JP4529833B2 - 積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法、撓み限界評価方法および構造欠陥箇所推定方法 - Google Patents
積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法、撓み限界評価方法および構造欠陥箇所推定方法 Download PDFInfo
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Description
2,3 主面
4〜7 側面
8 コンデンサ本体
9 誘電体層
10,11 内部電極
12〜15,20〜23 引出し部
16〜19,24〜27 外部端子電極
31,32,41 直流電源
Claims (5)
- 相対向する2つの主面およびこれら主面間を連結する4つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備え、前記コンデンサ本体は、前記主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の前記誘電体層を介して互いに対向する少なくとも1対の第1および第2の内部電極を備え、前記第1および第2の内部電極は、それぞれ、前記側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、前記第1および第2の内部電極の少なくとも一方は、複数の前記引出し部を形成している複数引出し内部電極であり、前記引出し部が引き出された前記側面上には、各前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている、積層コンデンサについての構造欠陥の有無を判定する方法であって、
前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも1つの第1の外部端子電極から残りの少なくとも1つの第2の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値に基づいて構造欠陥の有無を判定する、積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法。 - 前記直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも1つの第1の外部端子電極から残りのすべての第2の外部端子電極へと直流電流を流すことが行なわれる、請求項1に記載の積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法。
- 相対向する2つの主面およびこれら主面間を連結する4つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備え、前記コンデンサ本体は、前記主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の前記誘電体層を介して互いに対向する少なくとも1対の第1および第2の内部電極を備え、前記第1および第2の内部電極は、それぞれ、前記側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、前記第1および第2の内部電極の少なくとも一方は、複数の前記引出し部を形成している複数引出し内部電極であり、前記引出し部が引き出された前記側面上には、各前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている、積層コンデンサについての撓み限界を評価する方法であって、
前記積層コンデンサを基板上に実装し、前記基板に撓み負荷をかけかつ当該撓み負荷を次第に増大させることによって、前記積層コンデンサを次第に大きい撓み量で撓ませながら、前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも1つの第1の外部端子電極から残りの少なくとも1つの第2の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値が急激に変化した時点での撓み量をもって撓み限界と評価する、積層コンデンサの撓み限界評価方法。 - 前記直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも1つの第1の外部端子電極から残りのすべての第2の外部端子電極へと直流電流を流すことが行なわれる、請求項3に記載の積層コンデンサの撓み限界評価方法。
- 相対向する2つの主面およびこれら主面間を連結する4つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備え、前記コンデンサ本体は、前記主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の前記誘電体層を介して互いに対向する少なくとも1対の第1および第2の内部電極を備え、前記第1および第2の内部電極は、それぞれ、前記側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、前記第1および第2の内部電極の少なくとも一方は、複数の前記引出し部を形成している複数引出し内部電極であり、前記引出し部が引き出された前記側面上には、各前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている、積層コンデンサについての構造欠陥が生じている箇所を推定する方法であって、
前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、1つの第1の外部端子電極から残りの少なくとも1つの第2の外部端子電極へと直流電流を流すことによって直流抵抗値または直流電流値を測定することを、前記外部端子電極の複数の組合せの各々について実施し、前記外部端子電極の複数の組合せの各々について測定された値を比較して、異常に高い値を示したものがある場合、この異常に高い値を示した組合せに関与する前記外部端子電極に接続される前記引出し部またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定する、積層コンデンサの構造欠陥箇所推定方法。
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JP2005217375A JP4529833B2 (ja) | 2005-07-27 | 2005-07-27 | 積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法、撓み限界評価方法および構造欠陥箇所推定方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007035943A JP2007035943A (ja) | 2007-02-08 |
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JP (1) | JP4529833B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11145016A (ja) * | 1997-11-04 | 1999-05-28 | Sony Corp | 破壊検出用回路 |
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2005
- 2005-07-27 JP JP2005217375A patent/JP4529833B2/ja not_active Expired - Fee Related
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