JP4358501B2 - 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型 - Google Patents

電子部品の樹脂封止成形方法及び金型 Download PDF

Info

Publication number
JP4358501B2
JP4358501B2 JP2002317177A JP2002317177A JP4358501B2 JP 4358501 B2 JP4358501 B2 JP 4358501B2 JP 2002317177 A JP2002317177 A JP 2002317177A JP 2002317177 A JP2002317177 A JP 2002317177A JP 4358501 B2 JP4358501 B2 JP 4358501B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
resin
substrate
intermediate plate
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002317177A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004153045A (ja
Inventor
慎二 高瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Towa Corp
Original Assignee
Towa Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Towa Corp filed Critical Towa Corp
Priority to JP2002317177A priority Critical patent/JP4358501B2/ja
Publication of JP2004153045A publication Critical patent/JP2004153045A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4358501B2 publication Critical patent/JP4358501B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、IC等の半導体チップ(電子部品)の搭載された基板を樹脂封止成形用金型にて一括して樹脂封止成形する電子部品の樹脂封止成形方法及び金型の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、電子部品の樹脂封止成形用金型を用いて、基板に搭載した複数個の半導体チップを一括して樹脂封止成形(一括片面モールド)することが行われている。
【0003】
例えば、図5に示すように、従来の樹脂封止成形用金型(二枚型)には、固定上型101と可動下型102とから構成されている。
また、金型101・102にて樹脂封止成形される基板103には、複数個の半導体チップ104(電子部品)が搭載されていると共に、前記基板103側と該チップ104とをワイヤ105で電気的に接続するように構成されている。
また、上型101の金型面(上型面106)には、トランスファー成形により加熱溶融化された樹脂材料を注入する樹脂通路107と、樹脂通路107と連通し且つ該チップ104とワイヤ105とを一括樹脂封止するキャビティ108とが設けられている。
また、下型101の金型面(下型面109)には、該チップ104とワイヤ105とを装着した基板103を下型面109の所定位置に供給セットできるセット用凹所110が設けられていると共に、基板103をセット用凹所109に供給セットする場合、該チップ104・ワイヤ105装着側を上方向に向けた状態で供給セットするように構成されている。
また、図示していないが、金型101・102には、樹脂材料を加熱溶融化させる加熱ヒータ等の加熱手段を埋設していると共に、加熱ヒータにて金型101・102を所定の樹脂成形温度にまで加熱して樹脂材料を加熱溶融化して溶融樹脂111となるように構成されている。
【0004】
即ち、まず、上型101と下型102とが型開きした状態で、基板103の該チップ104・ワイヤ105装着側を上方向に向けた状態で凹所120に基板103を供給セットする。
次に、上型101と下型102とを完全型締めし、次に、上型面106のキャビティ108内に収容された該チップ104・ワイヤ105を含む被成形部分に、予め加熱溶融化された溶融樹脂111を、樹脂通路107を介して注入し、次に、基板103に搭載された該チップ104・ワイヤ105を内包する溶融樹脂111が硬化して硬化樹脂を形成して封止済基板(製品)を形成する。
【0005】
