JP4614784B2 - メタルマスク及びマスクユニット - Google Patents

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本発明は、例えば、有機EL素子製造工程で使われる蒸着マスクに使用される、多数の微小な開口部を備えたマスク部を有するメタルマスク及びそれを枠状のフレームに固定して形成したマスクユニットに関する。
従来、有機EL素子製造において真空蒸着が行われており、その蒸着マスクとして、蒸着を許容する多数の細長い微小な開口部を備えたマスク部を有するメタルマスクが使用されている。そして蒸着に当たってはそのメタルマスクを、前記マスク部よりも大きい開口を備えた剛性の大きい枠状のフレームに磁石等によって取り付けていた。しかしながら、近年、パターニングの微細化が進み、マスク部に形成している開口部が微細になり且つメタルマスクの板厚自体も薄くなってくると、メタルマスクを単に枠状のフレームに磁石等を用いて固定しただけでは、マスク部にゆがみやたるみが生じ、開口部の精度が維持できなくなるという問題が生じた。
そこで、本出願人はこの問題を解決すべく検討の結果、極く薄い金属板で製作し、且つ複数のマスク部を備えた構造の多面付けのメタルマスクでも、メタルマスクの4辺のそれぞれを、複数のクランプで把持し、各クランプによって前記メタルマスクにテンションを加え、かつそのテンションを各クランプごとに調整することで、メタルマスクをしわやたるみの無い平坦な状態とし、各マスク部の開口部を直線状に且つ一定ピッチに保持できること及びその状態で枠状のフレームにスポット溶接等によって固定することで、クランプを外した後においてもメタルマスクをテンションが掛けられ平坦となった状態に保持でき、従って、単純な構造のフレームを用いて多面付けマスクをゆがみやたるみの無い状態に保持できることを見出し、そのメタルマスクをゆがみやたるみの無い状態で枠状のフレームに固定する方法及び装置を開発した(特開2004−311335号公報参照)。
ところで、このようにメタルマスクにテンションを加えた状態でフレームに固定する場合、単にメタルマスクのひずみやたわみが無くなるようにテンションを調整しただけでは、メタルマスクに形成している複数のマスク部の位置が適正な位置からずれてしまうことがあることが判明した。例えば、有機EL素子製造に用いる蒸着用の多面付けマスクの場合、各マスク部の位置に関して±10μm以下のトータルピッチが求められることがあるが、メタルマスクに対するテンションの掛け具合によっては、そのピッチの誤差が大きくなるとか、全体的にねじれたような配置になることがあった。そこで、メタルマスクをフレームに固定した後で、メタルマスクの面内位置精度を正確に評価することが必要となった。
特開2004−311335号公報
メタルマスクの面内位置精度を評価するには、メタルマスクのマスク部に形成している多数のスリット状或いはスロット状の開口部のうち、マスク部の角部に位置している開口部の端部位置を画像処理して測定することが考えられる。しかしながら、メタルマスクの開口部はエッチング加工により形成されるが、その際、スリット状或いはスロット状の開口部の端部はエッチング液が溜まりやすいため形状が変りやすく、また、寸法制御が困難である。このため、開口部の端部を測定ポイントとして用いるには精度上問題があることが判明した。
本発明はかかる状況に鑑みてなされたもので、メタルマスクの面内位置精度を正確に評価することの可能なメタルマスクを提供することを課題とする。
本発明は、多数の開口部を備えたマスク部を備え、テンションをかけた状態で枠状のフレームに固定して用いられるメタルマスクにおいて、該メタルマスクの面内位置精度を正確に評価可能とするため、該メタルマスクのマスク部の外側の複数個所に、その複数個所のそれぞれの位置の、適正な位置からのずれ量を求めて位置精度を評価することができるよう、前記複数個所の位置を検出するための、画像処理することで中心位置を検出可能な位置精度評価用マークを形成しておくという構成としたものである。
ここで、前記位置精度評価用マークは前記開口部形成のためのエッチング工程で一緒にハーフエッチングで形成しておくことが好ましい。
前記位置精度評価用マークは、メタルマスクの位置精度を評価したい位置に適宜設ければよいが、好ましい形態では、前記マスク部の外側に一定ピッチで形成しておく。また、前記マスク部を複数個備えたメタルマスクでは、前記位置精度評価用マークを、各マスク部の各角部の外側に形成しておくことが好ましい。
前記位置精度評価用マークの形状としては、点対称の形状としておくことが、好ましい。
本発明のメタルマスクは、それに縦方向及び横方向にテンションを加えた状態で枠状のフレームに固定し、マスクユニットとして使用するのが好ましい。
本発明のメタルマスクは、メタルマスク面内の複数個所に位置精度評価用マークを形成しているので、メタルマスクにテンションを加えてフレームに固定する際、或いはメタルマスクをフレームに固定した後で、その位置精度評価用マークの中心位置を、画像処理を用いた適当な測定装置で、例えば、画像処理を用いた測長機で測定することで、面内位置を高精度で測定することができる。このため、メタルマスクにテンションを加えてフレームに固定する際、面内位置精度を測定すると共に所望の精度内に入るようにテンション調整することで、メタルマスクの面内位置精度を高度に保ったマスクユニットを製造できる。また、メタルマスクをフレームに固定した後でメタルマスク面内位置精度を測定することで、面内位置精度を正確に評価できる。
ここで、位置精度評価用マークをマスク部の開口部を形成するためのエッチング工程で一緒にハーフエッチングで形成しておくと、位置精度評価用マークをマスク部に対して正確な位置に形成することができると共に、位置精度評価用マークの寸法制御が容易であり、位置精度評価用マークの位置精度を高めることができる。
位置精度評価用マークをマスク部の外側に一定ピッチで形成しておくと、これらの位置精度表評用マークの測定により、マスク部内の位置精度を評価できる。また位置精度評価用マークを、各マスク部の各角部の外側に形成しておくと、これらの位置精度評価用マークの測定により、各マスク部の位置精度並びにマスク部の形状を評価できる。
位置精度評価用マークの形状として、点対称の形状としておくと、ハーフエッチングで形成する際、エッチングの進行状況にかかわらず、中心位置はほとんど変動しない。このため、位置精度評価用マークを、その中心を正確に位置決めして形成でき、その位置精度評価用マークを画像処理して中心位置を測定することで、メタルマスクの面内位置精度を正確に評価できる。位置精度評価用マークに用いる点対称の形状の具体的な例としては、円形、楕円形、正方形、長方形等を挙げることができるが、特に円形はエッチングが進行しても中心位置のずれがきわめて生じにくいため、好ましい。
本発明のメタルマスクは、テンションを掛けてゆがみやたるみの無い状態とする必要のある任意の用途に使用可能であるが、特に精密さを要求される有機EL素子製造用の蒸着用マスクとして使用することが好ましい。以下、有機EL素子製造における蒸着用マスクとして使用するメタルマスクを例にとって本発明の好適な実施の形態を説明する。
図1は本発明の実施の形態に係るメタルマスクの概略平面図、図2はそのメタルマスク及びそれを取り付ける枠状のフレームを示す概略斜視図、図3はフレームにメタルマスクを固定して形成したマスクユニットの概略斜視図である。1は蒸着マスクとして使用する直角四辺形状のメタルマスクであり、ここでは1個のマスク部2を備えた1面付け用のものを示している。マスク部2は、蒸着を許容する多数の微少な開口部3を備えたものである。マスク部2に形成している開口部3の形状、配列は任意であり、例えば、細長いスリット状の開口部を平行に並べたもの、スロット状の開口部を縦方向に並べると共に平行にも並べたもの等を挙げることができる。メタルマスク1の厚さ、マスク部2の寸法、それに形成した多数の微少な開口部3の寸法等は特に限定するものではないが、代表的なものとして、メタルマスク1の厚さは30〜200μm、開口部3の幅が40〜100μm、平行に配列された開口部間の無孔部分の幅が80〜200μm等を例示できる。開口部の形成にはエッチングが用いられる。
5はメタルマスク1を取り付けるための剛性の大きい枠状のフレームであり、メタルマスク1のマスク部2よりも大きい開口6を備えている。メタルマスク1は、フレーム5よりも縦横両方向ともに大きいサイズに作られており、フレーム5の外周縁にほぼ対応する位置に、折り曲げることで容易に切断可能な易切断線7を形成している。なお、易切断線7は、メタルマスク1に加える引張力には耐え得る強度を備えたものである。
更に、メタルマスク1には、マスク部2の外側の複数個所に位置精度評価用マーク9が形成されている。この位置精度評価用マーク9は、その位置を検出することでメタルマスク1の面内位置精度を評価しうるように設けるものであり、その配置は、面内位置精度を評価したい位置とする。この実施の形態では、マスク部2の4辺の外側にそれぞれ、複数個ずつが一定ピッチで形成されている。位置精度評価用マーク9には、画像処理することで中心位置を検出可能な形状のものが用いられ、この実施の形態では、直径が20〜50μmの円形のものが用いられている。この位置精度評価用マーク9を画像処理を用いた測長機等によって測定することで、中心位置を高精度で測定することができる。
位置精度評価用マーク9は、メタルマスク1のマスク部2に開口部3を形成するためのエッチング工程で一緒にハーフエッチングで形成される。このように開口部3と位置精度評価用マーク9とを同一のエッチング工程で形成すると、工程を簡略化でき、更に、パターニングを一緒にできるのでマスク部2に対する位置精度評価用マーク9の位置を正確に設定することができる利点が得られる。また、位置精度評価用マーク9をハーフエッチングで形成すると、エッチングの進行速度が遅くなるので、寸法のコントロールが容易となる利点も得られる。更に、実施の形態に示すように、円形の位置精度評価用マーク9を用いると、エッチングが放射状にほぼ均等に進行するので、例えマークの寸法が予定していたものとは異なっても、中心位置はほとんど変化しない。このため、形成された位置精度評価用マーク9の中心位置は高精度で所定位置となっている。なお、図1に拡大して示す開口部3の端部3aを位置検出に用いることも考えられるが、このような開口部の端部3aはエッチングの進行にむらが生じやすく、そのため形状が変りやすく、しかもハーフエッチングに比べてエッチング速度が大きいため寸法制御が困難であり、測定ポイントとしては精度上問題がある。本実施の形態で用いている円形の位置精度評価用マーク9は、これらの問題を解消している。なお、位置精度評価用マーク9の形状は、円形に限らず、ハーフエッチングの際中心位置がずれることなくエッチングが進行するような形状、すなわち、点対称の形状、例えば、楕円、正方形、長方形等としてもよい。
次に上記構成のメタルマスク1の使用方法を説明する。メタルマスク1を、図2に示すように、その4辺にテンションを加え、ゆがみやたわみの無い状態に張った状態でフレーム3にスポット溶接等によって固定し、その後、易切断線7を用いて周辺部分を除去する。これにより、図3に示すようにフレーム5にメタルマスク1がスポット溶接部12で固定された構成のマスクユニット11が形成される。次いで、フレーム5に固定されたメタルマスク1の位置精度評価用マーク9の中心位置を、画像処理を用いた適当な測定装置で、例えば、画像処理を用いた測長機で測定することで、メタルマスク1の面内位置精度を測定し、評価する。以上のようにして、メタルマスクの面内位置精度を正確に評価したマスクユニット11を得ることができ、面内位置精度に問題のないマスクユニット11を蒸着操作に供するか、或いは評価書を付して顧客に供給する。
得られたマスクユニット11では、メタルマスク1がゆがみやたるみの無い状態で且つ面内位置が所定の寸法精度内に保たれている。かくして、このマスクユニット11を用いて蒸着を行うことにより、微細なパターンの蒸着を正確に行うことができる。例えば、このマスクユニット11にガラス基板等の被蒸着基材を取り付け、蒸着機にセットし、有機EL素子の有機層又はカソード電極の蒸着を行うことで、微細なパターンの蒸着を位置精度良く行うことができ、高品質の有機層又はカソード電極を形成できる。
なお、上記した説明では、メタルマスク1をフレーム5に固定し、マスクユニット11を製造した後で、位置精度評価用マーク9の位置を測定して面内位置精度を評価しているが、位置精度評価マークは面内位置精度の評価に用いるのみならず、メタルマスク1にテンションを加えた状態の時にも使用することができる。すなわち、メタルマスク1にテンションを加えた状態の時に適当な位置の位置精度評価マーク9を検出し、メタルマスク1が所望の面内位置精度となるようにメタルマスク1に加えているテンションを調整し、その状態でメタルマスク1をフレーム5に固定することも可能である。このようにメタルマスク1をフレーム5に固定する前に所望の面内位置精度が確保できるようにテンション調整を行うことで、得られたマスクユニット11の製品歩留りを向上させることができる。
上記した実施の形態に係るメタルマスク1は1面付けのものであるが、本発明はこれに限らず、多面付けのメタルマスクにも適用可能である。図4、図5は多面付けメタルマスクに本発明を適用した実施の形態を示すものである。図4に示すメタルマスク1Aは、それぞれが蒸着用の開口部3を備えた複数のマスク部2Aを備えており、各マスク部2Aの4個の角部の外側に位置精度評価用マーク9を設けている。このメタルマスク1Aでは、各マスク部2Aの角部外側の4点の位置精度評価用マーク9を測定することで、各マスク部2Aの位置を正確に評価することができる。図5に示すメタルマスク1Bは、複数のマスク部2Aを配置した四角形状の領域の4辺の外側に、それぞれ複数の位置精度評価用マーク9を一定ピッチで形成している。このメタルマスク1Bでも、複数のマスク部2Aを配置した四角形状の領域の外側に配置した位置精度評価用マーク9が正しい位置にあれば、内側に位置する各マスク部2Aも正しい位置にあると推定されるので、位置精度評価用マーク9を測定して面内位置精度を正確に評価できる。
以上に本発明の好適な実施の形態を説明したが、本発明はこれらの実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の記載範囲内において適宜変更可能である。
本発明の実施の形態に係るメタルマスクの概略平面図 図1に示すメタルマスク及びそれを取り付ける枠状のフレームを示す概略斜視図 フレームにメタルマスクを固定して形成したマスクユニットの概略斜視図 本発明の他の実施の形態に係るメタルマスクの概略平面図 本発明の更に他の実施の形態に係るメタルマスクの概略平面図
符号の説明
1、1A、1B メタルマスク
2、2A マスク部
3 開口部
5 フレーム
6 開口
7 易切断線
9 位置精度評価用マーク
11 マスクユニット
12 スポット溶接部

Claims (6)

  1. 多数の開口部を備えたマスク部を備え、テンションをかけた状態で枠状のフレームに固定して用いられるメタルマスクであって、前記マスク部の外側の複数個所に、その複数個所のそれぞれの位置の、適正な位置からのずれ量を求めて位置精度を評価することができるよう、前記複数個所の位置を検出するために形成された、画像処理することで中心位置を検出可能な位置精度評価用マークを備えたことを特徴とするメタルマスク。
  2. 前記開口部がエッチングにより形成されており、前記位置精度評価用マークが前記開口部形成のためのエッチング工程で一緒にハーフエッチングで形成されていることを特徴とする請求項1記載のメタルマスク。
  3. 前記位置精度評価用マークが、前記マスク部の外側に一定ピッチで形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載のメタルマスク。
  4. 前記マスク部が複数個形成されており、前記位置精度評価用マークが、各マスク部の各角部の外側に形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載のメタルマスク。
  5. 前記位置精度評価用マークが,点対称の形状であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項記載のメタルマスク。
  6. 前記請求項1から5のいずれか1項記載のメタルマスクと、該メタルマスクを縦方向及び横方向にテンションを加えた状態で固定した枠状のフレームを備えたマスクユニット。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013211139A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Hitachi High-Technologies Corp 成膜装置及び成膜方法
CN109585695B (zh) * 2017-09-29 2020-01-24 昆山国显光电有限公司 蒸镀掩膜板、oled面板及系统及蒸镀监控方法
CN109188856B (zh) * 2018-10-31 2021-10-08 京东方科技集团股份有限公司 掩模板框架、掩模板及其制作方法、张网机

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001237073A (ja) * 2000-02-24 2001-08-31 Tohoku Pioneer Corp 多面取り用メタルマスク及びその製造方法
JP2004087466A (ja) * 2002-06-18 2004-03-18 Toray Ind Inc 統合マスクおよび統合マスクの組立装置と組立方法並びに有機el素子の製造装置と製造方法。
JP2004335487A (ja) * 2004-08-12 2004-11-25 Seiko Epson Corp マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2005005070A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク及びその溶接固定方法
JP2006114402A (ja) * 2004-10-15 2006-04-27 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク位置アラインメント方法及び装置
JP2006111941A (ja) * 2004-10-15 2006-04-27 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク位置アラインメント方法及び装置
JP2006152411A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスクセット方法及び装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001237073A (ja) * 2000-02-24 2001-08-31 Tohoku Pioneer Corp 多面取り用メタルマスク及びその製造方法
JP2004087466A (ja) * 2002-06-18 2004-03-18 Toray Ind Inc 統合マスクおよび統合マスクの組立装置と組立方法並びに有機el素子の製造装置と製造方法。
JP2005005070A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク及びその溶接固定方法
JP2004335487A (ja) * 2004-08-12 2004-11-25 Seiko Epson Corp マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2006114402A (ja) * 2004-10-15 2006-04-27 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク位置アラインメント方法及び装置
JP2006111941A (ja) * 2004-10-15 2006-04-27 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク位置アラインメント方法及び装置
JP2006152411A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスクセット方法及び装置

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