JP4596079B2 - 開口覆材の開閉制御装置 - Google Patents

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Description

本発明は、例えば自動車の窓等の開口に設けられるサンルーフやパワーウィンドウ等の覆材の開閉制御を行う開口覆材の開閉制御装置に関するものである。
例えば自動車にはサンルーフやパワーウィンドウを運転者のスイッチ操作に応じて開閉制御する開口覆材の開閉制御装置を備えるものがある。例えばサンルーフ開閉制御装置にはサンルーフをチルト開閉およびスライド開閉するものが知られている(例えば特許文献1)。また、近年、サンルーフやパワーウィンドウに人や物が挟み込まれたことを検知し、サンルーフやパワーウィンドウの作動を停止または反転させる挟み込み防止機能を備えたものがある。
この種の開閉制御装置ではサンルーフやパワーウィンドウ等の覆材を開閉制御するうえで覆材の位置検出が必要である。従来、覆材の位置検出方法としては、例えばモータの回転軸に取付けた磁石を検出するホールIC(回転数センサ)を使用し、ホールICから入力されるパルス信号のエッジを計数してサンルーフの位置検出を行うものがあった。この位置検出方法では、サンルーフの開閉方向の判定は、モータの正転・逆転・停止を制御するリレーのオン/オフ状態を見て行い、モータの停止や回転方向の切り替わりを把握しながら位置カウンタの計数処理を行っていた。また、ホールICを使用しない位置検出方法も知られ、直流モータの電流を検出した信号を整形したリップルパルスを使用し、入力パルスのエッジを計数して覆材(サンルーフ)の位置検出を行うものも知られている(特許文献2)。この場合も、サンルーフの開閉方向の判定は上記方法が採用されていた。
特公平5−25686号公報 特開平10−109534号公報
しかし、従来の位置検出方法は、モータの停止や反転のタイミングをリレーのオン/オフ状態を見て、停止指示や反転指示が出されたことをもって判断していたため、モータの停止や反転を判定してからも、実際にはモータは僅かな期間は惰性回転しており、この惰性回転分が位置カウンタに計数されない場合があった。また、パルス信号に乗ったノイズを誤って計数する計数エラーも心配されていた。
このため、ホールIC等のパルス信号を生成するセンサの他に、サンルーフの絶対位置を検出する位置検出スイッチを設け、位置カウンタの計数値(サンルーフ位置)を位置検出スイッチの検知信号を基に補正するようにしていた。特に位置検出スイッチなどの位置補正用センサはモータ及び制御ユニットの配設位置から離れた位置に配置される場合も多く、位置検出スイッチが増えるだけでなく長いハーネス等が必要であった。このように従来装置では、ホールIC等のセンサとは別に位置補正用センサを設けなければならなかったため、センサ類の組付点数の増加(ハーネス等も増加)による、装置の複雑化および大型化、制御内容の複雑化、組立工数増加による製造効率低下などの不都合を招き易いという問題があった。
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、その目的は、モータの回転に応じたパルスを生成するセンサを使用するだけでも、高い位置検出精度を得ることができる開口覆材の開閉制御装置を提供することにある。
上記目的を達成するために請求項1に記載の発明は、開口を開閉するための覆材を駆動する電動モータと、前記電動モータの回転数に比例する位相の異なる周波数のパルス信号を生成する少なくとも一対の回転数センサと、該一対の回転数センサからのパルス信号を基に前記覆材の移動方向を判定すると共に前記覆材の位置を検出する位置検出手段とを備え、前記位置検出手段は、前記覆材を反転させる前記電動モータへの反転指示が出されていないにも拘わらず、前記覆材の反転を検出したら反転検出に用いた前記パルス信号をノイズとして処理することを要旨とする。
この発明によれば、位置検出手段は、少なくとも一対の回転数センサからの位相の異なるパルス信号を基に覆材の移動方向を判定すると共に、覆材の位置を検出する。覆材を反転させる電動モータへの反転指示が出されていないにも拘わらず、前記覆材の反転を検出したら反転検出に用いたパルス信号をノイズとして処理する。このため、覆材の正確な位置検出が可能となる。
請求項に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記パルス信号を基に前記覆材の挟み込みを検出する挟込検出手段を備えている。
この発明によれば、請求項1の発明の作用に加え、挟込検出手段はパルス信号を基に覆材の挟み込みを検出する。従って、覆材の挟込検出を採用する場合、回転数センサを流用でき、専用のセンサを別途設ける必要がない。
請求項1の発明によれば、覆材を反転させる電動モータへの反転指示が出されていないにも拘わらず、反転を検出したら反転検出に用いたパルス信号をノイズとして除去するので、電動モータの回転に応じたパルスを生成する少なくとも一対の回転数センサがあれば、高い位置検出精度を得ることができる。
請求項の発明によれば、請求項1の発明の効果に加え、回転数センサからのパルス信号を利用して覆材の挟み込み検出を行うので、挟み込み防止機能を備える場合も回転数センサのみで対応できる。
一実施形態におけるサンルーフ開閉制御装置の概略構成を示すブロック図。 制御位置および挟み込み制御の設定例を示す説明図。 サンルーフの斜視図を示し、(a)はサンルーフがチルドアップした状態、(b)はサンルーフが全開した状態を示す。 2つのパルス信号について閉方向と開方向の関係を説明するタイミングチャート。 メインルーチンを示すフローチャート。 スライドクローズ処理を示すフローチャート。 同じくフローチャート。 反転作動処理を示すフローチャート。 立ち上がりエッジ処理を示すフローチャート。 立ち下がりエッジ処理を示すフローチャート。 立ち上がりエッジ処理を示すフローチャート。 立ち下がりエッジ処理を示すフローチャート。
以下、本発明を自動車のサンルーフ開閉制御装置に具体化した一実施形態を図1〜図12に従って説明する。
図3は自動車AMのルーフ1に設けられたサンルーフ開閉制御装置を示す。自動車AMのルーフ1には開口1aが設けられ、覆材としてのサンルーフ(ルーフガラス)2は開口1aを開閉するように設けられている。サンルーフ2は公知のスライド機構(図示省略)により前後方向にスライドすると共に、公知のチルト機構(図示省略)によりチルト動作するようになっている。サンルーフ2を駆動するドライブユニット(ギヤAssy)3は、開口1aの前側部位においてルーフ1に埋設された状態で配設されている。ドライブユニット3は電動モータ(以下、単にモータと称す)4とギヤユニット5とが一体に組立てられた構成で、ギヤユニット5の出力軸が前記スライド機構及びチルト機構と作動連結されている。モータ4が駆動されることによりサンルーフ2は、図3(a)に示すチルトアップ位置と全閉位置との間でチルトするチルト開閉動作と、全閉位置と図3(b)に示す全開位置との間でスライドするスライド開閉動作を行う。本例では、チルトアップ位置からモータ4が正転駆動されると、サンルーフ2はチルトダウンして全閉し、さらに後方へスライドして全開する。そして全開位置からモータ4が逆転駆動されると、サンルーフ2は正転時と逆の経路で移動する。
図3(b)に示すように、ルーフ1には開口1aの内側前部にウィンドデフレクタ6が装備されている。ウィンドデフレクタ6は開口1aから上方へ立ち上がる方向へバネ(図示省略)により付勢された状態で左右2本のアーム7,7により支持されている。サンルーフ2が開くとウィンドデフレクタ6がバネの付勢力で自動で押し上がり、逆にサンルーフ2を閉めるときにはバネの付勢力に抗してアーム7,7がサンルーフ2に押されることでウィンドデフレクタ6は格納される。
図1はサンルーフ開閉制御装置の電気構成図を示す。
ドライブユニット3は、モータ4を駆動制御する制御装置(制御回路基板)10を備える。制御装置10は、回転数センサとしての一対のホールIC11,12、位置検出手段及び挟込検出手段としてのマイクロコンピュータ(以下、単にマイコンと称す)13、リレー駆動回路14、リレー15,16、各種入力インタフェイス回路17〜19、電源回路20などを備えている。
自動車に搭載されたバッテリ21のプラス電位が電源回路20やリレー駆動回路14などの各種回路に印加されており、マイコン13やホールIC11,12には所定駆動電圧が供給されるようになっている。イグニションスイッチ22の信号はマイコン13に入力される。操作スイッチ23は自動車AMの室内に設けられてサンルーフ2を開閉するときに操作するもので、その操作方向に応じてオープン/ダウンSWまたはクローズ/アップSWがオンし、スイッチ操作されていない中立位置では両SWが共にオフする。操作スイッチ23の信号は入力インタフェイス回路17を介してマイコン13に入力され、マイコン13はこの信号に応じてリレー駆動回路14を介してリレー15,16を駆動し、モータ4を回転制御する。
モータ4の回転軸4aにはマグネット25が取付けられており、モータ4が回転するとホールIC11,12を横切る磁束が変化し、ホールIC11,12の出力が入力インタフェイス回路18,19を介してしてマイコン13に入力される。ここでは、図4に示すような出力が得られるようにホールIC11,12を配置している。マイコン13はホールIC11,12から入力されるパルス信号を基にサンルーフ2の位置検出を行う。本実施形態では位置補正用センサは使用していない。また、本実施形態のサンルーフ自動開閉装置では挟み込み防止機能を採用しており、モータ4にかかる負荷の変化を見てサンルーフ2に人や物が挟み込まれたことを検知すると、モータ4の回転を反転させてサンルーフ2を所定量(例えば約20cm)反転させるようにしている。この挟み込み防止機能のための処理も、ホールIC11,12から入力されるパルス信号を基にマイコン13が行う。
マイコン13は中央処理装置(CPU)30およびメモリ31を内蔵し、メモリ31には、図5〜図12にフローチャートで示す各種プログラムデータが記憶されている。これらのプログラムを基にCPU30は、モータ4の駆動制御処理、サンルーフ2の位置検出処理、挟み込み防止処理を実行する。またCPU30は、位置カウンタ32、計時手段としてのタイマ(計時用カウンタ)33,34を備えている。位置カウンタ32は、サンルーフ2の位置を検出するためにホールIC11,12から入力するパルス信号のパルス数(本例ではパルスエッジ)をモータ回転方向を考慮しながら計数するためのものである。タイマ33は、パルス信号のパルス間隔時間(本例ではパルスエッジ間隔)を計時するためのもので、挟み込み検出処理などに使用する。タイマ33は、モータ停止後の経過時間を計時するためのものである。
図2は、サンルーフの制御位置および挟み込みしきい値(荷重)の設定例を示す。
サンルーフ2は、チルトメカロック位置(ストッパにより機械的にチルト全開ロックされる位置)と、スライドメカロック位置(ストッパにより機械的にスライド全開ロックされる位置)との間を開閉可能領域とする。モータ4が駆動用ロッド(図示せず)を最も引っ張った位置(最大逆転位置)がチルトメカロック位置で、モータ4が駆動用ロッド(図示せず)を最も押し込んだ位置(最大正転位置)がスライドメカロック位置である。
サンルーフ位置(以下、単にルーフ位置と称す)は、D0〜D11の範囲内の位置で示される。チルトメカロック位置からスライドメカロック位置に至るまでにモータ正転方向(開方向)において順に現れる制御上の位置として、位置D0〜D11が設定されている。D0はチルトメカロック位置、D11はスライドメカロック位置である。チルト領域はD0〜D3、全閉領域はD3〜D5、スライド領域はD5〜D11である。また停止位置の制御上の狙い値として、チルトアップ停止位置D1、全閉停止位置D4、全開停止位置D10が設定されている。例えば全閉の場合、全閉停止位置D4が制御上の停止の狙い位置で全閉区間D3〜D5内であれば全閉停止位置にあるとみなしている。また各領域は、同図に示すように、2種類のチルト区間と、全閉区間と、4種類のスライド区間との8区間に分かれ、D0〜D11のうち上記停止位置D1,D4,D10以外の位置は、これらの区間の境界位置を示すものである。各ルーフ位置D0〜D11は、位置カウンタ32の計数値に相当する値に設定されている。位置カウンタ32はモータ正転時(サンルーフ開方向移動時)にインクリメント(「+1」計数)され、モータ逆転時(サンルーフ閉方向移動時)にデクリメント(「−1」計数)される。
また図2に示すように、挟み込み荷重(挟み込みしきい値)が、挟み込み検知が必要な区間に設定されている。本例ではD6〜D10の区間が挟み込み検知実行区間となっている。挟み込みしきい値は、D6〜D7及びD8〜D9(「スライド区間1」)では値Aが設定されている。サンルーフ2を閉めるときにデフレクタ6をバネの付勢力に抗して押し下げるための余分な力が必要なデフレクタ押し下げ領域D7〜D8(「スライド区間2」)では、しきい値Aより高めのしきい値Bが設定されている(A<B)。室内から指などの挟み込みの心配のないD0〜D6及びD10〜D11の区間(「スライド区間3,4」,「全閉区間」,チルト区間1,2」)では挟み込み防止機能をロックさせている。またスライド区間3,4は開口1aの窓枠に装着されたシールとの抵抗により負荷がかかるので、この負荷を挟み込みと誤検出しないように挟み込み検知をしていない。
挟み込み検知は、サンルーフ2の移動速度が挟み込み負荷によって落ちることに伴うモータ4の回転速度の落ち込み量を見て行う。詳しくは、タイマ33が計時したパルスエッジの時間間隔からパルス周期を演算し、パルス周期がしきい値を超えたときを挟み込みと判定する。挟み込みしきい値A,Bは、サンルーフ2に挟み込み荷重がかかったときのパルス周期に相当する値で設定され、バッテリ電圧によってモータ回転速度が変動することを考慮し、バッテリ電圧をパラメータとして決まるようにしている。なお、パルス周期の変化割合を見て、その変化割合がしきい値を超えるほど大きいときを挟み込みと判定する検知方法を採用することもできる。
CPU30は、リレー15,16のオン/オフ状態を見て、現在のモータ4が正転か停止か逆転かを認識する。つまりCPU30はリレー15,16のオン/オフ状態を見てモータ4が停止モードに入ったこと、反転モードに切替わったことを判断する。また、位置カウンタ32の計数処理をするうえでモータ4の回転方向を把握する必要があるが、本実施形態では、一対のホールIC11,12の出力パルスを比較することでモータ4の実際の回転方向を判定し、この回転方向を基にカウント処理を行う。
図4は2個のホールIC11,12から出力されるパルス信号のタイミングチャートを示す。
図4(a)に示すように、ホールIC11,12から出力される各パルス信号は、同周期で位相が1/4周期ずれる関係にある。図4(b)に示すように、サンルーフ2の移動が閉方向(逆転方向)か開方向(正転方向)かによって、ホールIC11,12から出力される2つのパルス信号のレベルとエッジの関係が異なるため、2つのパルス信号のレベルとエッジの関係からモータ回転方向を判定する。なお、図4(b)において「↑」は立ち上がりエッジを、「↓」は立ち下がりエッジを示す。
メモリ31に記憶された図5〜図12のフローチャートで示すプログラムは、位置検出処理および挟み込み制御に関係するもので、図5はメインルーチン、図6,7はスライドクローズ処理ルーチン、図8は反転作動処理ルーチン、図9〜図12は各ホールIC11,12毎の立ち上がりエッジ処理、立ち下がりエッジ処理の各ルーチンである。
次に図5〜図12を用いて各プログラムについて説明する。まず図5のメインルーチンについて説明する。
ステップ(以下、ステップを「S」と記す)101では、マイコン13のメモリ(RAM等)31やポートの初期化処理を行う。
S102では、オープン/ダウンSWがオンであるか否かを判断する。オープン/ダウンSWがオンであればS107に進み、S107においてルーフ位置より作動を決定する。ルーフ位置がD0≦X≦D3の範囲にあれば、図2のチルト全閉区間なのでS109に進み、S109においてチルトダウン処理を行う。ルーフ位置がD0≦X≦D3の範囲になければ、図2の全閉区間またはスライド区間なのでS108に進み、S108においてスライドオープン処理を行う。
