JP4623658B2 - 光情報記録装置および光情報記録方法 - Google Patents
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Description
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスクに固有の記録パラメータ(以下、これをライトストラテジという。)を定めて良好な記録品質を維持する方式が採用されているが、使用する個々の光ディスク固有のライトストラテジを決定するためには、開発者の負担が大きく、しかも、情報記録装置の開発終了後に発売されるような光情報記録媒体に対するライトストラテジの対応が難しいという問題がある。
請求項1に係る発明は、所定のライトストラテジに従って記録パルス光を生成し、生成した記録パルス光を光記録媒体に照射することにより当該光記録媒体上にマーク及びスペースの並びを形成して情報を記録する光情報記録装置であって、前記所定のライトストラテジに従って、前記光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させるテスト記録手段と、前記テスト記録手段により前記光記録媒体にテスト記録された情報を読み取り、前記マーク及びスペースに応じた2値の再生信号を生成する再生信号生成手段と、所定周波数のクロックを生成するクロック生成手段と、前記再生信号生成手段で生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、当該エッジのタイミングと前記クロック生成手段で生成された前記クロックとのずれを検出する検出手段と、前記検出手段により前記エッジ毎に検出された前記ずれが全て一致するように、前記所定のライトストラテジを前記マーク毎に補正する補正手段と、を備えることを特徴とする光情報記録装置を提案している。
光記録媒体に情報を記録するために用いられるライトストラテジの品質は、一般に、再生ジッタにより評価される。この再生ジッタを最適化する手法としては、光記録媒体に記録されるそれぞれのマークおよびスペースの記録長が理論長と一致するように、ライトストラテジを調整する方法が考えられる。具体的には、光記録媒体の基準ライトストラテジにより、マークおよびスペースを記録し、これを再生してそれぞれのマークおよびスペースの記録長を求めるとともに、これらの記録長が理論長に一致するよう基準ライトストラテジを構成するそれぞれの記録パルス幅を調整する。
差分検出部5は、データデコーダ4から二値化信号とクロック信号を入力し、各マークごとに、クロック信号により定まる各マークの理論パルス信号エッジと二値化信号中の当該マークに対応する再生パルス信号の立ち上がりエッジとの差分値および理論パルス信号のエッジと再生パルス信号の立ち下がりエッジとの差分値を検出する。この差分値が「クロック信号とのずれ量」に対応する。
まず、制御部9は、ROM6から基準のライトストラテジに関するパラメータを読み出して、記録パルス列補正部10にこれらのパラメータをセットする。記録パルス列補正部10はセットされたパラメータに基づいて、記録パルス列を生成して、これをレーザ駆動部13に出力する。レーザ駆動部13は、入力した基準ライトストラテジに対応する記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ2内の図示しない半導体レーザに供給することにより、光ディスク1内の試し書きエリアにマークおよびスペースの記録を行う(ステップ101)。
DL3−(FL3*n1+RL3*n2)=k
DT3−(FT3*n1+RT3*n2)=k
DL4−(FL4*n3+RL4*n4)=k
DT4−(FT4*n3+RT4*n4)=k
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また、隣接マークからの熱干渉の影響が少ない場合は、変化を与えたエッジのみの効果として、以下の連立方程式を解くことで、n1、n2、n3・・・の値を求めることもできる。
DL3−FL3*n1=k
DT3−RT3*n2=k
DL4−FL4*n3=k
DT4−RT4*n4=k
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第1の実施形態では、特定のマークに着目し、特定のマークに対応する記録パルス信号の立ち上がりエッジあるいは立下りエッジを所定量変化させると、その影響が再生パルス信号の立ち上がりエッジおよび立下りエッジに現れることを述べた。しかし、実際には、図6に示すように、特定のマークに対応する記録パルス信号の立ち上がりエッジあるいは立下りエッジを所定量変化させると、その影響は再生パルス信号の立ち上がりエッジおよび立下りエッジのみならず、スペースを挟んだ隣接するマークにも及ぶ。
本実施形態に係る光情報記録装置の基本的な構成は、図1に示される第1の実施形態に係る光情報記録装置の構成と同様であるが、ライトストラテジ設定のための調整の対象を特定のマークとスペースの組み合わせとするため、差分検出部5は、特定のマークとスペースおよびスペースとマークの組み合わせごとに、その差分値を検出する。また、ROM6には、差分検出部5により検出された特定のマークとスペースの組み合わせについての差分値をすべて一定値とするために用いられる補正値等が格納され、RAM7には、差分検出部5において検出された特定のマークとスペースの組み合わせごとの差分値やライトストラテジ設定部8において設定されたライトストラテジ等が一時的に記憶される。
まず、制御部9は、ROM6から基準のライトストラテジに関するパラメータを読み出して、記録パルス列補正部10にこれらのパラメータをセットする。記録パルス列補正部10はセットされたパラメータに基づいて、基準ライトストラテジを生成して、これをレーザ駆動部13に出力する。レーザ駆動部13は、入力した基準ライトストラテジに対応する記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ2内の図示しない半導体レーザに供給することにより、光ディスク1内の試し書きエリアにマークおよびスペースの記録を行う(ステップ201)。
DLm=FLm*n(2m-5)+RLm*n(2m-4)+k
DTm=FTm*n(2m-5)+RTm*n(2m-4)+k
W=D1/{(D2−D1)/(S2−S1)}
で算出する。このため、測定誤差が分母、分子の両方の影響を受けるので、測定誤差の影響が大きくなるという問題がある。
(2)図24に示すような熱干渉歪みが発生する場合、誤ったライトストラテジの設定をしてしまう問題がある。
(3)最低でも2回のテスト記録が必要なため、光ディスクのテストエリアの使用量が増すだけではなく、ストラテジの設定時間が長くかかると言う問題がある。
(1)W=D1/a(D1:実測値、a:保存値)で求められるため、誤差の影響が分子のみとなる。
(2)熱干渉歪の影響が少ない。
(3)1回の記録で最適ストラテジが算出できるため、記憶エリア、動作時間が少なくて済む。
(1)光ディスク装置に記憶した固有変化量を使ってストラテジの最適化を行うため、すべての光ディスクに対する固有変化量を前もって設定する必要がある。また、もし対応していない光ディスクに記録を行う場合、ストラテジの最適化ができないことになる。
(2)すべての光ディスクに対する固有変化量を保存しなければならないので記憶容量の大きいROM6が必要になる。
2・・・光ピックアップ
3・・・ヘッドアンプ
4・・・データデコーダ(再生信号生成手段、クロック信号生成手段)
5・・・差分検出部(検出手段)
6・・・ROM
7・・・RAM
8・・・ライトストラテジ設定部(補正手段)
9・・・制御部(テスト記録手段)
10・・・記録パルス列補正部
11・・・コントローラ
12・・・データエンコーダ
13・・・レーザ駆動部
Claims (4)
- 所定のライトストラテジに従って記録パルス光を生成し、生成した記録パルス光を光記録媒体に照射することにより当該光記録媒体上にマーク及びスペースの並びを形成して情報を記録する光情報記録装置であって、
前記所定のライトストラテジに従って、前記光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させるテスト記録手段と、
前記テスト記録手段により前記光記録媒体にテスト記録された情報を読み取り、前記マーク及びスペースに応じた2値の再生信号を生成する再生信号生成手段と、所定周波数のクロックを生成するクロック生成手段と、前記再生信号生成手段で生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、当該エッジのタイミングと前記クロック生成手段で生成された前記クロックとのずれを検出する検出手段と、前記検出手段により前記エッジ毎に検出された前記ずれが全て一致するように、前記所定のライトストラテジを前記マーク毎に補正する補正手段と、を備え、
各マークの前記エッジ毎に、前記所定のライトストラテジに対して当該エッジのタイミングのみを所定量変化させるライトストラテジを設定し、当該設定したライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号におけるエッジと、前記所定のライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号における対応するエッジとのタイミングの変化量が、当該エッジの固有変化量として予め記憶された記憶手段を備え、
前記補正手段が、前記ずれと、前記記憶手段に記憶されている固有変化量との和が、全てのマークのエッジで一致するよう、前記所定のライトストラテジの補正量を定め、
前記記憶手段に記憶されている固有変化量は、前記光記録媒体の種類、記録速度、RF信号補正の設定に応じた値を設定することを特徴とする光情報記録装置。 - 前記テスト記録手段が、
各マークの前記エッジ毎に、前記所定のライトストラテジに対して当該エッジのタイミングのみを所定量変化させるライトストラテジを設定し、当該設定したライトストラテジに従ったテスト記録をさらに実行し、
前記補正手段が、
各マークの前記エッジ毎に、前記テスト記録手段により当該エッジのタイミングを所定量変化させるライトストラテジに従ってテスト記録された情報を読み取って得られた再生信号におけるエッジと、前記所定のライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号における対応するエッジとのタイミングの変化量を当該エッジの固有変化量として求め、
該求めた固有変化量に基づいて、前記所定のライトストラテジの補正量を定め、
各前記エッジの固有変化量が、前記ライトストラテジの設定でタイミングを前記所定量ずらした当該エッジ、及び当該エッジとマークを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含み、
前記所定量ずらしたエッジとマークを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含む場合は、高速記録時や3T、4Tに代表される短い信号のときであることを特徴とする請求項1に記載の光情報記録装置。 - 各前記エッジの固有変化量が、当該エッジを挟むマークとスペースとの組み合わせ毎に定められ、前記ライトストラテジの設定でタイミングを前記所定量ずらした当該エッジ、当該エッジとマークを挟んで隣接するエッジ、及び当該エッジとスペースを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含み、
前記所定量ずらしたエッジとマークを挟んで隣接するエッジ、及び当該エッジとスペースを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含む場合は、高速記録時や3T、4Tに代表される短い信号のときであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光情報記録装置。 - 前記所定のライトストラテジによりテスト記録された情報を前記再生信号生成手段で生成し、この再生信号の記録品位を測定し、前記測定された記録品位が良好な場合には請求項3に記載の固有変化量に基づいて前記所定のライトストラテジの補正量を定め、
SA前記記録品位が低い場合には請求項2に記載の固有変化量に基づいて前記所定のライトストラテジの補正量を定めることを特徴とする請求項1に記載の光情報記録装置。
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