JP4444499B2 - アナログ記憶装置用の高速読出しアーキテクチャ - Google Patents

アナログ記憶装置用の高速読出しアーキテクチャ Download PDF

Info

Publication number
JP4444499B2
JP4444499B2 JP2000524917A JP2000524917A JP4444499B2 JP 4444499 B2 JP4444499 B2 JP 4444499B2 JP 2000524917 A JP2000524917 A JP 2000524917A JP 2000524917 A JP2000524917 A JP 2000524917A JP 4444499 B2 JP4444499 B2 JP 4444499B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pair
cell
cells
array
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000524917A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001526498A5 (ja
JP2001526498A (ja
Inventor
ネイア,ラジェンドラン
ベイリー,マーク・エイ
アフガヒ,モーテッツア
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of JP2001526498A publication Critical patent/JP2001526498A/ja
Publication of JP2001526498A5 publication Critical patent/JP2001526498A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4444499B2 publication Critical patent/JP4444499B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/14Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/616Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/713Transfer or readout registers; Split readout registers or multiple readout registers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Description

【0001】
(背景)
本発明は、一般にアナログ信号処理に関し、より詳細には、半導体記憶アレイから情報を抽出するための技術に関する。
【0002】
半導体記憶アレイは、アナログ信号を格納したり生成するために使用される。例えば、ランダム・アクセス・メモリ(RAM)は、1ビットの情報が格納される記憶セルのアレイを有する。別の種類の記憶アレイとして、入射した放射に電気的に応答するセルを有するセンサ・アレイがある。例えばイメージ・センサ・アレイは、アレイ上にある情景の画像を形成する光に応答する。画像アレイは一般的に多数の光電池または画素を持ち、そこで投影された画像が、画素によって生成されたアナログ信号によって記録される。最近の相補型金属酸化物半導体(CMOS)センサ・アレイの一例が、Article 1,Progress in CMOS Active Pixel Image Sensors,S.K.Mendis,S.E.Kemeny,R.C.Gee,B.Pain,Q.KimおよびE.R.Fossum,SPIE,Vol.2172,19〜29ページに記載されている。画像アレイを使用するイメージング・システムの例は、ビデオカメラおよび複写機など従来の適用例から、ファクシミリ機、スキャナ、医療用イメージング装置、およびデジタル・カメラなどのより最近の適用例までを含む。Article 2,An 800K−Pixel Color CMOS Sensor for Consumer Still Cameras,J.E.D.Hurwitz,P.B.Denyer,D.J.BaxterおよびG.Townsend,SPIE Vol.3019,115〜124ページは、特にデジタル・カメラに適したイメージ・センサについて記載している。
【0003】
最近のイメージング・アレイは、非常に大きく、1024×1024個もの多数の画素を持ち、将来のアレイはさらに大きくなると予想される。詳細な画像とするためにはサイズが必要である。例えば1024×1024のアレイは、画像フレームを表現するために100万個を越える異なるアナログ信号を生成する。多数の信号はこのようにして、全体的なイメージング・システムの性能を向上するために取り組む必要のある、いくつかの問題を回路設計者に提示する。それらには、画素信号の読出し速度および総電力消費が含まれる。
【0004】
読出し速度は、個々のアナログ信号を、アレイによって生成される他の全ての信号からいかに高速で分離し、それをアナログ伝送経路内を通過させ、信号処理パイプに送り込むかに関連する。各信号対が管内に早く送り込まれるほど、画像フレーム・レートは大きくなる。今度は画像フレーム・レートが大きいほど、情景における動きの捕捉が促進される。
【0005】
改善の領域として読出し速度の他に、電力消費もまた、少なくとも2つの理由から主要な問題である。第1に、最近のデジタル・カメラなどの携帯用イメージング・システムは通常、制限されたエネルギー源を持つバッテリを使用する。したがって、そのようなシステムの電力消費を軽減するとバッテリの寿命が延長し、より魅力的な消費者製品に通じる。第2に、イメージング・アレイおよびそれらに関連付けられた読出し回路機構は現在、製造原価を削減するために、同一半導体ダイ上に作成されつつある。例として、標準相補型金属酸化物半導体(CMOS)製造工程を用いて作成されるイメージング・アレイがある。読出し回路機構および画素を同一ダイ上に形成した場合、読出し回路機構によって消費される電力が画素を加熱する。画素の加熱が今度は、各画素内の漏れ電流を増加し、その結果、画素応答が変化し、その結果一般的に有害なほど明るくかつ不正確な画像になる。読出し回路機構によって消費される電力がアレイのサイズと結びつく場合、この問題はアレイが大きいほど深刻になる。
【0006】
以上に鑑み、読出し速度を最適化し、電力消費の最小化に役立つイメージング・アレイと共に使用するための読出しアーキテクチャおよび方法が必要である。
【0007】
(概要)
第1の実施態様では、本発明は、多数の出力ラインを備えた記憶アレイを有する半導体回路を特徴とする。領域内の各記憶セルは、所定の出力ラインに第1のおよび第2の信号を生成する。多数のセンスアンプ・セルを有するセンスアンプ・アレイを記憶アレイに結合する。各センスアンプ・セルは、出力ラインにおける第1のおよび第2の信号の受取りに応答して差分信号対を生成する。
【0008】
回路はまた、第1のおよび第2のマルチプレクサ(mux)を有するアナログ・マルチプレクサをも含む。各muxは多数の入力と1つの出力とを有し、第1のmuxはその入力で差分信号対を受け取る。第1のmuxの部分集合は、第2のmuxに関連付けられる。関連付けられた第2のmuxの入力は、第1のmuxの部分集合の多数の出力に結合される。最後に、部分集合から第1のmuxおよび関連付けられる第2のmuxを選択して、アナログ・マルチプレクサから読み出される単一の差分信号対を受け渡すために、制御論理を設ける。
【0009】
別の実施態様では、センスアンプ・セルを使用して、イメージング装置に相関2回標本抽出(CDS)を実装する。センスアンプ・セルは1行を形成し、イメージ・センサ・アレイのビットラインに結合される。差分信号対に関連するアナログ信号を行画像データを表すデジタル信号に変換するために、アナログ・デジタル変換ユニットをアナログmuxに結合する。デジタル信号および画像処理ユニットは、デジタル信号の受取りに応答して、捕獲した画像データを生成する。捕獲された画像データは次に、ホスト・コンピュータなどの別個の画像処理システムに転送される。装置内の事象を統合するために、ファームウェアに格納された命令に応答して読出しに必要なタイミング信号を生成できる、システム・コントローラを装備する。
【0010】
(詳細な説明)
上で簡単に要約した通り、本発明の一実施形態は、記憶アレイおよびアナログ・マルチプレクサにフィードするセンスアンプ・アレイを有する多層アナログ信号読出しアーキテクチャに向けられている。別の実施形態では、センスアンプ・アレイのセンスアンプ・セルは各々、アナログ・マルチプレクサを介して信号処理パイプへ差分信号対を送り込むために、単一利得閉ループ増幅器として構成された演算増幅器(オペアンプ)対を含む。信号処理パイプにおける信号対の整定時間を向上するために、オペアンプは、信号処理パイプへのアナログ伝送経路をロードしながら、弱減衰応答を提供するように設計される。
【0011】
さらに別の実施形態では、センスアンプ・アレイ内の各センスアンプ・セルは、Select信号またはSelect_Ahead信号のいずれか一方、または両方に応答して起動される。Select_Ahead信号はセルを起動し、Select信号はセルがその差分信号対をアナログmuxに送り込むことを可能にする。これにより、Select信号がアサートされた時点で各セルはすでに起動しているので、1つのセルから次のセルへの高速遷移が可能になる。また、読出し中のいつでも任意の時間に2つのセルだけを起動させておくことは、電力消費の削減に役立ち、センスアンプ・アレイの電力消費をアレイの大きさから実質的に切り離し、したがってアーキテクチャが容易に拡張可能になる。
【0012】
図1は、本発明の第1の実施形態による記憶アレイ110からアナログ信号を読み出すためのアーキテクチャを示す。このアーキテクチャは、多数の出力ライン(例として788が示されている)を介してセンスアンプ・アレイ114に結合された記憶セルの配列を特徴とする。各出力ラインは、1列の記憶セルに結合される。記憶セルによって生成されたアナログ信号は、出力ラインを介して、一度に1行ずつセンスアンプ・アレイに送られる。一度に1行ずつ読み込まれるように図示されているが、言うまでもなく各出力ラインを1列ではなく1行の記憶セルに結合することを前提として、アナログ信号は代替的に一度に1列ずつ読み出すこともできる。
【0013】
センスアンプ・アレイは1行のセンスアンプ・セルであり、図1に示すように、各列に1つのセンスアンプ器セル116がある。本発明のイメージング・システムの実施形態(図7に関連して後述する)では、センスアンプ・セルは、画素信号の相関2回標本抽出(CDS)を実現する。当業者には周知の通り、CDSは、画素信号の固定パターン・ノイズを低減するために使用される技術である。固定パターン・ノイズとは、画素間の製造上のばらつきによって引き起こされ、それがなければ同一となる画素信号値の誤差を指す。CDSは、各画素信号の露光前の「リセット値」および露光後の「露光値」の両方を標本抽出する必要がある。次いで2つの値は差分信号対として信号処理パイプへ転送される。そこで、リセット値間の差および製造されたアレイの画素の回路機構によって生じる誤差を解消するために、値は専用回路機構によって、またはデジタル形式に変換された後でソフトウェアによって相関される(または単に引き算される)。したがって各センスアンプ・セル116は、その対応する列から2つの値を抽出して保持し、それらを差分信号対として駆動する。2つの値が抽出され、1行全体の各センスアンプ・セル116に格納された後、任意の行について1列ずつ読出しを続けることができる。
【0014】
読み出される列が選択されると、アナログ・マルチプレクサ(mux)118内のアナログ伝送経路が形成される。アナログ・マルチプレクサ118は、複数のレベルに配列された多数の小さいマルチプレクサ130〜189で形成される。一実施形態では、小さいマルチプレクサは、多数のスイッチ対またはパス・ゲート対を含む。各対は、センスアンプ・アレイ114から受け取った差分信号対を効果的に受け渡すためのスイッチとして作動する、フルCMOS伝送ゲート、半ゲート、またはその他の装置とすることができる。
【0015】
アナログmux118は、多数の異なるレベルのマルチプレクサを有する。例えば、788個の出力ラインから1つを選択する際、図1に示すように、3つのレベルが使用される。10ビット列アドレス(1024種類の選択が可能)が、制御論理およびドライバ・レフト192に送られる。10ビット・アドレスは、3種類のレベルのマルチプレクサに対応する3つの異なる組のSelect信号に予備復号される。第1のレベルは50個の16対1mux130〜179を持ち、その入力はセンスアンプ・アレイからの差分信号を受け取る。第1のレベルの各々の16対1muxの単一の出力は、第2のレベルの7個の8対1mux180〜186の入力に送られる。最後に、第2のレベルのmuxの出力は、単一の8対1mux187に送られる。
【0016】
動作中、10ビット列アドレスが復号され、50個の第1のレベルのmux130〜179の1つ、および7個の第2のレベルのmux180〜186の1つが使用可能になり、または選択される。32個の予備復号されたラインは、選択された第1のレベルのmuxにおける16個のパス・ゲート対のうちの1つ、選択された第2のレベルのmuxにおける8個のパス・ゲート対のうちの対応する1つ、および最後に第3レベルのmuxにおける8個のパス・ゲート対のうちの対応する1つを選択する。
【0017】
差分信号対は、アナログmux118内を駆動された後、任意選択的ディファレンシング・ユニット(differencing unit)122に到着する。本発明のイメージング・システムの実施形態では、ディファレンシング・ユニットは、当業者には周知の通り、2段差標本抽出(DDS)を実行する。DDSは、センサ・アレイの列間の製造上のばらつきによるノイズをさらに低減するために、特にセンスアンプ(CDS)セルにおける増幅器のオフセットによる誤差を低減するために使用される。
【0018】
差分信号対は、ディファレンシング・ユニット122によって相関された後、最終的に信号処理パイプ126に送られる。そこで、アレイ全体の信号対をさらに増幅し、逐次、アナログ・デジタル変換ユニット(図示せず)を使用してデジタル形式に変換することができる。次いで、さらなるデジタル処理を実行することができる。
【0019】
図2および図3は、信号読出しの最適化としての本発明のさらなる実施形態を示す。この実施形態におけるセンスアンプ・セル116は、単一利得閉ループ増幅器として構成された1対の演算増幅器(オペアンプ)A1およびA2を含む。増幅器はそれらのそれぞれの入力信号(出力ラインを標本抽出することによって得たコンデンサCSA1およびCSA2上の電圧)を、寄生抵抗(R)およびキャパシタンス(C)を含むことができるいくつかの対のスイッチまたはゲートとして表されるアナログmux118内で駆動する。オペアンプの少なくとも1つ、好ましくは両方とも、その負荷内で信号を駆動するときに、図3に示すように、その出力ノード(ノード「中間」)に弱減衰応答を生じるように構成する。その負荷はアナログ・マルチプレクサ118内の信号経路であり、任意選択的にディファレンシング・ユニット122への経路である。代替的に、オペアンプの対は、任意選択的ディファレンシング・ユニット内のコンデンサCDU1およびCDU2(ノード「OUT」)のニア・プレート(MUX側のプレート)に臨界減衰応答(critically damped response)を生じるように構成する。出力ノードにではなく、mux112を通して信号経路の端部に臨界減衰応答を生じるようにオペアンプを設計すると、ノードOUTにおける信号の整定時間が短縮される。整定時間は、回路の過渡応答の文脈で、刺激(センスアンプ・セルを起動し、アナログmux内に経路を形成する)とその応答(差分信号対の一方または両方がそれらの定常状態値の例えば0.1%未満まで整定する)との間の時間間隔と定義することができる。
【0020】
差分信号対の整定時間のごくわずかな短縮でも、記憶アレイ内の非常に多数のセル、例えば1024×1024のイメージ・センサ・アレイの場合100万個分を掛けると、アレイ110全体の読出し中にはかなりの速度上の利点となるので、各差分信号対の整定時間がより早ければ今度は、記憶アレイ110全体をかなりより高速で読出すことが可能になる。
【0021】
DDSは各画素について露光値とリセット値の差分信号対が読み出された後で追加読出しサイクルを必要とするので、この速度上の利点は、CDSおよびDDSの両方を使用して固定パターン・ノイズを削減する場合には、いっそう重要になる。DDSは通常、2段階式で作動する。第1に、CLAMP信号がDDSユニット122でアサートされ、予め定められた共通モード電圧VCM1がファー・プレートに印加される間、セル116は露光値およびリセット値を駆動する(図2参照)。次に、CROWBAR(CB)がアサートされ、オペアンプA1およびA2の入力が短絡し、CLAMPは解消される。したがって、露光値およびリセット値に加えて、DDSは、露光値とリセット値の平均をセル116によってDDSユニット内に駆動させる。CLAMPとCBの使用の組合せの結果、各画素に追加読出しサイクルが必要になるにもかかわらず、オペアンプA1およびA2のずれによって生じる誤差は削減される。
【0022】
今、本発明のさらに別の実施形態に移ると、図4〜6は、より大きいアナログ記憶アレイ114を有するシステムの電力消費を削減するために使用できる回路および関連タイミング図を示す(図1参照)。この実施形態はまた、より大きいアレイになることによる電力消費の増加が、信号をアナログmux118内に駆動する間(図1参照)センスアンプ・アレイ114全体が付勢され続けるアーキテクチャの場合よりかなり少ない、拡張可能な読出しアーキテクチャをも生じる。センスアンプ・アレイ114およびタイミング信号は、電力消費を削減するために、いつでも任意の瞬間に2つを除く全部のセンスアンプ・セルが非アクティブ状態であり続けるように構成する。各セルの非アクティブ状態とは、コンデンサCSA1およびCSA2で標本抽出される信号対の値が読み出されるまで、その値を維持することができるが、セルが最小限の電力を消費する状態と定義される。例えば、各セル中のオペアンプA1およびA2は、オペアンプを低電力モードに切り換えること、さらには非アクティブ状態で遮断することを可能にするイネーブル入力を備えている。
【0023】
アレイ114は、隣接するセンスアンプ・セルの対を順次起動することによって読み出される。センスアンプ・セルは、図5に示すように構成することができる。スイッチ対520を増幅器の出力ノードと直列に設け、スイッチ対をSelect信号によって制御する。ORゲート524はSelect信号およびSelect_Ahead信号を受け取り、増幅器のイネーブル入力を制御する。Select信号およびSelect_Ahead信号は、タイミング信号生成回路708から生成される(図7参照)。Select信号およびSelect_Ahead信号をパルスとして示す例示的タイミング図を、マスター・クロックを基準として図6に示し、以下の例によって説明する。
【0024】
0/1パルスのアサート段階中に、2つの事象が発生している。第1に、ニア・セル(0/1対のセル0)がアクティブであり、そのオペアンプは差分信号対をアナログmux内に駆動している。同時に、ファー・セル(0/1対のセル1)はアクティブであるが、その選択入力がパルス1/2によって示されるように解消されるので、そのセルから信号は駆動されていない。
【0025】
マスター・クロックの次のサイクルで、パルス0/1は解消され(セル0を作動停止する)、パルス1/2がアサートされ、センスアンプ・セルの次の対を起動する。後者の事象はセル1をアクティブ状態に維持し、セル2を起動する。したがって新しい差分信号対は、セル1のみによって駆動される。セルがその差分信号対を駆動すると予想される時間より1マスター・クロック・サイクル分前にファー・セルを選択することによって、セル間の高速遷移が達成される。2つの隣接する対のセルが起動される短い時間がある。電力消費をさらに削減するために、そのような重複は最小にしなければならない。
【0026】
上述の本発明の実施形態は、図7に論理ブロック図の形で示したイメージング装置に組み込むことができる。装置700は、図1〜6に示しかつ上述した1つまたはそれ以上の実施形態を組み込んだアナログ信号読出しアーキテクチャの一部である、イメージ・センサ・アレイ710を含む。レンズおよびアパーチャを有する光学系706は、物体の像をイメージ・センサ・アレイ710を含む焦点面に投影するように調整される。イメージ・センサ・アレイ710は、アレイ1列に1本ずつ、多数のビットラインを備え、これらは画素信号を相関2回標本抽出(CDS)アレイ714に転送するために使用される。CDSアレイは、1列のセンサ・アレイ710に1つの差分信号対を供給し、画素信号を一度に1行ずつ読出すために使用される。1行のセンサ・アレイの差分信号対は次いで、アナログ・マルチプレクサ118に送られる。アナログ・マルチプレクサは、図1に示しかつ上述した構成を持つことができる。さらに、Select信号およびSelect_Ahead信号を使用して一度に1対の隣接CDSセルのみを付勢する技術を使用して、装置700の性能をさらに向上することができる。差分信号対は次いで、順次、2段差標本抽出(DDS)ユニット722に送られ、そこでさらなるノイズ削減が行われる。
【0027】
CDSおよびDDSに従って補正された後、差分信号対は次いで、アナログ・デジタル変換ユニット726に転送して、デジタル形式に変換することができる。最後にデジタル信号および画像の処理(DSIP)730がデジタル信号に行われ、希望する解像度を持つ画像データが得られる。DSIP730は、色補正、拡大縮小、および画像データの大きさをさらに縮小することを希望するならば圧縮を実行する、ハードワイヤード論理回路またはプログラムによる高性能プロセッサを含むことができる。圧縮画像データは、ユニバーサル・シリアル・バス(USB)およびIEEE1394〜1995など周知のコンピュータ周辺バス標準の任意の1つに従って作動する通信インタフェースを介して、ホスト・コンピュータに転送することができる。装置700は随意、画像データの不揮発性記憶用の可換型メモリ・カードなどの局所記憶装置を含むことができる。
【0028】
装置700の動作全体は、DSIPユニット730のみならずタイミング信号および列アドレス生成ユニット708にも制御およびデータ信号を供給するシステム・コントローラ712によって管理することができる。システム・コントローラ712は、マイクロコントローラ、またはシステム・コントローラ内の不揮発性メモリ、例えばファームウェア(図示せず)に格納された命令に応答する、入出力インタフェースを有するプロセッサを含むことができる。CDSアレイ714によって使用される様々なタイミング信号SelectおよびSelect_Ahead、ならびにアナログ・マルチプレクサによって使用される列アドレスは、タイミング信号およびアドレス生成ユニット708内のハードワイヤード論理回路機構によって生成することができる。代替的に、システム・コントローラ712を改善して、それ自体タイミング信号およびアドレス生成機能を提供させることもできる。
【0029】
要約すると、アナログ記憶アレイ用の読出しアーキテクチャの様々な実施形態に関して説明した。センスアンプ・アレイに結合された多層アナログ・マルチプレクサを手始めにして、さらなる実施形態は、高速単一利得増幅器および一度に1対のセンスアンプ・セルのSelect_Ahead読出しの形で、速度および電力消費の改善を可能にする。
【0030】
上述の本発明の実施形態は、言うまでもなく、構造および実現にその他の変形を受けることがある。例えば、様々な実施形態、特に電荷結合素子(CCD)方式のセンサ・アレイよりセンサ・アレイ710の消費電力が低い標準CMOSを実現するために、異なる半導体製造方法を使用することができる。したがって、本発明の範囲は、図示した実施形態によってではなく、添付の請求の範囲およびそれらの法的均等物によって決定されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施形態によるアナログ読出しおよび多重化アーキテクチャを示す略図である。
【図2】 本発明の別の実施形態を実現するためにセンスアンプ・セルに与えられた負荷を示す略図である。
【図3】 図2のセンスアンプ・セルに関連する信号の動作を示すグラフである。
【図4】 本発明の別の実施形態によるセンスアンプ・アレイを示す略図である。
【図5】 図4のセンスアンプ・アレイで使用されるセンスアンプ・セルの回路図である。
【図6】 図4に示すセンスアンプ・アレイに加えられる制御信号のタイミング図である。
【図7】 1情景における物体の画像を捕獲するために使用されるイメージング装置としての本発明の実施形態を示す略図である。

Claims (2)

  1. 一度に1行ずつセンサ・アレイ内のセンサ要素の出力を標本抽出する方法であって、各行を標本抽出している間に
    a)センサ・アレイに結合されたセンスアンプ・セルのニア・セルおよびファー・セルを有する現在の対を低電力消費状態から高電力消費状態に変化させることによって、前記現在の対を起動する工程と、
    b)前記センサ・アレイの行内の第1センサ要素の出力を表す少なくとも1つの信号を、前記現在の対の前記ニア・セルから駆動する工程と、
    c)後続対のニア・セルが前記現在の対のファー・セルであり、前記後続対のファー・セルがセルの前記現在の対と別々である、前記センサ・アレイに結合されたセンスアンプ・セルの前記後続対のファー・セル低電力消費状態から高電力消費状態に変化させることによって、前記後続対を起動する工程と、そして
    d)前記行内の第2センサ要素の出力を表す少なくとも1つの信号を前記後続対の前記ニア・セルから駆動する工程と
    を実行する方法。
  2. 各セルが各ビットラインに結合された複数の増幅器セルに結合された複数のビットラインを有するセンサ・アレイを有する電子システムにおいて、前記センサ・アレイ内のセンサ要素の出力を標本抽出する方法であって、
    各対がニア・セルおよびファー・セルを有し、対の前記ニア・セルが隣接する対のファー・セルと同一であり、各対に低電力モードから高電力モードに変化させることによって、実質的に一度に1対ずつ、前記複数の増幅器セルのそれぞれを起動する工程と、そして
    各対が前記高電力モードである間に、各対の前記ファー・セルではなく前記ニア・セルから、前記アレイ内の別々のセンサ要素の出力を表す信号を駆動する工程と
    を含む方法。
JP2000524917A 1997-12-08 1998-11-09 アナログ記憶装置用の高速読出しアーキテクチャ Expired - Fee Related JP4444499B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/987,131 1997-12-08
US08/987,131 US6366320B1 (en) 1997-12-08 1997-12-08 High speed readout architecture for analog storage arrays
PCT/US1998/023872 WO1999030484A1 (en) 1997-12-08 1998-11-09 High speed readout architecture for analog storage arrays

