JP4321173B2 - ダイシング方法、カバーガラス、液晶パネル、液晶プロジェクタ、撮像装置及びデジタル画像認識装置 - Google Patents
ダイシング方法、カバーガラス、液晶パネル、液晶プロジェクタ、撮像装置及びデジタル画像認識装置 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 59
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title description 33
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 title description 30
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 161
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 143
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 89
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 claims description 54
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 19
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 15
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 9
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 9
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 5
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000006121 base glass Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005816 glass manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
- H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14683—Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
- H01L27/14687—Wafer level processing
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133351—Manufacturing of individual cells out of a plurality of cells, e.g. by dicing
Description
このライトバルブの液晶表示装置の入射側と出射側には、防塵カバーガラス(カバーガラス)が設けられている。防塵カバーガラスは、ゴミが液晶表示装置の外面に付着するとゴミが拡大投影表示されてしまうのを防止するため、ゴミを液晶表示面から離間させてアウトフォーカスとすることによって、ゴミの付着を目立たなくする機能を有する。そのため、防塵カバーガラスは、厚みが1.1mm程度と厚くなっており、液晶表示装置の外面を構成するガラスに接着されるため、このガラスと同じ材質の石英ガラスやネオセラムのようなガラスが用いられる。また、光線透過量を良好にするために、外面に反射防止膜が設けられている。
従来のダイシング方法として、粘着テープを貼ったガラス基板を粘着テープを貼った側と反対側の面からダイシングブレードが粘着テープに達するように1回のダイシングで切断するダイシング方法がある。
しかし、1回のダイシングで切断する方法では、ガラス基板の切断面にチッピングが発生し、切断面に欠けが生じ、不良になってしまうという問題や、ブレードの刃先が粘着テープの粘着剤層を削ってしまうため、切削屑が切断面に粘着剤を伴って付着し、洗浄が困難になってしまうという問題がある。これらの問題を解決するため、下記の先行技術情報(特許文献1)に記載されているダイシング方法がある。
図15を参照しながらこの公報に記載されているダイシング方法について説明する。まず、図15(A)に示すように、ガラス基板10の一方の面を粘着テープ21に貼着して固定し、先端がV字状に尖った幅広のテーパーブレード41で所定のカッティングラインに沿ってガラス基板10の表面に断面V字状のテーパー溝(V溝)31を形成する。
次に、図15(B)に示すように、粘着テープ21を剥がし、テーパー溝31を設けた側の面に粘着テープ22を貼る。そして、図15(C)に示すように、テーパー溝31を設けた面と反対側の面からテーパー溝31より幅が狭いダイシングブレード42を用いてダイシングブレード42の先端がテーパー溝31内に達するようにダイシング溝を形成し、ガラス基板10を切断する。
このダイシング方法は、テーパー溝31を形成して切断面に面取りを施すと共に、ダイシングブレード42の刃先が粘着テープ22を削ってしまうことを防止できるとされている。
このような現象が生じるような摩耗になる前にダイシングブレードを交換すれば、かかる問題点は生じないが、ダイシングブレードの刃先の形状の管理が煩雑であり、しかも、ダイシングブレードの頻繁な交換により、コスト増加になってしまうという問題がある。
なお、以上のような問題は、液晶表示装置の防塵カバーガラスを製造する場合のみならず、ベース基板を切断して、個々の分割基板を製造するような場合、例えば、半導体ウエハを切断するような場合においても生じる問題となっている。
ここで、中間ダイシング工程では、中間ダイシング溝を形成した後、テーパーブレード等の傾斜面を有する刃により、中間ダイシング溝の開口部の両側に傾斜面を設けてもよく、また、テーパーブレード等の傾斜面を有する刃によりテーパー溝を形成した後、中間ダイシング溝を形成することにより、中間ダイシング溝の開口部の両側に傾斜面を設けてもよい。
また、本発明では、所定の深さの中間ダイシング溝を形成し、前記中間ダイシング溝を形成した反対側の面から切断ダイシング溝を形成しているので、切断ダイシング溝を形成するブレードが、中間ダイシング溝の開口部両側に形成された傾斜面に達する前にダイシングが終了する。従って、従来のように、切断ダイシング溝を形成するブレードがテーパー溝(傾斜面が形成された部分)内に突出した状態で切断が終わることがないので、切断ダイシング溝を形成するブレードが磨耗していても、切断残りが生じることがない。
さらに、このように、切断ダイシング溝を形成するブレードの刃先が、中間ダイシング溝の開口部両側に形成された傾斜面に達する前にダイシングが終了するため、粘着テープにブレードの刃先が接触することはない。従って、切削屑が粘着剤を伴って切断面に付着することがなく、分割されたベース基板の洗浄を容易に行うことができる。
このような本発明によれば、テーパー溝を形成した後、中間ダイシング溝を形成しているので、テーパー溝を基準とし、中間ダイシング溝の形成位置を容易に決定することができる。また、中間ダイシング溝を形成する前に、テーパー溝を形成しているので、中間ダイシング溝を形成するブレードの刃先をテーパー溝に差込み、ブレードの刃先の位置を固定して中間ダイシング溝を形成することができ、テーパー溝が形成されていない場合に比べ、中間ダイシング溝を容易に形成することができる。
さらに、本発明では、前記ガラス基板の前記中間ダイシング溝を設ける側の面に反射防止膜が設けられているものが好ましい。そして、このような反射防止膜が形成されたガラス基板をダイシングする際には、中間ダイシング工程の後段の前記貼着工程後に、前記粘着テープが貼着されているガラス基板に光を照射し、ガラス基板からの反射光又は透過光により前記中間ダイシング溝の位置を検出する検出工程を有することが好ましい。
また、反射防止膜に粘着テープを貼着すると、反射防止膜はその機能を失ってかえって増反射膜となり、反射防止膜がある部分とない部分との差が明確になる。即ち、本発明では、ガラス基板に反射防止膜を設け、1回目のダイシングで反射防止膜が設けられている側に溝を設けている。そして、ダイシングを行った反射防止膜が設けられている面に粘着テープを貼着している。1回目のダイシングで設けた溝によって反射防止膜が削られているため、ガラス基板に光を照射すると、その反射光又は透過光から、溝を明瞭に検出でき、反対面から正確に2回目のダイシングを行うことができる。
さらに、このように正確にダイシングすることができるため、ガラス基板に、位置合わせの基準となるアライメントマークを設ける必要がない。通常、アライメントマークを形成すると、その部分は製品として使用することができなくなるが、本発明では、アライメントマークを形成する必要がないので、製品の歩留まりを向上させることができる。
また、本発明では、中間ダイシング溝を形成した後、反対側の面にテーパー溝及び切断ダイシング溝を形成しており、切断ダイシング溝を形成するブレードが中間ダイシング溝に達することでベース基板の分割が完成する。従って、従来のように、切断ダイシング溝を形成するブレードがテーパー溝内に突出した状態で切断が終わることがないので、切断ダイシング溝を形成するブレードが磨耗していても、切断残りが生じることがない。これによっても効果的にチッピングを防止することができる。
また、テーパー溝を形成した後、切断ダイシング溝を形成しているので、テーパー溝を基準とし、切断ダイシング溝の形成位置を容易に決定することができる。また、切断ダイシング溝を形成する前に、テーパー溝を形成しているので、切断ダイシング溝を形成するブレードの刃先をテーパー溝に差込み、ブレードの刃先の位置を固定して切断ダイシング溝を形成することができる。そのため、テーパー溝が形成されていない場合に比べ、切断ダイシング溝を容易に形成することができる。
さらに、本発明では、前記ガラス基板の前記中間ダイシング溝を設ける側の面に反射防止膜が設けられているものが好ましい。そして、このような反射防止膜が形成されたガラス基板をダイシングする際には、中間ダイシング工程の後段の前記貼着工程後に、前記粘着テープが貼着されているガラス基板に光を照射し、ガラス基板からの反射光又は透過光により前記中間ダイシング溝の位置を検出する検出工程を有することが好ましい。
