JP4438359B2 - アルミニウムｍｉｇ溶接のアーク長制御方法 - Google Patents

Description

本発明は、アルミニウムＭＩＧ溶接において、母材表面の酸化皮膜の形成状態の急変に伴うアーク長の変動を抑制するためのアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法に関するものである。

アルミニウム又はその合金（以下、アルミニウムという）のＭＩＧ溶接法としては、一般的に、パルスＭＩＧ溶接法とパルスを使用しない直流ＭＩＧ溶接法がある。最近では、パルスＭＩＧ溶接法が多く使用されているので、以下においてはアルミニウムＭＩＧ溶接法がパルスＭＩＧ溶接法である場合について説明する。

図４は、パルスＭＩＧ溶接の電流・電圧波形図である。同図（Ａ）は溶接電流瞬時値ｉｗの、同図（Ｂ）は溶接電圧瞬時値ｖｗの波形図である。以下，同図を参照して説明する。

時刻ｔ１〜ｔ２のピーク期間Ｔｐ中は、同図（Ａ）に示すように、溶滴移行させるための大電流値のピーク電流Ｉｐを通電し、同図（Ｂ）に示すように、この期間中の後述する真のアーク長に略比例したピーク電圧Ｖｐが印加する。続いて、時刻ｔ２〜ｔ３のベース期間Ｔｂ中は、溶滴を成長させないための小電流値のベース電流Ｉｂを通電し、同図（Ｂ）に示すように、この期間中の真のアーク長に略比例したベース電圧Ｖｂが印加する。同図（Ａ）に示すように、ピーク電流Ｉｐとベース電流Ｉｂとからなる溶接電流瞬時値ｉｗを数十Ｈｚのローパスフィルタによって平滑したのが、溶接電流Ｉｗとなる。同様に、同図（Ｂ）に示すように、ピーク電圧Ｖｐとベース電圧Ｖｂとからなる溶接電圧瞬時値ｖｗを数十Ｈｚのローパスフィルタによって平滑したのが、溶接電圧Ｖｗとなる。上述したように、溶接電圧Ｖｗと真のアーク長とが比例するので、この溶接電圧Ｖｗが適正な真のアーク長に相当する電圧設定値Ｖｓと略等しくなるように溶接電源の出力を制御（アーク長制御）する。この出力制御方法としては、溶接電圧Ｖｗと電圧設定値Ｖｓとの誤差に応じて、ベース期間Ｔｂ、ピーク期間Ｔｐ、ピーク電流Ｉｐ又はベース電流Ｉｂを変化させる方法が一般的である。

図５は、アルミニウムのパルスＭＩＧ溶接におけるアーク発生部の模式図である。同図（Ａ）は母材表面の酸化皮膜２ａが除去されたクリーニング幅Ｗ１が広い場合であり、同図（Ｂ）はクリーニング幅Ｗ２が狭い場合である。よく知られているように、アーク３は母材表面に酸化皮膜２ａが除去されずに残っている部分に形成される。すなわち、同図（Ａ）に示すように、アーク３は、溶接ワイヤ１先端の溶滴１ａと酸化皮膜２ａとの間に形成される。したがって、溶滴１ａと酸化皮膜２ａとの間のアーク長（真のアーク長と呼ばれる）は、Ｌa1［mm］となる。この真のアーク長Ｌa1は、上述した溶接電圧値Ｖｗに略比例する。他方、溶滴１ａと母材との最短距離が、見かけのアーク長Ｌb1［mm］として定義される。この見かけのアーク長Ｌb1は単にアーク長と呼ばれ、溶接品質と重大な相関関係がある。すなわち、溶接品質を良好にするためには、真のアーク長Ｌa1ではなく見かけのアーク長Ｌb1が溶接中に適正値に維持される必要がある。しかし、見かけのアーク長Ｌb1は検出することが困難であるために、その代替値として真のアーク長Ｌa1を溶接電圧Ｖｗによって検出している。すなわち、アルミニウムＭＩＧ溶接では、真のアーク長Ｌa1を溶接電圧値Ｖｗによって検出し、この検出値が予め定めた電圧設定値Ｖｓ（適正な真のアーク長に相当）と略等しくなるように溶接電源の出力を制御して、真のアーク長Ｌa1を制御している。このことで、本来の目的である見かけのアーク長Ｌb1を間接的に制御している。

上記のアーク長制御において、クリーニング幅が略一定で酸化皮膜２ａの位置が変化しない場合には、真のアーク長Ｌa1と見かけのアーク長Ｌb1とは比例するので、真のアーク長Ｌa1を制御することは結局見かけのアーク長Ｌb1を制御することになる。しかし、クリーニング幅は、シールドガスによるシールド状態、母材表面の酸化状態等が変化すると、それに伴って変化する。同図（Ｂ）に示すように、クリーニング幅がＷ２に狭くなると、アーク３は溶滴１ａと酸化皮膜２ａとの間に形成されるので、アークの広がりが狭くなる。このときに、上述したアーク長制御によって真のアーク長Ｌa2はＬa1と等しくなるように制御される。この結果、見かけのアーク長Ｌb2はＬb1よりも長くなる。すなわち、溶接電圧Ｖｗによるアーク長制御では、クリーニング幅が変化すると、見かけのアーク長が変化し、これに伴って溶接品質が悪化することになる。したがって、アルミニウムＭＩＧ溶接においては、溶接中にクリーニング幅が変化しないように、シールドガスのシールド状態、母材表面の酸化状態等を厳格に管理して溶接施工を行っている。この管理が不十分である場合、溶接中にクリーニング状態が変動して見かけのアーク長が変動し、溶接品質が悪くなる。これ以降の説明では、見かけのアーク長を慣例に従って単にアーク長と表記する。上述したアーク長制御に関する文献としては、例えば特許文献１及び２がある。

特開昭５７−３６０７２号公報 特開２００２−２８３０５０号公報

上述したように、溶接電圧によるアーク長制御では、溶接中にクリーニング状態が変動すると、それに伴ってアーク長が変動して溶接品質が悪くなる。したがって、アルミニウムＭＩＧ溶接では、溶接中にクリーニング状態が変動せず安定するように施工管理が厳格に行われるのが通常である。しかし、この厳格な施工管理の下にあっても、以下のようなクリーニング状態変動要因が存在する。すなわち、マグネシウムを含有するアルミニウム合金ワイヤを使用した場合、溶滴が母材へ移行する途中で溶滴内のマグネシウムが蒸発膨張して溶滴が破裂する現象がときたま発生する。この溶滴破裂が発生すると、その爆風によってアークが吹かれてシールド状態が一時的に悪くなる。この結果、シールドが不十分になり周辺の空気をアーク中に巻き込み、溶融池表面に酸化皮膜が新たに形成されて、クリーニング状態が変動する。このような現象は数秒間に１回程度発生する。

また、母材表面の酸化状態が均一になるように厳格に管理しても、ある程度の不均一が生じることは避けられない。この酸化状態の不均一によって、図５で上述したように、アーク形状が変化してシール範囲からはみ出して、アーク中に空気を巻き込むこともある。このように、種々の原因によってシールド状態が一時的に悪くなり、アーク中に空気を巻き込み溶融池表面に新たな酸化皮膜が形成される現象が発生する。

図６は、上述した空気の巻き込みによる酸化皮膜の形成現象が発生したときの波形図である。同図（Ａ）は溶接電圧瞬時値ｖｗの、同図（Ｂ）は溶接電圧Ｖｗの、同図（Ｃ）はアーク長Ｌｂの波形図であり、同図（Ｄ）は上記現象が発生する前のアーク発生部を示し、同図（Ｅ）は上記現象が発生しているときのアーク発生部を示す。同図は、時刻ｔ１に上記現象が発生した場合である。以下、同図を参照して説明する。

（１）時刻ｔ１以前
時刻ｔ１まではクリーニング状態は安定しているので、同図（Ｄ）に示すように、クリーニング幅Ｗ１の周縁部の酸化皮膜２ａにアーク３が形成される。クリーニング状態が安定しているので、真のアーク長はＬa1に制御されて、アーク長はＬb1に制御される。そして、同図（Ａ）に示すように、溶接電圧瞬時値ｖｗは、ピーク電圧の通常値Ｖpn及びベース電圧の通常値Ｖbnからなる波形となる。溶接電圧Ｖｗは、同図（Ｂ）に示すように、真のアーク長Ｌa1に対応した電圧設定値Ｖｓと略等しい通常値Ｖwnとなる。アーク長Ｌｂは、同図（Ｃ）に示すように、Ｌb1になり、安定した値を維持する。

（２）時刻ｔ１以降
時刻ｔ１において、同図（Ｅ）に示すように、空気の巻き込みによって溶融池表面上に酸化皮膜２ｂが新たに形成されると、アーク３はその酸化皮膜２ｂに形成される。このために、一瞬真のアーク長は短くなる。この結果、同図（Ａ）に示すように、ピーク電圧値はＶpaに降下し、ベース電圧値はＶbaに降下し、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧値もＶwaに降下する。この降下をフィードバックしてアーク長制御が働き溶接電圧値はＶwaからＶwnへ時刻ｔ１１に復帰する。この時刻ｔ１１時点でのアーク発生部は同図（Ｅ）に示すような状態となり、真のアーク長はＬa1となり、アーク長はＬb3に長くなる。この状態は、新たに形成された酸化皮膜２ｂがアークによるクリーニング作用によって除去されるまでの時刻ｔ２まで続く。この変動期間Ｔｔの間は、同図（Ｃ）に示すように、アーク長Ｌb3が長い状態が継続する。すなわち、空気の巻き込みによる新たな酸化皮膜２ｂの形成を起因として、アーク長制御によって真のアーク長が一定値になるように制御されるために、アーク長が長くなってしまう。この変動期間Ｔｔは１００ms程度である。アーク長が長くなると、溶け込み、ビード外観等が変動し、またブローホールも発生して溶接品質が悪くなる。

そこで、本発明では、空気の巻き込みによる新たな酸化皮膜の形成によってアーク長が変動するのを抑制することができるアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法を提供する。

上述した課題を解決するために、第１の発明は、溶接電源の出力を制御してアーク長を適正値に維持するアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法において、
アーク発生中の溶接電圧値が通常値から基準値以上の変化率で減少したことによって急降下を検出し、この急降下を検出したときは前記溶接電源の出力を前記急降下の検出直前の値に一時固定する、
ことを特徴とするアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法である。

また、第２の発明は、前記溶接電源の出力を一時固定する期間を、予め定めた所定期間又は溶接電圧値が略通常値に復帰するまでの期間とすることを特徴とする第１の発明記載のアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法である。

また、第３の発明は、前記ＭＩＧ溶接がパルスＭＩＧ溶接であるときは、前記溶接電圧値の代わりにピーク電圧、ベース電圧又は溶接電圧平均値を使用することを特徴とする第１の発明又は第２の発明記載のアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法である。

上記第１の発明によれば、種々の原因によるシールド不良が一時的に発生しても、溶接電圧値の急降下によって発生を判別してアーク長制御を一時停止することによって、アーク長の変動を抑制することができるので、溶接品質の悪化を防止することができる。

上記第２の発明によれば、アーク長制御を一時停止する期間を変動期間Ｔｔと略一致させることができるので、上記の効果に加えて、変動期間Ｔｔ終了後アーク長制御を直ちに再開することができる。この結果、アーク長制御の停止期間を必要最小限の期間にすることができるので、ワイヤ送給、ワイヤ突出し長さ等の変動に対してはアーク長制御によってアーク長を適正値に維持することにほとんど影響を与えない。

上記第３の発明によれば、パルスＭＩＧ溶接において、溶接電圧値の急降下をピーク電圧、ベース電圧又は溶接電圧平均値の急降下によって確実に迅速に判別することができる。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。

図１は、本発明の実施の形態に係るアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法を示す波形図である。同図（Ａ）は溶接電圧瞬時値ｖｗの、同図（Ｂ）は溶接電圧Ｖｗの、同図（Ｃ）はアーク長Ｌｂの波形図であり、同図（Ｄ）は時刻ｔ１以前のアーク発生部を示し、同図（Ｅ）は時刻ｔ２以後の変動期間Ｔｔ中のアーク発生部を示す。同図は、上述した図６に対応しており、時刻ｔ１に上述した種々の原因によってシールド状態が一時的に悪くなり空気を巻き込んで新たな酸化皮膜が形成された場合である。時刻ｔ１までの動作は、図６と同一であるのでその説明は省略する。以下、同図を参照して時刻ｔ１以後について説明する。

時刻ｔ１において、同図（Ｅ）に示すように、空気を巻き込んで溶融池表面上に新たな酸化皮膜２ｂが形成されると、アーク３はその酸化皮膜２ｂに形成されるために、アーク形状が大きく変化する。この結果、時刻ｔ１直後には、真のアーク長は、同図（Ｄ）のＬa1から同図（Ｅ）のＬa3に短くなる。これに伴って、同図（Ａ）に示すように、ピーク電圧は通常値ＶpnからＶpaに急降下し、ベース電圧も通常値ＶbnからＶbaに急降下する。同様に、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗも通常値ＶwnからＶwaに急降下する。

本発明では、上記溶接電圧Ｖｗの急降下を検出して、アーク長制御を一時停止する。すなわち、時刻ｔ１において溶接電圧Ｖｗの急降下を検出すると、溶接電源の出力のフィードバック制御を停止して出力を時刻ｔ１直前のままで固定する。例えば、図４で上述したパルスＭＩＧ溶接の場合では、溶接電圧Ｖｗが予め定めた電圧設定値Ｖｓと略等しくなるように例えばベース期間Ｔｂをフィードバック制御する出力制御（アーク長制御）を行っている。この場合には、ベース期間Ｔｂを時刻ｔ１直前の値に固定して溶接電源の出力を固定する。このように、アーク長制御を停止すると、同図（Ｅ）に示すように、真のアーク長はＬa1からＬa3へと短くなるが、アーク長は出力が固定されているのでＬb1のままで変化しない。このために、同図（Ｃ）に示すように、時刻ｔ１前後においてもアーク長は略Ｌb1のままで変動しない。この結果、変動期間Ｔｔ中も溶接品質は良好なままである。

続いて、時刻ｔ２において、酸化皮膜２ｂがクリーニング作用によって除去が完了すると、アーク３は同図（Ｄ）の状態に戻る。これに伴って、同図（Ａ）に示すように、ピーク電圧は通常値Ｖpnに戻り、ベース電圧も通常値Ｖbnに戻る。同様に、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗも通常値Ｖwnに戻る。この溶接電圧Ｖｗが通常値Ｖwnに復帰したことを検出して変動期間Ｔｔの終了を判別して、アーク長制御を再開する。この変動期間Ｔｔは、新たに形成された酸化皮膜２ｂがクリーニング作用によって除去される時間である。この変動期間Ｔｔは、１００ms程度の時間長さとなることが多い。アーク長制御を一時停止する期間は、この変動期間Ｔｔに相当する。したがって、アーク長制御を一時停止する期間を、同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗが通常値Ｖwnから急降下し再び通常値Ｖwnに復帰するまでの期間とすることができる。また、上述したように、変動期間Ｔｔは略一定値であるので、アーク長制御を一時停止する期間を、溶接電圧が急降下してから所定期間の間とすることもできる。

溶接電圧Ｖｗが急降下したことを検出する方法には以下のような方法がある。同図（Ｂ）に示すように、溶接電圧Ｖｗを予め定めたサンプリング周期ごとにサンプリングして、今回のサンプリング値が予め定めた降下幅ΔＶ以上前回のサンプリング値よりも小さくなったときは、溶接電圧Ｖｗが急降下したと判別する。前回のサンプリング値の代りに、過去数周期〜数十周期にわたって移動平均したサンプリング移動平均値としても良い。また、パルスＭＩＧ溶接の場合には、同図（Ａ）に示すように、ピーク期間ごとにピーク電圧Ｖｐをサンプリングすることによって上記と同様にして溶接電圧Ｖｗの急降下を判別することができる。ピーク電圧Ｖｐの代りに、ベース電圧Ｖｂ、ピーク電圧Ｖｐ及びベース電圧Ｖｂの平均値（溶接電圧平均値）等を使用することもできる。さらには、溶接電圧Ｖｗの微分値を算出して、この微分値が基準値以上負の値になったことによって、急降下を判別しても良い。

ところで、アーク長制御の目的は、ワイヤ送給速度、ワイヤ突出し長さ等が変動してもアーク長を適正値に維持することである。本発明では、変動期間Ｔｔに相当する期間だけアーク長制御を停止するが、この期間は数秒間に１００ms程度と極短時間であるので、ワイヤ送給速度、ワイヤ突出し長さ等の変動時のアーク長制御への悪影響はほとんどない。上述したように、変動期間Ｔｔ中はアーク長制御を停止することによって、アーク長の変動を抑制することができる。

図２は、上述した本発明の実施の形態に係るアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法を実施するための溶接電源のブロック図である。同図において点線で示すブロックは、本発明に特有のものである。以下、同図を参照して各ブロックについて説明する。

電源主回路ＰＭは、交流商用電源（３相２００Ｖ等）を入力して、後述する電流誤差増幅信号Ｅｉに従ってインバータ制御等の出力制御を行い、溶接に適した溶接電圧瞬時値ｖｗ及び溶接電流瞬時値ｉｗを出力する。溶接ワイヤ１は、ワイヤ送給装置の送給ロール５の回転によって溶接トーチ４内を通って送給されて、母材２との間にアーク３が発生する。

電圧検出回路ＶＤは、上記の溶接電圧瞬時値ｖｗを検出して、電圧検出信号ｖｄを出力する。ローパスフィルタ回路ＦＴは、上記の電圧検出信号ｖｄを数十Ｈｚのローパスフィルタによって平滑して、溶接電圧信号Ｖｗを出力する。電圧設定回路ＶＳは、所望値の電圧設定信号Ｖｓを出力する。電圧誤差増幅回路ＥＶは、上記の電圧設定信号Ｖｓと上記の溶接電圧信号Ｖｗとの誤差を増幅して、電圧誤差増幅信号Ｅｖを出力する。電圧周波数変換回路ＶＦは、上記の電圧誤差増幅信号Ｅｖに応じた周波数を有する周波数信号Ｖｆを出力する。ピークベース切換タイマ回路ＳＴＰは、本発明特有の回路であり、上記の周波数信号Ｖｆを入力して、予め定めたピーク期間の間はＨｉｇｈレベルとなり、続くベース期間の間はＬｏｗレベルとなる切換信号Ｓtpを出力する。ピーク期間は予め定めたピーク期間設定信号Ｔpsによって定まり、ベース期間は溶接電圧信号Ｖｗが電圧設定信号Ｖｓと略等しくなるようにフィードバック制御によって決まる。このフィードバック制御がアーク長制御となる。このピークベース切換タイマ回路ＳＴＰは、後述する変動期間信号ＳttがＨｉｇｈレベルに変化すると、フィードバック制御を停止しベース期間をその直前の値に固定する。これによって、変動期間中のアーク長制御を停止させる。

変動期間検出回路ＳＴＴは、本発明に特有の回路であり、上記の電圧検出信号ｖｄを入力して、上述した電圧急降下検出方法によって変動期間を判別して、変動期間中はＨｉｇｈレベルとなる変動期間信号Ｓttを出力する。ピーク電流設定回路ＩＰＳは、予め定めたピーク電流設定信号Ｉpsを出力する。ベース電流設定回路ＩＢＳは、予め定めたベース電流設定信号Ｉbsを出力する。切換回路ＳＷは、上記の切換信号Ｓtpの値によって、上記のピーク電流設定信号Ｉpsとベース電流設定信号Ｉbsとを切り換えて、電流制御設定信号Ｉscとして出力する。電流検出回路ＩＤは、上記の溶接電流瞬時値ｉｗを検出して、電流検出信号ｉｄを出力する。電流誤差増幅回路ＥＩは、上記の電流制御設定信号Ｉscと上記の電流検出信号ｉｄとの誤差を増幅して、電流誤差増幅信号Ｅｉを出力する。

図３は、本発明の効果の一例を示すブローホール発生数比較図である。同図は、以下の溶接条件で溶接を行い、溶接ビード内部に含まれるブローホールの個数を測定したものである。溶接ワイヤにはＪＩＳ Ａ４０４３材の直径１．２mmのワイヤを使用し、板厚３mmのアルミニウム材の重ねすみ肉継手をパルスＭＩＧ溶接した場合である。そのときの溶接電流は１２０Ａ、溶接電圧は２３Ｖ、溶接速度は６０cm/min、溶接長は１２０cmの場合である。したがって、溶接時間は２分となる。この溶接中には、５秒に１回程度の頻度で上述した一時的なシールド不良によるアークへへの空気の巻き込むによって新たな酸化皮膜の形成に伴うアーク形状の変化が観察された。

同図から明らかなように、従来技術では、１６個のブローホールが発生した。これに対して、本発明では、ブローホールは発生しなかった。また、従来技術ではアーク長の上昇がときどき観察されたが、本発明ではほとんど観察されなかった。

本発明の実施の形態に係るアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法を示す波形図である。 本発明の実施の形態に係るアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法を実施するための溶接電源のブロック図である。 本発明の効果を示すブローホール発生数比較図である。 従来技術におけるアルミニウムパルスＭＩＧ溶接の電流・電圧波形図である。 クリーニング幅が広いとき及び狭いときのアーク発生部の模式図である。 本発明の課題を説明するための波形図である。

符号の説明

１ 溶接ワイヤ
１ａ 溶滴
２ 母材
２ａ 酸化皮膜
２ｂ 新たな酸化皮膜
３ アーク
４ 溶接トーチ
５ 送給ロール
ＥＩ 電流誤差増幅回路
Ｅｉ 電流誤差増幅信号
ＥＶ 電圧誤差増幅回路
Ｅｖ 電圧誤差増幅信号
ＦＴ ローパスフィルタ回路
Ｉｂ ベース電流
ＩＢＳ ベース電流設定回路
Ｉbs ベース電流設定信号
ＩＤ 電流検出回路
ｉｄ 電流検出信号
Ｉｐ ピーク電流
ＩＰＳ ピーク電流設定回路
Ｉps ピーク電流設定信号
Ｉsc 電流制御設定信号
Ｉｗ 溶接電流（信号）
ｉｗ 溶接電流瞬時値
Ｌａ 真のアーク長
Ｌｂ （見かけの）アーク長
ＰＭ 電源主回路
ＳＴＰ ピークベース切換タイマ回路
Ｓtp 切換信号
ＳＴＴ 変動期間検出回路
Ｓtt 変動期間信号
ＳＷ 切換回路
Ｔｂ ベース期間
Ｔｐ ピーク期間
Ｔps ピーク期間設定信号
Ｔｔ 変動期間
Ｖｂ ベース電圧
Ｖba ベース電圧の降下値
Ｖbn ベース電圧の通常値
ＶＤ 電圧検出回路
ｖｄ 電圧検出信号
ＶＦ 電圧周波数変換回路
Ｖｆ 周波数信号
Ｖｐ ピーク電圧
Ｖpa ピーク電圧の降下値
Ｖpn ピーク電圧の通常値
ＶＳ 電圧設定回路
Ｖｓ 電圧設定（値／信号）
Ｖｗ 溶接電圧（信号）
Ｖwa 溶接電圧の降下値
Ｖwn 溶接電圧の通常値
ｖｗ 溶接電圧瞬時値
Ｗ１、Ｗ２ クリーニング幅
ΔＶ 降下幅

Claims (3)

1. 溶接電源の出力を制御してアーク長を適正値に維持するアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法において、
   アーク発生中の溶接電圧値が通常値から基準値以上の変化率で減少したことによって急降下を検出し、この急降下を検出したときは前記溶接電源の出力を前記急降下の検出直前の値に一時固定する、
   ことを特徴とするアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法。
2. 前記溶接電源の出力を一時固定する期間を、予め定めた所定期間又は溶接電圧値が略通常値に復帰するまでの期間とすることを特徴とする請求項１記載のアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法。
3. 前記ＭＩＧ溶接がパルスＭＩＧ溶接であるときは、前記溶接電圧値の代わりにピーク電圧、ベース電圧又は溶接電圧平均値を使用することを特徴とする請求項１又は請求項２記載のアルミニウムＭＩＧ溶接のアーク長制御方法。

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