JPH04329935A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPH04329935A JPH04329935A JP3128597A JP12859791A JPH04329935A JP H04329935 A JPH04329935 A JP H04329935A JP 3128597 A JP3128597 A JP 3128597A JP 12859791 A JP12859791 A JP 12859791A JP H04329935 A JPH04329935 A JP H04329935A
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- Japan
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- ray
- collimator
- ray tube
- outputs
- detectors
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- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、計算によって断層像
を作成するＸ線ＣＴ（コンピュータ・トモグラフィ）装
置に関する。
を作成するＸ線ＣＴ（コンピュータ・トモグラフィ）装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置では、Ｘ線ビームで被検体
をスキャンするため、ある程度長い時間、細いビーム幅
のＸ線ビームを連続的に発射する必要がある。とくにダ
イナミックスキャンではある程度継続した時間内での被
検体の動きを捉えるため多数枚の画像を連続的に撮像す
る必要があり、Ｘ線ビームの照射時間は長くなる。
をスキャンするため、ある程度長い時間、細いビーム幅
のＸ線ビームを連続的に発射する必要がある。とくにダ
イナミックスキャンではある程度継続した時間内での被
検体の動きを捉えるため多数枚の画像を連続的に撮像す
る必要があり、Ｘ線ビームの照射時間は長くなる。
【０００３】このようにＸ線管にかなりの負荷がかかる
場合には、Ｘ線ターゲットの熱膨脹のため、Ｘ線焦点が
スキャン中に無視できないほどに大きく移動する。その
ことが、管球に負荷がかかり過ぎるときの画像劣化の原
因となっている。すなわち、図３に示すようにＸ線管１
のフィラメント（陰極）１１から放出された電子がＸ線
ターゲット（陽極）１２に衝突してＸ線ビーム１３が発
生するが、負荷が大きいときにはこのＸ線ターゲット１
２の温度が上昇し、その熱膨張でターゲット１２の大き
さが変わり、Ｘ線ビーム１３の方向が実線から点線へと
変化する。そのためＸ線分布１４が実線から点線のよう
にずれていき、最高の出力となる位置が変化する。する
と、Ｘ線焦点、コリメータ及び検出器の幾何学的配置が
一部崩れて、これが管球に負荷がかかり過ぎるときの画
像の劣化原因となっている。
場合には、Ｘ線ターゲットの熱膨脹のため、Ｘ線焦点が
スキャン中に無視できないほどに大きく移動する。その
ことが、管球に負荷がかかり過ぎるときの画像劣化の原
因となっている。すなわち、図３に示すようにＸ線管１
のフィラメント（陰極）１１から放出された電子がＸ線
ターゲット（陽極）１２に衝突してＸ線ビーム１３が発
生するが、負荷が大きいときにはこのＸ線ターゲット１
２の温度が上昇し、その熱膨張でターゲット１２の大き
さが変わり、Ｘ線ビーム１３の方向が実線から点線へと
変化する。そのためＸ線分布１４が実線から点線のよう
にずれていき、最高の出力となる位置が変化する。する
と、Ｘ線焦点、コリメータ及び検出器の幾何学的配置が
一部崩れて、これが管球に負荷がかかり過ぎるときの画
像の劣化原因となっている。
【０００４】そのため、従来では、スキャン中の焦点移
動を少なくするよう、容量の大きな管球を使用したり、
あるいは焦点の大きな管球を使用することなどが行なわ
れている。
動を少なくするよう、容量の大きな管球を使用したり、
あるいは焦点の大きな管球を使用することなどが行なわ
れている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、容量の
大きなＸ線管を使用する場合にはコスト上昇の問題があ
り、また焦点の大きなＸ線管を使用する場合には鮮鋭度
の高い画像が得られないという問題がある。
大きなＸ線管を使用する場合にはコスト上昇の問題があ
り、また焦点の大きなＸ線管を使用する場合には鮮鋭度
の高い画像が得られないという問題がある。
【０００６】この発明は、より容量の小さいＸ線管の使
用を可能としてコストを抑え、かつ焦点の小さなＸ線管
の使用を可能として鮮鋭度の高い画像を得ることができ
るように改善した、Ｘ線ＣＴ装置を提供することを目的
とする。
用を可能としてコストを抑え、かつ焦点の小さなＸ線管
