JP4349283B2 - エッチング方法 - Google Patents
エッチング方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4349283B2 JP4349283B2 JP2004522729A JP2004522729A JP4349283B2 JP 4349283 B2 JP4349283 B2 JP 4349283B2 JP 2004522729 A JP2004522729 A JP 2004522729A JP 2004522729 A JP2004522729 A JP 2004522729A JP 4349283 B2 JP4349283 B2 JP 4349283B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- groove
- molding
- crystal
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims description 488
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 186
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 193
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 96
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 79
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 27
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 27
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 23
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 104
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 94
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 94
- 239000010408 film Substances 0.000 description 83
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 61
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 40
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 34
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 33
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 33
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 24
- 238000013461 design Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 12
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000000979 retarding effect Effects 0.000 description 6
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 4
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 4
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000089486 Phragmites australis subsp australis Species 0.000 description 1
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005108 dry cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H3/04—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/21—Crystal tuning forks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H2003/026—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks the resonators or networks being of the tuning fork type
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H3/04—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
- H03H2003/0414—Resonance frequency
- H03H2003/0492—Resonance frequency during the manufacture of a tuning-fork
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Description
−音叉型水晶振動子の構成説明−
音叉型水晶ウェハのエッチングによる成形方法の説明の前に、音叉型水晶振動子の構成について説明する。
次に、音叉型水晶ウェハのエッチングによる成形方法について、本発明にかかる参考例および実施例を説明する。
先ず、参考例1について図2及び図3を用いて説明する。本形態に係る音叉型水晶ウェハの成形方法は、被成形物としての水晶基板を、溝部11c,12cを除いて所定形状(音叉型形状)に成形するための第1成形工程と、この第1成形工程の後に行われ、溝部11c,12cを成形するための第2成形工程とによって行われる。
先ず、第1成形工程について説明する。図2は、図1においてII-II線に沿った断面における加工状態を示している。
次に、溝部11c,12cを成形するための第2成形工程について説明する。この第2成形工程では、先ず、図2(j)に示すように、成形しようとする溝部11c,12cに相当する部分の各金属膜31,32をAuエッチング液及びCrエッチング液によって除去する。つまり、上記フォトレジスト層5の除去幅寸法Wに対応した領域の各金属膜31,32が除去される。
次に、実施例2について説明する。本形態に係る音叉型水晶振動片1の成形方法は、水晶基板2に対して、音叉型水晶ウェハの外形の所定形状への成形と溝部11c,12cの成形とを同時に行うものである。以下、この成形工程について図4を用いて説明する。
次に、参考例3について説明する。上述したように、溝部11c,12cは、その設計幅寸法によってその深さ寸法が決定されるため、溝部11c,12cの深さ寸法を必要以上に大きくすることなしに、幅寸法のみを大きくするといったことが上記参考例1及び実施例2における方法では実現できない。本参考例3は、これを実現するための方法である。つまり、図5(図1に相当する図)に示すように、深さ寸法は上記参考例1及び実施例2のものと等しく、且つ幅寸法が上記参考例1及び実施例2のものよりも大きい溝部11c,12cを、上記エッチングストップ技術を用いて実現するのが本参考例3である。
先ず、第1成形工程を図6を用いて説明する。この図6は、図5においてVI-VI線に沿った断面における加工状態を示している。
次に、溝部11c,12cを成形するための第2成形工程を図7を用いて説明する。この図7では、一方の脚部11についてのみ示している。他方の脚部12においても同様の加工が同時に行われる。
次に、参考例4について説明する。本形態に係る音叉型水晶振動片1の成形方法は、上記参考例3の場合と同様に、溝部11c,12cの成形工程においては外縁エッチング工程を行った後に中央エッチング工程を行うものである。それに加えて、本参考例4は、音叉型水晶ウェハの外形の所定形状への成形とサイド溝部11dの成形とを同時に行うものである。以下、この成形工程について図8及び図9を用いて説明する。
次に、参考例5について説明する。本形態に係る音叉型水晶振動片1の成形方法も、上述した参考例4の場合と同様に、音叉型水晶ウェハの外形の所定形状への成形とサイド溝部11d,12dの成形とを同時に行うものである。以下、この成形工程について図10及び図11を用いて説明する。
次に、実施例6について説明する。本形態に係る音叉型水晶振動片1の成形方法は、溝部11c,12cの成形工程として、外縁エッチング工程の開始後で且つその終了前に中央エッチング工程を開始させるものである。つまり、中央エッチング工程の開始時には、この中央エッチング工程と外縁エッチング工程とが並行されるものである。以下、この成形工程について図12及び図13を用いて説明する。
次に、実施例7について説明する。上述した各参考例や各実施例では、溝部11c,12cの底部が主面11a,12aに略平行な平坦面となるように中央エッチング工程を行っていた。本形態は、この中央エッチング工程の終了時点で、溝部11c,12cの底部に突起部が残るようにしたものである。つまり、溝部11c,12cの底部の突起部が完全にエッチング除去されて平坦面となる前に中央エッチング工程を終了させるようにしている。この中央部のエッチング工程は、上述した参考例3〜5および実施例6それぞれに対して適用可能である。
次に、実施例8について説明する。上述した各参考例や各実施例では、音叉型水晶振動片1の各脚部11,12それぞれに1つの溝部11c,12cを形成していた。本実施例では、各脚部11,12それぞれに複数のエッチング領域(小面積エッチング領域)を設定し、これら小面積エッチング領域の集合によってエッチング加工範囲を設計したものである。
以上説明した各実施例は何れも音叉型水晶ウェハのエッチングによる成形方法に本発明を適用した場合であった。本発明はこれに限らず、その他の水晶ウェハ(ATカット水晶ウェハ等)の成形にも適用可能である。
Claims (6)
- 被成形物をエッチング処理することによって、所定の外形形状及び溝部を有するエッチング成形品を成形するために、上記被成形物に対し、成形しようとするエッチング成形品の外縁よりも外側の領域をエッチングにより除去する外形エッチングと、被成形物上における溝部成形領域をエッチングにより凹陥させる溝部エッチングとを実行し、被成形物をエッチングするエッチング方法であって、
エッチングレートが互いに異なる材料が積層され、その上層が下層よりもエッチングレートが低い材料からなるコート層を、成形しようとするエッチング成形品の外縁よりも内側の領域に形成しておき、上記溝部成形領域の表面の上記コート層に対して上記上層のみを除去することにより露出した下層をエッチング遅延膜として利用し、上記溝部成形領域の表面のみに上記エッチング遅延膜を予め存在させた状態で被成形物に対するエッチング処理を実行し、上記外形エッチングの開始後、この外形エッチングと共にエッチング遅延膜を溶融し、このエッチング遅延膜を溶融除去した後に、上記溝部エッチングを開始することによって被成形物をエッチングするに際し、
上記溝部成形領域に対する溝部エッチング時に、この溝部成形領域の形状に応じたエッチングストップ位置でエッチングが停止した時点のエッチング量が予め設定された設計溝深さ寸法に略一致するように、上記溝部成形領域における上記エッチング遅延膜を用いたエッチング領域の幅寸法を決定することを特徴とするエッチング方法。 - 被成形物をエッチング処理することによって、所定の外形形状及び溝部を有するエッチング成形品を成形するために、上記被成形物に対し、成形しようとするエッチング成形品の外縁よりも外側の領域をエッチングにより除去する外形エッチングと、被成形物上における溝部成形領域をエッチングにより凹陥させる溝部エッチングとを実行し、被成形物をエッチングするエッチング方法であって、
エッチングレートが互いに異なる材料が積層され、その上層が下層よりもエッチングレートが低い材料からなるコート層を、成形しようとするエッチング成形品の外縁よりも内側の領域に形成しておき、上記溝部成形領域の表面の上記コート層に対してフォトレジスト層を用いた溝部パターニングを行い、溝部パターニングによりフォトレジスト層を形成していない上記上層のみを除去することにより露出した下層をエッチング遅延膜として利用し、上記溝部成形領域の表面のみに上記エッチング遅延膜を予め存在させた状態で被成形物に対するエッチング処理を実行し、上記外形エッチングの開始後、この外形エッチングと共にエッチング遅延膜を溶融し、このエッチング遅延膜を溶融除去した後に、上記溝部エッチングを開始することによって被成形物をエッチングするに際し、
上記溝部成形領域に対する溝部エッチング時に、この溝部成形領域の形状に応じたエッチングストップ位置でエッチングが停止した時点のエッチング量が予め設定された設計溝深さ寸法に略一致するように、上記溝部成形領域における上記フォトレジスト層の除去幅寸法を決定することを特徴とするエッチング方法。 - 請求項1または2に記載のエッチング方法において、
上記エッチング成形品を音叉型水晶ウェハとし、
上記溝部をその主面中央部に成形することを特徴とするエッチング方法。 - 被成形物表面に設定されたエッチング加工範囲を、互いに隣接する複数のエッチング領域に区画し、
これらエッチング領域に対するエッチング処理として、請求項1乃至3のうちいずれか1つに記載のエッチング方法を使用して、溝部を被成形物表面に形成することを特徴とするエッチング方法。 - 請求項4に記載のエッチング方法において、
上記各エッチング領域を、互いに独立した溝部を被成形物表面に形成するものとして設定していることを特徴とするエッチング方法。 - 請求項4に記載のエッチング方法において、
上記各エッチング領域を、互いに連続する溝部を被成形物表面に形成するものとして設定していることを特徴とするエッチング方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002213738 | 2002-07-23 | ||
JP2002213738 | 2002-07-23 | ||
PCT/JP2003/008945 WO2004010577A1 (ja) | 2002-07-23 | 2003-07-14 | エッチング方法及びその方法によって成形されたエッチング成形品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2004010577A1 JPWO2004010577A1 (ja) | 2005-11-17 |
JP4349283B2 true JP4349283B2 (ja) | 2009-10-21 |
Family
ID=30767848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004522729A Expired - Fee Related JP4349283B2 (ja) | 2002-07-23 | 2003-07-14 | エッチング方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7560040B2 (ja) |
JP (1) | JP4349283B2 (ja) |
CN (1) | CN1557048B (ja) |
AU (1) | AU2003281555A1 (ja) |
WO (1) | WO2004010577A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3915640B2 (ja) * | 2002-07-02 | 2007-05-16 | 株式会社大真空 | 水晶z板のエッチング方法及びその方法によって成形された水晶ウェハ |
JP2008079033A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 圧電振動子の製造方法、圧電振動子及び電子部品 |
JP5045892B2 (ja) * | 2007-03-20 | 2012-10-10 | セイコーエプソン株式会社 | 圧電振動片及びその製造方法 |
JP5839919B2 (ja) * | 2011-09-28 | 2016-01-06 | エスアイアイ・クリスタルテクノロジー株式会社 | 圧電振動片、圧電振動子、発振器、電子機器、および電波時計 |
JP2013251672A (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-12 | Seiko Epson Corp | 振動片、電子デバイス、電子機器および振動片の製造方法 |
US9059038B2 (en) * | 2012-07-18 | 2015-06-16 | Tokyo Electron Limited | System for in-situ film stack measurement during etching and etch control method |
JP6373669B2 (ja) * | 2013-07-12 | 2018-08-15 | シチズンファインデバイス株式会社 | 水晶振動子 |
CN107453726A (zh) * | 2017-08-08 | 2017-12-08 | 随州泰华电子科技有限公司 | 一种用于提升音叉晶振离子蚀刻速率的工艺 |
CN112607703B (zh) * | 2020-12-10 | 2023-10-13 | 北京自动化控制设备研究所 | 用于提升驱动增益的石英音叉敏感结构的制备方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5252597A (en) | 1975-10-27 | 1977-04-27 | Citizen Watch Co Ltd | Bend type piezoelectric vibrator |
US4768751A (en) * | 1987-10-19 | 1988-09-06 | Ford Motor Company | Silicon micromachined non-elastic flow valves |
US5141596A (en) * | 1991-07-29 | 1992-08-25 | Xerox Corporation | Method of fabricating an ink jet printhead having integral silicon filter |
JP3161216B2 (ja) | 1994-04-27 | 2001-04-25 | 株式会社村田製作所 | 圧電共振子の共振周波数調整方法 |
JP3374878B2 (ja) * | 1994-09-02 | 2003-02-10 | 三菱電機株式会社 | 半導体エッチング方法 |
JPH09284074A (ja) | 1996-04-10 | 1997-10-31 | Seiko Epson Corp | 水晶振動子及びその製造方法並びにその水晶振動子を有する電子機器 |
JP3729249B2 (ja) | 2000-09-01 | 2005-12-21 | セイコーエプソン株式会社 | 振動片の製造方法、振動片、振動片を有する振動子、発振器及び携帯電話装置 |
JP4524916B2 (ja) | 2000-12-27 | 2010-08-18 | エプソントヨコム株式会社 | 高周波圧電デバイス |
JP2003017976A (ja) | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 圧電基板、圧電振動素子、圧電デバイス及び圧電基板母材 |
JP3900513B2 (ja) | 2001-10-29 | 2007-04-04 | セイコーエプソン株式会社 | 音叉型圧電振動片、振動子、発振器、電子機器及び音叉型圧電振動片の製造方法 |
JP2003133895A (ja) | 2001-10-29 | 2003-05-09 | Seiko Epson Corp | 振動片、振動子、発振器及び電子機器 |
-
2003
- 2003-07-14 AU AU2003281555A patent/AU2003281555A1/en not_active Abandoned
- 2003-07-14 US US10/490,367 patent/US7560040B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-07-14 CN CN038010984A patent/CN1557048B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-07-14 WO PCT/JP2003/008945 patent/WO2004010577A1/ja active Application Filing
- 2003-07-14 JP JP2004522729A patent/JP4349283B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1557048B (zh) | 2010-04-21 |
US7560040B2 (en) | 2009-07-14 |
CN1557048A (zh) | 2004-12-22 |
WO2004010577A1 (ja) | 2004-01-29 |
AU2003281555A1 (en) | 2004-02-09 |
JPWO2004010577A1 (ja) | 2005-11-17 |
US20040248423A1 (en) | 2004-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7485238B2 (en) | Etching method, etched product formed by the same, and piezoelectric vibration device, method for producing the same | |
EP1883123B1 (en) | Method for manufacturing piezoelectric resonator | |
US8093787B2 (en) | Tuning-fork-type piezoelectric vibrating piece with root portions having tapered surfaces in the thickness direction | |
JP4435758B2 (ja) | 水晶片の製造方法 | |
US8365371B2 (en) | Methods for manufacturing piezoelectric vibrating devices | |
JP3888107B2 (ja) | 圧電振動デバイス用圧電振動板のエッチング方法 | |
JP4349283B2 (ja) | エッチング方法 | |
JP3915640B2 (ja) | 水晶z板のエッチング方法及びその方法によって成形された水晶ウェハ | |
JP2007243435A (ja) | 圧電振動片、圧電振動片の周波数調整方法 | |
JP2010136202A (ja) | 圧電振動片の製造方法、圧電振動片及び圧電振動子 | |
JP2004040399A (ja) | エッチング方法及びその方法によって成形されたエッチング成形品 | |
JP5219676B2 (ja) | 水晶振動子用素子、水晶振動子及び電子部品 | |
JP2010178184A (ja) | 水晶振動子の製造方法 | |
JP2007028580A (ja) | 圧電振動片、圧電振動子、圧電振動片の周波数調整方法 | |
US20150145381A1 (en) | Quartz vibrator and manufacturing method thereof | |
JP5002304B2 (ja) | 水晶振動子の製造方法 | |
JP5769557B2 (ja) | 水晶振動子片の製造方法 | |
KR101606962B1 (ko) | 수정 진동자 및 그 제조방법 | |
JP4955038B2 (ja) | 水晶片の製造方法及びこの方法により製造した水晶振動子 | |
JP4341340B2 (ja) | 圧電振動デバイスの製造方法および製造装置 | |
JP2008035441A (ja) | 圧電振動子の製造方法、圧電振動子及び電子部品 | |
JP2006108825A (ja) | 水晶振動子の製造方法 | |
JP2003298373A (ja) | 圧電振動デバイスの製造方法及びその製造方法により製造された圧電振動デバイス | |
JP2008219542A (ja) | 圧電振動片の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081118 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090424 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090424 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090602 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090605 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090630 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090713 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |