JPH11326120A - 反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置 - Google Patents
反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置Info
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- JPH11326120A JPH11326120A JP13724898A JP13724898A JPH11326120A JP H11326120 A JPH11326120 A JP H11326120A JP 13724898 A JP13724898 A JP 13724898A JP 13724898 A JP13724898 A JP 13724898A JP H11326120 A JPH11326120 A JP H11326120A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 反射電極を備えた反射型液晶ディスプレイパ
ネルに対して表示不良の検査を行うことが可能な検査装
置を提供する。 【解決手段】 反射型液晶ディスプレイパネル１の前面
側に光を照射するための光源１８を配置する。光源とし
て線状光源や面状光源を用いると、パネル面に対して照
射される光の均一性を向上させることができる。観察位
置よりもパネル側に光源を配置すると、パネル正面から
観察を行った場合でもパネルが観察者の影にならず、光
源からの光の入射角度を小さくすることができる。さら
に、光源とパネルとの間に偏光板を設けることにより、
反射型液晶ディスプレイの表示モードに複屈折性モード
を使用している場合にも表示不良の検出を行うことが可
能となる。
ネルに対して表示不良の検査を行うことが可能な検査装
置を提供する。 【解決手段】 反射型液晶ディスプレイパネル１の前面
側に光を照射するための光源１８を配置する。光源とし
て線状光源や面状光源を用いると、パネル面に対して照
射される光の均一性を向上させることができる。観察位
置よりもパネル側に光源を配置すると、パネル正面から
観察を行った場合でもパネルが観察者の影にならず、光
源からの光の入射角度を小さくすることができる。さら
に、光源とパネルとの間に偏光板を設けることにより、
反射型液晶ディスプレイの表示モードに複屈折性モード
を使用している場合にも表示不良の検出を行うことが可
能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、反射型液晶ディス
プレイパネルに生じ得る表示不良を検査するための検査
用照明治具及び検査装置に関する。
プレイパネルに生じ得る表示不良を検査するための検査
用照明治具及び検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶ディスプレイの中でも、アクティブ
マトリクス型液晶ディスプレイは、薄型・軽量でありな
がら高品質な表示を実現することができるという特長を
有しているため、パーソナルコンピュータや大画面カラ
ーテレビ等の表示装置として期待されている。
マトリクス型液晶ディスプレイは、薄型・軽量でありな
がら高品質な表示を実現することができるという特長を
有しているため、パーソナルコンピュータや大画面カラ
ーテレビ等の表示装置として期待されている。
【０００３】このアクティブマトリクス型液晶ディスプ
レイのパネルとしては、透過型のものと反射型のものと
が知られている。しかし、従来の透過型液晶ディスプレ
イパネルにおいては、背面に光源（バックライト）を必
要とし、その消費電力がパネルの駆動電力に比べて大き
くなる等の問題があるため、携帯用のディスプレイには
適していない。そこで、近年では、バックライトを使用
せずに周囲光を利用するために低消費電力化が可能な反
射型液晶ディスプレイパネルが大変注目を集めている。
レイのパネルとしては、透過型のものと反射型のものと
が知られている。しかし、従来の透過型液晶ディスプレ
イパネルにおいては、背面に光源（バックライト）を必
要とし、その消費電力がパネルの駆動電力に比べて大き
くなる等の問題があるため、携帯用のディスプレイには
適していない。そこで、近年では、バックライトを使用
せずに周囲光を利用するために低消費電力化が可能な反
射型液晶ディスプレイパネルが大変注目を集めている。
【０００４】ところで、アクティブマトリクス型液晶デ
ィスプレイパネルにおいては、液晶層を挟んで対向配置
された一対の基板のうちの一方の基板（アクティブマト
リクス基板）に複数のゲート配線（走査配線）及び複数
のソース配線（信号配線）が互いに交差するように設け
られており、両配線の交差部近傍にはスイッチング素子
としての薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が設けられて、マ
トリクス状に配置された画素電極と電気的に接続されて
いる。このため、異物等によって素子の動作不良や配線
の断線、リーク等が発生して表示不良が生じる場合があ
る。
ィスプレイパネルにおいては、液晶層を挟んで対向配置
された一対の基板のうちの一方の基板（アクティブマト
リクス基板）に複数のゲート配線（走査配線）及び複数
のソース配線（信号配線）が互いに交差するように設け
られており、両配線の交差部近傍にはスイッチング素子
としての薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が設けられて、マ
トリクス状に配置された画素電極と電気的に接続されて
いる。このため、異物等によって素子の動作不良や配線
の断線、リーク等が発生して表示不良が生じる場合があ
る。
【０００５】この表示不良を検査するために、液晶ディ
スプレイパネルが完成した時点において、パネルに信号
を入力して表示特性の検査を行う必要がある。
スプレイパネルが完成した時点において、パネルに信号
を入力して表示特性の検査を行う必要がある。
【０００６】ここで、液晶ディスプレイは非発光素子で
あるため、液晶ディスプレイパネルの検査を行う場合に
は何らかの光源が必要である。このため、透過型液晶デ
ィスプレイパネルの検査を行う場合には、パネルの背面
にバックライトを設置する必要がある。一方、反射板を
パネル背面に張り付けた構成の反射型液晶ディスプレイ
パネルの検査を行う場合には、反射板を張り付ける前に
検査を行うことにより、透過型液晶ディスプレイパネル
と同様にして検査を行うことができる。
あるため、液晶ディスプレイパネルの検査を行う場合に
は何らかの光源が必要である。このため、透過型液晶デ
ィスプレイパネルの検査を行う場合には、パネルの背面
にバックライトを設置する必要がある。一方、反射板を
パネル背面に張り付けた構成の反射型液晶ディスプレイ
パネルの検査を行う場合には、反射板を張り付ける前に
検査を行うことにより、透過型液晶ディスプレイパネル
と同様にして検査を行うことができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、画素電
極部分に反射材料を用いて反射電極とした反射型液晶デ
ィスプレイパネルの検査を行う場合には、透過型液晶デ
ィスプレイパネルのようにバックライトをパネル背面に
設置して表示特性の検査を行うことが不可能である。
極部分に反射材料を用いて反射電極とした反射型液晶デ
ィスプレイパネルの検査を行う場合には、透過型液晶デ
ィスプレイパネルのようにバックライトをパネル背面に
設置して表示特性の検査を行うことが不可能である。
【０００８】なお、アクティブマトリクス基板に対して
検査を行う方法としては、特開平５−２５６７９３号公
報に開示されているような方法がある。この方法では、
アクティブマトリクス基板の上面との間に微小間隙を開
けて電気光学素子を対向配置する。その電気光学素子と
アクティブマトリクス基板の各画素電極との間に電圧を
印加すると共に電気光学素子の背面に対して光源から光
を照射して、受光器により反射率の変化を検出すること
でアクティブマトリクス基板の不良を検出することがで
きる。しかし、この方法では、アクティブマトリクス基
板の不良を検出することはできるが、完成したパネルに
対する検査を行うことが不可能であり、反射型液晶ディ
スプレイパネルに対する検査を行うこともできない。
検査を行う方法としては、特開平５−２５６７９３号公
報に開示されているような方法がある。この方法では、
アクティブマトリクス基板の上面との間に微小間隙を開
けて電気光学素子を対向配置する。その電気光学素子と
アクティブマトリクス基板の各画素電極との間に電圧を
印加すると共に電気光学素子の背面に対して光源から光
を照射して、受光器により反射率の変化を検出すること
でアクティブマトリクス基板の不良を検出することがで
きる。しかし、この方法では、アクティブマトリクス基
板の不良を検出することはできるが、完成したパネルに
対する検査を行うことが不可能であり、反射型液晶ディ
スプレイパネルに対する検査を行うこともできない。
【０００９】本発明は、このような従来技術の課題を解
決すべくなされたものであり、反射型液晶ディスプレイ
パネルに発生する表示不良の検査を行うために必要な検
査用照明治具及び検査装置を提供することを目的とす
る。
決すべくなされたものであり、反射型液晶ディスプレイ
パネルに発生する表示不良の検査を行うために必要な検
査用照明治具及び検査装置を提供することを目的とす
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の反射型液晶ディ
スプレイパネルの検査用照明治具は、液晶層を挟む一対
の基板のうちの一方の基板上に反射電極を有する反射型
液晶ディスプレイパネルの検査に用いる検査用照明治具
であって、該パネルの前面側に光を照射するための光源
を備えており、そのことにより上記目的が達成される。
スプレイパネルの検査用照明治具は、液晶層を挟む一対
の基板のうちの一方の基板上に反射電極を有する反射型
液晶ディスプレイパネルの検査に用いる検査用照明治具
であって、該パネルの前面側に光を照射するための光源
を備えており、そのことにより上記目的が達成される。
【００１１】前記パネル面の法線方向と前記光源からの
照射光との角度が３０゜以内であるのが好ましい。
照射光との角度が３０゜以内であるのが好ましい。
【００１２】前記光源が、線状光源又は面状光源である
のが好ましい。
のが好ましい。
【００１３】本発明の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置は、本発明の検査用照明治具と、前記液晶層に
電場を印加するための電源とを少なくとも備えており、
そのことにより上記目的が達成される。
検査装置は、本発明の検査用照明治具と、前記液晶層に
電場を印加するための電源とを少なくとも備えており、
そのことにより上記目的が達成される。
【００１４】前記パネルの検査を行う際の観察位置より
もパネル側に光源を配置するように構成されているのが
好ましい。
もパネル側に光源を配置するように構成されているのが
好ましい。
【００１５】前記光源と前記パネルとの間に配置される
偏光板を備えていてもよい。
偏光板を備えていてもよい。
【００１６】以下、本発明の作用について説明する。
【００１７】本発明にあっては、パネルの前面側に光を
照射するための光源を備えているので、一方の基板上に
反射電極を備えた構成の反射型液晶ディスプレイパネル
に対しても、パネル前面側から光を照射して素子の動作
不良や配線の断線、リーク等に起因する表示不良を検査
することが可能となる。
照射するための光源を備えているので、一方の基板上に
反射電極を備えた構成の反射型液晶ディスプレイパネル
に対しても、パネル前面側から光を照射して素子の動作
不良や配線の断線、リーク等に起因する表示不良を検査
することが可能となる。
【００１８】ここで、パネル面の法線方向と光源からの
照射光との角度を３０゜以内にすると、光源からの光の
入射角度が小さくなるので、パネル面での照度を均一に
することができる。
照射光との角度を３０゜以内にすると、光源からの光の
入射角度が小さくなるので、パネル面での照度を均一に
することができる。
【００１９】特に、光源として線状光源を用いることに
より、パネル面に対して照射される光の均一性を向上さ
せることができるので、表示不良の検出を精度よく行う
ことができる。
より、パネル面に対して照射される光の均一性を向上さ
せることができるので、表示不良の検出を精度よく行う
ことができる。
【００２０】さらに、光源として面状光源を用いると、
パネル面に対して照射される光の均一性をより向上させ
ることができるので、表示不良の検出をより精度よく行
うことができる。さらに、光源の形状がパネル面に投影
されることがないので、表示不良の発見がより容易であ
る。
パネル面に対して照射される光の均一性をより向上させ
ることができるので、表示不良の検出をより精度よく行
うことができる。さらに、光源の形状がパネル面に投影
されることがないので、表示不良の発見がより容易であ
る。
【００２１】本発明の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置は、電源によりソース信号、ゲート信号、コモ
ン信号等をパネルに入力して液晶層に電場を印加すると
共に検査用照明治具によりパネルの前面側から光を照射
することができるので、反射状態の変化を目視又はＣＣ
Ｄカメラ等で検出して表示不良の検査を行うことができ
る。
検査装置は、電源によりソース信号、ゲート信号、コモ
ン信号等をパネルに入力して液晶層に電場を印加すると
共に検査用照明治具によりパネルの前面側から光を照射
することができるので、反射状態の変化を目視又はＣＣ
Ｄカメラ等で検出して表示不良の検査を行うことができ
る。
【００２２】パネルの検査を行う際の観察位置よりもパ
ネル側に光源を配置すると、パネル正面から観察を行っ
た場合でもパネルが観察者の影にならず、光源をパネル
の端側にずらして照射する必要が無いので、光源からの
光の入射角度を小さくすることができる。よって、パネ
ル面での照度を均一にすることができる。
ネル側に光源を配置すると、パネル正面から観察を行っ
た場合でもパネルが観察者の影にならず、光源をパネル
の端側にずらして照射する必要が無いので、光源からの
光の入射角度を小さくすることができる。よって、パネ
ル面での照度を均一にすることができる。
【００２３】さらに、光源とパネルとの間に偏光板を設
けることにより、反射型液晶ディスプレイの表示モード
に複屈折性モードを使用している場合にも表示不良の検
出を行うことが可能となる。
けることにより、反射型液晶ディスプレイの表示モード
に複屈折性モードを使用している場合にも表示不良の検
出を行うことが可能となる。
【００２４】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
て、図面を参照しながら説明する。
【００２５】図１は本発明の反射型液晶ディスプレイパ
ネルの検査装置の概念を概略的に示す図である。
ネルの検査装置の概念を概略的に示す図である。
【００２６】この検査装置は、パネル１に対して前面か
ら光を照射する光源１８を備えており、パネル１のソー
ス配線にソース信号、ゲート配線にゲート信号を入力す
ると共に対向電極にコモン信号を入力して液晶層に電場
を印加し、光源１８からパネル１の全面に光を照射して
検査を行う。表示不良が生じている部分と表示不良が生
じていない部分とでは反射状態が異なるので、目視又は
ＣＣＤカメラ等で表示不良が検出される。
ら光を照射する光源１８を備えており、パネル１のソー
ス配線にソース信号、ゲート配線にゲート信号を入力す
ると共に対向電極にコモン信号を入力して液晶層に電場
を印加し、光源１８からパネル１の全面に光を照射して
検査を行う。表示不良が生じている部分と表示不良が生
じていない部分とでは反射状態が異なるので、目視又は
ＣＣＤカメラ等で表示不良が検出される。
【００２７】検査を行う場合には、光源１８よりも離れ
てパネル１を観察すると、パネル１の正面から観察を行
った場合でも観察者の影にならず、光源１８からの光の
入射角度を小さくすることができるので、パネル面での
照度を均一にすることができる。
てパネル１を観察すると、パネル１の正面から観察を行
った場合でも観察者の影にならず、光源１８からの光の
入射角度を小さくすることができるので、パネル面での
照度を均一にすることができる。
【００２８】（実施形態１）図２は線状光源を備えた本
実施形態の検査装置を示す斜視図であり、図３はその平
面図、図４はその側面図である。
実施形態の検査装置を示す斜視図であり、図３はその平
面図、図４はその側面図である。
【００２９】検査用照明治具は、蛍光管６の周囲を反射
フィルム５とカバー４とで覆ったランプユニット２と偏
光板３とを備えている。偏光板３は単体ではフィルム状
であるのでガラス板７に張り付けて固定されており、ラ
ンプユニット２は偏光板の表面反射が観察者の邪魔にな
らないように偏光板３の上表面に接触して固定されてい
る。
フィルム５とカバー４とで覆ったランプユニット２と偏
光板３とを備えている。偏光板３は単体ではフィルム状
であるのでガラス板７に張り付けて固定されており、ラ
ンプユニット２は偏光板の表面反射が観察者の邪魔にな
らないように偏光板３の上表面に接触して固定されてい
る。
【００３０】ここでは、光源として蛍光管６を用いてい
るので、画面領域９に均一に光を照射することができ
る。さらに、蛍光管６の発光スペクトルをパネル１のカ
ラーフィルターの波長特性に対応させることにより、カ
ラー表示を行う際に発生する表示不良をも検出すること
ができる。
るので、画面領域９に均一に光を照射することができ
る。さらに、蛍光管６の発光スペクトルをパネル１のカ
ラーフィルターの波長特性に対応させることにより、カ
ラー表示を行う際に発生する表示不良をも検出すること
ができる。
【００３１】蛍光管６は、２本の間隔をパネル１の画面
幅（短辺）１４に合わせて各蛍光管６を両長辺の上部に
配置し、主光源となる近い側に配された光源６からの照
明光とパネル１面の法線方向との角度１２が３０゜以内
になるように高さを設定する。例えば、２．５型のパネ
ルではランプ間隔が４５ｍｍ、４．３型のパネルでは７
０ｍｍになるため、高さ１３を７０ｍｍとすることによ
り角度１２を３０゜以内にすることができる。又は、２
本の蛍光管６を画面長辺の上部に配置するとパネル１の
中央と光源６との角度１２が３０゜を越える場合には、
角度１２が３０゜となるようにランプ間隔を小さくして
画面中心線に対称的に配置したり、又はランプ位置の高
さ１３を高くしてもよい。例えば、８．４型のパネルで
は、ランプ間隔を８０ｍｍとして画面長辺から２５ｍｍ
内側上部に配置し、高さ１３を７０ｍｍとすればよい。
このように、画面サイズに応じてランプ位置を変更する
ことにより、画面領域に均一に照射を行うことができ
る。なお、画面領域に均一に照射を行うことができ、検
査の邪魔にならない位置であれば、蛍光管６の位置はこ
れに限られない。さらに、必要な照度に応じて１本又は
２本以上の蛍光管を用いてもよく、１本又は２本以上の
蛍光管を可動にして検査位置に配置するようにしてもよ
い。照度をさらに向上させる必要がある場合には、ラン
プ径を増加したり、蛍光管の本数を増加させてもよい。
幅（短辺）１４に合わせて各蛍光管６を両長辺の上部に
配置し、主光源となる近い側に配された光源６からの照
明光とパネル１面の法線方向との角度１２が３０゜以内
になるように高さを設定する。例えば、２．５型のパネ
ルではランプ間隔が４５ｍｍ、４．３型のパネルでは７
０ｍｍになるため、高さ１３を７０ｍｍとすることによ
り角度１２を３０゜以内にすることができる。又は、２
本の蛍光管６を画面長辺の上部に配置するとパネル１の
中央と光源６との角度１２が３０゜を越える場合には、
角度１２が３０゜となるようにランプ間隔を小さくして
画面中心線に対称的に配置したり、又はランプ位置の高
さ１３を高くしてもよい。例えば、８．４型のパネルで
は、ランプ間隔を８０ｍｍとして画面長辺から２５ｍｍ
内側上部に配置し、高さ１３を７０ｍｍとすればよい。
このように、画面サイズに応じてランプ位置を変更する
ことにより、画面領域に均一に照射を行うことができ
る。なお、画面領域に均一に照射を行うことができ、検
査の邪魔にならない位置であれば、蛍光管６の位置はこ
れに限られない。さらに、必要な照度に応じて１本又は
２本以上の蛍光管を用いてもよく、１本又は２本以上の
蛍光管を可動にして検査位置に配置するようにしてもよ
い。照度をさらに向上させる必要がある場合には、ラン
プ径を増加したり、蛍光管の本数を増加させてもよい。
【００３２】蛍光管６からの光量の調整は、インバータ
ー１１への入力電圧を入力最大電圧の範囲内で調整する
ことによって行い、蛍光管６の電流を加減してパネル面
照度が検査基準に適合するように設定する。
ー１１への入力電圧を入力最大電圧の範囲内で調整する
ことによって行い、蛍光管６の電流を加減してパネル面
照度が検査基準に適合するように設定する。
【００３３】なお、蛍光管６は、点灯開始直後は輝度が
低く、５分〜１０分程度で輝度が飽和するので、照度測
定及び検査開始は点灯から１０分程度経過後に行うのが
好ましい。
低く、５分〜１０分程度で輝度が飽和するので、照度測
定及び検査開始は点灯から１０分程度経過後に行うのが
好ましい。
【００３４】さらに、蛍光管６は、点灯時間に応じて輝
度が減少し、一般に、点灯時間１００００時間では蛍光
管輝度が２０％〜３０％程度低下するので、定期的に入
力電圧設定の調整を行うのが好ましい。
度が減少し、一般に、点灯時間１００００時間では蛍光
管輝度が２０％〜３０％程度低下するので、定期的に入
力電圧設定の調整を行うのが好ましい。
【００３５】光量調整のための照度測定及びパネルの検
査を行う際には、ランプとパネル１との間の周囲を低反
射材料からなる遮光部材８で覆って遮光することによ
り、画面領域９外からパネル１に光が入射されるのを防
ぐことができるので、表示不良の検出が容易になる。
査を行う際には、ランプとパネル１との間の周囲を低反
射材料からなる遮光部材８で覆って遮光することによ
り、画面領域９外からパネル１に光が入射されるのを防
ぐことができるので、表示不良の検出が容易になる。
【００３６】パネル面照度を測定する場合には、偏光板
３を透過後の光量が測定されるので、測定値を偏光板３
の透過率で割ってモジュールにおけるパネル面照度に換
算する。
３を透過後の光量が測定されるので、測定値を偏光板３
の透過率で割ってモジュールにおけるパネル面照度に換
算する。
【００３７】（モジュールにおけるパネル面照度＝パネ
ル面照度実測値／偏光透過率）さらに、光量調整のため
の照度測定時の周辺光量がパネル検査時の使用環境と異
なる場合には、照度測定時と検査時との照度差を補正す
る。即ち、周辺光が無い状態で照度測定を行い、検査時
の使用環境における照度を加えた値を検査時のパネル面
照度とすれば良い。
ル面照度実測値／偏光透過率）さらに、光量調整のため
の照度測定時の周辺光量がパネル検査時の使用環境と異
なる場合には、照度測定時と検査時との照度差を補正す
る。即ち、周辺光が無い状態で照度測定を行い、検査時
の使用環境における照度を加えた値を検査時のパネル面
照度とすれば良い。
【００３８】なお、本実施形態において、検査用照明治
具の上部から目視によって観察することによりパネルの
検査を行ってもよいが、均一に光を照射することが可能
であれば、ＣＣＤカメラ等を用いて自動検査を行うこと
もできる。また、用いる液晶モードによっては位相差板
を偏光板の下側に張り付けて用いてもよい。これらのこ
とは以下の実施形態についても同様である。
具の上部から目視によって観察することによりパネルの
検査を行ってもよいが、均一に光を照射することが可能
であれば、ＣＣＤカメラ等を用いて自動検査を行うこと
もできる。また、用いる液晶モードによっては位相差板
を偏光板の下側に張り付けて用いてもよい。これらのこ
とは以下の実施形態についても同様である。
【００３９】（実施形態２）図５は面状光源を備えた本
実施形態の検査装置を示す斜視図である。
実施形態の検査装置を示す斜視図である。
【００４０】面状光源１５は、蛍光管６から出射された
光を導光体１６によって面内に均一に広げて、パネル１
側にのみ照射するようになっている。
光を導光体１６によって面内に均一に広げて、パネル１
側にのみ照射するようになっている。
【００４１】これにより、パネル１の画面領域９に対し
て照射される光の均一性を線状光源を用いた場合よりも
一層向上させることができる。さらに、光源の形状が画
面領域９に投影されることがないので、表示不良の発見
がより容易である。
て照射される光の均一性を線状光源を用いた場合よりも
一層向上させることができる。さらに、光源の形状が画
面領域９に投影されることがないので、表示不良の発見
がより容易である。
【００４２】（実施形態３）図６はハーフミラーを備え
た本実施形態の検査装置を示す斜視図である。
た本実施形態の検査装置を示す斜視図である。
【００４３】面状光源１５からの光を偏光板３を通過さ
せ、ハーフミラー１７により反射させてパネル１の画面
領域９に均一な偏光を照射する。
せ、ハーフミラー１７により反射させてパネル１の画面
領域９に均一な偏光を照射する。
【００４４】これにより、光源の形状や個数に制限が無
くなり、照度を向上させることが可能となる。
くなり、照度を向上させることが可能となる。
【００４５】尚、本実施形態３において、偏光板３と面
状光源１５とは離して配置してあるが、実施形態２のよ
うに偏光板３と面状光源１５とを接触させてもよい。
状光源１５とは離して配置してあるが、実施形態２のよ
うに偏光板３と面状光源１５とを接触させてもよい。
【００４６】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明による場合
は、パネルの前面側に光を照射するための光源を備えて
いるので、検査装置から信号を入力して液晶層に電場を
印加すると共に光源からパネルに光を照射することによ
り、従来では不可能であった、反射電極を備えた反射型
液晶ディスプレイパネルに対する表示不良の検査を行う
ことができる。
は、パネルの前面側に光を照射するための光源を備えて
いるので、検査装置から信号を入力して液晶層に電場を
印加すると共に光源からパネルに光を照射することによ
り、従来では不可能であった、反射電極を備えた反射型
液晶ディスプレイパネルに対する表示不良の検査を行う
ことができる。
【００４７】パネル面の法線方向と光源からの照射光と
の角度を３０゜以内にすると、パネル面での照度を均一
にすることができるので、表示不良の検出を精度良く行
うことができる。
の角度を３０゜以内にすると、パネル面での照度を均一
にすることができるので、表示不良の検出を精度良く行
うことができる。
【００４８】さらに、光源として線状光源又は面状光源
を用いることにより、パネルに対して均一な光を照射す
ることができるので、表示不良の検出を容易に行うこと
が可能となる。
を用いることにより、パネルに対して均一な光を照射す
ることができるので、表示不良の検出を容易に行うこと
が可能となる。
【００４９】パネルの検査を行う際の観察位置よりもパ
ネル側に光源を配置すると、パネル正面から観察を行っ
た場合でもパネルが観察者の影にならず、光源からの光
の入射角度を小さくすることができるので、パネル面で
の照度を均一にして表示不良の検出を精度よく行うこと
ができる。
ネル側に光源を配置すると、パネル正面から観察を行っ
た場合でもパネルが観察者の影にならず、光源からの光
の入射角度を小さくすることができるので、パネル面で
の照度を均一にして表示不良の検出を精度よく行うこと
ができる。
【００５０】さらに、検査用照明治具とパネルとの間に
偏光板を設けることにより、反射型液晶ディスプレイの
表示モードに複屈折性モードを使用している場合にも表
示不良の検出を行うことが可能となる。
偏光板を設けることにより、反射型液晶ディスプレイの
表示モードに複屈折性モードを使用している場合にも表
示不良の検出を行うことが可能となる。
【図１】本発明の一実施形態である反射型液晶ディスプ
レイパネルの検査装置を概略的に示す図である。
レイパネルの検査装置を概略的に示す図である。
【図２】実施形態１の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置を示す斜視図である。
検査装置を示す斜視図である。
【図３】実施形態１の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置を示す平面図である。
検査装置を示す平面図である。
【図４】実施形態１の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置を示す側面図である。
検査装置を示す側面図である。
【図５】実施形態２の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置を示す斜視図である。
検査装置を示す斜視図である。
【図６】実施形態３の反射型液晶ディスプレイパネルの
検査装置を示す斜視図である。
検査装置を示す斜視図である。
１ パネル ２ ランプユニット ３ 偏光板 ４ ランプカバー ５ 反射フィルム ６ 蛍光管 ７ ガラス板 ８ 遮光部材 ９ 画面領域 １１ インバーター １２ 光源方向 １３ 高さ １４ 短辺側の画面幅 １５ 面状光源 １６ 導光体 １７ ハーフミラー
Claims (6)
- 【請求項１】 液晶層を挟む一対の基板のうちの一方の
基板上に反射電極を有する反射型液晶ディスプレイパネ
ルの検査に用いる検査用照明治具であって、該パネルの
前面側に光を照射するための光源を備えている反射型液
晶ディスプレイパネルの検査用照明治具。 - 【請求項２】 前記パネル面の法線方向と前記光源から
の照射光との角度が３０゜以内である請求項１に記載の
反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具。 - 【請求項３】 前記光源が、線状光源又は面状光源であ
る請求項２に記載の反射型液晶ディスプレイパネルの検
査用照明治具。 - 【請求項４】 請求項１乃至請求項３のいずれかに記載
の検査用照明治具と、前記液晶層に電場を印加するため
の電源と、を少なくとも備えている反射型液晶ディスプ
レイパネルの検査装置。 - 【請求項５】 前記パネルの検査を行う際の観察位置よ
りもパネル側に光源を配置するように構成されている請
求項４に記載の反射型液晶ディスプレイパネルの検査装
置。 - 【請求項６】 前記光源と前記パネルとの間に配置され
る偏光板を備えている請求項４又は請求項５に記載の反
射型液晶ディスプレイパネルの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13724898A JPH11326120A (ja) | 1998-05-19 | 1998-05-19 | 反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13724898A JPH11326120A (ja) | 1998-05-19 | 1998-05-19 | 反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11326120A true JPH11326120A (ja) | 1999-11-26 |
Family
ID=15194239
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13724898A Withdrawn JPH11326120A (ja) | 1998-05-19 | 1998-05-19 | 反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11326120A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002107685A (ja) * | 2000-10-03 | 2002-04-10 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶基板の支持装置 |
| JP2006208150A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Opto One Kk | 液晶基板目視検査装置 |
| JP2013195387A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Panasonic Corp | 表示パネルの製造方法、その検査装置及び検査方法 |
-
1998
- 1998-05-19 JP JP13724898A patent/JPH11326120A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002107685A (ja) * | 2000-10-03 | 2002-04-10 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶基板の支持装置 |
| JP2006208150A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Opto One Kk | 液晶基板目視検査装置 |
| JP2013195387A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Panasonic Corp | 表示パネルの製造方法、その検査装置及び検査方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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