2 (ja) 電子制御装置
JP2011100416A (ja) 車載電子制御装置およびメモリ制御方法
JP6162011B2 (ja) 自動車用電子制御装置
JP2001182607A (ja) 車両制御装置
JP6975581B2 (ja) 車両情報記憶装置
JP6921296B2 (ja) 電子制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090910

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100803

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101004

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101026

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101108

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131203

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4636118

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131203

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250