JP4245054B2 - 画素内機能液の形態測定方法、画素内機能液の形態測定装置および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器 - Google Patents

画素内機能液の形態測定方法、画素内機能液の形態測定装置および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器 Download PDF

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Description

本発明は、画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して画素領域内に着弾させ、干渉計から成る表面形状測定装置により、画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定方法、画素内機能液の形態測定装置および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器に関するものである。
従来、この種の形態測定装置は、干渉光源により出射した干渉光束を2分し、一方の干渉光束を被測定物の表面に入射角82°以上の角度で且つスリット状の照射光束で照射し、被測定物からの反射光束を検出アレイセンサに導く一方、他方の干渉光束をスリット状の参考光束として検出アレイセンサに導き、検出アレイセンサの受光面において反射光束と参考光束とを干渉させ、その干渉位相信号から被測定物、例えばカラーフィルタのR・G・Bフィルタ材料の高さ(膜厚)検出するようになっている(例えば、特許文献1参照)。
特開2000−121323号公報
このような従来の形態測定装置では、3次元形状の被測定物(フィルタ材料)表面の高さを精度良く測定することができるが、その膜厚(や体積)を測定する場合には、表面に対する裏面(画素の底面)も精度良く測定する必要がある。すなわち、画素の底面の高さは、基板が精度良く形成されていても、基板が搭載されているステージの平坦度、或いは吸着形態の影響により、一様ではなく、設計上の画素の底面の高さにより膜厚を求めると、精度が悪化する(色むらの原因となる)。
そこで、フィルタ材料を透過した測定光により、画素領域の底面の高さを測定することが好ましいが、入射角82°以上の測定光により高さ測定する従来の装置では、画素領域を画成するバンクが邪魔になって測定が不可能となる。もっとも、入射角を小さくすれば測定可能であるが、フィルタ材料による乱反射により十分な反射光を得られず、高い精度の検出が不可能な問題がある。
本発明は、画素内機能液の厚さ測定および/または体積測定を精度良く行なうことができる画素内機能液の形態測定方法、画素内機能液の形態測定装置および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器を提供することを課題としている。
本発明の画素内機能液の形態測定方法は、画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して画素領域内に着弾させ、干渉計から成る表面形状測定装置により、画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定方法であって、表面形状測定装置により、画素内機能液の表面形状とバンクの表面形状とを測定して、表面形状に関する計測パラメータを生成する表面形状測定工程と、生成した計測パラメータの画素内機能液の表面における計測パラメータに、バンク高さ分の高さパラメータを加算するバンク高さ加算工程と、加算後の画素内機能液の表面における計測パラメータおよびバンクの表面における計測パラメータに基づいて、画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出工程と、を備えたことを特徴とする。
また、本発明の画素内機能液の形態測定装置は、画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して画素領域内に着弾させ、画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定装置であって、画素内機能液の表面形状とバンクの表面形状とを測定する表面形状測定手段と、表面形状測定手段による測定結果に基づいて、表面形状に関する計測パラメータを生成する計測パラメータ生成手段と、生成した計測パラメータの画素内機能液の表面における計測パラメータに、バンク高さ分の高さパラメータを加算するバンク高さ加算手段と、加算後の画素内機能液の表面における計測パラメータおよびバンクの表面における計測パラメータに基づいて、画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出手段と、を備えたことを特徴とする。
また、本発明の他の画素内機能液の形態測定方法は、画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して画素領域内に着弾させ、干渉計から成る表面形状測定装置により、画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定方法であって、表面形状測定装置により、画素内機能液の表面形状とバンクの表面形状とを測定して、表面形状に関する計測パラメータを生成する表面形状測定工程と、生成した計測パラメータのバンクの表面における計測パラメータに、バンク高さ分の高さパラメータを減算するバンク高さ減算工程と、減算後のバンクの表面における計測パラメータおよび画素内機能液の表面における計測パラメータに基づいて、画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出工程と、を備えたことを特徴とする。
また、本発明の他の画素内機能液の形態測定装置は、画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して画素領域内に着弾させ、画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定装置であって、画素内機能液の表面形状とバンクの表面形状とを測定する表面形状測定手段と、表面形状測定手段による測定結果に基づいて、表面形状に関する計測パラメータを生成する計測パラメータ生成手段と、生成した計測パラメータのバンクの表面における計測パラメータに、バンク高さ分の高さパラメータを減算するバンク高さ減算手段と、減算後のバンクの表面における計測パラメータおよび画素内機能液の表面における計測パラメータに基づいて、画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出手段と、を備えたことを特徴とする。
これらの構成によれば、バンクの高さは所定の高さに設計されており、画素内機能液およびバンクの表面形状を測定し、このバンク高さを、画素内機能液の表面に加算あるいはバンク表面に減算することで、画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定することができる。つまり、画素内機能液の裏面、すなわち画素領域の底面の高さを測定すべく、干渉計による測定光を、機能液を透過させて画素領域の底面に照射する必要が無いため、バンクが邪魔になることがない。また、干渉計が、白色干渉計である場合には、機能液を透過させることにより必要となる測定光の色補正等を行なう必要もない。さらに、機能液が不透過物である場合も、この測定方法は有効である。なお、干渉計は、白色干渉計やレーザー干渉計等であっても良い。
この場合、バンクの表面の計測ポイントが、光反射性材料により表面処理されていることが、好ましい。
この構成によれば、バンクの表面において反射率が良くなるため、干渉計によるバンクの表面形状の測定を、精度良く行うことができる。
本発明の液滴吐出装置は、上記の画素内機能液の形態測定装置と、複数の機能液滴吐出ヘッドをサブキャリッジに搭載したヘッドユニットと、基板に対し、ヘッドユニットを相対的に移動させながら、複数の機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して描画を行なう描画手段と、を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、機能液の厚さや体積を測定しながら、描画を行うことができるため、機能液の厚さや体積が均一であるか否かを判別して、良品または不良品を選別することができる。
この場合、ヘッドユニットには、R色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、G色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッドおよびB色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、が搭載されていることが、好ましい。
この構成によれば、3色の機能液を画素領域内に着弾させたカラーフィルタを作成することができ、また、上記の画素内機能液の形態測定装置により、カラーフィルタの色むら検査を行うことができる。
本発明の電気光学装置の製造方法は、上記した液滴吐出装置を用い、ワーク上に機能液滴による成膜部を形成することを特徴とする。
本発明の電気光学装置は、上記した液滴吐出装置を用い、ワーク上に機能液滴による成膜部を形成したことを特徴とする。
この構成によれば、高品質の電気光学装置を効率良く製造することができる。なお、機能材料としては、有機EL装置の発光材料(Electro-Luminescence発光層・正孔注入層)は元より、液晶表示装置に用いるカラーフィルタのフィルタ材料(フィルタエレメント)、電子放出装置(Field Emission Display, FED)の蛍光材料(蛍光体)、PDP(plasma Display Panel)装置の蛍光材料(蛍光体)、電気泳動表示装置の泳動体材料(泳動体)等であって、機能液滴吐出ヘッド(インクジェットヘッド)により吐出可能な液体材料を言う。また、電気光学装置(Flat Panel Display, FPD)としては、有機EL装置、液晶表示装置、電子放出装置、PDP装置、電気泳動表示装置等がある。
本発明の電子機器は、上記した電気光学装置の製造方法により製造した電気光学装置または上記した電気光学装置を搭載したことを特徴とする。
この場合、電子機器としては、いわゆるフラットパネルディスプレイを搭載した携帯電話、パーソナルコンピュータのほか、各種の電気製品がこれに該当する。
以下、添付の図面を参照して、本実施形態に係る画素内機能液の形態測定装置およびその測定方法について説明する。この画素内機能液の形態測定装置は、基板上の画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さや体積を測定し、隣接する画素内機能液の厚さまたは体積が均一であるか否かにより、カラーフィルタ等の色むら検査を行なうためのものである。先ず、画素内機能液の形態測定装置を説明する前に、検査対象物となるカラーフィルタについて説明する。
図1に示すように、カラーフィルタCFは、基板Wと、基板W上に着弾したR色、G色およびB色の機能液Kから成る着色層1と、で構成され、着色層1は、モザイク、ストライプやデルタ等の配列パターンとなっている。つまり、カラーフィルタCFは、R色、G色およびB色の機能液滴を吐出する3種類の機能液滴吐出ヘッド2を有したヘッドユニットにより、基板W上を描画して作成されている。
基板Wは、方形状の基板本体5と、基板本体5上にマトリクス状に形成したバンク6と、で構成されており、このバンク6は、各画素領域7を区画する区画壁部となっている。バンク6は、基板本体5表面からの高さが所定のバンク高さHとなるよう設計され、また、バンク6の表面(上面)は、一部または全体が光反射性材料により表面処理されており、後述する白色干渉計11による光の反射率を高めている。これにより、白色干渉計11によるバンク6の表面形状(表面高さ)を精度良く測定することができる。この基板Wの各画素領域7内に、各機能液滴吐出ヘッド2からフィルタ材料である機能液滴を吐出すると、各画素領域7内には着弾した機能液滴が、画素内機能液Kとして貯留し、各画素領域7内に着色層1が形成され、乾燥処理を行なうことで成膜され、カラーフィルタCFの各画素となる。
次に、図2を参照して、画素領域7内に着弾した画素内機能液Kの厚さまたは体積を測定する画素内機能液Kの形態測定装置10について説明する。形態測定装置10は、カラーフィルタCFの表面形状を測定する白色干渉計(表面形状測定手段)11と、白色干渉計11からの測定結果を解析して画素内機能液Kの厚さまたは体積を算出すると共に、白色干渉計11を制御する制御コンピュータ12と、を備えている。なお、本実施形態においては、測定時間を短縮すべく白色干渉計11を用いているが、これに限らず、レーザー干渉計等を用いても良い。また、画素内機能液Kの厚さまたは体積を測定するタイミングとしては、基板Wへの描画直後であっても良いし、乾燥処理が行なわれた後でも良い。
白色干渉計11は、カラーフィルタCFを平面内において移動自在に搭載するXYテーブル20と、白色光を照射する光源となる白色LED21と、白色LED21の照射方向下流側に設けられ、白色光をフィルタリングする干渉フィルタ(バンドパスフィルタ)22と、干渉フィルタ22の下流側に設けられ、白色光を直角に反射する反射鏡23と、反射鏡23の下流側に設けられ、後述する干渉式対物レンズ(ミラウ型)24に向けて白色光を直角に反射させる一方、カラーフィルタCFから反射した反射光を透過するビームスプリッタ25と、ビームスプリッタ25の下流側に設けられた干渉式対物レンズ24と、干渉式対物レンズ24をZ軸方向に微小振動させるピエゾZ軸テーブル26と、カラーフィルタCFから反射した反射光を干渉式対物レンズ24およびビームスプリッタ25を介して撮像する撮像カメラ(CCDカメラ)27と、を備えている。
XYテーブル20は、微小単位で移動させることが可能な精密テーブルで構成されると共に、制御コンピュータ12により駆動制御されており、XYテーブル20上に載置したカラーフィルタCFをX軸方向およびY軸方向に移動させる。同様に、ピエゾZ軸テーブル26も制御コンピュータ12により駆動制御されており、測定の際には、ピエゾZ軸テーブル26を振動させる。
図3に示すように、制御コンピュータ12は、撮像カメラ27により撮像した撮像画像を解析処理する画像処理部30と、画像処理部30による画像解析に基づいて、測定した基板Wの表面形状を計測パラメータPとして数値化(データ化)する計測パラメータ生成部31と、生成した計測パラメータPの画素内機能液Kの表面における計測パラメータPに、バンク高さ分の高さパラメータHPを加算するバンク高さ加算部32と、加算後の画素内機能液Kの表面における計測パラメータPおよびバンク6の表面における計測パラメータPに基づいて、画素内機能液Kの厚さまたは体積を算出する形態算出部33と、を有している。また、XYテーブル20の駆動制御を行なうテーブル駆動制御部34と、ピエゾZ軸テーブル26の駆動制御を行なうピエゾ駆動制御部35と、を備えている。
以下、図4を参照して、画素内機能液Kの厚さまたは体積を測定する画素内機能液Kの形態測定方法に関する一連の動作について説明する。先ず、カラーフィルタCFを、XYテーブル20上に位置決めして載置する。そして、白色LED21によりカラーフィルタCF上に白色光が照射されると、ピエゾZ軸テーブル26により干渉式対物レンズ24を振動させると共にXYテーブル20を移動させ、撮像カメラ27によりカラーフィルタCFから反射した白色光を撮像する(同図(a)参照)。
撮像した撮像画像は、制御コンピュータ12の画像処理部30により画像解析されると共に、計測パラメータ生成部31により、表面形状が計測パラメータPとして数値化される(同図(b)参照)。この計測パラメータPは、バンク6の表面におけるバンクパラメータBPと、画素内機能液Kの表面における機能液パラメータKPと、で構成されている。
計測パラメータPが生成されると、今度は、バンク高さ加算部32により、機能液パラメータKPに、設計上のバンク高さH分に相当する高さパラメータHPを加算する(同図(c)参照)。これにより、計測パラメータPのバンクパラメータBPは、画素領域7の底面に相当するパラメータとなる。そして、形態算出部33により、バンクパラメータBPおよび加算後の機能液パラメータKPに基づいて、画素内機能液Kの厚さまたは体積を算出する(同図(d)参照)。
ところで、複数の機能液滴吐出ヘッド2を搭載したヘッドユニットを、相対的に主走査方向および副走査方向に往復移動させてカラーフィルタCFを製造する場合、ヘッドユニットの主走査方向における往動作と復動作との境界部分に色むら(スジむら)が生じることがある。そこで、好ましくは、境界部分において隣接する画素内機能液Kの厚さまたは体積をそれぞれ測定し、その厚さの差または体積の差における測定値を、予め色むらとなるか否かのしきい値と比較して、色むらを判断する。
以上の構成によれば、バンク高さHは、設計上所定の高さとなっているため、測定したカラーフィルタCFの表面形状における計測パラメータPの機能液パラメータKPに、バンク6の高さパラメータHPを加算することで、バンクパラメータBPが画素領域7の底面に相当するパラメータとなり、機能液パラメータKPとバンクパラメータBPとに基づいて、画素内機能液Kの厚さまたは体積を測定することができる。このため、カラーフィルタCFの表面形状を測定するだけで、各画素内機能液Kの厚さまたは体積を測定することができるため、白色干渉計11により機能液を透過して画素領域7の底面を測定する必要が無い。つまり、白色光の照射角度を考慮する必要が無く、また、機能液Kを透過する際に必要となる機能液Kの物性データや屈折率等の補正を行なう必要も無い。さらに、画素内機能液Kが不透過物である場合でも、この測定方法は有効である。これにより、カラーフィルタCFの各画素内機能液Kの厚さや体積を測定することができるため、色むら検査を行なうことができる。
なお、本発明の画素内機能液Kの形態測定装置10を、複数の機能液滴吐出ヘッド2を搭載したヘッドユニットを移動させて、基板W上に描画を行なう液滴吐出装置に組み込んでも良い。このとき、上記のXYテーブル20は、液滴吐出装置のXYテーブルで兼用することが、好ましい。
次に、第2実施形態における画素内機能液Kの形態測定装置10およびその形態測定方法について説明する。なお、重複した記載を避けるべく、異なる部分について説明する。この形態測定装置10は、第1実施形態におけるバンク高さ加算部32に代えて、計測パラメータPのバンクパラメータBPから、バンク高さ分の高さパラメータHPを減算するバンク高さ減算部を、有している。
以下、図5を参照して、画素内機能液Kの形態測定方法について説明する。白色干渉計11によりカラーフィルタCFの表面形状を測定し(同図(a)参照)、その表面形状に関する計測パラメータPを生成する(同図(b)参照)と、バンク高さ減算部により、計測パラメータPのバンクパラメータBPから、バンク高さ分の高さパラメータHPを減算する(同図(c)参照)。この後、形態算出部33により、機能液パラメータKPと減算後のバンクパラメータBPとに基づいて、画素内機能液Kの厚さまたは体積を算出する(同図(d)参照)。この構成においても、カラーフィルタCFの表面形状を測定するだけで、画素内機能液Kの厚さまたは体積を測定することができる。
次に、本実施形態の形態測定装置10を組み込んだ液滴吐出装置に製造される電気光学装置(フラットパネルディスプレイ)として、カラーフィルタ、液晶表示装置、有機EL装置、プラズマディスプレイ(PDP装置)、電子放出装置(FED装置、SED装置)、さらにこれら表示装置に形成されてなるアクティブマトリクス基板等を例に、これらの構造およびその製造方法について説明する。なお、アクティブマトリクス基板とは、薄膜トランジスタ、および薄膜トランジスタに電気的に接続するソース線、データ線が形成された基板をいう。
まず、液晶表示装置や有機EL装置等に組み込まれるカラーフィルタの製造方法について説明する。図6は、カラーフィルタの製造工程を示すフローチャート、図7は、製造工程順に示した本実施形態のカラーフィルタ500(フィルタ基体500A)の模式断面図である。
まず、ブラックマトリクス形成工程(S101)では、図7(a)に示すように、基板(W)501上にブラックマトリクス502を形成する。ブラックマトリクス502は、金属クロム、金属クロムと酸化クロムの積層体、または樹脂ブラック等により形成される。金属薄膜からなるブラックマトリクス502を形成するには、スパッタ法や蒸着法等を用いることができる。また、樹脂薄膜からなるブラックマトリクス502を形成する場合には、グラビア印刷法、フォトレジスト法、熱転写法等を用いることができる。
続いて、バンク形成工程(S102)において、ブラックマトリクス502上に重畳する状態でバンク503を形成する。即ち、まず図7(b)に示すように、基板501およびブラックマトリクス502を覆うようにネガ型の透明な感光性樹脂からなるレジスト層504を形成する。そして、その上面をマトリクスパターン形状に形成されたマスクフィルム505で被覆した状態で露光処理を行う。
さらに、図7(c)に示すように、レジスト層504の未露光部分をエッチング処理することによりレジスト層504をパターニングして、バンク503を形成する。なお、樹脂ブラックによりブラックマトリクスを形成する場合は、ブラックマトリクスとバンクとを兼用することが可能となる。
このバンク503とその下のブラックマトリクス502は、各画素領域507aを区画する区画壁部507bとなり、後の着色層形成工程において機能液滴吐出ヘッド2により着色層(成膜部)508R、508G、508Bを形成する際に機能液滴の着弾領域を規定する。
以上のブラックマトリクス形成工程およびバンク形成工程を経ることにより、上記フィルタ基体500Aが得られる。
なお、本実施形態においては、バンク503の材料として、塗膜表面が疎液(疎水)性となる樹脂材料を用いている。そして、基板(ガラス基板)501の表面が親液(親水)性であるので、後述する着色層形成工程においてバンク503(区画壁部507b)に囲まれた各画素領域507a内への液滴の着弾位置のばらつきを自動補正できる。
次に、着色層形成工程(S103)では、図7(d)に示すように、機能液滴吐出ヘッド2によって機能液滴を吐出して区画壁部507bで囲まれた各画素領域507a内に着弾させる。この場合、機能液滴吐出ヘッド2を用いて、R・G・Bの3色の機能液(フィルタ材料)を導入して、機能液滴の吐出を行う。なお、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライプ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。
その後、乾燥処理(加熱等の処理)を経て機能液を定着させ、3色の着色層508R、508G、508Bを形成する。着色層508R、508G、508Bを形成したならば、保護膜形成工程(S104)に移り、図7(e)に示すように、基板501、区画壁部507b、および着色層508R、508G、508Bの上面を覆うように保護膜509を形成する。
即ち、基板501の着色層508R、508G、508Bが形成されている面全体に保護膜用塗布液が吐出された後、乾燥処理を経て保護膜509が形成される。
そして、保護膜509を形成した後、カラーフィルタ500は、次工程の透明電極となるITO(Indium Tin Oxide)などの膜付け工程に移行する。
図8は、上記のカラーフィルタ500を用いた液晶表示装置の一例としてのパッシブマトリックス型液晶装置(液晶装置)の概略構成を示す要部断面図である。この液晶装置520に、液晶駆動用IC、バックライト、支持体などの付帯要素を装着することによって、最終製品としての透過型液晶表示装置が得られる。なお、カラーフィルタ500は図7に示したものと同一であるので、対応する部位には同一の符号を付し、その説明は省略する。
この液晶装置520は、カラーフィルタ500、ガラス基板等からなる対向基板521、および、これらの間に挟持されたSTN(Super Twisted Nematic)液晶組成物からなる液晶層522により概略構成されており、カラーフィルタ500を図中上側(観測者側)に配置している。
なお、図示していないが、対向基板521およびカラーフィルタ500の外面(液晶層522側とは反対側の面)には偏光板がそれぞれ配設され、また対向基板521側に位置する偏光板の外側には、バックライトが配設されている。
カラーフィルタ500の保護膜509上(液晶層側)には、図8において左右方向に長尺な短冊状の第1電極523が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極523のカラーフィルタ500側とは反対側の面を覆うように第1配向膜524が形成されている。
一方、対向基板521におけるカラーフィルタ500と対向する面には、カラーフィルタ500の第1電極523と直交する方向に長尺な短冊状の第2電極526が所定の間隔で複数形成され、この第2電極526の液晶層522側の面を覆うように第2配向膜527が形成されている。これらの第1電極523および第2電極526は、ITOなどの透明導電材料により形成されている。
液晶層522内に設けられたスペーサ528は、液晶層522の厚さ(セルギャップ)を一定に保持するための部材である。また、シール材529は液晶層522内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するための部材である。なお、第1電極523の一端部は引き回し配線523aとしてシール材529の外側まで延在している。
そして、第1電極523と第2電極526とが交差する部分が画素であり、この画素となる部分に、カラーフィルタ500の着色層508R、508G、508Bが位置するように構成されている。
通常の製造工程では、カラーフィルタ500に、第1電極523のパターニングおよび第1配向膜524の塗布を行ってカラーフィルタ500側の部分を作成すると共に、これとは別に対向基板521に、第2電極526のパターニングおよび第2配向膜527の塗布を行って対向基板521側の部分を作成する。その後、対向基板521側の部分にスペーサ528およびシール材529を作り込み、この状態でカラーフィルタ500側の部分を貼り合わせる。次いで、シール材529の注入口から液晶層522を構成する液晶を注入し、注入口を閉止する。その後、両偏光板およびバックライトを積層する。
実施形態の液滴吐出装置は、例えば上記のセルギャップを構成するスペーサ材料(機能液)を塗布すると共に、対向基板521側の部分にカラーフィルタ500側の部分を貼り合わせる前に、シール材529で囲んだ領域に液晶(機能液)を均一に塗布することが可能である。また、上記のシール材529の印刷を、機能液滴吐出ヘッド2で行うことも可能である。さらに、第1・第2両配向膜524,527の塗布を機能液滴吐出ヘッド2で行うことも可能である。
図9は、本実施形態において製造したカラーフィルタ500を用いた液晶装置の第2の例の概略構成を示す要部断面図である。
この液晶装置530が上記液晶装置520と大きく異なる点は、カラーフィルタ500を図中下側(観測者側とは反対側)に配置した点である。
この液晶装置530は、カラーフィルタ500とガラス基板等からなる対向基板531との間にSTN液晶からなる液晶層532が挟持されて概略構成されている。なお、図示していないが、対向基板531およびカラーフィルタ500の外面には偏光板等がそれぞれ配設されている。
カラーフィルタ500の保護膜509上(液晶層532側)には、図中奥行き方向に長尺な短冊状の第1電極533が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極533の液晶層532側の面を覆うように第1配向膜534が形成されている。
対向基板531のカラーフィルタ500と対向する面上には、カラーフィルタ500側の第1電極533と直交する方向に延在する複数の短冊状の第2電極536が所定の間隔で形成され、この第2電極536の液晶層532側の面を覆うように第2配向膜537が形成されている。
液晶層532には、この液晶層532の厚さを一定に保持するためのスペーサ538と、液晶層532内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するためのシール材539が設けられている。
そして、上記した液晶装置520と同様に、第1電極533と第2電極536との交差する部分が画素であり、この画素となる部位に、カラーフィルタ500の着色層508R、508G、508Bが位置するように構成されている。
図10は、本発明を適用したカラーフィルタ500を用いて液晶装置を構成した第3の例を示したもので、透過型のTFT(Thin Film Transistor)型液晶装置の概略構成を示す分解斜視図である。
この液晶装置550は、カラーフィルタ500を図中上側(観測者側)に配置したものである。
この液晶装置550は、カラーフィルタ500と、これに対向するように配置された対向基板551と、これらの間に挟持された図示しない液晶層と、カラーフィルタ500の上面側(観測者側)に配置された偏光板555と、対向基板551の下面側に配設された偏光板(図示せず)とにより概略構成されている。
カラーフィルタ500の保護膜509の表面(対向基板551側の面)には液晶駆動用の電極556が形成されている。この電極556は、ITO等の透明導電材料からなり、後述の画素電極560が形成される領域全体を覆う全面電極となっている。また、この電極556の画素電極560とは反対側の面を覆った状態で配向膜557が設けられている。
対向基板551のカラーフィルタ500と対向する面には絶縁層558が形成されており、この絶縁層558上には、走査線561および信号線562が互いに直交する状態で形成されている。そして、これらの走査線561と信号線562とに囲まれた領域内には画素電極560が形成されている。なお、実際の液晶装置では、画素電極560上に配向膜が設けられるが、図示を省略している。
また、画素電極560の切欠部と走査線561と信号線562とに囲まれた部分には、ソース電極、ドレイン電極、半導体、およびゲート電極とを具備する薄膜トランジスタ563が組み込まれて構成されている。そして、走査線561と信号線562に対する信号の印加によって薄膜トランジスタ563をオン・オフして画素電極560への通電制御を行うことができるように構成されている。
なお、上記の各例の液晶装置520,530,550は、透過型の構成としたが、反射層あるいは半透過反射層を設けて、反射型の液晶装置あるいは半透過反射型の液晶装置とすることもできる。
次に、図11は、有機EL装置の表示領域(以下、単に表示装置600と称する)の要部断面図である。
この表示装置600は、基板(W)601上に、回路素子部602、発光素子部603および陰極604が積層された状態で概略構成されている。
この表示装置600においては、発光素子部603から基板601側に発した光が、回路素子部602および基板601を透過して観測者側に出射されると共に、発光素子部603から基板601の反対側に発した光が陰極604により反射された後、回路素子部602および基板601を透過して観測者側に出射されるようになっている。
回路素子部602と基板601との間にはシリコン酸化膜からなる下地保護膜606が形成され、この下地保護膜606上(発光素子部603側)に多結晶シリコンからなる島状の半導体膜607が形成されている。この半導体膜607の左右の領域には、ソース領域607aおよびドレイン領域607bが高濃度陽イオン打ち込みによりそれぞれ形成されている。そして陽イオンが打ち込まれない中央部がチャネル領域607cとなっている。
また、回路素子部602には、下地保護膜606および半導体膜607を覆う透明なゲート絶縁膜608が形成され、このゲート絶縁膜608上の半導体膜607のチャネル領域607cに対応する位置には、例えばAl、Mo、Ta、Ti、W等から構成されるゲート電極609が形成されている。このゲート電極609およびゲート絶縁膜608上には、透明な第1層間絶縁膜611aと第2層間絶縁膜611bが形成されている。また、第1、第2層間絶縁膜611a、611bを貫通して、半導体膜607のソース領域607a、ドレイン領域607bにそれぞれ連通するコンタクトホール612a,612bが形成されている。
そして、第2層間絶縁膜611b上には、ITO等からなる透明な画素電極613が所定の形状にパターニングされて形成され、この画素電極613は、コンタクトホール612aを通じてソース領域607aに接続されている。
また、第1層間絶縁膜611a上には電源線614が配設されており、この電源線614は、コンタクトホール612bを通じてドレイン領域607bに接続されている。
このように、回路素子部602には、各画素電極613に接続された駆動用の薄膜トランジスタ615がそれぞれ形成されている。
上記発光素子部603は、複数の画素電極613上の各々に積層された機能層617と、各画素電極613および機能層617の間に備えられて各機能層617を区画するバンク部618とにより概略構成されている。
これら画素電極613、機能層617、および、機能層617上に配設された陰極604によって発光素子が構成されている。なお、画素電極613は、平面視略矩形状にパターニングされて形成されており、各画素電極613の間にバンク部618が形成されている。
バンク部618は、例えばSiO、SiO2、TiO2等の無機材料により形成される無機物バンク層618a(第1バンク層)と、この無機物バンク層618a上に積層され、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶媒性に優れたレジストにより形成される断面台形状の有機物バンク層618b(第2バンク層)とにより構成されている。このバンク部618の一部は、画素電極613の周縁部上に乗上げた状態で形成されている。
そして、各バンク部618の間には、画素電極613に対して上方に向けて次第に拡開した開口部619が形成されている。
上記機能層617は、開口部619内において画素電極613上に積層状態で形成された正孔注入/輸送層617aと、この正孔注入/輸送層617a上に形成された発光層617bとにより構成されている。なお、この発光層617bに隣接してその他の機能を有する他の機能層をさらに形成しても良い。例えば、電子輸送層を形成することも可能である。
正孔注入/輸送層617aは、画素電極613側から正孔を輸送して発光層617bに注入する機能を有する。この正孔注入/輸送層617aは、正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物(機能液)を吐出することで形成される。正孔注入/輸送層形成材料としては、公知の材料を用いる。
発光層617bは、赤色(R)、緑色(G)、または青色(B)のいずれかに発光するもので、発光層形成材料(発光材料)を含む第2組成物(機能液)を吐出することで形成される。第2組成物の溶媒(非極性溶媒)としては、正孔注入/輸送層617aに対して不溶な公知の材料を用いることが好ましく、このような非極性溶媒を発光層617bの第2組成物に用いることにより、正孔注入/輸送層617aを再溶解させることなく発光層617bを形成することができる。
そして、発光層617bでは、正孔注入/輸送層617aから注入された正孔と、陰極604から注入される電子が発光層で再結合して発光するように構成されている。
陰極604は、発光素子部603の全面を覆う状態で形成されており、画素電極613と対になって機能層617に電流を流す役割を果たす。なお、この陰極604の上部には図示しない封止部材が配置される。
次に、上記の表示装置600の製造工程を図12〜図20を参照して説明する。
この表示装置600は、図12に示すように、バンク部形成工程(S111)、表面処理工程(S112)、正孔注入/輸送層形成工程(S113)、発光層形成工程(S114)、および対向電極形成工程(S115)を経て製造される。なお、製造工程は例示するものに限られるものではなく必要に応じてその他の工程が除かれる場合、また追加される場合もある。
まず、バンク部形成工程(S111)では、図13に示すように、第2層間絶縁膜611b上に無機物バンク層618aを形成する。この無機物バンク層618aは、形成位置に無機物膜を形成した後、この無機物膜をフォトリソグラフィ技術等によりパターニングすることにより形成される。このとき、無機物バンク層618aの一部は画素電極613の周縁部と重なるように形成される。
無機物バンク層618aを形成したならば、図14に示すように、無機物バンク層618a上に有機物バンク層618bを形成する。この有機物バンク層618bも無機物バンク層618aと同様にフォトリソグラフィ技術等によりパターニングして形成される。
このようにしてバンク部618が形成される。また、これに伴い、各バンク部618間には、画素電極613に対して上方に開口した開口部619が形成される。この開口部619は、画素領域を規定する。
表面処理工程(S112)では、親液化処理および撥液化処理が行われる。親液化処理を施す領域は、無機物バンク層618aの第1積層部618aaおよび画素電極613の電極面613aであり、これらの領域は、例えば酸素を処理ガスとするプラズマ処理によって親液性に表面処理される。このプラズマ処理は、画素電極613であるITOの洗浄等も兼ねている。
また、撥液化処理は、有機物バンク層618bの壁面618sおよび有機物バンク層618bの上面618tに施され、例えば四フッ化メタンを処理ガスとするプラズマ処理によって表面がフッ化処理(撥液性に処理)される。
この表面処理工程を行うことにより、機能液滴吐出ヘッド2を用いて機能層617を形成する際に、機能液滴を画素領域に、より確実に着弾させることができ、また、画素領域に着弾した機能液滴が開口部619から溢れ出るのを防止することが可能となる。
そして、以上の工程を経ることにより、表示装置基体600Aが得られる。この表示装置基体600Aは、液滴吐出装置のセットテーブルに載置され、以下の正孔注入/輸送層形成工程(S113)および発光層形成工程(S114)が行われる。
図15に示すように、正孔注入/輸送層形成工程(S113)では、機能液滴吐出ヘッド2から正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物を画素領域である各開口部619内に吐出する。その後、図16に示すように、乾燥処理および熱処理を行い、第1組成物に含まれる極性溶媒を蒸発させ、画素電極(電極面613a)613上に正孔注入/輸送層617aを形成する。
次に発光層形成工程(S114)について説明する。この発光層形成工程では、上述したように、正孔注入/輸送層617aの再溶解を防止するために、発光層形成の際に用いる第2組成物の溶媒として、正孔注入/輸送層617aに対して不溶な非極性溶媒を用いる。
しかしその一方で、正孔注入/輸送層617aは、非極性溶媒に対する親和性が低いため、非極性溶媒を含む第2組成物を正孔注入/輸送層617a上に吐出しても、正孔注入/輸送層617aと発光層617bとを密着させることができなくなるか、あるいは発光層617bを均一に塗布できない虞がある。
そこで、非極性溶媒並びに発光層形成材料に対する正孔注入/輸送層617aの表面の親和性を高めるために、発光層形成の前に表面処理(表面改質処理)を行うことが好ましい。この表面処理は、発光層形成の際に用いる第2組成物の非極性溶媒と同一溶媒またはこれに類する溶媒である表面改質材を、正孔注入/輸送層617a上に塗布し、これを乾燥させることにより行う。
このような処理を施すことで、正孔注入/輸送層617aの表面が非極性溶媒になじみやすくなり、この後の工程で、発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層617aに均一に塗布することができる。
そして次に、図17に示すように、各色のうちのいずれか(図17の例では青色(B))に対応する発光層形成材料を含有する第2組成物を機能液滴として画素領域(開口部619)内に所定量打ち込む。画素領域内に打ち込まれた第2組成物は、正孔注入/輸送層617a上に広がって開口部619内に満たされる。なお、万一、第2組成物が画素領域から外れてバンク部618の上面618t上に着弾した場合でも、この上面618tは、上述したように撥液処理が施されているので、第2組成物が開口部619内に転がり込み易くなっている。
その後、乾燥工程等を行うことにより、吐出後の第2組成物を乾燥処理し、第2組成物に含まれる非極性溶媒を蒸発させ、図18に示すように、正孔注入/輸送層617a上に発光層617bが形成される。この図の場合、青色(B)に対応する発光層617bが形成されている。
同様に、機能液滴吐出ヘッド2を用い、図19に示すように、上記した青色(B)に対応する発光層617bの場合と同様の工程を順次行い、他の色(赤色(R)および緑色(G))に対応する発光層617bを形成する。なお、発光層617bの形成順序は、例示した順序に限られるものではなく、どのような順番で形成しても良い。例えば、発光層形成材料に応じて形成する順番を決めることも可能である。また、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライプ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。
以上のようにして、画素電極613上に機能層617、即ち、正孔注入/輸送層617aおよび発光層617bが形成される。そして、対向電極形成工程(S115)に移行する。
対向電極形成工程(S115)では、図20に示すように、発光層617bおよび有機物バンク層618bの全面に陰極604(対向電極)を、例えば蒸着法、スパッタ法、CVD法等によって形成する。この陰極604は、本実施形態においては、例えば、カルシウム層とアルミニウム層とが積層されて構成されている。
この陰極604の上部には、電極としてのAl膜、Ag膜や、その酸化防止のためのSiO2、SiN等の保護層が適宜設けられる。
このようにして陰極604を形成した後、この陰極604の上部を封止部材により封止する封止処理や配線処理等のその他処理等を施すことにより、表示装置600が得られる。
次に、図21は、プラズマ型表示装置(PDP装置:以下、単に表示装置700と称する)の要部分解斜視図である。なお、同図では表示装置700を、その一部を切り欠いた状態で示してある。
この表示装置700は、互いに対向して配置された第1基板701、第2基板702、およびこれらの間に形成される放電表示部703を含んで概略構成される。放電表示部703は、複数の放電室705により構成されている。これらの複数の放電室705のうち、赤色放電室705R、緑色放電室705G、青色放電室705Bの3つの放電室705が組になって1つの画素を構成するように配置されている。
第1基板701の上面には所定の間隔で縞状にアドレス電極706が形成され、このアドレス電極706と第1基板701の上面とを覆うように誘電体層707が形成されている。誘電体層707上には、各アドレス電極706の間に位置し、且つ各アドレス電極706に沿うように隔壁708が立設されている。この隔壁708は、図示するようにアドレス電極706の幅方向両側に延在するものと、アドレス電極706と直交する方向に延設された図示しないものを含む。
そして、この隔壁708によって仕切られた領域が放電室705となっている。
放電室705内には蛍光体709が配置されている。蛍光体709は、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの色の蛍光を発光するもので、赤色放電室705Rの底部には赤色蛍光体709Rが、緑色放電室705Gの底部には緑色蛍光体709Gが、青色放電室705Bの底部には青色蛍光体709Bが各々配置されている。
第2基板702の図中下側の面には、上記アドレス電極706と直交する方向に複数の表示電極711が所定の間隔で縞状に形成されている。そして、これらを覆うように誘電体層712、およびMgOなどからなる保護膜713が形成されている。
第1基板701と第2基板702とは、アドレス電極706と表示電極711が互いに直交する状態で対向させて貼り合わされている。なお、上記アドレス電極706と表示電極711は図示しない交流電源に接続されている。
そして、各電極706,711に通電することにより、放電表示部703において蛍光体709が励起発光し、カラー表示が可能となる。
本実施形態においては、上記アドレス電極706、表示電極711、および蛍光体709を、液滴吐出装置を用いて形成することができる。以下、第1基板701におけるアドレス電極706の形成工程を例示する。
この場合、第1基板701を液滴吐出装置のセットテーブルに載置された状態で以下の工程が行われる。
まず、機能液滴吐出ヘッド2により、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴としてアドレス電極形成領域に着弾させる。この液体材料は、導電膜配線形成用材料として、金属等の導電性微粒子を分散媒に分散したものである。この導電性微粒子としては、金、銀、銅、パラジウム、またはニッケル等を含有する金属微粒子や、導電性ポリマー等が用いられる。
補充対象となるすべてのアドレス電極形成領域について液体材料の補充が終了したならば、吐出後の液体材料を乾燥処理し、液体材料に含まれる分散媒を蒸発させることによりアドレス電極706が形成される。
ところで、上記においてはアドレス電極706の形成を例示したが、上記表示電極711および蛍光体709についても上記各工程を経ることにより形成することができる。
表示電極711の形成の場合、アドレス電極706の場合と同様に、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴として表示電極形成領域に着弾させる。
また、蛍光体709の形成の場合には、各色(R,G,B)に対応する蛍光材料を含んだ液体材料(機能液)を機能液滴吐出ヘッド2から液滴として吐出し、対応する色の放電室705内に着弾させる。
次に、図22は、電子放出装置(FED装置あるいはSED装置ともいう:以下、単に表示装置800と称する)の要部断面図である。なお、同図では表示装置800を、その一部を断面として示してある。
この表示装置800は、互いに対向して配置された第1基板801、第2基板802、およびこれらの間に形成される電界放出表示部803を含んで概略構成される。電界放出表示部803は、マトリクス状に配置した複数の電子放出部805により構成されている。
第1基板801の上面には、カソード電極806を構成する第1素子電極806aおよび第2素子電極806bが相互に直交するように形成されている。また、第1素子電極806aおよび第2素子電極806bで仕切られた部分には、ギャップ808を形成した導電性膜807が形成されている。すなわち、第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807により複数の電子放出部805が構成されている。導電性膜807は、例えば酸化パラジウム(PdO)等で構成され、またギャップ808は、導電性膜807を成膜した後、フォーミング等で形成される。
第2基板802の下面には、カソード電極806に対峙するアノード電極809が形成されている。アノード電極809の下面には、格子状のバンク部811が形成され、このバンク部811で囲まれた下向きの各開口部812に、電子放出部805に対応するように蛍光体813が配置されている。蛍光体813は、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの色の蛍光を発光するもので、各開口部812には、赤色蛍光体813R、緑色蛍光体813Gおよび青色蛍光体813Bが、上記した所定のパターンで配置されている。
そして、このように構成した第1基板801と第2基板802とは、微小な間隙を存して貼り合わされている。この表示装置800では、導電性膜(ギャップ808)807を介して、陰極である第1素子電極806aまたは第2素子電極806bから飛び出す電子を、陽極であるアノード電極809に形成した蛍光体813に当てて励起発光し、カラー表示が可能となる。
この場合も、他の実施形態と同様に、第1素子電極806a、第2素子電極806b、導電性膜807およびアノード電極809を、液滴吐出装置を用いて形成することができると共に、各色の蛍光体813R,813G,813Bを、液滴吐出装置を用いて形成することができる。
第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807は、図23(a)に示す平面形状を有しており、これらを成膜する場合には、図23(b)に示すように、予め第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807を作り込む部分を残して、バンク部BBを形成(フォトリソグラフィ法)する。次に、バンク部BBにより構成された溝部分に、第1素子電極806aおよび第2素子電極806bを形成(液滴吐出装置によるインクジェット法)し、その溶剤を乾燥させて成膜を行った後、導電性膜807を形成(液滴吐出装置によるインクジェット法)する。そして、導電性膜807を成膜後、バンク部BBを取り除き(アッシング剥離処理)、上記のフォーミング処理に移行する。なお、上記の有機EL装置の場合と同様に、第1基板801および第2基板802に対する親液化処理や、バンク部811,BBに対する撥液化処理を行うことが、好ましい。
また、他の電気光学装置としては、金属配線形成、レンズ形成、レジスト形成および光拡散体形成等の装置が考えられる。上記した液滴吐出装置を各種の電気光学装置(デバイス)の製造に用いることにより、各種の電気光学装置を効率的に製造することが可能である。
(a)は、本実施形態に係る画素内機能液の形態測定装置における検査対象物であるカラーフィルタの外観斜視図であり、(b)は、カラーフィルタのA−A’断面図である。 本実施形態に係る画素内機能液の形態測定装置の模式図である。 制御コンピュータの機能ブロック図である。 本実施形態に係る画素内機能液の形態測定方法における一連の動作を説明する説明図である。 第2実施形態に係る画素内機能液の形態測定方法における一連の動作を説明する説明図である。 カラーフィルタ製造工程を説明するフローチャートである。 (a)〜(e)は、製造工程順に示したカラーフィルタの模式断面図である。 本発明を適用したカラーフィルタを用いた液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第2の例の液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第3の例の液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。 有機EL装置である表示装置の要部断面図である。 有機EL装置である表示装置の製造工程を説明するフローチャートである。 無機物バンク層の形成を説明する工程図である。 有機物バンク層の形成を説明する工程図である。 正孔注入/輸送層を形成する過程を説明する工程図である。 正孔注入/輸送層が形成された状態を説明する工程図である。 青色の発光層を形成する過程を説明する工程図である。 青色の発光層が形成された状態を説明する工程図である。 各色の発光層が形成された状態を説明する工程図である。 陰極の形成を説明する工程図である。 プラズマ型表示装置(PDP装置)である表示装置の要部分解斜視図である。 電子放出装置(FED装置)である表示装置の要部断面図である。 表示装置の電子放出部廻りの平面図(a)およびその形成方法を示す平面図(b)である。
符号の説明
2…機能液滴吐出ヘッド 6…バンク 7…画素領域 10…形態測定装置 11…白色干渉計 31…計測パラメータ生成部 32…バンク高さ加算部 33…形態算出部 P…計測パラメータ BP…バンクパラメータ KP…機能液パラメータ HP…高さパラメータ W…基板 H…バンク高さ K…画素内機能液

Claims (10)

  1. 画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して前記画素領域内に着弾させ、干渉計から成る表面形状測定装置により、前記画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定方法であって、
    前記表面形状測定装置により、前記画素内機能液の表面形状と前記バンクの表面形状とを測定して、前記表面形状に関する計測パラメータを生成する表面形状測定工程と、
    生成した前記計測パラメータの前記画素内機能液の表面における計測パラメータに、前記バンク高さ分の高さパラメータを加算するバンク高さ加算工程と、
    加算後の前記画素内機能液の表面における前記計測パラメータおよび前記バンクの表面における前記計測パラメータに基づいて、前記画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出工程と、を備えたことを特徴とする画素内機能液の形態測定方法。
  2. 画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して前記画素領域内に着弾させ、干渉計から成る表面形状測定装置により、前記画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定方法であって、
    前記表面形状測定装置により、前記画素内機能液の表面形状と前記バンクの表面形状とを測定して、前記表面形状に関する計測パラメータを生成する表面形状測定工程と、
    生成した前記計測パラメータの前記バンクの表面における計測パラメータに、前記バンク高さ分の高さパラメータを減算するバンク高さ減算工程と、
    減算後の前記バンクの表面における前記計測パラメータおよび前記画素内機能液の表面における前記計測パラメータに基づいて、前記画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出工程と、を備えたことを特徴とする画素内機能液の形態測定方法。
  3. 前記バンクの表面の計測ポイントが、光反射性材料により表面処理されていることを特徴とする請求項1または2に記載の画素内機能液の形態測定方法。
  4. 画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して前記画素領域内に着弾させ、前記画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定装置であって、
    前記画素内機能液の表面形状と前記バンクの表面形状とを測定する表面形状測定手段と、
    前記表面形状測定手段による測定結果に基づいて、前記表面形状に関する計測パラメータを生成する計測パラメータ生成手段と、
    生成した前記計測パラメータの前記画素内機能液の表面における計測パラメータに、前記バンク高さ分の高さパラメータを加算するバンク高さ加算手段と、
    加算後の前記画素内機能液の表面における前記計測パラメータおよび前記バンクの表面における前記計測パラメータに基づいて、前記画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出手段と、を備えたことを特徴とする画素内機能液の形態測定装置。
  5. 画素領域を画成するバンクを有する基板上に、機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して前記画素領域内に着弾させ、前記画素領域内に着弾した画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を測定する画素内機能液の形態測定装置であって、
    前記画素内機能液の表面形状と前記バンクの表面形状とを測定する表面形状測定手段と、
    前記表面形状測定手段による測定結果に基づいて、前記表面形状に関する計測パラメータを生成する計測パラメータ生成手段と、
    生成した前記計測パラメータの前記バンクの表面における計測パラメータに、前記バンク高さ分の高さパラメータを減算するバンク高さ減算手段と、
    減算後の前記バンクの表面における前記計測パラメータおよび前記画素内機能液の表面における前記計測パラメータに基づいて、前記画素内機能液の厚さまたは体積の少なくとも一方を算出する形態算出手段と、を備えたことを特徴とする画素内機能液の形態測定装置。
  6. 請求項4または5に記載の画素内機能液の形態測定装置と、
    複数の前記機能液滴吐出ヘッドをサブキャリッジに搭載したヘッドユニットと、
    前記基板に対し、前記ヘッドユニットを相対的に移動させながら、前記複数の機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して描画を行なう描画手段と、を備えたことを特徴とする液滴吐出装置。
  7. 前記ヘッドユニットには、R色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、G色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッドおよびB色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、が搭載されていることを特徴とする請求項6に記載の液滴吐出装置。
  8. 請求項6または7に記載の液滴吐出装置を用い、前記基板上に機能液滴による成膜部を形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  9. 請求項6または7に記載の液滴吐出装置を用い、前記基板上に機能液滴による成膜部を形成したことを特徴とする電気光学装置。
  10. 請求項8に記載の電気光学装置の製造方法により製造した電気光学装置または請求項9に記載の電気光学装置を搭載したことを特徴とする電子機器。
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