JP4372369B2 - 光子相関計 - Google Patents
光子相関計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4372369B2 JP4372369B2 JP2001101086A JP2001101086A JP4372369B2 JP 4372369 B2 JP4372369 B2 JP 4372369B2 JP 2001101086 A JP2001101086 A JP 2001101086A JP 2001101086 A JP2001101086 A JP 2001101086A JP 4372369 B2 JP4372369 B2 JP 4372369B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- time
- memory
- photon
- memories
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 55
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 34
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 10
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005311 autocorrelation function Methods 0.000 description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 6
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 5
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000011425 standardization method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
- G01N15/0211—Investigating a scatter or diffraction pattern
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4413—Type
- G01J2001/442—Single-photon detection or photon counting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N13/00—Investigating surface or boundary effects, e.g. wetting power; Investigating diffusion effects; Analysing materials by determining surface, boundary, or diffusion effects
- G01N2013/003—Diffusion; diffusivity between liquids
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、流体中の粒子に、レーザ光などの位相の揃った光を照射し、粒子から散乱される散乱光(以下「ホトン」という)の時間分布を測定する光子相関計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光子相関計は、ホトンの時間分布を定量的かつ統計的に処理するために、サンプリングゲートが開く時間(以下「サンプリング時間」という)内に検出器に入射するホトン数と、それから時間τだけ離れた時刻のサンプリング時間内に検出器に入射するホトン数とをカウントし、自己相関関数を算出している。
図5は、ホトン数をカウントする方法を示す図であり、横軸に時間tをとっている。サンプリング時間はtsで示している。ある時刻tのサンプリング時間内で検出したホトン数をN(t)、時刻t+τのサンプリング時間内で検出したホトン数をN(t+τ)で表している。自己相関関数G(τ)は、N(t)とN(t+τ)との積をとり、時間tで積分することにより、求めることができる。前記相関時間τは、一般には、数マイクロ秒から数十ミリ秒と、非常に広い範囲にわたっている。
【0003】
このような自己相関演算をするのに、従来、ハードウェアを利用した光子相関計と、ソフトウェアを利用した光子相関計のいずれかが用いられている。
ハードウェアを利用した光子相関計は、前記ホトン数をカウントする機構と、そのカウントされたホトン数に基づいて自己相関演算するための累積乗算機(シフトレジスタ等で実現される)とを備えており、高速かつリアルタイムで相関演算が実行できるという特徴をもっている。
【0004】
一方、ソフトウェアを利用した光子相関計は、サンプリングされたホトン数をメモリに書き込み、プログラムに従ってそのメモリに書き込まれたカウントデータを読み出して演算処理するので、サンプリング時間や、演算処理方法を柔軟に設定・変更することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
前記ハードウェアを利用した光子相関計では、サンプリング時間ts、とりたい相関時間τの範囲、その中での相関時間τをずらせる間隔、規格化の方法といった自己相関演算の各種パラメータは、あらかじめ固定されたものであり、特定範囲の相関時間の分解能を上げるなどといった柔軟なデータ処理ができないという問題がある。また、突発的に検出される試料中のゴミによる散乱光のデータ除去もできない。
【0006】
また、ソフトウェアを利用した光子相関計では、処理時間が、ハードウェアを利用した光子相関計よりも遅く、長い相関時間を得るために大量のホトンデータを取り込んだ場合、データ処理に時間がかかり、その間ホトン測定を中断してしまうので、データの取得効率が悪いという問題がある。
そこで、本発明は、ハードウェアの処理の高速性と、ソフトウェア処理の柔軟性とを併せ持つ光子相関計を実現することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の光子相関計は、ホトンの供給端子に対して並列に設けられ、複数のホトン入力を採取する基本的なサンプル時間が、各サンプルゲートごとに異なる複数のサンプリングゲート(11a-11e)と、複数のサンプリングゲート(11a-11e)に対応してそれぞれ設けられ、ホトン数に相当するデータを蓄積するための複数のメモリ(12a-12e)と、相関時間に応じて、前記複数のメモリ(12a-12e)の中からデータを読み出すべきメモリ(12a-12e)を選定し、当該選定されたメモリ(12a-12e)に蓄積されたデータを読み出して、ソフトウェアによる相関演算処理を行うための演算処理制御部(21a-21e)とを備え、前記メモリ(12a-12e)とは別の、ホトン数データを格納する複数の外部メモリ(22a-22e)とを備え、前記メモリ(12a-12e)からのデータの読み出しと、前記メモリ(12a-12e)へのデータの書き込みとが並行して行われるものであり、前記演算処理制御部(21a-21e)は、前記外部メモリ(22a-22e)を利用してソフトウェアによる相関演算処理を行うものである。前記サンプリングゲート(11a-11e)が、各ゲートを開くタイミングは、ランダムでなく、互いに同期がとられているものとする(括弧内の符号は対応する部材に付けられた図面の参照符号である)。
【0008】
前記の構成によれば、サンプリングゲートとメモリとのハードウェアからなる機構により、データの高速書き込み、リアルタイムの読出しが行える。そして、それと並行して、ソフトウェアによる相関演算処理を行うことができるので、多様な演算方法を行うことができる。
また、測定中に、測定と並行してソフトウェアによる相関演算処理を行っているので、試料中のゴミなどによるデータ異常を見つけることが容易にでき、異常データの除去が簡単にできる。
【0009】
また、前記外部メモリを利用することにより、相当数のホトン数データを格納できるので、相関演算処理の相関時間が長くなっても、相関演算をすることが可能となる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、光子相関計8を含む測定システムの全体構成図である。レーザ装置1から照射されるコヒーレントな光は、レンズ2で絞られ、入射用光ファイバ4に入射される。入射用光ファイバ4の先は光散乱測定プローブ3に結合されている。光散乱測定プローブ3は、試料液体hを満たしたセル5に挿入され、光散乱測定プローブ3の先端からレーザ光が試料に照射される。
【0011】
試料内の散乱体積Vからの散乱光は、光散乱測定プローブ3に設置された散乱光測定用光ファイバ6に入射され、フォトマルチプライヤ等の受光素子7に入り、受光素子7においてホトンの時系列データが測定される。そして、光子相関計8において、そのデータの自己相関係数が計算される。9は、、粒子サイズ等や、流体中の粒子の拡散係数等を求めるホストコンピュータである。またホストコンピュータ9は、測定システム全体の制御を行う。
【0012】
なお、前記入射用光ファイバ4及び散乱光測定用光ファイバ6は、シングルモード光ファイバであることが、光のコヒーレンスを保つ上から、好ましい。
前記光子相関計8は、ホトン数をカウントする機能10及び自己相関計算を行う機能20を備えている。ホトン数をカウントする機能10は、ゲート回路、メモリ等のハードウェアで構成される。自己相関計算を行う機能2はプログラムROM等の記録媒体に記録されたプログラムを、内蔵コンピュータ(このコンピュータを、以下「DSP(Digital Signal Processor)」という)が実行することにより実現される。
【0013】
図2は、ホトン数をカウントする機能10を実現するゲート、メモリ等のハードウェアの構成図である。受光素子7から出力されるホトンデータ(例えばホトン数に対応したパルス状の電圧で表される)は、複数のゲート回路11a〜11eに入力される。各ゲート回路11a〜11eは、それぞれ異なった時間で、同期を取りながらゲートを開く。図2では、ゲートを開く時間が1μsecのゲート回路11a、2μsecのゲート回路11b、4μsecのゲート回路11c、8μsecのゲート回路11d、16μsecのゲート回路11e、の5つのゲート回路を備えている。
【0014】
各ゲート回路11a〜11eの出力は、ホトン数を記憶するSRAMなどの高速のメモリ12a〜12eに与えられる。メモリ12aは、1μsecのゲート回路11aに対応して、ホトン数のデータを記憶する4つのエリアを持っている。メモリ12aは、ホトン数のデータをこれら4つのエリアに順次記憶していく。4つのエリアが一杯になる前に、後述するようにデータは順次読み出されていくので、メモリ12aは、一連のホトン数のデータを続いて記憶していくことができる。
【0015】
メモリ12bは、2μsecのゲート回路11bに対応して、ホトン数のデータを記憶する2つのエリアを持っている。メモリ12bは、ホトン数のデータをこれら2つのエリアに順次記憶していく。2つのエリアが一杯になる前に、後述するようにデータは順次読み出されていくので、メモリ12bは、一連のホトン数のデータを続いて記憶していくことができる。
メモリ12cは、4μsecのゲート回路11cに対応して、ホトン数のデータを記憶する2つのエリアを持っている。メモリ12dは、8μsecのゲート回路11dに対応して、ホトン数のデータを記憶する2つのエリアを持っている。メモリ12eは、16μsecのゲート回路11eに対応して、ホトン数のデータを記憶する2つのエリアを持っている。これらのエリアの使用方法は、メモリ12bに関連して前述した方法と同様である。
【0016】
このように、時間間隔1μsec〜16μsecの異なる時系列データを収集するようにしたのは、相関計算する時の相関時間τに応じて、最適な時間間隔の時系列データを選択したいからである。
例えば、時間間隔が1μsecのデータですべての計算をまかなおうとすれば、相関時間τが長くなればなるほど、データ数が膨大になり、データ処理時間が増大する。時間間隔の異なる時系列データを適宜選択して用いれば、このようなデータ処理時間の増大を避けることができる。
【0017】
例えば、相関時間τが1−20μsecの相関計算のためには、時間間隔1μsecの時系列データが最適である。相関時間τが20−80μsecの相関計算のためには、時間間隔2μsecの時系列データを用いる、相関時間τが480−960μsec以上の相関計算には、時間間隔16μsecの時系列データを用いるなどである。相関時間τがもっと長くなれば、時間間隔16μsecの時系列データを間引いて用いる。ただし、上にあげた数字は一例であり、実際には、試料や散乱光量に応じて、最適な関係が決定される。
【0018】
また、読出回路13a〜13eが設けられていて、読出回路13aは、メモリ12aに記憶されたホトン数のデータを、ホトン数のデータの書き込みより一定時間(非常に短い時間;例えば1μsecの数分の1)遅れて、順次又は交互に、読み出していく。読出回路13b〜13eも同様に、データの書き込みより一定時間(例えば1μsecの数分の1)遅れて、それぞれ交互に、読み出していく。以上のハードウェアの構成により、読出回路13aから、1μsecごとのホトン数のデータが、ほぼリアルタイムに出力されることになる。読出回路13bからは、2μsecごとのホトン数のデータがほぼリアルタイムに出力され、読出回路13cからは、4μsecごとのホトン数のデータがほぼリアルタイムに出力され、読出回路13dからは、8μsecごとのホトン数のデータがほぼリアルタイムに出力され、読出回路13eからは、16μsecごとのホトン数のデータがほぼリアルタイムに出力されることになる。
【0019】
図3は、DSPが自己相関計算を行う機能20を説明するためのブロック図である。各読出回路13a〜13eのホトン数のデータは、それぞれ相関計算部21a〜21eに与えられる。そして、相関計算部21a〜21eで、ホトン数のデータを外部メモリ(DRAM,SRAMなどの高速メモリで構成される)22a〜22eに記憶し、この外部メモリ22a〜22eに記憶されたデータを用いて相関計算が行われる。その結果は、規格化部23に与えられ、ここにおいて、規格化演算が行われる。
【0020】
図4は、相関計算部21a〜21eにおいて行う相関計算の手順を説明するためのフローチャートである。フローチャートに沿って説明すると、まず、DSPは読み出す外部メモリ22a〜22eを特定することによりデータの種類(何μsecゲートを通して収集されたデータか)を特定し、計算方法(例えば相関時間τをいくらにとるか、積分範囲(データ数)をどれだけとるか等)を判断する(ステップS1)。この特定や判断は、DSPがホストコンピュータ9からの指令に従って行う。
【0021】
そして、外部メモリ22a〜22eが読み出し可能な状態にあるか(すなわち、必要な数のデータが蓄積されているか)を判断し(ステップS2)、読み出し可能な状態になれば、データを読出し、相関計算を行う(ステップS3)。
この相関計算方法を説明する。以下では、離散的な扱いをするので、記号、添え字等を今まで用いたものから変更する。データ数をM,サンプリング時点をj(M=1,2,…,M)で表し、相関時間をkで表す。サンプリング時点jのホトン数をnjで表す。
【0022】
自己相関関数Gkは
Gk=(1/M)Σnjnj-k(jは1からMまで) (1)
で計算される。
相関計算が完了すれば、カウンタを1増やし(ステップS4)、カウンタが規定値になったかどうか判定する(ステップS5)。この規定値は、時間をずらせながら相関計算したい回数に相当する。
【0023】
規定値に達すれば、自己相関関数を規格化する(ステップS6)。規格化された自己相関関数をgkで表す。gkは次の形で表される。
gk=Gk/S0 2 (standard normalization) (2)
または
gk=Gk/S0Sk (symmetric normalization) (3)
となる。ここで、Sk=Σnj(jは1−kからM−kまで)は平均光量である。
【0024】
以上のようにして、求められた自己相関関数のデータは、ホストコンピュータ9に送られ、ここで、公知のプログラムに従って、粒子の粒径分布、拡散係数等が計算される。
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、前記の形態に限定されるものではない。例えば、図2の実施形態では、メモリ12aは4個のメモリから構成され、メモリ12b〜12eはそれぞれ2個のメモリから構成されていたが、メモリの個数は、前記数字に限られるものではない。その他本発明の範囲内で種々の変更を施すことが可能である。
【0025】
【発明の効果】
以上のように本発明の光子相関計によれば、サンプリングゲートとメモリとのハードウェアからなる機構により、データの高速書き込み、リアルタイムの読出しが行え、それと並行して、ソフトウェアによる相関演算処理を行うので、かつ多様な条件の下での、粒子の大きさや、流体中の粒子の拡散係数を、高速に処理することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光子相関計8を含む測定システムの全体構成図である。
【図2】ホトン数をカウントする機能10を実現するゲート、メモリ等のハードウェアの構成図である。
【図3】DSPが自己相関計算を行う機能20を説明するためのブロック図である。
【図4】相関計算部21a〜21eにおいて行う相関計算の手順を説明するためのフローチャートである。
【図5】ホトンをカウントする方法を説明するための図である。
【符号の説明】
8 光子相関計
9 ホストコンピュータ
10 ホトン数をカウントする機能
11a〜11e ゲート回路
12a〜12e メモリ
13a〜13e 読出回路
20 自己相関計算を行う機能
21a〜21e 相関計算部
22a〜22e 外部メモリ
23 規格化部
Claims (1)
- ホトンの供給端子に対して並列に設けられ、複数のホトン入力を採取する基本的なサンプル時間が、各サンプルゲートごとに異なる複数のサンプリングゲートと、
複数のサンプリングゲートに対応してそれぞれ設けられ、ホトン数に相当するデータを蓄積する複数のメモリと、
相関時間に応じて、前記複数のメモリの中からデータを読み出すべきメモリを選定し、当該選定されたメモリに蓄積されたデータを読み出して、ソフトウェアによる相関演算処理を行うための演算処理制御部と、
前記メモリとは別の、読み出された所定期間にわたるホトン数データを格納する複数の外部メモリとを備え、
前記メモリからのデータの読み出しと、前記メモリへのデータの書き込みとが並行して行われるものであり、
前記演算処理制御部は、前記外部メモリを利用してソフトウェアによる相関演算処理を行うものであることを特徴とする光子相関計。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001101086A JP4372369B2 (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 光子相関計 |
DE60234801T DE60234801D1 (de) | 2001-03-30 | 2002-03-26 | Photonenkorrelator |
EP02705493A EP1300660B1 (en) | 2001-03-30 | 2002-03-26 | Photon correlator |
CN02800929A CN1460176A (zh) | 2001-03-30 | 2002-03-26 | 光子相关器 |
PCT/JP2002/002882 WO2002082028A1 (fr) | 2001-03-30 | 2002-03-26 | Correlateur de photons |
US10/276,994 US6885448B2 (en) | 2001-03-30 | 2002-03-26 | Photon correlator |
KR10-2002-7016172A KR100522340B1 (ko) | 2001-03-30 | 2002-03-26 | 광자 상관계 |
TW091106552A TWI227321B (en) | 2001-03-30 | 2002-03-29 | Photon correlator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001101086A JP4372369B2 (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 光子相関計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002296118A JP2002296118A (ja) | 2002-10-09 |
JP4372369B2 true JP4372369B2 (ja) | 2009-11-25 |
Family
ID=18954457
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001101086A Expired - Lifetime JP4372369B2 (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 光子相関計 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6885448B2 (ja) |
EP (1) | EP1300660B1 (ja) |
JP (1) | JP4372369B2 (ja) |
KR (1) | KR100522340B1 (ja) |
CN (1) | CN1460176A (ja) |
DE (1) | DE60234801D1 (ja) |
TW (1) | TWI227321B (ja) |
WO (1) | WO2002082028A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5057922B2 (ja) * | 2006-12-28 | 2012-10-24 | 株式会社堀場製作所 | コリレータ |
CN101403682B (zh) * | 2007-10-05 | 2012-02-15 | 株式会社堀场制作所 | 相关器 |
JP5518110B2 (ja) * | 2012-02-16 | 2014-06-11 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
CN102798589B (zh) * | 2012-05-22 | 2014-06-11 | 山东理工大学 | 一种大动态范围高速光子相关器 |
CN102798582A (zh) * | 2012-05-22 | 2012-11-28 | 山东理工大学 | 基于dsp环形缓冲区的比例光子相关器 |
CN104568176B (zh) * | 2014-12-29 | 2017-10-13 | 成都麟鑫泰来科技有限公司 | 光子相机超高速单光子成像装置 |
CN104792670B (zh) * | 2015-04-09 | 2018-04-03 | 华南师范大学 | 一种基于现场可编程门阵列的多路复用光子相关器 |
US10775241B2 (en) * | 2017-06-27 | 2020-09-15 | Canon U.S.A., Inc. | Correlator with a variable sampling time scheme |
EP3732501A4 (en) * | 2018-02-13 | 2021-08-25 | Sense Photonics, Inc. | PROCESSES AND SYSTEMS FOR HIGH-RESOLUTION FLASH LIDAR WITH LARGE RANGE |
CN110857909B (zh) * | 2018-08-24 | 2022-05-20 | 北京世纪朝阳科技发展有限公司 | 测量微粒粒径的系统 |
JP7365955B2 (ja) | 2020-04-06 | 2023-10-20 | 大塚電子株式会社 | 粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4346991A (en) * | 1979-10-31 | 1982-08-31 | National Research Development Corporation | Method and apparatus for measuring retinal blood flow |
GB8705844D0 (en) * | 1987-03-12 | 1987-04-15 | Secr Defence | Dynamic light scattering apparatus |
GB2210163B (en) * | 1987-09-18 | 1991-06-26 | Hamamatsu Photonics Kk | Apparatus for measuring the temporal correlation of fundamental particles |
JPH0643949B2 (ja) | 1988-10-03 | 1994-06-08 | 大塚電子株式会社 | 粒径測定装置 |
US5155549A (en) * | 1990-10-25 | 1992-10-13 | The Research Of State University Of New York | Method and apparatus for determining the physical properties of materials using dynamic light scattering techniques |
JP3063037B2 (ja) | 1990-11-15 | 2000-07-12 | 旭硝子株式会社 | 分布型光ファイバーセンサー |
JP3199850B2 (ja) * | 1992-08-04 | 2001-08-20 | 興和株式会社 | 血小板凝集能測定装置 |
-
2001
- 2001-03-30 JP JP2001101086A patent/JP4372369B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-03-26 KR KR10-2002-7016172A patent/KR100522340B1/ko active IP Right Grant
- 2002-03-26 EP EP02705493A patent/EP1300660B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-26 DE DE60234801T patent/DE60234801D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-26 CN CN02800929A patent/CN1460176A/zh active Pending
- 2002-03-26 US US10/276,994 patent/US6885448B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-26 WO PCT/JP2002/002882 patent/WO2002082028A1/ja active IP Right Grant
- 2002-03-29 TW TW091106552A patent/TWI227321B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1300660A4 (en) | 2008-06-11 |
CN1460176A (zh) | 2003-12-03 |
EP1300660A1 (en) | 2003-04-09 |
JP2002296118A (ja) | 2002-10-09 |
WO2002082028A1 (fr) | 2002-10-17 |
TWI227321B (en) | 2005-02-01 |
EP1300660B1 (en) | 2009-12-23 |
KR100522340B1 (ko) | 2005-10-20 |
US6885448B2 (en) | 2005-04-26 |
KR20030007747A (ko) | 2003-01-23 |
US20030133110A1 (en) | 2003-07-17 |
DE60234801D1 (de) | 2010-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4372369B2 (ja) | 光子相関計 | |
US5457526A (en) | Apparatus for analyzing particles in fluid samples | |
US5015094A (en) | Particle size measuring system | |
CN104823040B (zh) | 紫外线防御效果的评价方法及评价装置、以及记录介质 | |
CN102359962B (zh) | 适用于图像分析法测定烟梗长梗率的设备 | |
US5627642A (en) | Method and apparatus for submicroscopic particle sizing by measuring degree of coherence | |
JP2013167589A (ja) | 粒径分布測定装置 | |
Cambier et al. | A multidimensional slit-scan flow system. | |
JPH0528134B2 (ja) | ||
JPH04337460A (ja) | 尿中の細胞分析装置および方法。 | |
US4128335A (en) | Condensation nuclei counter with automatic ranging | |
JPS62112035A (ja) | 粒子解析装置 | |
JP3165272B2 (ja) | フロー式粒子画像解析方法及びフロー式粒子画像解析装置 | |
JP2756298B2 (ja) | 検体検査装置 | |
JP3411115B2 (ja) | フローサイトメータ | |
US7078663B2 (en) | Scanning laser microscope and external signal recording method | |
JP4039751B2 (ja) | 画像データ採取顕微分光光度計 | |
JP6787278B2 (ja) | 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法 | |
JP2892737B2 (ja) | 粒子測定方法 | |
SU1362430A1 (ru) | Устройство дл регистрации распределени по скорост м сперматозоидов животного | |
FR2885758A1 (fr) | Systeme d'acquisition multimode | |
JPH09145847A (ja) | リアルタイム多重波高分析装置および放射線監視装置 | |
TW202138783A (zh) | 粒徑測量方法、粒徑測量裝置及粒徑測量程序 | |
JPH0617860B2 (ja) | 粒径測定装置 | |
JPH09269377A (ja) | 放射線検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070801 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090525 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090707 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090724 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090825 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090902 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120911 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4372369 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120911 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130911 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |