JP4564951B2 - 最適記録パワーを求める光ディスク装置ならびにその方法 - Google Patents

Description

この発明は、光記録媒体に対して書き込みをする際の最適記録パワーを決定する方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置に関する。

ＤＶＤレコーダ等の光ディスク装置では、通常データを書き込む際に記録用レーザパワーを最適化するために、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）を実行する。ＯＰＣにおいては、光ディスクのテスト領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ）に複数の記録パワーでテストデータを記録し、該テストデータを再生した際に得られるアシンメトリ値、変調度、或いはデコーダからのジッタ等を用いて、再生信号品質を記録パワー毎に評価し、最適記録パワーを決定する。例えば、再生信号品質の評価パラメータとしてアシンメトリを用いた場合は、目標アシンメトリ値を設定し、取得されたアシンメトリ値のうち目標アシンメトリ値に最も近い値となる記録パワーを最適記録パワーに設定する。

さらに、特許文献１においては以下のような最適記録パワーを設定する光ディスク装置についての発明が開示されている。まず、ＯＰＣにより最適な記録パワーを設定し、それに基づき記録管理領域（ＲＭＡ：Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）に記録管理データ（ＲＭＤ：Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ｄａｔａ）を記録する。そして、ＲＭＤを再生した際のエラー数が所定値を超える場合には、記録パワーを調整してＲＭＤを記録しなおし、エラー数が所定値未満となった場合にはその記録パワーで以降のデータ記録を行う。
特開２００４−２０６８０３号公報

特許文献１の主張するところは、（１）一度ＯＰＣを実行して記録パワーを決定した後、（２）管理データをそのパワーで記録する。（３）記録した管理データを読取り評価（ベリファイ）する。（４）記録した管理データが読み出せない場合には、ＯＰＣをやり直して記録パワーを再設定する。（５）記録した管理データが読み出せるものの、エラー数が所定数より多い場合にはＯＰＣストラテジを変更し、記録パワーを改めて決定し管理データを記録し直す。以上の処理により、ＯＰＣのやり直しを不必要に増やさず（時間短縮並びにＯＰＣ用の領域消耗を抑制）、最適記録パワーを求めることができるとしている。ところが(１)でＯＰＣを実行し決定した記録パワーが全く不適切であった場合には、（２）で記録した管理データを読み出せない可能性が高くなる。記録した管理データが読み出せない場合には（４）でＯＰＣをやり直して記録パワーを再設定する（段落番号：００２７）が、テストする記録パワーを変えずにＯＰＣを全くそのままやり直したのでは管理データが読み出せないような記録を再度行ってしまう確率が高い。従来技術ではＯＰＣのやり直しを、どのように改善して実行すべきかの解決がなされていない。

また特許文献１の手法では、（１）のＯＰＣで妥当な値が決定されない場合、管理データ領域には再生不能の管理データが書き込まれることになる。管理データ領域はそのディスク全体の記録再生に関与する重要な情報を記録する領域であるから、不必要に再生不能のデータを書き散らすことは好ましくない。特に不適切な記録パワーで殆ど記録が出来ていない様な管理データ、あるいは逆に記録し過ぎのため殆ど潰れたような管理データを書いてしまうと、その部位を光ピックアップが通過した場合に同期クロックを生成するＰＬＬ回路の動作が乱され、それ以降の管理データ情報の記録や再生に悪影響を与えかねない。その点からも記録パワーの調整は出来るだけＰＣＡ（テスト領域）で行い、管理データ領域には少なくともそれなりに再生可能なデータを記録するべきであるが、文献の手法ではこれが守られない可能性がある。

そこで、本発明においては、以下の最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を提案する。第一の発明は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する方法であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録ステップと、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワー相関式を取得する式取得ステップと、取得した相関式に基づいて第一最適記録パワーを計算する第一計算ステップと、計算された第一最適記録パワーが第一パワーレンジ外であるか判断する第一判断ステップと、判断結果が第一パワーレンジ外であるとの判断結果である場合には第一追加テスト記録を実行する第一追加テスト記録ステップと、を有する最適記録パワー決定方法である。第二の発明は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する方法であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録ステップと、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する係数取得ステップと、取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する第二判断ステップと、判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する第二追加テスト記録ステップと、を有する最適記録パワー決定方法である。第三の発明は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する方法であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録ステップと、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報である変化情報を取得する変化情報取得ステップと、取得した変化情報が異常として定められた所定の条件に合致するか判断する第三判断ステップと、判断結果が合致するとの判断結果である場合に第三追加テスト記録を実行する第三追加テスト記録ステップと、を有する最適記録パワー決定方法である。第四の発明は、第一追加テスト記録ステップは、第一パワーレンジと重複せず隣接するパワーレンジでかつ第一最適記録パワーを含む側にパワーレンジをシフトしてテスト記録を実行するパワーレンジ全体シフト実行ステップを有する第一の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第五の発明は、第一追加テスト記録ステップは、第一パワーレンジとレンジ幅を同一にして第一最適記録パワーを含む側に第一パワーレンジ幅の１／４から３／４の範囲の定められた値分第一パワーレンジよりシフトしたレンジにてテスト記録を実行するパワーレンジ部分シフト実行ステップを有する第一の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第六の発明は、第一追加テスト記録ステップは、第一最適記録パワーをパワーレンジの中心としてテスト記録を実行する中心実行ステップを有する第一の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第七の発明は、第二追加テスト記録ステップは、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する大小関係算出ステップと、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第一小さめ設定ステップと、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第一大きめ設定ステップと、を有する第二の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第八の発明は第二追加テスト記録ステップは、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する多少関係算出ステップと、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第二小さめ設定ステップと、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第二大きめ設定ステップと、を有する第二の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第九の発明は、第三追加テスト記録ステップは、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する大小関係算出ステップと、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第三小さめ設定ステップと、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第三大きめ設定ステップと、を有する第三の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第十の発明は、第三追加テスト記録ステップは、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する多少関係算出ステップと、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第四小さめ設定ステップと、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第四大きめ設定ステップと、を有する第三の発明に記載の最適記録パワー決定方法である。第十一の発明は、第一追加テスト記録に基づいて得られた第二最適記録パワーが追加テストを実行すべき条件に合致する場合には同様に追加テスト記録を所定回数に至るまで繰り返す第一、四、五、六の発明のいずれか一に記載の最適記録パワー決定方法である。第十二の発明は、最終的に得る最適記録パワーはその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあることを条件として最終的な最適記録パワーであると判断する最終判断ステップを有する第一、四、五、六の発明のいずれか一に記載の最適記録パワー決定方法である。第十三の発明は、第一から十二の発明のいずれか一に記載の最適記録パワー決定方法を実書込ごとに事前に実行する光記録媒体に対する実書込方法である。第十四の発明は、第一から第十二の発明のいずれか一に記載の最適記録パワー決定方法であって、テスト記録ステップは全て光記録媒体に予め定められているテスト領域にてテスト記録を実行する最適記録パワー決定方法である。

第十五の発明は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録部と、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワー相関式を取得する式取得部と、取得した相関式に基づいて第一最適記録パワーを計算する第一計算部と、計算された第一最適記録パワーが第一パワーレンジ外であるか判断する第一判断部と、判断結果が第一パワーレンジ外であるとの判断結果である場合には第一追加テスト記録を実行する第一追加テスト記録部と、を有する光ディスク装置である。第十六の発明は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録部と、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する係数取得部と、取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する第二判断部と、判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する第二追加テスト記録部と、を有する光ディスク装置である。第十七の発明は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録部と、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報である変化情報を取得する変化情報取得部と、取得した変化情報が異常として定められた所定の条件に合致するか判断する第三判断部と、判断結果が合致するとの判断結果である場合に第三追加テスト記録を実行する第三追加テスト記録部と、を有する光ディスク装置である。第十八の発明は、第一追加テスト記録部は、第一パワーレンジと重複せず隣接するパワーレンジでかつ第一最適記録パワーを含む側にパワーレンジをシフトしてテスト記録を実行するパワーレンジ全体シフト実行部を有する第十五の発明に記載の光ディスク装置である。第十九の発明は、第一追加テスト記録部は、第一パワーレンジとレンジ幅を同一にして第一最適記録パワーを含む側に第一パワーレンジ幅の１／４から３／４の範囲の定められた値分第一パワーレンジよりシフトしたレンジにてテスト記録を実行するパワーレンジ部分シフト実行部を有する第十五の発明に記載の光ディスク装置である。第二〇の発明は、第一追加テスト記録部は、第一最適記録パワーをパワーレンジの中心としてテスト記録を実行する中心実行部を有する第十五の発明に記載の光ディスク装置である。第二一の発明は、第二追加テスト記録部は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する大小関係算出部と、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第一小さめ設定部と、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第一大きめ設定部と、を有する第十六の発明に記載の光ディスク装置である。第二二の発明は、第二追加テスト記録部は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する多少関係算出部と、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第二小さめ設定部と、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第二大きめ設定部と、を有する第十六の発明に記載の光ディスク装置である。第二三の発明は、第三追加テスト記録部は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する大小関係算出部と、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第三小さめ設定部と、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第三大きめ設定部と、を有する第十七の発明に記載の光ディスク装置である。第二四の発明は、第三追加テスト記録部は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する多少関係算出部と、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する第四小さめ設定部と、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第三追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する第四大きめ設定部と、を有する第十七の発明に記載の光ディスク装置である。第二五の発明は、第一追加テスト記録に基づいて得られた第二最適記録パワーが追加テストを実行すべき条件に合致する場合には同様に追加テスト記録を所定回数に至るまで繰り返し実行する繰返テスト記録部をさらに有する第十五、十八、十九、二〇の発明のいずれか一に記載の光ディスク装置である。第二六の発明は、最終的に得る最適記録パワーはその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあることを条件として最終的な最適記録パワーであると判断する最終判断部を有する第十五、十八、十九、二〇の発明のいずれか一に記載の光ディスク装置である。第二七の発明は、第十五から二六のいずれか一に記載の最適記録パワーを決定する光ディスク装置は実書込ごとに事前に光記録媒体に対する最適記録パワーを決定する光ディスク装置である。第二八の発明は、第十五から二六の発明のいずれか一に記載の光ディスク装置であって、テスト記録部は全て光記録媒体に予め定められているテスト領域にてテスト記録を実行する光ディスク装置である。

