JP4517574B2 - カラーフィルタ評価方法 - Google Patents
カラーフィルタ評価方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4517574B2 JP4517574B2 JP2002341808A JP2002341808A JP4517574B2 JP 4517574 B2 JP4517574 B2 JP 4517574B2 JP 2002341808 A JP2002341808 A JP 2002341808A JP 2002341808 A JP2002341808 A JP 2002341808A JP 4517574 B2 JP4517574 B2 JP 4517574B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- color filter
- optical system
- light source
- reading optical
- reading
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶ディスプレイ(以下にLCDと記す)パネルの主要部材として用いられるカラーフィルタ(以下にCFと記す)の表示性能を評価する装置に関するものであり、特に、バックライト光源とCFとの組合せ性能をパネル化する前に評価する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、CFの光学的性能評価は、顕微鏡または顕微測光装置等のミクロ系装置をそれぞれ単独に使用して形状欠陥や色特性を評価したり、目視観察装置やカメラ撮影画像モニタ等のマクロ系装置を使用してムラの評価をしている。
また、パネル化後のLCDとしての光学的評価を事前に予想するために、バックライト光源のスペクトルデータとCFの分光透過率特性データから組み合わせたパネルの光学的性能を推定している。
【0003】
【非特許文献1】
「月刊ディスプレイ」、2002、2月号、p.30−35
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、液晶ディスプレイ(LCD)パネルにおいて、その色再現に用いられるカラーフィルタ(CF)の表示性能を評価するに際して、特に、バックライト光源とCFとの組合せ性能を早期に評価するためになされたものである。
近年、LCDの色再現性は飛躍的に向上しているが、CFの色特性改善はもちろん、偏光板や位相差板等の光学部材の改良に加えて、バックライト光源を初めとする照明環境の向上も不可欠の要素となっている。
【0005】
これらの各要素は光学設計上の考察の下に個別の改善が進められているが、中でもバックライト光源にLEDを用いてCFとの新しい組合せを実現する試みが種々行われている。この場合、単に色特性上で新たな表現を得るばかりでなく、例えば、光源ユニットの新たな形状や光強度の均一性の程度が、CFのムラ等の均一性とどのように影響を及ぼしあうかという評価も必要になる。
本発明は、CFおよびその周辺部材の性能の評価において、実際にパネルを作製することなく、簡易に主要な光学特性要因の組合せ効果を評価する手段を提供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、カラーフィルタと対向する一方の側に光源ユニットを配置し、他の一方の側に読み取り光学系を配置したことを特徴とするカラーフィルタ評価装置である。
【0007】
また、本発明は、上記発明によるカラーフィルタ評価装置において、前記光源ユニットが液晶ディスプレイパネルに組み込まれて使用されるものと同一の特性を有するものであることを特徴とするカラーフィルタ評価装置である。
【0008】
また、本発明は、上記発明によるカラーフィルタ評価装置において、前記読み取り光学系が、ミクロ領域を読み取るミクロ読み取り光学系と、マクロ領域を読み取るマクロ読み取り光学系とから成り、両光学系を適宜切り換えて使用できることを特徴とするカラーフィルタ評価装置である。
【0009】
また、本発明は、上記発明によるカラーフィルタ評価装置において、前記光源ユニットと前記読み取り光学系との間に、液晶ディスプレイパネルに組み込まれて使用される光源ユニットおよびカラーフィルタ以外の光学的変動要因となりうる光学部材を設置し、該光学部材の光学的影響度を評価可能とするカラーフィルタ評価装置である。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明によるカラーフィルタ評価装置を、その一実施形態に基づいて説明する。
本発明によるカラーフィルタ評価装置は、評価対象としてのCFの一方の側に液晶ディスプレイパネルに組み込まれて使用されるものと同一の特性を有する光源ユニットを配置し、CFの他方の側には各種の読み取り光学系を配置するものである。
言い換えれば、上記、光源ユニットと読み取り光学系を一定の位置関係で配置し、それらの中間の一定の位置に評価対象としてのカラーフィルタを任意に差し替えて観察、測定できるようにした装置である。
【0011】
図1は、本発明によるカラーフィルタ評価装置の一実施形態を模式的に示す断面図である。片面を遮蔽した光源筐体1に冷陰極蛍光灯(CCFL)や発光ダイオード(LED)で構成される光源2が組み込まれた光源ユニットから均一な白色照明光3を一方向に照射する。必要に応じて導光板、反射板、拡散板等も組み込むが、図1では省略してある。
白色照明光3を均一に受ける位置に評価対象となるカラーフィルタ(CF)4を設置して、白色照明光3をCFへのバックライトとして使う。CF4の反対側の平面内に、読み取り光学系として、ミクロ領域を読み取るミクロ読み取り光学系7、例えば、顕微鏡や顕微測光装置のアパーチャ部分が面内で、矢印で示すように、可動となる状態に設置し、CFを通った光6を任意の位置で取り込めるようにする。読み取るミクロ領域は、例えば、顕微測光装置の場合20μmφ程度のミクロ領域である。
【0012】
図2は、本発明によるカラーフィルタ評価装置の他の実施形態を模式的に示す断面図である。片面を遮蔽した光源筐体1に冷陰極蛍光灯(CCFL)や発光ダイオード(LED)で構成される光源2が組み込まれた光源ユニットから均一な白色照明光3を一方向に照射する。必要に応じて導光板、反射板、拡散板等も組み込むが、図2では省略してある。
白色照明光3を均一に受ける位置に評価対象となるカラーフィルタ(CF)4を設置して、白色照明光3をCFへのバックライトとして使う。CF4の反対側の平面内に、マクロの読み取り光学系8、例えば、目視観察装置、色彩計やカメラによる撮影と画像解析装置等を設置し、CFを通った光6’を最適な広さで取り込めるようにする。読み取るマクロ領域は、例えば、最大でパネル全面といった領域である。
【0013】
図3は、本発明によるカラーフィルタ評価装置の上記2例の実施形態を切り換えて使用することを模式的に示す断面図である。
ミクロ読み取り光学系7とマクロ読み取り光学系8とを切り換えて使用するために、それぞれに最適のCF4からの距離(L、L’)を設定し、各光学系の不使用時には使用中の光学系の妨害にならない位置に待避する。
【0014】
図4は、本発明によるカラーフィルタ評価装置の他の実施形態を模式的に示す断面図である。片面を遮蔽した光源筐体1に冷陰極蛍光灯(CCFL)や発光ダイオード(LED)で構成される光源2が組み込まれた光源ユニットから均一な白色照明光3を一方向に照射する。必要に応じて導光板、反射板、拡散板等も組み込むが、図4では省略してある。
【0015】
白色照明光3を均一に受ける位置に評価対象となるカラーフィルタ4を設置して、白色照明光3をCFへのバックライトとして使う。本実施形態では、評価対象としてカラーフィルタ以外にも液晶ディスプレイパネルへの組み込みが予定される他の光学部材9、例えば、偏光板、位相差板、等もCF4の近傍に設置し、これらも加えた評価を行う。
CF4と他の光学部材9の光源ユニットとは反対側の平面内に、マクロ読み取り光学系8、例えば、目視観察装置、色彩計やカメラによる撮影と画像解析装置等を設置し、CF4と他の光学部材9を通った光6’を最適な広さで取り込めるようにする。
【0016】
ここで、CF4と他の光学部材9との位置関係は必要により、逆の場合も可能である。また、読み取り光学系はマクロ読み取り光学系の例を示したが、ミクロ読み取り光学系との切り換えが可能であることは前記と同様である。
【0017】
上記の各実施形態において、ミクロ読み取り光学系7またはマクロ読み取り光学系8により観察/測定する内容として、ミクロ読み取り光学系では、顕微鏡による画素形状の見え方や微少な異物やシミの影響度、顕微測光装置による各色画素の分光透過率や色度の変動の様子など、また、マクロ読み取り光学系では、目視観察環境での見え方、特にムラや点欠陥のレベル判定など、色彩計による白色色度値の測定、カメラによる撮影画像のモニタ観察と画像解析手段によるムラ評価等が可能である。
【0018】
これらの内容は従来はCF単独の評価に個別に用いられているが、光源ユニットの特性改善の効果と問題点をいち早く評価する手段としてカラーフィルタと組み合わせた状態を把握するものであり、更に他の光学部材の影響度も併せて評価するものである。
【0019】
【発明の効果】
本発明は、カラーフィルタ評価装置であって、評価対象としてのカラーフィルタの一方の側に液晶ディスプレイパネルに組み込まれて使用されるものと同一の特性を有する光源ユニットを配置し、カラーフィルタの他方の側にはミクロ読み取り光学系、マクロ読み取り系の各種装置を配置し、これらの読み取り光学系を切り換え使用できるものであり、液晶ディスプレイパネルに組み込む前に光源とカラーフィルタとの組合せでの色特性や各種のムラ等の表示性能を評価できる。それにより、シミュレーションでは明確にならない不都合を早期に発見したり、組合せ結果のムラのレベルを事前評価して対策を検討することができる。
【0020】
また、本発明は、CFと共に偏光板や位相差板等の他の光学部材も併せて光源との組合せ評価の対象とすることができ、パネルの評価以前に部材相互間の影響度を事前チェックすることが可能である。これにより、新規材料の特性と品質バラツキがLCDパネルの表示性能に与える影響度を予測し品質向上に役立てることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるカラーフィルタ評価装置の一実施形態を模式的に示す断面図である。
【図2】本発明によるカラーフィルタ評価装置の他の実施形態を模式的に示す断面図である。
【図3】本発明によるカラーフィルタ評価装置の上記2例の実施形態を切り換えて使用することを模式的に示す断面図である。
【図4】本発明によるカラーフィルタ評価装置の他の実施形態を模式的に示す断面図である。
【符号の説明】
1…光源筐体
2…光源
3…白色照明光
4…カラーフィルタ(CF)
5…透明基板
6…CFを通った光(ミクロ読み取り光学系への入射光)
6’…CFを通った光(マクロ読み取り系への入射光)
7…ミクロ読み取り光学系
8…マクロ読み取り光学系
9…他の光学部材
L…CFからミクロ読み取り光学系までの距離
L’…CFからマクロ読み取り光学系までの距離
Claims (1)
- カラーフィルタと対向する一方の側に光源ユニットを配置し、
他の一方の側に読み取り光学系を配置し、
前記光源ユニットが液晶ディスプレイパネルに組み込まれて使用されるものと同一の特性を有するものであり、
前記読み取り光学系が、ミクロ領域を読み取るミクロ読み取り光学系と、マクロ領域を読み取るマクロ読み取り光学系とから成り、
前記ミクロ読み取り光学系では、顕微鏡によりカラーフィルタの画素を観察し、
前記マクロ読み取り光学系では、色彩計により目視環境下でのカラーフィルタの見え方を観察し、
前記ミクロ読み取り光学系で、顕微鏡を可動となる状態に設置することで、カラーフィルタを通った光を任意に取り込むことができるようにし、
前記光源ユニットと前記読み取り光学系との間に、液晶ディスプレイパネルに組み込まれて使用される光源ユニットおよびカラーフィルタ以外の光学的変動要因となりうる光学部材を設置し、
カラーフィルタと該光学部材を組み合わせた状態に対して評価を行うことを特徴とするカラーフィルタ評価方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002341808A JP4517574B2 (ja) | 2002-11-26 | 2002-11-26 | カラーフィルタ評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002341808A JP4517574B2 (ja) | 2002-11-26 | 2002-11-26 | カラーフィルタ評価方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004177193A JP2004177193A (ja) | 2004-06-24 |
JP4517574B2 true JP4517574B2 (ja) | 2010-08-04 |
Family
ID=32704030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002341808A Expired - Fee Related JP4517574B2 (ja) | 2002-11-26 | 2002-11-26 | カラーフィルタ評価方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4517574B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5217093B2 (ja) * | 2006-01-31 | 2013-06-19 | 大日本印刷株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
JP5104346B2 (ja) * | 2008-01-29 | 2012-12-19 | 株式会社ニコン | 表面欠陥検査方法及びその装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2861944B2 (ja) * | 1996-06-19 | 1999-02-24 | 日本電気株式会社 | 表示パネルの欠陥検査装置及び方法 |
JP2000134613A (ja) * | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Aiphone Co Ltd | カラーテレビドアホン用カラー液晶モジュールの画面調整構造 |
JP2001041716A (ja) * | 1998-07-21 | 2001-02-16 | Sony Corp | 液晶表示パネルの検査方法及び検査装置 |
JP2001091919A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Sharp Corp | 表示装置の欠陥修正装置 |
JP2001228052A (ja) * | 2000-02-18 | 2001-08-24 | Canon Inc | カラーフィルタ及びその検査方法と製造方法 |
JP2001305064A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2001318357A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Advanced Display Inc | 液晶表示装置に用いられるカラーフィルタと偏光板の検査装置および液晶表示装置の製造方法 |
JP2002181660A (ja) * | 2000-12-19 | 2002-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置の検査装置および液晶表示装置の検査方法ならびに液晶表示装置の製造方法 |
JP2002277412A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-09-25 | Olympus Optical Co Ltd | 検査画面の表示方法及び基板検査システム |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH071322B2 (ja) * | 1985-05-01 | 1995-01-11 | セイコーエプソン株式会社 | カラー液晶表示装置 |
JP2970380B2 (ja) * | 1994-01-19 | 1999-11-02 | 凸版印刷株式会社 | カラーフィルタ着色膜の着色むら検査方法 |
JPH08320273A (ja) * | 1995-05-26 | 1996-12-03 | Minolta Co Ltd | 光学的角度特性測定装置 |
JPH0972824A (ja) * | 1995-09-08 | 1997-03-18 | Sefuto Kenkyusho:Kk | フィルタ検査装置 |
JPH10281932A (ja) * | 1997-04-11 | 1998-10-23 | Dainippon Printing Co Ltd | カラーフィルタ基板の検査装置 |
JPH1183674A (ja) * | 1997-09-04 | 1999-03-26 | Dainippon Printing Co Ltd | カラーフィルタ基板の検査装置 |
JP3944285B2 (ja) * | 1997-09-24 | 2007-07-11 | オリンパス株式会社 | 基板検査装置 |
JPH11132750A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 点欠陥検出装置及び方法 |
-
2002
- 2002-11-26 JP JP2002341808A patent/JP4517574B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2861944B2 (ja) * | 1996-06-19 | 1999-02-24 | 日本電気株式会社 | 表示パネルの欠陥検査装置及び方法 |
JP2001041716A (ja) * | 1998-07-21 | 2001-02-16 | Sony Corp | 液晶表示パネルの検査方法及び検査装置 |
JP2000134613A (ja) * | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Aiphone Co Ltd | カラーテレビドアホン用カラー液晶モジュールの画面調整構造 |
JP2001091919A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Sharp Corp | 表示装置の欠陥修正装置 |
JP2001228052A (ja) * | 2000-02-18 | 2001-08-24 | Canon Inc | カラーフィルタ及びその検査方法と製造方法 |
JP2001305064A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2001318357A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Advanced Display Inc | 液晶表示装置に用いられるカラーフィルタと偏光板の検査装置および液晶表示装置の製造方法 |
JP2002181660A (ja) * | 2000-12-19 | 2002-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置の検査装置および液晶表示装置の検査方法ならびに液晶表示装置の製造方法 |
JP2002277412A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-09-25 | Olympus Optical Co Ltd | 検査画面の表示方法及び基板検査システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004177193A (ja) | 2004-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101326455B1 (ko) | 투명 기판에서의 결함을 특성화하기 위한 장치 및 방법 | |
CN101051619B (zh) | 基板检查装置及使用其的基板检查方法 | |
US8017079B2 (en) | Apparatus for and method of measuring bio-chips using uniform total internal reflection illumination | |
KR20100119522A (ko) | 유리 시트 내의 결함을 검출하기 위한 장치 및 방법 | |
KR20070034928A (ko) | 액정패널 검사장치 | |
JP2002162360A (ja) | 液晶パネルの評価方法及び評価装置 | |
US20050280822A1 (en) | Inspecting apparatus and inspecting method for color filters | |
KR100673990B1 (ko) | 백라이트 유닛, 액정 표시 장치 및 이에 사용되는 역프리즘시트 | |
JP4517574B2 (ja) | カラーフィルタ評価方法 | |
KR100479073B1 (ko) | 백 라이트 유닛 검사 장치 | |
JP2007278784A (ja) | 透明体の欠陥検出方法及び装置 | |
CN1979101A (zh) | 彩色滤光片检测设备和方法及液晶显示器色度检测方法 | |
JP3886619B2 (ja) | 物体の欠陥の検査方法および検査装置 | |
KR100459103B1 (ko) | Fpd용 기판의 결함 검사장치 | |
KR20070063083A (ko) | 표시장치용 휘도 검사 장치 및 이의 검사 방법 | |
KR100674010B1 (ko) | 액정 표시 장치에 사용되는 백라이트 유닛 및 이에사용되는 광학필름 | |
KR101880398B1 (ko) | 기판의 얼룩 검사 장치 및 검사 방법 | |
JP3899874B2 (ja) | 液晶パネルの評価方法及び評価装置 | |
KR101414273B1 (ko) | 반사 및 투과 효율을 향상시켜 기판을 검사하는 방법 및장치 | |
JPH11326120A (ja) | 反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置 | |
JP3645629B2 (ja) | 液晶ディスプレイのスペーサ分布測定方法 | |
JP2006275704A (ja) | 膜厚ムラ検出方法 | |
KR20100077960A (ko) | 기판검사용 조명장치 | |
KR100625440B1 (ko) | 확산시트, 보호시트 및 이를 포함하는 백라이트 유닛 | |
KR20080093236A (ko) | 높은 반사 및 투과 효율과 투과광의 위상 지연을 이용하여기판을 검사하는 방법 및 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050916 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070727 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070807 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071005 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080520 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080716 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080716 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090217 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090417 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090519 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090709 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100209 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100412 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100427 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100510 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |