JP4262042B2 - 熱発生装置、x線撮像装置およびx線装置過熱防止方法 - Google Patents
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Description
T=f(管電流、管電圧、スキャン時間、・・・)
の関数形で決定される。また、同時に、管電圧および管電流の発生源である高電圧発生装置10の温度T´も同様の関数形gにより推定される。
なお、高電圧発生装置10の関数形gは、X線管20の関数形fとは異なる。これにより、従来からのX線管20の熱発生に加え、高電圧発生装置10の熱発生も推定される。
6 操作コンソール
10 高電圧発生装置
20 管電流
20 X線管
24 線検出器
26 データ収集部
28 X線コントローラ
30 高電圧発生装置
34 回転部
36 回転コントローラ
60 制御処理装置
62 制御インターフェース
62 制御インタフェース
64 データ収集バッファ
66 記憶装置
68 表示装置
70 操作装置
Claims (16)
- X線ビームを発生するX線管と、
前記X線管に、前記X線ビームを発生させる電力を供給する高電圧発生装置と、
前記X線ビームを検出するX線検出器と、
被検体を挟んで対向配置される前記X線管および前記X線検出器を制御して、前記被検体の投影データを収集するデータ収集部と、
前記収集の際の、前記X線管および前記高電圧発生装置のそれぞれの発熱量を、前記X線管および前記高電圧発生装置の発熱に関連する前記収集を制御する複数の制御パラメータの関数を用いて、前記収集の前に推定する推定手段と、
前記X線管および前記高電圧発生装置の少なくとも一方の発熱量が許容範囲を超える過熱の推定情報に基づいて、前記X線管および前記高電圧発生装置の発熱に関連する制御パラメータを、前記関数を用いて、前記関数により推定される発熱量が前記許容範囲の上限に合致する前記制御パラメータを求めることにより、前記X線管および前記高電圧発生装置の過熱を防止するように最適化する制御処理装置と、
を備えることを特徴とするX線撮像装置。 - 前記X線撮像装置は、X線CT装置であることを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 前記制御処理装置は、前記発熱量が許容範囲を超えて過熱となる際に、前記収集を未然に防止することを特徴とする請求項1または2に記載のX線撮像装置。
- 前記制御処理装置は、前記発熱量が許容範囲を超えて過熱となる際に、前記収集を行う前の段階で、前記最適化を行うことを特徴とする請求項1または2に記載のX線撮像装置。
- 前記最適化は、前記推定情報が前記制御パラメータの関数で表される際に、前記関数の逆関数あるいは2分探索方法を用いて、前記推定情報が前記許容範囲の上限に合致する制御パラメータを求めることを特徴とする請求項4に記載のX線撮像装置。
- 前記制御パラメータは、前記高電圧発生装置から前記X線管に供給される管電流および管電圧の少なくとも1つであることを特徴とする請求項5に記載のX線撮像装置。
- 前記制御パラメータは、間欠的に流される前記管電流の、前記管電流が流されない時間である冷却時間であることを特徴とする請求項5に記載のX線撮像装置。
- 前記制御パラメータは、前記収集の開始から終了までのスキャン時間であることを特徴とする請求項5に記載のX線撮像装置。
- 前記X線撮像装置は、さらに前記収集の情報を表示する表示手段を備えることを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1つに記載のX線撮像装置。
- 前記表示手段は、前記防止の際に、スキャンが不可である情報を表示することを特徴とする請求項3または9に記載のX線撮像装置。
- 前記表示手段は、前記最適化された制御パラメータの値を表示することを特徴とする請求項6または7に記載のX線撮像装置。
- 前記X線撮像装置は、さらに前記収集の情報を入力する操作手段を備えることを特徴とする請求項6または7に記載のX線撮像装置。
- 前記操作手段は、前記最適化の際の制御パラメータを選択する選択手段を備えることを特徴とする請求項12に記載のX線撮像装置。
- 前記推定手段は、さらに前記データ収集部の発熱量を推定することを特徴とする請求項1ないし13のいずれか1つに記載のX線撮像装置。
- 前記制御処理装置は、前記発熱量の推定情報に基づいて、前記データ収集部の過熱を防止するように最適化を行うことを特徴とする請求項14に記載のX線撮像装置。
- 前記推定手段および前記制御処理装置は、前記発熱量を表す物理量として温度を用いることを特徴とする請求項1ないし15のいずれか1つに記載のX線撮像装置。
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