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001526498A JP2001526498A (ja) 2001-12-18
JP2001526498A5 JP2001526498A5 (ja) 2006-01-12
JP4444499B2 true JP4444499B2 (ja) 2010-03-31

Family

ID=25533061

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000524917A Expired - Fee Related JP4444499B2 (ja) 1997-12-08 1998-11-09 アナログ記憶装置用の高速読出しアーキテクチャ

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6366320B1 (ja)
EP (1) EP1038390B1 (ja)
JP (1) JP4444499B2 (ja)
KR (1) KR100403290B1 (ja)
AU (1) AU1453599A (ja)
DE (1) DE69827034T2 (ja)
TW (1) TW398136B (ja)
WO (1) WO1999030484A1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6847399B1 (en) 1998-03-23 2005-01-25 Micron Technology, Inc. Increasing readout speed in CMOS APS sensors through block readout
US7674293B2 (en) * 2004-04-22 2010-03-09 Facet Solutions, Inc. Crossbar spinal prosthesis having a modular design and related implantation methods
US6463566B1 (en) * 2000-02-04 2002-10-08 Massachusetts Institute Of Technology Dynamic double sampling charge integrator
US7154548B2 (en) * 2001-01-29 2006-12-26 Valley Oak Semiconductor Multiplexed and pipelined column buffer for use with an array of photo sensors
US7088394B2 (en) * 2001-07-09 2006-08-08 Micron Technology, Inc. Charge mode active pixel sensor read-out circuit
US6982758B2 (en) * 2001-07-23 2006-01-03 Micron Technology, Inc. Flexy-power amplifier: a new amplifier with built-in power management
US6838787B2 (en) * 2002-01-16 2005-01-04 Eastman Kodak Company Variable bandwidth correlated doubling sampling circuits for image sensors
US7068319B2 (en) * 2002-02-01 2006-06-27 Micron Technology, Inc. CMOS image sensor with a low-power architecture
EP1429542A1 (en) * 2002-12-11 2004-06-16 Dialog Semiconductor GmbH Fixed pattern noise compensation with low memory requirements
US6953923B2 (en) * 2003-02-18 2005-10-11 Omnivision Technologies, Inc. CMOS image sensor having reduced numbers of column readout circuits
US7821555B2 (en) * 2003-04-21 2010-10-26 Micron Technology, Inc. Multi path power for CMOS imagers
US20040246354A1 (en) * 2003-06-04 2004-12-09 Hongli Yang CMOS image sensor having high speed sub sampling
KR100656666B1 (ko) * 2004-09-08 2006-12-11 매그나칩 반도체 유한회사 이미지 센서
US20060170788A1 (en) * 2005-02-03 2006-08-03 Transchip, Inc. Image sensor with balanced switching noise
US7545834B1 (en) 2006-01-10 2009-06-09 Pericom Semiconductor Corp. Multiple channel switch using differential de-mux amplifier and differential mux equalizer
US7342212B2 (en) * 2006-03-31 2008-03-11 Micron Technology, Inc. Analog vertical sub-sampling in an active pixel sensor (APS) image sensor
US20070285547A1 (en) * 2006-05-30 2007-12-13 Milligan Edward S CMOS image sensor array optimization for both bright and low light conditions
JP4458113B2 (ja) * 2007-05-02 2010-04-28 ソニー株式会社 データ転送回路、固体撮像素子、およびカメラシステム
US20090091648A1 (en) * 2007-10-09 2009-04-09 Shengmin Lin Multi-resolution Image Sensor Array with High Image Quality Pixel Readout Circuitry
US20110286271A1 (en) * 2010-05-21 2011-11-24 Mediatek Inc. Memory systems and methods for reading data stored in a memory cell of a memory device
US8885152B1 (en) * 2011-04-29 2014-11-11 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Synchronized countermeasure system architecture
KR102410898B1 (ko) * 2021-02-23 2022-06-22 광주과학기술원 전류 모드 라인 드라이버 장치 및 이의 동작 방법

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4237383A (en) * 1978-09-20 1980-12-02 Rca Corporation High speed loading of output register of CCD array system
US4322752A (en) * 1980-01-16 1982-03-30 Eastman Technology, Inc. Fast frame rate sensor readout
US4734583A (en) * 1986-10-16 1988-03-29 General Electric Company Readout circuit for dual-gate CID imagers with charge sharing corrected for subtractive error
US4862276A (en) * 1988-10-07 1989-08-29 Wang Samuel C Push-pull readout of dual gate cid arrays
US5351309A (en) * 1992-06-30 1994-09-27 National Science Council Image edge sensor
US5471515A (en) 1994-01-28 1995-11-28 California Institute Of Technology Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer
US5736886A (en) * 1996-02-06 1998-04-07 Analog Devices, Inc. Input clamping method and apparatus with a correlated double-sampling circuit
US5877715A (en) * 1997-06-12 1999-03-02 International Business Machines Corporation Correlated double sampling with up/down counter

Also Published As

Publication number Publication date
DE69827034D1 (de) 2004-11-18
EP1038390B1 (en) 2004-10-13
KR20010032808A (ko) 2001-04-25
AU1453599A (en) 1999-06-28
EP1038390A4 (en) 2001-02-28
EP1038390A1 (en) 2000-09-27
KR100403290B1 (ko) 2003-10-30
TW398136B (en) 2000-07-11
WO1999030484A1 (en) 1999-06-17
US6366320B1 (en) 2002-04-02
DE69827034T2 (de) 2005-09-08
JP2001526498A (ja) 2001-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4444499B2 (ja) アナログ記憶装置用の高速読出しアーキテクチャ
JP5721007B2 (ja) 画像を転送する方法、イメージ・センサシステム、およびイメージ・センサ
JP4065378B2 (ja) 比較装置を有するcmosイメージセンサ及びそのオフセット電圧除去方法
JP3868648B2 (ja) イメージセンサ装置及び半導体イメージセンシング装置
US20180175094A1 (en) CMOS Image Sensor with Shared Sensing Node
US9584739B2 (en) CMOS image sensor with processor controlled integration time
TW200841721A (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and imaging device
WO2004107727A2 (en) Image sensor with time overlapping image output
US10230915B2 (en) Image capturing apparatus and image capturing system
JP2001203936A (ja) 画像記録装置
JP2000125207A (ja) 画素アレイ駆動方法及びそのイメ―ジセンサ
GB2442874A (en) Method and system for providing automatic gain control in an imaging device using signal combination and threshold comparison
JP4845466B2 (ja) 固体撮像装置
Vogelsong et al. Scientific/industrial camera-on-a-chip using active column sensor CMOS imager core
JP2008160438A (ja) 固体撮像装置
Takayanagi et al. A 600× 600 pixel, 500 fps CMOS image sensor with a 4.4 µm pinned photodiode 5-transistor global shutter pixel
CN113784062B (zh) 非连续成像cmos图像传感器稳定图像控制系统及方法
JP2005198239A (ja) 感度に優れたイメージセンサ及びその駆動方法
JP5635595B2 (ja) 画像データ収集装置の動作方法及びシステム
JP2008300931A (ja) 撮像装置
JP2804635B2 (ja) 撮像装置
JP2001186421A (ja) 画像撮像装置
JP2002190986A (ja) 固体撮像装置およびシステム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051109

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090203

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090507

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090514

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090603

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090707

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091105

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20091120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091215

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100114

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees