JPH04227238A - コンピュータ断層撮影システム - Google Patents

コンピュータ断層撮影システム

Info

Publication number
JPH04227238A
JPH04227238A JP3106438A JP10643891A JPH04227238A JP H04227238 A JPH04227238 A JP H04227238A JP 3106438 A JP3106438 A JP 3106438A JP 10643891 A JP10643891 A JP 10643891A JP H04227238 A JPH04227238 A JP H04227238A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fan beam
collimator
tomography system
computed tomography
plane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3106438A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2731046B2 (ja
Inventor
Jonathan C Boomgaarden
ジョナサン・カール・ブームガーデン
Thomas L Toth
トーマス・ルイス・トス
August O Englert
オーガスト・オットー・エングラート
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JPH04227238A publication Critical patent/JPH04227238A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2731046B2 publication Critical patent/JP2731046B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/06—Diaphragms
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4021—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータ断層撮影
システム等に使用されるＸ線コリメータに関し、更に詳
しくはＸ線管の焦点スポットの位置の誤整列から生ずる
検出器機構におけるＸ線ファンビーム位置および入射角
度のエラーを補正するコリメータシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】コンピュータ断層撮影システムは、本技
術分野で知られているように、一般に被撮像体を通るよ
うに向けられ、Ｘ線検出器アレイによって受信されるフ
ァンビームを形成するようにコリメートされるＸ線源を
有している。Ｘ線源および検出器アレイは、「撮像面」
と呼ばれるデカルト座標系のｘ−ｙ面内に存在するよう
に方向付けられている。Ｘ線源および検出器アレイは被
撮像体の周り、従ってデカルト座標系のｚ軸の周りを撮
像面内において構台（ｇａｎｔｒｙ）の上で一緒に回転
することができる。構台を回転させることによって、「
構台」角度と呼ばれるファンビームが被撮像体を横切る
角度が変化する。
【０００３】検出器アレイは検出素子で構成され、この
検出素子の各々はＸ線源からそれぞれの特定の検出素子
に投射される光線路に沿って送出された放射線の強度を
測定する。各構台角度において、検出素子の各々からの
強度信号からなる投影が得られる。それから、構台は新
しい構台角度に回転し、この処理が繰り返されて、多数
の構台角度における多数の投影が集められ、断層撮影投
影群が形成される。
【０００４】得られた各断層撮影投影群は数値として蓄
積され、周知のアルゴリズムに従って断面像を再構成す
るようにコンピュータ処理される。この再構成された像
は通常のＣＲＴ管上に表示されたり、またはコンピュー
タ制御されたカメラによってフィルムレコードに変換さ
れる。
【０００５】Ｘ線源は通常アノードおよびカソードを有
する真空のガラスエンベーロプからなるＸ線「管」であ
る。カソードからの電子がアノードとカソードの間の高
電圧によってアノード上の焦点スポットに加速される場
合にＸ線が発生する。所与のＸ線手順に対するアノード
およびカソードの間に印加される電圧、アノードおよび
カソードの間に流れる電流および照射時間は「照射条件
（ｅｘｐｏｓｕｒｅ　ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ）」と称され
る。
【０００６】Ｘ線を発生する場合の熱変換効率は低く、
この結果かなりの熱がＸ線管のアノードに発生する。こ
のため、アノードは焦点スポットが常にアノードの新し
い冷えた領域にあたるように高速度で回転する。それで
も、アノードの表面温度は一連の断層撮影投影群のため
の投影獲得中に２０００゜Ｃの高さに上昇し、軸の上で
回転するアノード支持構造体は４００゜Ｃ以上に上昇す
る。
【０００７】Ｘ線源が加熱するに従って、アノード支持
構造体は熱膨張し、その結果Ｘ線管のガラスエンベロー
プに対して焦点スポットが移動し、ファンビームも移動
する。焦点スポットは一連の断層撮影投影群の獲得中に
熱膨張によって０．２５ｍｍ（０．０１インチ）移動す
る。
【０００８】アノード軸は構台の動作中にザイロスコー
プのトルクが回転するアノードに作用しないように構台
が周りを回転するｚ軸と一列に揃っている。従って、ア
ノード支持構造体の熱膨張によって焦点スポットはｚ軸
に沿って移動する傾向がある。コリメータの位置が一定
である場合、ｚ軸において焦点スポットが移動すると、
ファンビームは検出器アレイの面に沿って反対方向に掃
引する。
【０００９】焦点スポットを動かす別の原因は構台が回
転する場合の構台および回転アノードの機械的応力であ
る。この応力は構台およびアノードに作用する構台の回
転速度の関数である求心加速の変化する大きさおよび重
力加速の変化する角度から生ずる。この結果生ずる力に
よって焦点スポットは更に０．２５ｍｍ（０．０１イン
チ）まで更に動かされる。
【００１０】検出器アレイは本技術分野で知られている
ようにイオン化タイプの検出器であるかまたは固体検出
器である。両タイプの検出器はＸ線に対する感度が検出
器の面に沿ったファンビームの位置の関数として変化す
る。従って、Ｘ線源の焦点スポットの機械的歪みまたは
熱ドリフトの結果としてファンビームが移動することに
より検出器アレイからの信号の強度が変化する。断層撮
影投影群の獲得の間におけるこのような信号強度の変化
はその結果再構成される画像にリング上の画像アーチフ
ァクトを発生する。
【００１１】また、コリメータの位置が一定である場合
、ｚ軸における焦点スポットの移動はファンビームと撮
像面との整列に影響を与える。像再構成の計算において
は、獲得した各投影は単一面内で取られている。また、
ファンビームと画像面との平行が欠けると、再構成画像
にシェーディングおよび縞状の画像アーティファクトが
発生する。また、スライス幅が小さい場合には、構台お
よびアノードに対する動作によって誘導される応力によ
る誤整列によって対向し誤整列した状態を見たものから
再構成される画像の有効なスライス幅はかなり拡大され
る。この動作によって発生する誤整列は傷害のような小
さな被撮像部に対するコントラスト解像度を低減し、こ
の小さな部分を検出しにくくする。更に、ＣＴ撮像シス
テムの空間解像度はスライスに対して傾斜した角度にお
ける高周波に対して低減する。
【００１２】
【発明の概要】本発明によれば、コリメータ位置Ｃｚ　
は、ファンビーム面の整列を制御するように、従って画
像アーチファクトを低減するように自動的に調整される
。ファンビームを遮るように設けられているｚ軸片寄り
検出器はファンビーム面の位置に依存するファンビーム
位置信号を発生し、エラー信号がこの位置信号から発生
する。コリメータコントローラは、エラー信号に応答し
、エラー信号を減らすようにコリメータ位置Ｃｚ　を変
更する。
【００１３】本発明の一目的は、検出器に対するファン
ビーム位置の変化から生ずる画像アーチファクトを低減
することにある。第１の実施例においては、エラー信号
はファンビーム位置と整列点との間の差に比例する。コ
リメータコントローラは、エラー信号を低減するように
コリメータの位置を変更し、これによりファンビーム面
を整列点に対して整列させる。これにより、検出器アレ
イに対するファンビーム面のドリフトは補正される。
【００１４】本発明の他の目的は、画像面の角度からの
ファンビーム面の角度の偏差から生ずる画像アーチファ
クトを低減することにある。第２の実施例においては、
エラー信号はファンビームの位置とコリメータの位置と
の間の差に比例する。コリメータコントローラはコリメ
ータの位置をファンビームの位置に等しくすることによ
ってエラー信号を低減するようにコリメータの位置を変
更し、ファンビーム面を撮像面に対して整列させる。こ
れにより、画像面からのファンビーム面の角度の偏差が
補正される。
【００１５】本発明の他の目的は、Ｘ線源または検出器
アレイの最初の組立または後の取り替えの間にＸ線源を
検出器アレイに対して迅速に整列させることを可能にす
ることである。本発明の調整可能なコリメータは機械的
停止手段によってＸ線源を大ざっぱに整列させることが
できる。最終的には、正確な整列がコリメータの移動に
よって自動的に行われる。
【００１６】本発明の更に他の目的は、検出器アレイの
固体素子の面上におけるファンビームの位置の関数であ
る感度における変動が大きい検出器アレイの固体素子を
使用することを可能にすることである（ｚ軸感度）。現
在、固体検出素子はｚ軸感度の低いユニットを選択する
ように選び出されている。本発明は、ファンビームのｚ
軸ドリフトを低減することによってｚ軸感度の高い検出
素子を使用することを可能とし、これにより浪費および
費用を低減している。
【００１７】初期の投影データの獲得の間に、Ｘ線管の
前の使用状態、従ってＸ線管のアノードおよびその支持
構造体によって吸収される熱に基づいて正しいコリメー
タの位置が推定される。メモリはＸ線管とともに使用さ
れた前の照射条件および各条件の使用時間を記憶する。 この情報からＸ線管の熱膨張が予測され、現在の焦点ス
ポット位置Ｆｚ　の値が推定される。コリメータコント
ローラはＦｚ　の予測した値に応じてコリメータを位置
決めする。
【００１８】本発明の他の目的は、ｚ軸片寄り検出器に
よってファンビーム位置の測定前にファンビーム面を補
正することである。
【００１９】他の実施例においては、構台およびＸ線管
に作用する機械的応力が構台速度および角度に基づいて
推定される。この情報から、焦点スポットの機械的片寄
りが推定され、現在の焦点スポット位置Ｆｚ　の値が計
算される。コリメータコントローラはＦｚ　の予測値に
応じてコリメータを位置決めする。
【００２０】本発明の他の目的は、動作によって誘導さ
れる機械的応力から生ずるファンビーム面の補正を行う
ことである。
【００２１】上述したもの以外の他の目的および利点は
本技術分野に経験を有する者にとっては次に示す本発明
の好適実施例の説明から明らかであろう。この説明では
、本発明の一例を示す添付図面を参照している。しかし
ながら、このような例は本発明の種々の別の形態を網羅
するものでないので、本発明の範囲の決定には特許請求
の範囲を参照されたい。
【００２２】
【実施例の説明】「第３世代の」コンピュータ断層撮影
スキャナを示している図１を参照すると、構台２０は、
コリメータ３８によってコリメートされ、Ｘ線ファンビ
ーム２２を被撮像体１２を通して検出器アレイ１４に投
射するＸ線源１０を有している。このＸ線源１０および
検出器アレイ１４は、デカルト座標系のｘ−ｙ面と整列
している撮像面６０内において座標系のｚ軸の周りを矢
印２８で示すように構台２０上で回転する。
【００２３】検出器アレイ１４は撮像面６０内に構成さ
れた多数の検出素子１６で構成されている。この検出素
子１６はともに被撮像体１２を通過するＸ線の減衰によ
って形成される投影画像を検出する。
【００２４】ファンビーム２２はＸ線源１０内の焦点ス
ポット２６から発生し、ファンビーム２２内の中心に設
けられているファンビーム軸２３に沿って進む。ファン
ビームの広い面に沿って測定されるファンビーム角は被
撮像体１２に対する角度よりも大きく、従ってファンビ
ーム２２の２つの周辺ビーム２４はほぼ減衰することな
く被撮影体のそばを通る。この周辺ビーム２４は検出器
アレイ１４内の周辺検出素子１８によって受信される。
【００２５】図３を参照すると、Ｘ線源１０（図３には
示されていない）の焦点スポット２６から放出されるコ
リメートされていないＸ線１９は一次開口部４０によっ
て粗いファンビーム２１に形成される。この粗いファン
ビーム２１はコリメータ３８によってファンビーム２２
にコリメートされる。
【００２６】図３、図４（ａ）および図４（ｂ）を参照
すると、コリメータ３８は粗いファンビーム２１内にお
いてベアリング４２上に保持された円筒形のＸ線吸収用
モリブデンマンドレル３９から構成されている。ベアリ
ング４２はマンドレル３９がその軸の周りに回転するこ
とを可能にしている。複数のテーパを付けられたスロッ
ト４１がマンドレルの直径を通って切り抜かれ、マンド
レル３９の長手方向に沿って延在している。スロット４
１はマンドレルの軸の周りに種々の角度で切り抜かれ、
マンドレル３９の回転により、粗いファンビーム２１の
光線がスロット４１を通過してファンビーム２２を形成
するように各スロット４１は粗いファンビームと整列で
きる。
【００２７】図４（ａ）および図４（ｂ）を参照すると
、テーパを付けられたスロット４１は種々の幅のもので
あり、従ってマンドレル３９を回転することによって図
４（ｂ）に示すような狭いもの（１ｍｍ）および図４（
ｂ）に示すような広いもの（１０ｍｍ）の間でファンビ
ーム２２の幅を変えることができる。スロット４１はフ
ァンビーム２２の寸法上の正確さおよび繰り返し利用で
きることを保証している。
【００２８】スロット４１は、粗いファンビーム２１に
対して方向付けられた場合に各スロット４１の入口開口
部４３が出口開口部４５よりも広くなるようにテーパが
付けられている。出口開口部４５はファンビーム２２の
幅を定め、入口開口部４３の余分な幅は、マンドレル３
９の回転が以下に詳細に説明するようにファンビーム軸
２３の整列化を制御するために使用されるときに、この
マンドレル３９の回転の際に入口開口部４３の各縁部が
粗いファンビーム２１を阻止することを防止している。
【００２９】図３を再び参照すると、位置調整用モータ
４８がフレキシブル継ぎ手５０を介してマンドレル３９
の一端に接続されている。マンドレル３９の他端はポジ
ションエンコーダ４６に取り付けられている。エンコー
ダ４６はモータ４８によるマンドレルの位置調整を正確
に行うことができるものである。マンドレル３９の両端
のファンビーム角度シャッタ４４はファンビーム角を制
御する。
【００３０】図５を参照するとＸ線源１０は回転アノー
ド５２から構成されている。この回転アノード５２は真
空のガラス管（図示せず）内に保持され、ベアリング５
６（１つが示されている）上に保持されているアノード
軸５４を主に有する支持構造によって支持されている。 粗いファンビーム２１はアノード５２の面の焦点スポッ
ト２６から発生する。ｚ軸に沿った焦点スポット２６の
位置はＦｚ　で表わされ、焦点スポット２６が以下に説
明する基準点Ｆｏ　にある場合、ゼロに等しいとして定
義される。
【００３１】粗いファンビーム２１はそれからコリメー
タ３８によってコリメートされ、上述したようにファン
ビーム２２を形成する。粗いファンビーム２１（図３に
示す）と整列されるスロット４１用の出口開口部４５の
中心のｚ軸位置はＣｚ　で表わされ、出口開口部４５の
中心が以下に定められる基準線Ｃｏにある場合、ゼロに
等しいとして定義される。
【００３２】図２を参照すると、ファンビーム２２（図
２に示されていない）は検出器アレイ１４の面上の、従
って周囲の検出素子１８の面上の領域３６を照射する。 周囲の検出素子１８は基準検出器３４およびｚ軸片寄り
検出器３０を有している。ｚ軸片寄り検出器３０の面は
ｚ軸片寄り検出器３０に対するファンビーム位置の関数
としてパーセントが変化するファンビーム２２を阻止す
るようにテーパを付けられたくさび型フィルタ３２によ
って部分的に塞がれている。検出器アレイ１４に対する
照射領域３６の中心のｚ軸位置はファンビーム位置Ｄｚ
　と称され、以下に説明するようにＤｚ　が基準値Ｄｏ
　に等しい場合、ゼロに等しいと定義される。ｚ軸片寄
り検出器３０および基準検出器３２とともにくさび型フ
ィルタ３２を使用したファンビーム位置の検出の詳細な
説明は米国特許第４，５５９，６３９号に記載されてい
る。
【００３３】Ｆｏ　、Ｃｏ　およびＤｏ　は、焦点スポ
ットがＦｏ　にあり、コリメータがＣｏ　にあり、ファ
ンビームの中心が検出器アレイ１４のＤｏ　にある場合
にファンビーム軸２３が撮像面に平行であるように定め
られる。
【００３４】図５を再び参照すると、焦点スポット２６
の中心線、出口開口部４５の中心線および照射領域３６
の中心線を含み、ｚ軸方向にファンビーム２２を二分す
る面は「ファンビーム面」６２と称される。
【００３５】上述したように、アノード５２およびその
支持構造体の熱ドリフトのために、または組立中のＸ線
源１０の小さな誤整列のために、焦点スポット２６は撮
像面６２と整列していない。図６を参照すると、アノー
ド５２は誤整列距離５８だけ撮像面６２から変位して示
されている。この誤整列の影響により焦点スポット位置
Ｆｚ　は撮像面６０から離れるように変位し、ファンビ
ーム照射領域３６の中心は次に示す式に従って反対方向
に移動する。
【００３６】 　　　　　　Ｄｚ　＝−Ｆｚ　（ｌ２　／ｌ１　）　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　（１）ここにおいて、ｌ１　は焦点スポット２６
と出口開口部４５の中心との間の距離であり、ｌ２　は
出口開口部４５の中心と検出器アレイ１４との間の距離
である。典型的なコンピュータ断層撮影システムでは、
比ｌ２　／ｌ１　は約３．３である。
【００３７】図６に示すように、焦点スポット２６が移
動した結果、照射領域３６はもはや中心のＤｏ　になく
、ファンビーム面６２は撮像軸６０と平行でなく、角度
αだけずれている。
【００３８】図７を参照すると、コリメータ３８は撮像
面６２から移動した位置Ｃｚ　に回転している。Ｃｚ　
がＦｚ　に等しい場合、Ｄｚ　はＣｚ　に等しくなり、
ファンビーム面６２は撮像面６２と平行になるように戻
される。このファンビーム面６２の角度補正は「平行補
正」と称される。
【００３９】または、図８を参照すると、コリメータ３
８はＣｚ　がＦｚ・（ｌ２　）／（ｌ１　＋ｌ２　）に
等しくなるように回転させられる。そして、Ｄｚ　はＤ
ｏ　に等しくなり、照射領域３６は再び中心のＤｏ　に
なる。検出器１４に対するファンビーム照射領域３６の
位置補正は「ｚ軸片寄り補正」と称される。
【００４０】要約すると、コリメータ３８を回転させる
ことによってファンビーム面６２を撮像面６２と平行に
したり、または照射領域３６を検出器アレイ１４上のＤ
ｏ　と整列するようにファンビーム面６２の誤整列を補
正することができる。上述したように、これらの補正の
両方によって画像アーチファクトが低減する。
【００４１】最初に、平行補正を行って、ファンビーム
面６２を撮像面６０と平行にすることができることは本
技術分野に専門知識を有する者によって理解されるであ
ろう。それから、その結果のＤｚ　の値がＤｏ　として
定められ、焦点スポット２６の熱ドリフトに対して維持
され、続くｚ軸片寄り補正によって検出器１４の利得を
一定に保証する。
【００４２】図９を参照すると、フィードバック制御シ
ステムは平行補正またはｚ軸片寄り補正を行うために焦
点スポット２６の位置Ｆｚ　の変化に応じてコリメータ
３８の位置Ｃｚ　を制御する。この制御システムの個々
の要素は、本技術分野で知られているように個別のディ
ジタルおよびアナログ機能モジュールの組合せによって
、または好適実施例においては以下に説明するアナログ
−ディジタルおよびディジタルに制御されるインタフェ
ース回路によってアナログ回路モジュールにインタフェ
ースされている高速ディジタルコンピュータ７１（図示
せず）によって実施される。コンピュータ７１によって
実施される機能ブロックは次の説明においては「ソフト
ウェア−」という言葉を前に付けて示し、図９において
は破線７１で囲まれている。
【００４３】ｚ軸片寄り検出器３０および基準検出器３
４からの信号は増幅およびディジタル化のためにｚ軸片
寄り検出器データ獲得システム（ＤＡＳ）６８および基
準検出器ＤＡＳ７０によって受信される。ディジタル化
された信号はコンピュータ７１に供給される。
【００４４】ｚ軸検出器３０からの信号は上述したよう
にコンピュータ７１によって実施されるソフトウェア−
割算器７２において基準検出器３４からの信号によって
分割され、検出器アレイ１４上の照射領域３６のｚ軸位
置Ｄｚ　を示すファンビーム位置信号を発生する。これ
らの２つの信号の分割はくさび形フィルタ３２の作用に
無関係なファンビーム２２の強度における変動の影響を
低減する。検出器アレイ１４からの信号によって出力さ
れるＤｚ　の測定値はＤｚＭとして示され、次に説明す
るソフトウェアの熱力学／幾何学モデルおよびソフトウ
ェアの機械応力モデル８１から出力される予測値Ｄｚｐ
から区別される。
【００４５】Ｘ線源１０で使用された前述した照射条件
、すなわちＸ線管電圧、Ｘ線管電流および照射時間はＸ
線源コントローラ（図示せず）から受信され、照射が開
始した時間とともにコンピュータメモリ７８に蓄積され
、Ｘ線源１０に対する全エネルギ入力のレコードを形成
する。ソフトウェアの熱力学／幾何学モデル７６は時間
の関数であるＸ線源１０からの全エネルギ入力をＸ線管
の種々の部品の温度に等しくし、これによりこれらのＸ
線管の部品の熱膨張および焦点スポット２６の対応する
移動を時間の関数として予測する。このソフトウェアの
熱力学／幾何学モデル７６は所与の設計の管の観察およ
び温度、時間および使用の関数である焦点スポットの移
動の記録から経験的に構成される。最も簡単な構成にお
いては、ソフトウェアの熱力学モデル７６はこれらの測
定した値を保持するルックアップテーブルを有している
。
【００４６】メモリ７８に記憶された条件履歴情報は熱
力学／幾何学モデル７６によって使用され、熱膨張によ
る焦点スポット位置の予測値を発生する。
【００４７】同様に、ソフトウェアの機械応力モデル８
１は構台の回転速度および傾斜角度の関数である経験的
に決定されたまたは分析的に計算された焦点スポットの
移動値のテーブルである。構台の角度および速度は本技
術分野で知られているように構台に取り付けられた角度
エンコーダ（図示せず）からソフトウェアの機械応力モ
デル８１によって受信される。
【００４８】ソフトウェアの熱力学モデル７６によって
予測された焦点スポットの移動はソフトウェアの加算器
８２によってソフトウェアの機械応力モデル８１で予測
された移動に加えられ、予測焦点スポット位置Ｆｚｐを
発生する。Ｄｚｐで表わされるＤｚ　の予測値は次のよ
うにソフトウェアのスケーラ（ｓｃａｌｅｒ）８３によ
って計算される。
【００４９】 　　　　　　Ｄｚｐ＝−（Ｆｚｐ−ΔＣ）（ｌ１　／ｌ
２　）＋ΔＣ　　　　　　　　　　　　　　（２）ここ
において、ΔＣ＝Ｃｚ　−Ｃｏ　である。
【００５０】図９を再び参照すると、第２のソフトウェ
アの加算器７４の負入力は、Ｘ線源１０がオンで、Ｄｚ
Ｍが測定されるとき、ＤｚＭに接続され、またＸ線源１
０がオフであるとき、Ｄｚｐに接続される。
【００５１】２つのエラー信号ε１　またはε２　の一
方が所望の補正形式によってソフトウェアの加算器７４
から出力される。平行補正の場合には、ε１　は次式に
示すようにＣｚ　からＤｚ　を引くことによって出力さ
れる。
【００５２】 　　　　　　ε１　＝Ｃｚ　−Ｄｚ　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　（３）コリメータ位置を制御し、以下に
説明するフィードバックループはこのエラー項ε１　を
減らすように作用し、これによりファンビーム面６２が
撮像面６０に平行になるに必要な条件Ｃｚ　＝Ｄｚ　が
成立する。
【００５３】ｚ軸片寄り補正の場合には、ε２　は次式
に示すようにＤｏ　からＤｚ　を引くことによって出力
される。
【００５４】 　　　　　　ε２　＝Ｄｏ　−Ｄｚ　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　（４）再び、コリメータ位置を制御する
フィードバックループはこのエラー項ε２を減らすよう
に作用し、これによりファンビーム照射領域３６がＤｏ
　に整列するに必要な条件Ｄｚ　＝Ｄｏ　が成立する。
【００５５】エラー項ε１　またはε２　はソフトウェ
アの積分器７５によって示すように時間の関数として積
分され、コリメータ位置変化信号ΔＣが出力される。こ
の信号はソフトウェアの加算器７７によってＣｏ　と加
算され、コリメータ位置Ｃｚ　が出力される。このコリ
メータ位置Ｃｚ　はコリメータ３８の位置を調整するた
めにモータコントローラ８０に供給される。
【００５６】モータコントローラ８０はコンピュータ７
１と異なるアナログモジュールで実施され、コンピュー
タ７１からのディジタル信号によって制御される。モー
タコントローラ８０はまずデカルト位置Ｃｚ　をコリメ
ータアクチュエータの対応する極または回転座標に変換
し、モータ４８および位置エンコーダ４６を含むフィー
ドバックループによってコリメータ３８を位置Ｃｚ　に
位置決めする。また、モータコントローラ８０はいくつ
かのスロット４１をファンビーム２１に整列させるに必
要な種々の角度オフセットにコリメータ３８をオフセッ
トする手段を有する。
【００５７】最初の投影の獲得の間、またはＸ線管があ
る期間冷却された後、エラー信号ε１　またはε２　は
熱力学／幾何学モデル７６、機械応力モデル８１および
ソフトウェアの割り算器７２からのファンビーム位置信
号ＤｚＭから得られる。この動作はｚ軸片寄り検出器３
０および基準チャンネル３２の初期の照射時のＤｚＭの
安定化の間、大きな振幅のコリメータ位置Ｃｚ　の補正
を防止するために行われる。
【００５８】ＤｚＭは安定化された後、ソフトウェアの
加算器７４に再び供給され、ファンビーム位置Ｄｚｐの
予測値を補正するように作用する。また、ＤｚＭの値を
使用して、次式のように熱力学モデル７６から得られた
Ｆｚｐの値を補正する。
【００５９】 　　　　　　Ｆｚｐ＝ΔＣ＋（ΔＣ−ＤｚＭ）（ｌ１　
／ｌ２　）　　　　　　　　　　　　　　　　（５）こ
こにおいて、ΔＣ＝Ｃｚ　−Ｃｏ　である。
【００６０】上述した説明は本発明の好適実施例につい
て行ったものである。本技術分野に専門知識を有する者
にとっては本発明の精神および範囲から逸脱することな
く多くの変更を行うことができるであろう。例えば、フ
ァンビームはｚ軸の片寄りを低減するものと平行エラー
を低減するものとの間の中間の位置に整列させてもよい
。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明で使用されるＸ線源およびＸ線検出器の
構成例を示す概略図である。
【図２】図１の検出器アレイの周辺検出素子を示す平面
図である。
【図３】本発明のコリメータ組立体を示す斜視図である
。
【図４】厚いファンビームおよび薄いファンビーム用の
マンドレルの方向をそれぞれ示す図３のコリメータのマ
ンドレルの断面図である。
【図５】図１の線５−５に沿って取られたＸ線ファンビ
ームの経路を示す簡略断面図であり、Ｘ線管のアノード
、コリメータおよび検出器アレイが誇張して明確に示さ
れている。
【図６】ファンビームの整列におけるＸ線アノードの熱
