JP4557017B2 - 磁気記録媒体用支持体 - Google Patents
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Description
Rtが5nm以下であると、蒸着フィルムを加湿下で巻き返す工程において走行性が不安定になりフィルム表面に傷が付きやすくなったり、ブロッキングが生じ易くなる。さらに、Rtが30nmを超えると高密度記録の磁気テープとして用いる場合に、磁性面側が粗くなり、電磁変換特性が低下することがある。
また、本発明の支持体に用いるポリエステルフィルムを同時二軸延伸する場合は、未延伸フィルムを、同時二軸延伸テンターに導いて、長手および幅方向に同時に二軸延伸を行う。延伸速度は長手、幅方向ともに100〜20,000%/分の範囲で行うのが好ましい。より好ましくは、500〜10,000%/分、さらに好ましくは2,000〜7,000%/分である。延伸速度が100%/分よりも小さい場合には、フィルムが熱にさらされる時間が長くなるため、特にエッジ部分が結晶化して延伸破れの原因となり製膜性が低下したり、十分に分子配向が進まず、製造したフィルムのヤング率が低下することがある。また、20,000%/分よりも大きい場合には、延伸時点で分子間の絡み合いが生成しやすくなり、延伸性が低下して、高倍率の延伸が困難となることがある。
(磁性塗料の組成)
・強磁性金属粉末 : 100重量部
・変成塩化ビニル共重合体 : 10重量部
・変成ポリウレタン : 10重量部
・ポリイソシアネート : 5重量部
・ステアリン酸 : 1.5重量部
・オレイン酸 : 1重量部
・カーボンブラック : 1重量部
・αアルミナ : 10重量部
・メチルエチルケトン : 75重量部
・シクロヘキサノン : 75重量部
・トルエン : 75重量部
(非磁性塗料の組成)
・変成ポリウレタン : 10重量部
・変成塩化ビニル共重合体 : 10重量部
・メチルエチルケトン : 75重量部
・シクロヘキサノン : 75重量部
・トルエン : 75重量部
・ポリイソシアネート : 5重量部
・ステアリン酸 : 1.5重量部
・オレイン酸 : 1重量部
(バックコートの組成)
・カーボンブラック(平均粒径20nm) : 95重量部
・カーボンブラック(平均粒径280nm): 10重量部
・αアルミナ : 0.1重量部
・変成ポリウレタン : 20重量部
・変成塩化ビニル共重合体 : 30重量部
・シクロヘキサノン : 200重量部
・メチルエチルケトン : 300重量部
・トルエン : 100重量部
また、磁気記録媒体の具体的な用途としては、例えば、データ記録用途、具体的にはコンピュータデータのバックアップ用途や映像などのデジタル画像の記録用途などに好適に用いることができる。
本発明における特性値の測定方法並びに効果の評価方法は次の通りである。
下記条件にて断面観察を場所を変えて10視野行い、得られた厚み[nm]の平均値を算出し、M層の厚み[nm]とする。
測定条件:加速電圧 100kV
測定倍率:20万倍
試料調整:超薄膜切片法
観察面 :TD−ZD断面(TD:幅方向、ZD:厚み方向)
測定回数:1視野につき3点、10視野を測定する。
下記条件にて、深さ方向の組成分析を行う。炭素濃度が50at.%を超える深さをM層とポリエステルフィルムとの界面とし、表層から界面までを等分に5分割し、それぞれの区間の中央点を測定点として組成分析を行う。得られた各測定点の組成から平均値を算出し、本発明における平均組成とする。
励起X線:monochromatic AlKα1,2線(1486.6eV)
X線径 :100[μm]
光電子脱出角度:45°
ラスター領域:2×2[mm]
Arイオンエッチング: 2.0[kV] 1.5×10−7[Torr]
スパッタ速度:3.68nm/min(Si2O換算値)
データ処理:9−point smoothing
ピークの結合エネルギー値から元素情報が得られ、各ピークの面積比を用いて組成を定量化(at.%)する。
原子間力顕微鏡を用いて、場所を変えて20視野測定を行った。得られた画像について、三次元面粗さをOff-Line機能のRoughness Analysisにて算出し、中心線平均粗さRa、最大突起高さRt、突起個数(ピーク数)、平均突起高さを測定した。条件は下記のとおりであり、突起高さのしきい値を、1nm,5nm,10nmに設定して各しきい値以上の高さを有する突起の個数をOff-Line機能のGrain Size Analysisにて求め、高さ1nm以上10nm以下の突起個数および高さ5nm以上10nm以下の突起個数を計測した。
カンチレバー:シリコン単結晶
走査モード :タッピングモード
走査範囲 :1μm□
走査速度 :0.5Hz
Flatten Auto :オーダー3
Peak Thresh ref(しきい値の基準): ZERO
Height Threshold(高さのしきい値):1nm、5nm、10nm
(4)全光線透過率およびその斑
JIS−K7105(1981年)に準拠し、下記測定装置を用いて測定する。支持体中央部について長手方向に5箇所透過率を測定し測定結果の平均値を本発明における全光線透過率とする。
光源 :ハロゲンランプ12V、50W
受光特性:395〜745nm
測定環境:温度23℃湿度65%RH
測定回数:5回測定する。
測定装置:真空理工(株)製TMA TM−3000、加熱制御部TA−1500
試料サイズ:幅4mm×試長間15mm
荷重:0.5g
試料前処理温度:23℃→50℃→23℃
昇温速度 :1℃/分
測定温度 :23℃→50℃
前処理後、再度23℃から50℃まで、上記昇温レートにて昇温し、その時の30℃から40℃でのフィルムの変化量ΔL[μm]を測定し、次式から温度膨張係数[ppm/℃]を算出した。
(6)湿度膨張係数
下記条件にて測定を行い、3回の測定結果の平均値を本発明における湿度膨張係数とする。
試料サイズ:幅10mm×試長間200mm
荷重:10g
測定回数:3回
測定温度:30℃
測定湿度:40%RHで6時間保持し寸法を測定し、昇湿速度1[%RH/分]で80%RHまで昇湿し、80%RHで6時間保持したあと寸法変化量ΔL[mm]を測定した。次式から湿度膨張係数[ppm/%RH]を算出した。
なお、Ma層、Mb層を除去する方法は、1Nの塩酸に30分浸積させて両面の補強層を除去し、その後、上記の方法で湿度膨張係数を行なう。
ASTM−D882(1997年)に規定された方法に従って、インストロンタイプの引張試験機を用いて測定した。測定は下記の条件とした。
“テンシロンAMF/RTA−100”
試料サイズ:幅10mm×試長間100mm、
引張り速度:200mm/分
測定環境:温度23℃、湿度65%RH
(8)粒子の平均粒径(分散径)
フィルム断面を透過型電子顕微鏡(TEM)を用い、1万倍で観察する。この時、写真上で1cm以下の粒子が確認できた場合はTEM観察倍率をさらに高倍率、5〜10万倍の倍率で観察する。TEMの切片厚さは約100nmとし、場所を変えて100視野以上測定する。測定した等価円相当径の平均を不活性粒子の平均粒径とした。
ポリマー1gを1N−KOHメタノール溶液200mlに投入して加熱還流し、ポリマーを溶解した。溶解が終了した該溶液に200mlの水を加え、ついで該液体を遠心分離器にかけて粒子を沈降させ、上澄み液を取り除いた。粒子にはさらに水を加えて洗浄、遠心分離を2回繰り返した。このようにして得られた粒子を乾燥させ、その重量を量ることで粒子の含有量を算出した。
装置 :ブルカー社製BRUKER DRX-500
溶媒 :HFIP/重クロロホルム
観測周波数 :499.8MHz
基準 :TMS(テトラメチルシラン)(0ppm)
測定温度 :30℃
観測幅 :10KHz
データ点 :64K
acquisition time :4.952秒
pulse delay time:3.048秒
積算回数 :256回
(10)固有粘度
オルトクロロフェノール中、25℃で測定した溶液粘度から下式から計算する。
ここで、ηsp=(溶液粘度/溶媒粘度)−1、Cは溶媒100mlあたりの溶解ポリマー重量(g/100ml、通常1.2)、Kはハギンス定数(0.343とする)である。また、溶液粘度、溶媒粘度はオストワルド粘度計を用いて測定した。
下記装置および条件で比熱測定を行い、JIS K7121(1987年)に従って決定した。
測定条件:
加熱温度 :270〜570K(RCS冷却法)
温度校正 :高純度インジウムおよびスズの融点
温度変調振幅:±1K
温度変調周期:60秒
昇温ステップ:5K
試料重量 :5mg
試料容器 :アルミニウム製開放型容器(22mg)
参照容器 :アルミニウム製開放型容器(18mg)
なお、ガラス転移温度は下記式により算出した。
(12)ポリエステルの融解温度(Tm)、融解熱(ΔHm)、結晶化度
示差走査熱量計としてセイコーインスツルメンツ社製DSC(RDC220)、データ解析装置として同社製ディスクステーション(SSC/5200)を用いて、サンプル約5mgをアルミニウム製受皿上300℃で5分間溶融保持し、急冷固化した後、室温から昇温速度20℃/分で昇温する。そのとき、観測される結晶融解ピーク面積から、ポリエステル100%結晶化度の理論値を除算して、結晶化度(%)を求めた。ポリエステル100%結晶化度の結晶融解熱量は、ポリエチレンテレフタレートの場合、140.1(J/g)であり、ポリエチレン−2,6−ナフタレートの場合、170.0(J/g)である。
実測の融解熱量(J/g)/完全結晶時の結晶融解熱量(文献値・J/g)×100
(12)磁性層の接着性
磁性層表面にポリエステルテープ(日東電工(株)製NO.31B)を圧着し、ASTM−D882(1997年)に規定された方法に従って、インストロンタイプの引張試験機を用いて測定した。測定は下記の条件とした。
“テンシロンAMF/RTA−100”
試料サイズ:幅10mm×試長間100mm、
引張り速度:200mm/分、500mm/分、1,000mm/分
測定環境:温度23℃、湿度65%RH
なお、密着性の判定は、引張り速度1,000mm/分で測定しても、ポリエステルテープ表面に磁性層が剥離しないものを密着性優、1,000mm/分では剥離するが、500mm/分では剥離しないものを良、500mm/分で磁性層が剥離するが、200mm/分では剥離しないものを可、200mm/分で磁性層が剥離するものを不可とした。
1m幅にスリットした支持体を、張力20kg/mで搬送させ、支持体の一方の表面(A)に下記組成の磁性塗料および非磁性塗料をエクストルージョンコーターにより重層塗布し(上層が磁性塗料で、塗布厚0.2μm、下層が非磁性塗料で塗布厚0.9μm)、磁気配向させ、乾燥温度100℃で乾燥させる。次いで反対側の表面(B)に下記組成のバックコートを塗布した後、小型テストカレンダー装置(スチール/ナイロンロール、5段)で、温度85℃、線圧200kg/cmでカレンダー処理した後、巻き取る。上記テープ原反を1/2インチ(1.27cm)幅にスリットし、パンケーキを作成する。次いで、このパンケーキから長さ200m分をカセットに組み込んで、カセットテープとする。
(磁性塗料の組成)
・強磁性金属粉末 : 100重量部
〔Fe:Co:Ni:Al:Y:Ca=70:24:1:2:2:1(重量比)〕
〔長軸長:0.09μm、軸比:6、保磁力:153kA/m(1,922Oe)、飽和磁化:146Am2 /kg(146emu/g)、BET比表面積:53m2 /g、X線粒径:15nm〕
・変成塩化ビニル共重合体(結合剤) : 10重量部
(平均重合度:280、エポキシ基含有量:3.1重量%、スルホン酸基含有量:8×10−5当量/g)
・変成ポリウレタン(結合剤) : 10重量部
(数平均分子量:25,000,スルホン酸基含有量:1.2×10−4当量/g、ガラス転移点:45℃)
・ポリイソシアネート(硬化剤) : 5重量部
(日本ポリウレタン工業(株)製コロネートL(商品名))
・2−エチルヘキシルオレート(潤滑剤) : 1.5重量部
・パルミチン酸(潤滑剤) : 1重量部
・カーボンブラック(帯電防止剤) : 1重量部
(平均一次粒子径:0.018μm)
・アルミナ(研磨剤) : 10重量部
(αアルミナ、平均粒子径:0.18μm)
・メチルエチルケトン : 75重量部
・シクロヘキサノン : 75重量部
・トルエン : 75重量部
(非磁性塗料の組成)
・変成ポリウレタン : 10重量部
(数平均分子量:25,000,スルホン酸基含有量:1.2×10−4当量/g、ガラス転移点:45℃)
・変成塩化ビニル共重合体 : 10重量部
(平均重合度:280、エポキシ基含有量:3.1重量%、スルホン酸基含有量:8×10−5当量/g)
・メチルエチルケトン : 75重量部
・シクロヘキサノン : 75重量部
・トルエン : 75重量部
