JP4319153B2 - 磁気センサ - Google Patents

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本発明は、磁気抵抗素子の特性を利用して検出対象物の回転等の運動を検出する磁気センサに関するものである。
従来より、回転運動を制御するために、回転軸に磁石を設置して、軸の回転に伴って変化する磁気ベクトルを検出することで回転方向、回転数、位置の判断を行うという手法が用いられており、この磁気ベクトルの変化を検出するものとして、磁気センサが用いられてきた。磁気センサの構造としては、シリコン、ゲルマニウム等からなるn型半導体で構成されたホール素子を用いた構造と、Fe−Ni合金等からなる強磁性体磁気抵抗素子(以下、磁気抵抗素子と呼ぶ)を用いた構造とが存在し、これらを比較すると、ホール素子に比べて温度特性に優れかつ低磁界での感度が高い等の特徴から、磁気抵抗素子を使用した構造が多く提案されている。
例えば、特許文献1には、一つの基板上に形成した磁気抵抗素子によって回転方向と回転数の検出を可能にした磁気センサを採用した回転方向検出器が記載されている。この特許文献1において用いている磁気センサは、2つの磁気抵抗素子の設置角度を45°ずらして構成したものであり、図5(a)に示すように、この磁気センサを回転体としての磁石24(以下、信号磁石24)の回転軸25の延長線上に対向配置した状態で信号磁石24を回転させると、これら2つの磁気抵抗素子から得られる波形は、図5(b)に示すように、互いに1/4周期の位相差を持つ余弦波と正弦波となるため、これらの波形から回転方向、回転数を検出することが可能となる。
特開昭54−148578号公報
しかし、上記特許文献1に記載の磁気センサで用いている磁気抵抗素子の配置では信号磁石24のNS極の判別ができないため、得られる波形は信号磁石24の1回転で2周期の余弦波及び正弦波となってしまい、回転角度0°〜180°と180°〜360°における波形は同じになり、位置の判別には別の手段を講じなければいけないという問題があった。この問題を解決するためには、信号磁石24が1回転したときに1周期の波形でかつ1/4周期の位相差を持つ余弦波と正弦波を出力する磁気センサが必要であるが、このような波形を得ることができる磁気抵抗素子からなる磁気センサはまだ知られていない。
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、信号磁石が1回転したときに1周期の波形でかつ1/4周期の位相差を持つ余弦波と正弦波を出力することが可能な磁気抵抗素子からなる磁気センサを提供することを目的とするものである。
本発明の請求項は、バイアス磁石の磁極面と略平行な基板の取付面に8つの磁気抵抗素子を設け、前記バイアス磁石の磁極面に対向する位置に、回転軸を通る面で2極に分かれている信号磁石からなる検出対象物を設け、前記8つの磁気抵抗素子により、前記バイアス磁石と前記検出対象物との相対的運動により生じる磁気ベクトルの変化を検出するようにした磁気センサにおいて、前記バイアス磁石は、磁気的中心から放射状に磁気ベクトルを発生するものからなり、前記8つの磁気抵抗素子のうち4つの磁気抵抗素子は、前記バイアス磁石の磁気的中心を通る前記基板の取付面上の点(以下、中心点)を通る互いに直交する2本の中心線のうち一方の中心線上であってかつ中心点に対して対称の位置に設けた第1の領域及び第2の領域にそれぞれ2つずつ配置し、他の4つの磁気抵抗素子は、他方の中心線上であってかつ中心点に対して対称の位置に設けた第3の領域及び第4の領域にそれぞれ2つずつ配置し、これらの第1〜第4のそれぞれの領域内における2つの磁気抵抗素子のうちの一方を中心線に対して略45°の角度方向に延伸させ、他方の磁気抵抗素子を一方の磁気抵抗素子に対して略直角となるように延伸させて構成し、中心点に対して対称の位置にある2つの領域の4つの磁気抵抗素子を1組とする2組それぞれフルブリッジ回路に接続してなり、前記検出対象物の回転軸を前記中心点と略重なるように構成したことを特徴とする磁気センサである。
本発明の請求項は、請求項に加えて、前記第1、第2のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、一方の中心線上に一直線となるように配置し、前記第3、第4のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、他方の中心線上に一直線となるように配置したことを特徴とする磁気センサである。
本発明の請求項は、請求項に加えて、前記第1、第2のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、一方の中心に対して線対称の位置となるように配置し、前記第3、第4のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、他方の中心線に対して線対称の位置となるように配置したことを特徴とする磁気センサである。
請求項記載の発明によれば、検出対象物の1回転で1周期となり、かつ、互いに1/4周期ずれた余弦波と正弦波を得ることができ、この2つの波形を用いることにより、検出対象の回転方向、回転数のみならず、位置の検出も同時に行うことが可能となる。さらに、フルブリッジ回路によって得られるもう1組の出力を用いることにより、差動回路で中点電位の安定性の向上と増幅を行うことが可能になるというメリットがある。
請求項記載の発明によれば、フルブリッジ回路を構成する8つの磁気抵抗素子のそれぞれの位置が定まるため、安定した出力波形を得ることが可能となる。
請求項記載の発明によれば、フルブリッジ回路を構成する8つの磁気抵抗素子のそれぞれの位置が定まるため、安定した出力波形を得ることが可能となる。
本発明による磁気センサは、磁石の磁極面と略平行な取付面に4つの磁気抵抗素子を設け、前記磁石とこの磁石の磁極面に対向する検出対象物との相対的運動により生じる磁気ベクトルの変化を検出するようにした磁気センサにおいて、前記4つの磁気抵抗素子のうち2つの磁気抵抗素子は、前記取付面上の任意の点(以下、中心点)を通る一方の中心線上であってかつ中心点に対して対称の位置にそれぞれ配置すると共に一方の中心線に対して略45°(又は135°)の角度となる同一方向に延伸させて構成し、残りの2つの磁気抵抗素子は、一方の中心線に対して垂直であると共に中心点を通る他方の中心線上であってかつ中心点に対して対称の位置にそれぞれ配置すると共に他方の中心線に対して略45°(又は135°)の角度となる同一方向に延伸させて構成し、このように構成した4つの磁気抵抗素子を中心点に対して向かい合う2つの磁気抵抗素子を1組として計2組でそれぞれハーフブリッジ回路に接続すると共に、磁石の磁極面の磁気的中心と取付面上の中心点とが重なるように位置決めをしたことを特徴とするものである。以下、図面を用いて詳細に説明する。
図1は、本発明の磁気センサ10の構成を示したものである。図1(a)は、磁気センサ10の基本構成を表したものであり、取付面としての基板15上に構成された4つの磁気抵抗素子11、12、13、14と、この基板15上の取付面と略平行となるように磁極面17(例えばN極)を対向させた磁石16(以下、バイアス磁石16)とによって構成されている。基板15上の4つの磁気抵抗素子のうち11と14は、図中の基板15の略中心にある中心点20を通る中心線18上であってかつ中心点20に対して対称の位置に設けられており、これらの磁気抵抗素子11、14は共に中心線18に対して45°の角度方向に延伸させて設けてある。また、4つの磁気抵抗素子のうち残りの12と13は、中心点20を通ると共に中心線18に対して垂直な中心線19上であってかつ中心点20から対称の位置に設けられており、これらの磁気抵抗素子12、13は共に中心線19に対して45°の角度方向に延伸させて設けてある。なお、図1(a)におけるバイアス磁石16の形状は正方形としたが、磁極面17が基板15に向かい合っているものであればこれに限られるものではなく、例えば、円形形状のバイアス磁石16としてもよい。
このようにして4つの磁気抵抗素子11〜14を配置した基板15は、図1(a)に示すように、中心点20とバイアス磁石16の磁極面17上の磁気的中心21とが重なるように位置関係を調整する。この状態で、図1(c)に示すように、リードフレーム22の両面に接着すると共に、モールドパッケージ23にて保持することで、磁気センサ10を構成する。また、図1(b)に示すように、中心点20に対して向かい合う磁気抵抗素子11と14及び12と13でそれぞれハーフブリッジを構成して、これらの中点からの出力をそれぞれOutAとOutBとして取り出す。なお、本実施例ではモールドパッケージ23によって基板15とバイアス磁石16を保持する構成としたが、基板15上の中心点20とバイアス磁石16の位置関係さえ正しければ、保持方法を限定するものではない。
この磁気センサ10は、図5(a)と同様に、検出対象(図中は信号磁石24)に磁極面17(同時に基板15の取付面)を対向させた状態で使用するものである。具体的には、検出対象に取付けた回転体としての磁石24(以下、信号磁石24)の回転軸25の延長線上にバイアス磁石16の磁極面17上の磁気的中心21が重なるように設置する。この磁気センサ10におけるバイアス磁石16の磁極面17からは、図1(d)に示すように、磁気的中心21から放射状に磁気ベクトルが発生しており、この磁気ベクトルが信号磁石24の回転に伴って変化することでハーフブリッジの中点からの出力OutAとOutBが周期的に変化し、この出力OutA及びOutBの変化から検出対象の回転方向、回転数、位置の判断を行う。なお、検出対象物に磁極面を「対向させる」と記載したが、本実施例のように回転軸25の延長線上に磁極面17上の磁気的中心21が重なる場合のみならず、磁極面17が検出対象側を向いた状態で検出可能な範囲内であれば、中心点が重ならない場合も含んだものとする。
次に、信号磁石24の回転に伴って変化する磁気ベクトルの様子を図2に基づいて説明する。図2(a)[1]〜[4]は、信号磁石24の回転角度と磁気ベクトルの変化の様子を表したものであり、4つの磁気抵抗素子11〜14を配置する基板15(座標面)上の領域を領域26〜29(これらを第1〜第4の領域と定義する)として表すと共に、信号磁石24のS極側に着目して図示している。前述の通り、バイアス磁石16のN極からの磁気ベクトルは図1(d)のように放射状に発生しているが、この磁気ベクトルは、バイアス磁力≧信号磁力となる座標面において、検出対象に取付けた信号磁石24のS極に引かれて磁気ベクトルの方向及びその強度が図2(a)[1]〜[4]のように変化する。図2(a)[1]のように、右側に信号磁石24のS極が位置している場合を回転0度位置とすると、この回転0度位置においては、領域27及び領域28部分の磁気ベクトルは共にS極が位置する図中右側方向を向いており、また、領域26、29部分の磁気ベクトルはそれぞれS極側に引かれて斜め方向に変化している。同様に、信号磁石24が90度回転する毎に、図2(a)[2]〜[4]に示すような磁気ベクトルの変化がそれぞれ生じる。
このようにして変化する磁気ベクトルのうち、磁気抵抗素子11と14を配置するための領域26と29部分の磁気ベクトル変化に着目すると、信号磁石24が90度回転する毎に、図2(b)[1]〜[4]のように磁気ベクトルが変化する。図2(b)[1]に示す回転0度位置の場合には、領域26では45°方向の磁気ベクトルとなり、領域29では−45°方向の磁気ベクトルとなる。図1(a)に示すように、磁気抵抗素子11と14は共に135°方向に延伸させて設けてあるため、領域26と29部分の磁気ベクトルがそれぞれ磁気抵抗素子11と14に印加されると、磁気抵抗素子11では延伸方向に垂直に磁気ベクトルが印加されることで抵抗値が最小となり、磁気抵抗素子14では延伸方向と平行に磁気ベクトルが印加されることで抵抗値が最大となる。よって、図1(b)のように構成したハーフブリッジの中点から取り出せる電圧値は最大値をとる。同様に、図2(b)[2]〜[4]のそれぞれの状態においてハーフブリッジの中点から取り出せる電圧値は、それぞれ、印加電圧の略半分となる原点電圧、最小値、原点電圧となる。
図2(b)[1]〜[4]は90度単位で回転角度をずらした場合のみを表したものであるが、これらを連続的に変化させた場合においてハーフブリッジの中点から取り出せる電圧値は、図2(c)に示すように、略余弦波状の波形となり、この波形は信号磁石24の1回転で1周期となるものである。
図2(b)[1]〜[4]は、図2(a)[1]〜[4]における領域26と29部分の磁気ベクトル変化に着目したものであるが、図2(d)のように、図2(a)[1]〜[4]における領域27と28部分の磁気ベクトル変化に着目すると、磁気抵抗素子12と13で構成したハーフブリッジの中点から取り出せる電圧値は、それぞれ、印加電圧の略半分となる原点電圧、最大値、原点電圧、最小値となる。これらを連続的に変化させると、同様の波形を得られるが、この磁気抵抗素子12と13で構成したハーフブリッジから得られる波形は、磁気抵抗素子11と14で構成したハーフブリッジから得られる波形と1/4周期ずれた正弦波状の波形となる。これら2つのハーフブリッジ回路からそれぞれ得られる余弦波と正弦波を同時に表すと、図2(e)に示すものとなる。
このような構成により、信号磁石24の1回転で1周期となり、かつ、互いに1/4周期ずれた余弦波と正弦波の波形を得ることができる。この2つの波形を用いることにより、検出対象の回転方向、回転数のみならず、位置の検出も同時に行うことが可能となる。
前記実施例1では、図1(a)のように4つの磁気抵抗素子11〜14を基板15上に配置し、その磁気抵抗素子11と14、12と13でそれぞれハーフブリッジを構成することで、信号磁石24の1回転で1周期となり、かつ、互いに1/4周期ずれた余弦波と正弦波を得ていたが、本発明はこれに限られるものではなく、8つの磁気抵抗素子を用いて2つのフルブリッジを構成するようにしてもよい。
図3(a)は、8つの磁気抵抗素子を用いて磁気センサを構成する場合の基板15上の配置例を表したものである。先ず、基板15の中心点20を通る中心線18上であって、かつ、中心点20に対して対称の位置に領域26と領域29を設ける。この領域26内の中心線18上の中心点に近い側と遠い側には、それぞれ磁気抵抗素子11a、11bを配置し、同様に、領域29内の中心線18上の中心点に近い側と遠い側には、それぞれ磁気抵抗素子14a、14bを配置する。ここで、磁気抵抗素子11aと14a、11bと14bは、それぞれ中心点に対して対称の位置となるように設けてあり、また、11aと14aは中心線18に対して45°(又は135°)の角度方向に延伸させて構成してあり、11bと14bは11aと14aの延伸方向に対して略垂直となる方向に延伸させて構成してある。次に、中心点20を通ると共に中心線18に対して垂直な中心線19上であって、かつ、中心点20から対称の位置に領域27と領域28を設ける。この領域27内の中心線19上の中心点に近い側と遠い側には、それぞれ磁気抵抗素子12a、12bを配置し、同様に、領域28内の中心線19上の中心点に近い側と遠い側には、それぞれ磁気抵抗素子13a、13bを配置する。ここで、磁気抵抗素子12aと13a、12bと13bは、それぞれ中心点に対して対称の位置となるように設けてあり、また、12aと13aは中心線18に対して45°(又は135°)の角度方向に延伸させて構成してあり、12bと13bは11aと14aの延伸方向に対して略垂直となる方向に延伸させて構成してある。
このようにして配置した8つの磁気抵抗素子を用いて、図3(b)の[1]及び[2]に示すように、2つのフルブリッジ回路を構成する。図3(b)[1]は、中心線18上に配置した磁気抵抗素子11a、11b、14a及び14bによって構成したフルブリッジ回路であり、このフルブリッジ回路の磁気抵抗素子11aと11bの中点から出力OutA1を得て、磁気抵抗素子14aと14bの中点から出力OutA2を得る。図3(b)[2]は、中心線19上に配置した磁気抵抗素子12a、12b、13a及び13bによって構成したフルブリッジ回路であり、このフルブリッジ回路の磁気抵抗素子12aと12bの中点から出力OutB1を得て、磁気抵抗素子13aと13bの中点から出力OutB2を得る。
図3(b)の2つのフルブリッジ回路によって得られた出力OutA1とOutB1は、前記実施例1における出力波形である図2(e)の2つの波形と同様に、信号磁石24の1回転で1周期となり、かつ、互いに1/4周期ずれた2つの正弦波状の波形となり、この2つの波形を用いることにより、検出対象の回転方向、回転数のみならず、位置の検出も同時に行うことが可能となる。さらに、図3(b)の2つのフルブリッジ回路によって得られるもう1組の出力OutA2とOutB2を用いることにより、差動回路で中点電位の安定性の向上と増幅を行うことが可能になるというメリットがある。なお、フルブリッジ回路の構成は図3(b)の[1]及び[2]に示す場合に限らず、例えば、図3(b)の[3]及び[4]に示すような構成であってもよい。
また、図3(a)に示した例では、基板15上の領域26〜29のそれぞれにおいて、各磁気抵抗素子が中心線18又は19上で一直線となるように配置して構成したが、図3(d)に示すように、基板15上の領域26〜29のそれぞれにおいて、中心線18又は19に対して線対称となる位置に2つの磁気抵抗素子を配置してフルブリッジ回路を構成しても、図3(a)に示した例と略同様の波形を得ることができる。
前記実施例において用いた各磁気抵抗素子は、正方形状のスペースに45°又は135°の角度方向に延伸させて構成していたが、本発明はこれに限られるものではなく、45°又は135°の角度方向に延伸させて構成したものであれば、図4(a)に示すように菱形状のスペースに形成してもよいし、図4(b)に示すように三角形状のスペースに形成してもよい。
また、前記実施例において用いた各磁気抵抗素子は、AMR(異方性磁気抵抗)効果によって抵抗値が変化するものを想定して記載しているが、本発明はこれに限られるものではなく、磁気ベクトルの変化によって抵抗値が変化するものであれば利用することが可能であり、例えば、GMR(巨大磁気抵抗)効果を用いて構成した磁気抵抗素子であってもよい。
前記実施例では、図5(a)に示すように、中央で2極に分かれている信号磁石24を検出対象の回転軸25に接続して、回転軸25の延長線上に磁気センサ10の基板15上の中心点20が重なるように構成したが、本発明はこれに限られるものではない。図6(a)に示すように、回転軸25に磁性体材料30を接続して構成することも可能であり、例えば、磁気センサ10(リード線を省略した簡略図)の基板面に対して磁性体材料30の断面を斜め方向に設けることにより、回転による磁気ベクトルの変化が生じる。また、図6(b)に示すように、回転軸25に円盤31を取付け、この円盤31の表面上における中心から離れた位置に信号磁石32を磁極面が円盤表面と平行となるようにして設けて構成してもよく、信号磁石32の位置にともなって磁気ベクトルの変化が生じる。さらに、図6(c)に示すように、円盤33の円周部分にN極とS極を交互に複数設けて構成した多極磁ロータ34を回転軸25に取付けるとともに、磁気センサ10をこの多極磁ロータ34の円周付近に配置することにより、検出対象の現在の正確な回転位置を検出可能な構成となる。
(a)は、基板15上に配置する4つの磁気抵抗素子の構成を示した模式図であり、(b)は、4つの磁気抵抗素子をハーフブリッジ回路で接続する場合の回路図であり、(c)は、磁気センサ10のパッケージングの一例を表した模式図であり、(d)は、バイアス磁石16の磁極面17(N極)から発せられる磁気ベクトルの様子を表した模式図である。 (a)は、基板15上の各領域26〜29に印加される磁気ベクトルが信号磁石の回転位置によって変化する様子を表した模式図であり、(b)は、(a)の回転位置に対応した領域26と29における磁気ベクトル変化を示した模式図であり、(c)は、(b)の場合に得られる出力波形を表した波形図であり、(d)は、領域27と28を示した模式図であり、(e)は、2つのハーフブリッジ回路から得られる2つの出力波形を表した波形図である。 (a)は、基板15上に配置する8つの磁気抵抗素子の構成を示した模式図であり、(b)[1]〜[4]は、8つの磁気抵抗素子を用いてフルブリッジ回路を構成する場合の構成例を示した回路図であり、(c)は、基板15上に配置する8つの磁気抵抗素子の構成の他の実施例を示した模式図である。 (a)及び(b)は、磁気抵抗素子の形状の他の実施例を表した模式図である。 (a)は、磁気センサの設置方法を示した模式図であり、(b)は、磁気抵抗素子を用いた従来の磁気センサによって得られる出力波形を示した波形図である。 (a)〜(c)は、それぞれ磁気センサ10(リード線を省略した簡略図)の他の使用方法を示した模式図である。
符号の説明
10…磁気センサ、11、11a、11b…磁気抵抗素子、12、12a、12b…磁気抵抗素子、13、13a、13b…磁気抵抗素子、14、14a、14b…磁気抵抗素子、15…基板、16…バイアス磁石、17…磁極面、18…中心線、19…中心線、20…中心点、21…磁気的中心、22…リードフレーム、23…モールドパッケージ、24…信号磁石、25…回転軸、26〜29…基板上の各領域、30…磁性体材料、31…円盤、32…信号磁石、33…円盤、34…多極磁ロータ。

Claims (3)

  1. バイアス磁石の磁極面と略平行な基板の取付面に8つの磁気抵抗素子を設け、前記バイアス磁石の磁極面に対向する位置に、回転軸を通る面で2極に分かれている信号磁石からなる検出対象物を設け、前記8つの磁気抵抗素子により、前記バイアス磁石と前記検出対象物との相対的運動により生じる磁気ベクトルの変化を検出するようにした磁気センサにおいて、
    前記バイアス磁石は、磁気的中心から放射状に磁気ベクトルを発生するものからなり、前記8つの磁気抵抗素子のうち4つの磁気抵抗素子は、前記バイアス磁石の磁気的中心を通る前記基板の取付面上の点(以下、中心点)を通る互いに直交する2本の中心線のうち一方の中心線上であってかつ中心点に対して対称の位置に設けた第1の領域及び第2の領域にそれぞれ2つずつ配置し、他の4つの磁気抵抗素子は、他方の中心線上であってかつ中心点に対して対称の位置に設けた第3の領域及び第4の領域にそれぞれ2つずつ配置し、これらの第1〜第4のそれぞれの領域内における2つの磁気抵抗素子のうちの一方を中心線に対して略45°の角度方向に延伸させ、他方の磁気抵抗素子を一方の磁気抵抗素子に対して略直角となるように延伸させて構成し、中心点に対して対称の位置にある2つの領域の4つの磁気抵抗素子を1組とする2組それぞれフルブリッジ回路に接続してなり、前記検出対象物の回転軸を前記中心点と略重なるように構成したことを特徴とする磁気センサ。
  2. 前記第1、第2のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、一方の中心線上に一直線となるように配置し、前記第3、第4のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、他方の中心線上に一直線となるように配置したことを特徴とする請求項記載の磁気センサ。
  3. 前記第1、第2のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、一方の中心に対して線対称の位置となるように配置し、前記第3、第4のそれぞれの領域に配置した2つの磁気抵抗素子は、他方の中心線に対して線対称の位置となるように配置したことを特徴とする請求項記載の磁気センサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8115479B2 (en) 2006-11-21 2012-02-14 Hitachi Metals, Ltd. Rotation-angle-detecting apparatus, rotating machine, and rotation-angle-detecting method
JP4845704B2 (ja) 2006-12-18 2011-12-28 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ ホール素子レゾルバ
JP2008218199A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Hamamatsu Koden Kk 複合操作検出装置
WO2008149805A1 (ja) 2007-05-31 2008-12-11 Thk Co., Ltd. リニアモータの位置検出システム
JP4917522B2 (ja) * 2007-12-07 2012-04-18 株式会社東海理化電機製作所 ポジションセンサ
JP5014968B2 (ja) * 2007-12-07 2012-08-29 株式会社東海理化電機製作所 ポジションセンサ
JP5103158B2 (ja) * 2007-12-20 2012-12-19 浜松光電株式会社 磁気式座標位置検出装置
JP5117267B2 (ja) * 2008-04-25 2013-01-16 株式会社東海理化電機製作所 ポジションセンサ
WO2010024234A1 (ja) * 2008-08-29 2010-03-04 Thk株式会社 分散配置リニアモータおよび分散配置リニアモータの駆動システム
KR101641396B1 (ko) 2008-09-30 2016-07-20 티에치케이 가부시끼가이샤 직선ㆍ회전 복합 액추에이터
JP4947321B2 (ja) * 2009-07-30 2012-06-06 Tdk株式会社 回転角度検出装置
JP5427619B2 (ja) * 2010-01-14 2014-02-26 浜松光電株式会社 回転検出装置
EP2559971B1 (en) * 2010-04-16 2018-03-21 JTEKT Corporation Rotation angle detection device
JP5523983B2 (ja) * 2010-08-17 2014-06-18 浜松光電株式会社 磁気センサのための補正方法及び磁気センサの評価方法
JP5840374B2 (ja) 2011-03-31 2016-01-06 オリエンタルモーター株式会社 アブソリュートエンコーダ装置及びモータ
US10094890B2 (en) 2014-10-09 2018-10-09 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Magnetic sensor
US10359478B2 (en) 2015-05-15 2019-07-23 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Magnetic sensor
DE102016111984B4 (de) 2016-06-30 2021-12-23 Infineon Technologies Ag Magnetsensorbauelemente und Verfahren zum Bestimmen einer Rotationsrichtung einer magnetischen Komponente um eine Rotationsachse

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