ドリフトの影響を示す図５に類似した断面図である。
【図７】コリメータを回転して、ファンビーム面を撮像
面に平行にする状態を示している図６に類似した断面図
である。
【図８】コリメータを回転して、ファンビームを検出器
アレイ内に整列させる状態を示す図６に類似した断面図
である。
【図９】本発明による図３のコリメータ用の制御システ
ムを示すブロック図である。
【符号の説明】
１０　　Ｘ線源 １２　　被撮像体 １４　　検出器アレイ １６　　検出素子 ２０　　構台 ２２　　ファンビーム ２６　　焦点スポット ３８　　コリメータ ３９　　マンドレル

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】　　照射条件に従ってファンビーム面に沿
    ってＸ線ファンビームを発生するＸ線源を有し、前記フ
    ァンビーム面は撮像面から角度αずれているとともに、
    位置Ｄｚ　において検出器アレイを横切っているコンピ
    ュータ断層撮影システムであって、位置Ｃｚ　を有し、
    ファンビーム面の整列を制御するコリメータ手段と、フ
    ァンビームを遮るように設けられ、Ｄｚ　に応じた位置
    信号を発生するｚ軸片寄り検出器と、前記位置信号に応
    じてエラー信号を発生するエラー計算手段と、前記エラ
    ー信号に応じて該エラー信号の大きさを低減するように
    前記Ｘ線源および検出器アレイに対するコリメータの相
    対位置Ｃｚ　を変更するコリメータコントローラと、を
    有するコンピュータ断層撮影システム。
  2. 【請求項２】　　前記エラー信号はＤｚ　と整列点Ｄｏ
    　との間の位置の差に比例する請求項１記載のコンピュ
    ータ断層撮影システム。
  3. 【請求項３】　　前記エラー信号はＤｚ　とＣｚ　との
    間の差に比例する請求項１記載のコンピュータ断層撮影
    システム。
  4. 【請求項４】　　焦点スポットから放射するＸ線ファン
    ビームを照射条件に応じてファンビーム面に沿って発生
    するＸ線源を有し、前記ファンビーム面は撮像面から角
    度αずれるとともに、位置Ｄｚ　において検出器アレイ
    を横切っているコンピュータ断層撮影システムであって
    、位置Ｃｚ　を有し、ファンビーム面の整列を制御する
    コリメータ手段と、Ｘ線源とともに使用される照射条件
    の前の値および各照射条件の時間を記憶するメモリと、
    前記メモリに記憶された値から現在のファンビームの位
    置Ｄｚｐを計算する熱力学／幾何学モデルと、ファンビ
    ーム位置Ｄｚｐに応答し、Ｆｚ　に応じてコリメータ位
    置Ｃｚを変更するコリメータコントローラと、を有する
    コンピュータ断層撮影システム。
  5. 【請求項５】　　前記コリメータコントローラはＤｚｐ
    とＣｚ　との間の差を低減するようにコリメータ位置を
    変更する構成を有する請求項４記載のコンピュータ断層
    撮影システム。
  6. 【請求項６】　　前記コリメータコントローラはＤｚｐ
    とＤｏ　との間の差を低減するようにコリメータ位置を
    変更する構成を有する請求項４記載のコンピュータ断層
    撮影システム。
  7. 【請求項７】　　ある回転速度および傾斜角度で軸の周
    りを回転するように構台上に取り付けられ、焦点スポッ
    トから放射するＸ線ファンビームを照射条件に応じてフ
    ァンビーム面に沿って発生するＸ線源を有し、前記ファ
    ンビーム面は撮像面から角度αずれているとともに、位
    置Ｄｚ　において検出器アレイを横切っているコンピュ
    ータ断層撮影システムであって、位置Ｃｚ　を有し、フ
    ァンビーム面の整列を制御するコリメータ手段と、前記
    構台の回転速度および傾斜角度から現在のファンビーム
    位置Ｄｚｐを計算する機械応力モデルと、ファンビーム
    位置Ｄｚｐに応答し、Ｆｚ　に応じてコリメータ位置Ｃ
    ｚ　を変更するコリメータコントローラと、を有するコ
    ンピュータ断層撮影システム。
  8. 【請求項８】　　前記コリメータコントローラはＤｚｐ
    とＣｚ　との間の差を低減するようにコリメータ位置を
    変更する構成を有する請求項７記載のコンピュータ断層
    撮影システム。
  9. 【請求項９】　　前記コリメータコントローラはＤｚｐ
    とＤｏ　との間の差を低減するようにコリメータ位置を
    変更する構成を有する請求項７記載のコンピュータ断層
    撮影システム。
JP3106438A 1990-04-16 1991-04-12 コンピュータ断層撮影システム Expired - Fee Related JP2731046B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/509,598 US4991189A (en) 1990-04-16 1990-04-16 Collimation apparatus for x-ray beam correction
US509,598 1990-04-16

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04227238A true JPH04227238A (ja) 1992-08-17
JP2731046B2 JP2731046B2 (ja) 1998-03-25

Family

ID=24027337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3106438A Expired - Fee Related JP2731046B2 (ja) 1990-04-16 1991-04-12 コンピュータ断層撮影システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4991189A (ja)
EP (1) EP0453174B1 (ja)
JP (1) JP2731046B2 (ja)
CA (1) CA2034329A1 (ja)
DE (1) DE69111667T2 (ja)
IL (1) IL97763A0 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5949843A (en) * 1996-10-23 1999-09-07 Hitachi Medical Corporation X-ray tomography apparatus
JP2008023039A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2010524619A (ja) * 2007-04-25 2010-07-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Ｘ線ビームのｚ軸位置決め
JP5437991B2 (ja) * 2008-03-03 2014-03-12 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置とｘ線ビーム位置補正方法
JP2014104356A (ja) * 2012-11-27 2014-06-09 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｃｔコリメータおよびｃｔコリメータを備えるｃｔシステム
JP2019010443A (ja) * 2017-06-30 2019-01-24 キヤノン電子管デバイス株式会社 Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ方法、およびコリメータ

Families Citing this family (114)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5485493A (en) * 1988-10-20 1996-01-16 Picker International, Inc. Multiple detector ring spiral scanner with relatively adjustable helical paths
US5054041A (en) * 1990-03-19 1991-10-01 General Electric Company High precision x-ray collimator
US4991189A (en) * 1990-04-16 1991-02-05 General Electric Company Collimation apparatus for x-ray beam correction
US5090037A (en) * 1990-11-19 1992-02-18 General Electric Company Helical scanning computed tomography with tracking x-ray source
JP3119881B2 (ja) * 1991-02-07 2000-12-25 株式会社東芝 Ｘ線診断装置
US5131021A (en) * 1991-06-21 1992-07-14 General Electric Company Computed tomography system with control and correction of fan beam position
DE4207006C2 (de) * 1992-03-05 1994-07-14 Siemens Ag Computertomograph
US5224136A (en) * 1992-06-30 1993-06-29 General Electric Company Helical scanning computed tomography apparatus with constrained tracking of the x-ray source
US5469429A (en) * 1993-05-21 1995-11-21 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray CT apparatus having focal spot position detection means for the X-ray tube and focal spot position adjusting means
US5430784A (en) * 1994-02-28 1995-07-04 General Electric Company Computerized tomography imaging using multi-slice detector with selectable slice thickness
US5473663A (en) * 1994-09-12 1995-12-05 General Electric Company Method for evaluating the performance of detectors in a computed tomography system
US5473656A (en) * 1994-09-15 1995-12-05 General Electric Company Computed tomography system with correction for z-axis detector non-uniformity
KR980700796A (ko) * 1994-11-22 1998-03-30 토비 에취. 쿠스머 단층촬영 영상데이타의 정규화 (normalization of tomographic image data)
US5550886A (en) * 1994-11-22 1996-08-27 Analogic Corporation X-Ray focal spot movement compensation system
DE4442854C1 (de) * 1994-12-01 1996-02-01 Siemens Ag Computertomograph
US5608776A (en) * 1995-10-10 1997-03-04 General Electric Company Methods and apparatus for twin beam computed tomography
US5867553A (en) * 1995-11-02 1999-02-02 Analogic Corporation Computed tomography scanner with reduced power x-ray source
GB2340015B (en) * 1995-11-02 2000-04-26 Analogic Corp Computed tomography scanner with reduced power x-ray source
KR100271904B1 (ko) * 1995-11-28 2001-01-15 토비 에취. 쿠스머 X-선튜우브초점의사전교정장치와방법
US5657364A (en) * 1995-12-14 1997-08-12 General Electric Company Methods and apparatus for detecting beam motion in computed tomography imaging systems
US5644614A (en) * 1995-12-21 1997-07-01 General Electric Company Collimator for reducing patient x-ray dose
US5706326A (en) * 1995-12-22 1998-01-06 General Electric Company Systems and methods of determining focal spot x-axis position from projection data
IL118496A0 (en) * 1996-05-30 1996-09-12 Ein Gal Moshe Collimators
JP3527381B2 (ja) * 1997-02-28 2004-05-17 株式会社島津製作所 Ｘ線ｃｔ装置
US6173039B1 (en) 1998-08-25 2001-01-09 General Electric Company Variable aperture z-axis tracking collimator for computed tomograph system
US6141402A (en) * 1998-08-25 2000-10-31 General Electric Company Methods and apparatus for dose verification in an imaging system
US6185275B1 (en) * 1998-08-25 2001-02-06 General Electric Company Systems and methods for correcting focal spot thermal drift
US6094469A (en) * 1998-10-21 2000-07-25 Analogic Corporation Computed tomography system with stable beam position
US6256364B1 (en) * 1998-11-24 2001-07-03 General Electric Company Methods and apparatus for correcting for x-ray beam movement
US6302580B1 (en) 1998-11-25 2001-10-16 General Electric Company Apparatus for solid state digital imager tracking radiography
US6325539B1 (en) * 1998-12-31 2001-12-04 General Electric Company Calibration simplification for a computed tomograph system
US6310938B1 (en) 1999-08-27 2001-10-30 General Electric Company Methods and apparatus for calibrating CT x-ray beam tracking loop
US6385279B1 (en) 1999-08-27 2002-05-07 General Electric Company Methods and apparatus for positioning a CT imaging x-ray beam
US6327331B1 (en) 1999-12-28 2001-12-04 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and apparatus for analyzing CT z-axis beam positioning
US6322248B1 (en) * 2000-01-03 2001-11-27 Ge Yokogawa Medical Systems, Limited X-ray impinging position alignment method and x-ray tomographic imaging method and apparatus
US6351517B1 (en) * 2000-07-07 2002-02-26 General Electric Company Method and apparatus for predicting x-ray tube failures in computed tomography systems
US6449340B1 (en) 2000-07-31 2002-09-10 Analogic Corporation Adjustable x-ray collimator
US6396902B2 (en) 2000-07-31 2002-05-28 Analogic Corporation X-ray collimator
US6556657B1 (en) 2000-08-16 2003-04-29 Analogic Corporation X-ray collimator and method of manufacturing an x-ray collimator
JP3964615B2 (ja) * 2000-11-09 2007-08-22 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー コリメータ制御方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置
JP3947372B2 (ja) * 2001-07-25 2007-07-18 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔシステムにおけるアパーチャの位置調整機構およびガントリ装置ならびにその制御方法
US6647092B2 (en) * 2002-01-18 2003-11-11 General Electric Company Radiation imaging system and method of collimation
US7486768B2 (en) * 2002-07-23 2009-02-03 Rapiscan Security Products, Inc. Self-contained mobile inspection system and method
US9958569B2 (en) 2002-07-23 2018-05-01 Rapiscan Systems, Inc. Mobile imaging system and method for detection of contraband
US8275091B2 (en) 2002-07-23 2012-09-25 Rapiscan Systems, Inc. Compact mobile cargo scanning system
US7322745B2 (en) * 2002-07-23 2008-01-29 Rapiscan Security Products, Inc. Single boom cargo scanning system
US7369643B2 (en) * 2002-07-23 2008-05-06 Rapiscan Security Products, Inc. Single boom cargo scanning system
US7783004B2 (en) * 2002-07-23 2010-08-24 Rapiscan Systems, Inc. Cargo scanning system
US8503605B2 (en) 2002-07-23 2013-08-06 Rapiscan Systems, Inc. Four sided imaging system and method for detection of contraband
US7963695B2 (en) 2002-07-23 2011-06-21 Rapiscan Systems, Inc. Rotatable boom cargo scanning system
US6898269B2 (en) * 2003-02-10 2005-05-24 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Methods and apparatus for x-ray images
US9113839B2 (en) 2003-04-25 2015-08-25 Rapiscon Systems, Inc. X-ray inspection system and method
US8837669B2 (en) 2003-04-25 2014-09-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US7949101B2 (en) 2005-12-16 2011-05-24 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US8243876B2 (en) 2003-04-25 2012-08-14 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US20050058242A1 (en) 2003-09-15 2005-03-17 Peschmann Kristian R. Methods and systems for the rapid detection of concealed objects
US8451974B2 (en) 2003-04-25 2013-05-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items
GB0525593D0 (en) 2005-12-16 2006-01-25 Cxr Ltd X-ray tomography inspection systems
US8223919B2 (en) 2003-04-25 2012-07-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
US6928141B2 (en) 2003-06-20 2005-08-09 Rapiscan, Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers
US7031434B1 (en) 2003-08-06 2006-04-18 General Electric Company Method of manufacturing, and a collimator mandrel having variable attenuation characteristics for a CT system
US7856081B2 (en) * 2003-09-15 2010-12-21 Rapiscan Systems, Inc. Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence
JP3961468B2 (ja) 2003-09-19 2007-08-22 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 放射線計算断層画像装置およびそれに用いる放射線検出器
US7286639B2 (en) * 2003-12-12 2007-10-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Focal spot sensing device and method in an imaging system
US20060269033A1 (en) * 2005-01-21 2006-11-30 Taleyarkhan Rusi P Nuclear material detection system
GB2423687B (en) * 2005-02-25 2010-04-28 Rapiscan Security Products Ltd X-ray security inspection machine
US7471764B2 (en) 2005-04-15 2008-12-30 Rapiscan Security Products, Inc. X-ray imaging system having improved weather resistance
US7274774B2 (en) * 2005-10-11 2007-09-25 General Electric Company Digital rotation using a square x-ray detector and a rotating collimator
US8213570B2 (en) 2006-02-27 2012-07-03 Rapiscan Systems, Inc. X-ray security inspection machine
US7526064B2 (en) 2006-05-05 2009-04-28 Rapiscan Security Products, Inc. Multiple pass cargo inspection system
US7542541B2 (en) * 2006-10-20 2009-06-02 General Electric Company View weighting methods and apparatus
WO2008075267A2 (en) * 2006-12-19 2008-06-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for imaging an object
US7632014B2 (en) * 2007-07-25 2009-12-15 General Electric Company Large X-ray detector variable centering for angulation enhancement
US7852980B2 (en) * 2007-10-31 2010-12-14 Xoran Technologies, Inc. Computed tomography with resolution recovery
GB0803643D0 (en) * 2008-02-28 2008-04-02 Rapiscan Security Products Inc Mobile scanning systems
US9036779B2 (en) 2008-02-28 2015-05-19 Rapiscan Systems, Inc. Dual mode X-ray vehicle scanning system