S102でオープン/ダウンSWがオフであればS103に進み、S103においてクローズ/アップSWがオンであるか否かを判断する。クローズ/アップSWがオフであれば、S102に戻る。クローズ/アップSWがオンであればS104に進み、S104においてルーフ位置により作動を決定する。ルーフ位置がD5≦X≦D11の範囲にあれば、図2のスライド区間なのでS105に進み、S105においてスライドクローズ処理を行う。ルーフ位置がD5≦X≦D11の範囲になければ、図2の全閉区間またはチルト区間なのでS106に進み、S106においてチルトアップ処理を行う。S105〜S108の処理がそれぞれ終了したら、S102に戻る。
次にサンルーフの作動例として、S105のスライドクローズ処理の詳細を説明する。
まずS201において、現在のホールIC11,12の状態を取得する。次のS202では、ルーフ位置に応じた挟み込みしきい値(図2参照)を設定する。すなわち、ルーフ位置が「スライド区間1」にあるときはしきい値A、「スライド区間2」にあるときはしきい値Bを設定し、これ以外の区間にあるときは挟み込み防止機能のロックを設定する。これらのしきい値A,Bは、バッテリ電圧値をパラメータとしてその時のバッテリ電圧に応じた値が設定される。
次のS203ではリレー駆動回路14を介してリレー15をオンし、モータ4を逆転駆動する。S204では人や物の挟み込み等によるモータロックを検出するためのタイマ33をスタートさせる。
S205〜S208では、2個のホールIC11,12のどちらかのパルス信号に立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジが発生したか否かを判断する。ホールIC11,12のどちらのパルス信号にもエッジがなければS213に進む。ホールIC11,12のどちらかにエッジがあった場合は、S209〜S212においてそれぞれのエッジ処理を行い、S213に進む。
S213では、モータ4が停止(リレー15がオフ)したか否かを判断する。モータ4が停止していればS214に進み、S214においてモータ停止後、T2時間経過したか否かを判断する。これはタイマ34の計時時間を見て判断する。T2時間経過していなければS205に戻り、T2時間経過していればスライドクローズ処理ルーチンを終了し、メインルーチンのS102に戻る。ここで、時間T2は、モータ4の停止(両リレー15,16オフ)後、モータ4の惰性回転が終わって完全に停止するまでに要する時間に少し余裕をみた時間に設定されている。一方、S213でモータ4が停止していなければS215に進み、S215において今回エッジがあったか否かを判断する。今回エッジがなければS216に進む。
S216では、エッジがT1時間なしか否かを判断する。エッジがT1時間なければモータロックと判定してS224に進み、S224において反転作動を指令する。つまり、リレー15をオフさせると共にリレー16をオンさせ、モータ4の回転を反転させる。一方、前回のエッジ検出時からT1時間経過していなければ、S205に戻る。
一方、S215でエッジがあれば、S217で位置カウンタ32から現在のルーフ位置がD4であるか否かを判断する。ルーフ位置がD4であれば全閉位置であるのでS219に進み、S219においてモータ4を停止(リレー15をオフ)させる。一方、ルーフ位置がD4でなればS218に進み、S218においてクローズ/アップSWがオンであるか否かを判断する。クローズ/アップSWがオフであればS219に進み、S219においてモータ4を停止(リレー15をオフ)させる。一方、クローズ/アップSWがオンであればS220に進む。
S220では、ルーフ位置が図2に示す区間をまたいだか否かを判断する。区間が変わっていればS221に進み、S221において挟み込みしきい値を再設定し、S222に進む。一方、区間が変わっていなければ、しきい値はそのままでS222に進む。
S222では、前回と今回のエッジから周期を演算する。つまり、今回のエッジを検出したときのタイマ33の計時時間(1/4周期)からパルス信号の周期を演算する。次のS223では、周期が挟み込みしきい値を超えたか否かを判断する。周期が挟み込みしきい値を超えたらS224に進み、S224において反転作動を指令する。この反転作動処理については図8において説明するが、主な処理はリレー15をオフさせると共にリレー16をオンさせ、モータ4の回転を反転させる。一方、周期が挟み込みしきい値を超えていなければ、S205に戻る。なお、周期の変化割合を見て挟み込み検出を行ってもよく、この場合は周期変化割合がそのしきい値を超えるほど大きいときに挟み込みと判定する。
次にS224の反転作動処理の詳細について図6に従って説明する。
S301では、スライドクローズ中のモータ4を停止(リレー15をオフ)する。S302では反転(スライドオープン)方向にモータ4を作動(リレー16をオン)させる。S303〜306では2個のホールIC11,12のどちらかに立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジが発生したかを判断する。ホールIC11,12のどちらにもエッジがなければS311に進む。ホールIC11,12のどちらかにエッジがあった場合は、S307〜S310でそれぞれのエッジ処理を行い、S311に進む。
S311では、モータ4が停止(リレー16がオフ)したか否かを判断する。モータ4が停止していれば、S312においてタイマ34の計時時間を見て、モータ停止後、T2時間経過したか否かを判断する。T2時間経過していなければS303に戻り、T2時間経過していれば反転作動処理ルーチンを終了してS102に戻る。S311でモータ4が停止していなければ、S313においてT1時間エッジなしか否かを判断する。T1時間エッジがなければモータロックと判定してS316に進む。S316ではモータ4を停止(リレー16をオフ)させる。一方、T1時間経過していなければ、S314において位置カウンタ32の値から現在のルーフ位置がD11であるか否を判断する。ルーフ位置がD11であれば全開停止位置であるので、S316に進み、S316においてモータ4を停止(リレー16をオフ)させる。ルーフ位置がD11でなればS315に進み、S315においてサンルーフ2が所定量(例えば約20cm)反転したか否かを判断する。サンルーフ2が所定量反転していればS316に進み、S316においてモータ4を停止(リレー16をオフ)させる。サンルーフ2の反転が所定量に達していなければS303に戻る。
よって、サンルーフ2の反転後、D11(全開)となるか、モータロックとなるか、所定量反転し終わったときに、サンルーフ2は停止する。そして、モータ4の停止(両リレー15,16オフ)後も、T2時間経過するまでの間は、位置検出処理が継続される。従って、モータ停止後の惰性回転も正しく位置に計数される。
次にホールICにエッジが発生したときのエッジ処理(図6におけるS209〜S212、図8におけるS307〜S310)を説明する。図9〜図12のフローチャートは類似しているため、ここでは図9のホールIC11に立ち上がりエッジが発生した場合の処理について説明する。なお、図9〜図12はサンルーフ2が閉方向(モータ逆転方向)に移動するとき(リレー15オン時)に使用されるもので、図6のS209〜S212の処理内容となっている。
まずS401では、起動後、1つ目のエッジであるか否かを判断する。1つ目のエッジであればエッジ間隔が測定できないため、S403に進む。1つ目のエッジでなければS402に進み、S402においてエッジ間隔がT3時間以下かどうかを判断する。時間T3は、サンルーフ2の正常作動時にモータ4が考えられる最高速度で回転したときに得られる周期以下の値に設定されている。T3時間以下であれば、今回のエッジはノイズによるものとみなして破棄し、処理を終了する。T3時間以下でなければS403に進む。
S403では、前回のホールICの信号がLレベルか否かを判断する。Lレベルであれば、図4に示すホールICの出力パルスパターンから正常なエッジであることが分かるので、S404に進む。Hレベルであれば通常あり得ないパターン(例えばS402でノイズ判定されてエッジ破棄され、ノイズの戻り側のエッジを検出した場合)であるので、このエッジを破棄し、処理を終了する。つまり、反転モードに切り替わらない(リレー15がオンのままである)にも拘わらず、反転を検出したら(ホールIC11のパルス信号の立ち上がりエッジ検出時にホールIC12のパルス信号がHレベルとなったら)、反転と判定する原因となった信号(エッジ)をノイズと判定して位置カウンタ32には計数しない。
S404では、有効なエッジとして確定しているので、モータロック検出用のタイマ33を再スタートさせる。次のS405では、ホールIC12の信号がLレベルか否かを判断する。Lレベルであれば、図4に示すホールICの出力パルスパターンから閉方向であるのでS406に進み、S406において位置カウンタ32を「−1」(デクリメント)する。Hレベルであれば開方向であるのでS407に進み、S407において位置カウンタ32を「+1」(インクリメント)する。図10〜図12の各エッジ処理についても、判定対象となるホールICや信号レベルが異なるだけで基本的な処理は同じである。なお、図8におけるS307〜S310では、エッジ処理中のサンルーフの移動が開方向なので、図9〜図12におけるS403,S503,S603,S703において判定対象となるパルス信号の信号レベルのH/Lが逆となるだけである。
このようにモータ4の通電方向だけでなくホールIC11,12の出力信号パターンからサンルーフ2の作動方向を判別し、またモータ4の通電停止後も位置カウンタ32の計数を一定時間継続する。これによりサンルーフ2の停止時や反転時に惰性で動いているときでも、ルーフ位置のカウントを正確に行うことができる。さらにホールIC11,12の出力信号に重畳されるノイズも除去できるため、絶対的な位置検出スイッチなしでも位置ずれのない制御が可能となる。
以上詳述したように本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。
(1)一対のホールIC11,12から入力した位相の異なる2つのパルス信号を基にサンルーフ2の開閉方向を判定すると共にサンルーフ2の位置を計数する。両リレー15,16がオフされてモータ4が停止モードに入っても、その後、タイマ34がT2時間計時するまでの間はルーフ位置の計数処理を継続するので、モータ4の惰性回転も位置として計数することができる。このため、サンルーフ2の位置を正確に検出できる。従って、サンルーフ2を一層正確に位置制御することができる。
(2)サンルーフ2の移動中にリレー15,16のオンとオフを逆に切替えて反転モードに切り替わっても(S301,S302)、2つのパルス信号の比較を基にサンルーフ2の反転が検出されなければ(S405等)、そのまま反転前の順方向での位置検出を継続する。そして、サンルーフ2の反転が検出されてからその逆方向(反転方向)での位置検出を開始する。このため、サンルーフ2の位置を正確に検出できる。
(3)サンルーフ2を反転させる反転モードに切り替わらないにも拘わらず、2つのパルス信号の比較を基にサンルーフ2の反転を検出したら、反転を検出(判定)する原因となった信号(エッジ)をノイズとして処理する。このため、位置カウンタ32がノイズを計数してしまうミスを回避でき、サンルーフ2の位置を正確に検出できる。
(4)タイマ33の計時時間から演算したパルス周期が所定周期より小さく起こり得ない値をとれば、その周期を決めた信号(エッジ)をノイズとして処理する。位置カウンタ32がノイズを計数してしまうミスを回避できるので、サンルーフ2の位置を正確に検出できる。従って、サンルーフ2を一層正確に位置制御することができる。
(5)上記(1)〜(4)の効果によりサンルーフ2の位置を正確に検出できるので、位置補正用センサ(位置検出スイッチ)の併用を廃止することができる。よって、センサ部品の低減に伴うサンルーフ開閉制御装置の構造簡素化やコンパクト化、さらにマイコン13の位置検出処理内容の簡素化を図ることができる。
(6)パルス信号を基にサンルーフ2の挟み込み検出をする。つまり、タイマ33の計時時間から演算した周期がしきい値を超えたら挟み込みと判定する。従って、一対のホールIC11,12を位置検出用と挟み込み検出用の両方に併用できるので、挟み込み検出専用のセンサを別途設ける必要がない。つまり、挟み込み防止機能を備えてもホールIC11,12のみで対応できる。
(7)挟み込み検出処理において、パルス信号の周期を見るための次の信号(エッジ)が設定時間T1を超えても入力されないときは、挟み込みと判定する。よって、完全にモータロックしてパルス信号の周期を求められなくても、挟み込みを確実に検出できる。
(8)タイマ33を、挟み込み検出のためのパルス周期を求めるための計時と、前記(4)で述べたノイズ処理のための計時に併用しているので、タイマに使用するカウンタ数が少なく済み、しかもCPU30によるカウンタ処理に手間がかからない。
なお、実施形態は、上記の構成に限定はされず次の態様でも実施できる。
・ ノイズ処理を無くしてもよい。惰性回転の区間も継続して位置の計数をしたり、反転モードになってもモータの反転が実際に確認されてから位置の計数方向を逆転させる位置検出処理を採用するだけでも、サンルーフ2の位置を十分正確に検出できる。
・ 覆材がサンルーフである開閉制御装置に適用したが、覆材がパワーウィンドウである開閉制御装置に適用してもよい。この場合、パワーウィンドウの位置を一対の回転数センサのみでも正確に検出でき、例えば位置補正用センサを廃止できる。もちろん、位置補正用センサを併設し、位置精度を一層正確なものとすることはできる。
・ 挟み込み防止機能を採用しない覆材の開閉制御装置に適用することができる。この場合でも、サンルーフ等の覆材の位置を正確に検出できる。
・ 前記実施形態では、2個のホールIC11,12を使用したが、3個以上使用してもよい。2個の回転数センサを少なくとも備える構成であれば足りる。
・ 前記実施形態では、操作スイッチ23を押している間だけサンルーフ2が作動するが、一度スイッチを押してから離しても自動的に作動を継続するようにしてもよい。
・ 回転数センサはホールICに限定されない。例えばリミットスイッチや近接センサ、フォトカプラなどであってもよい。要するにモータの回転に応じたパルス信号を生成できるセンサであれば足りる。この際、センサは出力がアナログ信号であるものでもよく、CPUに入力する前段でセンサの出力信号をA/D変換器を通してパルス信号(デジタル信号)に変換する構成でもよい。
・ 自動車の採用に限定されない。各種乗り物や建物の窓など開口を開閉するための覆材の開閉制御装置に広く適用することができる。
前記実施形態から把握される請求項以外の技術的思想を以下に記載する。
(1) 請求項において、前記覆材は自動車のルーフに形成された開口を開閉するものであって、前記覆材は開口を開閉する際に該覆材が押すことになる負荷物(ウィンドデフレクタ6)が設けられ、前記挟み込み検出の判定に使用する挟み込みしきい値は、前記覆材が負荷物を押す区間で高くなるよう複数段階に設定されている。この構成によれば、負荷物を押す区間とそうでない区間とを区別してそれぞれ正確に挟み込み検出をすることができる。
(2)請求項において、前記挟込検出手段は、前記パルス信号の周期を見るための次の信号(エッジ)が設定時間を超えても入力されないときは、挟み込みと判定する。この場合、完全にモータロックしてパルス信号の周期を求められなくても、挟み込みを確実に検出できる。
2…覆材としてのサンルーフ、4…電動モータ、11,12…回転数センサとしてのホールIC、13…位置検出手段及び挟込検出手段としてのマイクロコンピュータ、30…位置検出手段を構成するCPU、32…位置検出手段を構成する位置カウンタ、33…位置検出手段を構成するとともに計時手段としてのタイマ、34…位置検出手段を構成するタイマ。

Claims (2)

  1. 開口を開閉するための覆材を駆動する電動モータと、
    前記電動モータの回転数に比例する位相の異なる周波数のパルス信号を生成する少なくとも一対の回転数センサと、
    該一対の回転数センサからのパルス信号を基に前記覆材の移動方向を判定すると共に前記覆材の位置を検出する位置検出手段とを備え、
    前記位置検出手段は、前記覆材を反転させる前記電動モータへの反転指示が出されていないにも拘わらず、前記覆材の反転を検出したら反転検出に用いた前記パルス信号をノイズとして処理する開口覆材の開閉制御装置。
  2. 前記パルス信号を基に前記覆材の挟み込みを検出する挟込検出手段を備えている請求項1に記載の開口覆材の開閉制御装置。
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