JP4574560B2 - チップ部品の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、リードフレーム上にチップ部材及び接続子を設けられてなるダイオードコネクタ等のチップ部品の製造方法に関し、詳しくはチップ部材のはんだ接続に鉛フリーはんだを使用し、高い環境性能とチップ部材の接続信頼性とを両立させるためのチップ部品の製造方法に関する。
従来からダイオードチップ等のチップ部材の接続構造は知られている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。図5は、特許文献1で開示されているダイオードチップの接続構造を示す分解斜視図である。
図5に示されるように、ダイオード内蔵コネクタ100は、端子金具101,102間に接続用導体片104を介してダイオードチップ103を接続してなる。ダイオード内蔵コネクタ100において、接続用導体片104は、ダイオードチップ103を半田付けされる接合部104aに複数の貫通孔105を穿設されており、各貫通孔105はそれぞれ、ダイオードチップ103及び接続用導体片104の半田付けに伴う余剰の半田を吸収し、半田のはみ出しを防止している。
図6は、特許文献2で開示されているダイオードの半田付け構造を示す分解斜視図であり、図7(a)及び(b)はそれぞれ、図6のダイオードの半田付け構造の金属板の半田付け面に形成される細溝の形状例を示す平面図である。
図6及び図7に示されるように、ダイオードの半田付け構造において、金属板110には、ダイオードチップ111を半田付けされる半田付け面110aが設けられており、半田付け面110aには、多数の細溝112が、格子状(図7(a))又は放射状(図7(b))に形成されている。細溝112は、半田付け面110aの余剰半田を毛細管現象により吸収する。
上述したようなダイオードチップの接続構造又はダイオードの半田付け構造では、図8に示すように、予備はんだ120b(高温はんだ)が施された(焼成1回目)ダイオードチップ120が、はんだペースト121を印刷されたリードフレーム122上に搭載され、はんだ焼成(焼成2回目)される。その後、ダイオードチップ120は、上面にフラックス123を印刷され、フラックス123上に接続子124を搭載された状態で、更にはんだ焼成(3回目)される。
特開平9―106860号公報(第2頁、第1図) 特開平9―27675号公報(第2〜3頁、第1図)
上述した従来のダイオードチップ120の接続構造では、はんだ焼成が、予備はんだの焼成を含めて3回行われるが、鉛リッチのはんだを使用して、ダイオードチップ120をはんだ接続する限り、ダイオードチップ120におけるシリコン層120cの上下面に施されたNiメッキ層120a(図9参照)の浸食は少なく、性能劣化が生じない。
しかし、高い環境性能を備えた鉛フリーはんだを使用して、ダイオードチップ120をはんだ接続する場合には、鉛フリーはんだによるダイオードチップ120のNiメッキ層120aの浸食が進んで性能劣化を生じてしまい、ダイオードチップ120の接続信頼性を低下させるという問題があった。
また、鉛フリーはんだの融点は低いため、従来の構成(接続子124の大きさ)では、過電流印加でのダイオードの自己発熱により鉛フリーはんだが溶融してしまう。したがって、例えば図10に示すように、大型化した接続子125により熱容量を増大させる必要がある。しかし、接続子125の大型化により、接続子125組付の際の傾きやズレを生じてしまい、生産性低下を招くとともに、接続子125の傾きやズレにより、接続不良やはんだが押し出されるため、はんだ垂れ等が起こり、性能低下、製造不具合を生じるという問題があった。
更に、ダイオードチップ120は、はんだペースト121aを印刷されたリードフレーム122上に搭載され、はんだ焼成(焼成2回目)されるが、はんだペースト121bにおいて焼成されたはんだは、表面張力により丸みを帯びた形状となって接続子124,125を搭載した際の安定感に欠ける。このため、焼成されたはんだ120b,121bの上面に印刷されるフラックス123の粘度では、フラックス123上に搭載される接続子124(図8)又は接続子125(図10)を位置決めすることが困難であった。
本発明は、はんだ焼成回数を1回とすることができ、これにより鉛フリーはんだを使用して高い環境性能を確保しつつ、チップ部品の接続信頼性を確保することができるとともに、製造工程短縮及び生産性向上によるコスト低減を図ることができるチップ部品の製造方法を提供することを目的としている。
1)本発明のチップ部品の製造方法は、一対のリードフレームと、一方のリードフレーム上に設けたチップ部材と、該チップ部材を他方のリードフレームに接続する接続子とを備えたチップ部品の製造方法であって、前記リードフレーム対の複数をリードフレーム用治具にセットするとともに、前記接続子の複数を接続子用治具に裏返し状態でセットし、前記リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具上に並列にセットして、前記リードフレーム及び接続子上に、はんだペースト印刷を同時に施すはんだペースト印刷工程と、前記リードフレーム上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、前記接続子用治具を前記リードフレーム用治具上に被せるように反転させて、前記チップ部材を前記リードフレーム前記接続子との間の所定位置挟み込むチップ挟み込み工程と、前記チップ部材を挟み込んだ状態の前記リードフレーム及び接続子を前記リードフレーム用治具及び接続子用治具から取り外して焼成し、前記チップ部材をはんだ付けする焼成工程と、を備えることを特徴とする。
前記チップ部品の製造方法では、チップ部材は、はんだペーストを印刷されたリードフレーム及び接続子間の所定の位置に挟み込まれた状態で、1回の焼成によりはんだ付けされる。したがって、鉛フリーはんだを使用する鉛フリー製品として、高い環境性能を確保することができるものでありながら、チップ部材をはんだ接続する際、鉛フリーはんだによるチップ部材のNiメッキ層の浸食等が抑制され、性能劣化が防止される。また、柔らかく、粘性のあるはんだペーストを介してリードフレーム、チップ、接続子が重ねられた状態で焼成されるので、接続子のズレ、傾きが防止できる。これにより、チップ部材の接続信頼性を確保することができるとともに、製造工程の大幅な短縮によるコスト低減を図ることができる。また、複数の接続子を一括してリードフレーム上の所定位置に重ねることができ、リードフレームと接続子を正確に位置決めできる。
2)本発明のチップ部品の製造方法は、一対のリードフレームと、一方のリードフレーム上に設けたチップ部材と、該チップ部材を他方のリードフレームに接続する接続子とを備えたチップ部品の製造方法であって、前記リードフレーム対の複数をリードフレーム用治具にセットするとともに、前記接続子の複数を接続子用治具に裏返し状態でセットし、前記リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具上に並列にセットして、前記リードフレーム及び接続子上に、はんだペースト印刷を同時に施すはんだペースト印刷工程と、前記リードフレーム上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、前記リードフレーム用治具を前記接続子用治具上に被せるように反転させて、前記チップ部材を前記リードフレームと前記接続子との間の所定位置に挟み込むチップ挟み込み工程と、前記チップ部材を挟み込んだ状態の前記リードフレーム及び接続子を前記リードフレーム用治具及び接続子用治具から取り外して焼成し、前記チップ部材をはんだ付けする焼成工程と、を備えることを特徴とする。
前記チップ部品の製造方法では、チップ挟み込み工程において、リードフレーム用治具を接続子用治具上に被せるように反転させている点で前記1)に記載のチップ部品の製造方法と相違している。この製造方法では、複数のリードフレームを一括して接続子上の所定位置に重ねることができ、リードフレームと接続子を正確に位置決めできるとともに、リードフレームを反転させることにより接続子のエア吸引等が不要となるチップ部品の製造方法が得られる。
3)本発明のチップ部品の製造方法は、一対のリードフレームと、一方のリードフレーム上に設けたチップ部材と、該チップ部材を他方のリードフレームに接続する接続子とを備えたチップ部品の製造方法であって、前記リードフレーム対の複数をリードフレーム用治具にセットするとともに、前記接続子の複数を接続子用治具に裏返し状態でセットし、前記リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具上に並列にセットして、前記リードフレーム及び接続子上に、はんだペースト印刷を同時に施すはんだペースト印刷工程と、前記接続子上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、前記リードフレーム用治具を前記接続子用治具上に被せるように反転させて、前記チップ部材を前記リードフレームと前記接続子との間の所定位置に挟み込むチップ挟み込み工程と、前記チップ部材を挟み込んだ状態の前記リードフレーム及び接続子を前記リードフレーム用治具及び接続子用治具から取り外して焼成し、前記チップ部材をはんだ付けする焼成工程と、を備えることを特徴とする。
前記チップ部品の製造方法では、チップ挟み込み工程において、接続子上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、リードフレーム用治具を接続子用治具上に被せるように反転させている点で前記1)に記載のチップ部品の製造方法と相違している。この製造方法では、複数のリードフレームを一括して接続子上の所定位置に重ねることができ、リードフレームと接続子を正確に位置決めできるとともに、リードフレームを反転させることにより接続子のエア吸引等が不要となるチップ部品の製造方法が得られる。
4)本発明のチップ部品の製造方法は、前記)に記載のチップ部品の製造方法において、接続子がセットされた接続子用治具を、リードフレームがセットされたリードフレーム用治具に被せるように反転させる際接続子用治具に設けられたエア吸引孔を介して、吸引エアを接続子に作用させることを特徴とする。
前記チップ部品の製造方法では、反転中の接続子用治具からの接続子の脱落を確実に防止することができるチップ部品の製造方法が得られる。
本発明のチップ部品の製造方法によれば、はんだ焼成回数を1回とすることができ、これにより鉛フリーはんだを使用して高い環境性能を確保しつつ、鉛フリーはんだによるチップ部材のNiメッキ層の浸食等を抑制することができ、チップ部材の接続信頼性を確保することができるとともに、製造工程短縮及び生産性向上によるコスト低減を図ることができる。
以下、図示実施形態により、本発明を説明する。
図1〜図4はそれぞれ、本発明の一実施形態であるチップ部品の製造方法を示す斜視図であり、図1は、リードフレーム及び接続子をリードフレーム用治具及び接続子用治具にセットする前の状態を、図2は、図1に示す状態から、リードフレーム及び接続子をリードフレーム用治具及び接続子用治具にそれぞれセットした状態を、図3は、図2に示す状態から、接続子用治具をリードフレーム用治具に対して反転させた状態を、図4は、図3に示す状態から、リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具にセットした状態をそれぞれ示す。
図1〜図4を参照すると、ダイオードコネクタ等のチップ部品の製造方法は、リードフレーム10及び接続子11を位置決めする位置決め工程(図1)と、リードフレーム10及び接続子11上にはんだペースト(図示しない)を印刷するはんだペースト印刷工程(図2)と、リードフレーム10上にチップ部材であるダイオードチップ(図示しない)を搭載するチップ搭載工程(図2)と、リードフレーム10及び接続子11間にダイオードチップを挟み込むチップ挟み込み工程(図3、図4)と、はんだ焼成する焼成工程とを備える。これらの各工程により、ダイオードチップを、はんだペーストを印刷されたリードフレーム10及び接続子11間の所定の位置に挟み込んだ状態で、1回の焼成によりはんだ付けする。
すなわち、図1を参照すると、位置決め工程では、リードフレーム10をリードフレーム用治具L上にセットするとともに、接続子11を接続子用治具B上に裏返し状態(天地逆の状態、図1及び図2に示す状態)でセットし、更にリードフレーム用治具L及び接続子用治具Bを、第1の位置決め用治具M1上に並列にセットして位置決めする。この際、第1の位置決め用治具M1上により、図2中に符号12で示す3箇所がマスキングされる。
図2を参照すると、はんだペースト印刷工程では、位置決め工程で位置決めされたリードフレーム10及び接続子11上に、はんだペースト印刷を同時に施す。
チップ搭載工程では、はんだペースト印刷工程でリードフレーム10上に印刷されたはんだペースト上に、予備はんだ無しのダイオードチップを搭載し、リードフレーム10上のはんだペーストを、ダイオードチップ下面の接続はんだとする。ダイオードチップの表面には、Niメッキ層上に酸化防止のためのAuメッキ層が施されており、予備はんだは施されない。
図3及び図4を参照すると、チップ挟み込み工程では、接続子11(図2)がセットされた接続子用治具Bを、リードフレーム10がセットされたリードフレーム用治具Lに被せるように反転させて(図3に示す状態)、接続子11の天地を正常に戻すとともに、リードフレーム用治具L及び接続子用治具Bを上下に重ねた状態で、第2の位置決め用治具M2にセットする(図4に示す状態)。これにより、接続子用治具Bをリードフレーム用治具Lに対して位置決めし、ダイオードチップをリードフレーム10及び接続子11間の所定の位置に挟み込んだ状態とする。
この際、接続子11上に印刷されたはんだペーストは、ダイオードチップ上面の接続はんだとされる。はんだペーストは、焼成前で柔らかく、潰れを生じ易く、多少の粘着力もあるため、接続子11を安定して組み付けられる。また、接続子用治具Bを反転させて接続子11の天地を正常に戻す際には、接続子用治具Bに設けられたエア吸引孔13を介して、吸引エアが接続子11に作用される。これにより、反転中の接続子用治具Bからの接続子11の脱落が防止される。
図示しない焼成工程では、ダイオードチップを挟み込んだ状態のリードフレーム10及び接続子11から、接続子用治具B、リードフレーム用治具L、及び第2の位置決め用治具M2をそれぞれ取り外す。その後、ダイオードチップを挟み込んだ状態のリードフレーム10及び接続子11を、焼成炉で焼成する。これにより、1回の焼成でダイオードチップのはんだ付けが可能となる。そして、最後にリードフレーム10の連結部分をカットすることでチップ部品の製造が完了する。
以上のように上記実施形態によれば、チップ部材であるダイオードチップは、はんだペーストを印刷されたリードフレーム10及び接続子11間の所定の位置に挟み込まれた状態で、1回の焼成によりはんだ付けされる。
したがって、鉛フリーはんだを使用する鉛フリー製品として、高い環境性能を確保することができるものでありながら、鉛フリーはんだを使用してダイオードチップをはんだ接続する際、鉛フリーはんだによるダイオードチップのNiメッキ層の浸食を抑制することができる。これにより、性能劣化を防止することができ、ダイオードチップの接続信頼性を確保することができる。また、製造工程を大幅に短縮させることができ、コスト低減を図ることができる。
加えて、ダイオードチップをリードフレーム10及び接続子11間にはんだペーストで挟み込む構造により、組付に伴う接続子11のズレや傾きを抑制することができ、接続子11の姿勢を安定させることができるとともに、はんだ垂れ等の発生を抑制させることができる。これにより、良好な生産性を確保することができる。
なお、本発明のチップ部品の製造方法は、上記実施形態に限定されるものではなく、リードフレーム用治具Lを接続子用治具B上に被せるように反転させて、チップ部材をリードフレーム10及び接続子11間の所定の位置に挟み込むようにしても良い。この方法でも複数の接続子11を一括してリードフレーム10上の所定位置に重ねることができ、リードフレーム10と接続子11を正確に位置決めできる。
また、接続子11上に印刷されたはんだペースト上に、チップ部材を搭載し、リードフレーム10を接続子11上に被せるように反転させて、チップ部材をリードフレーム10及び接続子11間の所定の位置に挟み込むようにしても良い。この方法によれば、リードフレーム10を一括して複数の接続子11上の所定位置に重ねることができ、接続子11とリードフレーム10を正確に位置決めできるとともに、リードフレーム10を反転させることにより接続子11のエア吸引等が不要となる。
本発明により得られるチップ部品の製造方法は、鉛フリーはんだを使用する高い環境性能と、ダイオードチップの接続信頼性の確保の両立を要求される場合に好適に用いられる。
本発明の一実施形態であるチップ部品の製造方法を示す斜視図であり、リードフレーム及び接続子をリードフレーム用治具及び接続子用治具にセットする前の状態を示す。 本発明の一実施形態であるチップ部品の製造方法を示す斜視図であり、リードフレーム及び接続子をリードフレーム用治具及び接続子用治具にそれぞれセットした状態を示す。 本発明の一実施形態であるチップ部品の製造方法を示す斜視図であり、接続子用治具をリードフレーム用治具に対して反転させた状態を示す。 本発明の一実施形態であるチップ部品の製造方法を示す斜視図であり、リードフレーム用治具及び接続子用治具を第2の位置決め用治具にセットした状態を示す。 特許文献1で開示されているダイオードチップの接続構造を示す分解斜視図である。 特許文献2で開示されているダイオードの半田付け構造を示す分解斜視図である。 図6のダイオードの半田付け構造の金属板の半田付け面に形成される細溝の形状例を示す平面図である。 従来のダイオードチップの接続構造を示す分解斜視図である。 図8のダイオードチップの接続構造のダイオードチップの構成を示す断面図である。 従来のダイオードチップの接続構造の接続子を大きくした例を示す分解斜視図である。
符号の説明
10 リードフレーム
11 接続子
13 エア吸引孔
L リードフレーム用治具
B 接続子用治具
M1 第1の位置決め用治具
M2 第2の位置決め用治具

Claims (4)

  1. 一対のリードフレームと、一方のリードフレーム上に設けたチップ部材と、該チップ部材を他方のリードフレームに接続する接続子とを備えたチップ部品の製造方法であって、
    前記リードフレーム対の複数をリードフレーム用治具にセットするとともに、前記接続子の複数を接続子用治具に裏返し状態でセットし、前記リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具上に並列にセットして、前記リードフレーム及び接続子上に、はんだペースト印刷を同時に施すはんだペースト印刷工程と、
    前記リードフレーム上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、前記接続子用治具を前記リードフレーム用治具上に被せるように反転させて、前記チップ部材を前記リードフレーム前記接続子との間の所定位置挟み込むチップ挟み込み工程と、
    前記チップ部材を挟み込んだ状態の前記リードフレーム及び接続子を前記リードフレーム用治具及び接続子用治具から取り外して焼成し、前記チップ部材をはんだ付けする焼成工程と、
    を備えることを特徴とするチップ部品の製造方法。
  2. 一対のリードフレームと、一方のリードフレーム上に設けたチップ部材と、該チップ部材を他方のリードフレームに接続する接続子とを備えたチップ部品の製造方法であって、
    前記リードフレーム対の複数をリードフレーム用治具にセットするとともに、前記接続子の複数を接続子用治具に裏返し状態でセットし、前記リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具上に並列にセットして、前記リードフレーム及び接続子上に、はんだペースト印刷を同時に施すはんだペースト印刷工程と、
    前記リードフレーム上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、前記リードフレーム用治具を前記接続子用治具上に被せるように反転させて、前記チップ部材を前記リードフレームと前記接続子との間の所定位置に挟み込むチップ挟み込み工程と、
    前記チップ部材を挟み込んだ状態の前記リードフレーム及び接続子を前記リードフレーム用治具及び接続子用治具から取り外して焼成し、前記チップ部材をはんだ付けする焼成工程と、
    を備えることを特徴とするチップ部品の製造方法。
  3. 一対のリードフレームと、一方のリードフレーム上に設けたチップ部材と、該チップ部材を他方のリードフレームに接続する接続子とを備えたチップ部品の製造方法であって、
    前記リードフレーム対の複数をリードフレーム用治具にセットするとともに、前記接続子の複数を接続子用治具に裏返し状態でセットし、前記リードフレーム用治具及び接続子用治具を位置決め用治具上に並列にセットして、前記リードフレーム及び接続子上に、はんだペースト印刷を同時に施すはんだペースト印刷工程と、
    前記接続子上に印刷されたはんだペースト上にチップ部材を搭載し、前記リードフレーム用治具を前記接続子用治具上に被せるように反転させて、前記チップ部材を前記リードフレームと前記接続子との間の所定位置に挟み込むチップ挟み込み工程と、
    前記チップ部材を挟み込んだ状態の前記リードフレーム及び接続子を前記リードフレーム用治具及び接続子用治具から取り外して焼成し、前記チップ部材をはんだ付けする焼成工程と、
    を備えることを特徴とするチップ部品の製造方法。
  4. 前記接続子がセットされた前記接続子用治具を、前記リードフレームがセットされた前記リードフレーム用治具に被せるように反転させる際前記接続子用治具に設けられたエア吸引孔を介して、吸引エアを前記接続子に作用させることを特徴とする請求項記載のチップ部品の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5167105B2 (ja) * 2008-01-10 2013-03-21 矢崎総業株式会社 ダイオードコネクタ、その設計装置、及び、その設計方法
JP5445368B2 (ja) * 2010-07-13 2014-03-19 サンケン電気株式会社 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法
CN101969054B (zh) * 2010-08-20 2012-01-18 常州银河电器有限公司 一种半导体芯片的制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6288351A (ja) * 1985-10-14 1987-04-22 Toyota Motor Corp 厚膜icへの半田付け方法
JPH09219479A (ja) * 1995-12-06 1997-08-19 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置およびその製造治具
JPH09321199A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Rohm Co Ltd 電子部品およびその製法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6288351A (ja) * 1985-10-14 1987-04-22 Toyota Motor Corp 厚膜icへの半田付け方法
JPH09219479A (ja) * 1995-12-06 1997-08-19 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置およびその製造治具
JPH09321199A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Rohm Co Ltd 電子部品およびその製法

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