GB0803642D0 (en) 2008-02-28 2008-04-02 Rapiscan Security Products Inc Drive-through scanning systems
GB0803640D0 (en) * 2008-02-28 2008-04-02 Rapiscan Security Products Inc Scanning systems
GB0803641D0 (en) * 2008-02-28 2008-04-02 Rapiscan Security Products Inc Scanning systems
CA2715668A1 (en) * 2008-02-29 2009-09-03 Basf Se Process for preparing alkyl 2-alkoxymethylene-4,4-difluoro-3-oxobutyrates
GB0809107D0 (en) 2008-05-20 2008-06-25 Rapiscan Security Products Inc Scannign systems
GB0809109D0 (en) * 2008-05-20 2008-06-25 Rapiscan Security Products Inc Scanner systems
GB0809110D0 (en) 2008-05-20 2008-06-25 Rapiscan Security Products Inc Gantry scanner systems
US8963094B2 (en) 2008-06-11 2015-02-24 Rapiscan Systems, Inc. Composite gamma-neutron detection system
GB0810638D0 (en) 2008-06-11 2008-07-16 Rapiscan Security Products Inc Photomultiplier and detection systems
US9310323B2 (en) 2009-05-16 2016-04-12 Rapiscan Systems, Inc. Systems and methods for high-Z threat alarm resolution
PL2673660T3 (pl) 2011-02-08 2018-01-31 Rapiscan Systems Inc Tajny nadzór z użyciem wykrywania multimodalnego
US9218933B2 (en) 2011-06-09 2015-12-22 Rapidscan Systems, Inc. Low-dose radiographic imaging system
US9161727B2 (en) 2011-09-01 2015-10-20 Hologic Inc Independently rotatable detector plate for medical imaging device
US9968313B2 (en) * 2012-01-11 2018-05-15 Control Rad Systems Inc X-ray tube
EP2810296A4 (en) 2012-02-03 2015-12-30 Rapiscan Systems Inc COMBINED MULTIVUE IMAGING SYSTEM FOR DIFFUSION AND TRANSMISSION
US10670740B2 (en) 2012-02-14 2020-06-02 American Science And Engineering, Inc. Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors
WO2014107675A2 (en) 2013-01-07 2014-07-10 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanner with partial energy discriminating detector array
PL2952068T3 (pl) 2013-01-31 2021-07-26 Rapiscan Systems, Inc. Przenośny system kontroli bezpieczeństwa
CN103565465B (zh) * 2013-10-30 2016-03-30 沈阳东软医疗系统有限公司 一种ct机焦点的修正方法与装置
US9557427B2 (en) 2014-01-08 2017-01-31 Rapiscan Systems, Inc. Thin gap chamber neutron detectors
US9566040B2 (en) * 2014-05-14 2017-02-14 Swissray Asia Healthcare Co., Ltd. Automatic collimator adjustment device with depth camera and method for medical treatment equipment
EP3048459B1 (en) * 2015-01-21 2023-05-10 Nokia Technologies Oy Scintillators
JP6746603B2 (ja) 2015-03-20 2020-08-26 ラピスカン システムズ、インコーポレイテッド 手持ち式携帯型後方散乱検査システム
US10345479B2 (en) 2015-09-16 2019-07-09 Rapiscan Systems, Inc. Portable X-ray scanner
CN105125235B (zh) * 2015-09-30 2018-09-18 沈阳东软医疗系统有限公司 一种球管预热方法和装置
CN105769231B (zh) * 2016-02-18 2018-12-11 赛诺威盛科技（北京）有限公司 一种限束器在z轴上的射线跟踪方法
US10433811B2 (en) 2016-12-23 2019-10-08 General Electric Company Self-calibrating CT detectors, systems and methods for self-calibration
EP3413691A1 (en) * 2017-06-08 2018-12-12 Koninklijke Philips N.V. Apparatus for generating x-rays
CN107753054B (zh) * 2017-12-04 2021-06-18 上海联影医疗科技股份有限公司 图像校正方法、装置、ct系统及存储介质
CN108318509B (zh) * 2018-02-07 2023-11-28 东方电气集团东方锅炉股份有限公司 用于射线检测的双向对焦方法及对焦装置
GB2590561B (en) 2018-06-20 2021-12-08 American Science & Eng Inc Wavelength-shifting sheet-coupled scintillation detectors
CN110664420B (zh) * 2019-10-11 2023-04-07 上海联影医疗科技股份有限公司 焦点校正方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质
US11779296B2 (en) * 2020-03-20 2023-10-10 Canon Medical Systems Corporation Photon counting detector based edge reference detector design and calibration method for small pixelated photon counting CT apparatus
US11175245B1 (en) 2020-06-15 2021-11-16 American Science And Engineering, Inc. Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity
US11340361B1 (en) 2020-11-23 2022-05-24 American Science And Engineering, Inc. Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner
CN117063064A (zh) 2021-02-23 2023-11-14 拉皮斯坎系统股份有限公司 用于移除具有多个x-射线源的一个或多个扫描系统中的串扰信号的系统和方法
US11779293B2 (en) * 2021-10-29 2023-10-10 GE Precision Healthcare LLC System and method for thermal load prediction of proposed imaging procedures for X-ray tubes
CN117679054A (zh) * 2022-09-09 2024-03-12 上海西门子医疗器械有限公司 准直器的调整方法、控制器、准直器及ct机

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55129044A (en) * 1979-03-27 1980-10-06 Philips Nv Device for detecting partial absorption distribution in body
JPS57160441A (en) * 1981-03-28 1982-10-02 Hitachi Medical Corp X-ray ct apparatus
JPS62278500A (ja) * 1986-05-28 1987-12-03 株式会社日立製作所 コリメ−タ

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3783251A (en) * 1970-11-27 1974-01-01 Varian Associates Computer assisted radiation therapy machine
US4024403A (en) * 1976-03-19 1977-05-17 General Electric Company X-ray cardiovascular examination apparatus
US4466112A (en) * 1982-01-29 1984-08-14 Technicare Corporation Variable detector aperture
US4449228A (en) * 1982-03-30 1984-05-15 Litton Industrial Products, Inc. Collimator logic control system
US4559639A (en) * 1982-11-22 1985-12-17 General Electric Company X-Ray detector with compensation for height-dependent sensitivity and method of using same
US4991189A (en) * 1990-04-16 1991-02-05 General Electric Company Collimation apparatus for x-ray beam correction

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55129044A (en) * 1979-03-27 1980-10-06 Philips Nv Device for detecting partial absorption distribution in body
JPS57160441A (en) * 1981-03-28 1982-10-02 Hitachi Medical Corp X-ray ct apparatus
JPS62278500A (ja) * 1986-05-28 1987-12-03 株式会社日立製作所 コリメ−タ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5949843A (en) * 1996-10-23 1999-09-07 Hitachi Medical Corporation X-ray tomography apparatus
JP2008023039A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2010524619A (ja) * 2007-04-25 2010-07-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Ｘ線ビームのｚ軸位置決め
JP5437991B2 (ja) * 2008-03-03 2014-03-12 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置とｘ線ビーム位置補正方法
JP2014104356A (ja) * 2012-11-27 2014-06-09 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｃｔコリメータおよびｃｔコリメータを備えるｃｔシステム
JP2019010443A (ja) * 2017-06-30 2019-01-24 キヤノン電子管デバイス株式会社 Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ方法、およびコリメータ

Also Published As

Publication number Publication date
US4991189A (en) 1991-02-05
JP2731046B2 (ja) 1998-03-25
DE69111667D1 (de) 1995-09-07
EP0453174A2 (en) 1991-10-23
EP0453174A3 (en) 1992-05-20
IL97763A0 (en) 1992-06-21
DE69111667T2 (de) 1996-04-11
EP0453174B1 (en) 1995-08-02
CA2034329A1 (en) 1991-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04227238A (ja) コンピュータ断層撮影システム
JP4079472B2 (ja) マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてｘ線ビームの位置を決定するシステム
US5550886A (en) X-Ray focal spot movement compensation system
JP2509031B2 (ja) 被作像体の断層撮影投影デ―タを取得する装置
US6094469A (en) Computed tomography system with stable beam position
US5054041A (en) High precision x-ray collimator
US6173039B1 (en) Variable aperture z-axis tracking collimator for computed tomograph system
US7298814B2 (en) Imaging tomography apparatus with multiple operating modes
US6385279B1 (en) Methods and apparatus for positioning a CT imaging x-ray beam
JPH09215685A (ja) プリ・ペイシェント・コリメータ
US5299250A (en) Computer tomography apparatus with compensation for focus migration by adjustment of diaphragm position
US6411677B1 (en) Methods and apparatus for calibrating CT x-ray beam tracking loop
US5579359A (en) Methods and apparatus for calibrating detector cell output signals
JPH09506176A (ja) 回転装置の幾何学的位置及び運動学的パラメータを測定するための装置及び方法
US5706326A (en) Systems and methods of determining focal spot x-axis position from projection data
US5608776A (en) Methods and apparatus for twin beam computed tomography
US7286639B2 (en) Focal spot sensing device and method in an imaging system
JPH10234724A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
US5436950A (en) Fan beam computed tomography apparatus
US20060182228A1 (en) Methods and systems for imaging system radiation source alignment
JPH06169914A (ja) Ｘ線コンピュータトモグラフィ装置
JPH06269443A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JPH11206750A (ja) 放射線照射位置合わせ方法および放射線照射・検出装置並びに放射線断層撮影装置
JPH04329935A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JPS6113815B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19960213

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees