JP4506264B2 - フォトレジストレンズの製造方法、レンズの製造方法、型の製造方法、光学装置、及び投影露光装置 - Google Patents
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- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 title claims description 75
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 59
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 61
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 53
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 45
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 30
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 15
- 238000011161 development Methods 0.000 claims description 13
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 10
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 claims description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 21
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 20
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 20
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 15
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 238000003491 array Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 Ta 2 O 5 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000010436 fluorite Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
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- 基板上に塗布されたフォトレジストに、グレースケールマスクを用いて、光強度分布を持つパターン光を照射した後に、前記フォトレジストを現像することにより、前記フォトレジストを所定の立体形状としてレンズ作用を持たせるようにしたフォトレジストレンズの製造方法であって、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する工程を含み、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する前、又は昇温して冷却した後に、ソルベントベーパ処理工程を行うことを特徴とするフォトレジストレンズの製造方法。
- 基板上に塗布されたフォトレジストに、グレースケールマスクを用いて、光強度分布を持つパターン光を照射した後に、前記フォトレジストを現像することにより、前記フォトレジストを所定の立体形状とし、その後、当該フォトレジストの立体形状のパターンを前記基板に転写すると共に前記フォトレジストを除去して、前記基板からなるレンズを製造する方法であって、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する工程を含むことを特徴とするレンズの製造方法。
- 請求項2に記載のレンズの製造方法であって、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する前、又は昇温して冷却した後に、ソルベントベーパ処理工程を行うことを特徴とするレンズの製造方法。
- 基板上に塗布されたフォトレジストに、グレースケールマスクを用いて、光強度分布を持つパターン光を照射した後に、前記フォトレジストを現像することにより、前記フォトレジストを所定の立体形状とする型の製造方法であって、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する工程を含み、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する前、又は昇温して冷却した後に、ソルベントベーパ処理工程を行うことを特徴とする型の製造方法。
- 基板上に塗布されたフォトレジストに、グレースケールマスクを用いて、光強度分布を持つパターン光を照射した後に、前記フォトレジストを現像することにより、前記フォトレジストを所定の立体形状とし、その後、当該フォトレジストの立体形状のパターンを前記基板に転写すると共に前記フォトレジストを除去して、前記基板からなる型を製造する方法であって、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する工程を含み、前記現像後のレジストを、レジストの流動による変形は起こらないが、レジストが固体状態のまま変形する温度まで昇温する前、又は昇温して冷却した後に、ソルベントベーパ処理工程を行うことを特徴とする型の製造方法。
- 請求項4または5に記載の型の製造方法により製造された型を用いて、他の基板に当該型を転写して新しい型を製造することを特徴とする型の製造方法。
- 請求項4または5に記載の型の製造方法により製造された型を用いて、他の基板に当該型を転写して新しい型を製造し、さらにこの方を用いて他の基板に当該型を転写して新しい型を製造することを1回又は複数回繰り返すことを特徴とする型の製造方法。
- 請求項4から請求項7のうち、いずれか1項に記載の型の製造方法により製造された型を母型として、電鋳を行うことにより、新しい型を製造することを特徴とする型の製造方法。
- 請求項4から請求項8のうちいずれか1項に記載の型の製造方法によって製造された型を用い、基板に当該型を転写してレンズを製造することを特徴とするレンズの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004141222A JP4506264B2 (ja) | 2004-05-11 | 2004-05-11 | フォトレジストレンズの製造方法、レンズの製造方法、型の製造方法、光学装置、及び投影露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004141222A JP4506264B2 (ja) | 2004-05-11 | 2004-05-11 | フォトレジストレンズの製造方法、レンズの製造方法、型の製造方法、光学装置、及び投影露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005321710A JP2005321710A (ja) | 2005-11-17 |
JP4506264B2 true JP4506264B2 (ja) | 2010-07-21 |
Family
ID=35469032
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004141222A Expired - Lifetime JP4506264B2 (ja) | 2004-05-11 | 2004-05-11 | フォトレジストレンズの製造方法、レンズの製造方法、型の製造方法、光学装置、及び投影露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4506264B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7879249B2 (en) | 2007-08-03 | 2011-02-01 | Aptina Imaging Corporation | Methods of forming a lens master plate for wafer level lens replication |
US7919230B2 (en) | 2008-06-25 | 2011-04-05 | Aptina Imaging Corporation | Thermal embossing of resist reflowed lenses to make aspheric lens master wafer |
CN102730629B (zh) * | 2012-06-21 | 2015-01-28 | 华中科技大学 | 一种微透镜的制备方法及其产品 |
CN102799076B (zh) * | 2012-08-06 | 2016-01-13 | 深圳光启创新技术有限公司 | 一种用于非平面基材的曝光方法及曝光装置 |
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-
2004
- 2004-05-11 JP JP2004141222A patent/JP4506264B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2004017477A (ja) * | 2002-06-17 | 2004-01-22 | Sony Corp | 光学部品の製造方法、および光学部品用型の製造方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005321710A (ja) | 2005-11-17 |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
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|
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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