JP4368547B2 - 電圧検出回路 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、携帯電話等に使用される電圧検出用ＩＣの製造工程の簡略化に関し、更に詳しくは、電圧検出用ＩＣの検出電圧の測定及び、調整工程の時間短縮を図ることができるようにした電圧検出回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年の電池で駆動される電子機器においては、長時間の使用を実現するために、回路が正常に作動を行うのに必要な最低限の電圧まで動作を行わせることから、電池の電圧を高精度で検出する必要があった。そのため、電池電圧を検出する電圧検出回路は、検出電圧の精度を高めるために電圧調整用抵抗をレーザートリミング等を用いて抵抗値の調整を行い、所望の検出電圧精度を得ていた。
【０００３】
図９は、従来の電圧検出回路の例を示した回路図である。
図９において、入力端子１１０に印加された入力電圧Ｖｉは、抵抗Ｒ１０１及びＲ１０２で分圧されて演算増幅器１０３の反転入力端に入力される。演算増幅器１０３の非反転入力端には、基準電圧発生回路部１０４から所定の基準電圧Ｖｒが印加されている。
【０００４】
演算増幅器１０３は、入力電圧Ｖｉを分圧した分圧電圧Ｖｄと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、分圧電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒよりも大きい場合は、出力端がロー（Ｌｏｗ）レベルとなり、分圧電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒよりも小さい場合は、出力端がハイ（Ｈｉｇｈ）レベルとなる。例えば、携帯電話等の電池で駆動される機器においては、入力電圧Ｖｉとして電池の電圧が印加され、この場合、演算増幅器１０３から出力される該ハイレベルの信号がＣＰＵ等に対するリセット信号となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
このような電圧検出回路では、電圧検出回路の出力端からは２値のデジタル信号レベルとしてハイレベル又はローレベルのいずれかの出力信号しか得られない。このため、製造時において、電圧検出回路の検出精度を高めるために行う抵抗Ｒ１０１及び／又はＲ１０２の調整方法としては、電圧検出回路の入力電圧Ｖｉを少しずつ変化させ、電圧検出回路の出力電圧がハイレベルからローレベルに変化する時か、又はその逆の変化が起きる時の入力電圧Ｖｉを測定し、該測定結果からレーザートリミング等を用いて抵抗Ｒ１０１及び／又はＲ１０２における抵抗値の調整を行っていた。しかし、このような測定には多くの時間を要するため、電圧検出回路のコストを上げる要因となっていた。
【０００６】
一方、特開平１０−１１１１９６号公報には、トリミングを用いた抵抗の調整を行うことなく電圧検出回路の検出精度を高める技術が開示されているが、該公報では基準電圧を発生させるために高精度の定電圧回路を備えていることが条件となっている。しかし、ＩＣ製造工程で最も大きくバラツキが生じるのが基準電圧であり、前記公報には基準電圧の精度を上げる手段は開示されていない。
【０００７】
本発明は、前記のような問題を解決するためになされたものであり、簡単な回路を追加することで、所定のテスト信号を入力すると直ちに検出電圧を測定することできるようにして、検出電圧の測定に要していた測定時間を大幅に短縮することができる電圧検出回路を得ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る電圧検出回路は、入力端子から入力された電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号を出力して、該入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、入力された電圧を分圧して出力する分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記入力端子に入力された電圧又は該演算増幅器の出力電圧のいずれかを前記分圧回路部の入力電圧として出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、前記入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、前記演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【０００９】
また、この発明に係る電圧検出回路は、入力端子から入力された電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号を出力して、該入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、入力された電圧を分圧して出力する分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記分圧回路部からの分圧電圧又は前記演算増幅器の出力電圧のいずれかを該演算増幅器の所定の入力端に出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【００１０】
具体的には、前記分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗で構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧を生成し、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整が行われるようにしてもよい。
【００１１】
この場合、前記分圧回路部は、所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、該各分圧用抵抗の間に直列に接続された複数の調整用抵抗と、該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第２出力選択用ヒューズとで構成され、前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにした。
【００１２】
一方、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記各入力端子に入力されたそれぞれの電圧又は該各演算増幅器のそれぞれの出力電圧のいずれかを対応する前記各分圧回路部の入力電圧としてそれぞれ出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、各分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する前記各入力端子からの入力電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する前記各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するものである。
【００１３】
また、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記各分圧回路部からのそれぞれの分圧電圧又は該各演算増幅器のそれぞれの出力電圧のいずれかを対応する該各演算増幅器の所定の入力端にそれぞれ出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、各演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する前記各分圧回路部からの分圧電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する該各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するものである。
【００１４】
具体的には、前記各分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗でそれぞれ構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧をそれぞれ生成し、テストモード時に対応する演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにしてもよい。
【００１５】
更に、テストモード時に、外部から入力される選択信号に応じて、前記各演算増幅器からの出力電圧のいずれか１つを外部に出力する切替回路部を備えるようにした。
【００１６】
また、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、所定の１つの前記分圧回路部に対して、対応する入力端子からの入力電圧又は対応する前記演算増幅器の出力電圧のいずれかを入力電圧として出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、前記所定の分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する前記入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する前記演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【００１７】
また、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、所定の１つの前記演算増幅器における一方の入力端に対して、対応する分圧回路部からの分圧電圧又は該演算増幅器の出力電圧のいずれかを出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、前記１つの演算増幅器における所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【００１８】
具体的には、前記各分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗でそれぞれ構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧をそれぞれ生成し、テストモード時に前記所定の１つの演算増幅器における出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにしてもよい。
【００１９】
この場合、前記各分圧回路部は、所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第２出力選択用ヒューズとでそれぞれ構成され、前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方をそれぞれ選択して切断するようにした。
【００２０】
一方、前記基準電圧発生回路部は、所定の定電圧を生成して出力する定電圧発生部と、直列に接続された複数の抵抗で構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて該定電圧発生部からの定電圧を分圧した基準電圧を生成して出力し、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該基準電圧の調整が行われる電圧調整部とで構成されるようにしてもよい。
【００２１】
この場合、前記電圧調整部は、所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を基準電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を基準電圧として出力する第２出力選択用ヒューズとで構成され、前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにする。
【００２２】
【発明の実施の形態】
次に、図面に示す実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
第１の実施の形態．
図１は、本発明の第１の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。
図１において、電圧検出回路１は、所定の基準電圧Ｖｒを生成して出力する基準電圧発生回路部２と、入力された電圧を分圧して分圧電圧Ｖｄを生成し出力する分圧回路部３と、基準電圧Ｖｒと分圧電圧Ｖｄの電圧比較を行い該比較結果に応じた２値の信号を出力端子１１に出力する演算増幅器４とを備えている。更に、電圧検出回路１は、外部から入力されるテスト信号に応じて分圧回路部３に入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部５を備えている。
【００２３】
基準電圧発生回路部２は、生成した所定の基準電圧Ｖｒを演算増幅器４の非反転入力端に出力する。また、分圧回路部３は、入力端ＩＮに入力された電圧を所定の比で分圧して分圧電圧Ｖｄを生成し、出力端ＯＵＴから演算増幅器４の反転入力端に出力する。入力切替回路部５は、通常動作時にはロー（Ｌｏｗ）レベルのテスト信号Ｓｔが、テストモード時にはハイ（Ｈｉｇｈ）レベルのテスト信号Ｓｔがそれぞれ入力される。入力切替回路部５は、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、入力端子１２から入力される電圧Ｖｉを分圧回路部３の入力端ＩＮに出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４の出力端から出力された信号を分圧回路部３の入力端ＩＮに入力する。
【００２４】
分圧回路部３は、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７、抵抗Ｒ８，Ｒ９及びヒューズＨＵ１〜ＨＵ９で構成されている。なお、抵抗Ｒ８，Ｒ９は分圧用抵抗をなし、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７は調整用ヒューズを、ヒューズＨＵ８は第１出力選択用ヒューズを、ヒューズＨＵ９は第２出力選択用ヒューズをそれぞれなす。分圧回路部３において、入力端ＩＮと接地との間には抵抗Ｒ８、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７及び抵抗Ｒ９の直列回路が接続されており、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７には、それぞれ対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７が並列に接続されている。
【００２５】
また、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７の直列回路と並列に、ヒューズＨＵ８及びＨＵ９の直列回路が接続され、ヒューズＨＵ８とＨＵ９との接続部は出力端ＯＵＴをなし、演算増幅器４の反転入力端に接続されている。製造時における検出電圧の調整が行われる前の初期状態においては、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７は対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７でそれぞれ短絡されていることから、分圧回路部３は、入力端ＩＮに入力された電圧を抵抗Ｒ８及びＲ９で分圧して分圧電圧Ｖｄを生成する。
【００２６】
入力切替回路部５は、トランスミッションゲートＴＭ１，ＴＭ２及びインバータＩＶ１，ＩＶ２で構成されており、入力端子１２と演算増幅器４の出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２が直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１とＴＭ２との接続部は、分圧回路部３の入力端ＩＮ、すなわち抵抗Ｒ８に接続されている。ここで、トランスミッションゲートは、ＰＭＯＳトランジスタとＮＭＯＳトランジスタが並列に接続されてなるものであり、以下、トランスミッションゲートにおいて、ＰＭＯＳトランジスタのゲートを反転制御入力端と呼ぶと共にＮＭＯＳトランジスタのゲートを非反転制御入力端と呼ぶ。
【００２７】
テスト信号入力端子１３から入力されたテスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１の非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１の反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の非反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００２８】
このような構成において、電圧検出回路１は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になるとハイレベルの信号を出力端子１１から出力することによって、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になったことを検出する回路である。電圧検出回路１において、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になったことを検出する精度は、抵抗Ｒ８，Ｒ９の各抵抗値のばらつき、基準電圧Ｖｒのばらつき及び演算増幅器４のオフセットによって影響される。このため、製造時に、電圧検出回路１に対して検出電圧の調整を行う必要がある。
【００２９】
次に、製造時に行われる電圧検出回路１に対する検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路１の検出電圧のばらつきを測定するためのテストモード時の動作が開始される。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオンして導通状態となる。
【００３０】
このため、分圧回路部３の入力端ＩＮには、演算増幅器４からの出力信号が入力され、分圧回路部３は、該出力信号を分圧した信号を演算増幅器４の反転入力端に出力する。このようにすることによって、演算増幅器４の出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒのばらつき、抵抗Ｒ８，Ｒ９の各抵抗値のばらつき、及び演算増幅器４のオフセットを含んだ出力電圧が、出力端子１１に出力される。このような状態で、演算増幅器４から出力端子１１に出力される電圧Ｖｏは、下記（１）式のようになる。
Ｖｏ＝Ｖｒ(１＋Ｒ８／Ｒ９)………………（１）
なお、前記（１）式において、Ｒ８は抵抗Ｒ８の抵抗値を、Ｒ９は抵抗Ｒ９の抵抗値をそれぞれ示している。
【００３１】
テストモード時には、出力端子１１に電圧測定装置が接続されており、テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に出力端子１１から出力される電圧Ｖｏの測定を行う。該測定した出力電圧Ｖｏが所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、該差分だけ電圧検出回路１の検出電圧が変化するように、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。該切断には、半導体レーザ等を使用したトリミングによって行われる。なお、該トリミングは、出力端子１１から出力される電圧Ｖｏを測定して演算しながら行ってもよいし、出力端子１１から出力される電圧Ｖｏの測定値を記録した後、改めて演算して行うようにしてもよい。
【００３２】
分圧回路部３の調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７の各抵抗値は、例えば１：２：４：８：１６：３２：６４の比をなすように形成されている。分圧電圧Ｖｄを上昇させるにはヒューズＨＵ９を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ８とＲ９との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ８の抵抗値と、抵抗Ｒ９及び調整用抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値との比に応じた分圧電圧Ｖｄが生成されて出力される。
【００３３】
また、分圧電圧Ｖｄを低下させるにはヒューズＨＵ８を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ８とＲ９との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ８及び調整抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値と、抵抗Ｒ９の抵抗値との比に応じた分圧電圧Ｖｄが生成されて出力される。このようにして、電圧検出回路１の検出電圧の調整を行うことができる。
【００３４】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルとなって入力電圧Ｖｉの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオフして遮断状態となる。このため、分圧回路部３の入力端ＩＮには、入力端子１２から入力された入力電圧Ｖｉが入力され、分圧回路部３は、入力電圧Ｖｉを分圧した分圧電圧Ｖｄを演算増幅器４の反転入力端に出力する。
【００３５】
演算増幅器４は、入力された分圧電圧Ｖｄと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、基準電圧Ｖｒに対して、分圧電圧Ｖｄが大きい場合はローレベルの出力信号を、分圧電圧Ｖｄが小さい場合はハイレベルの出力信号を出力端子１１からそれぞれ出力する。このことから、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下になると演算増幅器４がハイレベルの信号を出力するように、分圧電圧Ｖｄ及び基準電圧Ｖｒの設定がそれぞれ行われている。すなわち、電圧検出回路１は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を出力端子１１から出力する。
【００３６】
ここで、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合について、図２を用いて説明する。なお、図２では、説明を分かりやすくするために、２つの入力電圧の電圧検出を行う場合を例にして示している。また、図２では、図１と同じものは同じ符号で示しており、ここではその説明を省略する。
図２において、図１との相違点は、電圧検出回路１と異なる電圧の検出を行う電圧検出回路１ａを設けたことと、外部からの選択信号Ｓｓに応じて電圧検出回路１又は１ａのいずれか一方の出力電圧を出力する切替回路部４１を設けたことにある。すなわち、電圧検出回路１，１ａ及び切替回路部４１で２つの入力電圧の電圧検出を行う電圧検出回路をなしている。
【００３７】
電圧検出回路１ａは、入力端子１２ａに入力された電圧Ｖｉａを分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成し出力する分圧回路部３ａと、基準電圧Ｖｒと分圧電圧Ｖｄａの電圧比較を行い該比較結果に応じた２値の信号を出力する演算増幅器４ａと、外部から入力されるテスト信号Ｓｔに応じて分圧回路部３ａに入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部５ａとを備えている。
【００３８】
分圧回路部３ａは、入力端ＩＮａに入力された電圧を所定の比で分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成し、出力端ＯＵＴａから演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。入力切替回路部５ａは、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、入力端子１２ａから入力される電圧Ｖｉａを分圧回路部３ａの入力端ＩＮａに出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４ａの出力信号を分圧回路部３ａの入力端ＩＮａに出力する。
【００３９】
分圧回路部３ａは、調整用抵抗Ｒ１ａ〜Ｒ７ａ、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａ及びヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａで構成されている。なお、分圧回路部３ａにおいて、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａは抵抗Ｒ８，Ｒ９に、調整用抵抗Ｒ１ａ〜Ｒ７ａは調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７に、ヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａはヒューズＨＵ１〜ＨＵ９にそれぞれ対応しており、同様の動作を行うことからその説明を省略する。また、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａは分圧用抵抗をなし、ヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ７ａは調整用ヒューズを、ヒューズＨＵ８ａは第１出力選択用ヒューズを、ヒューズＨＵ９ａは第２出力選択用ヒューズをそれぞれなす。
【００４０】
入力切替回路部５ａは、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａで構成されており、入力端子１２ａと演算増幅器４ａの出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａが直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａの接続部は、分圧回路部３ａの入力端ＩＮａ、すなわち抵抗Ｒ８ａに接続されている。テスト信号入力端子１３から入力されたテスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの非反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００４１】
演算増幅器４及び４ａの各出力信号は、切替回路部４１及び外部回路である制御回路４５にそれぞれ出力される。切替回路部４１は、テストモード時に外部から入力される選択信号Ｓｓに応じて、演算増幅器４及び４ａの内、いずれか一方の出力端から入力された電圧を選択して調整用出力端子４２から出力する。
【００４２】
次に、製造時に行われる電圧検出回路１ａにおける検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。なお、電圧検出回路１における検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法については図１の場合と同様であるのでその説明を省略する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路１及び１ａの検出電圧を測定するためのテストモード時の動作が開始する。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオンして導通状態となる。
【００４３】
このため、分圧回路部３ａの入力端ＩＮａには、演算増幅器４ａからの出力信号が入力され、分圧回路部３ａは、該出力信号を分圧した信号を演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。このようにすることによって、演算増幅器４ａの出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒのばらつき、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａの各抵抗値のばらつき、及び演算増幅器４ａのオフセットを含んだ出力電圧が、切替回路部４１及び制御回路４５にそれぞれ出力される。
【００４４】
テストモード時には、調整用出力端子４２に電圧測定装置が接続されており、テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に調整用出力端子４２から出力される電圧の測定を行う。選択信号Ｓｓによって、切替回路部４１から調整用出力端子４２を介して演算増幅器４ａの出力信号が出力されると、該測定した出力電圧が所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、図１の電圧検出回路１の場合と同様に、該差分だけ電圧検出回路１ａの検出電圧が変化するように、分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択して切断する。
【００４５】
言うまでもなく、選択信号Ｓｓによって、切替回路部４１から調整用出力端子４２を介して演算増幅器４の出力信号が出力されると、図１の電圧検出回路１の場合と同様にして、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。このようにして、電圧検出回路１及び１ａの検出電圧の調整をそれぞれ行うことができる。
【００４６】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルとなって入力電圧Ｖｉａの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオフして遮断状態となる。このため、分圧回路部３ａの入力端ＩＮａには、入力端子１２ａから入力された入力電圧Ｖｉａが入力され、分圧回路部３ａは、入力電圧Ｖｉａを分圧した分圧電圧Ｖｄａを演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。
【００４７】
演算増幅器４ａは、入力された分圧電圧Ｖｄａと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、基準電圧Ｖｒに対して、分圧電圧Ｖｄａが大きい場合はローレベルの出力信号を、分圧電圧Ｖｄａが小さい場合はハイレベルの出力信号を出力端からそれぞれ出力する。このことから、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下になると演算増幅器４ａがハイレベルの信号を出力するように、分圧電圧Ｖｄａ及び基準電圧Ｖｒの設定がそれぞれ行われている。
【００４８】
すなわち、電圧検出回路１は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。同様に、電圧検出回路１ａは、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。制御回路４５は、入力された各信号に応じて所定の動作を行う。
【００４９】
一方、図２において、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａにおける各抵抗値のばらつき、及び演算増幅器４ａのオフセットがそれぞれ無視できるような場合、図２のトランスミッションゲートＴＭ１ａ，ＴＭ２ａ及び切替回路部４１をなくして図３のようにしてもよい。図３の場合、テストモード時において、演算増幅器４から調整用出力端子４２に出力された電圧の測定を行い、該測定した電圧を基にして上述した方法で、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択的に切断する。
【００５０】
これと同時に、該測定された電圧が演算増幅器４ａから出力されたものとして、該測定電圧を基に演算を行い、該演算結果から分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択的に切断する。このようにすることによって、テストモード時における電圧測定時間の短縮を図ることができる。なお、図２及び図３において、３つ以上の入力電圧を検出する場合は、電圧検出回路１ａを該検出する入力電圧の数の増加に応じて追加すればよい。
【００５１】
ここで、上記説明では、テストモード時に測定した出力電圧Ｖｏに応じて分圧回路部の分圧電圧を調整するようにしたが、該測定した出力電圧Ｖｏに応じて基準電圧発生回路部２の基準電圧Ｖｒの調整を行うようにしてもよい。このようにした場合、図１の電圧検出回路１は、図４のようになり、ここでは図１の場合との相違点のみ説明する。
図４において、図１との相違点は、分圧回路部３は、抵抗Ｒ８とＲ９との直列回路で形成され、基準電圧発生回路部２は、基準電圧Ｖｒよりも大きい所定の定電圧Ｖｒ１を生成して出力する定電圧発生部５１と該定電圧Ｖｒ１の電圧調整を行って所定の基準電圧Ｖｒを生成し出力する電圧調整部５２とで構成されていることにある。
【００５２】
電圧調整部５２は、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７、抵抗Ｒ５３，Ｒ５４及びヒューズＨＵ１〜ＨＵ９で構成されている。なお、抵抗Ｒ５３，Ｒ５４は分圧用抵抗をなす。電圧調整部５２において、定電圧発生部５１の出力端と接地との間には抵抗Ｒ５３、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７及び抵抗Ｒ５４の直列回路が接続されており、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７には、それぞれ対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７が並列に接続されている。
【００５３】
また、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７の直列回路と並列に、ヒューズＨＵ８及びＨＵ９の直列回路が接続され、ヒューズＨＵ８とＨＵ９との接続部から演算増幅器４の非反転入力端へ基準電圧Ｖｒが出力される。製造時における検出電圧の調整が行われる前の初期状態においては、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７は対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７でそれぞれ短絡されていることから、電圧調整部５２は、定電圧発生部５１から出力された定電圧Ｖｒ１を抵抗Ｒ５３及びＲ５４で分圧して基準電圧Ｖｒを生成する。
【００５４】
テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に出力端子１１から出力される電圧Ｖｏの測定が行われる。該測定された出力電圧Ｖｏが所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、該差分だけ電圧検出回路１の検出電圧が変化するように、電圧調整部５２のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。基準電圧Ｖｒを上昇させるにはヒューズＨＵ９を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ５３とＲ５４との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ５３の抵抗値と、抵抗Ｒ５４及び調整用抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値との比に応じた基準電圧Ｖｒが生成されて出力される。
【００５５】
また、基準電圧Ｖｒを低下させるにはヒューズＨＵ８を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ５３とＲ５４との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ５３及び調整抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値と、抵抗Ｒ５４の抵抗値との比に応じた基準電圧Ｖｒが生成されて出力される。このようにして、電圧検出回路１の検出電圧の調整を行うことができる。
【００５６】
なお、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合は、図２及び図３の電圧検出回路１を図４の構成にすると共に、図２及び図３の電圧検出回路１ａにおける分圧回路部３ａを抵抗Ｒ８ａとＲ９ａとの直列回路にし、入力端ＩＮａに入力された電圧をＲ８ａとＲ９ａで分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成するようにすればよい。
【００５７】
このように、本第１の実施の形態における電圧検出回路は、テスト信号入力端子１３に所定のテスト信号Ｓｔを入力することによって、テストモード時に、入力端子から入力される入力電圧の代わりに演算増幅器の出力信号を対応する分圧回路部の入力端に入力するようにして、演算増幅器の出力電圧を測定し該測定結果に応じて分圧回路部又は基準電圧発生回路部の各ヒューズを選択的に切断するようにした。このことから、検出電圧の測定が短時間で行うことができ、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、コストの上昇を低減させることができると共に、検出電圧の高精度な調整が可能となる。
【００５８】
第２の実施の形態．
ＩＣ製造工程において、分圧抵抗のような近接して作られた抵抗は、該抵抗の比を極めて精度よく作ることができることから、分圧回路部の分圧抵抗をなす抵抗Ｒ８及びＲ９の比は精度よく作り込まれている。このため、測定した基準電圧から所望の検出電圧が得られるように分圧回路部の各ヒューズを選択的にトリミングするようにしてもよい。このようなことから、前記第１の実施の形態では、入力切替回路部は、外部から入力されたテスト信号Ｓｔに応じて、分圧回路部に入力される信号の切り替えを行うようにしたが、入力切替回路部が、外部から入力されたテスト信号Ｓｔに応じて演算増幅器の反転入力端に入力される信号の切り替えを行うようにしてもよく、このようにしたものを本発明の第２の実施の形態とする。
【００５９】
図５は、本発明の第２の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。なお、図５では、図１と同じものは同じ符号で示すと共に、ここではその説明を省略すると共に図１との相違点のみ説明する。
図５における図１との相違点は、図１の入力切替回路部５のトランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２の接続を変えることによって、入力切替回路部５が、演算増幅器４の反転入力端に入力される信号の切り替えを行うようにしたことにあり、図１の入力切替回路部５を入力切替回路部６１にし、これに伴って、図１の電圧検出回路１を電圧検出回路６０にしたことにある。
【００６０】
図５において、電圧検出回路６０は、基準電圧発生回路部２と、分圧回路部３と、演算増幅器４と、外部から入力されるテスト信号Ｓｔに応じて演算増幅器４の反転入力端に入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部６１とを備えている。
分圧回路部３の入力端ＩＮは、入力端子１２に接続されており、入力電圧Ｖｉが入力される。分圧回路部３の出力端ＯＵＴは、入力切替回路部６１を介して演算増幅器４の反転入力端に接続されている。
【００６１】
入力切替回路部６１は、通常動作時にはローレベルのテスト信号Ｓｔが、テストモード時にはハイレベルのテスト信号Ｓｔがそれぞれ入力される。入力切替回路部６１は、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、分圧回路部３から出力された分圧電圧Ｖｄを演算増幅器４の反転入力端に出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４の出力端から出力された信号を演算増幅器４の反転入力端に出力する。
【００６２】
入力切替回路部６１は、トランスミッションゲートＴＭ１，ＴＭ２及びインバータＩＶ１，ＩＶ２で構成されており、分圧回路部３の出力端ＯＵＴと演算増幅器４の出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２が直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２の接続部は、演算増幅器４の反転入力端に接続されている。テスト信号入力端子１３から入力されたテスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１の非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１の反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の非反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００６３】
このような構成において、電圧検出回路６０は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になるとハイレベルの信号を出力端子１１から出力することによって、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になったことを検出する回路である。図１の電圧検出回路１の場合と同様、製造時に、電圧検出回路６０に対して検出電圧の調整を行う必要がある。
【００６４】
次に、製造時に行われる電圧検出回路６０に対する検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路６０の検出電圧のばらつきを測定するためのテストモード時の動作が開始する。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオンして導通状態となる。
【００６５】
このため、演算増幅器４の反転入力端には、演算増幅器４からの出力信号が入力され、演算増幅器４は、ボルテージフォロワ回路として動作する。このようにすることによって、演算増幅器４の出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒ及び演算増幅器４のオフセットを含んだ出力電圧が、出力端子１１に出力される。出力端子１１に接続された電圧測定装置で測定された出力電圧Ｖｏが所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、該差分だけ電圧検出回路６０の検出電圧が変化するように、図１の場合と同様、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。
【００６６】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルになって入力電圧Ｖｉの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオフして遮断状態となる。このため、演算増幅器４の反転入力端には、分圧回路部３から出力された分圧電圧Ｖｄが入力され、演算増幅器４は、図１の場合と同様に、基準電圧Ｖｒと分圧電圧Ｖｄの電圧比較を行って、該比較結果を示す２値の信号を出力する。すなわち、電圧検出回路６０は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を出力端子１１から出力する。
【００６７】
ここで、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合について、図６を用いて説明する。なお、図６においても、説明を分かりやすくするために、２つの入力電圧の電圧検出を行う場合を例にして示している。また、図６では、図２又は図５と同じものは同じ符号で示しており、ここではその説明を省略する。図６において、図５との相違点は、電圧検出回路６０と異なる電圧の検出を行う電圧検出回路６０ａを設けたことと、外部からの選択信号Ｓｓに応じて電圧検出回路６０又は６０ａのいずれか一方の出力電圧を出力する切替回路部４１を設けたことにある。すなわち、電圧検出回路６０，６０ａ及び切替回路部４１で２つの入力電圧の電圧検出を行う電圧検出回路をなしている。
【００６８】
電圧検出回路６０ａは、分圧回路部３ａと、演算増幅器４ａと、外部から入力されるテスト信号Ｓｔに応じて演算増幅器４ａの反転入力端に入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部６１ａとを備えている。
分圧回路部３ａは、生成した分圧電圧Ｖｄａを、出力端ＯＵＴａから入力切替回路部６１ａを介して演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。入力切替回路部６１ａは、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、分圧回路部３ａから出力された分圧電圧Ｖｄａを演算増幅器４ａの反転入力端に出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４ａの出力信号を演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。
【００６９】
入力切替回路部６１ａは、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａで構成されており、分圧回路部３ａの出力端ＯＵＴａと演算増幅器４ａの出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａが直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａの接続部は、演算増幅器４ａの反転入力端に接続されている。テスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの非反転制御入力端にそれぞれ入力される。演算増幅器４及び４ａの各出力信号は、切替回路部４１及び制御回路４５にそれぞれ出力される。
【００７０】
次に、製造時に行われる電圧検出回路６０ａにおける検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。なお、電圧検出回路６０における検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法については図５の場合と同様であるのでその説明を省略する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路６０及び６０ａの検出電圧を測定するためのテストモード時の動作が開始する。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオンして導通状態となる。
【００７１】
このため、演算増幅器４ａの反転入力端には、演算増幅器４ａからの出力信号が入力され、演算増幅器４ａはボルテージフォロワ回路として動作する。このようにすることによって、演算増幅器４ａの出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒのばらつき及び演算増幅器４ａのオフセットを含んだ出力電圧が、切替回路部４１及び制御回路４５にそれぞれ出力される。
【００７２】
テストモード時には、調整用出力端子４２に電圧測定装置が接続されており、テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に調整用出力端子４２から出力される電圧の測定を行い、前記第１の実施の形態の場合と同様にして、分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択して切断する。言うまでもなく、選択信号Ｓｓによって、切替回路部４１から調整用出力端子４２を介して演算増幅器４の出力信号が出力されると、図５の電圧検出回路６０の場合と同様にして、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。このようにして、電圧検出回路６０及び６０ａの検出電圧の調整をそれぞれ行うことができる。
【００７３】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルとなって入力電圧Ｖｉａの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオフして遮断状態となる。このため、演算増幅器４ａの反転入力端には、分圧回路部３ａから出力された分圧電圧Ｖｄａが入力される。演算増幅器４ａは、図２の場合と同様に、入力された分圧電圧Ｖｄａと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、該比較結果に応じた２値の信号を出力する。
【００７４】
このように、電圧検出回路６０は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。同様に、電圧検出回路６０ａは、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。
【００７５】
一方、図６において、演算増幅器４ａのオフセットが無視できるような場合、図６のトランスミッションゲートＴＭ１ａ，ＴＭ２ａ及び切替回路部４１をなくして図７のようにしてもよい。図７の場合、テストモード時において、演算増幅器４から調整用出力端子４２に出力された電圧の測定を行い、該測定した電圧を基にして上述した方法で、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択的に切断する。
【００７６】
これと同時に、該測定された電圧が演算増幅器４ａから出力されたものとして、該測定電圧を基に演算を行い、該演算結果から分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択的に切断する。このようにすることによって、テストモード時における電圧測定時間の短縮を図ることができる。なお、図６及び図７において、３つ以上の入力電圧を検出する場合は、電圧検出回路６０ａを該検出する入力電圧の数の増加に応じて追加すればよい。
【００７７】
ここで、上記説明では、テストモード時に測定した出力電圧Ｖｏに応じて分圧回路部の分圧電圧を調整するようにしたが、前記第１の実施の形態の場合と同様、該測定した出力電圧Ｖｏに応じて基準電圧発生回路部２の基準電圧Ｖｒの調整を行うようにしてもよい。このようにした場合、図５の電圧検出回路６０は、図８のようになる。なお、図８の電圧検出回路６０における基準電圧発生回路部２及び分圧回路部３は、図４と同じであるのでその説明を省略する。また、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合は、図６及び図７の電圧検出回路６０を図８の構成にすると共に、図６及び図７の電圧検出回路６０ａにおける分圧回路部３ａを抵抗Ｒ８ａとＲ９ａとの直列回路にし、入力端ＩＮａに入力された電圧をＲ８ａとＲ９ａで分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成するようにすればよい。
【００７８】
このように、本第２の実施の形態における電圧検出回路は、テスト信号入力端子１３に所定のテスト信号Ｓｔを入力することによって、テストモード時に、入力端子から入力される入力電圧の代わりに演算増幅器の出力信号を該演算増幅器の反転入力端に入力するようにし、演算増幅器の出力電圧を測定して該測定結果に応じて分圧回路部又は基準電圧発生回路部の各ヒューズを選択的に切断するようにした。このことから、検出電圧の測定が短時間で行うことができ、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、コストの上昇を低減させることができると共に、検出電圧の高精度な調整が可能となる。
【００７９】
なお、前記第１及び第２の実施の形態では、分圧回路部３及び３ａにおいて、ヒューズをトリミングして切断することにより分圧電圧の調整を行う場合を例にして説明したが、直列に接続した２つの分圧用抵抗によって分圧電圧Ｖｄの生成を行うと共に、該２つの分圧用抵抗を形成する抵抗体に対してトリミングを行って各抵抗値の調整を行うことにより分圧電圧の調整を行うようにしてもよい。
【００８０】
【発明の効果】
上記の説明から明らかなように、本発明の電圧検出回路によれば、分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、所定のテスト信号を入力することで電圧検出回路の検出電圧を測定することができるため、該検出電圧の測定を短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、検出電圧そのものを測定することができるため、高精度な調整を行うことができる。
【００８１】
また、演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、所定のテスト信号を入力することで電圧検出回路の基準電圧を測定することができるため、基準電圧の測定が短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができる。
【００８２】
具体的には、分圧回路部において、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる抵抗値の比の調整を行って分圧電圧の調整が行われるようにした。このことから、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００８３】
この場合、トリミングによって、分圧回路部の各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、分圧回路部の第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにした。このことから、短時間で高精度に検出電圧の調整を行うことができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００８４】
また、各分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する各入力端子からの入力電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで各検出電圧の測定を行うことができるため、各検出電圧の測定を短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、各検出電圧そのものをそれぞれ測定することができるため、高精度な調整を行うことができる。
【００８５】
また、各演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する各分圧回路部からの分圧電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する該各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで各演算増幅器のオフセットを含んだ基準電圧の測定を行うことができるため、各演算増幅器のオフセットを含んだ基準電圧の測定をそれぞれ短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができる。
【００８６】
具体的には、各分圧回路部において、テストモード時に対応する演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにした。このことから、各検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００８７】
更に、テストモード時に、外部から入力される選択信号に応じて、前記各演算増幅器からの出力電圧のいずれか１つを外部に出力する切替回路部を備えるようにしたことから、各測定電圧の測定を容易に行うことができる。
【００８８】
また、所定の分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで基準電圧を測定することができるため、基準電圧の測定が短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を更に大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、ピン数の増加を低減させることができ少ないピン数で高精度の電圧検出回路を実現することができる。
【００８９】
また、１つの演算増幅器における所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで基準電圧を測定することができるため、基準電圧の測定が短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を更に大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、ピン数の増加を低減させることができ少ないピン数で高精度の電圧検出回路を実現することができる。
【００９０】
具体的には、各分圧回路部において、テストモード時に所定の１つの演算増幅器における出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる抵抗値の比の調整を行って分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにした。このことから、各検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００９１】
これらの場合、トリミングによって、分圧回路部の各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、分圧回路部の第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方をそれぞれ選択して切断するようにした。このことから、短時間で高精度に各検出電圧の調整を行うことができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００９２】
一方、基準電圧発生回路部は、所定の定電圧を生成して出力する定電圧発生部と、該定電圧発生部から出力された定電圧を分圧して基準電圧を生成し出力する電圧調整部とで構成され、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、電圧調整部でのトリミングによる抵抗値の比の調整を行って基準電圧の調整が行われるようにした。このことから、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００９３】
この場合、トリミングによって、電圧調整部の各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、電圧調整部の第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにした。このことから、短時間で高精度に検出電圧の調整を行うことができ、製造コストの削減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。
【図２】 図１の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の例を示した回路図である。
【図３】 図１の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の他の例を示した回路図である。
【図４】 本発明の第１の実施の形態における電圧検出回路の他の例を示した回路図である。
【図５】 本発明の第２の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。
【図６】 図５の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の例を示した回路図である。
【図７】 図５の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の他の例を示した回路図である。
【図８】本発明の第２の実施の形態における電圧検出回路の他の例を示した回路図である。
【図９】 従来の電圧検出回路の例を示した回路図である。
【符号の説明】
１，１ａ，６０，６０ａ 電圧検出回路
２ 基準電圧発生回路部
３，３ａ 分圧回路部
４，４ａ 演算増幅器
５，５ａ，６１，６１ａ 入力切替回路部
１１ 出力端子
１２ 入力端子
１３ テスト信号入力端子
４１ 切替回路部
４２ 調整用出力端子
４５ 制御回路
５１ 定電圧発生部
５２ 電圧調整部
Ｒ１〜Ｒ７ 調整用抵抗
Ｒ８，Ｒ９，Ｒ５３，Ｒ５４ 抵抗
ＨＵ１〜ＨＵ９ ヒューズ
【発明の属する技術分野】
本発明は、携帯電話等に使用される電圧検出用ＩＣの製造工程の簡略化に関し、更に詳しくは、電圧検出用ＩＣの検出電圧の測定及び、調整工程の時間短縮を図ることができるようにした電圧検出回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年の電池で駆動される電子機器においては、長時間の使用を実現するために、回路が正常に作動を行うのに必要な最低限の電圧まで動作を行わせることから、電池の電圧を高精度で検出する必要があった。そのため、電池電圧を検出する電圧検出回路は、検出電圧の精度を高めるために電圧調整用抵抗をレーザートリミング等を用いて抵抗値の調整を行い、所望の検出電圧精度を得ていた。
【０００３】
図９は、従来の電圧検出回路の例を示した回路図である。
図９において、入力端子１１０に印加された入力電圧Ｖｉは、抵抗Ｒ１０１及びＲ１０２で分圧されて演算増幅器１０３の反転入力端に入力される。演算増幅器１０３の非反転入力端には、基準電圧発生回路部１０４から所定の基準電圧Ｖｒが印加されている。
【０００４】
演算増幅器１０３は、入力電圧Ｖｉを分圧した分圧電圧Ｖｄと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、分圧電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒよりも大きい場合は、出力端がロー（Ｌｏｗ）レベルとなり、分圧電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒよりも小さい場合は、出力端がハイ（Ｈｉｇｈ）レベルとなる。例えば、携帯電話等の電池で駆動される機器においては、入力電圧Ｖｉとして電池の電圧が印加され、この場合、演算増幅器１０３から出力される該ハイレベルの信号がＣＰＵ等に対するリセット信号となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
このような電圧検出回路では、電圧検出回路の出力端からは２値のデジタル信号レベルとしてハイレベル又はローレベルのいずれかの出力信号しか得られない。このため、製造時において、電圧検出回路の検出精度を高めるために行う抵抗Ｒ１０１及び／又はＲ１０２の調整方法としては、電圧検出回路の入力電圧Ｖｉを少しずつ変化させ、電圧検出回路の出力電圧がハイレベルからローレベルに変化する時か、又はその逆の変化が起きる時の入力電圧Ｖｉを測定し、該測定結果からレーザートリミング等を用いて抵抗Ｒ１０１及び／又はＲ１０２における抵抗値の調整を行っていた。しかし、このような測定には多くの時間を要するため、電圧検出回路のコストを上げる要因となっていた。
【０００６】
一方、特開平１０−１１１１９６号公報には、トリミングを用いた抵抗の調整を行うことなく電圧検出回路の検出精度を高める技術が開示されているが、該公報では基準電圧を発生させるために高精度の定電圧回路を備えていることが条件となっている。しかし、ＩＣ製造工程で最も大きくバラツキが生じるのが基準電圧であり、前記公報には基準電圧の精度を上げる手段は開示されていない。
【０００７】
本発明は、前記のような問題を解決するためになされたものであり、簡単な回路を追加することで、所定のテスト信号を入力すると直ちに検出電圧を測定することできるようにして、検出電圧の測定に要していた測定時間を大幅に短縮することができる電圧検出回路を得ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る電圧検出回路は、入力端子から入力された電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号を出力して、該入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、入力された電圧を分圧して出力する分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記入力端子に入力された電圧又は該演算増幅器の出力電圧のいずれかを前記分圧回路部の入力電圧として出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、前記入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、前記演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【０００９】
また、この発明に係る電圧検出回路は、入力端子から入力された電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号を出力して、該入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、入力された電圧を分圧して出力する分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記分圧回路部からの分圧電圧又は前記演算増幅器の出力電圧のいずれかを該演算増幅器の所定の入力端に出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【００１０】
具体的には、前記分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗で構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧を生成し、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整が行われるようにしてもよい。
【００１１】
この場合、前記分圧回路部は、所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、該各分圧用抵抗の間に直列に接続された複数の調整用抵抗と、該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第２出力選択用ヒューズとで構成され、前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにした。
【００１２】
一方、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記各入力端子に入力されたそれぞれの電圧又は該各演算増幅器のそれぞれの出力電圧のいずれかを対応する前記各分圧回路部の入力電圧としてそれぞれ出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、各分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する前記各入力端子からの入力電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する前記各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するものである。
【００１３】
また、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記各分圧回路部からのそれぞれの分圧電圧又は該各演算増幅器のそれぞれの出力電圧のいずれかを対応する該各演算増幅器の所定の入力端にそれぞれ出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、各演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する前記各分圧回路部からの分圧電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する該各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するものである。
【００１４】
具体的には、前記各分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗でそれぞれ構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧をそれぞれ生成し、テストモード時に対応する演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにしてもよい。
【００１５】
更に、テストモード時に、外部から入力される選択信号に応じて、前記各演算増幅器からの出力電圧のいずれか１つを外部に出力する切替回路部を備えるようにした。
【００１６】
また、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、所定の１つの前記分圧回路部に対して、対応する入力端子からの入力電圧又は対応する前記演算増幅器の出力電圧のいずれかを入力電圧として出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、前記所定の分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する前記入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する前記演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【００１７】
また、この発明に係る電圧検出回路は、複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、外部から入力される所定のテスト信号に応じて、所定の１つの前記演算増幅器における一方の入力端に対して、対応する分圧回路部からの分圧電圧又は該演算増幅器の出力電圧のいずれかを出力する入力切替回路部とを備え、前記入力切替回路部は、前記１つの演算増幅器における所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するものである。
【００１８】
具体的には、前記各分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗でそれぞれ構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧をそれぞれ生成し、テストモード時に前記所定の１つの演算増幅器における出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにしてもよい。
【００１９】
この場合、前記各分圧回路部は、所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第２出力選択用ヒューズとでそれぞれ構成され、前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方をそれぞれ選択して切断するようにした。
【００２０】
一方、前記基準電圧発生回路部は、所定の定電圧を生成して出力する定電圧発生部と、直列に接続された複数の抵抗で構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて該定電圧発生部からの定電圧を分圧した基準電圧を生成して出力し、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該基準電圧の調整が行われる電圧調整部とで構成されるようにしてもよい。
【００２１】
この場合、前記電圧調整部は、所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を基準電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を基準電圧として出力する第２出力選択用ヒューズとで構成され、前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにする。
【００２２】
【発明の実施の形態】
次に、図面に示す実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
第１の実施の形態．
図１は、本発明の第１の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。
図１において、電圧検出回路１は、所定の基準電圧Ｖｒを生成して出力する基準電圧発生回路部２と、入力された電圧を分圧して分圧電圧Ｖｄを生成し出力する分圧回路部３と、基準電圧Ｖｒと分圧電圧Ｖｄの電圧比較を行い該比較結果に応じた２値の信号を出力端子１１に出力する演算増幅器４とを備えている。更に、電圧検出回路１は、外部から入力されるテスト信号に応じて分圧回路部３に入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部５を備えている。
【００２３】
基準電圧発生回路部２は、生成した所定の基準電圧Ｖｒを演算増幅器４の非反転入力端に出力する。また、分圧回路部３は、入力端ＩＮに入力された電圧を所定の比で分圧して分圧電圧Ｖｄを生成し、出力端ＯＵＴから演算増幅器４の反転入力端に出力する。入力切替回路部５は、通常動作時にはロー（Ｌｏｗ）レベルのテスト信号Ｓｔが、テストモード時にはハイ（Ｈｉｇｈ）レベルのテスト信号Ｓｔがそれぞれ入力される。入力切替回路部５は、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、入力端子１２から入力される電圧Ｖｉを分圧回路部３の入力端ＩＮに出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４の出力端から出力された信号を分圧回路部３の入力端ＩＮに入力する。
【００２４】
分圧回路部３は、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７、抵抗Ｒ８，Ｒ９及びヒューズＨＵ１〜ＨＵ９で構成されている。なお、抵抗Ｒ８，Ｒ９は分圧用抵抗をなし、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７は調整用ヒューズを、ヒューズＨＵ８は第１出力選択用ヒューズを、ヒューズＨＵ９は第２出力選択用ヒューズをそれぞれなす。分圧回路部３において、入力端ＩＮと接地との間には抵抗Ｒ８、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７及び抵抗Ｒ９の直列回路が接続されており、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７には、それぞれ対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７が並列に接続されている。
【００２５】
また、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７の直列回路と並列に、ヒューズＨＵ８及びＨＵ９の直列回路が接続され、ヒューズＨＵ８とＨＵ９との接続部は出力端ＯＵＴをなし、演算増幅器４の反転入力端に接続されている。製造時における検出電圧の調整が行われる前の初期状態においては、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７は対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７でそれぞれ短絡されていることから、分圧回路部３は、入力端ＩＮに入力された電圧を抵抗Ｒ８及びＲ９で分圧して分圧電圧Ｖｄを生成する。
【００２６】
入力切替回路部５は、トランスミッションゲートＴＭ１，ＴＭ２及びインバータＩＶ１，ＩＶ２で構成されており、入力端子１２と演算増幅器４の出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２が直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１とＴＭ２との接続部は、分圧回路部３の入力端ＩＮ、すなわち抵抗Ｒ８に接続されている。ここで、トランスミッションゲートは、ＰＭＯＳトランジスタとＮＭＯＳトランジスタが並列に接続されてなるものであり、以下、トランスミッションゲートにおいて、ＰＭＯＳトランジスタのゲートを反転制御入力端と呼ぶと共にＮＭＯＳトランジスタのゲートを非反転制御入力端と呼ぶ。
【００２７】
テスト信号入力端子１３から入力されたテスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１の非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１の反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の非反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００２８】
このような構成において、電圧検出回路１は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になるとハイレベルの信号を出力端子１１から出力することによって、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になったことを検出する回路である。電圧検出回路１において、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になったことを検出する精度は、抵抗Ｒ８，Ｒ９の各抵抗値のばらつき、基準電圧Ｖｒのばらつき及び演算増幅器４のオフセットによって影響される。このため、製造時に、電圧検出回路１に対して検出電圧の調整を行う必要がある。
【００２９】
次に、製造時に行われる電圧検出回路１に対する検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路１の検出電圧のばらつきを測定するためのテストモード時の動作が開始される。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオンして導通状態となる。
【００３０】
このため、分圧回路部３の入力端ＩＮには、演算増幅器４からの出力信号が入力され、分圧回路部３は、該出力信号を分圧した信号を演算増幅器４の反転入力端に出力する。このようにすることによって、演算増幅器４の出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒのばらつき、抵抗Ｒ８，Ｒ９の各抵抗値のばらつき、及び演算増幅器４のオフセットを含んだ出力電圧が、出力端子１１に出力される。このような状態で、演算増幅器４から出力端子１１に出力される電圧Ｖｏは、下記（１）式のようになる。
Ｖｏ＝Ｖｒ(１＋Ｒ８／Ｒ９)………………（１）
なお、前記（１）式において、Ｒ８は抵抗Ｒ８の抵抗値を、Ｒ９は抵抗Ｒ９の抵抗値をそれぞれ示している。
【００３１】
テストモード時には、出力端子１１に電圧測定装置が接続されており、テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に出力端子１１から出力される電圧Ｖｏの測定を行う。該測定した出力電圧Ｖｏが所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、該差分だけ電圧検出回路１の検出電圧が変化するように、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。該切断には、半導体レーザ等を使用したトリミングによって行われる。なお、該トリミングは、出力端子１１から出力される電圧Ｖｏを測定して演算しながら行ってもよいし、出力端子１１から出力される電圧Ｖｏの測定値を記録した後、改めて演算して行うようにしてもよい。
【００３２】
分圧回路部３の調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７の各抵抗値は、例えば１：２：４：８：１６：３２：６４の比をなすように形成されている。分圧電圧Ｖｄを上昇させるにはヒューズＨＵ９を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ８とＲ９との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ８の抵抗値と、抵抗Ｒ９及び調整用抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値との比に応じた分圧電圧Ｖｄが生成されて出力される。
【００３３】
また、分圧電圧Ｖｄを低下させるにはヒューズＨＵ８を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ８とＲ９との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ８及び調整抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値と、抵抗Ｒ９の抵抗値との比に応じた分圧電圧Ｖｄが生成されて出力される。このようにして、電圧検出回路１の検出電圧の調整を行うことができる。
【００３４】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルとなって入力電圧Ｖｉの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオフして遮断状態となる。このため、分圧回路部３の入力端ＩＮには、入力端子１２から入力された入力電圧Ｖｉが入力され、分圧回路部３は、入力電圧Ｖｉを分圧した分圧電圧Ｖｄを演算増幅器４の反転入力端に出力する。
【００３５】
演算増幅器４は、入力された分圧電圧Ｖｄと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、基準電圧Ｖｒに対して、分圧電圧Ｖｄが大きい場合はローレベルの出力信号を、分圧電圧Ｖｄが小さい場合はハイレベルの出力信号を出力端子１１からそれぞれ出力する。このことから、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下になると演算増幅器４がハイレベルの信号を出力するように、分圧電圧Ｖｄ及び基準電圧Ｖｒの設定がそれぞれ行われている。すなわち、電圧検出回路１は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を出力端子１１から出力する。
【００３６】
ここで、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合について、図２を用いて説明する。なお、図２では、説明を分かりやすくするために、２つの入力電圧の電圧検出を行う場合を例にして示している。また、図２では、図１と同じものは同じ符号で示しており、ここではその説明を省略する。
図２において、図１との相違点は、電圧検出回路１と異なる電圧の検出を行う電圧検出回路１ａを設けたことと、外部からの選択信号Ｓｓに応じて電圧検出回路１又は１ａのいずれか一方の出力電圧を出力する切替回路部４１を設けたことにある。すなわち、電圧検出回路１，１ａ及び切替回路部４１で２つの入力電圧の電圧検出を行う電圧検出回路をなしている。
【００３７】
電圧検出回路１ａは、入力端子１２ａに入力された電圧Ｖｉａを分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成し出力する分圧回路部３ａと、基準電圧Ｖｒと分圧電圧Ｖｄａの電圧比較を行い該比較結果に応じた２値の信号を出力する演算増幅器４ａと、外部から入力されるテスト信号Ｓｔに応じて分圧回路部３ａに入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部５ａとを備えている。
【００３８】
分圧回路部３ａは、入力端ＩＮａに入力された電圧を所定の比で分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成し、出力端ＯＵＴａから演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。入力切替回路部５ａは、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、入力端子１２ａから入力される電圧Ｖｉａを分圧回路部３ａの入力端ＩＮａに出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４ａの出力信号を分圧回路部３ａの入力端ＩＮａに出力する。
【００３９】
分圧回路部３ａは、調整用抵抗Ｒ１ａ〜Ｒ７ａ、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａ及びヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａで構成されている。なお、分圧回路部３ａにおいて、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａは抵抗Ｒ８，Ｒ９に、調整用抵抗Ｒ１ａ〜Ｒ７ａは調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７に、ヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａはヒューズＨＵ１〜ＨＵ９にそれぞれ対応しており、同様の動作を行うことからその説明を省略する。また、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａは分圧用抵抗をなし、ヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ７ａは調整用ヒューズを、ヒューズＨＵ８ａは第１出力選択用ヒューズを、ヒューズＨＵ９ａは第２出力選択用ヒューズをそれぞれなす。
【００４０】
入力切替回路部５ａは、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａで構成されており、入力端子１２ａと演算増幅器４ａの出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａが直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａの接続部は、分圧回路部３ａの入力端ＩＮａ、すなわち抵抗Ｒ８ａに接続されている。テスト信号入力端子１３から入力されたテスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの非反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００４１】
演算増幅器４及び４ａの各出力信号は、切替回路部４１及び外部回路である制御回路４５にそれぞれ出力される。切替回路部４１は、テストモード時に外部から入力される選択信号Ｓｓに応じて、演算増幅器４及び４ａの内、いずれか一方の出力端から入力された電圧を選択して調整用出力端子４２から出力する。
【００４２】
次に、製造時に行われる電圧検出回路１ａにおける検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。なお、電圧検出回路１における検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法については図１の場合と同様であるのでその説明を省略する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路１及び１ａの検出電圧を測定するためのテストモード時の動作が開始する。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオンして導通状態となる。
【００４３】
このため、分圧回路部３ａの入力端ＩＮａには、演算増幅器４ａからの出力信号が入力され、分圧回路部３ａは、該出力信号を分圧した信号を演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。このようにすることによって、演算増幅器４ａの出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒのばらつき、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａの各抵抗値のばらつき、及び演算増幅器４ａのオフセットを含んだ出力電圧が、切替回路部４１及び制御回路４５にそれぞれ出力される。
【００４４】
テストモード時には、調整用出力端子４２に電圧測定装置が接続されており、テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に調整用出力端子４２から出力される電圧の測定を行う。選択信号Ｓｓによって、切替回路部４１から調整用出力端子４２を介して演算増幅器４ａの出力信号が出力されると、該測定した出力電圧が所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、図１の電圧検出回路１の場合と同様に、該差分だけ電圧検出回路１ａの検出電圧が変化するように、分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択して切断する。
【００４５】
言うまでもなく、選択信号Ｓｓによって、切替回路部４１から調整用出力端子４２を介して演算増幅器４の出力信号が出力されると、図１の電圧検出回路１の場合と同様にして、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。このようにして、電圧検出回路１及び１ａの検出電圧の調整をそれぞれ行うことができる。
【００４６】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルとなって入力電圧Ｖｉａの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオフして遮断状態となる。このため、分圧回路部３ａの入力端ＩＮａには、入力端子１２ａから入力された入力電圧Ｖｉａが入力され、分圧回路部３ａは、入力電圧Ｖｉａを分圧した分圧電圧Ｖｄａを演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。
【００４７】
演算増幅器４ａは、入力された分圧電圧Ｖｄａと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、基準電圧Ｖｒに対して、分圧電圧Ｖｄａが大きい場合はローレベルの出力信号を、分圧電圧Ｖｄａが小さい場合はハイレベルの出力信号を出力端からそれぞれ出力する。このことから、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下になると演算増幅器４ａがハイレベルの信号を出力するように、分圧電圧Ｖｄａ及び基準電圧Ｖｒの設定がそれぞれ行われている。
【００４８】
すなわち、電圧検出回路１は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。同様に、電圧検出回路１ａは、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。制御回路４５は、入力された各信号に応じて所定の動作を行う。
【００４９】
一方、図２において、抵抗Ｒ８ａ，Ｒ９ａにおける各抵抗値のばらつき、及び演算増幅器４ａのオフセットがそれぞれ無視できるような場合、図２のトランスミッションゲートＴＭ１ａ，ＴＭ２ａ及び切替回路部４１をなくして図３のようにしてもよい。図３の場合、テストモード時において、演算増幅器４から調整用出力端子４２に出力された電圧の測定を行い、該測定した電圧を基にして上述した方法で、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択的に切断する。
【００５０】
これと同時に、該測定された電圧が演算増幅器４ａから出力されたものとして、該測定電圧を基に演算を行い、該演算結果から分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択的に切断する。このようにすることによって、テストモード時における電圧測定時間の短縮を図ることができる。なお、図２及び図３において、３つ以上の入力電圧を検出する場合は、電圧検出回路１ａを該検出する入力電圧の数の増加に応じて追加すればよい。
【００５１】
ここで、上記説明では、テストモード時に測定した出力電圧Ｖｏに応じて分圧回路部の分圧電圧を調整するようにしたが、該測定した出力電圧Ｖｏに応じて基準電圧発生回路部２の基準電圧Ｖｒの調整を行うようにしてもよい。このようにした場合、図１の電圧検出回路１は、図４のようになり、ここでは図１の場合との相違点のみ説明する。
図４において、図１との相違点は、分圧回路部３は、抵抗Ｒ８とＲ９との直列回路で形成され、基準電圧発生回路部２は、基準電圧Ｖｒよりも大きい所定の定電圧Ｖｒ１を生成して出力する定電圧発生部５１と該定電圧Ｖｒ１の電圧調整を行って所定の基準電圧Ｖｒを生成し出力する電圧調整部５２とで構成されていることにある。
【００５２】
電圧調整部５２は、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７、抵抗Ｒ５３，Ｒ５４及びヒューズＨＵ１〜ＨＵ９で構成されている。なお、抵抗Ｒ５３，Ｒ５４は分圧用抵抗をなす。電圧調整部５２において、定電圧発生部５１の出力端と接地との間には抵抗Ｒ５３、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７及び抵抗Ｒ５４の直列回路が接続されており、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７には、それぞれ対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７が並列に接続されている。
【００５３】
また、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７の直列回路と並列に、ヒューズＨＵ８及びＨＵ９の直列回路が接続され、ヒューズＨＵ８とＨＵ９との接続部から演算増幅器４の非反転入力端へ基準電圧Ｖｒが出力される。製造時における検出電圧の調整が行われる前の初期状態においては、調整用抵抗Ｒ１〜Ｒ７は対応するヒューズＨＵ１〜ＨＵ７でそれぞれ短絡されていることから、電圧調整部５２は、定電圧発生部５１から出力された定電圧Ｖｒ１を抵抗Ｒ５３及びＲ５４で分圧して基準電圧Ｖｒを生成する。
【００５４】
テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に出力端子１１から出力される電圧Ｖｏの測定が行われる。該測定された出力電圧Ｖｏが所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、該差分だけ電圧検出回路１の検出電圧が変化するように、電圧調整部５２のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。基準電圧Ｖｒを上昇させるにはヒューズＨＵ９を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ５３とＲ５４との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ５３の抵抗値と、抵抗Ｒ５４及び調整用抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値との比に応じた基準電圧Ｖｒが生成されて出力される。
【００５５】
また、基準電圧Ｖｒを低下させるにはヒューズＨＵ８を切断した後、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ７を選択的に切断することによって、抵抗Ｒ５３とＲ５４との間に所望の調整抵抗が接続され、抵抗Ｒ５３及び調整抵抗の各抵抗値を加算した抵抗値と、抵抗Ｒ５４の抵抗値との比に応じた基準電圧Ｖｒが生成されて出力される。このようにして、電圧検出回路１の検出電圧の調整を行うことができる。
【００５６】
なお、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合は、図２及び図３の電圧検出回路１を図４の構成にすると共に、図２及び図３の電圧検出回路１ａにおける分圧回路部３ａを抵抗Ｒ８ａとＲ９ａとの直列回路にし、入力端ＩＮａに入力された電圧をＲ８ａとＲ９ａで分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成するようにすればよい。
【００５７】
このように、本第１の実施の形態における電圧検出回路は、テスト信号入力端子１３に所定のテスト信号Ｓｔを入力することによって、テストモード時に、入力端子から入力される入力電圧の代わりに演算増幅器の出力信号を対応する分圧回路部の入力端に入力するようにして、演算増幅器の出力電圧を測定し該測定結果に応じて分圧回路部又は基準電圧発生回路部の各ヒューズを選択的に切断するようにした。このことから、検出電圧の測定が短時間で行うことができ、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、コストの上昇を低減させることができると共に、検出電圧の高精度な調整が可能となる。
【００５８】
第２の実施の形態．
ＩＣ製造工程において、分圧抵抗のような近接して作られた抵抗は、該抵抗の比を極めて精度よく作ることができることから、分圧回路部の分圧抵抗をなす抵抗Ｒ８及びＲ９の比は精度よく作り込まれている。このため、測定した基準電圧から所望の検出電圧が得られるように分圧回路部の各ヒューズを選択的にトリミングするようにしてもよい。このようなことから、前記第１の実施の形態では、入力切替回路部は、外部から入力されたテスト信号Ｓｔに応じて、分圧回路部に入力される信号の切り替えを行うようにしたが、入力切替回路部が、外部から入力されたテスト信号Ｓｔに応じて演算増幅器の反転入力端に入力される信号の切り替えを行うようにしてもよく、このようにしたものを本発明の第２の実施の形態とする。
【００５９】
図５は、本発明の第２の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。なお、図５では、図１と同じものは同じ符号で示すと共に、ここではその説明を省略すると共に図１との相違点のみ説明する。
図５における図１との相違点は、図１の入力切替回路部５のトランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２の接続を変えることによって、入力切替回路部５が、演算増幅器４の反転入力端に入力される信号の切り替えを行うようにしたことにあり、図１の入力切替回路部５を入力切替回路部６１にし、これに伴って、図１の電圧検出回路１を電圧検出回路６０にしたことにある。
【００６０】
図５において、電圧検出回路６０は、基準電圧発生回路部２と、分圧回路部３と、演算増幅器４と、外部から入力されるテスト信号Ｓｔに応じて演算増幅器４の反転入力端に入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部６１とを備えている。
分圧回路部３の入力端ＩＮは、入力端子１２に接続されており、入力電圧Ｖｉが入力される。分圧回路部３の出力端ＯＵＴは、入力切替回路部６１を介して演算増幅器４の反転入力端に接続されている。
【００６１】
入力切替回路部６１は、通常動作時にはローレベルのテスト信号Ｓｔが、テストモード時にはハイレベルのテスト信号Ｓｔがそれぞれ入力される。入力切替回路部６１は、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、分圧回路部３から出力された分圧電圧Ｖｄを演算増幅器４の反転入力端に出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４の出力端から出力された信号を演算増幅器４の反転入力端に出力する。
【００６２】
入力切替回路部６１は、トランスミッションゲートＴＭ１，ＴＭ２及びインバータＩＶ１，ＩＶ２で構成されており、分圧回路部３の出力端ＯＵＴと演算増幅器４の出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２が直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１及びＴＭ２の接続部は、演算増幅器４の反転入力端に接続されている。テスト信号入力端子１３から入力されたテスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１の非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１の反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２の非反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００６３】
このような構成において、電圧検出回路６０は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になるとハイレベルの信号を出力端子１１から出力することによって、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１になったことを検出する回路である。図１の電圧検出回路１の場合と同様、製造時に、電圧検出回路６０に対して検出電圧の調整を行う必要がある。
【００６４】
次に、製造時に行われる電圧検出回路６０に対する検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路６０の検出電圧のばらつきを測定するためのテストモード時の動作が開始する。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオンして導通状態となる。
【００６５】
このため、演算増幅器４の反転入力端には、演算増幅器４からの出力信号が入力され、演算増幅器４は、ボルテージフォロワ回路として動作する。このようにすることによって、演算増幅器４の出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒ及び演算増幅器４のオフセットを含んだ出力電圧が、出力端子１１に出力される。出力端子１１に接続された電圧測定装置で測定された出力電圧Ｖｏが所望の検出電圧とどれだけ差があるかを求め、該差分だけ電圧検出回路６０の検出電圧が変化するように、図１の場合と同様、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。
【００６６】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルになって入力電圧Ｖｉの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１がオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２はオフして遮断状態となる。このため、演算増幅器４の反転入力端には、分圧回路部３から出力された分圧電圧Ｖｄが入力され、演算増幅器４は、図１の場合と同様に、基準電圧Ｖｒと分圧電圧Ｖｄの電圧比較を行って、該比較結果を示す２値の信号を出力する。すなわち、電圧検出回路６０は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を出力端子１１から出力する。
【００６７】
ここで、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合について、図６を用いて説明する。なお、図６においても、説明を分かりやすくするために、２つの入力電圧の電圧検出を行う場合を例にして示している。また、図６では、図２又は図５と同じものは同じ符号で示しており、ここではその説明を省略する。図６において、図５との相違点は、電圧検出回路６０と異なる電圧の検出を行う電圧検出回路６０ａを設けたことと、外部からの選択信号Ｓｓに応じて電圧検出回路６０又は６０ａのいずれか一方の出力電圧を出力する切替回路部４１を設けたことにある。すなわち、電圧検出回路６０，６０ａ及び切替回路部４１で２つの入力電圧の電圧検出を行う電圧検出回路をなしている。
【００６８】
電圧検出回路６０ａは、分圧回路部３ａと、演算増幅器４ａと、外部から入力されるテスト信号Ｓｔに応じて演算増幅器４ａの反転入力端に入力される信号の切り替えを行う入力切替回路部６１ａとを備えている。
分圧回路部３ａは、生成した分圧電圧Ｖｄａを、出力端ＯＵＴａから入力切替回路部６１ａを介して演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。入力切替回路部６１ａは、入力されているテスト信号Ｓｔがローレベルの時は、分圧回路部３ａから出力された分圧電圧Ｖｄａを演算増幅器４ａの反転入力端に出力し、入力されているテスト信号Ｓｔがハイレベルの時は、演算増幅器４ａの出力信号を演算増幅器４ａの反転入力端に出力する。
【００６９】
入力切替回路部６１ａは、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａで構成されており、分圧回路部３ａの出力端ＯＵＴａと演算増幅器４ａの出力端との間にトランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａが直列に接続されており、トランスミッションゲートＴＭ１ａ及びＴＭ２ａの接続部は、演算増幅器４ａの反転入力端に接続されている。テスト信号Ｓｔは、インバータＩＶ１を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの非反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの反転制御入力端にそれぞれ入力され、更にインバータＩＶ２を介してトランスミッションゲートＴＭ１ａの反転制御入力端及びトランスミッションゲートＴＭ２ａの非反転制御入力端にそれぞれ入力される。演算増幅器４及び４ａの各出力信号は、切替回路部４１及び制御回路４５にそれぞれ出力される。
【００７０】
次に、製造時に行われる電圧検出回路６０ａにおける検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法について説明する。なお、電圧検出回路６０における検出電圧の測定動作及び検出電圧の調整方法については図５の場合と同様であるのでその説明を省略する。
外部からのテスト信号Ｓｔがハイレベルになって電圧検出回路６０及び６０ａの検出電圧を測定するためのテストモード時の動作が開始する。
テスト信号Ｓｔがハイレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオフして遮断状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオンして導通状態となる。
【００７１】
このため、演算増幅器４ａの反転入力端には、演算増幅器４ａからの出力信号が入力され、演算増幅器４ａはボルテージフォロワ回路として動作する。このようにすることによって、演算増幅器４ａの出力端からは、基準電圧発生回路部２から入力された基準電圧Ｖｒのばらつき及び演算増幅器４ａのオフセットを含んだ出力電圧が、切替回路部４１及び制御回路４５にそれぞれ出力される。
【００７２】
テストモード時には、調整用出力端子４２に電圧測定装置が接続されており、テスト信号Ｓｔがハイレベルの時に調整用出力端子４２から出力される電圧の測定を行い、前記第１の実施の形態の場合と同様にして、分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択して切断する。言うまでもなく、選択信号Ｓｓによって、切替回路部４１から調整用出力端子４２を介して演算増幅器４の出力信号が出力されると、図５の電圧検出回路６０の場合と同様にして、分圧回路部３のヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択して切断する。このようにして、電圧検出回路６０及び６０ａの検出電圧の調整をそれぞれ行うことができる。
【００７３】
次に、テスト信号Ｓｔがローレベルとなって入力電圧Ｖｉａの電圧検出を行う通常の動作について説明する。
テスト信号Ｓｔがローレベルであることから、トランスミッションゲートＴＭ１ａがオンして導通状態になると共に、トランスミッションゲートＴＭ２ａはオフして遮断状態となる。このため、演算増幅器４ａの反転入力端には、分圧回路部３ａから出力された分圧電圧Ｖｄａが入力される。演算増幅器４ａは、図２の場合と同様に、入力された分圧電圧Ｖｄａと基準電圧Ｖｒとの電圧比較を行い、該比較結果に応じた２値の信号を出力する。
【００７４】
このように、電圧検出回路６０は、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉが所定の電圧Ｖ１以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。同様に、電圧検出回路６０ａは、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したか否かの検出を行い、入力電圧Ｖｉａが所定の電圧Ｖ２以下に低下したことを検出すると該検出したことを示すハイレベルの信号を制御回路４５に出力する。
【００７５】
一方、図６において、演算増幅器４ａのオフセットが無視できるような場合、図６のトランスミッションゲートＴＭ１ａ，ＴＭ２ａ及び切替回路部４１をなくして図７のようにしてもよい。図７の場合、テストモード時において、演算増幅器４から調整用出力端子４２に出力された電圧の測定を行い、該測定した電圧を基にして上述した方法で、ヒューズＨＵ１〜ＨＵ９を選択的に切断する。
【００７６】
これと同時に、該測定された電圧が演算増幅器４ａから出力されたものとして、該測定電圧を基に演算を行い、該演算結果から分圧回路部３ａのヒューズＨＵ１ａ〜ＨＵ９ａを選択的に切断する。このようにすることによって、テストモード時における電圧測定時間の短縮を図ることができる。なお、図６及び図７において、３つ以上の入力電圧を検出する場合は、電圧検出回路６０ａを該検出する入力電圧の数の増加に応じて追加すればよい。
【００７７】
ここで、上記説明では、テストモード時に測定した出力電圧Ｖｏに応じて分圧回路部の分圧電圧を調整するようにしたが、前記第１の実施の形態の場合と同様、該測定した出力電圧Ｖｏに応じて基準電圧発生回路部２の基準電圧Ｖｒの調整を行うようにしてもよい。このようにした場合、図５の電圧検出回路６０は、図８のようになる。なお、図８の電圧検出回路６０における基準電圧発生回路部２及び分圧回路部３は、図４と同じであるのでその説明を省略する。また、複数の入力電圧に対してそれぞれ電圧検出を行う場合は、図６及び図７の電圧検出回路６０を図８の構成にすると共に、図６及び図７の電圧検出回路６０ａにおける分圧回路部３ａを抵抗Ｒ８ａとＲ９ａとの直列回路にし、入力端ＩＮａに入力された電圧をＲ８ａとＲ９ａで分圧して分圧電圧Ｖｄａを生成するようにすればよい。
【００７８】
このように、本第２の実施の形態における電圧検出回路は、テスト信号入力端子１３に所定のテスト信号Ｓｔを入力することによって、テストモード時に、入力端子から入力される入力電圧の代わりに演算増幅器の出力信号を該演算増幅器の反転入力端に入力するようにし、演算増幅器の出力電圧を測定して該測定結果に応じて分圧回路部又は基準電圧発生回路部の各ヒューズを選択的に切断するようにした。このことから、検出電圧の測定が短時間で行うことができ、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、コストの上昇を低減させることができると共に、検出電圧の高精度な調整が可能となる。
【００７９】
なお、前記第１及び第２の実施の形態では、分圧回路部３及び３ａにおいて、ヒューズをトリミングして切断することにより分圧電圧の調整を行う場合を例にして説明したが、直列に接続した２つの分圧用抵抗によって分圧電圧Ｖｄの生成を行うと共に、該２つの分圧用抵抗を形成する抵抗体に対してトリミングを行って各抵抗値の調整を行うことにより分圧電圧の調整を行うようにしてもよい。
【００８０】
【発明の効果】
上記の説明から明らかなように、本発明の電圧検出回路によれば、分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、所定のテスト信号を入力することで電圧検出回路の検出電圧を測定することができるため、該検出電圧の測定を短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、検出電圧そのものを測定することができるため、高精度な調整を行うことができる。
【００８１】
また、演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、所定のテスト信号を入力することで電圧検出回路の基準電圧を測定することができるため、基準電圧の測定が短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができる。
【００８２】
具体的には、分圧回路部において、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる抵抗値の比の調整を行って分圧電圧の調整が行われるようにした。このことから、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００８３】
この場合、トリミングによって、分圧回路部の各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、分圧回路部の第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにした。このことから、短時間で高精度に検出電圧の調整を行うことができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００８４】
また、各分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する各入力端子からの入力電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで各検出電圧の測定を行うことができるため、各検出電圧の測定を短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、各検出電圧そのものをそれぞれ測定することができるため、高精度な調整を行うことができる。
【００８５】
また、各演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する各分圧回路部からの分圧電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する該各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで各演算増幅器のオフセットを含んだ基準電圧の測定を行うことができるため、各演算増幅器のオフセットを含んだ基準電圧の測定をそれぞれ短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができる。
【００８６】
具体的には、各分圧回路部において、テストモード時に対応する演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにした。このことから、各検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００８７】
更に、テストモード時に、外部から入力される選択信号に応じて、前記各演算増幅器からの出力電圧のいずれか１つを外部に出力する切替回路部を備えるようにしたことから、各測定電圧の測定を容易に行うことができる。
【００８８】
また、所定の分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで基準電圧を測定することができるため、基準電圧の測定が短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を更に大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、ピン数の増加を低減させることができ少ないピン数で高精度の電圧検出回路を実現することができる。
【００８９】
また、１つの演算増幅器における所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力するようにした。このことから、複数の電圧の検出を行う電圧検出回路において、所定のテスト信号を入力することで基準電圧を測定することができるため、基準電圧の測定が短時間で行うことができ、検査工程に要する時間を更に大幅に短縮することができ製造コストの削減を図ることができると共に、ピン数の増加を低減させることができ少ないピン数で高精度の電圧検出回路を実現することができる。
【００９０】
具体的には、各分圧回路部において、テストモード時に所定の１つの演算増幅器における出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる抵抗値の比の調整を行って分圧電圧の調整がそれぞれ行われるようにした。このことから、各検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００９１】
これらの場合、トリミングによって、分圧回路部の各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、分圧回路部の第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方をそれぞれ選択して切断するようにした。このことから、短時間で高精度に各検出電圧の調整を行うことができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００９２】
一方、基準電圧発生回路部は、所定の定電圧を生成して出力する定電圧発生部と、該定電圧発生部から出力された定電圧を分圧して基準電圧を生成し出力する電圧調整部とで構成され、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、電圧調整部でのトリミングによる抵抗値の比の調整を行って基準電圧の調整が行われるようにした。このことから、検出電圧の調整のために行われるトリミング工程までの製造工程に要する時間と検査工程に要する時間を大幅に短縮させることができ、製造コストの削減を図ることができる。
【００９３】
この場合、トリミングによって、電圧調整部の各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、電圧調整部の第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断するようにした。このことから、短時間で高精度に検出電圧の調整を行うことができ、製造コストの削減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。
【図２】 図１の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の例を示した回路図である。
【図３】 図１の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の他の例を示した回路図である。
【図４】 本発明の第１の実施の形態における電圧検出回路の他の例を示した回路図である。
【図５】 本発明の第２の実施の形態における電圧検出回路の例を示した回路図である。
【図６】 図５の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の例を示した回路図である。
【図７】 図５の電圧検出回路を用いて複数の入力電圧に対する電圧検出を行う場合の他の例を示した回路図である。
【図８】本発明の第２の実施の形態における電圧検出回路の他の例を示した回路図である。
【図９】 従来の電圧検出回路の例を示した回路図である。
【符号の説明】
１，１ａ，６０，６０ａ 電圧検出回路
２ 基準電圧発生回路部
３，３ａ 分圧回路部
４，４ａ 演算増幅器
５，５ａ，６１，６１ａ 入力切替回路部
１１ 出力端子
１２ 入力端子
１３ テスト信号入力端子
４１ 切替回路部
４２ 調整用出力端子
４５ 制御回路
５１ 定電圧発生部
５２ 電圧調整部
Ｒ１〜Ｒ７ 調整用抵抗
Ｒ８，Ｒ９，Ｒ５３，Ｒ５４ 抵抗
ＨＵ１〜ＨＵ９ ヒューズ
Claims (14)
- 入力端子から入力された電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号を出力して、該入力電圧が所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、
前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、
入力された電圧を分圧して出力する分圧回路部と、
前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する演算増幅器と、
外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記入力端子に入力された電圧又は該演算増幅器の出力電圧のいずれかを前記分圧回路部の入力電圧として出力する入力切替回路部と、
を備え、
前記入力切替回路部は、分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、前記入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、前記演算増幅器の出力電圧を出力することを特徴とする電圧検出回路。 - 入力端子から入力された電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号を出力して、該入力電圧が所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、
前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、
入力された電圧を分圧して出力する分圧回路部と、
前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する演算増幅器と、
外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記分圧回路部からの分圧電圧又は前記演算増幅器の出力電圧のいずれかを該演算増幅器の所定の入力端に出力する入力切替回路部と、
を備え、
前記入力切替回路部は、演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力することを特徴とする電圧検出回路。 - 前記分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗で構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧を生成し、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整が行われることを特徴とする請求項１又は２記載の電圧検出回路。
- 前記分圧回路部は、
所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、
該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、
該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、
前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、
前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第２出力選択用ヒューズと、
で構成され、
前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断することを特徴とする請求項３記載の電圧検出回路。 - 複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、
前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、
対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、
前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、
外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記各入力端子に入力されたそれぞれの電圧又は該各演算増幅器のそれぞれの出力電圧のいずれかを対応する前記各分圧回路部の入力電圧としてそれぞれ出力する入力切替回路部と、
を備え、
前記入力切替回路部は、各分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する前記各入力端子からの入力電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する前記各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力することを特徴とする電圧検出回路。 - 複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、
前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、
対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、
前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、
外部から入力される所定のテスト信号に応じて、前記各分圧回路部からのそれぞれの分圧電圧又は該各演算増幅器のそれぞれの出力電圧のいずれかを対応する該各演算増幅器の所定の入力端にそれぞれ出力する入力切替回路部と、
を備え、
前記入力切替回路部は、各演算増幅器の所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する前記各分圧回路部からの分圧電圧をそれぞれ出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する該各演算増幅器の出力電圧をそれぞれ出力することを特徴とする電圧検出回路。 - 前記各分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗でそれぞれ構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧をそれぞれ生成し、テストモード時に対応する演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整がそれぞれ行われることを特徴とする請求項５又は６記載の電圧検出回路。
- テストモード時に、外部から入力される選択信号に応じて、前記各演算増幅器からの出力電圧のいずれか１つを外部に出力する切替回路部を備えることを特徴とする請求項５、６又は７記載の電圧検出回路。
- 複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、
前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、
対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、
前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、
外部から入力される所定のテスト信号に応じて、所定の１つの前記分圧回路部に対して、対応する入力端子からの入力電圧又は対応する前記演算増幅器の出力電圧のいずれかを入力電圧として出力する入力切替回路部と、
を備え、
前記入力切替回路部は、前記所定の分圧回路部の入力電圧として、通常動作時には、対応する前記入力端子からの入力電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、対応する前記演算増幅器の出力電圧を出力することを特徴とする電圧検出回路。 - 複数の入力端子から入力された各電圧と所定の基準電圧とを比較し、該比較結果に応じた信号をそれぞれ出力して、該各入力電圧が対応する所定の電圧になったことを検出する電圧検出回路において、
前記所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路部と、
対応する前記入力端子から入力された電圧を分圧して出力する各分圧回路部と、
前記基準電圧発生回路部からの基準電圧と対応する該分圧回路部からの分圧電圧との電圧比較を行い、該比較結果に応じた電圧を出力する各演算増幅器と、
外部から入力される所定のテスト信号に応じて、所定の１つの前記演算増幅器における一方の入力端に対して、対応する分圧回路部からの分圧電圧又は該演算増幅器の出力電圧のいずれかを出力する入力切替回路部と、
を備え、
前記入力切替回路部は、前記１つの演算増幅器における所定の入力端に対して、通常動作時には、対応する前記分圧回路部からの分圧電圧を出力し、外部から所定のテスト信号が入力されるテストモード時には、該演算増幅器の出力電圧を出力することを特徴とする電圧検出回路。 - 前記各分圧回路部は、直列に接続された複数の抵抗でそれぞれ構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて入力電圧を分圧した分圧電圧をそれぞれ生成し、テストモード時に前記所定の１つの演算増幅器における出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該分圧電圧の調整がそれぞれ行われることを特徴とする請求項９又は１０記載の電圧検出回路。
- 前記各分圧回路部は、
所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、
該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、
該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、
前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、
前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を分圧電圧として出力する第２出力選択用ヒューズと、
でそれぞれ構成され、
前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方をそれぞれ選択して切断することを特徴とする請求項７又は１１記載の電圧検出回路。 - 前記基準電圧発生回路部は、
所定の定電圧を生成して出力する定電圧発生部と、
直列に接続された複数の抵抗で構成され、該各抵抗による抵抗値の比に応じて該定電圧発生部からの定電圧を分圧した基準電圧を生成して出力し、テストモード時に演算増幅器の出力電圧を測定して得られた測定値に基づいて、トリミングによる前記抵抗値の比の調整を行って該基準電圧の調整が行われる電圧調整部と、
で構成されることを特徴とする請求項１、２、５、６、９又は１０記載の電圧検出回路。 - 前記電圧調整部は、
所定の前記抵抗値の比になるように形成された２つの分圧用抵抗と、
該各分圧用抵抗の間に、直列に接続された複数の調整用抵抗と、
該各調整用抵抗に対応して並列に接続された各調整用ヒューズと、
前記一方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を基準電圧として出力する第１出力選択用ヒューズと、
前記他方の分圧用抵抗と前記調整用抵抗との接続部の電圧を基準電圧として出力する第２出力選択用ヒューズと、
で構成され、
前記トリミングによって、各調整用ヒューズを選択的に切断すると共に、前記第１出力選択用ヒューズ又は第２出力選択用ヒューズのいずれか一方を選択して切断することを特徴とする請求項１３記載の電圧検出回路。
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