・ポリイソシアネート : 5重量部
(日本ポリウレタン工業(株)製コロネートL(商品名))
・2−エチルヘキシルオレート(潤滑剤) : 1.5重量部
・パルミチン酸(潤滑剤) : 1重量部
(バックコートの組成)
・カーボンブラック : 95重量部
(帯電防止剤、平均一次粒子径0.018μm)
・カーボンブラック : 10重量部
(帯電防止剤、平均一次粒子径0.3μm)
・アルミナ : 0.1重量部
(αアルミナ、平均粒子径:0.18μm)
・変成ポリウレタン : 20重量部
(数平均分子量:25,000,スルホン酸基含有量:1.2×10−4当量/g、ガラス転移点:45℃)
・変成塩化ビニル共重合体 : 30重量部
(平均重合度:280、エポキシ基含有量:3.1重量%、スルホン酸基含有量:8×10−5当量/g)
・シクロヘキサノン : 200重量部
・メチルエチルケトン : 300重量部
・トルエン : 100重量部
カセットテープのカートリッジからテープを取り出し、下記恒温恒湿槽内へ図1のように作製したシート幅測定装置を入れ、幅寸法測定を行う。なお、図1に示すシート幅測定装置は、レーザーを使って幅方向の寸法を測定する装置で、磁気テープ9をフリーロール5〜8上にセットしつつ荷重検出器3に固定し、端部に荷重となる分銅4を吊す。この磁気テープ9にレーザー光10を発振すると、レーザー発振器1から幅方向に線状に発振されたレーザー光10が磁気テープ9の部分だけ遮られ、受光部2に入り、その遮られたレーザーの幅が磁気テープの幅として測定される。3回の測定結果の平均値を本発明における幅とする。
レーザー発振器1、受光部2:レーザー寸法測定機 キーエンス社製LS−5040
荷重検出器3:ロードセル NMB社製CBE1−10K
恒温恒湿槽:(株)カトー社製SE−25VL−A
荷重4:分銅(長手方向)
試料サイズ:幅1/2inch×長さ250mm
保持時間:5時間
測定回数:3回測定する。
(幅寸法変化率)
2つの条件でそれぞれ幅寸法(lA,lB)を測定し、次式にて寸法変化率を算出する。次の基準で寸法安定性を評価する。×を不合格とする。
B条件:29℃80%RH 張力0.6N
幅寸法変化率[ppm]=106×((lB−lA)/lA)
優:幅寸法変化率が0[ppm]以上500[ppm]未満
良:幅寸法変化率が500[ppm]以上800[ppm]未満
不良:幅寸法変化率が800[ppm]以上
(14)エラーレート
上記(13)で作製したカセットテープを、市販のIBM社製LTOドライブ3580−L11を用いて23℃50%RHの環境で記録・再生(記録波長0.55μm)することで評価する。エラーレートはドライブから出力されるエラー情報(エラービット数)から次式にて算出する。次の基準で寸法安定性を評価する。
優:エラーレートが1.0×10−6未満
良:エラーレートが1.0×10−6以上、1.0×10−4未満
不良:エラーレートが1.0×10−4以上
テレフタル酸ジメチル194重量部と不活性粒子(球状シリカ)を加えたエチレングリコール124重量部に、酢酸マグネシウム4水塩0.1重量部を加え、140〜230℃でメタノールを留出しつつエステル交換反応を行った。次いで、リン酸トリメチル0.05重量部のエチレングリコール溶液、および三酸化アンチモン0.05重量部を加えて5分間撹拌した後、低重合体を30rpmで攪拌しながら、反応系を230℃から290℃まで徐々に昇温するとともに、圧力を0.1kPaまで下げた。最終温度、最終圧力到達までの時間はともに60分とした。3時間重合反応させ所定の攪拌トルクとなった時点で反応系を窒素パージし常圧に戻して重縮合反応を停止し、冷水にストランド状に吐出、直ちにカッティングして固有粘度0.62のポリエチレンテレフタレートのペレット(A面:磁性面側)を得た。
次に、真空蒸着装置内に設置されたフィルム走行装置に、得られたポリエステルフィルムをセットし、1.50×10−3Paの減圧度にした後に、−30℃の冷却金属ドラムを介して50m/minで走行させた。このとき、図1のような配置で酸素ガス管と冷却キャンとの角度を80°とし、酸素ガス導入量3L/分、水蒸気導入量をキャン側および蒸着面側0.5L/分にそれぞれ調節し、Alを電子ビーム(出力4.5kV)で加熱蒸発させ、Alの蒸着薄膜層(厚み100nm)をフィルムのA面に形成して巻取った。次にB面を蒸着速度50m/minにしたこと以外同様に蒸着し巻取った。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa層、Mb層の厚みを変更し、金属層厚み比(Ma/Mb)を0.8にした以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。得られた記録媒体用支持体は磁気テープとして使用した際に優れた特性を有していた。
蒸着機内の酸素ガスおよび水蒸気ガス導入量、冷却キャン温度、蒸着速度を変更して金属層を設けたこと以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。磁気テープとして使用した際に優れた特性を有していた。
実施例1で作成したフィルムを用いて、蒸着機内の真空度、酸素ガス導入量管の角度および冷却キャン温度を変更して厚み60nmの金属層を両面に設けた。また、この時、水蒸気ガスは供給しなかった。
表1の通り蒸着機内の冷却キャン温度、酸素ガスおよび水蒸気ガス供給量を変更した以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
290℃に加熱された同方向回転タイプのベント式2軸混練押出機に、常法により得られたPET(固有粘度0.85)のペレット50重量%とGE Plastics社製のポリエーテルイミド“Ultem1010”(固有粘度0.68)のペレット50重量%を供給し、ブレンドチップ(I)を作製した。
金属材料にアルミナ(Al2O3)を用いて、冷却キャン温度を40℃に、酸素ガス導入量を0.8L/分に、また、冷却キャン側の水蒸気ガスの供給を行わないこと以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa、Mb層の厚みを80nmに変更した。金属材料に酸化チタン(TiO2)を用いて、酸素ガス導入量を1L/分に、蒸着面側の蒸気ガスの供給を行わないこと以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa、Mb層の厚みを80nmに変更した。金属材料にCuを用いて、冷却キャン温度を0℃に、酸素ガス導入量を変更した以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa、Mb層の厚みを変更し、金属層厚み比(Ma/Mb)を2.0にした以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa、Mb層の厚みを変更し、金属層厚み比(Ma/Mb)を0.5にした。さらに、酸素ガス導入管角度を40°に変更した以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa,Mb層の厚みを変更し、金属層厚み比(Ma/Mb)を1.1に、冷却キャン温度を30℃にした以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
蒸着機内の真空度、冷却キャン温度、酸素ガスおよび水蒸気ガス導入量を変更し、また、酸素ガス導入管と冷却キャンとの角度を45°に変更して金属層を設けること以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。
金属層を設けないこと以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。得られた記録媒体用支持体は金属層を持たず、縦および幅方向のヤング率は5.0GPaと7.6GPaであった。
実施例8で用いたブレンドチップ(I)のA面側含有量を70重量%に変更したこと以外は実施例8と同様の方法にてフィルムを作成した。このフィルムを用いて蒸着機内の酸素ガスおよび水蒸気ガス導入量、冷却キャン温度、蒸着速度を変更して金属層を設けたこと以外は実施例8と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。得られた記録媒体用支持体の表面突起特性は本発明の範囲外であったため磁気テープとして使用した際に磁性層との密着性に劣る結果であった。
蒸着機内の冷却キャン温度、酸素ガス導入量を変更した。さらに水蒸気ガスの供給を行わないこと以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。冷却キャンの温度および水蒸気ガスが供給されていなかったため得られた記録媒体用支持体の表面突起パラメータは本発明の範囲外であったため磁性層との密着性に劣る結果であった。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa層、Mb層の厚みを変更し、金属層厚み比(Ma/Mb)を1.2にした。さらに、酸素ガス導入管と冷却キャンとの角度を変更した以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。酸素ガス導入管の角度およびMa層の厚みが適切でないため、得られた記録媒体用支持体の表面突起パラメータは本発明の範囲外であり、磁性層との密着性に劣る結果であった。
蒸着機内のフィルム走行速度を制御しMa層の厚みを変更し、磁性面側にのみ金属層を設けた。また、酸素ガス導入管の角度を変更した以外は比較例4と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。金属層が片面のみであったため、幅寸法安定性が悪い結果であった。
蒸着機内の冷却キャン温度を40℃に変更し、フィルム走行速度を制御してMa層、Mb層の厚みを変更した。また、酸素ガスの供給は行わずに蒸着を開始した以外は実施例1と同様の方法にて記録媒体用支持体を得た。冷却キャンの温度が適切でないため、得られた記録媒体用支持体の表面突起パラメータは本発明の範囲外であり、磁性層との密着性に劣る結果であった。
2:受光部
3:荷重検出器
4:荷重
5:フリーロール
6:フリーロール
7:フリーロール
8:フリーロール
9:磁気テープ
10:レーザー光
11:真空蒸着装置
12:真空チャンバ
13:巻出しロール部
14:ポリエステルフィルム
15:ガイドロール
16:冷却ドラム
17:蒸着チャンバ
18:巻取りロール部
19:金属材料
20:電子銃
21:電子ビーム
22:酸素ガスボンベ
23:るつぼ
24:酸素供給ノズル
25:水蒸気供給ノズル
26:ガス流量制御装置
27:水蒸気ガスボンベ
28:マスク
29:酸素供給ノズル吹き出し口から導入された酸素ガスの直進方向
30:冷却キャンの下部頂点を接点とする接線
31:ノズルの吹き出し口と冷却キャンの下部頂点Aとを結ぶ直線距離
32:ルツボ−冷却キャン距離
Claims (9)
- ポリエステルフィルムの一方の表面A上に金属類または金属系無機化合物を含む層(Ma層)が設けられ、他方の表面B上に金属類または金属系無機化合物を含む層(Mb層)が設けられ、かつ、高さ1nm以上10nm以下の微細突起数をX、高さが5nm以上10nm以下の微細突起数をYとしたとき、磁性層が塗布される表面の突起比率(Y/X)が20%以下である磁気記録媒体用支持体。
- Ma層、Mb層の厚みをそれぞれMa、Mbとしたとき、厚みの比(Ma/Mb)の値が0.5〜2である、請求項1に記載の磁気記録媒体用支持体。
- Ma層、Mb層の厚みがそれぞれ20〜200nmである、請求項1または2に記載の磁気記録媒体用支持体。
- Ma層、Mb層がともに磁性金属を含まない、請求項1〜3のいずれかに記載の記録媒体用支持体。
- 磁性層が塗布される表面の金属類または金属系無機化合物を含む層の表面粗さRaが0.3nm以上5nm以下である、請求項1〜4のいずれかに記載の記録媒体用支持体。
- 磁性層が塗布される表面の金属類または金属系無機化合物を含む層の最大突起高さRtが5nm以上30nm以下である、請求項1〜5のいずれかに記載の記録媒体用支持体。
- 磁性層が塗布される表面の金属類または金属系無機化合物を含む層の表面における高さが1nm以上10nm以下の微細突起数Xが200個/μm2〜1,500個/μm2である、請求項1〜6のいずれかに記載の記録媒体用支持体。
- 全光線透過率の斑が0〜10%である、請求項1〜7のいずれかに記載の磁気記録媒体用支持体。
- 全光線透過率が50〜80%である請求項1〜8のいずれかに記載の磁気記録媒体用支持体。
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