JP4424406B2 - 直並列型アナログ/デジタル変換器及びアナログ/デジタル変換方法 - Google Patents

直並列型アナログ/デジタル変換器及びアナログ/デジタル変換方法 Download PDF

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Description

本発明は、直並列型アナログ/デジタル変換器及びアナログ/デジタル変換方法に関するものである。
デジタル機器の普及によって、アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ/デジタル変換器(Analog to Digital Converter)が広範に使用されてきている。そして、近年のデジタル機器の小型化・低廉化に伴って、アナログ/デジタル変換器には、処理速度の向上や消費電力の低減が要求されている。かかる処理速度の向上や消費電力の低減を図ることができるアナログ/デジタル変換器として、アナログ信号をデジタル信号の上位ビット側と下位ビット側に分けて変換する直並列(サブレンジング)型アナログ/デジタル変換器が注目されている。
ここで、図8に直並列型アナログ/デジタル変換器の一例を示す。図8に示すように、直並列型アナログ/デジタル変換器101は、複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器102、アナログ信号の電圧と上位ビット用の参照電圧(以下、「上位ビット参照電圧」と呼ぶ。)とを比較する上位ビット用比較部103、アナログ信号の電圧と下位ビット用の参照電圧(以下、「下位ビット参照電圧」と呼ぶ。)とを比較する下位ビット用比較部104、上位ビット用比較部103の出力を論理処理してアナログ信号に対応する上位ビット側のデジタル信号を出力する上位ビット側エンコーダ(Encoder)105、下位ビット用比較部104の出力を論理処理してアナログ信号に対応する下位ビット側のデジタル信号を出力する下位ビット側エンコーダ(Encoder)106、各比較部103,104や各エンコーダ105,106などを制御する制御信号を生成するタイミング生成器(Timing Generator)107などから構成されている。
ここで、参照電圧生成器102は、上位ビット用比較部103で使用される上位ビット参照電圧と下位ビット用比較部104で使用される下位ビット参照電圧とを生成するように構成している。
そして、直並列型アナログ/デジタル変換器101は、上位ビット用比較部103におけるアナログ信号の電圧と上位ビット参照電圧との比較結果に基づいて、下位ビット用比較部104で使用する下位ビット参照電圧を選択するマルチプレクサ(MUX)108を設けており、このマルチプレクサ108の出力部を下位ビット用比較部104に接続している。
下位ビット用比較部104は、アナログ信号と下位ビット参照電圧との差電圧を出力する比較段110、この比較段110の出力を増幅する増幅段111、この増幅段111の出力を所定の閾値と比較し、その比較結果を「0」、「1」のデータとして保持する比較・保持手段112から構成される。なお、比較段110、増幅段111、比較・保持手段112は、変換すべき下位ビット数に応じた数(例えば、下位ビット数が3ビットの場合には7個、4ビットの場合には15個)分だけ設けられる。
下位ビット用比較部104の比較段110は、図9に示すように、スイッチSW100,SW102、コンデンサC100を有しており、参照電圧入力端子120にマルチプレクサ108から出力される下位ビット参照電圧をコンデンサC100の一端に入力するとともに、スイッチSW100の一端(入力部)にアナログ信号を入力する。
そして、比較段110は、スイッチSW100,SW102が短絡状態で、かつマルチプレクサ108から下位ビット参照電圧が入力されない状態のときに、コンデンサC100にアナログ信号の電圧を入力(印加)してサンプリングするモード(以下、「リセットモード」と呼ぶ。)となる(図9(a)参照)。一方、スイッチSW100,SW102が非短絡状態で、かつマルチプレクサ108から下位ビット参照電圧が入力される状態のときに、コンデンサC100からアナログ信号の電圧と下位ビット参照電圧との差電圧を後段の増幅段へ出力するモード(以下、「比較モード」と呼ぶ。)となる(図9(b)参照)。
ところが、比較段110のスイッチSW100の出力部とマルチプレクサ108の出力部とが短絡していることから、マルチプレクサ108のスイッチによる寄生容量とマルチプレクサ108から比較段110までの配線への寄生容量とがスイッチSW100の出力部に等価的に接続された状態になる。その結果、比較段110がリセットモードのときに、これらの寄生容量分(図9(a)、(b)のCp)だけアナログ信号への負荷(換言すれば、アナログ信号を比較段110へ出力する回路への負荷)が増大し、それに伴って、アナログ信号から下位ビット側のデジタル信号を変換するときの処理速度が低減していた。
このように、従来の直並列型アナログ/デジタル変換器101にあっては、スイッチSW100の出力部とマルチプレクサ108の出力部とを短絡していたため、アナログ信号への負荷が増大しており、直並列型アナログ/デジタル変換器をより一層高速化することが困難であった。
そこで、本出願人は、図10に示すように、スイッチSW100の出力部とマルチプレクサ108の出力部との間に両出力部間を断続する断続手段であるスイッチSW103を設け、さらにスイッチSW103による前記両出力部間の切断時にマルチプレクサ108の出力部にアナログ信号の電圧を入力する入力手段であるスイッチSW104とアナログ信号を増幅するための増幅手段である増幅器AMP101とを設けた直並列型アナログ/デジタル変換器を提案している(たとえば、特許文献1参照)。
この直並列型アナログ/デジタル変換器では、比較段110のリセットモード時において、比較段110のスイッチSW100の出力部とマルチプレクサ108の出力部とをSW103により切断した状態にすることができる。しかも、スイッチSW104及び増幅器AMP101によってマルチプレクサ108の出力部に等価的に接続される寄生容量Cpを予めプリジャージすることができる。これにより、比較段110のリセットモード時にスイッチSW100の出力部に生じている寄生容量Cpの分だけアナログ信号への負荷を軽減し、さらに、比較モード時の参照電圧への負荷(換言すれば、マルチプレクサ8への負荷)を軽減して直並列型アナログ/デジタル変換器の高速化を図ることができる。
ところで、下位ビット用比較部104の比較段110は、アナログ信号の電圧をコンデンサC100にサンプリングしてから上位ビット用比較部103が比較結果に基づく信号出力するまでの間、サンプリングした電圧を保持しておかなければならない。
そこで、このような待ち時間を有効に活用すべく、下位ビット用比較部104に複数の比較段を用意し、これらを交互に動作させるインターリーブ動作を行うことにより、変換効率を向上する直並列型アナログ/デジタル変換器が知られている。
このようなインターリーブ動作を行う直並列型アナログ/デジタル変換器についても、上述した断続手段、入力手段及び増幅手段を設けることで、アナログ信号や参照電圧への負荷を軽減して、高速化を図ることができる。
特開2004−64475号公報
しかし、インターリーブ動作を行う直並列型アナログ/デジタル変換器においては、インターリーブ動作のための回路に加えて、上記入力手段や増幅手段が必要となることから、チップ面積が増加してしまう。
そこで、本発明は、参照電圧選択部にアナログ信号を入力する入力手段や増幅手段を設けることなく、高速化を図ることができる直並列型アナログ/デジタル変換器を提供することを目的とする。
本発明は、複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器と、アナログ信号の電圧をサンプリングするリセットモードとアナログ信号の電圧と前記参照電圧との比較を行う比較モードとを交互に行う比較段を有する上位ビット用比較部及び下位ビット用比較部と、前記上位ビット用比較部の比較結果に応じた参照電圧を前記参照電圧生成器から選択して下位ビット用比較部に出力する参照電圧選択部と、前記下位ビット用比較部の各比較段の出力を増幅する増幅段と、を有し、前記上位ビット用比較部及び前記下位ビット用比較部による比較結果に基づいて、前記アナログ信号をデジタル信号に変換する直並列型アナログ/デジタル変換器において、前記下位ビット用比較部は、インターリーブ動作する複数の前記比較段を有し、前記下位ビット用比較部の各比較段は、前記アナログ信号の電圧を入力する第1スイッチと、前記参照電圧選択部から出力される参照電圧を入力する第2スイッチと、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチの各出力部に一端が接続されたコンデンサと、前記コンデンサの他端に接続された第3スイッチと、前記コンデンサの他端と前記増幅段との間に接続された第4スイッチとをそれぞれ有し、リセットモード時に前記第1スイッチと前記第3スイッチを短絡状態にして前記アナログ信号の電圧を前記コンデンサに入力してサンプリングし、その後の比較モード時に前記第2スイッチ及び前記第4スイッチを短絡状態にして前記コンデンサから前記アナログ信号の電圧と参照電圧との差電圧を出力し、前記下位ビット用比較部は、前記上位ビット用比較部のリセットモード時に前記複数の比較段のうち一つの比較段をリセットモードで動作させ、前記上位ビット用比較部の比較モード時に前記複数の比較段のうち一つの比較段を比較モードで動作させ、前記下位ビット用比較部の複数の比較段のうち一つの比較段がリセットモードのとき、他の比較段の前記第2スイッチを短絡状態にして当該他の比較段に前記参照電圧選択部により前記参照電圧を入力する。
このように、下位ビット用比較部の一方の比較段がリセットモードのとき、他方の比較段に参照電圧選択部により参照電圧を入力することにより、比較モードに移行する前に当該他方の比較段と参照電圧選択部との間を予めプリチャージすることができる。しかも、下位ビット用比較部の複数の比較段のうち一つの比較段がリセットモードのとき、他の比較段の第2スイッチを短絡状態にすることで、参照電圧選択部と第2スイッチとの間のみならず、第2スイッチを介してコンデンサの他端までプリチャージすることができる。
また、本発明は、複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器と、アナログ信号の電圧をサンプリングするリセットモードとアナログ信号の電圧と前記参照電圧との比較を行う比較モードとを交互に行う比較段を有する上位ビット用比較部及び下位ビット用比較部と、前記上位ビット用比較部の比較結果に応じた参照電圧を前記参照電圧生成器から選択して下位ビット用比較部に出力する参照電圧選択部と、前記下位ビット用比較部の各比較段の出力を増幅する増幅段と、を有し、前記上位ビット用比較部及び前記下位ビット用比較部による比較結果に基づいて、前記アナログ信号をデジタル信号に変換する直並列型アナログ/デジタル変換方法において、前記下位ビット用比較部は、インターリーブ動作する複数の前記比較段を有しており、前記下位ビット用比較部の各比較段は、前記アナログ信号の電圧を入力する第1スイッチと、前記参照電圧選択部から出力される参照電圧を入力する第2スイッチと、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチの各出力部に一端が接続されたコンデンサと、前記コンデンサの他端に接続された第3スイッチと、前記コンデンサの他端と前記増幅段との間に接続された第4スイッチとをそれぞれ有し、リセットモード時に前記第1スイッチと前記第3スイッチを短絡状態にして前記アナログ信号の電圧を前記コンデンサに入力してサンプリングし、その後の比較モード時に前記第2スイッチ及び前記第4スイッチを短絡状態にして前記コンデンサから前記アナログ信号の電圧と参照電圧との差電圧を出力するものであり、前記上位ビット用比較部のリセットモード時に前記下位ビット用比較部に設けた前記複数の比較段のうち一つの比較段をリセットモードで動作させる第1のステップと、前記上位ビット用比較部の比較モード時に前記下位ビット用比較部に設けた前記複数の比較段のうち一つの比較段を比較モードで動作させる第2のステップと、を有し、前記第1のステップにおいて、前記一つの比較段がリセットモードのとき、前記下位ビット用比較部に設けた前記複数の比較段のうちの他の比較段の前記第2スイッチを短絡状態にして当該他の比較段に前記参照電圧選択部により前記参照電圧を入力する。
このように、下位ビット用比較部の一方の比較段がリセットモードのとき、他方の比較段に参照電圧選択部により参照電圧を入力することにより、比較モードに移行する前に当該他方の比較段と参照電圧選択部との間を予めプリチャージすることができる。しかも、下位ビット用比較部の複数の比較段のうち一つの比較段がリセットモードのとき、他の比較段の第2スイッチを短絡状態にすることで、参照電圧選択部と第2スイッチとの間のみならず、第2スイッチを介してコンデンサの他端までプリチャージすることができる。
本発明によれば、高速化を図ることができる直並列型アナログ/デジタル変換器を提供することができる。
本発明の一実施形態にかかるアナログ/デジタル変換器は、複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器と、アナログ信号の電圧をサンプリングするリセットモードとアナログ信号の電圧と参照電圧との比較を行う比較モードとを交互に行う複数の比較段をそれぞれ有する上位ビット用比較部及び下位ビット用比較部と、上位ビット用比較部の比較結果に応じた参照電圧を参照電圧生成器から選択して下位ビット用比較部に出力する参照電圧選択部とを有し、上位ビット用比較部及び下位ビット用比較部による比較結果に基づいて、アナログ信号をデジタル信号に変換するものである。
そして、下位ビット用比較部は、比較する参照電圧毎に、インターリーブ動作する複数の比較段を有しており、上位ビット用比較部のリセットモード時に当該複数の比較段のうち一つの比較段をリセットモードで動作させ、上位ビット用比較部の比較モード時に当該複数の比較段のうち一つの比較段を比較モードで動作させている。なお、例えば、変換すべき下位ビット数が3ビットの場合、比較すべき参照電圧は7つある。このとき、インターリーブ動作する複数の比較段からなる比較段の組は、7組となるが、例えば、インターポレーション(補間)技術を用いることにより、比較段の数を減らすこともできる。
下位ビット用比較部の比較段が第1比較段及び第2比較段の2つであるとき、第1比較段はアナログ信号の電圧を第1のサイクルで参照電圧と比較し、第2比較段はアナログ信号の電圧を第2のサイクルで参照電圧と比較する。なお、ここでは、上位ビット用比較部の比較段におけるリセットモードから比較モードまでの動作を1サイクルとし、上記第1のサイクルと上記第2のサイクルとは、1サイクル毎に交互に行われる。
すなわち、X番目(Xは任意の数字)のデジタルデータを生成するためのリセットモードを「X番目のリセットモード」とし、X番目のデジタルデータを生成するための比較モードを「X番目の比較モード」とすると、(a)上位ビット用比較部の比較段がN番目のリセットモードのとき、下位ビット用比較部の第1比較段はN番目のリセットモードとなり、(b)上位ビット用比較部の比較段がN番目の比較モードのとき、下位ビット用比較部の第2比較段はN−1番目の比較モードとなり、(c)上位ビット用比較部の比較段がN+1番目のリセットモードのとき、下位ビット用比較部の第2比較段がN+1番目のリセットモードとなり、(d)上位ビット用比較部の比較段がN+1番目の比較モードのとき、下位ビット用比較部の第1比較段はN番目の比較モードとなる。
そして、第1比較段及び第2比較段のいずれか一方の比較段がリセットモードの時、他方の比較段に参照電圧選択部により参照電圧を入力するようにしている。
これにより、一方の比較段がリセットモードのとき、他方の比較段と参照電圧選択部との間に参照電圧が印加されることになる。
その結果、比較段が比較モードとなる(アナログ信号の電圧と参照電圧とを比較する)前に、当該比較段と参照電圧選択部との間が予めプリチャージされることになり、比較段と参照電圧選択部との間に生じる寄生容量による高速化への影響を低減することができる。
ここで、本実施形態の下位ビット用比較部は、各比較段の出力を増幅する増幅段を備えている。また、下位ビット用比較部の比較段は、アナログ信号の電圧を入力する第1スイッチと、参照電圧選択部から出力される参照電圧を入力する第2スイッチと、第1スイッチ及び第2スイッチの各出力部に一端が接続されたコンデンサ(以下、「比較用コンデンサ」と呼ぶ。)と、この比較用コンデンサの他端に接続された第3スイッチと、コンデンサの他端と増幅段との間に接続された第4スイッチとを有し、リセットモード時に第1スイッチと第3スイッチを短絡状態にしてアナログ信号の電圧を比較用コンデンサに入力してサンプリングし、その後の比較モード時に第2スイッチ及び第4スイッチを短絡状態にして比較用コンデンサからアナログ信号の電圧と参照電圧との差電圧を出力するようにしている。
そして、下位ビット用比較部の比較段のうち一つの比較段がリセットモードのとき、他方の比較段の第2スイッチを短絡状態にする。
これにより、一方の比較段がリセットモードの時に、他方の比較段の比較用コンデンサの他端側(第4スイッチ側)まで参照電圧によってプリチャージされることになる。
その結果、他方の比較段が比較モードとなる前に、比較用コンデンサの他端側(第4スイッチ側)までが参照電圧で予めプリチャージされることになり、比較モードになってから第2スイッチを短絡状態にするのに比べ、第2スイッチによるノイズの影響を抑制(ノイズのセトリングの影響を緩和)して高速化を図ることができる。
以下、本実施形態における直並列型アナログ/デジタル変換器について図面を参照しながら説明する。図1は本実施形態における直並列型アナログ/デジタル変換器の概要構成を示す図、図2は上位ビット用比較部の比較段の説明図、図3は下位ビット用比較部の比較段の説明図、図4は下位ビット用比較部の比較段の動作説明図である。
図1に示すように、本実施形態における直並列型アナログ/デジタル変換器1は、複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器2と、アナログ信号Vinの電圧と上位ビット参照電圧とを比較する上位ビット用比較部3、アナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧とを比較する下位ビット用比較部4、上位ビット用比較部3の出力を論理処理してアナログ信号Vinに対応する上位ビット側のデジタル信号を出力する上位ビット側エンコーダ(Encoder)5、下位ビット用比較部4の出力を論理処理してアナログ信号Vinに対応する下位ビット側のデジタル信号を出力する下位ビット側エンコーダ(Encoder)6、各比較部3,4や各エンコーダ5,6などを制御する制御信号を生成するタイミング生成器(Timing Generator)7、下位ビット用比較部4へ入力する下位ビット参照電圧を選択する参照電圧選択部であるマルチプレクサ(MUX)8などから構成されている。なお、タイミング生成器7は入力されるクロック信号に基づいて動作する。
ここで、参照電圧生成器2は、高位電圧(VRT)と低位電圧(VRB)との間に設けられたラダー抵抗から構成され、上位ビット用比較部3で使用される上位ビット参照電圧と下位ビット用比較部4で使用される下位ビット参照電圧とをそれぞれ生成する。そして、マルチプレクサ8は、上位ビット用比較部3でのアナログ信号Vinの電圧と上位ビット参照電圧との比較結果に基づいて、下位ビット用比較部4で使用する下位ビット参照電圧を選択するようにしている。すなわち、参照電圧生成器2が生成する複数の参照電圧のうち上位ビット参照電圧を用いて上位ビット用比較部3によりアナログ信号Vinの電圧が比較され、この比較結果に基づいて、マルチプレクサ8によって参照電圧生成器2が生成する複数の参照電圧のうちアナログ信号Vinの電圧値付近の所定数の参照電圧を下位ビット参照電圧として下位ビット用比較部4へ出力するようにしている。なお、このマルチプレクサ8は、後述するように複数のスイッチからなる。
上位ビット用比較部3は、アナログ信号Vinと上位ビット参照電圧との差電圧を出力する比較段10、この比較段10の出力を増幅する増幅段11と、この増幅段11の出力を所定の閾値と比較し、その比較結果を「0」、「1」のデータとして保持する比較・保持手段12から構成される。なお、比較段10、増幅段11、比較・保持手段12は、上位ビット参照電圧毎に設けられる。例えば、変換すべき上位ビット数が3ビットの場合には、それぞれ7個ずつ設けられることになるが、例えば、インターポレーション技術を用いることにより、比較段や増幅段の数を減らすこともできる。
比較段10は、図2に示すように、スイッチとして機能するMOSトランジスタTr10〜Tr12、コンデンサC10から構成される。各MOSトランジスタTr10〜Tr12のゲートには、タイミング生成器7から出力される制御信号が入力され、MOSトランジスタTr10〜Tr12のON/OFF状態(短絡/非短絡状態)が制御される。
また、MOSトランジスタTr10のソースにはアナログ信号Vinの電圧が入力され、そのドレインにはコンデンサC10の一端に接続される。MOSトランジスタTr11のソースには参照電圧生成器2から上位ビット参照電圧が入力され、そのドレインにはコンデンサC10の一端に接続される。コンデンサC10の他端は、増幅段11である増幅器AMP10の入力とMOSトランジスタTr12のドレインが接続される。MOSトランジスタTr12のソースは、基準電位(ここでは接地電位)に接続される。
そして、タイミング生成器7から出力される制御信号に基づき、リセットモード時にMOSトランジスタTr10,Tr12をON状態(短絡状態)にしてアナログ信号Vinの電圧をコンデンサC10に印加して、アナログ信号Vinの電圧をサンプリングする。すなわち、コンデンサC10の両端の差電圧をアナログ信号Vinの電圧にする。
さらに、タイミング生成器7から出力される制御信号に基づき、その後の比較モード時に、MOSトランジスタTr10,Tr12をOFF状態(非短絡状態)にし、かつMOSトランジスタTr11をON状態(短絡状態)にしてコンデンサC10からアナログ信号Vinの電圧と参照電圧との差電圧を増幅段11へ出力する。
このように上位ビット用比較部3の比較段10は、リセットモードでアナログ信号Vinの電圧をコンデンサC10にサンプリングして保持し、その後の比較モード時にこのコンデンサC10に上位ビット参照電圧を印加して、アナログ信号Vinの電圧と上位ビット参照電圧との差電圧を出力するようにしている。
そして、増幅段11の出力は、比較・保持手段12によって二値化されて、上位ビット側エンコーダ5から上位側のデジタル信号が出力される。また、この比較・保持手段12の出力は、マルチプレクサ8へ入力される。その後、マルチプレクサ8は、比較・保持手段12の出力に基づいて、下位ビット参照電圧を選択して下位ビット用比較部4へ出力する。なお、比較・保持手段12として、ラッチドコンパレータなどが用いられる。
下位ビット用比較部4は、図1に示すように、アナログ信号Vinと下位ビット参照電圧との差電圧を出力する複数の比較段20a,20b、これらの比較段20a,20bの出力を増幅する増幅段21、この増幅段21の出力を所定の閾値と比較し、その比較結果を「0」、「1」のデータとして保持する比較・保持手段22から構成される。なお、比較段20a,20b、増幅段21、比較・保持手段22は、変換すべき下位ビット数に応じた数(例えば、下位ビット数が3ビットの場合には7個)分だけ設けられるが、例えば、インターポレーション技術を用いることにより、比較段や増幅段の数を減らすこともできる。なお、比較・保持手段22として、ラッチドコンパレータなどが用いられる。
比較段20a,20bは、インターリーブ動作する比較段(比較回路)であり、アナログ信号Vinの電圧をサンプリングするリセットモードと、サンプリングしたアナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧とを比較する比較モードとを有し、リセットモードと比較モードとを2サイクル単位で繰り返し実行する。
下位ビット用比較部4の比較段20aは、図3に示すように、タイミング生成器7からの制御信号に基づいてON/OFF状態(短絡/非短絡状態)が制御されるMOSトランジスタTr21a〜Tr24aとコンデンサC20aとを備えている。
MOSトランジスタTr21a(第1スイッチの一例に相当)のソースにはアナログ信号Vinの電圧が入力され、そのドレインにはコンデンサC20aの一端が接続される。MOSトランジスタTr22a(第2スイッチの一例に相当)のソースにはマルチプレクサ8から出力される下位ビット参照電圧が入力され、そのドレインにはコンデンサC20aの一端が接続される。MOSトランジスタTr23a(第3スイッチの一例に相当)のドレインには、コンデンサC20aの他端が接続され、そのソースには基準電位(ここでは、接地電位)に接続される。MOSトランジスタTr24aのソースにはコンデンサC20aの他端に接続され、Tr24aのドレインには増幅段21に接続される。
そして、リセットモード時にMOSトランジスタTr21aとMOSトランジスタTr23aのゲートにタイミング生成器7からHレベルのゲート信号が入力され、MOSトランジスタTr21aとMOSトランジスタTr23aとがON状態(短絡状態)となる。これにより、アナログ信号Vinの電圧がコンデンサC20aに印加され、コンデンサC20aの両端電圧がアナログ信号Vinの電圧となって、コンデンサC20aにアナログ信号Vinの電圧がサンプリングされる。
その後、比較モード時にMOSトランジスタTr22aにタイミング生成器7からHレベルのゲート信号が入力され、当該MOSトランジスタTr22a,Tr24aがON状態(短絡状態)となる。これにより、マルチプレクサ8から出力される下位ビット参照電圧がコンデンサC20aに印加され、比較段20aからアナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧との差電圧が増幅段21へ出力される。
下位ビット用比較部4の比較段20bは、図3に示すように、比較段20aと同様に、MOSトランジスタTr21b〜Tr24bとコンデンサC20bとを備え、比較段20aと同様の動作を行う。そして、比較段20bと比較段20aとが交互に動作することになる。
ここで、本実施形態における直並列型アナログ/デジタル変換器1では、比較段20a,20bがリセットモードとなった後、比較モードとなる前に、図4に示すように、上位ビット用比較部3での比較結果に応じてマルチプレクサ8を動作させて下位ビット参照電圧を選択して下位ビット用比較部4へ出力する。すなわち、比較段20a(20b)がリセットモード時にMOSトランジスタTr21a(Tr21b)、Tr23a(Tr23b)をON状態(短絡状態)とした後、比較モードでMOSトランジスタTr22a(Tr22b)、Tr24a(Tr24b)をON状態(短絡状態)とする前に、上位ビット用比較部3での比較結果に応じてマルチプレクサ8を動作させて下位ビット参照電圧を選択して下位ビット用比較部4の比較段20a(20b)へ出力する。
これにより、参照電圧選択部であるマルチプレクサ8の出力部とMOSトランジスタTr22a,Tr22bのソースとの間を予めプリチャージするようにしている。
その結果、比較段20a,20bが比較モードとなる前に、比較段20a,20bとマルチプレクサ8との間が予めプリチャージされることになり、比較段20a,20bとマルチプレクサ8との間の寄生容量による高速化への影響を低減することができる。
なお、マルチプレクサ8は、参照電圧生成器2で生成される下位ビット参照電圧にそれぞれスイッチであるMOSトランジスタが接続されている。例えば、下位ビット参照電圧と比較段20aとの間にはMOSトランジスタTr15a1、Tr15a2、・・・が接続されており、下位ビット参照電圧と比較段20bとの間にはMOSトランジスタTr15b1、Tr15b2、・・・が接続されている。以下、MOSトランジスタTr15a1、Tr15a2、・・・のうち一つのMOSトランジスタを指すときにはMOSトランジスタTr15aというものとする。また、同様に、MOSトランジスタTr15b1、Tr15b2、・・・のうち一つのMOSトランジスタを指すときにはMOSトランジスタTr15bというものとする。
ここで、本実施形態における直並列型アナログ/デジタル変換器1の動作について、図5を参照して具体的に説明する。図5は本実施形態における直並列型アナログ/デジタル変換器1の動作タイミングの説明図である。
まず、タイミングt11〜t12で、上位ビット用比較部3の比較段10は、N番目のデジタル信号を生成するために、アナログ信号Vinの電圧をサンプリングする(図5(a);T(N))。同様に、下位ビット用比較部4の比較段20aも、N番目のデジタル信号を生成するために、アナログ信号Vinの電圧をサンプリングする(図5(b);T(N))。一方、下位ビット用比較部4の比較段20bは、N−1番目のデジタル信号を生成するためのアナログ信号Vinの電圧をホールドしている状態である(図5(c);H(N-1))。
ここで、下位ビット用比較部4の比較段20aによるアナログ信号Vinの電圧のサンプリングは、MOSトランジスタTr21a,Tr23aをON状態(短絡状態)とすることによって行う(図5(d)参照)。このとき、マルチプレクサ8のスイッチ(MOSトランジスタTr15a)及びMOSトランジスタTr22aは、OFF状態(非短絡状態)であり、比較段20aには下位ビット参照電圧は印加されない(図5(e),(f)参照)。また、MOSトランジスタTr24aはOFF状態(非短絡状態)であり、MOSトランジスタTr25はON状態(短絡状態)であるため、増幅段21への入力は基準電位(ここでは接地電位)となる(図5(g),(h)参照)。
次のタイミングt12〜t13では、上位ビット用比較部3の比較段10は、N番目のデジタル信号を生成するために、アナログ信号Vinの電圧と上位ビット参照電圧との差電圧を出力する(図5(a);C(N))。このとき、下位ビット用比較部4の比較段20aは、N番目のデジタル信号を生成するためのアナログ信号Vinの電圧を保持した状態である(図5(b);H(N))。一方、下位ビット用比較部4の比較段20bは、N−1番目のデジタル信号を生成するためのアナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧との差電圧を生成して出力する(図5(c);C(N-1))。
ここで、下位ビット用比較部4の比較段20aによるアナログ信号Vinの電圧の保持は、MOSトランジスタTr21a〜24aをOFF状態(非短絡状態)とすることによって行う(図5(d),(f),(g)参照))。
次のタイミングt13〜t14では、上位ビット用比較部3の比較段10は、N+1番目のデジタル信号を生成するために、アナログ信号Vinの電圧をサンプリングする(図5(a);T(N+1))。同様に、下位ビット用比較部4の比較段20bも、N+1番目のデジタル信号を生成するために、アナログ信号Vinの電圧をサンプリングする(図5(c);T(N+1))。一方、下位ビット用比較部4の比較段20aは、N番目のデジタル信号を生成するためのアナログ信号Vinの電圧をホールドしている状態である(図5(b);H(N))。
このとき、N番目のデジタル信号を生成するために上位ビット用比較部3の比較段10から出力された差電圧に基づいて、マルチプレクサ8は下位ビット参照電圧を選択(スイッチであるMOSトランジスタTr15aの一つをON(短絡状態))して、下位ビット用比較部4の比較段20aへ出力する。
このように、下位ビット用比較部4の一方の比較段20bがアナログ信号Vinの電圧をサンプリングしている状態のとき(すなわち、リセットモードのとき)、他方の比較段20aに下位ビット参照電圧を入力することにより、比較段20aのMOSトランジスタTr22aとマルチプレクサ8との間を予めプリチャージすることができる。
その結果、比較段20aが比較モードとなる前に、比較段20aとマルチプレクサ8との間が予めプリチャージされることになり、比較段20aと参照電圧選択部との間の寄生容量による高速化への影響を低減することができる。
次のタイミングt14〜t15では、上位ビット用比較部3の比較段10は、N+1番目のデジタル信号を生成するために、アナログ信号Vinの電圧と上位ビット参照電圧との差電圧を出力する(図5(a);C(N+1))。このとき、下位ビット用比較部4の比較段20aは、N番目のデジタル信号を生成するためのアナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧との差電圧を出力する(図5(b);C(N))。一方、下位ビット用比較部4の比較段20bは、N+1番目のデジタル信号を生成するためのアナログ信号Vinの電圧をホールドしている状態である(図5(c);H(N+1))。
ここで、下位ビット用比較部4の比較段20aによるアナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧との比較は、MOSトランジスタTr22aをON状態(短絡状態)とすることによって行う(図5(f)参照)。
また、このとき、MOSトランジスタTr24aがON状態(短絡状態)となって(図5(g)参照)、アナログ信号Vinの電圧と下位ビット参照電圧との差電圧が比較段20aから増幅段21へ出力される。
そして、増幅段21の出力は、比較・保持手段22によって二値化されて、エンコーダ6から下位側のデジタル信号が出力される。
以降同様に、タイミングt11〜t15までの動作と同様の動作が繰り返し行われる。また、上述においては、比較段20aの動作を中心に説明したが、比較段20bの動作は比較段20aの動作に対して1サイクルずれてインターリーブ動作するものであり、ここでの説明は省略する。
ところで、比較段20a,20bでの比較モード時に、MOSトランジスタTr22a,Tr22bがON状態(短絡状態)へ移行したとき、このMOSトランジスタTr22a,Tr22bのスイッチ動作によってノイズが生じることがあり、このノイズによって高速化に影響を与えてしまうことがある。
そこで、比較段20a,20bにおける比較モードの前に、MOSトランジスタTr22a,Tr22bも予めON状態(短絡状態)とする。これにより、比較段20a,20bにおける比較モード時に、MOSトランジスタTr22a,Tr22bの動作により発生するノイズがその比較動作に影響しないようにすることが望ましい(図6、図7参照)。図6は下位ビット用比較部4の比較段20a,20bの他の動作説明図であり、図7は直並列型アナログ/デジタル変換器1における他の動作タイミングの説明図である。
図5におけるタイミング説明図と異なるなるところは、タイミングt13〜t14の間でMOSトランジスタTr22aをON状態としている点である。
すなわち、タイミングt13〜t14において、タイミング生成器7からMOSトランジスタTr22aのゲートに対してHレベルの制御信号が入力され、MOSトランジスタTr22aがON状態となり、これにより、比較段20aが比較モードとなる前に、マルチプレクサ8の出力部からコンデンサC20aの一端側(MOSトランジスタTr24aに接続される端子側)までにかけて下位ビット参照電圧が印加されることになる(図6参照)。なお、比較段20bについても同様の動作となる。
このように、比較段20a、20bのうち一つの比較段がリセットモードの時、他の比較段の第2スイッチであるMOSトランジスタTr22a,Tr22bを短絡状態にし、第4スイッチであるMOSトランジスタTr24a,Tr24bを非短絡状態にすることにより、増幅段21に影響を与えることなく、コンデンサC20a,C20bの他端まで予めプリチャージして、MOSトランジスタTr22a,Tr22bの動作により発生するノイズによる影響を抑制して高速化を図るようにしている。
以上、本発明の実施形態のいくつかを図面に基づいて詳細に説明したが、これらは例示であり、当業者の知識に基づいて種々の変形、改良を施した他の形態で本発明を実施することが可能である。
本発明の一実施形態にかかる直並列型アナログ/デジタル変換器の概略構成を示す図である。 図1における上位ビット用比較部の比較段の説明図である。 図1における下位ビット用比較部の比較段の説明図である。 図1における下位ビット用比較部の比較段の動作説明図である。 図1における直並列型アナログ/デジタル変換器の動作タイミングの説明図である。 図1における下位ビット用比較部の他の比較段の動作説明図である。 図1における直並列型アナログ/デジタル変換器の他の動作タイミングの説明図である。 従来の直並列型アナログ/デジタル変換器の概略構成を示す図である。 図8に示す比較段の具体的構成を示す図である。 図8に示す別の比較段の具体的構成を示す図である。
符号の説明
1 直並列アナログ/デジタル変換器
2 参照電圧生成器
3 上位ビット用比較部
4 下位ビット用比較部
5,6 エンコーダ
7 タイミング生成器
8 マルチプレクサ(参照電圧選択手段の一例)
20a,20b 比較段
21 増幅段
22 比較・保持手段
Tr21a,Tr21b MOSトランジスタ(第1スイッチの一例)
Tr22a,Tr22b MOSトランジスタ(第2スイッチの一例)
Tr23a,Tr23b MOSトランジスタ(第3スイッチの一例)
Tr24a,Tr24b MOSトランジスタ(第4スイッチの一例)

Claims (2)

  1. 複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器と、アナログ信号の電圧をサンプリングするリセットモードとアナログ信号の電圧と前記参照電圧との比較を行う比較モードとを交互に行う比較段を有する上位ビット用比較部及び下位ビット用比較部と、前記上位ビット用比較部の比較結果に応じた参照電圧を前記参照電圧生成器から選択して下位ビット用比較部に出力する参照電圧選択部と、前記下位ビット用比較部の各比較段の出力を増幅する増幅段と、を有し、前記上位ビット用比較部及び前記下位ビット用比較部による比較結果に基づいて、前記アナログ信号をデジタル信号に変換する直並列型アナログ/デジタル変換器において、
    前記下位ビット用比較部は、インターリーブ動作する複数の前記比較段を有し、
    前記下位ビット用比較部の各比較段は、前記アナログ信号の電圧を入力する第1スイッチと、前記参照電圧選択部から出力される参照電圧を入力する第2スイッチと、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチの各出力部に一端が接続されたコンデンサと、前記コンデンサの他端に接続された第3スイッチと、前記コンデンサの他端と前記増幅段との間に接続された第4スイッチとをそれぞれ有し、リセットモード時に前記第1スイッチと前記第3スイッチを短絡状態にして前記アナログ信号の電圧を前記コンデンサに入力してサンプリングし、その後の比較モード時に前記第2スイッチ及び前記第4スイッチを短絡状態にして前記コンデンサから前記アナログ信号の電圧と参照電圧との差電圧を出力し、
    前記下位ビット用比較部は、前記上位ビット用比較部のリセットモード時に前記複数の比較段のうち一つの比較段をリセットモードで動作させ、前記上位ビット用比較部の比較モード時に前記複数の比較段のうち一つの比較段を比較モードで動作させ、
    前記下位ビット用比較部の複数の比較段のうち一つの比較段がリセットモードのとき、他の比較段の前記第2スイッチを短絡状態にして当該他の比較段に前記参照電圧選択部により前記参照電圧を入力する直並列型アナログ/デジタル変換器。
  2. 複数の異なる参照電圧を生成する参照電圧生成器と、アナログ信号の電圧をサンプリングするリセットモードとアナログ信号の電圧と前記参照電圧との比較を行う比較モードとを交互に行う比較段を有する上位ビット用比較部及び下位ビット用比較部と、前記上位ビット用比較部の比較結果に応じた参照電圧を前記参照電圧生成器から選択して下位ビット用比較部に出力する参照電圧選択部と、前記下位ビット用比較部の各比較段の出力を増幅する増幅段と、を有し、前記上位ビット用比較部及び前記下位ビット用比較部による比較結果に基づいて、前記アナログ信号をデジタル信号に変換する直並列型アナログ/デジタル変換方法において、前記下位ビット用比較部は、インターリーブ動作する複数の前記比較段を有しており、前記下位ビット用比較部の各比較段は、前記アナログ信号の電圧を入力する第1スイッチと、前記参照電圧選択部から出力される参照電圧を入力する第2スイッチと、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチの各出力部に一端が接続されたコンデンサと、前記コンデンサの他端に接続された第3スイッチと、前記コンデンサの他端と前記増幅段との間に接続された第4スイッチとをそれぞれ有し、リセットモード時に前記第1スイッチと前記第3スイッチを短絡状態にして前記アナログ信号の電圧を前記コンデンサに入力してサンプリングし、その後の比較モード時に前記第2スイッチ及び前記第4スイッチを短絡状態にして前記コンデンサから前記アナログ信号の電圧と参照電圧との差電圧を出力するものであり、
    前記上位ビット用比較部のリセットモード時に前記下位ビット用比較部に設けた前記複数の比較段のうち一つの比較段をリセットモードで動作させる第1のステップと、
    前記上位ビット用比較部の比較モード時に前記下位ビット用比較部に設けた前記複数の比較段のうち一つの比較段を比較モードで動作させる第2のステップと、を有し、
    前記第1のステップにおいて、前記一つの比較段がリセットモードのとき、前記下位ビット用比較部に設けた前記複数の比較段のうちの他の比較段の前記第2スイッチを短絡状態にして当該他の比較段に前記参照電圧選択部により前記参照電圧を入力する
    ことを特徴とする直並列型アナログ/デジタル変換方法。
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