の使用を可能として鮮鋭度の高い画像を得ることができ
るように改善した、Ｘ線ＣＴ装置を提供することを目的
とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によれば、Ｘ線管と、このＸ線管の前面に
設けられたコリメータと、Ｘ線検出器と、これらをスキ
ャンさせる機構とを備えるＸ線ＣＴ装置において、上記
のＸ線管から発射されたＸ線ビーム位置の移動に伴って
上記Ｘ線管とコリメータとの位置関係を自動的に変える
機構（たとえばＸ線管の温度上昇に応じてコリメータの
位置を変えるバイメタル機構や、あるいはＸ線ビーム位
置を検出するＸ線検出器を設けてその出力に応じてコリ
メータの位置を自動制御する機構など）を備えるように
している。これによりＸ線ビームの位置ずれが補償でき
るので、より容量の小さいＸ線管の使用によりコストを
抑えたり、焦点の小さなＸ線管の使用により鮮鋭度の高
い画像を得ることができる。
め、この発明によれば、Ｘ線管と、このＸ線管の前面に
設けられたコリメータと、Ｘ線検出器と、これらをスキ
ャンさせる機構とを備えるＸ線ＣＴ装置において、上記
のＸ線管から発射されたＸ線ビーム位置の移動に伴って
上記Ｘ線管とコリメータとの位置関係を自動的に変える
機構（たとえばＸ線管の温度上昇に応じてコリメータの
位置を変えるバイメタル機構や、あるいはＸ線ビーム位
置を検出するＸ線検出器を設けてその出力に応じてコリ
メータの位置を自動制御する機構など）を備えるように
している。これによりＸ線ビームの位置ずれが補償でき
るので、より容量の小さいＸ線管の使用によりコストを
抑えたり、焦点の小さなＸ線管の使用により鮮鋭度の高
い画像を得ることができる。
【０００８】
【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照しながら詳細に説明する。図１において、Ｘ線管１か
ら発射されたＸ線ビーム１３は、Ｘ線管１の前面に配置
されたコリメータ２を通ってＸ線検出器３に入射するよ
うに構成される。Ｘ線検出器３はたとえばＸｅ検出器な
どからなり、紙面の直角方向に円弧状に形成されていて
、これらＸ線管１、コリメータ２、検出器３が、図示し
ないスキャン機構により、Ｘ線管１と検出器３との間に
ある図の左右方向に延びる線を中心軸として回転させら
れるようになっている。
照しながら詳細に説明する。図１において、Ｘ線管１か
ら発射されたＸ線ビーム１３は、Ｘ線管１の前面に配置
されたコリメータ２を通ってＸ線検出器３に入射するよ
うに構成される。Ｘ線検出器３はたとえばＸｅ検出器な
どからなり、紙面の直角方向に円弧状に形成されていて
、これらＸ線管１、コリメータ２、検出器３が、図示し
ないスキャン機構により、Ｘ線管１と検出器３との間に
ある図の左右方向に延びる線を中心軸として回転させら
れるようになっている。
【０００９】この実施例では、Ｘ線管１の前面、コリメ
ータ２に至るまでの間に２つのＸ線検出器３１、３２が
配置される。これらのＸ線検出器３１、３２はコリメー
タ２に入るまでのＸ線ビーム１３の位置を検出するもの
である。コリメータ２は駆動機構７によりそのＸ線管１
に対する位置が移動させられるようになっている。この
駆動機構７はたとえばモーターとそのモーターの回転を
直線方向の移動に変換する機構などからなる。そして上
記の検出器３１、３２はコリメータ２のスリット位置に
対応してそのスリットの両側に取付けられており、コリ
メータ２とともに移動するようになっている。
ータ２に至るまでの間に２つのＸ線検出器３１、３２が
配置される。これらのＸ線検出器３１、３２はコリメー
タ２に入るまでのＸ線ビーム１３の位置を検出するもの
である。コリメータ２は駆動機構７によりそのＸ線管１
に対する位置が移動させられるようになっている。この
駆動機構７はたとえばモーターとそのモーターの回転を
直線方向の移動に変換する機構などからなる。そして上
記の検出器３１、３２はコリメータ２のスリット位置に
対応してそのスリットの両側に取付けられており、コリ
メータ２とともに移動するようになっている。
【００１０】これらの検出器３１、３２はインターフェ
イス回路４を介してＣＰＵ５に接続されており、これら
検出器３１、３２の出力がＣＰＵ５によって常時監視さ
れている。この両出力に変動が生じると、ＣＰＵ５はそ
れからＸ線ビーム及びＸ線焦点の変動量を計算し、制御
回路６に指令を送って駆動回路７を動作させ、コリメー
タ２をＸ線管１に対して移動させる。するとこのコリメ
ータ２の移動に伴って検出器３１、３２も移動するので
、それらのＸ線ビーム１３に対する位置関係が変わり、
それらの出力が変化する。こうした制御ループにより検
出器３１、３２の出力がほぼ同じ大きさになるような位
置関係が保持される。
イス回路４を介してＣＰＵ５に接続されており、これら
検出器３１、３２の出力がＣＰＵ５によって常時監視さ
れている。この両出力に変動が生じると、ＣＰＵ５はそ
れからＸ線ビーム及びＸ線焦点の変動量を計算し、制御
回路６に指令を送って駆動回路７を動作させ、コリメー
タ２をＸ線管１に対して移動させる。するとこのコリメ
ータ２の移動に伴って検出器３１、３２も移動するので
、それらのＸ線ビーム１３に対する位置関係が変わり、
それらの出力が変化する。こうした制御ループにより検
出器３１、３２の出力がほぼ同じ大きさになるような位
置関係が保持される。
【００１１】ここで、Ｘ線管１においてターゲットが十
分に低い温度のとき、図２のＡの状態となっており、Ｘ
線管１とコリメータ２と検出器３の３者の位置関係が適
切なものとなっていてＸ線ビームの中心がコリメータ２
によって遮られることなく、Ｘ線の分布１４のピークが
斜線で示すように検出器３に入射するものとする。Ｘ線
管１の温度が上昇して熱膨張によりターゲットが変形し
て焦点がずれてＸ線ビームの位置が変わると、図２のＢ
のような状態となり、Ｘ線ビームの中心がコリメータ２
によって遮へいされるようになる。そのためＸ線の分布
１４のピークをはずれた部分（斜線で示す部分）が検出
器３に入射し、十分なＸ線が入射しないこととなる。
分に低い温度のとき、図２のＡの状態となっており、Ｘ
線管１とコリメータ２と検出器３の３者の位置関係が適
切なものとなっていてＸ線ビームの中心がコリメータ２
によって遮られることなく、Ｘ線の分布１４のピークが
斜線で示すように検出器３に入射するものとする。Ｘ線
管１の温度が上昇して熱膨張によりターゲットが変形し
て焦点がずれてＸ線ビームの位置が変わると、図２のＢ
のような状態となり、Ｘ線ビームの中心がコリメータ２
によって遮へいされるようになる。そのためＸ線の分布
１４のピークをはずれた部分（斜線で示す部分）が検出
器３に入射し、十分なＸ線が入射しないこととなる。
【００１２】図２のＡの状態のときの検出器３１、３２
の出力がＣＰＵ５によって記憶されており、図２のＢの
ようにＸ線ビームの位置ずれが生じたときその２つの出
力のバランスが崩れるので、そのことが検知される。た
とえば図２のＢの状態でＸ線ビームが右側にずれて検出
器３１の出力が小さく、検出器３２の出力が大きくなっ
たとする。このとき、これらの出力がもとの等しい関係
（図２のＡの状態）となるように、コリメータ２を検出
器３１、３２も含めて右側に移動させれば、図２のＣの
ような状態が実現され、Ｘ線分布１４のピークが斜線で
示すように検出器３に入射するようになる。このような
動作により、Ｘ線管１とコリメータ２との最適な位置関
係を常に保つことができる。なお、図２のＣのような状
態のとき、Ｘ線ビームは検出器３に対して位置ずれする
ことになるが、Ｘ線ビームの幅に比べて検出器３の開口
幅はかなり大きいので実際には問題とならない。
の出力がＣＰＵ５によって記憶されており、図２のＢの
ようにＸ線ビームの位置ずれが生じたときその２つの出
力のバランスが崩れるので、そのことが検知される。た
とえば図２のＢの状態でＸ線ビームが右側にずれて検出
器３１の出力が小さく、検出器３２の出力が大きくなっ
たとする。このとき、これらの出力がもとの等しい関係
（図２のＡの状態）となるように、コリメータ２を検出
器３１、３２も含めて右側に移動させれば、図２のＣの
ような状態が実現され、Ｘ線分布１４のピークが斜線で
示すように検出器３に入射するようになる。このような
動作により、Ｘ線管１とコリメータ２との最適な位置関
係を常に保つことができる。なお、図２のＣのような状
態のとき、Ｘ線ビームは検出器３に対して位置ずれする
ことになるが、Ｘ線ビームの幅に比べて検出器３の開口
幅はかなり大きいので実際には問題とならない。
【００１３】さらにこれら検出器３１、３２の出力を利
用すれば、Ｘ線管１、コリメータ２及び検出器３の幾何
学的位置関係を容易に決定でき、また、自動調節も可能
なので、初期の調整工数を減らすこともできる。
用すれば、Ｘ線管１、コリメータ２及び検出器３の幾何
学的位置関係を容易に決定でき、また、自動調節も可能
なので、初期の調整工数を減らすこともできる。
【００１４】なお、熱膨張に応じたＸ線ビームの位置ず
れ量はほぼ決まっているので、Ｘ線管１の温度に応じて
変形するバイメタルなどにより構成された、温度に応じ
てコリメータ２を移動させる機構を用いることもできる
。この場合、Ｘ線ビームの位置ずれを検出するための検
出器３１、３２やＣＰＵ５、制御回路６などの制御ルー
プ及びモーターなどを含む駆動機構７などは不要となっ
て構成が簡単となる。
れ量はほぼ決まっているので、Ｘ線管１の温度に応じて
変形するバイメタルなどにより構成された、温度に応じ
てコリメータ２を移動させる機構を用いることもできる
。この場合、Ｘ線ビームの位置ずれを検出するための検
出器３１、３２やＣＰＵ５、制御回路６などの制御ルー
プ及びモーターなどを含む駆動機構７などは不要となっ
て構成が簡単となる。
【００１５】また、上記ではＸ線管１に対してコリメー
タ２を移動させるようにしているが、両者の位置関係を
変更できればよいので、コリメータ２を固定し、Ｘ線管
１の方を移動させるよう構成することも、勿論可能であ
る。
タ２を移動させるようにしているが、両者の位置関係を
変更できればよいので、コリメータ２を固定し、Ｘ線管
１の方を移動させるよう構成することも、勿論可能であ
る。
【００１６】
【発明の効果】以上、実施例について説明したように、
この発明のＸ線ＣＴ装置によれば、Ｘ線管のターゲット
の熱膨張によるＸ線ビームの位置ずれを自動的に補償す
ることができるので、より容量の小さいＸ線管を使用す
ることが可能となり、コストを下げることができる。ま
た、小さい焦点のＸ線管を用いることもできるので、よ
り鮮鋭度の高い画像を得ることができる。
この発明のＸ線ＣＴ装置によれば、Ｘ線管のターゲット
の熱膨張によるＸ線ビームの位置ずれを自動的に補償す
ることができるので、より容量の小さいＸ線管を使用す
ることが可能となり、コストを下げることができる。ま
た、小さい焦点のＸ線管を用いることもできるので、よ
り鮮鋭度の高い画像を得ることができる。
【図１】この発明の一実施例のブロック図。
【図２】同実施例におけるＸ線ビームの位置関係をそれ
ぞれ示す模式図。
ぞれ示す模式図。
【図３】ターゲットの熱膨張によるＸ線ビームの位置ず
れを説明するための模式図。
れを説明するための模式図。
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線管と、このＸ線管の前面に設けら
れたコリメータと、Ｘ線検出器と、これらをスキャンさ
せる機構とを備えるＸ線ＣＴ装置において、上記のＸ線
管から発射されたＸ線ビーム位置の移動に伴って上記Ｘ
線管とコリメータとの位置関係を自動的に変える機構を
備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12859791A JP3328942B2 (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12859791A JP3328942B2 (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04329935A true JPH04329935A (ja) | 1992-11-18 |
| JP3328942B2 JP3328942B2 (ja) | 2002-09-30 |
Family
ID=14988708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12859791A Expired - Lifetime JP3328942B2 (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3328942B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1321617C (zh) * | 1999-12-28 | 2007-06-20 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 分析ct成像系统中跟踪控制回路性能的方法 |
| US9155508B2 (en) | 2010-10-08 | 2015-10-13 | Hitachi Medical Corporation | X-ray CT device |
| US10866331B2 (en) | 2018-10-12 | 2020-12-15 | Anritsu Infivis Co., Ltd. | X-ray inspection apparatus |
-
1991
- 1991-04-30 JP JP12859791A patent/JP3328942B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1321617C (zh) * | 1999-12-28 | 2007-06-20 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 分析ct成像系统中跟踪控制回路性能的方法 |
| US9155508B2 (en) | 2010-10-08 | 2015-10-13 | Hitachi Medical Corporation | X-ray CT device |
| US10866331B2 (en) | 2018-10-12 | 2020-12-15 | Anritsu Infivis Co., Ltd. | X-ray inspection apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3328942B2 (ja) | 2002-09-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100719 Year of fee payment: 8 |