なお、前述したような従来例が記載されている特許文献等を調査したが発見できなかった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、近年の基板の大型化・薄型化をし、以下のような樹脂成形上の諸問題が発生して、製品の生産性が低下している。
【0007】
即ち、基板の大型化・薄型化により、基板の厚さにばらつきが発生している。 例えば、基板が薄い場合、上型面と基板面との間に隙間が発生して、基板上面に樹脂が浸入して樹脂ばりを付着形成したり、半導体チップ非装着面(バンプ形成面・基板下面)に樹脂が浸入して樹脂ばりを付着形成したりする。
また、基板が厚い場合、上型面と基板面との型締圧力による基板におけるクラックが発生する。
従って、下型に基板の厚みに対応する摺動タイプの凹所底面部材(フロート)を設けた構成が検討されている。
しかしながら、下型と底面部材との間に樹脂が浸入して底面部材(フロート)が摺動不良を引き起こし、金型の修理とメンテナンスとを頻繁に行わなければならず、製品の生産性が低下している。
【0008】
また、基板の大型化・薄型化によって、高密度の樹脂が使用されることが多くなって、キャビティ面と樹脂成形体との密着性が強くなるためエジェクタピンによる離型時に基板が反り返って樹脂成形体にクラックが発生したり、樹脂の流れが悪くなるため空気等が樹脂に巻き込まれて樹脂成形体にクラックが発生する。
従って、キャビティ面に離型フィルムを吸着固定して樹脂封止するフィルム成形と、少なくともキャビティから空気等を強制的に排出して樹脂封止成形する真空成形とを併用した構成が検討されている。
しかしながら、前述の離型フィルムが圧力の関係でキャビティ内に移動するという問題が発生する。更に、これにより離型フィルムがワイヤを変形或いは断線し、製品の歩留まりが低下している。
【0009】
また、基板の大型化・薄型化によって、金型の所定位置に基板を供給セットする場合、基板が薄いために基板に反りが発生し易くなるので、上型のキャビティ天面にワイヤが接触し易くワイヤを変形或いは断線し、製品の歩留まりが低下している。
【0010】
従って、本発明は、基板反りによる樹脂ばりとワイヤ変形等とを効率良く防止すると共に、樹脂成形上の諸問題を効率良く解決して製品の生産性を効率良く向上させる、電子部品の樹脂封止成形方法及び金型を提供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
前記した技術的課題を解決するために本発明に係る電子部品の樹脂封止成形方法は、一方の型と他方の型と、一方の型と他方の型との間に設けられた中間プレートと、中間プレートを貫通する空間からなる貫通部とを含む電子部品の樹脂封止成形用金型を用意する工程と、一方の型と中間プレートとの間に離型フィルムを所定の張力で張架する工程と、電子部品が装着された基板を他方の型の所定位置に供給セットする工程と、金型に供給された樹脂材料加熱溶融化して溶融樹脂を生成する工程と、金型を型締めする工程と、金型を型締めする工程において貫通部と一方の型の型面とによって一方の型の型面を天面とするキャビティ空間部を形成し、かつ、中間プレートと一方の型との間の空間からなる樹脂流路を形成する工程と、金型を型締めする工程において、他方の型を介して基板を弾性支持した状態でキャビティ空間部内に電子部品が完全に含まれるようにして電子部品を収容する工程と、金型を型締めする工程において、張架された離型フィルムを一方の型が押圧することにより離型フィルムを緊張させた状態で、一方の型の型面を離型フィルムによって被覆する工程と、樹脂通路を通してキャビティ空間部内に溶融樹脂を注入する工程と、キャビティ空間部内で溶融樹脂を硬化させることによって電子部品を樹脂封止成形する工程とを備えることを特徴とする。
従って、金型を型締めする工程において、摺動部材に弾性支持した状態で他方の型の所定位置に基板を供給セットすることができるので、基板の反りによる樹脂ばりとワイヤ変形等とを効率良く防止することができる。
【0012】
また、前記した技術的課題を解決するために本発明に係る電子部品の樹脂封止成形方法は、上述の樹脂封止成形方法において、金型を型締めする工程において、少なくともキャビティ空間部を外気遮断状態にして外気遮断範囲を形成する工程と、外気遮断範囲内の空気を強制的に吸引排出して少なくともキャビティ空間部を所定の真空度に設定する工程とを備えるとともに溶融樹脂を注入する工程では所定の真空度に設定されたキャビティ空間部内に溶融樹脂を注入することを特徴とする。
従って、金型を型締めする工程において、離型フィルムが一方の型の型面を被覆するので、所定の真空度に真空引きする設定圧力によって離型フィルムが吸引されて移動することが防止される。これにより、離型フィルムが圧力の関係でキャビティ内に移動しなくなる。また、離型フィルムがワイヤを変形或いは断線することを効率良く防止する。また、所定の真空度に設定した状態で、キャビティ空間部内に連通し且つ基板と非接触状態で設けた樹脂通路を通して加熱溶融化された樹脂材料を注入するので、溶融樹脂の流れが良くなりボイドの発生を効率良く防止する。
また、封止済基板を金型から離型する場合、離型フィルムを一方の型面に被覆することができるので、従来のエジェクタピンによる基板が反り返ってクラックが発生することを効率良く防止する。
従って、樹脂成形上の諸問題を効率良く解決して製品の生産性を効率良く向上させることができる。
【0013】
また、前記した技術的課題を解決するために本発明に係る電子部品の樹脂封止成形用の金型は、一方の型と、一方の型に対向配置された他方の型と、一方の型と他方の型との間に設けられた中間プレートとを備える電子部品の樹脂封止成形用の金型であって、中間プレートを貫通する空間からなる貫通部と一方の型と中間プレートとの間に離型フィルムを所定の張力で供給し張架する離型フィルム供給機構と、他方の型において摺動自在に設けられ電子部品が装着された基板が載置される基板セット用の摺動部材と、摺動部材を弾性支持する弾性部材とを備えるとともに、金型が型締めされることによって、貫通部と一方の型の型面とによって一方の型の型面を天面とするキャビティ空間部が形成され、かつ、中間プレートと一方の型との間の空間からなる樹脂流路が形成され、金型が型締めされることによって、摺動部材を介して基板が弾性支持された状態でキャビティ空間部内に電子部品が完全に含まれるようにして電子部品が収容され、金型が型締めされることによって、張架された離型フィルムが一方の型によって押圧されることにより離型フィルムが緊張した状態で一方の型の型面を被覆し、金型が型締めされた状態で溶融樹脂が樹脂流路を通してキャビティ空間部に注入され、注入された溶融樹脂が硬化することを特徴とする。
従って、金型を型締めする工程において、摺動部材に弾性支持した状態で他方の型の所定位置に基板を供給セットすることができるので、基板の反りによる樹脂ばりとワイヤ変形等とを効率良く防止することができる。
【0014】
また、前記した技術的課題を解決するために本発明に係る電子部品の樹脂封止成形用の金型は、上述の樹脂封止成形方法において、金型が型締めされた状態において少なくともキャビティ空間部を外気遮断状態にする目的で、一方の型と中間プレートとの間に設けられたシール部材と、少なくともキャビティ空間部から空気を強制的に吸引排出する真空引き機構とを備えるとともに、強制的に吸引排出されたキャビティ空間部に樹脂流路を通して溶融樹脂が注入されることを特徴とする電子部品の樹脂封止成形用金型。
従って、金型を型締めする工程において、離型フィルムが一方の型の型面を被覆するので、所定の真空度に真空引きする設定圧力によって離型フィルムが吸引されて移動することが防止される。これにより、離型フィルムが圧力の関係でキャビティ内に移動しなくなる。また、離型フィルムがワイヤを変形或いは断線することを効率良く防止する。また、所定の真空度に設定した状態で、キャビティ空間部内に連通し且つ基板と非接触状態で設けた樹脂通路を通して加熱溶融化された樹脂材料を注入するので、溶融樹脂の流れが良くなりボイドの発生を効率良く防止する。
また、封止済基板を金型から離型する場合、離型フィルムを一方の型面に被覆することができるので、従来のエジェクタピンによる基板が反り返ってクラックが発生することを効率良く防止する。
従って、樹脂成形上の諸問題を効率良く解決して製品の生産性を効率良く向上させることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図1乃至図4に基づいて、詳細に説明する。
なお、図1乃至図4は、本発明に係る樹脂封止成形用金型における各工程を段階的に示した概略拡大縦断面図である。
【0016】
即ち、本発明に係る電子部品の樹脂封止成形用金型において、例えば、図1に示すように、上型1(一方の型)と該上型1に対向配置した下型2(他方の型)と両型1・2間に設けた中間プレート3とから成る樹脂封止成形用金型と、上型1の金型面を被覆する離型フィルム4を上型1と中間プレート3との間に供給する離型フィルム供給機構(図示しない)と、両型1・2の金型面に設けられ且つ加熱溶融化された樹脂材料と接触する金型面を外気遮断状態にして外気遮断範囲を形成するシール部材5と、外気遮断範囲から空気を強制的に吸引排出する真空引き機構(図示しない)とを設けている。
【0017】
また、本実施例における電子部品(IC等の半導体チップ7)が搭載された基板6は、例えば、図1に示すように、基板6上の所定個所にダイボンディングされマトリクス状に配列された半導体チップ7と、基板6側と該チップ7とを電気的に接続するワイヤ8とから少なくとも構成されていると共に、半導体チップ7・ワイヤ8の側には、加熱溶融化された樹脂材料で樹脂封止される被成形部分9と樹脂封止されない基板外周部10とが形成され構成されている。
なお、電子部品が搭載された他の基板6としては、基板6上に所定個所にバンプを介して電気的に接続された半導体チップ7から構成されたフリップチップ基板を用いてもよい。
【0018】
また、上型1には、例えば、図1で示すように、離型フィルム4を緊張して被覆することができる、上型金型面11と傾斜部12A・12Bとを下方向に凸形状の状態で形成する上型凸部ブロック13と、上型凸部ブロック13を取り囲むように付設されたフィルム用の挟持部材14A・14Bと、挟持部材14A・14Bを摺動自在に上下往復動させる弾性部材15A・15Bと、上型凸部ブロック13と挟持部材14A・14Bと弾性部材15A・15Bとを着脱自在に嵌め込むことができる上型固定面16を有する上型固定ブロック17とが設けられていると共に、上型固定ブロック17の外周囲には、シール部材5を付設した上型外周ブロック18とが設けられている。
【0019】
また、中間プレート3は、例えば、図1に示すように、中間プレート3に貫通した状態で設けられ且つ基板6に装着した半導体チップ7・ワイヤ8が収容される空間からなる貫通部19と、上型1の上型固定面16・挟持部材14Aと傾斜部12Aと接合できる離型フィルム4を介して形成したフィルム用の挟持面21と傾斜面20Aと、基板外周部10と下型固定面25と下型外周ブロック27に付設したシール部材5とに当接する基板当接面22と、加熱溶融化された樹脂材料を注入できる傾斜面20Bと樹脂通路面28とが形成され構成されている。
【0020】
また、下型2には、電子部品(半導体チップ7)とワイヤ8とを装着した基板6を上方向(貫通部19の方向)に向けて所定位置に弾性支持できる基板セット用摺動部材23と、摺動部材23を摺動自在に上下往復動させる弾性部材24と、摺動部材23と弾性部材24とを着脱自在に嵌め込むことができる下型固定面25を有する下型固定ブロック26と、下型固定ブロックの外周囲にあるシール部材5を付設した下型外周ブロック27とが設けられている。
【0021】
また、上型の弾性部材15A・15Bと下型2の弾性部材24とは、例えば、スプリング等を設けて構成されている。
また、図示していないが、金型1・2・3には、樹脂材料を加熱溶融化させる加熱ヒータ等の加熱手段を埋設していると共に、加熱ヒータにて金型1・2・3を所定の樹脂成形温度にまで加熱して樹脂材料を加熱溶融化して溶融樹脂31(図3参照)となるように構成されている。
なお、図示していないが、前記した金型1・2・3には二枚の基板6における被成形部分9内に溶融樹脂を注入するように構成されている。これに限らず、一枚の基板6のみを樹脂封止成形するようにしてもよい。
【0022】
従って、金型1・2・3にて基板6の被成形部分9を樹脂封止する場合、まず、図1で示すように、金型1・2・3が型開きした状態であって、所定の張力に張架された状態で水平に保持された離型フィルム4が、上型1と中間プレート3との間に供給される。また、基板6が被成形部分9の側(半導体チップ7・ワイヤ8の側)を上方向にした状態で、中間プレート3と下型2との間に供給され且つ摺動部材23の所定位置の直上部まで供給される。
このとき、挟持部材14A・14Bと上型固定ブロック17の上部との間の空間には弾性部材15A・15Bが設けられ、摺動部材23と下型固定ブロック26の下部との間の空間には弾性部材24が設けられている。また、挟持部材14A・14Bの底面は、上型固定面16より下方向に突出するように構成されており、且つ、摺動部材23の天面は、下型固定面25より上方向に突出するように構成されている。
【0023】
次に、摺動部材23の所定位置の直上部まで供給された基板6を摺動部材23に供給セットし、次に、図2に示すように、中間プレート3と下型2とが型締めする、つまりは、基板当接面22は、基板外周部10と下型固定面25とが当接し、且つ下型固定ブロック27に付設したシール部材5と接触することになる。
このとき、基板6と摺動部材23とは、基板6の厚みに対応して下動する(下方向に摺動する)と共に、摺動部材23に付設した弾性部材24が縮んだ状態、つまりは、弾性部材24弾性支持された状態となって基板6を破損しないような弾性力で弾性支持され、且つ基板固定部10と基板当接面22との間に隙間がなく当接されるように構成されている
従って、摺動部材23が弾性支持された状態で下型2の摺動部材23の所定位置に基板6を供給セットすることができるので、基板の反りによる樹脂ばりとワイヤ変形等とを効率良く防止することができる。
【0024】
なお、図2で示すように、離型フィルム4は、水平状態となって上型1と中間プレート3との間に待機しているが、このとき、該フィルム4を該フィルム供給機構にて上動させて、上型1にある上型金型面11と傾斜部12A・12Bと挟持部材14A・14Bの底面と上型固定面16とに、予め接触して被覆させて上型固定面16の該フィルム4を緊張させて被覆する構成にしてもよい。
【0025】
次に、図3で示すように、上型1と中間プレート3とが型締めすることで、上型1と下型2と中間プレート3とが完全に型締め状態となる。
このとき、離型フィルム4は、上型1と中間プレート3とが型締めすることにより、上型凸部ブロック13に形成された下方向に凸形状にある上型金型面11に緊張して被覆するように構成されている。
また、上型1と下型2と中間プレート3とが型締めすることにより、次の2つのものが形成される。それは、第1に、緊張した離型フィルム4によって被覆された上型金型面11と中間プレート3に設けられた貫通部19(図2参照)とによって構成されるキャビティ空間部29である。第2に、キャビティ空間部29と連通しており且つ該フィルム4によってそれぞれ被覆された傾斜部12Bの面及び挟持部材14Bの底面と、傾斜面20Bと樹脂通路面28とによって構成される樹脂通路30である。
【0026】
ここで、図3で示すように、上型金型面11に離型フィルム4を緊張して被覆する場合、上型金型面11に該フィルム4が接触して被覆されて傾斜部12A・12Bとの形状に沿って該フィルム4が接触して被覆することで上型金型面11に該フィルム4のフィルム皺を発生することなく緊張させ被覆すると共に、上型1の傾斜部12A・挟持部材14A底面・上型固定面16と中間プレート3の挟持面21A・傾斜面20Aとが該フィルム4を挟持し保持する、このとき、挟持部材14Aは上動し且つ弾性部材15Aを縮むようにして該フィルム4を挟持して保持するように構成されている。
また、上型1の挟持部材14Aと同様に、挟持部材14Bも該フィルム4を被覆した状態で上動し且つ弾性部材15Aを縮むように構成されていると共に、該フィルム4が傾斜部12Bと挟持部材14Aとを被覆して樹脂通路30を形成することができるのであれば、弾性部材15Bを付設せずに上型凸部ブロック13と挟持部材14Bとを一体型にして設けてもよい。
【0027】
従って、図3に示すように、金型1・2・3の型締め工程時に、キャビティ空間部29内に収容された被成形部分9(図1参照)における電子部品(半導体チップ7)とワイヤ8とに離型フィルム4又はキャビティ空間部29の天面が非接触である状態で、予め加熱溶融化された樹脂材料を溶融樹脂31として樹脂通路30を通して当該溶融樹脂31を注入する。
このとき、金型1・2・3の型締め工程時に、上型固定ブロック18と下型固定ブロック27とに付設された各シール部材5が中間プレート3の挟持面21と基板当接面22とに各別に当接して、少なくとも溶融樹脂31と接触する金型面を外気遮断状態にして外気遮断範囲を形成して、真空引き機構にて外気遮断範囲から空気を強制的に吸引排出して少なくともキャビティ空間部29を所定の真空度に設定して、樹脂通路30を通して当該溶融樹脂31を注入するように構成されている。
【0028】
次に、図示していないが、金型1・2・3の型締め工程時に、キャビティ空間部29内に収容された被成形部分9(図1参照)における電子部品(半導体チップ7)とワイヤ8とに離型フィルム4又はキャビティ空間部29の天面が非接触である状態で、樹脂通路30を通して所定の真空度に設定されたキャビティ空間部29内に加熱溶融化された樹脂材料を溶融樹脂31として注入することにより、キャビティ空間部29内で被成形部分9(図1参照)における電子部品(半導体チップ7)とワイヤ8とを樹脂封止成形する。
従って、金型1・2・3の型締め工程時において、離型フィルム4が上型金型面11に被覆されるので、真空引き機構にて所定の真空度に設定した圧力に左右されず該フィルム4がキャビティ空間部29内に移動せず、該フィルム4がワイヤ8を変形或いは断線することを効率良く防止すると共に、真空引き機構にて所定の真空度に設定した状態で、キャビティ空間部29内と連通し且つ基板6と非接触状態で設けた樹脂通路30を通して加熱溶融化された樹脂材料を注入するので、溶融樹脂31の流れが良くなりボイドの発生を効率良く防止する。
【0029】
次に、図示していないが、金型1・2・3の型締め工程時において、樹脂通路30とキャビティ空間部29内にある溶融樹脂31が硬化して硬化樹脂32を形成して、硬化樹脂32となった樹脂通路30部分を含む封止済基板33が成形される。
ここで、少なくともキャビティ空間部29内の溶融樹脂31が注入されて硬化樹脂32を成形すると真空引き機構より設定された所定の真空度を解除するように構成されている。
【0030】
次に、図示していないが、中間プレート3と下型2とを型締めした状態のままで、離型フィルム4を被覆された上型1を型開きをして、該フィルム4を被覆した上型金型面11(キャビティ空間部29天面)と傾斜部12Bと挟持部材14B底面とから樹脂通路30部分を含む封止済基板33を離型する。
なお、樹脂通路30部分を含む封止済基板33を離型する場合に、該フィルム4を介して上型金型面11の下方向に突出するように構成されたエジェクタ機構(図示しない)を設けて更に離型力を向上させてもよい。
【0031】
次に、図4に示すように、中間プレート3と下型2とを型開きと同時に、下型2にある弾性部材24を復元する方向、つまりは、摺動部材23を上動して封止済基板33を弾性支持の状態から解除される。
このとき、封止済基板33と樹脂通路30部分とを切り離して(ディゲートして)、弾性支持の状態から解除された摺動部材23上に封止済基板33を載置するように構成されている。
なお、封止済基板33と樹脂通路30部分とを切り離す場合に、ディゲート機構(図示しない)を金型内に供給して切り離すようにしてもよい。
従って、封止済基板33を金型1・2・3から離型する場合、離型フィルム4を上型金型面11に被覆することができるので、従来の離型ピンのような基板6が反り返ってクラックが発生することを効率良く防止する。
【0032】
次に、図1に示すように、樹脂通路30部分を切り離した封止済基板33を下型2の摺動部材23の所定位置より、次工程へ搬送すると共に、上型1に被覆された使用済の離型フィルム4を該フィルム供給機構にて下動させて所定の張力にて張架して水平状態として上型1の金型面より離し、次に、使用済の該フィルム4を搬送して使用前の該フィルム4を該フィルム供給機構にて供給する。
従って、前述したように、電子部品(半導体チップ7)とワイヤ8とを装着した基板6を連続して、金型1・2・3にて被成形部分9において樹脂封止成形することができるので、樹脂成形上の諸問題を効率良く解決して製品の生産性を効率良く向上させる。
【0033】
即ち、前述したように、基板反りによる樹脂ばりとワイヤ変形等とを効率良く防止すると共に、樹脂成形上の諸問題を効率良く解決して製品の生産性を効率良く向上させる、電子部品の樹脂封止成形方法及び金型を提供することができる。
【0034】
なお、離型フィルム4の上型1側の被覆面(加熱溶融化した樹脂材料の非接触面)に粘着性を持たせるようにしてもよい。
【0035】
また、前記した基板6は、マトリクス状に配列した電子部品を搭載したもので説明したが、基板6上に単数個、或いは、単数列の半導体チップ7を搭載した基板6でもよい。
【0036】
また、摺動部材23の所定位置に基板6を供給セットする場合、基板6を水平に弾性支持するように説明しているが、摺動部材23に基板6を供給セットできる、基板セット用凹所或いは基板セット用位置決めピン(図示しない)を設けるように構成にしてもよい。
【0037】
また、上型外周ブロック18と下型外周ブロック27とにシール部材5を付設するような構成にしているが、金型1・2・3の型締め工程時に、少なくとも加熱溶融化された樹脂材料と接触する金型面を外気遮断状態にして外気遮断範囲を形成する構成であれば、シール部材5を適宜に付設するか、或いは、金型1・2・3全体を外気遮断範囲として形成する構成にしてもよい。
この場合、上型外周ブロック18と下型外周ブロック27とを設けない構成にしてもよい。
【0038】
また、金型1・2・3の型締め工程時に、加熱溶融化された樹脂材料の樹脂通路30は、基板6と非接触状態であればキャビティ空間部29の天面に設けてもよい。
【0039】
また、本発明は、上述の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意にかつ適宜に変更・選択して採用できるものである。
【0040】
【発明の効果】
本発明によれば、基板反りによる樹脂ばりとワイヤ変形等とを効率良く防止すると共に、樹脂成形上の諸問題を効率良く解決して製品の生産性を効率良く向上させる、電子部品の樹脂封止成形方法及び金型を提供するという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明に係る樹脂封止成形用金型要部の概略拡大縦断面図であって、上型と下型と中間プレートとを型開きした状態を示す。
【図2】 図2は、本発明に係る樹脂封止成形用金型要部の概略拡大縦断面図であって、下型と中間プレートとを型締めした状態を示す。
【図3】 図3は、本発明に係る樹脂封止成形用金型要部の概略拡大縦断面図であって、上型と下型と中間プレートとを型締めして加熱溶融化された樹脂材料を注入した状態を示す。
【図4】 図4は、本発明に係る樹脂封止成形用金型要部の概略拡大縦断面図であって、上型と中間プレートとを型開きして封止済基板を離型した状態を示す。
【図5】 図5は、従来における樹脂封止成形用金型要部の概略拡大縦断面図である。
【符号の説明】
1 上型
2 下型
3 中間プレート
4 離型フィルム
5 シール部材
6 基板
7 半導体チップ
8 ワイヤ
被成形部分
10 基板外周部
11 上型金型面
12A・12B 傾斜部
13 上型凸部ブロック
14A・14B 挟持部材
15A・15B・24 弾性部材
16 上型固定面
17 上型固定ブロック
18 上型外周ブロック
19 貫通部
20A・20B 傾斜面
21 挟持
22 基板当接面
23 摺動部材
25 下型固定面
26 下型固定ブロック
27 下型外周ブロック
28 樹脂通路面
29 キャビティ空間部
30 樹脂通路
31 溶融樹脂
32 硬化樹脂
33 封止済基板(製品)

Claims (4)

  1. 一方の型と他方の型と前記一方の型と前記他方の型との間に設けられた中間プレートと、前記中間プレートを貫通する空間からなる貫通部とを含む電子部品の樹脂封止成形用金型を用意する工程と、
    前記一方の型と前記中間プレートとの間に離型フィルムを所定の張力で張架する工程と、
    電子部品が装着された基板を前記他方の型の所定位置に供給セットする工程と、
    前記金型に供給された樹脂材料加熱溶融化して溶融樹脂を生成する工程と、
    前記金型を型締めする工程と、
    前記金型を型締めする工程において前記貫通部前記一方の型の型面とによって前記一方の型の型面を天面とするキャビティ空間部を形成し、かつ、前記中間プレートと前記一方の型との間の空間からなる樹脂流路を形成する工程と、
    前記金型を型締めする工程において、前記他方の型を介して前記基板を弾性支持した状態で前記キャビティ空間部内に前記電子部品が完全に含まれるようにして前記電子部品を収容する工程と、
    前記金型を型締めする工程において、張架された前記離型フィルムを前記一方の型が押圧することにより前記離型フィルムを緊張させた状態で、前記一方の型の型面を前記離型フィルムによって被覆する工程と、
    前記樹脂通路を通して前記キャビティ空間部内に前記溶融樹脂を注入する工程と、
    前記キャビティ空間部内で前記溶融樹脂を硬化させることによって前記電子部品を樹脂封止成形する工程とを備えることを特徴とする電子部品の樹脂封止成形方法。
  2. 請求項1に記載された電子部品の樹脂封止成形方法において、
    前記金型を型締めする工程において、少なくとも前記キャビティ空間部を外気遮断状態にして外気遮断範囲を形成する工程と、
    前記外気遮断範囲内の空気を強制的に吸引排出して少なくとも前記キャビティ空間部を所定の真空度に設定する工程とを備えるとともに
    前記溶融樹脂を注入する工程では前記所定の真空度に設定された前記キャビティ空間部内に前記溶融樹脂を注入することを特徴とする電子部品の樹脂封止成形方法。
  3. 一方の型と、一方の型に対向配置された他方の型と、前記一方の型と前記他方の型との間に設けられた中間プレートとを備える電子部品の樹脂封止成形用の金型であって
    前記中間プレートを貫通する空間からなる貫通部と
    前記一方の型と前記中間プレートとの間に離型フィルムを所定の張力で供給し張架する離型フィルム供給機構と、
    前記他方の型において摺動自在に設けられ電子部品が装着された基板が載置される基板セット用の摺動部材と、
    前記摺動部材を弾性支持する弾性部材とを備えるとともに、
    前記金型が型締めされることによって、前記貫通部と前記一方の型の型面とによって前記一方の型の型面を天面とするキャビティ空間部が形成され、かつ、前記中間プレートと前記一方の型との間の空間からなる樹脂流路が形成され、
    前記金型が型締めされることによって、前記摺動部材を介して前記基板が弾性支持された状態で前記キャビティ空間部内に前記電子部品が完全に含まれるようにして前記電子部品が収容され、
    前記金型が型締めされることによって、張架された前記離型フィルムが前記一方の型によって押圧されることにより前記離型フィルムが緊張した状態で前記一方の型の型面を被覆し、
    前記金型が型締めされた状態で溶融樹脂が前記樹脂流路を通して前記キャビティ空間部に注入され、注入された前記溶融樹脂が硬化することを特徴とする電子部品の樹脂封止成形用金型。
  4. 請求項3に記載された電子部品の樹脂封止成形用の金型において、
    前記金型が型締めされた状態において少なくとも前記キャビティ空間部を外気遮断状態にする目的で、前記一方の型と前記中間プレートとの間に設けられたシール部材と、
    少なくとも前記キャビティ空間部から空気を強制的に吸引排出する真空引き機構とを備えるとともに、
    強制的に吸引排出された前記キャビティ空間部に前記樹脂流路を通して前記溶融樹脂が注入されることを特徴とする電子部品の樹脂封止成形用金型。
JP2002317177A 2002-10-31 2002-10-31 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型 Expired - Lifetime JP4358501B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002317177A JP4358501B2 (ja) 2002-10-31 2002-10-31 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002317177A JP4358501B2 (ja) 2002-10-31 2002-10-31 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004153045A JP2004153045A (ja) 2004-05-27
JP4358501B2 true JP4358501B2 (ja) 2009-11-04

Family

ID=32460634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002317177A Expired - Lifetime JP4358501B2 (ja) 2002-10-31 2002-10-31 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4358501B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL1022323C2 (nl) * 2003-01-08 2004-07-09 Fico Bv Inrichting en werkwijze voor het met omhulmateriaal omhullen van een op een drager bevestigde elektronische component.
JP4508839B2 (ja) * 2004-11-12 2010-07-21 パナソニック株式会社 樹脂封止金型および樹脂封止装置
JP5166870B2 (ja) 2005-05-30 2013-03-21 スパンション エルエルシー 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
JP4946764B2 (ja) * 2007-03-05 2012-06-06 Nok株式会社 シール構造体の製造方法
KR101448490B1 (ko) 2008-06-26 2014-10-10 세메스 주식회사 전자 부품 몰딩 장치
US8105063B1 (en) * 2010-08-26 2012-01-31 National Semiconductor Corporation Three piece mold cavity design for packaging integrated circuits
KR101052324B1 (ko) * 2011-03-23 2011-07-27 신한다이아몬드공업 주식회사 봉지재 성형 방법
JP6804275B2 (ja) * 2016-11-28 2020-12-23 Towa株式会社 成形型、樹脂成形装置及び樹脂成形方法
CN107097380A (zh) * 2017-06-26 2017-08-29 四川新为橡塑有限公司 一种变径胶芯的模具及采用该模具生产变径胶芯的方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004153045A (ja) 2004-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4268389B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置
JP5004410B2 (ja) 光素子の樹脂封止成形方法および樹脂封止成形装置
JP2005305954A5 (ja)
KR101764525B1 (ko) 수지 밀봉 방법 및 수지 밀봉 장치
US20070085237A1 (en) Resin sealing and molding method of electronic component
JP4336499B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置
US20020017738A1 (en) Resin sealing method and resin sealing apparatus
JP3581814B2 (ja) 樹脂封止方法及び樹脂封止装置
JP5036372B2 (ja) 光電子部品および光電子部品の製造方法
US20040166605A1 (en) Fabrication method of semiconductor integrated circuit device
JP4358501B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型
JP4052939B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置
JP6742273B2 (ja) モールド金型及び樹脂モールド方法
TW201910088A (zh) 樹脂成型品的搬運機構、樹脂成型裝置以及樹脂成型品的製造方法
JP4336502B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置
JP2007036273A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JP5364944B2 (ja) モールド金型
TW201628107A (zh) 半導體裝置之製造方法
KR20190085847A (ko) 수지 밀봉 장치 및 수지 밀봉 방법
JP2000260796A (ja) 半導体ウェハーの樹脂被覆方法
JP2008053509A (ja) 電子部品の樹脂封止成形装置
JP3955408B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2001168121A (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法
JP4058330B2 (ja) 真空吐出成形装置及び真空吐出成形方法
JP4583020B2 (ja) 半導体チップの樹脂封止成形方法および樹脂封止成形用金型

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050927

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070605

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080318

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080502

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090714

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090806

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4358501

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term