JP5635595B2 - 画像データ収集装置の動作方法及びシステム - Google Patents

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Description

本発明は、画像収集システムの分野に関する。特に、本発明の例示的な実施形態は、画像収集装置からの信号対ノイズを増加する方法及びシステムに関する。
カメラや他のシステムで用いられる、例えば、電荷結合装置又はCCDアレイのようなマルチピクセル画像収集素子は、高価であり、大きな電力を消費する。さらに、CCDアレイからの出力は、通常、相補型金属酸化膜半導体又はCMOSと互換性がなく、この出力を用いるために信号処理が要求されうる。したがって、CMOS回路に基づく画像センサは、多くの用途に採用されている。CMOS検出器において、各ピクセルに関連付けられたアナログ回路は、通常、信号を送信する前の光センサから取得した信号を増幅するために用いられる。ピクセル自体と共に、この回路は、アクティブピクセルセンサ又はAPSと呼ばれる。アクティブピクセルセンサに基づく画像化装置は、APSイメージャと呼ばれる。しかし、APSイメージャは、回路自体からのノイズによって生じる非常に大きな干渉を有しうる。このノイズに対処するために多くの技術が開発されてきた。
例えば、Wayneによる米国特許第6,753,912号明細書は、自己補償補正二重サンプリング又はCDSと呼ばれる増幅回路を用いてCMOS APSイメージャにおけるノイズを低減する回路を開示することを主張している。ピクセルセンサの各列は、共通列信号線に接続されたCDS増幅器を有している。そして、走査回路は、行セレクトスイッチを用いてAPSを選択することにより、列における各APSを増幅器に接触するように順次配置する。増幅器では、増幅器を供給するサンプルアンドホールドキャパシタへの各電圧をセットする各APSからの信号で基準電圧が交互に選択される。基準電圧と信号との差分は、その後、増幅器により測定されて、列読み出し回路からのノイズが低くなりうる増幅された信号となる。
Huaによる米国特許公開第2002/0105012号明細書は、また、APSから得られた信号を増幅するノイズ低減増幅器を開示することを主張している。APSイメージャの各列は、共通列信号線に接続されたノイズ低減増幅器を有する。そして、走査回路は、行セレクトスイッチを用いてAPSを選択することにより、各APSをノイズ低減増幅器に順次接続する。2つの信号は、各APSからノイズ低減増幅器へ順次提供される。第1の信号は、光信号が測定された後のAPSからの電圧を有する。APSは、その後リセットされ、第2の信号が提供されて、リセットの後のセルの電圧に対応する。出力信号は、APSからの各信号間の差分として測定される。しかし、これは、APSからの1/fノイズを補償するが、列読み出し回路によるキャパシタンスによって生じる固定パターンノイズを補償する必要はなく、APSリセットノイズが倍になりうる。したがって、電圧基準は、スイッチによりAPSから列信号線に接続されて、この固定パターンノイズの補償を補助してもよい。電圧基準は、APSからの電圧と合成されて、Vout=Vdark−Vlight+Vrefの最終出力値を提供する。
さらに、Borgらによる米国特許第6,476,864号明細書は、APSからの信号を増幅するノイズ低減増幅器を開示することを主張している。ノイズ低減増幅器は、並列な2つの二重サンプリング回路を含む。第1の二重サンプリング回路は、画像信号と基準電圧との差分を測定する。第2の二重サンプリング回路は、通常アクティブでないピクセルの列により提供された基準信号と基準電圧との差分を測定する。2つの差分信号は、差分画像信号を作成し、アナログ・デジタルコンバータへ提供される。アクティブでないピクセルの列は、APSイメージャにより発生するクロストークノイズを補償しうる基準信号を提供しうるが、基準電圧は、列読み出し回路によるキャパシタンスを補償しうる。
米国特許第6,753,912号明細書 米国特許公開第2002/0105012号明細書 米国特許第6,476,864号明細書
検出器からの画像信号のノイズを低減する、改善された方法及びシステムが望まれている。
本発明に係るアクティブピクセルセンサイメージャを用いた画像を形成する方法は、請求項1に示される。本方法は、列読み出し線に電気的に接触するアクティブピクセルセンサを配置するステップと、列読み出し線に電気的に接触するサンプルアンドホールドキャパシタを配置するステップと、増幅器の入力キャパシタに電気的に接触する前記サンプルアンドホールドキャパシタを配置するステップと、を含む。前記入力キャパシタ、前記サンプルアンドホールドキャパシタ及び前記アクティブピクセルセンサは、重複期間に全て電気的に接触する。前記増幅器からの差動出力は、デジタル化され、画像は、デジタル化された出力から形成される。
本方法の実施形態において、アクティブピクセルセンサは、前記重複期間中に前記サンプルアンドホールドキャパシタ及び前記入力キャパシタを充電する。実施形態において、前記重複期間は、500nsよりも大きくてもよい。前記列読み出し線に電気的に接触する前記アクティブピクセルセンサを配置するステップは、前記アクティブピクセルセンサと前記列読み出し線との間に動作可能に接続されるCMOS FETを作動するステップと、前記アクティブピクセルセンサと前記列読み出し線との間に電流を流すことを可能にするステップとを含む。
本方法の実施形態は、画像収集装置に組み込まれるディスプレイに前記画像を表示するステップを含んでもよい。本方法の他の実施形態は、ネットワークインターフェースコントローラを介して外部装置へ前記画像を転送するステップを含んでもよい。
本発明の他の例示的な実施形態は、検出器の画像に焦点合わせするように構成される光学システムを含み、前記検出器は、前記画像を画像データに変換するように構成される。前記光学システムは、また、処理用に前記画像データを記憶するように構成されるメモリと、記憶された前記画像データで演算を行うように構成されるプロセッサと、機械可読命令を含む第2のメモリと、を含む。前記機械可読命令は、列読み出し線に電気的に接触するアクティブピクセルセンサを配置し、列読み出し線に電気的に接触するサンプルアンドホールドキャパシタを配置し、入力キャパシタに電気的に接触する前記サンプルアンドホールドキャパシタを配置することを前記プロセッサに指示するように構成されてもよく、前記入力キャパシタ、前記サンプルアンドホールドキャパシタ及び前記アクティブピクセルセンサは、重複期間に全て電気的に接触する。前記機械可読命令は、また、前記増幅器からの差動出力をデジタル化し、デジタル化された前記出力から画像を形成することを前記プロセッサに指示するように構成される。
実施形態では、前記検出器は、アクティブピクセルイメージャを含んでもよい。さらに、実施形態では、前記画像収集システムは、外部装置へ画像を転送するように構成されるネットワークインターフェースコントローラを含んでもよい。前記画像収集システムは、また、ディスクドライブ、記憶可能な光学ディスク、デジタルテープ、又はそれらの組み合わせを含むデジタル画像ストレージ装置を含んでもよい。
本発明の好ましい実施形態は、添付の図面を参照しながら説明される。この好ましい実施形態は、単に本発明を例示するものである。複数の可能な変形が当業者にとって自明である。本発明の要旨及び範囲は、本願の係属された特許請求の範囲で規定される。
図1は、本発明の例示的な実施形態に係る、画像収集装置のブロック図である。 図2は、本発明の例示的な実施形態に係る、検出器のブロック図である。 図3は、本発明の例示的な実施形態に係る、列(カラム)増幅器の回路図である。 図4は、アクティブピクセルセンサの相関二重サンプリングのための読み出しスキームを示す図である。 図5は、アクティブピクセルセンサのデジタル二重サンプリングのための読み出しスキームを示す図である。 図6は、本発明の例示的な実施形態に係る、長い重複期間に明信号スイッチ及び明サンプルスイッチでセレクトスイッチの起動を重複する、読み出しスキームを示す図である。 図7は、本発明の例示的な実施形態に係る、読み出し動作中にセレクトスイッチ及びサンプリングスイッチの起動を重複することを示す列増幅器の回路図である。 図8は、本発明の例示的な実施形態に係る、画像を形成する方法の処理フロー図である。
本発明の例示的な実施形態によれば、アクティブピクセルセンサ又はAPSにおける画素を表す電圧の信号対ノイズ比を改善する方法及びシステムを提供する。改善された信号対ノイズは、少量の光のような特定の周囲状況下でより良い画像を提供しうる。本方法は、APSとサンプルアンドホールドキャパシタと増幅器入力キャパシタとの間の電気的な接続を形成するステップを含む。電気的な接続が時間内に重複すると、APSが両方のキャパシタを同時に充電することを可能にする。よって、信号は、キャパシタ間で分割されることにより減衰されない。
本発明の例示的な実施形態によれば、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ又はCMOS検出器を用いる電子画像化システムは、画像を収集するために用いられる。例えば、図1は、本発明の例示的な実施形態において用いられうる画像収集装置100のブロック図である。図1において、風景から反射された光102は、光学素子104により収集され、かつ焦点合わせされる。
焦点合わせされた光106は、例えば、CMOS APSイメージャでありうる検出器108へ投影される。焦点合わせされた光106は、検出器108により電気信号に変換され、その後、信号線110を介して検出器コントローラ112へ転送される。検出器コントローラ112において、検出器108からの個々の信号は、ADCを用いてデジタル画像に変換される。デジタル画像は、その後、さらなる処理のために、バス116を介してランダムアクセスメモリ又はRAM118へプロセッサ114により転送される。RAM118は、DRAM、SRAM、フラッシュメモリモジュール、又は他の高速アクセス可能なメモリユニットであってもよい。
光学素子104は、プロセッサ114が光学素子104を制御することを可能にするためにバス116に結合されてもよい。例えば、プロセッサ114は、バス116を介して、焦点、fストップ又は他の光学素子104の特性を調整してもよい。
プロセッサ114は、バス116からアクセス可能なリードオンリーメモリ又はROM120に含まれる画像収集及び処理プログラムにより制御されてもよい。このプログラムは、ROM120内になくてもよいが、ディスクドライブ、フラッシュカード、又はEEPROM等のいずれかの長期メモリユニットに含まれてもよい。ROM120内のプログラムは、図6〜8で述べる画素読み出しスキームを含んでもよい。
デジタル画像は、デジタルビデオテープ、記録可能な光学ディスク、ハードドライブ等のような別のデジタル画像ストレージ122において処理される前又は処理された後に記憶されてもよい。デジタル画像ストレージ122は、また、プログラムストレージと組み合わせてもよい。例えば、フラッシュディスクドライブは、プログラム及びデジタル画像の両方を記憶するために用いられてもよい。
画像は、収集中又は収集後に、バス116で結合されうるディスプレイユニット124上で表示されてもよい。制御部126は、また、プロセッサ114による画像の収集及び処理を制御するためにバス116に接続されてもよい。このような制御部126は、ズーム、焦点合わせ及び画像の収集の開始等のような機能のためのキーパッド、選択ノブ及びセパレートしたボタンを含んでもよい。
画像は、ネットワークインターフェース又はNIC128を介して、バス116で結合されうる画像収集装置100から転送されてもよい。NIC128は、処理前又は処理後のいずれかで、LAN130に設置される外部装置132への画像の転送に用いられうる外部LAN130に接続されてもよい。
上記に示される機能ブロックの配置は、1つのとりうる配置のみであるが、他の配置も用いてもよい。例えば、NIC128は、デジタル収集装置のRAM118へ、及びデジタル収集装置のRAM118から直接的にダイレクトメモリアクセス又はDMA転送を行うことができるようにするために、RAM118の領域に直接接続されてもよい。これは、高解像度デジタルビデオカメラのような大量のデータが含まれる場合に、データ転送を加速しうる。さらに、他の配置では、制御部126及びディスプレイ128は、単一のユニットに合成されてもよい。さらに他の組み合わせでは、ディスプレイ128は、プロセッサ114からディスプレイ機能をオフロードするために検出器コントローラ112に直接結合されてもよい。
図2は、本発明の例示的な実施形態に係る、検出器108のブロック図である。図2に示される検出器108において、APS202のアレイは、画像から反射された光を検出するために用いられる。各APS202は、列キャパシタ206に接続される列読み出し線204に接続される。アレイ202の読み出し中において、APS202の個々の列208は、垂直シフトコントローラ212からの制御線210により、読み出しのために選択されてもよい。各列210が選択されると、垂直シフトコントローラ212は、その後APS202の行を選択する水平シフトコントローラ214を作動してもよい。
水平シフトコントローラ214は、2つの信号線により各APS202に接続されてもよい。水平シフトコントローラ214からの選択線216は、それぞれの列読み出し線204に接続する水平行218における全てのAPS202に配置されるスイッチを作動してもよい。選択されたAPS202に対する列キャパシタ206は、その後、APS202から読み出される画像信号を表す電荷を蓄積してもよい。水平シフトコントローラ214からのリセット線220は、暗信号に対する、水平行218の各APS202をリセットするために用いられてもよく、列キャパシタ206は、その後、暗信号を記憶するために用いられてもよい。
増幅器222では、列キャパシタ206からの画像信号は、増幅された画像信号224を形成するために用いられてもよい。さらに、列キャパシタ206からの暗信号又はリセット信号は、増幅された基準(リファレンス)信号226を形成するために用いられてもよい。これと共に、増幅された画像信号224及び増幅された基準信号226は、APS202及び、列読み出し線204のような各種のバスラインのキャパシタンスの両方により生じるノイズに対して修正されうる差信号228を形成する。
本発明の例示的な実施形態に係る垂直シフトコントローラ212及び水平シフトコントローラ214は、APS202、列キャパシタ206及び増幅器222の間での電気的な接続を制御するようにプログラムされてもよい。他の実施形態では、図1で説明したROM120は、周囲状況に応じた垂直シフトコントローラ212及び水平シフトコントローラ214への異なる作動シーケンスをプロセッサにプログラムするように命令するプログラムを含んでもよい。例えば、プロセッサは、強い光状況でのAPS202の電気的な接続を制御する第1の作動シーケンスと、弱い光状況での第2の作動シーケンスとをプログラムしてもよい。
検出器108は、上記に示した構成に制限されない。実際、制御線又は制御ユニットのいずれかの適切な組み合わせは、本発明の実施形態において、個別のAPS202の読み出しを制御するために用いられ、これは本発明の範囲内である。例えば、APS202の各列208は、個別の列増幅器を有していてもよい。
図3は、列読み出し線204から列キャパシタ206により接続された単一のAPS202の回路図である。列キャパシタ206は、列増幅器222に順に接続される。図3に示すように、APS202は、一般的にCMOS電界効果トランジスタ又はCMOS FETを含む検出器及び増幅回路を含むアクティブピクセル302を有してもよい。単一の増幅回路でありうるバッファ304は、アクティブピクセル302とセレクトスイッチ306と間に接続されてもよい。セレクトスイッチ306は、水平シフトコントローラにより、列読み出し線204に電気的に接触するAPS202を配置するために用いられてもよい。本明細書で用いられるように、セレクトスイッチ306のような各スイッチは、また、CMOS FETであってもよい。
列読み出し線204は、APS202と列キャパシタ206とを接続する。列キャパシタ206に関連付けられた一連のスイッチは、切り替えられた列増幅器、SCA308を用いて増幅器222へ各種の信号を転送するために用いられて、差動信号228を形成してもよい。より具体的には、暗基準スイッチ310及び暗信号スイッチ312は、暗基準電圧
Figure 0005635595
又は暗信号をそれぞれ暗サンプルアンドホールドキャパシタ314へ印加するために用いられてもよい。例えば、スイッチ310及び312が図3に示す位置にある場合、
Figure 0005635595
は、暗サンプルアンドホールドキャパシタ314へ印加される。同様に、明基準スイッチ316及び明信号スイッチ318は、明基準電圧又は画像信号をそれぞれ明サンプルアンドホールドキャパシタ320へ印加するために用いられてもよい。スイッチ316及び318が図3に示す位置にある場合、画像信号は、明サンプルアンドホールドキャパシタ320へ印加される。
暗サンプルアンドホールドキャパシタ314は、キャパシタ314と324との間の信号線326に位置するサンプリングスイッチ322を介して、SCA308上の暗入力キャパシタ324に電気的に接続されてもよい。信号線326は、信号対ノイズを低減しうる付随する寄生容量328を有する。同様に、明サンプルアンドホールドキャパシタ320と明入力キャパシタ334との間の信号線332に位置するサンプリングスイッチ330は、キャパシタ320及び334を電気的に接続可能にする。寄生容量336は、また、キャパシタ320及び334を結合する信号線332と関連付けられている。従来から一般的に知られているように、フィードバックキャパシタ338及び340は、増幅処理中のSCA308用にオフセット電圧を蓄積するために用いられる。サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320は、入力キャパシタ324及び334から離れて示されているが、本発明の例示的な実施形態において、以下に説明するように、2つの機能は、増幅器222への各入力線326及び332に位置する単一のキャパシタに統合されてもよい。
スイッチ306,310,312,316,318,322及び330のための異なる動作機構は、ノイズ用の増幅器222からの差動出力228を補正するために用いられてもよい。例えば、スイッチは、APS202及び基準電圧からのサンプリング信号間を交互に行って、APS202からのノイズを補償した信号を生成するために用いられてもよい。ノイズ補償に用いられる2つのスキームは、図4及び5で説明される。図4で説明するように、二重サンプリング又はDSは、例えばバスライン326及び332からの寄生容量328及び336のような寄生容量により生じるノイズを補正するために用いられてもよい。図5で説明するように、相関二重サンプリング又はCDSは、APS202により生じるリセットノイズを補正するために用いられる。
図4は、APS202の二重サンプリング又はDSのための読み出しスキームを示す図である。図3も参照すると、このスキームでは、基準スイッチ310及び316は、このスキーム中に“off”又は開位置にあってもよい。サンプリングのために、参照番号402で示されるように、明信号スイッチ318は、“on”に設定され、続いてセレクトスイッチ306を“on”又は閉位置に設定することにより、APS202から明サンプルアンドホールドキャパシタ320への画像信号をサンプリングするように設定されてもよい。約100から500ナノ秒(ns)の後、明信号スイッチ318は、その後、オフにされ、リセット信号は、APS202に対してオンに切り替えられてもよい。暗信号スイッチ312は、その後、参照番号404で示されるように、暗サンプルアンドホールドキャパシタ314への暗信号をサンプリングするようにオンに切り替えられてもよい。約100から500ナノ秒の後、リセット信号及び暗信号スイッチ312は、画像の別のサンプルをAPS202により収集できるようにオフにされる。この処理は、参照番号406で示されるように、繰り返されてもよい。この処理を繰り返すことは、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320に蓄積された値をAPS202からの実際の値により近づけうる。
一旦、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320がAPS202から充電されると、サンプリングスイッチ322及び330は、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320の電荷を、増幅器222の各インレットキャパシタ324及び334へ転送するようにオンに切り替られる。DSは、図3で説明した寄生容量328及び336からのノイズのような信号線のキャパシタンスにより発生されるノイズを補償するが、APS202からのノイズは補償しない。
APS202により生成されるノイズは、基準電圧をサンプリングし、かつ基準電圧の信号値を補正することにより補正されてもよい。図5は、アクティブピクセルセンサの二重サンプリング又はCDSを補正する読み出しスキームを示す図である。このサンプリングスキームは、APS202により生成されたノイズを補正するために用いられる。参照番号502により通常示されるように、読み出しスキームの2分の1の間には、明信号スイッチ318及び暗基準スイッチ310は、同時にオンに切り替えられ、約100から500ナノ秒後にセレクトスイッチ306がオンに切り替えられる。約100から500ナノ秒後、セレクトスイッチ306は、オフに切り替えられ、そして、明信号スイッチ318及び暗基準スイッチ310は、その後、オフに切り替えられる。参照番号504により示されるように、この処理は、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320に蓄積される電圧の精度が高くなるように繰り返される。これは、画像信号から明サンプルアンドホールドキャパシタ320、及び
Figure 0005635595
から暗サンプルアンドホールドキャパシタ314をサンプリングする。この信号は、その後、増幅器22でサンプリングされてもよい。この処理は、通常、暗基準スイッチ310に代わる暗信号スイッチ312及び明信号スイッチに代わる明基準スイッチ316を用いて繰り返されて、明基準電圧
Figure 0005635595
及び暗信号をサンプリングする。
再度図3を参照すると、上記のモードの両方において、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320は、列選択のサンプリング時間中、例えば、セレクトスイッチ306が閉位置にある約100から500ナノ秒中に充電される。図4及び5に示すサンプリングサイクルが完了した後、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320の値の読み出しは、約100から500ナノ秒でサンプリングスイッチ322及び330をオンに切り替え、増幅器222のインレットキャパシタ324及び334をサンプルアンドホールドキャパシタ314及び320に接触させるように切り替えることにより行われてもよい。
しかし、読み出し処理は、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320から測定されうる信号レベルを低減しうる。例えば、明サンプルアンドホールドキャパシタ320の読み出しが開始された場合、サンプリングスイッチ320は、オンに切り替えられる。明サンプルアンドホールドキャパシタ320における充電は、その後、明サンプルアンドホールドキャパシタ320及び明入力キャパシタ334間に分配されるであろう。その結果、充電は、CBright/(C+CBright)により減衰され、初期値の約60%のみになりうる。暗サンプルアンドホールドキャパシタ314の充電は、同様に、暗サンプルアンドホールドキャパシタ314及び暗入力キャパシタ324間に分配されることにより減衰されるであろう。
充電の減衰は、読み出し処理中の信号対ノイズを低減しうる。より具体的には、数式(1)によってピクセルノイズとSCAからのノイズとが合計される。
Figure 0005635595
よって、ピクセルノイズnpixが減衰した場合、SCA308からのノイズの寄与であるnSCAは増加する。これは、検出器の全ノイズパフォーマンスを低減する。この減衰は、列キャパシタ206を増幅器222と接続する信号線326及び332により生成される寄生容量328及び336に応じて、さらに大きくなりうる。
本発明の例示的な実施形態において、セレクトスイッチ306は、信号スイッチ312及び318並びにサンプリングスイッチ322又は330と協調して動作されて、以前のサンプリングスキームからの減衰を抑制してもよい。例えば、図6は、本発明の例示的な実施形態において、より長い期間にセレクトスイッチ306の作動が明信号スイッチ318及び明サンプリングスイッチ330と重複する読み出しスキームを示す図である。図6に示すように、セレクトスイッチ306からAPS202は、以前の読み出しスキームよりも長い期間、例えば、約500から1500nsにオンの位置で維持されてもよい。明信号スイッチ318及び明サンプリングスイッチ330は、その後、図6に示すように、セレクトスイッチ306により重複期間にオンの位置に維持されてもよい。
よって、図6に示す読み出しスキームでは、APS202は、アクティブバッファとして機能し、明サンプルアンドホールドキャパシタ320及び明入力キャパシタ334の両方を共に充電することとして機能する。APS202が両方を共に充電すると、インレットキャパシタ334の画像信号は、明サンプルアンドホールドキャパシタ330の初期充電から減衰しない。これと同一の期間中に、暗基準スイッチ310は、オンにされてもよく、暗基準電圧
Figure 0005635595
を暗サンプルアンドホールドキャパシタ314及び暗入力キャパシタ324の両方に充電する。上記で説明したように、このスキームは、暗信号スイッチ312及びサンプルスイッチ322をオンの位置に維持することにより、APS202からの暗信号をサンプリングするように繰り返されてもよい。さらに、寄生容量336及び328は、また、この期間中に充電され、信号上のこれらの効果を低減する。
図6に示すサンプリング期間中のスイッチの位置は、図7においてより明確になりうる。図7は、本発明の例示的な実施形態において、セレクトスイッチ306及びサンプリングスイッチ330の作動を重複する読み出しスキームを示す列増幅器の回路図である。この図を見てわかるように、各サンプリング処理、例えば、APS202からの明信号をサンプリングする処理の2分の1の間、セレクトスイッチ306は、明信号スイッチ318及び明サンプリングスイッチ322と同様に重複期間においてオンになる。この期間の間、APS202は、明サンプルアンドホールドキャパシタ320及び明入力キャパシタ334の両方と同時に電気的に接触する。したがって、APS202は、これらのキャパシタ320及び334の両方を充電して、APS202がサンプリングスイッチ306によりもはや接続されなくなった後に、キャパシタ320及び334を互いに接続したことによる充電の減衰を防いでもよい。この実施形態において、サンプルアンドホールドキャパシタ314及び320は、入力キャパシタ324及び334で同時に充電され、かつSCA308により同時にサンプリングされる。よって、本発明の例示的な実施形態において、入力キャパシタ324又は334は、サンプリングキャパシタ及び入力キャパシタの両方のようにサンプルアンドホールドキャパシタを用いることにより、除去されてもよい。
APS202と明キャパシタ320及び334との間、又はAPS202と暗キャパシタ314及び324との間の接続の重複期間は、同時に開始及び停止する必要はない。例えば、実施形態では、セレクトスイッチ306は、先ず閉じられてもよく、続いて信号スイッチ318により、APS202を明サンプルアンドホールドキャパシタ320に接触して配置する。明サンプルスイッチ330は、その後、明インレットキャパシタ334への信号をサンプリングするように閉じられてもよい。このスイッチは、その後、APS202からキャパシタ320及び334との接続を解除するために開かれてもよい。しかしながら、他の実施形態では、サンプルアンドホールドキャパシタ320又は314は、APS202及び入力キャパシタ334又は324それぞれに重複して電気的に接触している限り、任意の命令が、これらの接続を行う、又は接続を解除するために用いられてもよい。
図8は、本発明の例示的な実施形態に係る、画像を形成する方法800の処理フロー図である。本方法800は、ブロック802において、画像収集装置の初期化を開始する。初期化は、画像収集装置の切り替えにより行われてもよい。あるいは、初期化は、本発明の例示的な実施形態に係る画像収集装置を動作する特定のモードを選択することにより行われてもよい。ブロック804において、検出器は、画像を収集するために光に露出される。検出器は、例えば、図2及び3で説明したようなAPSを含むAPSイメージャであってもよい。
各APSからの信号を読み出すために、ブロック806において、セレクトスイッチは、APSを列読み出し線に接触して配置するように閉じられる。ブロック808において、スイッチは、列読み出し線をサンプルアンドホールドキャパシタに電気的に接触して配置するように閉じられる。ブロック810において、サンプリングスイッチは、サンプルアンドホールドキャパシタ及びAPSを増幅器の入力キャパシタに電気的に接触して配置するように閉じられる。入力キャパシタが除去されている場合には、前述したように、APSを増幅器に直接接触して配置するようにサンプリングスイッチを閉じる。スイッチを閉じる命令は、上記の命令に限定されない。実際、任意の期間にAPS、サンプルアンドホールドキャパシタ及び増幅器の入力キャパシタへ同時に電気的な接触をもたらす任意の命令は、本発明の範囲内である。
各サンプルアンドホールドキャパシタ及び各入力キャパシタが、明信号及び暗信号それぞれに対して、APSから充電された後に、ブロック812において、ADCは、増幅器からの増幅された差動電圧をデジタル化して、アクティブピクセルセンサにより検出された光を表現するデジタル信号を生成してもよい。ブロック814において、サンプリングスイッチ及びセレクトスイッチは、開かれてもよい。ADCからのデジタル信号は、APSイメージャにおける他のAPSで測定されたデジタル信号と合成されて、ブロック816における画像のデジタル表現を生成してもよい。このデジタル表現は、例えば、表示、印刷、送信、又は閲覧者に対する他の表現でありうる静止画像又はビデオシーケンスを生成するために用いられてもよい。
当業者は、上記で記載した本発明の特徴を任意に結合することが好ましいことを理解するであろう。

Claims (13)

  1. 列読み出し線(204)に電気的に接触するアクティブピクセルセンサ(202)を配置するステップと、
    前記列読み出し線(204)に電気的に接触するサンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)を配置するステップと、
    増幅器(222)に電気的に接触する前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)を配置するステップであって、前記増幅器(222)、前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)及び前記アクティブピクセルセンサ(202)は、重複期間に全て電気的に接触する、ステップと、
    前記増幅器(222)から前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)の接続を解除するステップと、
    前記増幅器(222)からの差動出力(228)をデジタル化するステップと、
    デジタル化した出力から画像を形成するステップと、を含むアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  2. 前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)と前記増幅器(222)との間に接続され、重複期間に前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)及び前記アクティブピクセルセンサ(202)に電気的に接触する入力キャパシタ(324又は334)を配置するステップを含む、請求項1に記載のアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  3. 前記アクティブピクセルセンサ(202)は、前記重複期間中に前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)及び前記入力キャパシタ(324又は334)を充電する、請求項2に記載のアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  4. 前記重複期間は、500ナノ秒よりも大きい、請求項1から3のいずれか一項に記載のアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  5. 前記列読み出し線(204)に電気的に接触する前記アクティブピクセルセンサ(202)を配置するステップは、前記アクティブピクセルセンサ(202)と前記列読み出し線(204)との間に動作可能に接続されるCMOS FETを作動するステップと、前記アクティブピクセルセンサ(202)と前記列読み出し線(204)との間に電流を流すことを可能にするステップとを含む、請求項1から4のいずれか一項に記載のアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  6. 画像収集装置(100)に組み込まれるディスプレイ(124)に前記画像を表示するステップを含む、請求項1から5のいずれか一項に記載のアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  7. ネットワークインターフェースコントローラ(128)を介して外部装置(132)へ前記画像を転送するステップを含む、請求項1から6のいずれか一項に記載のアクティブピクセルセンサイメージャ(108)を用いて画像を形成する方法(800)。
  8. 検出器(108)の画像に焦点合わせするように構成される光学システム(104)と、
    前記画像を画像データに変換するように構成される前記検出器(108)と、
    処理用に前記画像データを記憶するように構成されるメモリ(118)と、
    記憶された前記画像データで演算を行うように構成されるプロセッサ(114)と、
    列読み出し線(204)に電気的に接触するアクティブピクセルセンサ(202)を配置し、
    前記列読み出し線(204)に電気的に接触するサンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)を配置し、
    増幅器(222)に電気的に接触する前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)を配置し、前記増幅器(222)、前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)及び前記アクティブピクセルセンサ(202)は、重複期間に全て電気的に接触し、
    前記増幅器(222)から前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)の接続を解除し、
    前記増幅器(222)からの差動出力(228)をデジタル化し、デジタル化した出力から画像を形成することを前記プロセッサ(114)に指示するように構成される機械可読命令を含む第2のメモリ(120)と、を含む画像収集システム(100)。
  9. 前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)と前記増幅器(222)との間に接続される入力キャパシタ(324又は334)を含み、前記第2のメモリ(120)は、重複期間に前記サンプルアンドホールドキャパシタ(314又は320)及び前記APS(202)に電気的に接触する入力キャパシタ(324又は334)を配置するように構成される機械可読命令を含む、請求項8に記載の画像収集システム(100)。
  10. 前記検出器(108)は、アクティブピクセルイメージャを含む、請求項8又は9に記載の画像収集システム(100)。
  11. 外部装置(132)へ画像を転送するように構成されるネットワークインターフェースコントローラ(128)を含む、請求項8から10のいずれか一項に記載の画像収集システム(100)。
  12. デジタル画像ストレージ装置(122)を含む、請求項8から11のいずれか一項に記載の画像収集システム(100)。
  13. 前記デジタル画像ストレージ装置(122)は、ディスクドライブ、記憶可能な光学ディスク、デジタルテープ、又はそれらの組み合わせを含む、請求項12に記載の画像収集システム(100)。
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