JPH06169914A - X線コンピュータトモグラフィ装置 - Google Patents

X線コンピュータトモグラフィ装置

Info

Publication number
JPH06169914A
JPH06169914A JP4325159A JP32515992A JPH06169914A JP H06169914 A JPH06169914 A JP H06169914A JP 4325159 A JP4325159 A JP 4325159A JP 32515992 A JP32515992 A JP 32515992A JP H06169914 A JPH06169914 A JP H06169914A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
ray tube
detector
focus
movement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4325159A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuo Saito
泰男 斉藤
Mitsuru Hachiman
満 八幡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP4325159A priority Critical patent/JPH06169914A/ja
Publication of JPH06169914A publication Critical patent/JPH06169914A/ja
Priority to US08/378,095 priority patent/US5566220A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、X線管の回転陽極やシャフトなどの
熱膨張に起因するX線焦点の移動に起因して発生するア
ーチファクトを低減し得るX線コンピュータトモグラフ
ィ装置を提供することを目的とする。 【構成】本発明は、シャフトにより回転自在に支持され
た回転陽極を備えたX線管1と検出素子を並設してなる
多チャンネル型検出器4とを被検体を介して回転しなが
ら各位置でX線曝射および透過X線の検出を繰り返して
上記被検体の多方向投影データを収集し、その多方向投
影データを所定の再構成処理に供することで断層像を得
るX線コンピュータ断層撮影装置において、少なくとも
上記シャフトを含むX線管内部の複数箇所の温度に基づ
いてX線管1の焦点位置を特定する焦点位置計算装置8
と、X線管内部の温度上昇に伴うX線焦点の移動に起因
する多チャンネル型検出器4の感度変化を補正する再構
成処理装置6とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体の多方向の投影
データ(投影積分値)について逐次近似法やフーリエ計
算法などの再構成処理法を適用し各点のX線吸収係数を
計算し、そのX線吸収係数に応じた階調度を与えてそれ
らを元の通り2次元配置して断層像を得るX線コンピュ
ータトモグラフィ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のX線コンピュータトモグ
ラフィ装置は、第3世代のR/R方式であれば、図19
に概略が示されているように構成されている。
【0003】すなわち、31は、X線を爆射するX線管
であり、このX線管31の放射窓には所定開度のスリッ
ト34が固定されていて、X線管31からの放射X線を
所定挟角の扇状のファンビームX線Fx に形成する。
【0004】そして、多チャンネル型検出器35がX線
管31に対向して配置される。この多チャンネル型検出
器35は、複数の検出素子351 〜35m をファンビー
ムX線Fx の拡がり幅に合わせて並設して成る。これら
X線管31や多チャンネル型検出器35は、対向関係を
保ったまま回転軸R0 の回りを回転自在に図示しない架
台で支持されている。
【0005】被検体の多方向の投影データを収集すると
きには、これらX線管31およびスリット34並びに多
チャンネル型検出器35は、回転軸R0 の回りを所定の
角速度で回転される。そして、この回転の間、所定角度
毎にX線爆射およびX線検出を繰り返して、多方向投影
データを収集する。
【0006】この多方向投影データは、図示しないデー
タ収集装置を介して増幅およびディジタル変換された
後、再構成処理装置に送られ、そこで逐次近似法やフー
リエ計算法などの再構成処理等を適用され、各点のX線
吸収係数が計算される。このX線吸収係数は、そのレベ
ルに応じた階調度を与えられ、そして元の通り2次元配
置され断層像に生成され、記憶または表示に供される。
この断層像は、生体内の断層組織情報を提供できるの
で、臨床上極めて有用な情報となり得る。
【0007】ところで、近年のX線コンピュータトモグ
ラフィ装置には、大きな管電流による曝射が可能である
ことから、回転陽極タイプのX線管を採用したものが主
流を占めている。この回転陽極タイプのX線管(以下単
に「X線管」という)は、図20に断面を示すように構
成されている。
【0008】すなわち、36は、真空維持したガラスバ
ルブであり、その内部には円錐型の回転陽極32がベア
リング37で軸受けされたシャフト33によって回転軸
R1の回りを回転自在に支持されている。
【0009】このシャフト33の周囲にはロータ38が
取り付けられていて、このロータ38に対しガラスバル
ブ36を介して図示しない回転駆動用のコイルすなわち
ステータが対向して配置されていて、このロータ38お
よびステータ並びに回転陽極32などで単相誘導電動機
を構成している。なお、39は固定陰極であり、この陰
極39から回転陽極32のターゲットに向けて電子が放
出され、これによってターゲットからX線が放射される
ようになっている。
【0010】しかし、このX線管(もっとも他のタイプ
も同様であるが)は、供給を受ける電気エネルギに対す
る放射X線エネルギの比率、つまり変換効率が非常に悪
く、例えば回転陽極がタングステンであれば変換効率は
0.74%にすぎず、残りの99%以上は熱に変換され
てしまう。このため例えばガラスバルブ内に冷却用の絶
縁油を循環させる循環機構を設けるなど種々の熱対策を
講じている。
【0011】しかし、このような熱対策にも限界があ
り、ある程度の熱上昇は避けられない。この熱上昇に伴
って、回転陽極やシャフトが熱膨脹し、それに応じて焦
点が、完全に冷えきった常温時(最下温度)の位置から
移動する。
【0012】この焦点移動が、検出器感度の変化を生じ
させるのは、主に回転軸R1 に平行なスライス方向に沿
う成分である。図21はこのX方向の移動の様子を模式
的に示す図である。図21に示すように、焦点は、熱上
昇にしたがって常温時の位置P0 からX方向に、限界温
度時、つまり現在の蓄熱量が回転陽極32の熱容量に到
達する温度時(最上温度)の位置PMAX に向かって移動
する。
【0013】図22は、この焦点移動の検出器感度への
影響を説明する図であり、(a)はX線管32およびス
リット34並びに検出器35を回転軸R0 に直交する方
向から見た図であり、(b)は常温時における検出器受
光面の照射野をX線管側から見た図であり、(c)は限
界温度時における照射野をX線管側から見た図である。
なお(b)および(c)の斜線は照射野を示している。
また、ここでは、X線管31およびスリット34並びに
検出器35は、常温時の位置P0 を基準にして、(b)
に示すようにファンビームX線Fx の中心が受光面の中
心線Cに一致するように配置されているものとする。さ
らに、検出器35の各検出素子の感度変化を均一化する
補正データ(キャリブレーションデータ;以下単に「C
ALIBデータ」という)もこのときの配置関係で測定
するものとする。
【0014】焦点が、熱上昇に伴って、初期位置P0 か
ら最大に移動した位置PMAX に転移すると、(c)に示
すように、ファンビームX線Fx の中心が受光面の中心
線Cから外れ、その一部が検出器受光面から外れ、した
がって検出器35の出力レベルが低下する。さらにこの
出力レベルの低下程度は各検出素子毎に相違する。ま
た、ファンビームX線Fx が検出器35の受光面から外
れなくても、各検出素子のスライス方向の感度分布に従
って変化してしまう。
【0015】この結果、検出器出力に上記CALIBデ
ータを適用したとしても、各検出素子の感度変化を均一
化することはできず、断層像にアーティファクトが生じ
てしまう。
【0016】このアーティファクトを解消するべく現在
用いられている方法の一つに、回転陽極の保護を目的と
して利用されている曝射継続時間を制御するための制御
値、つまり、回転陽極の熱容量に対する現在の蓄熱量の
割合(以下単に「A値」という)を利用した方法があ
る。
【0017】この方法は、あらかじめ複数種類のA値を
設定し、各A値に対応する検出器出力の補正データを準
備し保管する。そして、スキャン動作中にモニタしてい
るA値からそれに対応するCALIBデータを選択し、
このCALIBデータで検出器出力を補正する方法であ
る。
【0018】このようにA値は、上述したように回転陽
極の保護を目的とした制御値であるため、当然にして回
転陽極の温度にのみ依存するパラメータである。しか
し、焦点のスライス方向への移動は、シャフトの熱膨脹
を主要因として発生する。このため、図23に示すよう
に、あるA値に対してとりうる焦点位置は唯一ではなく
ある程度の範囲内でばらつく。
【0019】したがって、A値から得られる焦点位置
と、実際の焦点位置との間に誤差があり、したがって検
出器出力をA値を基に選択したCALIBデータで補正
してもその効果は上記誤差に応じて流動的で、このため
アーチファクトが低減されない、また逆にアーチファク
トが増加することがある。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、X線管の回
転陽極やシャフトなどの熱膨張に起因するX線焦点の移
動に起因して発生するアーチファクトを低減し得るX線
コンピュータトモグラフィ装置を提供することを目的と
する。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明は、シャフトによ
り回転自在に支持された回転陽極を備えたX線管と検出
素子を並設してなる多チャンネル型検出器とを被検体を
介して回転しながら各位置でX線曝射および透過X線の
検出を繰り返して上記被検体の多方向投影データを収集
し、その多方向投影データを所定の再構成処理に供する
ことで断層像を得るX線コンピュータ断層撮影装置にお
いて、少なくとも上記シャフトを含む上記X線管内部の
複数箇所の温度に基づいて上記X線管の焦点位置を特定
する手段と、上記X線管内部の温度上昇に伴うX線焦点
の移動に起因する上記多チャンネル型検出器の感度変化
を補正する手段とを具備したことを特徴とする。
【0022】
【作用】本発明によれば、少なくともシャフトを含むX
線管内部の複数箇所の温度に基づいてX線管の焦点位置
を特定し、その焦点位置に基づいてX線管内部の温度上
昇に伴うX線焦点の移動に起因する多チャンネル型検出
器の感度変化を補正するので、適切な補正を行うことが
できる。
【0023】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明一実施例を
説明する。 <第1実施例>第1実施例のX線コンピュータトモグラ
フィ装置は、第3世代のR/R方式であれば、図1にそ
の概略が示されているように構成されている。
【0024】すなわち、1はX線を爆射するX線管であ
り、このX線管の放射窓には絞り装置2が固定されてい
る。この内部には、所定開度のスリット3が収納されて
いて、X線管1からの放射X線を所定挟角の扇状のファ
ンビームX線Fx に形成しX線照射野を限定する。
【0025】X線管1は、回転陽極タイプのX線管であ
り、その構造は図20で説明したと同じである。つま
り、真空維持したガラスバルブの内部には円錐型の回転
陽極がベアリングで軸受けされたシャフトによって回転
軸R1 の回りを回転自在に支持されている。このシャフ
トの周囲にはロータが取り付けられていて、このロータ
に対しガラスバルブを介して図示しない回転駆動用のコ
イルすなわちステータが対向して配置されていて、この
ロータおよびステータ並びに回転陽極などで単相誘導電
動機を構成している。
【0026】そして、多チャンネル型検出器4がX線管
1に対向して配置される。この多チャンネル型検出器4
は、複数の検出素子をファンビームX線Fx の拡がり幅
に合わせて並設して成る。
【0027】これらX線管1および絞り装置2並びに多
チャンネル型検出器4は、対向関係を保ったまま回転軸
R0 の回りを回転自在に図示しない架台で支持されてい
て、被検体の多方向の投影データを収集するときには、
これらX線管1および絞り装置2並びに多チャンネル型
検出器4は、回転軸R0 の回りを所定の角速度で回転さ
れ、この回転の間、所定角度毎にX線爆射およびX線検
出を繰り返して、多方向投影データを収集する。
【0028】多チャンネル型検出器4で検出された多方
向投影データは、データ収集装置(DAS)5を介して
増幅およびディジタル変換された後、再構成装置6に送
られ、そこで逐次近似法やフーリエ計算法などの再構成
処理等を適用され、各点のX線吸収係数が計算される。
このX線吸収係数は、そのレベルに応じた階調度を与え
られ、そして元の通り2次元配置され断層像に生成さ
れ、記憶または表示に供される。
【0029】さらに、再構成装置6は、CALIBデー
タ群メモリ7を備えている。このCALIBデータ群メ
モリ7は、焦点位置の異なる複数のCALIBデータ、
つまり従来説明で述べた検出器の各検出素子の感度変化
を均一化するための補正データ(キャリブレーションデ
ータ)を保管し、再構成処理に活用する。
【0030】焦点位置計算装置8は、X線管1に高電圧
を供給するX線制御装置9から曝射情報を受取り、今回
X線曝射する直前までのX線爆射履歴を作成すると共
に、このX線爆射履歴に対応するCALIBデータを選
択するための読出し信号をCALIBデータ群メモリ7
に出力する。
【0031】なお、X線爆射履歴とは、図2に示すよう
に、X線曝射と休止との時間経過に伴うシーケンス情報
である。具体的には、今回のX線曝射開始時刻tN
前、回転陽極やシャフトが完全に冷えきった常温のとき
の時刻t0 から、どのような管電流・管電圧でどれくら
いの期間X線曝射を継続し、その後どのくらいの期間休
止したかという情報である。次に以上のように構成され
た本実施例の作用について説明する。
【0032】まず、CALIBデータの作成手順につい
て説明する。なお、X線管1およびスリット3並びに検
出器4は、回転陽極やシャフトが完全に冷えきった常温
のときの焦点の位置(常温位置)を基準にして、ファン
ビームX線Fx の中心が受光面の中心線に一致するよう
にアライメントされているものとする。
【0033】図3に示すように、CALIBデータは、
被検体の代わりにファントム(模型)を用いて、焦点を
常温位置P0 から、蓄熱量が回転陽極の熱容量に接近し
たときの限界温度時(最大移動時)の限界位置PMAX ま
で複数の位置、ここではP0,P1 〜P4 ,PMAX の6
つの焦点位置に移動させながら、各位置毎に決定され
る。 なお、この各位置の間隔は、検出器4の感度は焦
点が常温位置P0 から限界位置PMAX に向かうにしたが
って、図4に示すように、徐々に低下するが、各位置で
収集した多方向投影データから再構成した断層像上に生
じるアーチファクトが診断に支障のない幅に応じて決定
すればよい。これらのCALIBデータは、再構成装置
6のCALIBデータ群メモリ7に保管される。
【0034】なお、このCALIBデータは、上述のよ
うな離散的な各位置に対応したものでなく、連続的な感
度変化特性曲線であってもよい。図5は、あるチャンネ
ルの感度変化特性曲線を示す図である。この感度変化特
性曲線は、比較的少数の焦点位置、ここではPm ,Pn
,Pl の3箇所の焦点位置で各検出素子の感度を計測
し、各位置の感度から所定の補間処理により推定して求
める。
【0035】ところで、焦点位置は、回転陽極やシャフ
トの各形状および大きさ並びに材質そしてその熱膨脹係
数、さらに回転陽極やシャフトの複数箇所の温度に基づ
いて唯一定まる。回転陽極やシャフトの各形状および大
きさ並びに材質は、不変因子であるので、変数である複
数箇所の温度が分かれば焦点位置を一意的に定めること
ができる。
【0036】本実施例では、この複数箇所の温度を、X
線爆射履歴から特定することを原理とする。このX線爆
射履歴と複数箇所の温度との対応関係は、X線爆射履歴
を変えながら実測してもよいし、回転陽極やシャフトの
各箇所の冷却特性等を考慮した計算式により求めてもよ
い。
【0037】このように、X線爆射履歴がわかれば、複
数箇所の温度および焦点位置が順に特定され、そしてこ
の焦点位置から適切なCALIBデータを一意的に特定
することができる。したがって、これらの特定経路を短
絡した対応表、つまりX線爆射履歴とCALIBデータ
との対応表を焦点位置計算装置8に保管する。次に再構
成処理の作用について説明する。
【0038】焦点位置計算装置8にはX線曝射毎にX線
制御装置9から受け取った曝射情報、つまり管電流、管
電圧、曝射開始タイミング、曝射終了タイミングが保管
されており、この保管情報を用いて今回のX線曝射直前
までのX線爆射履歴が作成される。
【0039】そして焦点位置計算装置8は、このX線爆
射履歴から、上記対応表を用いて、適切なCALIBデ
ータを特定し、その読出し信号を再構成装置6のCAL
IBデータ群メモリ7に供給する。
【0040】再構成装置6では、焦点位置計算装置8の
指示によりCALIBデータ群メモリ7から読み出され
たCALIBデータを用いて、多チャンネル型検出器4
で検出されデータ収集装置5を介して供給される多方向
投影データを補正し、それを再構成処理に供してアーチ
ファクトのない断層像を生成することができる。
【0041】このように本実施例は、スライス方向の焦
点位置を特定するパラメータとして、従来のように回転
陽極の温度のみに依存する回転陽極の熱容量に対する現
在の蓄熱量の割合でなく、回転陽極からシャフトを含め
た複数箇所の温度と利用し、そしてこの複数箇所の温度
を特定するパラメータとしてX線曝射履歴を用いている
ので、X線曝射履歴に基づいて特定されるスライス方向
の焦点位置が実際の焦点位置に一致し、その結果、最適
なCALIBデータを用いて焦点移動に伴う検出器の感
度変化に起因するアーチファクトを診断に支障のない程
度まで低減することができる。 <第2実施例>次に本発明に係る第2実施例について説
明する。
【0042】本実施例は、先の第1実施例が、スライス
方向の焦点位置に対応する回転陽極からシャフトを含め
た複数箇所の温度を特定するためにX線曝射履歴を用い
ていたのに対し、実際に回転陽極からシャフトを含めた
複数箇所に温度センサを設置し、複数箇所の温度を計測
することを特徴とする。
【0043】本実施例のX線コンピュータトモグラフィ
装置は、第3世代のR/R方式であれば、図6にその概
略が示されているように構成されている。なお、図6は
図1に対応する図であり、同じ部分は同符号を付して詳
細な説明を省略する。図6において、10は、温度セン
サからの検出信号を受けて、実際の温度を測定するため
の温度測定装置である。温度センサは、接触式または非
接触式のものを設置箇所の環境に応じて選択して使用す
る。
【0044】この温度センサの設置箇所は、例えば、図
7にX線管断面を示すように、回転陽極11のターゲッ
ト付近の位置T1 ,T2 、そしてシャフト12に回転陽
極11側から所定距離づつ離間した位置T3 ,T4 ,T
5 である。
【0045】このように本実施例は、温度センサをシャ
フトと含む複数箇所に設置し、その温度を実際に測定す
るので、第1実施例より精度よく焦点位置を特定でき、
その結果、より最適なCALIBデータを用いて焦点移
動に伴う検出器の感度変化に起因するアーチファクトを
適切に低減することができる。 <第3実施例>次に本発明に係る第3実施例について説
明する。
【0046】本実施例は、先の第1実施例および第2実
施例が、焦点位置を回転陽極からシャフトを含めた複数
箇所の温度から特定していたのに対し、焦点位置を実際
に測定することを特徴とする。
【0047】本実施例のX線コンピュータトモグラフィ
装置は、第3世代のR/R方式であれば、図8にその概
略が示されているように構成されている。なお、図8は
図1に対応する図であり、同じ部分は同符号を付して詳
細な説明を省略する。
【0048】図8において、13は、X線管1からのX
線照射野を限定するためのスリットである。このスリッ
ト13は、図9に平面が示されているように、X線照射
野を限定するための開口部14の他に、焦点位置測定用
のビームX線Bx を限定する開口部15を備えている。
そして、焦点位置検出用の検出器16が、X線管1に対
し開口部15を介して対向配置されている。この検出器
16は、図10に示すように、複数の検出素子161 〜
16n がX線管1の回転陽極11の回転軸R1 と平行な
方向に沿って並設されてなる。
【0049】さらに、この検出器16は、図11に示す
ように、その受光面が開口部15で限定されたビームX
線Bx の照射野(斜線部分)に対して、X線焦点が常温
位置P0 から限界位置PMAX に移動しビームX線Bx の
照射野が検出器16に対して相対的に移動しても、受光
面から外れることがない程度に十分大きく設定されてい
る。次にこのように構成された本実施例の作用について
説明する。
【0050】多方向投影データを収集するべく、X線管
1からX線が曝射されると、このX線は、スリット13
の開口部14で限定されて検出器4に到達すると共に、
他方の開口部15を介して焦点位置検出用の検出器16
に到達する。
【0051】図12はX線焦点の移動に伴って照射野が
検出器16の受光面を移動する様子を示す図であり、図
13は検出器16の各検出素子161 〜16n の出力レ
ベルの分布、いわゆるX線プロフィールを示す図であ
る。
【0052】なお、X線管1および開口15並びに検出
器16は、焦点が、回転陽極やシャフトが完全に冷えき
った常温のときの位置(常温位置)にあるときに、図1
2(a),(b)に示すように、検出器16がビームX
線Bx を受光面の略中央部分で受光するようにアライメ
ントされているものとする。
【0053】このアライメントで、焦点が常温位置にあ
るときに、X線プロフィールは、図13に実線で示した
ように、検出器4に中央配置されている検出素子16c
を中心に分布する。
【0054】実際にデータ収集するべくX線曝射を開始
しそれを継続すると、回転陽極11やシャフト12が徐
々に熱膨張し、焦点が常温時の位置P0 から限界位置P
MAXに向かって移動する。この焦点の移動に伴って、ビ
ームX線Bx の照射野も検出器16の受光面上を移動す
る。
【0055】そして、ビームX線Bx の照射野が検出器
16の受光面上を移動すると、それに伴ってX線プロフ
ィールの分布も変化する。図12(c),(d)は、焦
点が限界位置PMAX に達したときのビームX線Bx 照射
野の位置を示す図であり、このときのX線プロフィール
は図13に点線で示した位置に分布する。したがって、
現在のX線プロフィールの分布位置が常温時のX線プロ
フィールの分布位置からどの程度ずれているかにより、
現在の焦点位置が分かる。
【0056】焦点位置計算装置8は、このようにX線プ
ロフィールの分布に基づいて得た現在の焦点位置から対
応表を用いてCALIBデータを特定し、その読出し信
号を再構成装置6のCALIBデータ群メモリ7に供給
する。
【0057】再構成装置6では、焦点位置計算装置8の
指示によりCALIBデータ群メモリ7から読み出され
たCALIBデータを用いて、多チャンネル型検出器4
で検出されデータ収集装置5を介して供給される多方向
投影データを補正し、それを再構成処理に供してアーチ
ファクトのない断層像を生成することができる。
【0058】このように本実施例は、焦点移動によるビ
ームX線Bx の移動を測定し、それによって焦点位置を
求めるので、第1実施例および第1実施例より精度よく
焦点位置を特定でき、その結果、より最適なCALIB
データを用いて焦点移動に伴う検出器の感度変化に起因
するアーチファクトを適切に低減することができる。
【0059】なお、焦点位置検出用の検出器は、図14
(a),(b)に示すように2つの検出素子161 ,1
62 を並設したものであってもよく、この場合、図14
(c)に示したように各検出素子161 ,162 の出力
レベル比から焦点位置を求める。なお、図14(c)で
実線は常温時のX線プロフィール、点線は限界温度時の
X線プロフィールを示している。また、焦点位置検出用
の検出器は、フォトダイオードの表面抵抗を利用したP
SDと呼ばれる位置検出素子を並設したものであっても
よい。 <第4実施例>次に本発明に係る第4実施例について説
明する。
【0060】本実施例は、先の第1実施例があらかじめ
用意したCALIBデータを用いて検出器出力を補正し
たのに対し、焦点の移動と逆方向に同距離だけX線管を
移動して、それによってスリットや検出器から見て焦点
の位置が相対的に移動しないことを特徴とする。
【0061】なお、X線管1およびスリット3並びに検
出器4は、焦点が回転陽極やシャフトが完全に冷えきっ
た常温のときの位置(常温位置)P0 にあるときに、フ
ァンビームX線Fx を検出器4がその受光面の略中央部
分で受光するようにアライメントされているものとし、
このときのX線管1の位置を以下初期位置と称するもの
とする。
【0062】本実施例は図15にその概略が示されてい
るように構成されている。なお、図15は図1に対応す
る図であり、同じ部分は同符号を付して詳細な説明を省
略する。
【0063】本実施例では、X線管1は、シャフトの回
転軸R1 に沿って移動自在に図示しない架台により支持
されていて、アライメント調整装置18によって移動駆
動される。このアライメント調整装置18は、焦点位置
計算装置8に接続され、そこから焦点位置情報を受ける
ようになっている。また、再構成装置6は、上記アライ
メントで測定した唯一のCALIBデータを記憶してお
り、常にこのCALIBデータで検出器出力を補正す
る。次にこのように構成された本実施例の作用について
説明する。図16はアライメント調整装置18によるX
線管1の移動を説明するための図である。
【0064】実際にデータ収集するべくX線曝射を開始
しそれを継続すると、回転陽極11がシャフト等の熱膨
張にしたがって移動し、それに伴って焦点が常温位置P
0 からX方向に限界位置PMAX に向かって移動する。
【0065】このときの焦点位置Pが、焦点位置計算装
置8でX線爆射履歴に基づいて求められ、この焦点位置
情報が焦点位置計算装置8からアライメント調整装置1
8に出力される。
【0066】アライメント調整装置18では、この焦点
位置情報に基づいて、現在の焦点位置Pと常温位置P0
とのスライス方向(X方向)の距離dが計算され、X線
管1は初期位置から距離dだけ焦点の移動方向(X方
向)と逆方向(X´方向)にアライメント調整装置18
により移動される。したがって、当初設定した焦点およ
びスリット3並びに検出器4のアライメントは変化しな
い。
【0067】そして、検出器4からデータ収集装置5を
介して再構成装置6に送られる多方向投影データは、再
構成装置6に保管されている唯一のCALIBデータで
補正され、検出素子間均一補正された後再構成処理に供
され、断層像が生成される。
【0068】このように本実施例は、焦点移動と逆方向
に同距離だけX線管を移動するので、当初設定した焦点
およびスリット並びに検出器のアライメントは変化しな
い。したがって、焦点が移動しても検出器感度が何等変
化しないので、検出器出力を当初のアライメントで測定
したCALIBデータで補正することにより、検出素子
間の感度を均一化することができ、その結果断層像には
アーチファクトが発生しない。
【0069】なお、上記説明では、アライメント調整装
置18を第1実施例に適用した場合を説明したが、もち
ろん第2実施例や第3実施例にも適用可能であり、この
場合の構成はそれぞれ図17,図18に示した通りであ
る。
【0070】本発明は上述した実施例に限定されること
なく、種々変形して実施可能である。例えば、上記実施
例では、焦点のスライス方向成分の移動を補正するもの
であったが、スライス方向に直交するチャンネル方向成
分の移動の補正に適用してもよい。この場合、CALI
Bデータのみ変更し、他の構成は変更する必要はない。
【0071】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、シャフト
により回転自在に支持された回転陽極を備えたX線管と
検出素子を並設してなる多チャンネル型検出器とを被検
体を介して回転しながら各位置でX線曝射および透過X
線の検出を繰り返して上記被検体の多方向投影データを
収集し、その多方向投影データを所定の再構成処理に供
することで断層像を得るX線コンピュータトモグラフィ
装置において、少なくとも上記シャフトを含む上記X線
管内部の複数箇所の温度に基づいて上記X線管の焦点位
置を特定する手段と、
【0072】上記X線管内部の温度上昇に伴うX線焦点
の移動に起因する上記多チャンネル型検出器の感度変化
を補正する手段とを具備したので、実際の焦点位置とほ
とんど誤差なくX線管の焦点位置を特定でき、したがっ
てX線管内部の温度上昇に伴うX線焦点の移動に基づく
多チャンネル型検出器の感度変化に起因するアーチファ
クトを良好に低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例の概略構成を示す図。
【図2】X線爆射履歴を説明する図。
【図3】焦点位置の移動を説明する図。
【図4】CALIBデータが許容する範囲を説明する
図。
【図5】感度変化曲線を示す図。
【図6】第2実施例の概略構成を示す図。
【図7】温度センサの取り付け位置を説明するためのX
線管断面図。
【図8】第3実施例の概略構成を示す図。
【図9】図8のスリットの平面図。
【図10】焦点位置検出用の検出器の配置を示す斜視
図。
【図11】焦点位置検出用の検出器の受光面上のビーム
状X線の照射野を示す図。
【図12】焦点移動に伴う焦点位置検出用の検出器の受
光面上のビーム状X線の照射野の移動を説明する図。
【図13】X線プロフィールと焦点位置との関係を説明
する図。
【図14】2分割タイプの焦点位置検出用の検出器を示
す図。
【図15】第4実施例の概略構成を示す図。
【図16】図15のアライメント調整装置によるX線管
の移動について説明する図。
【図17】アライメント調整装置を第2実施例に適用し
た場合の概略構成図。
【図18】アライメント調整装置を第3実施例に適用し
た場合の概略構成図。
【図19】従来のX線コンピュータトモグラフィ装置の
概略構成を示す斜視図。
【図20】X線管の断面図。
【図21】X線焦点移動の模式図。
【図22】従来の問題点を説明する模式図。
【図23】A値と焦点位置との関係を示すグラフ。
【符号の説明】
1…X線管、2…絞り装置、3…スリット、4…多チャ
ンネル型X線検出器、5…データ収集装置、6…再構成
装置、7…CALIBデータ群メモリ、8…焦点位置計
算装置、9…X線制御装置、11…回転陽極、12…シ
ャフト。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シャフトにより回転自在に支持された回
    転陽極を備えたX線管と検出素子を並設してなる多チャ
    ンネル型検出器とを被検体を介して回転しながら各位置
    でX線曝射および透過X線の検出を繰り返して前記被検
    体の多方向投影データを収集し、その多方向投影データ
    を所定の再構成処理に供することで断層像を得るX線コ
    ンピュータ断層撮影装置において、 少なくとも前記シャフトを含む前記X線管内部の複数箇
    所の温度に基づいて前記X線管の焦点位置を特定する手
    段と、 前記X線管内部の温度上昇に伴うX線焦点の移動に起因
    する前記多チャンネル型検出器の感度変化を補正する手
    段とを具備したことを特徴とするX線コンピュータトモ
    グラフィ装置。
  2. 【請求項2】 前記補正手段は、前記X線管内部の温度
    上昇に伴って移動する前記X線焦点の移動経路の各位置
    に対応する複数の検出素子間感度補正用データを保管す
    る手段と、 前記特定手段で特定された前記焦点位置に対応する検出
    素子間感度補正用データを前記保管手段から取りだし、
    この検出素子間感度補正用データに基づいて前記多チャ
    ンネル型検出器の出力を補正する手段とを備えたことを
    特徴とする請求項1に記載のX線コンピュータトモグラ
    フィ装置。
  3. 【請求項3】 前記補正手段は、前記特定手段で特定さ
    れた前記焦点位置に基づいて前記X線焦点を所定位置に
    移動する手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載
    のX線コンピュータトモグラフィ装置。
  4. 【請求項4】 X線管と検出素子を並設してなる多チャ
    ンネル型検出器とを被検体を介して回転しながら各位置
    でX線曝射および透過X線の検出を繰り返して前記被検
    体の多方向投影データを収集し、その多方向投影データ
    を所定の再構成処理に供することで断層像を得るX線コ
    ンピュータ断層撮影装置において、 前記X線管内部の温度上昇に伴うX線焦点の移動に応じ
    て変化する前記X線管からのX線照射野の位置に基づい
    て焦点位置を特定する手段と、 前記X線管内部の温度上昇に伴う前記X線焦点の移動に
    よる前記多チャンネル型検出器の感度変化を補正する手
    段とを具備したことを特徴とするX線コンピュータトモ
    グラフィ装置。
  5. 【請求項5】 前記補正手段は、前記X線管内部の温度
    上昇に伴って移動するX線焦点の移動経路の各位置に対
    応する複数の検出素子間感度補正用データを保管する手
    段と、 前記特定手段で特定された前記焦点位置に対応する検出
    素子間感度補正用データを前記保管手段から取りだし、
    この検出素子間感度補正用データに基づいて前記多チャ
    ンネル型検出器の出力を補正する手段とを備えたことを
    特徴とする請求項4に記載のX線コンピュータトモグラ
    フィ装置。
  6. 【請求項6】 前記補正手段は、前記特定手段で特定さ
    れた前記焦点位置に基づいて前記X線管の焦点を所定位
    置に移動する手段を備えたことを特徴とする請求項4に
    記載のX線コンピュータトモグラフィ装置。
JP4325159A 1992-12-04 1992-12-04 X線コンピュータトモグラフィ装置 Pending JPH06169914A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4325159A JPH06169914A (ja) 1992-12-04 1992-12-04 X線コンピュータトモグラフィ装置
US08/378,095 US5566220A (en) 1992-12-04 1995-01-25 X-ray computerized tomography apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4325159A JPH06169914A (ja) 1992-12-04 1992-12-04 X線コンピュータトモグラフィ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06169914A true JPH06169914A (ja) 1994-06-21

Family

ID=18173683

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4325159A Pending JPH06169914A (ja) 1992-12-04 1992-12-04 X線コンピュータトモグラフィ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06169914A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08154926A (ja) * 1994-12-06 1996-06-18 Toshiba Corp Ctスキャナ
US6322248B1 (en) 2000-01-03 2001-11-27 Ge Yokogawa Medical Systems, Limited X-ray impinging position alignment method and x-ray tomographic imaging method and apparatus
KR100718671B1 (ko) * 2005-07-05 2007-05-15 (주)디알젬 2차원 참조검출기 및 참조 검출기용 콜리메이터를 포함하는고해상도 콘빔 엑스선 단층 촬영 장치
JP4535578B2 (ja) * 2000-08-03 2010-09-01 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー X線ctシステム及び操作コンソール及び制御方法及び記憶媒体
WO2012043199A1 (ja) * 2010-09-29 2012-04-05 株式会社 日立メディコ X線撮像装置及びx線撮像装置のx線焦点位置制御方法
JP5437991B2 (ja) * 2008-03-03 2014-03-12 株式会社日立メディコ X線ct装置とx線ビーム位置補正方法
US9271683B2 (en) 2012-11-30 2016-03-01 General Electric Company Radiation focal position detecting method, radiation detecting apparatus and radiation tomographic imaging apparatus

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08154926A (ja) * 1994-12-06 1996-06-18 Toshiba Corp Ctスキャナ
US6322248B1 (en) 2000-01-03 2001-11-27 Ge Yokogawa Medical Systems, Limited X-ray impinging position alignment method and x-ray tomographic imaging method and apparatus
JP4535578B2 (ja) * 2000-08-03 2010-09-01 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー X線ctシステム及び操作コンソール及び制御方法及び記憶媒体
KR100718671B1 (ko) * 2005-07-05 2007-05-15 (주)디알젬 2차원 참조검출기 및 참조 검출기용 콜리메이터를 포함하는고해상도 콘빔 엑스선 단층 촬영 장치
JP5437991B2 (ja) * 2008-03-03 2014-03-12 株式会社日立メディコ X線ct装置とx線ビーム位置補正方法
WO2012043199A1 (ja) * 2010-09-29 2012-04-05 株式会社 日立メディコ X線撮像装置及びx線撮像装置のx線焦点位置制御方法
US9247914B2 (en) 2010-09-29 2016-02-02 Hitachi Medical Corporation X-ray imaging apparatus and X-ray focus position control method of X-ray imaging apparatus
JP5916226B2 (ja) * 2010-09-29 2016-05-11 株式会社日立メディコ X線撮像装置及びx線撮像装置のx線焦点位置制御方法
US9271683B2 (en) 2012-11-30 2016-03-01 General Electric Company Radiation focal position detecting method, radiation detecting apparatus and radiation tomographic imaging apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4478335B2 (ja) X線ビームの動きを補正するための方法および装置
US9247914B2 (en) X-ray imaging apparatus and X-ray focus position control method of X-ray imaging apparatus
US5867553A (en) Computed tomography scanner with reduced power x-ray source
JP4880587B2 (ja) コンピュータ断層撮影のための動的線量制御
JP4079472B2 (ja) マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてx線ビームの位置を決定するシステム
US7409043B2 (en) Method and apparatus to control radiation tube focal spot size
JP4554046B2 (ja) Ct用x線ビーム追跡ループを較正する方法及び装置
JP5020532B2 (ja) Ctのx線ビームのトラッキング・ループを較正する装置及び記録媒体
JP4554045B2 (ja) Ctイメージング用x線ビームを位置決めする方法及び装置
EP0793902A1 (en) X-ray focal spot movement compensation system
US5301108A (en) Computed tomography system with z-axis correction
JPH04227238A (ja) コンピュータ断層撮影システム
JP5808734B2 (ja) X線撮像装置
JP2005056843A (ja) イメージング管のための焦点位置調整システム
US5473663A (en) Method for evaluating the performance of detectors in a computed tomography system
US5566220A (en) X-ray computerized tomography apparatus
JP3914601B2 (ja) 計算機式断層写真法システム用の計算機
WO2011068145A1 (ja) X線ct装置
US20160199019A1 (en) Method and apparatus for focal spot position tracking
JPH06169914A (ja) X線コンピュータトモグラフィ装置
JP2004000623A (ja) コンピュータトモグラフの絞り調節方法およびコンピュータトモグラフ
JP4397513B2 (ja) X線ct装置
JP4675472B2 (ja) 最適化データ取得によりct画質を最適化する方法及び装置
US7161157B2 (en) Self regulating detector rail heater for computed tomography imaging systems
JPH06269443A (ja) X線ct装置