本件発明は、発明の本質部分が従来技術とは異なる。即ち、従来技術では１度目のＯＰＣで大概のパワーは決まるものとしており、その要点は更なるパワー調整は管理データを使って行う点にある。しかし、本件発明においてはＯＰＣで最適パワーを決定し、ＯＰＣ後のパワー調整は行わない。そこで、そのためのＯＰＣのやり直し（リトライ）方法と判断について主張する。本件発明は従来技術の手法における次の２つの問題点（１）管理データ領域に再生不能のデータを書いてしまう危険性がある。（２）ＯＰＣで不適切なパワーを決定してしまった場合にＯＰＣ再実行をする際のパワー決定方法が明確でない。を解決するものである。

まず（１）については、最適なパワーが決定出来るまではテスト領域でＯＰＣを繰り返す。これにより、管理データ領域にデータを記録する際にはパワーは最適なものになっており、管理データ領域に再生不能のデータを書くことはない。従来技術ではＯＰＣ実行の時間短縮並びにＯＰＣ用の領域消耗を抑制する事を目的としているが、実行時間が多少延びても問題になる事は少なく、またＯＰＣ領域の消耗よりも管理データ領域に再生不能データを書く事の方が問題が大きい。
そして（２）については、最初にＯＰＣを実行する際には予めディスクメーカがディスクに記録してある、推奨パワー（Ｓｕｇｇｅｓｔｅｄ Ｐｏｗｅｒ）を中心とした範囲で記録パワーを変えながら実行する。テストデータを再生して、記録パワーの変化に対するアシンメトリ値を計測する。基本的には、このアシンメトリ値の記録パワー依存性から記録パワー値を決定するが、ＯＰＣを実行した範囲が不適切であると判断された場合には、先に変化させた記録パワーとアシンメトリ値の関係に基づいて再度ＯＰＣを行う際のパワーレンジを決定する。

ある種（メーカ、品種）のディスクに対して最適な記録を行うためにはパワー（レーザパワーの強度方向の変化）、ストラテジ（レーザパワーの時間軸方向の変化）を調整するが、その両方のパラメータを記録に際して調整することは、調整が２次元的になって調整時間が長引いてしまうためにあまり実用的ではない。そのためオフライン、即ち事前に個々の種のディスクに対してパワーやストラテジを変化させて記録試験を繰り返し行っておき、最適な記録が行えるパワーとストラテジを見出す。そして見出したストラテジは「その種のディスク向けのストラテジ」としてファームウェア中にストラテジテーブルの形で保持しておくと共に、最適な記録が行えた時のＲＦアシンメトリもテーブルとして保持しておく。

ディスクにはメーカ名とディスクの型番がＭａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒ ＩＤとして、ディスクの最内周領域にあるＣＤＺ（Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｄａｔａ Ｚｏｎｅ）に予め記述されている。その記述内容は各ディスクメーカにより記録特性が相違するディスクを製造する度にユニークなものをつけることになっているので、光ディスク装置としてはディスクのその領域のデータを読むことでＭａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒ ＩＤを読取り、ファームウェア中のテーブルから「どの調整済みのストラテジを使うのか」「最適な記録状態の目標とするＲＦアシンメトリの値はいくつか」を決定することができる。
（最適記録パワーの評価をアシンメトリに限定する理由）

まず、アシンメトリとは試し書きで記録したＲＦ信号を再生した際の、最も短い（周波数の高い）信号である「３Ｔ」波形の中心レベルと、長い波形（大概は１１Ｔあるいは１４Ｔ）信号波形の中心レベルとの差異を、長い波形の振幅で割った比率を表現したもので定義される。数値の範囲は定義上−５０〜＋５０％を取り得るが、通常−２０％〜＋２０％程度であり、これを超える様なアシンメトリを有する波形ではアシンメトリは計測出来るものの、大概再生が困難あるいは不可能となる。なおテスト記録は各種の長さの波形が混在したランダムパターンを記録する。

ＯＰＣを実行する際にパワーがそれなりに正しい値近辺で変化させられた場合には、特許文献１の段落番号：００２５、００２６や図４で説明されているように、記録パワー対ジッタがそれなりの挙動を見せる。しかし記録パワーが「それなりに正しい」範囲を外れていた場合、記録パワー対ジッタの変化は上記の挙動を示さない。

またパワー対ジッタの変化を示した特許文献１の図４では、Poを中心としてパワーの増減に伴いジッタが次第に増えていく様子が示されているが、実際にジッタを観測すると最大１００％まで直線的に変化したりはせず、どのような測定器をもってしても、実質２０％程度を上限として頭打ちになる。特許文献１の図４の様に、記録パワーが不適当である場合にジッタ値が幾らでも増大していくのであれば、ジッタ値が小さくなる方向にパワーを変化させてＯＰＣをやり直せば良いが、実際には先述の通り２０％程度で飽和するのでこの手法は使えない。またジッタ値には符号（極性）が無い事も考え合わせればつまりＯＰＣのやり直しの際に、パワーを増減の何れの方向に変化させるかの判断がつかない場合がある。対してアシンメトリは、記録パワーにより値が変わるだけでなく、パワーが低すぎる場合にはマイナス値、パワーが強すぎる場合にはプラスの値となる。即ちジッタと異なり、パワーの過不足に応じた符号を有する値となるので、ＯＰＣのやり直しに際してパワーの増減方向が判りやすい。更に言うならば再生が出来ない程に品質が悪い信号であっても、アシンメトリは符号を含めて測定出来るので、仮に記録パワーが不適切であった場合でもその事を検出し、どちらに記録パワーを変化させるべきかを知る事を出来る範囲がジッタ値を観測するのに比べて広い。

またジッタとは、特許文献１の段落番号：００２５には「復調されたテストデータと同期クロック信号との位相差の総和」と説明されているが、復調されたテストデータが何らかのレベル（簡単にはゼロレベル）を横切るタイミングを元に同期したクロックを作る訳であるから、簡単に言えば記録された信号のゼロクロス点のタイミング変動がジッタである。

隣接トラックがもし記録済である場合、その記録された信号がジッタを観測しようとするトラックの信号に漏れこんで来る（クロストーク）とゼロクロスタイミングが揺さぶられるため、ジッタは容易に悪化しやすい。換言すれば隣接トラックの記録の有無によりジッタは影響を受けるため、良否判定を正常に行うことは難しい。それに対してアシンメトリは隣接トラックの信号が多少漏れ込んでも変化しにくく、クロストークの影響を受けにくいため、より正確に記録状態の是非を判別出来る。

本件発明に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、最初に実行したテスト記録のパワーレンジが不適切な場合には、パワーレンジをシフトしてテスト領域で再度テスト記録を行って最適記録パワーを決定するので、管理データ領域に再生不可能な情報を書き込む前に適切な記録パワーを選択することが出来る。そのため、管理データはもちろん、テスト記録の後に行う情報の記録全般を品質の良い記録状態に維持することが出来る。また、万一テスト記録を行う際の記録パワーの初期設定が不適切である場合や、あるいは記録パワーに影響する何らかの障害（例えばディスク表面の汚れ、光ピックアップのレンズなどの光学系の汚れやバラツキ）のために、テスト記録のパワーレンジ内に最適なパワーを見出せない場合にも再度適切な記録パワーを設定してテスト記録を行うことが可能である。この結果、最終的に得られる最適記録パワーはテスト記録の範囲内に含まれることになるので、最適記録パワーの設定の確度・信頼性が向上する。また、アシンメトリの変化の仕方や相関によって、テスト記録のパワーレンジの正しさを検証するので最適な記録パワー選定の信頼性が更に向上する。

以下に各発明を実施するための最良の形態を説明する。なお、本発明はこれら実施形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。なお、以下の実施形態と請求項の関係は次の通りである。実施形態１、２、７は、主に請求項１、４などについて説明する。実施形態１、２、８は、主に請求項２、５などについて説明する。実施形態１２は、主に請求項３、６などについて説明する。

<実施形態１：概要>本実施形態は、光ディスクへのデータ記録の際に記録パワーを決定するためにＯＰＣを実行した結果、算出されるアシンメトリ値とレーザパワー値との相関式を取得し、その相関式から最適記録パワーを算出し、算出された最適記録パワー値とＯＰＣの際のパワーレンジとの関係から、その算出された最適記録パワーを記録パワーとして決定するか、もう一度ＯＰＣを実行するか判断することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

図１は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置の概念を示す一例図である。光ディスク装置において光ディスク（０１０１）へデータを記録及び再生する際には、スピンドルモータ（０１０３）が回転することで光ディスクを安定に回転させ、光ピックアップ（０１０２）からレーザ光が出力される。記録の際には、フォーカス制御機構（０１１１）やトラッキング制御機構（０１１２）により、ピックアップのフォーカシングやトラッキングといった光スポットの位置制御を行われる。また、再生の際には、光ピックアップ（０１０２）から出力されたレーザ光が、光ディスク（０１０１）で反射され、光ピックアップ（０１０２）に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、ヘッドアンプ（０１０４）により演算増幅され、サーボ検出機構（０１０５）やＲＦ検出機構（０１０６）により検出が行われる。サーボ検出機構とフォーカス制御機構のフォーカスサーボ回路により焦点制御が行われフォーカスサーボがかかる。また、サーボ検出機構で検出されたトラッキング誤差信号とサーボ検出機構とトラッキング制御機構のトラッキングサーボ回路により、トラッキングサーボがかかる。また、ＲＦ検出機構により検出されたＲＦ信号はデコーダ（０１０８）により二値化され、コントローラ（０１０９）を介して再生信号データが上位装置に出力される。

また、記録の際の最適記録パワーを決定するときには、ＯＰＣを実行しＲＦ検出機構によりＲＦ信号を検出する。検出されたＲＦ信号が信号処理機構（０１０７）に出力され、アシンメトリ値が算出される。そして算出されたアシンメトリ値がコントローラ（０１０９）に出力される。コントローラにおいてはアシンメトリ値のパワー依存性データから、アシンメトリ値−記録パワー相関式及び第一最適記録パワーを算出し、第一最適記録パワーを最適記録パワーとして決定するか、もう一度ＯＰＣを実行するかが決定される。アシンメトリ値−記録パワー相関式及び第一最適記録パワーは、光ディスク装置の所定の記憶領域（０１１３）に記憶される。そして、コントローラからドライバー（０１１０）へ最適記録パワーが出力され記録を行う際に光ピックアップが出力するレーザ光のパワーの設定を行うか、もしくは、再度ＯＰＣを行う。コントローラ内の処理については、各ステップ説明において詳細に説明する。

<実施形態１：最適記録パワーの決定方法>
図２は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ０２０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ０２０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ０２０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ０２０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ０２０５）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ０２０１）は、光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する方法であって、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行するステップである。「光記憶媒体」とは、ＣＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＤ−Ｒ／ＲＷに代表されるレーザ光により書き込みや読み込みがなされるディスクのことである。「予め定められた第一パワーレンジ」とは、例えば、ディスクメーカがディスクに予め記録してある推奨記録パワーを中心としたある一定のパワーの範囲である。ディスクのＣＤＺには、ディスクメーカにより「推奨記録条件」が予め記憶されており、ストラテジや記録パワーのデフォルト値を読取ることが可能である。その推奨記録パワーのデフォルト値を元に最初にテスト記録を行うパワーレンジを決定する。例えば、ディスクメーカが予め記憶した推奨記録パワーがＡ［ｍＷ］であるとし、１ステップ０．５ｍＷずつパワーを変化させ、合計で１５通りのパワー変化をさせる場合には、開始パワーは、Ａ−７×０．５［ｍＷ］であり、終了パワーは、Ａ＋７×０．５［ｍＷ］となる。このパワーレンジでテスト記録を実行する。

「式取得ステップ」（Ｓ０２０２）は、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワー相関式を取得するステップである。「テスト記録ビット」とは、前ステップのテスト記録の実行により記録された状態を指す。「アシンメトリ値−記録パワー相関式」とは、アシンメトリ値対記録パワー値のグラフから得られる一次近似式のことである。「アシンメトリ値−記録パワー相関式」を取得する具体的な方法を説明する。まず図３（ａ）のように、テスト記録ビットの読取りによって得られたアシンメトリ値をＹ軸に、記録パワー値をＸ軸に取り各測定点をグラフにプロットする。ここでは、推奨記録パワーが１２［ｍＷ］であり、１ステップ０．５ｍＷずつパワーを変化させ、合計で９通りのパワー変化をさせた場合を例に示した。この場合の第一パワーレンジは、１０ｍＷ〜１４ｍＷである。次に図３（ｂ）のように、そのプロットした点に対して近似直線（一次近似）を引き、このときの近似直線の式を取得する。この近似直線は主に最小二乗法により設定される。近似直線の式は、ｙ＝ａｘ＋ｂとなる（ａとｂは係数）。通常、記録パワーを変えながら記録したＲＦ信号のアシンメトリ値は、その記録パワーが大きくなるにつれて通常単調増加を示す。よって、ａは通常は正の値となる。

「第一計算ステップ」（Ｓ０２０３）は、取得した相関式に基づいて第一最適記録パワーを計算するステップである。「取得した相関式」とは、図３（ｂ）の例によれば、
ｙ＝４．１ｘ−４７．４ ・・・式１
である。ただし、小数点以下第２位を四捨五入した。「第一最適記録パワー」とは「取得した相関式」による近似直線が、予め定められたアシンメトリ値と合致するパワー値のことである。予め定められたアシンメトリ値が０（ゼロ）であったとすると、
０＝４．１ｘ−４７．４ ・・・式２
のｘを求めることになり、第一最適記録パワーは１１．６［ｍＷ］と算出される。

「第一判断ステップ」（Ｓ０２０４）は、計算された第一最適記録パワーが第一パワーレンジ外であるか判断するステップである。図３（ｂ）の場合には、第一パワーレンジは１０ｍＷ〜１４ｍＷであり、第一最適記録パワーは１１．６［ｍＷ］である。このとき、第一最適記録パワーは第一パワーレンジ外でないとの判断をする。また、図３（ｃ）は他のディスクに対して、「第一テスト記録ステップ」を行った例である。先程と同様に、推奨記録パワーが１２［ｍＷ］であり、第一パワーレンジは１０ｍＷ〜１４ｍＷであるとする。この場合には、図３（ｄ）のような近似直線を引くことができ、その相関式を取得する。さらに「第一計算ステップ」により、予め定められたアシンメトリ値が０（ゼロ）として計算される「第一最適記録パワー」は１５．１［ｍＷ］となる。このときは、第一最適記録パワーは第一パワーレンジ外であるとの判断をする。

「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ０２０５）は、判断結果が第一パワーレンジ外であるとの判断結果である場合には第一追加テスト記録を実行するステップである。図３の（ａ）（ｂ）の場合にはこのステップは実行されないが、図３の（ｃ）（ｄ）の場合には第一テスト記録に追加して「第一追加テスト記録」を実行する。

なお、図２のフロー図は、計算機に実行させるプログラムの処理フロー図とみなすことも可能である。さらに、このようなプログラムをフレキシブルディスク等の媒体に記録することも可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）

<実施形態１：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図４に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（０４０１）と、「式取得部」（０４０２）と、「第一計算部」（０４０３）と、「第一判断部」（０４０４）と、「第一追加テスト記録部」（０４０５）と、を有する。なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、図２５は一般的なコンピュータの構成を例示する図でありコンピュータが主にＣＰＵ（２５１０）、ＲＡＭ（２５２０）、ＲＯＭ（２５３０）、入出力インタフェース（Ｉ／Ｏ）（２５４０）、ハードディスク（ＨＤＤ）（２５５０）、等から構成されており、それらがシステムバス（２５６０）等のデータ通信経路によって相互に接続され、情報の送受信や処理を行う。本実施形態に係る光ディスク装置は、図２５と同様の構成にて実現可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）

「第一テスト記録部」（０４０１）は、予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する機能を有する。すなわち、第一テスト記録部は、前述した第一テスト記録ステップにおける処理と同様の処理を実行する。具体的なコンピュータ処理の一例を説明する。光記録媒体への記録を行う際に、ＣＰＵ（２５１０）はＨＤＤ等の記憶装置に保持されているテスト記録実行プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、さらに、光記録媒体に予め記録されているストラテジや記録パワーのデフォルト値を読取る。そして、ＲＯＭ（２５３０）等のファームウェア中に保持されているストラテジテーブルからストラテジを読取りストラテジを決定する。次に、推奨記録パワー値を中心としたパワーレンジを設定してテスト記録実行プログラムを実行する。テスト記録実行プログラムにおいては、ＣＰＵがドライバー（０１１０）に対してストラテジ及びテストレーザパワー値を指定し、ドライバーは指定されたストラテジ及び各テストレーザパワー値でテスト記録を行う。テスト記録を行ったパワーレンジをＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「式取得部」（０４０２）は、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワー相関式を取得する機能を有する。すなわち、式取得部は、前述した式取得ステップにおける処理と同様の処理を実行する。テスト記録結果はヘッドアンプを介してＲＦ検出機構（０１０６）により検出される。検出されたＲＦ信号から信号処理機構によって算出されたアシンメトリ値の記録パワー依存データはＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持される。そして、ＣＰＵ（２５１０）は式取得プログラム及びアシンメトリ値の記録パワー依存データをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み式取得プログラムを実行する。そして、算出された式をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第一計算部」（０４０３）は、取得した相関式に基づいて第一最適記録パワーを計算する機能を有する。すなわち、第一計算部は、前述した第一計算ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は第一計算プログラム及び算出された式をＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み第一計算プログラムを実行する。そして、算出された第一最適記録パワーをＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第一判断部」（０４０４）は、計算された第一最適記録パワーが第一パワーレンジ外であるか判断する機能を有する。すなわち、第一判断部は、前述した第一判断ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は第一判断プログラム及びテスト記録のパワーレンジ及び第一最適記録パワーをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み第一判断プログラムを実行する。そして、判断結果をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第一追加テスト記録部」（０４０５）は、判断結果が第一パワーレンジ外であるとの判断結果である場合には第一追加テスト記録を実行する機能を有する。すなわち、第一追加テスト記録部は、前述した第一追加テスト記録ステップにおける処理と同様の処理を実行する。判断結果が第一パワーレンジ外であるとの判断結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み実行する。追加テスト記録プログラムにおいては、テスト記録実行プログラムにおけるパワーレンジをシフトしたパワーレンジを再設定し、再度テスト記録を実行する。

<実施形態１：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、まず、第一最適記録パワーを算出することができる。さらに、テスト記録のパワーレンジ内に第一最適記録パワーがあるときには、第一最適記録パワーを記録パワーとして決定し、パワーレンジ内にないときには再度テスト記録をするため、万一テスト記録を行う際の記録パワーの初期設定が不適切である場合や、あるいは記録パワーに影響する何らかの障害（例えばディスク表面の汚れ、光ピックアップのレンズなどの光学系の汚れやバラツキ）のために、テスト記録のパワーレンジ内に最適なパワーを見出せない場合にも再度適切なパワーレンジを設定してテスト記録を行うことが可能である。
<<実施形態２>>

<実施形態２：概要>本実施形態は、光ディスクへのデータ記録の際に記録パワーを決定するためにＯＰＣを実行した結果、算出されるアシンメトリ値とレーザパワー値との相関係数を取得し、その相関係数が所定の閾値を下回ると判断したときには、もう一度ＯＰＣを実行することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置の概念図は図１と同様である。記録の際の最適記録パワーを決定するときは、ＯＰＣを実行しＲＦ検出機構によりＲＦ信号を検出する。検出されたＲＦ信号が信号処理機構（０１０７）に出力され、アシンメトリ値が算出される。そして算出されたアシンメトリ値がコントローラ（０１０９）に出力される。コントローラにおいてはアシンメトリ値のパワー依存性データから、アシンメトリ値−記録パワーの相関係数を算出し、その相関係数が所定の閾値を下回ると判断したときには再度ＯＰＣを行う。アシンメトリ値−記録パワーの相関係数は、光ディスク装置の所定の記憶領域（０１１３）に記憶される。コントローラ内の処理については、各ステップ説明において詳細に説明する。

<実施形態２：最適記録パワーの決定方法>
図５は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ０５０１）と、「係数取得ステップ」（Ｓ０５０２）と、「第二判断ステップ」（Ｓ０５０３）と、「第二追加テスト記録ステップ」（Ｓ０５０４）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ０５０１）は、実施形態１と同様であるので詳細な説明は省略する。

「係数取得ステップ」（Ｓ０５０２）は、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得するステップである。「アシンメトリ値−記録パワーの相関係数」を取得する具体的な方法を説明する。まず図６（ａ）のように、テスト記録ビットの読取りによって得られたアシンメトリ値をＹ軸に、記録パワー値をＸ軸に取り各測定点をグラフにプロットする。そして、アシンメトリ値と記録パワー値との「相関係数」を取得する。「相関係数」とは、相関の強さを示すものであり各測定点がより直線に近ければ、より両者の相関が強いということになり、大きい値をとる。「相関係数」は−１と１の間の値を取り、両者の関係が全く独立ならば０（ゼロ）、一方が他方の定数倍ならば１または−１となる。相関係数ρは、記録パワー値をｘ、アシンメトリ値をｙ、とすると、以下のような式で表される。

ここで、Εは平均、Ｖは分散である。また、Ｖ（ｘ）とＶ（ｙ）のいずれか一方が０の場合、相関係数ρは０と定義する。図６（ａ）（図３（ａ）と同じ）の相関係数を計算すると、０．９８となる。ただし、小数点以下第３位を四捨五入した。また、図６（ｂ）（図３（ｃ）と同じ）の相関係数は０．９２となる。さらに、図６（ｃ）の相関係数は０．５１となる。

「第二判断ステップ」（Ｓ０５０３）は、取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断するステップである。「所定の閾値」とは、どの程度正確にアシンメトリ値を計測できるかというシステムのハードウェアに依存するが、０．８〜０．９程度の値に設定すると良い。ただし、この範囲に限定する必要はない。例えば、「所定の閾値」が０．９であり、記録パワー値とアシンメトリ値との関係が図６（ａ）及び（ｂ）のようであった場合には、取得した相関係数が所定の閾値を下回らないと判断する。また、記録パワー値とアシンメトリ値との関係が図６（ｃ）のようであった場合には、取得した相関係数が所定の閾値を下回ると判断する。

「第二追加テスト記録ステップ」（Ｓ０５０４）は、判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行するステップである。図６の（ａ）（ｂ）の場合にはこのステップは実行されないが、図６の（ｃ）の場合には第一テスト記録に追加して「第二追加テスト記録」を実行する。

<実施形態２：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図７に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（０７０１）と、「係数取得部」（０７０２）と、「第二判断部」（０７０３）と、「第二追加テスト記録部」（０７０４）と、を有する。

「第一テスト記録部」（０７０１）は、実施形態１と同様であるので説明は省略する。

「係数取得部」（０７０２）は、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する機能を有する。すなわち、係数取得部は、前述した係数取得ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は係数取得プログラム及びアシンメトリ値の記録パワー依存データをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み係数取得プログラムを実行する。そして、算出された相関係数をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第二判断部」（０７０３）は、取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する機能を有する。すなわち、第二判断部は、前述した第二判断ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は第二判断プログラム及び算出された相関係数をＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み第二判断プログラムを実行する。そして、判断結果をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第二追加テスト記録部」（０７０４）は、判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する機能を有する。すなわち、第二追加テスト記録部は、前述した第二追加テスト記録ステップにおける処理と同様の処理を実行する。判断結果が下回るとの判断結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み実行する。追加テスト記録プログラムにおいては、テスト記録プログラムにおけるパワーレンジをシフトしたパワーレンジを再設定し、再度テスト記録を実行する。

<実施形態２：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、アシンメトリ値−記録パワーの相関係数が所定の閾値を下回るときには再度テスト記録をするため、相関関係が思わしくないときには、そのデータにより最適パワー値を算出せずに適切なパワーレンジを設定し直して再度テスト記録を行うことが可能である。
<<実施形態３>>

<実施形態３：概要>本実施形態は、光ディスクへのデータ記録の際に記録パワーを決定するためにＯＰＣを実行した結果、アシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報を取得し、その情報が異常として定められた所定の条件に合致すると判断したときには、もう一度ＯＰＣを実行することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置の概念図は図１と同様である。記録の際の最適記録パワーを決定するときは、ＯＰＣを実行しＲＦ検出機構によりＲＦ信号を検出する。検出されたＲＦ信号が信号処理機構（０１０７）に出力され、アシンメトリ値が算出される。そして算出されたアシンメトリ値がコントローラ（０１０９）に出力される。コントローラにおいてはアシンメトリ値のパワー依存性データから、アシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報を取得し、その情報が異常として定められた所定の条件に合致すると判断したときには、再度ＯＰＣを行う。アシンメトリ値−記録パワーの変化情報は、光ディスク装置の所定の記憶領域（０１１３）に記憶される。コントローラ内の処理については、各ステップ説明において詳細に説明する。

<実施形態３：最適記録パワーの決定方法>
図８は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ０８０１）と、「変化情報取得ステップ」（Ｓ０８０２）と、「第三判断ステップ」（Ｓ０８０３）と、「第三追加テスト記録ステップ」（Ｓ０８０４）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ０８０１）は、実施形態１と同様であるので詳細な説明は省略する。

「変化情報取得ステップ」（Ｓ０８０２）は、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報である変化情報を取得するステップである。「変化情報」とは、アシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報である。記録パワーの変化に対するアシンメトリの変化が極めて鈍い、あるいは、パワーに対してアシンメトリが単調増加ではなく増減を繰り返す場合等を検出するための変化情報である。

例えばテスト記録のパワーレンジが高すぎる場合には、全体的にアシンメトリはプラスの大きな値になるが、光ディスクや光ピックアップの種類・構造などによっては実際上アシンメトリの上下限が＋−２０％程度で飽和してそれより絶対値の大きな状態にはならなかったり、あるいは絶対値の変化量が鈍化したりする。この場合には、アシンメトリはパワーがある程度の範囲内ではパワー依存性を示すが、それより低い側あるいは高い側ではアシンメトリがほとんど変化しない状態になる。従って測定したアシンメトリのデータの、前のデータとの変化量に基準値を設け、それより変化量が小さい場合にはこのアシンメトリ変化飽和を疑って再テスト記録を実行させることが可能である。また、このように記録パワーの変化が不適切でアシンメトリが飽和するような状態では、記録されたＲＦ信号も信号品質が悪く、パワーの変化に対するアシンメトリが単調増加では無く増減を繰り返したりすることも多いので、アシンメトリの測定値が前のパワー値のアシンメトリ値と比較して小さくなる場合に異常とみなして再テスト記録を実行させても良い。

アシンメトリの変化量・変化の仕方がおかしい状態で近似直線を引き、最適パワーを見出そうとすると不適切なパワーを見出してしまう可能性がある。このようにアシンメトリの変化量・変化の仕方が異常な場合には、大概はアシンメトリ値−パワー値の相関関係が悪くなるので実施形態２で示した「相関係数が基準値以下」による再テスト記録条件に引っ掛かるものであるが、稀にこの条件をすり抜ける場合があるために「アシンメトリの変化量・変化の仕方」による再テスト記録条件を考える必要がある。

ここでは、記録パワー値が隣り合う各測定点同士のアシンメトリ値変化量の合計値Ｓを「変化情報」として取得する。隣り合う測定点同士のアシンメトリ値変化量とは、例えば図９（ａ）のＡ点とＢ点の変化量を表し、この場合にはＡ点が−６でＢ点が−４であるのでアシンメトリ値変化量は２である。アシンメトリ値変化量を第一パワーレンジに渡って足算し、合計値Ｓを算出する。図９（ａ）（図３（ａ）と同じ）の場合には合計値Ｓは１８となる。また、図９（ｂ）（図３（ｃ）と同じ）の場合には、合計値Ｓは１６となり、（ｃ）のようにアシンメトリ値に大きな変化がない場合には、合計値Ｓは８となり、（ｄ）のようにアシンメトリ値がランダムに大小に大きく変化する場合には、合計値Ｓは６８となる。

「第三判断ステップ」（Ｓ０８０３）は、取得した変化情報が異常として定められた所定の条件に合致するか判断するステップである。「所定の条件」とは、テスト記録を行うパワーレンジやテスト記録の回数等の条件に依存するが、この場合には合計値Ｓが１２よりも小さいか３０よりも大きい場合に設定すると良い。ただし、この範囲に限定する必要はない。例えば、「所定の条件」がＳ<１２、３０<Ｓであり、記録パワー値とアシンメトリ値との関係が図９（ａ）及び（ｂ）のようであった場合には、取得した変化情報が異常として定められた所定の条件に合致しないと判断する。また、記録パワー値とアシンメトリ値との関係が図９（ｃ）及び（ｄ）のようであった場合には、取得した変化情報が異常として定められた所定の条件に合致すると判断する。

「第三追加テスト記録ステップ」（Ｓ０８０４）は、判断結果が合致するとの判断結果である場合に第三追加テスト記録を実行するステップである。図９の（ａ）（ｂ）の場合にはこのステップは実行されないが、図９の（ｃ）（ｄ）の場合には第一テスト記録に追加して「第三追加テスト記録」を実行する。

<実施形態３：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図１０に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（１００１）と、「変化情報取得部」（１００２）と、「第三判断部」（１００３）と、「第三追加テスト記録部」（１００４）と、を有する。

「第一テスト記録部」（１００１）は、実施形態１と同様であるので説明は省略する。

「変化情報取得部」（１００２）は、テスト記録ビットを読取りアシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方を示す情報である変化情報を取得する機能を有する。すなわち、変化情報取得部は、前述した変化情報取得ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は変化情報取得プログラム及びアシンメトリ値の記録パワー依存データをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み変化情報取得プログラムを実行する。そして、取得した変化情報をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第三判断部」（１００３）は、取得した変化情報が異常として定められた所定の条件に合致するか判断する機能を有する。すなわち、第三判断部は、前述した第三判断ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は第三判断プログラム及び変化情報をＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み第三判断プログラムを実行する。そして、判断結果をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第三追加テスト記録部」（１００４）は、判断結果が合致するとの判断結果である場合に第三追加テスト記録を実行する機能を有する。すなわち、第三追加テスト記録部は、前述した第三追加テスト記録ステップにおける処理と同様の処理を実行する。判断結果が合致するとの判断結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み実行する。追加テスト記録プログラムにおいては、テスト記録プログラムにおけるパワーレンジをシフトしたパワーレンジを再設定し、再度テスト記録を実行する。

<実施形態３：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、アシンメトリ値の記録パワーに対する変化量又は変化の仕方が異常である判断したときには再度テスト記録をするため、最適記録パワー値とは全く異なるパワーレンジにてテスト記録を行った場合には、そのデータにより最適パワー値を算出せずに適切なパワーレンジを設定し直して再度テスト記録を行うことが可能である。
<<実施形態４>>

<実施形態４：概要>本実施形態は、実施形態１に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、さらに、第一テスト記録のパワーレンジと第一テスト記録の結果から算出された第一最適記録パワーの関係に基づいて第一追加テスト記録のパワーレンジを全体的にシフトすることを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態４：最適記録パワーの決定方法>
図１１は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１１０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ１１０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ１１０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１１０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ１１０５）と、「パワーレンジ全体シフト実行ステップ」（Ｓ１１０６）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１１０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ１１０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ１１０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１１０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ１１０５）は実施形態１と同様であるので詳細な説明は省略する。

「パワーレンジ全体シフト実行ステップ」（Ｓ１１０６）は、第一パワーレンジと重複せず隣接するパワーレンジでかつ第一最適記録パワーを含む側にパワーレンジをシフトしてテスト記録を実行するステップである。「第一パワーレンジと重複せず隣接するパワーレンジ」とは、図１２（ａ）に示したように第一パワーレンジが１０ｍＷ〜１４ｍＷであったとすると、６ｍＷ〜１０ｍＷや１４ｍＷ〜１８ｍＷの範囲である。このレンジ幅は４ｍＷである必要はなく、第一パワーレンジ幅より大きくても小さくても良い。また、「第一計算ステップ」にて算出された第一最適記録パワーを含む側にシフトする。そして、再設定したパワーレンジにてテスト記録を実行する。

<実施形態４：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図１３に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（１３０１）と、「式取得部」（１３０２）と、「第一計算部」（１３０３）と、「第一判断部」（１３０４）と、「第一追加テスト記録部」（１３０５）と、「パワーレンジ全体シフト実行部」（１３０６）と、を有する。

「第一テスト記録部」（１３０１）と、「式取得部」（１３０２）と、「第一計算部」（１３０３）と、「第一判断部」（１３０４）と、「第一追加テスト記録部」（１３０５）は実施形態１と同様であるので説明は省略する。

「パワーレンジ全体シフト実行部」（１３０６）は、第一パワーレンジと重複せず隣接するパワーレンジでかつ第一最適記録パワーを含む側にパワーレンジをシフトしてテスト記録を実行する機能を有する。すなわち、パワーレンジ全体シフト実行部は、前述したパワーレンジ全体シフト実行ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）はパワーレンジ全体シフト実行プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、パワーシフト方向やパワーレンジ幅を決定し、再度テスト記録を実行する。

<実施形態４：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録のパワーレンジの初期設定が適切でなかった場合にはパワーレンジを全体的にシフトして再度テスト記録を実行するため、初期設定が適切なパワーレンジとは離れていた場合にも、追加テストにて最適なパワー値を含むパワーレンジでテスト記録を行うことが可能である。
<<実施形態５>>

<実施形態５：概要>本実施形態は、実施形態１に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、さらに、第一テスト記録のパワーレンジと第一テスト記録の結果から算出された第一最適記録パワーの関係に基づいて第一追加テスト記録のパワーレンジを第一テスト記録のパワーレンジと同一幅のまま部分的にシフトすることを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態５：最適記録パワーの決定方法>
図１４は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１４０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ１４０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ１４０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１４０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ１４０５）と、「パワーレンジ部分シフト実行ステップ」（Ｓ１４０６）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１４０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ１４０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ１４０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１４０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ１４０５）は実施形態１と同様であるので詳細な説明は省略する。

「パワーレンジ部分シフト実行ステップ」（Ｓ１４０６）は、第一パワーレンジとレンジ幅を同一にして第一最適記録パワーを含む側に第一パワーレンジ幅の１／４から３／４の範囲の定められた値分第一パワーレンジよりシフトしたレンジにてテスト記録を実行するステップである。図１２（ｂ）に示したように第一パワーレンジが１０ｍＷ〜１４ｍＷであったとすると、８ｍＷ〜１２ｍＷ（低い側に１／２シフト）や１３ｍＷ〜１７ｍＷ（高い側に３／４シフト）の範囲である。パワーレンジ幅が第一パワーレンジと同一であることが特徴である。また、「第一計算ステップ」にて算出された第一最適記録パワーを含む側にシフトする。そして、再設定したパワーレンジにてテスト記録を実行する。

<実施形態５：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図１５に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（１５０１）と、「式取得部」（１５０２）と、「第一計算部」（１５０３）と、「第一判断部」（１５０４）と、「第一追加テスト記録部」（１５０５）と、「パワーレンジ部分シフト実行部」（１５０６）と、を有する。

「第一テスト記録部」（１５０１）と、「式取得部」（１５０２）と、「第一計算部」（１５０３）と、「第一判断部」（１５０４）と、「第一追加テスト記録部」（１５０５）は実施形態１と同様であるので説明は省略する。

「パワーレンジ部分シフト実行部」（１５０６）は、第一パワーレンジとレンジ幅を同一にして第一最適記録パワーを含む側に第一パワーレンジ幅の１／４から３／４の範囲の定められた値分第一パワーレンジよりシフトしたレンジにてテスト記録を実行する機能を有する。すなわち、パワーレンジ部分シフト実行部は、前述したパワーレンジ部分シフト実行ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）はパワーレンジ部分シフト実行プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、パワーシフト方向やシフト幅を決定し、再度テスト記録を実行する。

<実施形態５：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録のパワーレンジの初期設定が適切でなかった場合にはパワーレンジを部分的にシフトして再度テスト記録を実行するため、パワーレンジの初期設定の上限付近や下限付近に最適パワーレンジがある場合にも、追加テストにて最適なパワー値を含むパワーレンジでテスト記録を行うことが可能である。
<<実施形態６>>

<実施形態６：概要>本実施形態は、実施形態１に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、さらに、第一テスト記録の結果から算出された第一最適記録パワーをパワーレンジの中心として追加テスト記録を実行することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態６：最適記録パワーの決定方法>
図１６は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１６０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ１６０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ１６０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１６０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ１６０５）と、「中心実行ステップ」（Ｓ１６０６）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１６０１）と、「式取得ステップ」（Ｓ１６０２）と、「第一計算ステップ」（Ｓ１６０３）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１６０４）と、「第一追加テスト記録ステップ」（Ｓ１６０５）は実施形態１と同様であるので詳細な説明は省略する。

「中心実行ステップ」（Ｓ１６０６）は、第一最適記録パワーをパワーレンジの中心としてテスト記録を実行するステップである。図１２（ｃ）に示したように「第一計算ステップ」にて算出された第一最適記録パワーが７ｍＷであった場合には、例えば、７ｍＷを中心とする５ｍＷ〜９ｍＷのパワーレンジを選択する。また、第一最適記録パワーが１４ｍＷであった場合には、１２ｍＷ〜１６ｍＷのパワーレンジを選択する。このレンジ幅は４ｍＷである必要はなく、第一パワーレンジ幅より大きくても小さくても良い。そして、再設定したパワーレンジにてテスト記録を実行する。

<実施形態６：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図１７に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（１７０１）と、「式取得部」（１７０２）と、「第一計算部」（１７０３）と、「第一判断部」（１７０４）と、「第一追加テスト記録部」（１７０５）と、「中心実行部」（１７０６）と、を有する。

「第一テスト記録部」（１７０１）と、「式取得部」（１７０２）と、「第一計算部」（１７０３）と、「第一判断部」（１７０４）と、「第一追加テスト記録部」（１７０５）は実施形態１と同様であるので説明は省略する。

「中心実行部」（１７０６）は、第一最適記録パワーをパワーレンジの中心としてテスト記録を実行する機能を有する。すなわち、中心実行部は、前述した中心実行ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は中心実行プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、シフト幅やパワーレンジ幅を決定し、再度テスト記録を実行する。

<実施形態６：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録のパワーレンジの初期設定が適切でなかった場合にはテスト記録の結果得られた第一最適記録パワーをパワーレンジの中心として再度テスト記録を実行するため、追加テストにて最適な記録パワーを決定できる可能性が高い。また、一度目のテスト記録により算出された第一最適記録パワー値をすぐに記録パワーとして決定するのではなく、第一最適記録パワー値を含む範囲で追加テストを行うためより確実に最適記録パワー値を決定することができる。
<<実施形態７>>

<実施形態７：概要>本実施形態は、実施形態２及び３に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、さらに、第一テスト記録で得られたアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との関係からパワーレンジをシフトして追加テスト記録を実行することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態７：最適記録パワーの決定方法>
図１８は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１８０１）と、「係数取得ステップ」（Ｓ１８０２）と、「第二判断ステップ」（Ｓ１８０３）と、「第二追加テスト記録ステップ」（Ｓ１８０４）と、「大小関係算出ステップ」（Ｓ１８０５）と、「第一小さめ設定ステップ」（Ｓ１８０６）と、「第一大きめ設定ステップ」（Ｓ１８０７）と、を有する。本実施形態においては、実施形態２で追加テスト記録を行うと判断されたときのパワーレンジの再設定方法を説明するが、実施形態３で追加テスト記録を行うと判断されたときも同様にパワーレンジを再設定することが可能である。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ１８０１）と、「係数取得ステップ」（Ｓ１８０２）と、「第二判断ステップ」（Ｓ１８０３）と、「第二追加テスト記録ステップ」（Ｓ１８０４）は実施形態２と同様であるので詳細な説明は省略する。

「大小関係算出ステップ」（Ｓ１８０５）は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出するステップである。「アシンメトリ値の平均値」とは、第一テスト記録ステップにより取得した各レーザパワーに対するアシンメトリ値の平均値のことである。第二判断ステップにおいて追加テスト記録が必要であると判断される図６（ｃ）の場合を例に説明する。この場合のアシンメトリの平均値は３．０となる。また、予め定められた目標アシンメトリ値は０（ゼロ）であるとすると、算出される大小関係はアシンメトリ値の平均値は目標アシンメトリ値よりも大きいという関係である。

「第一小さめ設定ステップ」（Ｓ１８０６）は、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定するステップである。小さめに設定する際の具体例をあげると、パワーの高い側からアシンメトリ値を1つずつ除きながら再度アシンメトリ平均値を算出し、その平均値が現在のアシンメトリ平均値３．０と目標アシンメトリ値０との平均値である、１．５を最初に下回ったパワーを上限として設定すると言う事である。図６（ｃ）の例では記録パワーの高い側、１４mＷからアシンメトリ値を１点ずつ除いてアシンメトリ値の平均を求めて行くと、１４mＷから１３mＷまでのアシンメトリ値を除いた「１０ｍＷから１２．５ｍＷまでのアシンメトリ値６点の平均値」が１．１７となり、先述の１．５を最初に下回る。従って第二追加テスト記録のパワーレンジは、全体的に１４ｍＷと１２．５ｍＷとの差である１．５ｍＷだけ小さめにシフトさせ、８．５ｍＷから１２．５ｍＷまでと設定する。

「第一大きめ設定ステップ」（Ｓ１８０７）は、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定するステップである。大きめに設定する際の具体例をあげると、パワーの低い側からアシンメトリ値を1つずつ除きながら再度アシンメトリ平均値を算出し、その平均値が現在のアシンメトリ平均値と目標アシンメトリ値０との平均値を最初に上回ったパワーを下限として、高めにシフトさせ設定すると言う事である。図６（ｃ）の例ではアシンメトリ値の平均値が３．０、目標アシンメトリ値が０であるので、第二追加テスト記録のパワーレンジをこの大きめの設定を行わないが、仮にアシンメトリ値の平均値が−３．０などであれば、パワーの低い側からアシンメトリ値を１点ずつ除きながらアシンメトリ値の平均値を算出し、最初に−１．５（−３．０と０との平均値）を上回ったパワーを下限としてパワーレンジを設定する。

第二追加テスト記録のパワーレンジを小さめ又は大きめに設定する方法は上述の方法に限られず、様々な方法で実現しうる。

<実施形態７：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図１９に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（１９０１）と、「係数取得部」（１９０２）と、「第二判断部」（１９０３）と、「第二追加テスト記録部」（１９０４）と、「大小関係算出部」（１９０５）と、「第一小さめ設定部」（１９０６）と、「第一大きめ設定部」（１９０７）と、を有する。

「第一テスト記録部」（１９０１）と、「係数取得部」（１９０２）と、「第二判断部」（１９０３）と、「第二追加テスト記録部」（１９０４）は実施形態２と同様であるので説明は省略する。

「大小関係算出部」（１９０５）は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する機能を有する。すなわち、大小関係算出部は、前述した大小関係算出ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は大小関係算出プログラム及びアシンメトリ値の記録パワー依存データをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み大小関係算出プログラムを実行する。そして、算出された大小関係をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第一小さめ設定部」（１９０６）は、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する機能を有する。すなわち、第一小さめ設定部は、前述した第一小さめ設定ステップにおける処理と同様の処理を実行する。算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は第一小さめ設定プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、パワーレンジを小さめに設定して再度テスト記録を実行する。

「第一大きめ設定部」（１９０７）は、算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する機能を有する。すなわち、第一大きめ設定部は、前述した第一大きめ設定ステップにおける処理と同様の処理を実行する。算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は第一大きめ設定プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、パワーレンジを大きめに設定して再度テスト記録を実行する。

<実施形態７：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録のパワーレンジの初期設定が適切でなかった場合にはテスト記録によって得られたアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係により、パワーレンジをシフトして追加テスト記録を実行するので、より確実に最適記録パワー値を決定することができる。
<<実施形態８>>

<実施形態８：概要>本実施形態は、実施形態２及び３に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、さらに、第一テスト記録で得られたアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつデータの数及び小さい値をもつデータの数の関係からパワーレンジをシフトして追加テスト記録を実行することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態８：最適記録パワーの決定方法>
図２０は、本実施形態に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ２００１）と、「係数取得ステップ」（Ｓ２００２）と、「第二判断ステップ」（Ｓ２００３）と、「第二追加テスト記録ステップ」（Ｓ２００４）と、「多少関係算出ステップ」（Ｓ２００５）と、「第二小さめ設定ステップ」（Ｓ２００６）と、「第二大きめ設定ステップ」（Ｓ２００７）と、を有する。本実施形態においては、実施形態２で追加テスト記録を行うと判断されたときのパワーレンジの再設定方法を説明するが、実施形態３で追加テスト記録を行うと判断されたときも同様にパワーレンジを再設定することが可能である。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ２００１）と、「係数取得ステップ」（Ｓ２００２）と、「第二判断ステップ」（Ｓ２００３）と、「第二追加テスト記録ステップ」（Ｓ２００４）は実施形態２と同様であるので詳細な説明は省略する。

「多少関係算出ステップ」（Ｓ２００５）は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出するステップである。第二判断ステップにおいて追加テスト記録が必要であると判断される図６（ｃ）の場合を例に説明する。この場合、予め定められた目標アシンメトリ値は０（ゼロ）であるとすると、目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数は、７つである。また、小さい値をもつアシンメトリ値は、２つである。ゆえに、算出される多少関係は目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつデータ数の方が多いという関係である。

「第二小さめ設定ステップ」（Ｓ２００６）は、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定するステップである。小さめに設定する際の具体例をあげると、目標アシンメトリ値より大きい値を持つアシンメトリ値のデータ数から、目標アシンメトリ値より小さい値を持つアシンメトリ値のデータ数を差引き、その差の数に相当するだけ第二追加テスト記録のパワーレンジを小さい方向にシフトすると言う事である。図６（ｃ）の例では、目標アシンメトリ値より大きなデータは７点、小さなデータは２点、差は５点であるので、第一テスト記録ステップにおける１０ｍＷから１４ｍＷまでのパワーレンジを、０．５ｍＷ×５＝２．５ｍＷだけ低くした、７．５ｍＷから１１．５ｍＷまでを第二追加テスト記録のパワーレンジに設定する。

「第二大きめ設定ステップ」（Ｓ２００７）は、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定するステップである。大きめに設定する際の具体例をあげると、目標アシンメトリ値より小さい値を持つアシンメトリ値のデータ数から、目標アシンメトリ値より大きい値を持つアシンメトリ値のデータ数を差引き、その差の数に相当するだけ第二追加テスト記録のパワーレンジを大きい方向にシフトすると言う事である。図６（ｃ）の例ではこの第二大きめ設定ステップには条件が該当しないが、仮に目標アシンメトリ値より小さなデータが７点、大きなデータが２点あったとすると、差は５点であるので、第一テスト記録ステップにおける１０ｍＷから１４ｍＷまでのパワーレンジを、０．５ｍＷ×５＝２．５ｍＷだけ高くした、１２．５ｍＷから１６．５ｍＷまでを第二追加テスト記録のパワーレンジに設定する。

第二追加テスト記録のパワーレンジを小さめ又は大きめに設定する方法は上述の方法に限られず、様々な方法で実現しうる。

<実施形態８：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図２１に示した。本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（２１０１）と、「係数取得部」（２１０２）と、「第二判断部」（２１０３）と、「第二追加テスト記録部」（２１０４）と、「多少関係算出部」（２１０５）と、「第二小さめ設定部」（２１０６）と、「第二大きめ設定部」（２１０７）と、を有する。

「第一テスト記録部」（２１０１）と、「係数取得部」（２１０２）と、「第二判断部」（２１０３）と、「第二追加テスト記録部」（２１０４）は実施形態２と同様であるので説明は省略する。

「多少関係算出部」（２１０５）は、テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する機能を有する。すなわち、多少関係算出部は、前述した多少関係算出ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は多少関係算出プログラム及びアシンメトリ値の記録パワー依存データをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み多少関係算出プログラムを実行する。そして、算出された多少関係をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。

「第二小さめ設定部」（２１０６）は、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも小さめに設定する機能を有する。すなわち、第二小さめ設定部は、前述した第二小さめ設定ステップにおける処理と同様の処理を実行する。算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は第二小さめ設定プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、パワーレンジを小さめに設定して再度テスト記録を実行する。

「第二大きめ設定部」（２１０７）は、算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを第一パワーレンジよりも大きめに設定する機能を有する。すなわち、第二大きめ設定部は、前述した第二大きめ設定ステップにおける処理と同様の処理を実行する。算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は第二大きめ設定プログラム及び追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み、パワーレンジを大きめに設定して再度テスト記録を実行する。

<実施形態８：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録のパワーレンジの初期設定が適切でなかった場合にはテスト記録によって得られたアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつデータの数及び小さい値をもつデータの数の関係により、パワーレンジをシフトして追加テスト記録を実行するので、より確実に最適記録パワー値を決定することができる。
<<実施形態９>>

<実施形態９：概要>本実施形態は、実施形態１に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、追加テスト記録によって改めて算出された最適記録パワーが再び追加テストを実行すべき条件に合致するときは所定回数、追加テスト記録を繰り返すことを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態９：構成>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、第一追加テスト記録に基づいて得られた第二最適記録パワーが追加テストを実行すべき条件に合致する場合には同様に追加テスト記録を所定回数に至るまで繰り返す。第一追加テスト記録に基づいて第二最適記録パワーを得る手順は、実施形態１において第一テスト記録に基づいて第一最適記録パワーを得る手順と同様である。また、「追加テストを実行すべき条件」とは、得られた第二最適記録パワーが追加テストのパワーレンジ外であるという条件である。追加テスト記録は所定回数に至るまで繰り返す。所定回数とは１０ないし２０回程度である。所定回数を繰り返しても「追加テストを実行すべき条件」に合致するときにはテスト記録を実行している光ディスクに適切な記録を行うことは難しい判断し、光ディスクへの記録は行わない。また、リトライ回数を光ディスク装置に付随のインジケータ等に表示するようにしても良い。利用者は最適記録パワーを決定するのに何度テスト記録をする必要があったのかを知ることで、光記録媒体の痛み具合や性能を知ることができる。

本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「繰返テスト記録部」を有する。「繰返テスト記録部」は、第一追加テスト記録に基づいて得られた第二最適記録パワーが追加テストを実行すべき条件に合致する場合には同様に追加テスト記録を所定回数に至るまで繰り返し実行する機能を有する。すなわち、繰返テスト記録部は、前述した本実施形態に係る最適記録パワー決定方法における処理と同様の処理を実行する。第一追加テスト記録に基づいて得られた第二最適記録パワーが追加テストを実行すべき条件に合致する場合には、ＣＰＵ（２５１０）は繰返テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み実行する。繰返テスト記録プログラムにおいては、テスト記録プログラムにおけるパワーレンジをシフトしたパワーレンジを再設定し、再度テスト記録を実行する。繰返テスト記録プログラムは追加テストを実行すべき条件に合致する度にＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込まれ、実行される。

<実施形態９：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録の結果算出される最適記録パワーがテスト記録のパワーレンジ外であればテスト記録を繰り返すので最初のテスト記録で最適記録パワーを決定できない場合も何度か繰り返しテスト記録を行うことで最適記録パワーを決定することができる。また、繰り返し回数に制限を設けているので、最適記録パワーが決定できないような光ディスクに対してテスト記録を無限に繰り返すことはない。
<<実施形態１０>>

<実施形態１０：概要>本実施形態は、実施形態１に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、最終的に得る最適記録パワーはその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあることを条件として最終的な最適記録パワーであると判断することを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態１０：構成>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法は、「最終判断ステップ」を有する。「最終判断ステップ」は、最終的に得る最適記録パワーはその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあることを条件として最終的な最適記録パワーであると判断するステップである。「最終的に得る最適記録パワー」とは、光ディスクへの記録を行う際に設定する記録パワーのことである。「最終的に得る最適記録パワー」はテスト記録のパワーレンジ内にあることを条件として判断される。

本実施形態に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「最終判断部」を有する。「最終判断部」は、最終的に得る最適記録パワーはその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあることを条件として最終的な最適記録パワーであると判断する機能を有する。すなわち、最終判断部は、前述した最終判断ステップにおける処理と同様の処理を実行する。このとき、ＣＰＵ（２５１０）は最終判断プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み実行する。算出された最適記録パワーがその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあるとの判断をした場合には、その算出された最適記録パワー値をＲＡＭ（２５２０）の記憶データ領域に格納、保持する。そして、ドライバーへその最適記録パワー値を出力し記録を行う際に光ピックアップが出力するレーザ光のパワーの設定を行う。算出された最適記録パワーがその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にないとの判断をした場合には、再度テスト記録を行う。

<実施形態１０：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録の結果算出される最適記録パワーがテスト記録のパワーレンジ内であると判断したときに最適記録パワーとして採用するので、必ず最終的に取得する最適記録パワーの周辺でテスト記録を行っているということになる。このため、より信頼性の高い最適記録パワーを得ることが可能である。
<<実施形態１１>>

<実施形態１１：概要>本実施形態は、実施形態１から１０に係る最適記録パワー決定方法を光記録媒体に対する実書込ごとに事前に実行することを特徴とする実書込方法及び光ディスク装置について説明する。

<実施形態１１：構成>本実施形態に係る実書込方法は、光記録媒体に対して最適記録パワー決定方法を実書込ごとに事前に実行する。また、光ディスク装置は実書込ごとに事前に光記録媒体に対する最適記録パワーを決定する。その理由は、ディスクメーカが各ディスクのＣＤＺに記述する推奨記録条件は、ディスクメーカがその保有する記録試験装置により、ある特定の時点で調整されたものであるので、それと同一では無い光ディスク装置でそれらの推奨値をそのまま使っても芳しい結果が得られる保証は全くないからである。つまり、同じストラテジ、同じパワーでレーザを照射したとしても同じ記録状態になるという保証は無く、特にＤＶＤ−Ｒの様な色素系の記録媒体では個体差や温度の違いのよりレーザの波長が変動し、レーザ波長が変動すると吸収率が変わる。そこで、目標アシンメトリ値を保持しておき、それと同一のアシンメトリとなる様に個々のドライブで、個々の記録の前にパワーを変化させる方が、個体差や温度の変動を吸収出来、記録状態はより良くなることが期待出来る。ただし、最適な記録が行えた時のパワーの値を参考データとして各ディスクに保持しておき、記録パワーを変化させる初期値を決定するために利用することは可能である。

<実施形態１１：効果>本実施形態に係る実書込方法及び光ディスク装置によれば、光記録媒体に対する実書込ごとにテスト記録を行って最適記録パワーを決定するので、個体差や温度等の環境の変化にも対応し、記録時毎の状況に応じた最適の記録を行うことが可能である。
<<実施形態１２>>

<実施形態１２：概要>本実施形態は、実施形態１から１０に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置を基本とし、最適記録パワーを決定するために行われる全てのテスト記録は光記録媒体に予め定められているテスト領域にて行うことを特徴とする最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施形態１２：構成>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置のテスト記録ステップ及びテスト記録部は全て光記録媒体に予め定められているテスト領域にてテスト記録を実行する。「予め定められているテスト領域」とは、光ディスクに設けられているいわゆるＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ）と呼ばれる領域のことである。

<実施形態１２：効果>本実施形態に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、全てのテスト記録を光記録媒体に予め定められているテスト領域にて実行し、信頼性の高い最適記録パワーを得てから記録管理領域に記録管理データの書き込みを行うので、記録管理領域に再生不能のデータを書いてしまう危険性はない。
<<実施例>>

<実施例：概要>本実施例は、実施形態１から１２を組み合わせて最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置について説明する。

<実施例：最適記録パワーの決定方法>
図２２は、本実施例に係る最適記録パワー決定方法の処理フローの一例を示す図である。本実施例に係る最適記録パワー決定方法は、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ２２０１）と、「変化情報取得ステップ」（Ｓ２２０２）と、「第三判断ステップ」（Ｓ２２０３）と、「追加テスト記録ステップ」（Ｓ２２０４）と、「係数取得ステップ」（Ｓ２２０５）と、「第二判断ステップ」（Ｓ２２０６）と、「式取得ステップ」（Ｓ２２０７）と、「第一計算ステップ」（Ｓ２２０８）と、「最終判断ステップ」（Ｓ２２０９）と、を有する。

「第一テスト記録ステップ」（Ｓ２２０１）と、「変化情報取得ステップ」（Ｓ２２０２）と、「第三判断ステップ」（Ｓ２２０３）と、「係数取得ステップ」（Ｓ２２０５）と、「第二判断ステップ」（Ｓ２２０６）と、「式取得ステップ」（Ｓ２２０７）と、「第一計算ステップ」（Ｓ２２０８）、「最終判断ステップ」（Ｓ２２０９）は実施形態１から３及び１０と同様であるので説明は省略する。

「追加テスト記録ステップ」（Ｓ２２０４）は、実施形態２及び３において追加テストをすべきであるとの判断結果であった場合にパワーレンジをシフトして追加テスト記録を実行するステップである。また、「最終判断ステップ」（Ｓ２２０９）においての判断がＮＯであった場合にも実行される。

具体例を用いて説明する。ここで、「第三判断ステップ」の「所定の条件」とは合計値ＳがＳ<１２ｏｒ３０<Ｓであるとする。また、「第二判断ステップ」の「所定の閾値」とは相関係数が０．９であるとする。まず、「第一テスト記録ステップ」（Ｓ２２０１）を実行する。第一パワーレンジは、１０ｍＷ〜１４ｍＷである。このとき得られたアシンメトリ値対記録パワー値のグラフが図２３（ａ）であり、「変化情報取得ステップ」（Ｓ２２０２）にて第一テスト記録結果から変化情報を取得する。第一テスト記録のテストパワーレンジにおいてはアシンメトリ値が全体的に小さく、合計値Ｓは１０であった。これは、「第三判断ステップ」（Ｓ２２０３）の「所定の条件」に当てはまるので、テスト記録のパワーレンジをシフトして「追加テスト記録ステップ」（Ｓ２２０４）にて追加テスト記録を実行する。ここでは、最適記録パワーを含むと予想される側であり、かつ第一パワーレンジと重複せず隣接するパワーレンジを選択する。現状ではアシンメトリ値が全体的に小さいので最適記録パワーはパワーの大きいほうに存在すると考えられる。そこで、追加テスト記録のパワーレンジとして１４ｍＷ〜１８ｍＷを選択する。追加テスト記録により得られたアシンメトリ値対記録パワー値のグラフが図２３（ｂ）である。次に、「変化情報取得ステップ」（Ｓ２２０２）にて追加テスト記録結果から変化情報を取得する。追加テストにおいては、合計値Ｓは１６であり、「第三判断ステップ」（Ｓ２２０３）の「所定の条件」に当てはまらないので、次の「係数取得ステップ」を実行する。ここで得られた相関係数は０．９７である。これは、「第二判断ステップ」（Ｓ２２０６）の「所定の閾値」を下回らないと判断し、次の「式取得ステップ」（Ｓ２２０７）を実行する。図２３（ｃ）のように式が、ｙ＝３．２ｘ−５６．６と取得され、「第一計算ステップ」（Ｓ２２０８）にて第一最適記録パワーが決定される。第一最適記録パワーは１７．７ｍＷとなる。「最終判断ステップ」（Ｓ２２０９）にて、最適記録パワーはその最適記録パワーを得るために実行されたテスト記録のパワーレンジ内にあると判断し、これを最終的な最適記録パワーとして決定する。

<実施例：光ディスク装置>
光ディスク装置全体の概念図は図１のようになるが、本件発明において特徴的であるコントローラについての機能ブロック図を図２４に示した。本実施例に係る最適記録パワーを決定する光ディスク装置は、「第一テスト記録部」（２４０１）と、「変化情報取得部」（２４０２）と、「第三判断部」（２４０３）と、「追加テスト記録部」（２４０４）と、「係数取得部」（２４０５）と、「第二判断部」（２４０６）と、「式取得部」（２４０７）と、「第一計算部」（２４０８）と、「最終判断部」（２４０９）と、を有する。

「第一テスト記録部」（２４０１）と、「変化情報取得部」（２４０２）と、「第三判断部」（２４０３）と、「係数取得部」（２４０５）と、「第二判断部」（２４０６）と、「式取得部」（２４０７）と、「第一計算部」（２４０８）と、「最終判断部」（２４０９）は実施形態１から３及び１０と同様であるので説明は省略する。

「追加テスト記録部」（２４０４）は、実施形態２及び３において追加テストをすべきであるとの判断結果であった場合にパワーレンジをシフトして追加テスト記録を実行する機能を有する。また、「最終判断部」（２４０９）においての判断がＮＯであった場合にも実行する。すなわち、追加テスト記録部は、前述した追加テスト記録ステップにおける処理と同様の処理を実行する。判断結果が追加テストをすべきであるとの判断結果である場合には、ＣＰＵ（２５１０）は追加テスト記録プログラムをＲＡＭ（２５２０）のワーク領域に読み込み実行する。追加テスト記録プログラムにおいては、テスト記録プログラムにおけるパワーレンジをシフトしたパワーレンジを再設定し、再度テスト記録を実行する。

<実施例：効果>本実施例に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置によれば、テスト記録の結果取得したアシンメトリ値対記録パワーのデータから変化異常や相関係数を検討して最適記録パワーを算出するべきかパワーレンジを変更して再度テスト記録を実行するべきかを判断するため、テスト記録のパワーレンジが全く適当でないときに最適記録パワーを算出することはない。さらに、最適記録パワーがテスト記録のパワーレンジ内であることを条件に最適記録パワー値を決定するので信頼性の高い最適記録パワーを得ることが可能である。

実施形態１に係る最適記録パワー決定方法及び最適記録パワーを決定する光ディスク装置の概念を示す一例図 実施形態１に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態１を説明する「アシンメトリ値−記録パワー」のグラフ 実施形態１に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態２に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態２を説明する「アシンメトリ値−記録パワー」のグラフ 実施形態２に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態３に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態３を説明する「アシンメトリ値−記録パワー」のグラフ 実施形態３に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態４に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態４から６のパワーレンジシフトを説明する図 実施形態４に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態５に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態５に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態６に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態６に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態７に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態７に係るコントローラの機能ブロック図 実施形態８に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施形態８に係るコントローラの機能ブロック図 実施例に係る最適記録パワー決定方法の処理フローを示す図 実施例を説明する「アシンメトリ値−記録パワー」のグラフ 実施例に係るコントローラの機能ブロック図 一般的なコンピュータの構成の一例図

符号の説明

０１０１ 光ディスク
０１０２ 光ピックアップ
０１０３ スピンドルモータ
０１０４ ヘッドアンプ
０１０５ サーボ検出機構
０１０６ ＲＦ検出機構
０１０７ 信号処理機構
０１０８ デコーダ
０１０９ コントローラ
０１１０ ドライバー
０１１１ フォーカス制御機構
０１１２ トラッキング制御機構
０１１３ 所定の記録領域

Claims (6)

1. 光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する方法であって、
   予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録ステップと、
   テスト記録ビットを読取り、記録パワーと、記録パワーが大きくなるにつれて通常単調増加を示すアシンメトリ値との、アシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する係数取得ステップと、
   取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する第二判断ステップと、
   判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する第二追加テスト記録ステップと、を有し、
   前記第二追加テスト記録ステップは、
   テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する大小関係算出ステップと、
   算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその上限を第一パワーレンジの上限よりも小さく設定する第一小さめ設定ステップと、
   算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその下限を第一パワーレンジの下限よりも大きく設定する第一大きめ設定ステップと、
   を有する最適記録パワー決定方法。
2. 光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する方法であって、
   予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録ステップと、
   テスト記録ビットを読取り、記録パワーと、記録パワーが大きくなるにつれて通常単調増加を示すアシンメトリ値との、アシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する係数取得ステップと、
   取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する第二判断ステップと、
   判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する第二追加テスト記録ステップと、を有し、
   前記第二追加テスト記録ステップは、
   テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する多少関係算出ステップと、
   算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその上限を第一パワーレンジの上限よりも小さく設定する第二小さめ設定ステップと、
   算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその下限を第一パワーレンジの下限よりも大きく設定する第二大きめ設定ステップと、
   を有する最適記録パワー決定方法。
3. 請求項１または２に記載の最適記録パワー決定方法であって、テスト記録ステップは全て光記録媒体に予め定められているテスト領域にてテスト記録を実行する最適記録パワー決定方法。
4. 光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、
   予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録部と、
   テスト記録ビットを読取り、記録パワーと、記録パワーが大きくなるにつれて通常単調増加を示すアシンメトリ値との、アシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する係数取得部と、
   取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する第二判断部と、
   判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する第二追加テスト記録部と、を有し、
   前記第二追加テスト記録部は、
   テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値の平均値と予め定められた目標アシンメトリ値との大小関係を算出する大小関係算出部と、
   算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその上限を第一パワーレンジの上限よりも小さく設定する第一小さめ設定部と、
   算出された大小関係が予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さいとの判断結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその下限を第一パワーレンジの下限よりも大きく設定する第一大きめ設定部と、
   を有する光ディスク装置。
5. 光記録媒体に対して最適記録を行うための最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、
   予め定められた第一パワーレンジでテスト記録を実行する第一テスト記録部と、
   テスト記録ビットを読取り、記録パワーと、記録パワーが大きくなるにつれて通常単調増加を示すアシンメトリ値との、アシンメトリ値−記録パワーの相関係数を取得する係数取得部と、
   取得した相関係数が所定の閾値を下回るか判断する第二判断部と、
   判断結果が下回るとの判断結果である場合に第二追加テスト記録を実行する第二追加テスト記録部と、を有し、
   前記第二追加テスト記録部は、
   テスト記録ビットを読取って得たアシンメトリ値のうち予め定められた目標アシンメトリ値よりも大きい値をもつアシンメトリ値のデータ数と予め定められた目標アシンメトリ値よりも小さい値をもつアシンメトリ値のデータ数との多少関係を算出する多少関係算出部と、
   算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも多いとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその上限を第一パワーレンジの上限よりも小さく設定する第二小さめ設定部と、
   算出された多少関係が目標アシンメトリ値よりも大きな値のデータ数が目標アシンメトリ値よりも小さな値をもつデータ数よりも少ないとの結果である場合には第二追加テスト記録のパワーレンジを、第一パワーレンジと同じレンジ幅でその下限を第一パワーレンジの下限よりも大きく設定する第二大きめ設定部と、
   を有する光ディスク装置。
6. 請求項４または５に記載の光ディスク装置であって、テスト記録部は全て光記録媒体に予め定められているテスト領域にてテスト記録を実行する光ディスク装置。

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