また、反射防止膜に粘着テープを貼着すると、反射防止膜はその機能を失ってかえって増反射膜となり、反射防止膜がある部分とない部分との差が明確になる。即ち、本発明では、ガラス基板に反射防止膜を設け、1回目のダイシングで反射防止膜が設けられている側に溝を設けている。そして、ダイシングを行った反射防止膜が設けられている面に粘着テープを貼着している。1回目のダイシングで設けた溝によって反射防止膜が削られているため、ガラス基板に光を照射すると、その反射光又は透過光から、溝を明瞭に検出でき、反対面から正確に2回目のダイシングを行うことができる。
さらに、このように正確にダイシングすることができるため、ガラス基板に、位置合わせの基準となるアライメントマークを設ける必要がない。通常、アライメントマークを形成すると、その部分は製品として使用することができなくなるが、本発明では、アライメントマークを形成する必要がないので、製品の歩留まりを向上させることができる。
1.第1実施形態
図1には、ベース基板であるガラス基板10をダイシングするダイシング装置6が示されている。このガラス基板10は、熱膨張率が小さい石英ガラスやホウケイ酸ガラス等の材料で構成されるが、これに限らず、通常のソーダ石灰ガラスや無アルカリガラス等の材料で構成してもよい。図2に示すように、ガラス基板10の厚みT1は0.5mm以上、2.0mm以下であり、その一面には、反射防止膜11が設けられている。反射防止膜11は、単層又は多層の有機膜又は無機膜で構成されるが、特に限定されるものではない。
ダイシング装置6は、ガラス基板10を収容するカセット61と、このカセット61を設置するとともに、上下に移動可能なカセット設置台60と、カセット61からガラス基板10を仮置き部62に搬出する搬出機構63と、仮置き部62に設置されたガラス基板10をチャックテーブル64上に搬送する第1搬送機構65と、チャックテーブル64上に設置されたガラス基板10をダイシングするダイシング機構66と、ダイシングされたガラス基板10を洗浄手段68まで搬送する第2搬送手段67とを備える。
さらに、このダイシング機構66の近傍には、チャックテーブル64上に設置されたガラス基板10のダイシング位置を検出するため、ガラス基板10に光を照射する照射手段(図示略)と、その反射光又は透過光を撮像するCCD(charge coupled device)カメラ等の撮像手段(図示略)とが設置されている。
まず、図2(A)に示すように、治具69にガラス基板10を取り付ける。治具69は、ダイシング装置6のチャックテーブル64にガラス基板10を固定するためのものである。この治具69は、平面略円形形状の枠状の部材であり、ガラス基板10の表裏面側に位置する部分が開口している。この治具69の高さT2は、ガラス基板10の厚みT1に反射防止膜11の厚みを加えた寸法と略等しい。
治具69の一方の開口に第1粘着テープ21を貼り付ける。次に、ガラス基板10の反射防止膜11が設けられている面と反対面を第1粘着テープ21にその粘着剤層211(図4参照)を介して貼着して固定する(第1貼着工程)。
ここで、第1粘着テープ21としては、粘着剤層211が通常は強力な粘着力を有するが、例えば紫外線、電子線等を照射することにより、硬化して粘着力が大幅に低下し、剥離し易くできる特性を有するものを用いることが好ましい。
次に、図2(B)に示すように、治具69を固定クランプPにより、チャックテーブル64に固定する。これにより、チャックテーブル64上でガラス基板10が固定されることとなる。なお、固定クランプPは、治具69の他方の開口側の端面に取り付けられる。
次に、図3(F)に示すように、固定クランプPを治具69から外し、第1粘着テープ21に紫外線等を照射し、粘着剤層211を硬化させて粘着力を低下させる。そして、第1粘着テープ21と同様の特性を有する第2粘着テープ22を、治具69の他方の開口に跨るように配置し、その粘着剤層221(図4(D)参照)を介して反射防止膜11の上に貼着した後、第1粘着テープ21を剥離する第2貼着工程を行う。
次に、面取り中間ダイシング溝34の位置を検出する検出工程を行う。図3(G)及び図4(D)は検出工程を行う時のガラス基板10を示している。図3(G)及び図4(D)に示すように、ガラス基板10には、面取り33を有する面取り中間ダイシング溝34が設けられ、その部分で反射防止膜11が消失している。反射防止膜11には、第2粘着テープ22が貼着されている。
反射防止膜11は、空気との界面での反射を抑制して透過光量を多くするように設計されている。反射防止膜11は、空気側からガラス基板10に光が入射するときに空気側への反射を抑制する場合と、ガラス基板10を通過した光が空気側に抜けていくときに、ガラス基板10側への反射を抑制する場合の両方に有効である。ところが、反射防止膜11の表面に第2粘着テープ22の粘着剤層221が密着していると、粘着剤層221は空気より屈折率が高いために、反射防止膜11は反射防止膜としての機能が失われ、かえって反射防止膜がない場合よりも反射が増加し、増反射膜として機能する。
図6は、4層の多層膜で構成される反射防止膜の反射率の分光スペクトルを示すグラフである。実線は粘着テープが貼着されていない空気との界面を有する場合の反射率(%)を示し、破線は粘着テープを貼着した場合の反射率を示している。粘着テープを貼着することによって反射率が顕著に増加している。400nmから700nmの分光反射率の平均値は、空気に対して0.62%であるが、粘着テープを貼着した場合は3.17%と増加する。
反射光が撮像された画像は、反射防止膜11での反射量が面取り中間ダイシング溝34の部分より多く、面取り中間ダイシング溝34の部分で暗くなるため、面取り中間ダイシング溝34を暗部として検出することができる。また、透過光が撮像された画像は、反射防止膜11が存在する部分で反射が大きく、透過光量が少なくなっており、面取り中間ダイシング溝34の部分で反射量が少なく、透過光量が多いため、面取り中間ダイシング溝34の部分で周囲より明るくなり、面取り中間ダイシング溝34を明部として検出することができる。このようなCCD画像を例えば2値化処理して面取り中間ダイシング溝34の位置、そして中間ダイシング溝32の位置をコンピュータで演算することができる。
その後、第2粘着テープ22に紫外線等を照射し、粘着剤層221を硬化させて粘着剤層221の粘着力を弱め、第2粘着テープ22から分割した各分割ガラス基板を剥離する。その後、分割ガラス基板を第2搬送手段67により洗浄手段68まで搬出し、洗浄手段68で洗浄する。さらに、分割ガラス基板を第1搬送手段65により仮置き部62に搬送し、搬出機構63によってカセット61の所定位置に収納する。
光源装置71から射出された光束は、反射ミラー711により反射されて色分離光学系72に入射する。色分離光学系72は、青色光(B)、緑色光(G)を反射し、赤色光(R)を透過するダイクロイックミラー721、青色光(B)を透過し、緑色光(G)を反射するダイクロイックミラー722を備え、照明光学系から射出された光束を赤色光(R)、緑色光(G)、青色光(B)に分離する。
リレー光学系73は、ダイクロイックミラー722を透過した青色光(B)をクロスダイクロイックプリズム742まで導くものであり、リレーレンズ731と、反射ミラー732,733とを備える。
光学装置74は、入射された光束を画像情報に応じて変調してカラー画像を形成するものであり、液晶パネル741(741R,741G,741B)と、前述したクロスダイクロイックプリズム742とを備える。
これにより、投射レンズ76のバックフォーカス位置から液晶パネル741のパネル面の位置がずれ、光学的にパネル表面に付着した埃等等のごみが目立たなくなる。
(1-1)断面V字状のテーパー溝31を形成したのち、中間ダイシング溝32を形成しているので、中間ダイシング溝32の開口部の両側には、傾斜面が設けられ、中間ダイシング溝32の開口部両側の切断面に面取り33が形成されることとなる。これにより、効果的にチッピングの発生を防止することができ、分割ガラス基板(カバーガラス1)の不良品の発生を抑制でき、歩留まりを向上させることができる。
従って、従来のように、切断ダイシング溝35を形成するダイシングブレード42aがテーパー溝(傾斜面が形成された部分)内に突出した状態で切断が終わることがないので、切断ダイシング溝35を形成するダイシングブレード42aが磨耗していても、従来のように、切断残りが生じることがない。これにより、分割ガラス基板、すなわち、カバーガラス1の不良品の発生を抑制でき、歩留まりを向上させることができる。
また、ダイシングブレード42aが摩耗しても使用することができるため、ダイシングブレード42aを長く使用することができ、コストを低減することができる。また、ダイシングブレード42aの刃先の摩耗の管理を簡略化できるため、コストを低減することができる。
(1-4)本実施形態では、テーパー溝31を形成した後、中間ダイシング溝32を形成しているので、テーパー溝31を基準として中間ダイシング溝32の形成位置を容易に決定することができる。また、テーパー溝31が形成されているので、中間ダイシング溝32を形成するダイシングブレード42aの刃先をテーパー溝31に差込み、ダイシングブレード42aの刃先の位置を固定して中間ダイシング溝32を形成することができるので、テーパー溝がない場合に比べ、中間ダイシング溝32を容易に形成することができる。
(1-6)さらに、本実施形態では、ガラス基板10は治具69に取り付けられているので、切断ダイシング溝35を形成するために、ガラス基板10を反転させる際に治具69を保持して反転させることができる。ガラス基板10を直接保持しなくても良いので、ガラス基板10の破損等を防止することができる。
(1-8)本実施形態では、反射防止膜11に第2粘着テープ22を貼着しているため、反射防止膜11はその機能を失ってかえって増反射膜となり、反射防止膜11がある部分とない部分との差が明確になる。1回目のダイシングで設けた面取り中間ダイシング溝34によって反射防止膜11が削られているため、ガラス基板10に光を照射し、その反射光又は透過光から面取り中間ダイシング溝34を明瞭に検出でき、反対面から正確に2回目のダイシングを行うことができる。
そして、このように正確にダイシングすることができるため、ガラス基板10には正確に位置合わせするためのアライメントマークを形成しなくてもよい。通常、アライメントマークを形成すると、その部分は、製品として使用することができなくなるが、本実施形態では、アライメントマークを形成する必要がないので、アライメントマークを形成した部分の無駄がなく、ベースとなったガラス基板10の全体を分割して製品化することが可能であり、歩留まりが良く、生産コストを低減することができる。
次に、本発明のダイシング方法の第2実施形態について図9を参照して説明する。以下の説明では、既に説明した部分と同一の部分については、同一符号を付してその説明を省略する。
第1実施形態では、中間ダイシング工程において、まずテーパー溝31の形成を行い、次に中間ダイシング溝32を形成することにより、中間ダイシング溝32の開口部の面取りを行っていたが、第2実施形態では、先に中間ダイシング溝32を形成した後、中間ダイシング溝32の開口部の面取りを行う。その他の点は、第1実施形態と同じである。
第2実施形態のダイシング方法は、まず、図9(A)に示すように、ダイシングブレード42aを用いて、反射防止膜11が設けられている面に対して所定のカッティングラインに沿って中間ダイシング溝32を設ける。この中間ダイシング溝32の深さは、ガラス基板10を切断しないように、ガラス基板10の厚さ未満とする。ここで用いられるダイシングブレード42aは、図9(A)に示すように、刃先が摩耗して丸くなっていても差し支えない。
このようにして第2実施形態のダイシング方法は、第1実施形態のダイシング方法と同様に、図9(C)に示すように、ガラス基板10の一面側に、中間ダイシング溝32の開口部の両側に斜めに傾斜した面取り33が形成された面取り中間ダイシング溝34を形成する。図9(D)及び図9(E)に示すようにその後の工程は第1実施形態と同様であるので、説明を省略する。
(2-1)中間ダイシング溝32を形成した後、テーパーブレード41により、面取り33を形成しており、これにより、効果的にチッピングの発生を防止することができる。従って、分割ガラス基板の不良品の発生を抑制でき、歩留まりを向上させることができる。
(2-2)テーパー溝を形成した後、中間ダイシング溝を形成する場合には、テーパー溝を形成するテーパーブレードの刃先が磨耗していると、テーパー溝が形成しにくくなる可能性がある。これに対し、本実施形態では、中間ダイシング溝32を形成した後、テーパーブレード41により、面取りを行っており、テーパーブレード41でガラス基板10に新たな溝を形成するわけではないので、テーパーブレード41の刃先の先端が磨耗していても問題が生じない。従って、本実施形態では、ブレード42aのみならず、テーパーブレード41の刃先の管理を煩雑に行う必要がない。
次に、図10を参照しながら第3実施形態のダイシング方法について説明する。
第3実施形態でも、カバーガラスを製造する場合を例にとって説明する。まず、図10(A)に示すように、ガラス基板10の反射防止膜11が設けられている面と反対面を第1粘着テープ21にその粘着剤層211を介して貼着して固定する第1貼着工程を行う。なお、ここでは、図示しないが、第1粘着テープ21は、第1実施形態と同様に、枠状の治具の開口に跨って貼着されている。従って、ガラス基板10を第1粘着テープ21に貼着することで、ガラス基板10は、治具に取り付けられることとなる。
そして、ダイシングブレード42aを用いて、所定のカッティングラインに沿って反射防止膜11が設けられている面に対して中間ダイシング溝32を設ける中間ダイシング工程を行う。この中間ダイシング溝32の深さは、ガラス基板10を切断しないように、ガラス基板10の厚さ未満とする。ここで用いられるダイシングブレード42aは、図10(A)に示すように、刃先が摩耗して丸くなっていても差し支えない。
その後、クランプによる治具の固定を解除し、第1粘着テープ21に紫外線等を照射し、粘着剤層211を硬化させて粘着力を低下させる。そして、図10(B)に示すように、第1粘着テープ21と同様の特性を有する第2粘着テープ22をその粘着剤層221を介して反射防止膜11の上に貼着した後、第1粘着テープ21を剥離する第2貼着工程を行う。
次に、上述したような検出工程を行う。粘着剤層221が貼られた反射防止膜11は増反射膜として機能し、中間ダイシング溝32によって反射防止膜11が消失している部分は、透過光では明部として、反射光では暗部として検出できる。
そして、図10(C)及び図10(D)に示すように、位置を検出した中間ダイシング溝32に対応するガラス基板10の対向面にテーパーブレード41で中間ダイシング溝32の中心に先端が正確に重なるように両側に傾斜面を有する断面V字状のテーパー溝31を形成するテーパー溝形成工程を行う。
その後、第2粘着テープ22に紫外線等を照射し、粘着剤層221を硬化させて粘着剤層221の粘着力を弱め、粘着テープ22から分割した各分割ガラス基板を剥離する。その後の工程は、第1実施形態と同様である。
(3-1)テーパー溝31を形成した後、切断ダイシング溝35を形成しており、切断ダイシング溝35の開口部の両側部分に面取り33が形成されることとなる。これにより、効果的にチッピングの発生を防止することができる。
(3-2)所定の深さの中間ダイシング溝32を形成した後、この中間ダイシング溝32を形成した面と反対側の面から切断ダイシング溝35を形成しているので、第2粘着テープ22にダイシングブレード42aの刃先が接触することがない。従って、切削屑が粘着剤を伴って分割ガラス基板に付着することがなく、分割ガラス基板の洗浄を容易に行うことができる。
(3-3)テーパー溝31を形成した後、切断ダイシング溝35を形成しているので、テーパー溝31を基準として、切断ダイシング溝35の形成位置を容易に決定することができる。さらに、テーパー溝31を形成した後、切断ダイシング溝35を形成しているので、切断ダイシング溝35を形成するダイシングブレード42aの刃先の位置を固定して切断ダイシング溝35を形成することができる。これにより、テーパー溝31がない場合に比べ、容易に切断ダイシング溝35を形成することができる。
前記各実施形態では、ガラス基板10を分割したカバーガラス1は、液晶プロジェクタ7の液晶パネル741に固着されるとしたが、これに限らず、カバーガラス1を、図11に示すように、固体撮像装置8に使用してもよい。固体撮像装置8は、CCD(charge coupled device)やMOS(metal-oxide semiconductor)等の固体撮像素子81と、この固体撮像素子81上に設置されたカラーフィルタ82と、固体撮像素子81及びカラーフィルタ82を収容するパッケージ(筐体)83とを備える。このパッケージ83の開口には、固体撮像素子81と対向するようにカバーガラス1が取り付けられる。
このような固体撮像装置8は、図12及び図13に示すような、デジタルカメラ9Aや、ビデオ9B等のデジタル画像認識装置に搭載される。デジタルカメラ9Aやビデオ9Bでは、被写体からの像が固体撮像装置8のカラーフィルタ82を介して固体撮像素子81に結像され、その光学像を固体撮像素子81によって光電変換することで画像データを得ることができる。
さらに、前記各実施形態では、ガラス基板の厚みを0.5mm以上、2mm以下としたが、この範囲には限られず、ガラス基板の用途に応じて適宜厚みを設定すればよい。
また、上述した第1実施形態〜第3実施形態では、ベース基板(ガラス基板10)の一方の面に面取りを施していたが、例えば、図14(A)及び図14(B)に示すように、テーパーブレード41でテーパー溝31を形成するテーパー溝形成工程を追加すれば、ベース基板(ガラス基板10)の両面の切断面にテーパー面を形成することができる。
このようにすることで、両面の切断面に面取り33が施された分割ガラス基板を得ることができ、チッピングの発生をより効果的に防止することができる。
ガラス基板の両面に反射防止膜が形成されていても、中間ダイシング溝32又は面取り中間ダイシング溝34を光学的に検出する方法には影響がない。
また、ガラス基板の用途によっては、反射防止膜は設けられていなくてもよい。
さらに、位置合わせ用のアライメントマークが設けられているベース基板をダイシングする場合は、ガラス基板のように透明なベース基板でなくてもよく、例えば、半導体回路を集積する半導体ウエハにも本発明のダイシング方法を適用することができる。
また、前記各実施形態では、ガラス基板10を治具69に固定してガラス基板10のダイシングを行ったが、治具69を使用しないで、ガラス基板10のダイシングを行ってもよい。例えば、チャックテーブルに吸引機構を設け、ガラス基板10を吸引して固定し、ダイシングを行ってもよい。
7:液晶プロジェクタ
8:固体撮像装置
9A:デジタルカメラ
9B:ビデオカメラ
10:ガラス基板
11:反射防止膜
21:第1粘着テープ
22:第2粘着テープ
31:テーパー溝(V溝)
32:中間ダイシング溝
33:面取り
Claims (3)
- ガラス基板において反射防止膜が設けられている面側に、所定のカッティングラインに沿って前記ガラス基板の厚さ未満の深さの中間ダイシング溝を設けるとともに、前記中間ダイシング溝の開口部の両側に傾斜面を設ける中間ダイシング工程と、
前記ガラス基板の前記中間ダイシング溝を形成した面に粘着テープを貼着する貼着工程と、
前記粘着テープが貼着されている前記ガラス基板に光を照射し、前記ガラス基板からの反射光又は透過光により前記中間ダイシング溝の位置を検出する検出工程と、
前記ガラス基板の前記中間ダイシング溝を形成した反対側の面に前記中間ダイシング溝に沿って前記中間ダイシング溝に達する切断ダイシング溝を形成して前記ガラス基板を前記カッティングラインに沿って分割する分割ダイシング工程と
を有することを特徴とするダイシング方法。 - 請求項1に記載のダイシング方法において、
前記中間ダイシング工程では、前記ガラス基板の前記反射防止膜が設けられている面側に所定のカッティングラインに沿って両側に傾斜面を有するテーパー溝を形成した後、中間ダイシング溝を設けることにより、中間ダイシング溝の開口部の両側に傾斜面を設けることを特徴とするダイシング方法。 - ガラス基板の反射防止膜が設けられている面側に所定のカッティングラインに沿って前記ガラス基板の厚さ未満の深さの中間ダイシング溝を設ける中間ダイシング工程と、
前記ガラス基板の前記中間ダイシング溝を形成した面に粘着テープを貼着する貼着工程と、
前記中間ダイシング溝を形成した反対側の面に前記中間ダイシング溝に沿って両側に傾斜面を有するテーパー溝を設けるテーパー溝形成工程と、
前記粘着テープが貼着されている前記ガラス基板に光を照射し、前記ガラス基板からの反射光又は透過光により前記中間ダイシング溝の位置を検出する検出工程と、
前記テーパー溝のほぼ中心に沿って前記テーパー溝よりも幅が狭く、かつ前記中間ダイシング溝に達する切断ダイシング溝を形成して前記ガラス基板を前記カッティングラインに沿って分割する分割ダイシング工程と
を有することを特徴とするダイシング方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003287735A JP4321173B2 (ja) | 2002-10-04 | 2003-08-06 | ダイシング方法、カバーガラス、液晶パネル、液晶プロジェクタ、撮像装置及びデジタル画像認識装置 |
TW092125383A TWI252217B (en) | 2002-10-04 | 2003-09-15 | Dicing method, cover glass, liquid crystal panel, liquid crystal projector, imaging device, and digital image recognition device |
KR10-2003-0068873A KR100504582B1 (ko) | 2002-10-04 | 2003-10-02 | 다이싱 방법, 커버 유리, 액정 패널, 액정 프로젝터, 고체촬상 장치 및 디지털 화상 인식 장치 |
US10/677,246 US20040166654A1 (en) | 2002-10-04 | 2003-10-03 | Panel, liquid crystal projector, image pickup device, and digital image recognition device |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002292374 | 2002-10-04 | ||
JP2003287735A JP4321173B2 (ja) | 2002-10-04 | 2003-08-06 | ダイシング方法、カバーガラス、液晶パネル、液晶プロジェクタ、撮像装置及びデジタル画像認識装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004142428A JP2004142428A (ja) | 2004-05-20 |
JP4321173B2 true JP4321173B2 (ja) | 2009-08-26 |
Family
ID=32473443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003287735A Expired - Fee Related JP4321173B2 (ja) | 2002-10-04 | 2003-08-06 | ダイシング方法、カバーガラス、液晶パネル、液晶プロジェクタ、撮像装置及びデジタル画像認識装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040166654A1 (ja) |
JP (1) | JP4321173B2 (ja) |
KR (1) | KR100504582B1 (ja) |
TW (1) | TWI252217B (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001290007A (ja) * | 2000-04-10 | 2001-10-19 | Sony Corp | 光学パネル装置のマイクロレンズ位置設計方法 |
TWI262542B (en) * | 2005-06-23 | 2006-09-21 | Advanced Semiconductor Eng | Apparatus and method for separating dice |
JP4923874B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2012-04-25 | 株式会社デンソー | 半導体ウェハ |
JP4240111B2 (ja) * | 2006-11-06 | 2009-03-18 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の製造方法 |
US7662669B2 (en) * | 2007-07-24 | 2010-02-16 | Northrop Grumman Space & Mission Systems Corp. | Method of exposing circuit lateral interconnect contacts by wafer saw |
JP5271171B2 (ja) * | 2009-06-26 | 2013-08-21 | 三菱電機株式会社 | 画像表示素子の製造方法 |
KR101089962B1 (ko) * | 2009-11-27 | 2011-12-05 | 삼성전기주식회사 | 디스플레이용 어레이 기판 및 디스플레이용 기판의 제조 방법 |
JP5505114B2 (ja) * | 2010-06-16 | 2014-05-28 | 信越化学工業株式会社 | 希土類焼結磁石のマルチ切断加工方法 |
JP5839905B2 (ja) * | 2011-09-14 | 2016-01-06 | 株式会社ディスコ | 被加工物の切削方法 |
JP2014239152A (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-18 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft | 電極層を分断する溝を有する半導体素子及びその溝の形成方法 |
JP6415292B2 (ja) * | 2014-12-10 | 2018-10-31 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
CN108972925B (zh) * | 2018-08-28 | 2020-10-23 | 扬州宏祥光电科技有限公司 | 一种太阳能级硅片切割方法 |
JP7306859B2 (ja) * | 2019-04-09 | 2023-07-11 | 株式会社ディスコ | 透明板の加工方法 |
CN113126345B (zh) * | 2021-03-12 | 2022-06-10 | 莆田市嘉业光电电子有限公司 | 液晶显示器大版丝印生产工艺及制备装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01222905A (ja) * | 1988-03-02 | 1989-09-06 | Hitachi Ltd | ウエハ分割一貫装置 |
JPH02214610A (ja) * | 1989-02-15 | 1990-08-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ダイシングテープ |
JP3162580B2 (ja) * | 1994-08-09 | 2001-05-08 | セイコー精機株式会社 | ダイシング装置 |
JPH0876073A (ja) * | 1994-09-02 | 1996-03-22 | Sony Corp | 液晶表示装置の製法 |
JP3584539B2 (ja) * | 1995-05-12 | 2004-11-04 | 株式会社デンソー | ガラス付き半導体ウエハの切断方法 |
JPH09141646A (ja) * | 1995-11-21 | 1997-06-03 | Sony Corp | 基板加工方法 |
US5972781A (en) * | 1997-09-30 | 1999-10-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for producing semiconductor chips |
FR2782843B1 (fr) * | 1998-08-25 | 2000-09-29 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'isolation physique de regions d'une plaque de substrat |
JP2003048209A (ja) * | 2001-08-06 | 2003-02-18 | Tokuyama Corp | セラミックチップの製造方法 |
US6818532B2 (en) * | 2002-04-09 | 2004-11-16 | Oriol, Inc. | Method of etching substrates |
JP3095230U (ja) * | 2003-01-14 | 2003-07-25 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 脆性材料基板の分断テーブル |
-
2003
- 2003-08-06 JP JP2003287735A patent/JP4321173B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-09-15 TW TW092125383A patent/TWI252217B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-10-02 KR KR10-2003-0068873A patent/KR100504582B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-10-03 US US10/677,246 patent/US20040166654A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20040031636A (ko) | 2004-04-13 |
JP2004142428A (ja) | 2004-05-20 |
KR100504582B1 (ko) | 2005-08-03 |
TW200413260A (en) | 2004-08-01 |
US20040166654A1 (en) | 2004-08-26 |
TWI252217B (en) | 2006-04-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051018 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20070403 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080108 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080305 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090512 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090525 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120612 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130612 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130612 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |