JP2004335487A - マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器 - Google Patents

マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2004335487A
JP2004335487A JP2004235368A JP2004235368A JP2004335487A JP 2004335487 A JP2004335487 A JP 2004335487A JP 2004235368 A JP2004235368 A JP 2004235368A JP 2004235368 A JP2004235368 A JP 2004235368A JP 2004335487 A JP2004335487 A JP 2004335487A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
substrate
manufacturing
substrates
attached
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004235368A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4235823B2 (ja
Inventor
Shinichi Yotsuya
真一 四谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2004235368A priority Critical patent/JP4235823B2/ja
Publication of JP2004335487A publication Critical patent/JP2004335487A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4235823B2 publication Critical patent/JP4235823B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】 強度の大きいマスク及びその製造方法、EL装置及びその製造方法並びに電子機器を提供することにある。
【解決手段】 マスクの製造方法は、開口12が形成された第1の基板10に、複数の貫通穴22が形成された第2の基板20を取り付けることを含む。複数の貫通穴22は、開口12の内側に配置する。第1及び第2の基板10,20は、陽極接合によって接合してもよい。第1及び第2のアライメントマーク14,24によって、第1及び第2の基板10,20を位置決めして取り付けてもよい。
【選択図】 図2

Description

本発明は、マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器に関する。
高精細なマスクが要求されている。例えば、カラーの有機エレクトロルミネッセンス(以下、ELという)装置の製造プロセスで、各色の有機材料を、マスクを使用した蒸着により形成することが知られている。マスクの製造方法として、基材をエッチングする方法が知られているが、この方法で製造されたマスクは、非常に薄いため、反り、撓みが発生するという問題があった。
特開2001−237073号公報
本発明は、従来の問題点を解決するもので、その目的は、強度の大きいマスク及びその製造方法、EL装置及びその製造方法並びに電子機器を提供することにある。
(1)本発明に係るマスクの製造方法は、開口が形成された第1の基板に、複数の貫通穴が形成された第2の基板を取り付けることを含み、
前記複数の貫通穴を前記開口の内側に配置する。本発明によれば、第1の基板によって第2の基板が補強されているので、強度の大きいマスクを製造することができる。
(2)このマスクの製造方法において、
陽極接合によって、前記第1及び第2の基板を接合してもよい。ここで、陽極接合とは、電圧の印加によって接合界面に静電引力を生じさせ、接合界面で化学結合を生じさせる接合方法である。
(3)このマスクの製造方法において、
エネルギー硬化性接着剤によって、前記第1及び第2の基板を接着してもよい。ここで、エネルギーとは、光(紫外線、赤外線及び可視光)、X線等の放射線、熱を含む。これによれば、第1及び第2の基板を位置合わせしてからエネルギーを付与することができ、第1及び第2の基板の位置合わせを簡単に行うことができる。
(4)このマスクの製造方法において、
前記第2の基板は、シリコンウエハに前記複数の貫通穴を形成し、前記第2の基板の外形に対応するように前記シリコンウエハをカットすることを含む工程によって形成してもよい。
(5)このマスクの製造方法において、
前記第1の基板は、第1のアライメントマークを有し、
前記第2の基板は、第2のアライメントマークを有し、
前記第1及び第2のアライメントマークによって、前記第1及び第2の基板を位置決めして取り付けてもよい。
(6)このマスクの製造方法において、
前記第1及び第2の基板の少なくとも一方に、マスク位置決めマークを形成することをさらに含んでもよい。ここで、マスク位置決めマークとは、マスクを使用して蒸着などを行うときに、マスクの位置合わせを行うためのものである。
(7)このマスクの製造方法において、
前記第2の基板に磁性体膜を形成することをさらに含んでもよい。こうすることで、磁力で吸着できるマスクを製造することができる。
(8)このマスクの製造方法において、
複数の前記第2の基板を、前記第1の基板に取り付け、
前記第1の基板には、複数の前記開口が形成されてなり、
それぞれの前記第2の基板を、1つの前記開口に対応させて取り付けてもよい。これによれば、大型のマスク(複数のマスクが一体化したマスク)を製造することができる。
(9)このマスクの製造方法において、
前記第1の基板及び前記複数の第2の基板を、着脱できるように取り付けてもよい。これによれば、破損した個々の第2の基板を交換することができるので経済的である。
(10)このマスクの製造方法において、
前記第1の基板に取り付けられた前記複数の第2の基板の表面を研磨して、高さを均一化することをさらに含んでもよい。これによれば、複数の第2の基板の表面が平坦化するので、蒸着などを行う対象物との密着性を高めることができる。
(11)本発明に係るマスクは、開口が形成されてなる第1の基板と、
前記第1の基板に取り付けられ、複数の貫通穴が形成された第2の基板と、
を有し、
前記複数の貫通穴は、前記開口の内側に配置されてなる。本発明によれば、第2の基板が第1の基板によって補強されているので、第2の基板の反り、撓みをなくすことができる。
(12)このマスクにおいて、
陽極接合によって、前記第1及び第2の基板が接合されていてもよい。ここで、陽極接合とは、電圧の印加によって接合界面に静電引力を生じさせ、接合界面で化学結合を生じさせる接合方法である。
(13)このマスクにおいて、
エネルギー硬化性接着剤によって、前記第1及び第2の基板が接着されていてもよい。
(14)このマスクにおいて、
前記第1の基板は、第1のアライメントマークを有し、
前記第2の基板は、第2のアライメントマークを有し、
前記第1及び第2のアライメントマークによって、前記第1及び第2の基板が位置決めされていてもよい。
(15)このマスクにおいて、
前記第1及び第2の基板の少なくとも一方には、マスク位置決めマークが形成されていてもよい。ここで、マスク位置決めマークとは、マスクを使用して蒸着などを行うときに、マスクの位置合わせを行うためのものである。
(16)このマスクにおいて、
前記第2の基板には、磁性体膜が形成されていてもよい。これによれば、第2の基板を磁力で吸着することができる。
(17)このマスクにおいて、
前記第1の基板には、複数の前記開口が形成されており、
複数の前記第2の基板が、前記第1の基板に取り付けられており、
それぞれの前記第2の基板は、1つの前記開口に対応させて取り付けられていてもよい。このマスクは、複数のマスクが一体化したもので、大型のマスクになっている。
(18)このマスクにおいて、
前記第1の基板及び前記複数の第2の基板は、着脱できるように取り付けられていてもよい。これによれば、破損した個々の第2の基板を交換することができるので経済的である。
(19)このマスクにおいて、
前記第1の基板に取り付けられた前記複数の第2の基板は、表面が研磨されて高さが均一化されていてもよい。これによれば、複数の第2の基板の表面が平坦化しているので、蒸着などを行う対象物との密着性を高めることができる。
(20)本発明に係るEL装置の製造方法は、上記マスクを使用して、発光材料を成膜することを含む。
(21)本発明に係るEL装置は、上記方法により製造されてなる。
(22)本発明に係る電子機器は、上記EL装置を有する。
以下、本発明の好適な実施の形態について図面を参照して説明する。
図1(A)〜図1(B)は、本発明の実施の形態に係るマスクを説明する図である。図1(B)は、図1(A)に示すIB−IB線断面図である。図2(A)〜図2(B)は、本発明の実施の形態に係るマスクの拡大図である。図2(B)は、図2(A)に示すIIB−IIB線断面図である。マスクは、第1の基板10と、少なくとも1つの(図1(A)に示す例では複数の)第2の基板20と、を有する。図3は、第1の基板を示す図であり、図4は、第2の基板を示す図である。
第1の基板10は、透明基板であってもよい。第1の基板10は、本実施の形態では、第2の基板20との陽極接合が可能な材料(例えば、ほうけい酸ガラス)からなる。第1の基板10には、少なくとも1つの(図1(A)に示す例では複数の)開口12が形成されている。第1の基板10をフレームということができる。開口12は、第2の基板20よりも小さい。ただし、開口12は、第2の基板20における複数の貫通穴22が形成された領域よりも大きい。開口12は、矩形であってもよい。
第1の基板10には、第1のアライメントマーク14が形成されている。第1のアライメントマーク14は、第2の基板20との位置合わせに使用される。第1のアライメントマーク14は、金属膜で形成することができ、あるいはエッチングして形成してもよい。第1の基板10には、マスク位置決めマーク16が形成されている。マスク位置決めマーク16は、マスクを使用して蒸着などを行うときに、マスクの位置合わせを行うためのものである。マスク位置決めマーク16も、金属膜で形成することができる。変形例として、第2の基板20にマスク位置決めマーク16を形成してもよい。
第2の基板20は、矩形であってもよい。第2の基板20には、複数の貫通穴22(図2(A)及び図2(B)参照)が形成されている。貫通穴22の形状は、正方形、平行四辺形、円形のいずれであってもよい。貫通穴22の形状、配列及び個数によって、マスクパターンが構成される。第2の基板20をスクリーン板ということができる。
第2の基板20には、第2のアライメントマーク24が形成されている。第1及び第2の基板10,20は、第1及び第2のアライメントマーク14,24を使用して位置合わせされている。第2のアライメントマーク24は、第2の基板20をエッチングして形成することができ、あるいは金属膜で形成してもよい。
第2の基板20は、第1の基板10に取り付けられている。図2(A)に示すように、第2の基板20は、複数の貫通穴22が開口12の内側に配置されるように取り付けられている。また、第2の基板20の端部が、第1の基板10の開口12の端部に取り付けられている。詳しくは、第2の基板20の全周端部(角リング状の部分)が、第1の基板10の開口の全周端部(角リング状の部分)に取り付けられている。1つの開口12に対応して、1つの第2の基板20が配置されている。第2の基板20は、第1の基板10における第1のアライメントマーク14が形成された面とは反対側の面に取り付けられている。本実施の形態では、第1及び第2の基板10,20は、陽極接合されてなる。第2の基板20は、第1の基板10との陽極接合が可能な材料(例えば、シリコン)からなる。
図5(A)〜図5(B)は、本発明の実施の形態に係るマスクの製造方法を説明する図である。本実施の形態では、第1及び第2の基板10,20を用意する。第1の基板10における開口12の形成には、サンドブラストを適用してもよい。第1の基板10における第1のアライメントマーク14又はマスク位置決めマーク16の形成には、スパッタリングや蒸着等を適用してもよいし、エッチングを適用してもよい。
第2の基板20には、複数の貫通穴22を形成する。その形成には、エッチング(例えば結晶面方位依存性のある異方性エッチング)を適用してもよい。貫通穴22の壁面は、第2の基板20の表面に対して垂直であってもよいし、テーパが付されていてもよい。図4に示すように、シリコンウエハ26から第2の基板20を形成してもよい。その場合、シリコンウエハ26を第2の基板20に対応してカットしてもよい。第2の基板20における第2のアライメントマーク24の形成には、エッチングを適用してもよいし、スパッタリングや蒸着等を適用してもよい。
図5(A)に示すように、第1及び第2の基板10,20を位置合わせして配置する。複数の第2の基板20は、重なり合わないように配置する。第1の基板10の一方の面の側に、複数の第2の基板20を配置する。位置合わせには、第1及び第2のアライメントマーク14,24を使用する。位置に関するその他の詳細は、上述した通りである。
図5(B)に示すように、第1及び第2の基板10,20を取り付ける。第1の基板10によって第2の基板20が補強されるので、強度の大きいマスクを製造することができる。本実施の形態では、陽極接合を適用する。詳しくは、第1及び第2の基板10,20を、接合面同士を合わせて配置し、300〜500℃程度に加熱し、500V程度の電圧を印加する。第1の基板10が、ほうけい酸ガラス(例えばコーニング#7740(パイレックス(登録商標)ガラス))からなり、第2の基板20がシリコンからなる場合、第1の基板10をマイナスに接続する。そうすると、第1の基板10のプラスイオン(ナトリウムイオン)がマイナス方向に移動し、第1の基板10における第2の基板20側の面がマイナスに帯電する。一方、第2の基板20における第1の基板10側の面はプラスに帯電する。こうして、第1及び第2の基板10,20は、静電引力で引き寄せられ、化学結合が生じて接合される。
第1の基板10を構成するコーニング#7740(パイレックス(登録商標)ガラス)の熱膨張係数は、約3.5ppm/℃であり、第2の基板20を構成するシリコンの熱膨張係数に近い。したがって、マスクを高温下で使用しても、反り、ひずみが無視できるほど小さい。また、陽極接合によれば、接着剤を使用しないので、硬化収縮によるひずみがなく、ガスが出ない。このように、本実施の形態に係るマスクは、高真空での蒸着に最適である。
なお、本発明は、接着剤を使用した接合を除くものではない。図6は、本実施の形態の変形例を説明する図である。この変形例では、第1及び第2の基板10,20を、接着剤30で接着する。接着剤30は、エネルギー硬化性接着剤であってもよい。エネルギーとは、光(紫外線、赤外線及び可視光)、X線等の放射線、熱を含む。これによれば、第1及び第2の基板10,20を位置合わせしてからエネルギーを付与することができ、第1及び第2の基板10,20の位置合わせを簡単に行うことができる。
以上の工程で、第1及び第2の基板10,20を取り付けることができる。図7に示すように、複数の第2の基板20の厚みにバラツキがあるなどの理由で、その高さが均一でない場合、砥石40などで、第2の基板20の表面を研磨してもよい。これによれば、複数の第2の基板20の表面が平坦化するので、蒸着などを行う対象物との密着性を高めることができる。
図8は、本実施の形態の変形例を示す図である。この変形例では、第1の基板10に、第2の基板20が着脱できるように取り付けられる。例えば、第1の基板10に取付部42を取り付けてガイド溝を構成し、このガイド溝に第2の基板20をはめ込んでもよい。また、図示しないネジなどで、第2の基板20の固定又は外れ止めを図ってもよい。これによれば、破損した個々の第2の基板20を交換することができるので経済的である。
図9(A)及び図9(B)は、本発明の実施の形態に係るマスク及びEL装置の製造方法を説明する図である。図9(A)に示すマスク50(例えば第2の基板20)には、磁性体膜52が形成されている。磁性体膜52は、鉄、コバルト、ニッケル等の強磁性材料で形成することができる。あるいは、Ni、Co、Feや、Fe成分を含むステンレス合金等の磁性金属材料や、磁性金属材料と非磁性金属材料との結合により、磁性体膜52を形成してもよい。マスク50のその他の詳細は、第1の実施の形態で説明した。
本実施の形態では、マスク50を使用して基板54に発光材料を成膜する。基板54は、複数のEL装置(例えば有機EL装置)を形成するためのもので、ガラス基板等の透明基板である。基板54には、図10(A)に示すように、電極(例えばITO等からなる透明電極)56や正孔輸送層58が形成されている。なお、電子輸送層を形成してもよい。
図9(A)に示すように、基板54側に第2の基板20が位置するように、マスク50を配置する。基板54の背後には、磁石48が配置されており、マスク50(第2の基板20)に形成された磁性体膜52を引き寄せるようになっている。これにより、マスク50(第2の基板20)に反りが生じていても、これを矯正することができる。
図9(B)は、マスクの位置合わせ方法を説明する図である。上述したように、第1の基板10にはマスク位置決めマーク16が形成されている。一方、基板54にも、位置決めマーク55が形成されている。マスク位置決めマーク16と位置決めマーク55を使用して、第1の基板10と基板54とを位置合わせする。
図10(A)〜図10(C)は、発光材料の成膜方法を説明する図である。発光材料は、例えば有機材料であり、低分子の有機材料としてアルミキノリノール錯体(Alq3)があり、高分子の有機材料としてポリパラフェニレンビニレン(PPV)がある。発光材料の成膜は、蒸着によって行うことができる。例えば、図10(A)に示すように、マスク50を介して赤色の発光材料をパターニングしながら成膜し、赤色の発光層60を形成する。そして、図10(B)に示すように、マスク50をずらして、緑色の発光材料をパターニングしながら成膜し、緑色の発光層62を形成する。そして、図10(C)に示すように、マスク50を再びずらして、青色の発光材料をパターニングしながら成膜し、青色の発光層62を形成する。
本実施の形態では、スクリーンとなる第2の基板20が、第1の基板10によって補強されている。したがって、第2の基板20の反り、撓みが発生せず、選択蒸着の再現性が高く、生産性が高い。本実施の形態では、マスク50では、第1の基板10に複数の開口12が形成され、それぞれの開口12に対応して第2の基板20が位置している。各第2の基板20が1つのEL装置に対応する。すなわち、マスク50を使用して、一体化した複数のEL装置を製造することができる。基板54を切断して、個々のEL装置を得ることができる。
図11は、上述した発光材料の成膜方法を経て製造されたEL装置を示す図である。EL装置(例えば有機EL装置)は、基板54、電極56、正孔輸送層58、発光層60,62,64等を有する。発光層60,62,64上に、電極66が形成されている。電極66は例えば陰極電極である。EL装置(ELパネル)は、表示装置(ディスプレイ)となる。
本発明の実施の形態に係るEL装置を有する電子機器として、図12にはノート型パーソナルコンピュータ1000が示され、図13には携帯電話2000が示されている。
本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び結果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
図1(A)〜図1(B)は、本発明の実施の形態に係るマスクを説明する図である。 図2(A)〜図2(B)は、本発明の実施の形態に係るマスクの拡大図である。 図3は、第1の基板を示す図である。 図4は、第2の基板を示す図である。 図5(A)〜図5(B)は、本発明の実施の形態に係るマスクの製造方法を説明する図である。 図6は、本実施の形態の変形例を説明する図である。 図7は、本発明の実施の形態に係るマスクの製造方法を説明する図である。 図8は、本実施の形態の変形例を示す図である。 図9(A)及び図9(B)は、本発明の実施の形態に係るマスク及びEL装置の製造方法を説明する図である。 図10(A)〜図10(C)は、発光材料の成膜方法を説明する図である。 図11は、本発明の実施の形態に係るマスクを使用した発光材料の成膜方法を経て製造されたEL装置を示す図である。 図12は、本発明の実施の形態に係る電子機器を示す図である。 図13は、本発明の実施の形態に係る電子機器を示す図である。
符号の説明
10…第1の基板、12…開口、14…第1のアライメントマーク、
16…マスク位置決めマーク、20…第2の基板、22…貫通穴、
24…第2のアライメントマーク、26…シリコンウエハ、30…接着剤
50…マスク、52…磁性体膜

Claims (22)

  1. 開口が形成された第1の基板に、複数の貫通穴が形成された第2の基板を取り付けることを含み、
    前記複数の貫通穴を前記開口の内側に配置するマスクの製造方法。
  2. 請求項1記載のマスクの製造方法において、
    陽極接合によって、前記第1及び第2の基板を接合するマスクの製造方法。
  3. 請求項1記載のマスクの製造方法において、
    エネルギー硬化性接着剤によって、前記第1及び第2の基板を接着するマスクの製造方法。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載のマスクの製造方法において、
    前記第2の基板は、シリコンウエハに前記複数の貫通穴を形成し、前記第2の基板の外形に対応するように前記シリコンウエハをカットすることを含む工程によって形成するマスクの製造方法。
  5. 請求項1から請求項4のいずれかに記載のマスクの製造方法において、
    前記第1の基板は、第1のアライメントマークを有し、
    前記第2の基板は、第2のアライメントマークを有し、
    前記第1及び第2のアライメントマークによって、前記第1及び第2の基板を位置決めして取り付けるマスクの製造方法。
  6. 請求項1から請求項5のいずれかに記載のマスクの製造方法において、
    前記第1及び第2の基板の少なくとも一方に、マスク位置決めマークを形成することをさらに含むマスクの製造方法。
  7. 請求項1から請求項6のいずれかに記載のマスクの製造方法において、
    前記第2の基板に磁性体膜を形成することをさらに含むマスクの製造方法。
  8. 請求項1から請求項7のいずれかに記載のマスクの製造方法において、
    複数の前記第2の基板を、前記第1の基板に取り付け、
    前記第1の基板には、複数の前記開口が形成されてなり、
    それぞれの前記第2の基板を、1つの前記開口に対応させて取り付けるマスクの製造方法。
  9. 請求項8記載のマスクの製造方法において、
    前記第1の基板及び前記複数の第2の基板を、着脱できるように取り付けるマスクの製造方法。
  10. 請求項8記載のマスクの製造方法において、
    前記第1の基板に取り付けられた前記複数の第2の基板の表面を研磨して、高さを均一化することをさらに含むマスクの製造方法。
  11. 開口が形成されてなる第1の基板と、
    前記第1の基板に取り付けられ、複数の貫通穴が形成された第2の基板と、
    を有し、
    前記複数の貫通穴は、前記開口の内側に配置されてなるマスク。
  12. 請求項11記載のマスクにおいて、
    陽極接合によって、前記第1及び第2の基板が接合されてなるマスク。
  13. 請求項11記載のマスクにおいて、
    エネルギー硬化性接着剤によって、前記第1及び第2の基板が接着されてなるマスク。
  14. 請求項11から請求項13のいずれかに記載のマスクにおいて、
    前記第1の基板は、第1のアライメントマークを有し、
    前記第2の基板は、第2のアライメントマークを有し、
    前記第1及び第2のアライメントマークによって、前記第1及び第2の基板が位置決めされてなるマスク。
  15. 請求項11から請求項14のいずれかに記載のマスクにおいて、
    前記第1及び第2の基板の少なくとも一方には、マスク位置決めマークが形成されてなるマスク。
  16. 請求項11から請求項15のいずれかに記載のマスクにおいて、
    前記第2の基板には、磁性体膜が形成されてなるマスク。
  17. 請求項11から請求項16のいずれかに記載のマスクにおいて、
    前記第1の基板には、複数の前記開口が形成されており、
    複数の前記第2の基板が、前記第1の基板に取り付けられており、
    それぞれの前記第2の基板は、1つの前記開口に対応させて取り付けられているマスク。
  18. 請求項17記載のマスクにおいて、
    前記第1の基板及び前記複数の第2の基板は、着脱できるように取り付けられているマスク。
  19. 請求項17記載のマスクにおいて、
    前記第1の基板に取り付けられた前記複数の第2の基板は、表面が研磨されて高さが均一化されているマスク。
  20. 請求項11から請求項19のいずれかに記載のマスクを使用して、発光材料を成膜することを含むエレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  21. 請求項20記載の方法により製造されてなるエレクトロルミネッセンス装置。
  22. 請求項21記載のエレクトロルミネッセンス装置を有する電子機器。
JP2004235368A 2004-08-12 2004-08-12 マスクの製造方法 Expired - Lifetime JP4235823B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004235368A JP4235823B2 (ja) 2004-08-12 2004-08-12 マスクの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004235368A JP4235823B2 (ja) 2004-08-12 2004-08-12 マスクの製造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001292040A Division JP3651432B2 (ja) 2001-09-25 2001-09-25 マスク及びその製造方法並びにエレクトロルミネッセンス装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004335487A true JP2004335487A (ja) 2004-11-25
JP4235823B2 JP4235823B2 (ja) 2009-03-11

Family

ID=33509474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004235368A Expired - Lifetime JP4235823B2 (ja) 2004-08-12 2004-08-12 マスクの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4235823B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006216475A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク及びマスクユニット
KR100799813B1 (ko) 2005-07-20 2008-01-31 세이코 엡슨 가부시키가이샤 마스크, 마스크의 제조 방법, 성막 방법, 전기 광학 장치의제조 방법 및 전자 기기
US7771789B2 (en) 2005-01-06 2010-08-10 Seiko Epson Corporation Method of forming mask and mask

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7771789B2 (en) 2005-01-06 2010-08-10 Seiko Epson Corporation Method of forming mask and mask
JP2006216475A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Dainippon Printing Co Ltd メタルマスク及びマスクユニット
JP4614784B2 (ja) * 2005-02-07 2011-01-19 大日本印刷株式会社 メタルマスク及びマスクユニット
KR100799813B1 (ko) 2005-07-20 2008-01-31 세이코 엡슨 가부시키가이샤 마스크, 마스크의 제조 방법, 성막 방법, 전기 광학 장치의제조 방법 및 전자 기기

Also Published As

Publication number Publication date
JP4235823B2 (ja) 2009-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3651432B2 (ja) マスク及びその製造方法並びにエレクトロルミネッセンス装置の製造方法
KR100641478B1 (ko) 마스크 증착 방법 및 장치, 마스크 및 마스크의 제조 방법 및 표시 패널 제조 장치
JP4438710B2 (ja) マスク、マスクチップ、マスクの製造方法及びマスクチップの製造方法
JP4428285B2 (ja) マスク保持構造、成膜方法、及び電気光学装置の製造方法
TWI244354B (en) Deposition mask, manufacturing method thereof, display unit, manufacturing method thereof, and electronic apparatus including display unit
JP2005163099A (ja) マスク、マスクの製造方法、有機el装置の製造方法、有機el装置
JP2003173872A (ja) アライメント方法、パターン形成方法及びアライメント装置、並びに有機エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法
JP2005206939A (ja) 薄膜形成方法、薄膜形成装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器
JP3596502B2 (ja) マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2006188731A (ja) マスク成膜方法,マスク
JP2008196002A (ja) 蒸着マスクおよび蒸着マスクの製造方法
JP4235823B2 (ja) マスクの製造方法
JP2004152704A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP2004335486A (ja) マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2002105622A (ja) 蒸着用治具及び蒸着方法
JP5953566B2 (ja) 薄膜パターン形成方法及び有機el表示装置の製造方法
JP2006077276A (ja) マスク、マスクの製造方法、薄膜パターンの形成方法、電気光学装置の製造方法
TWI475736B (zh) 電激發光顯示裝置的製作方法以及鍍膜機台
JP6095088B2 (ja) マスクの製造方法、薄膜パターン形成方法及び有機el表示装置の製造方法
TWI440730B (zh) 一種使用靜電板承載一金屬網板而進行蒸鍍的方法及其裝置
JP2005290524A (ja) マスク、マスクの製造方法、電気光学装置の製造方法および電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040812

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050121

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20051221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080123

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080317

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081119

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081202

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4235823

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121226

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121226

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131226

Year of fee payment: 5

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250