KR101434364B1 - 픽셀 내 잉크층의 두께를 측정하는 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
픽셀 내의 잉크층 두께를 측정하는 장치 및 방법이 개시된다. 개시된 잉크층 두께 측정 장치는, 기판; 기판 상에 형성되는 것으로, 프린팅에 의하여 그 내부에 잉크가 채워지는 다수의 픽셀; 픽셀들에 대응하는 형성되는 것으로, 픽셀의 서로 대향하는 양 측면에 배치되는 한 쌍의 제1 및 제2 전극; 및 제1 및 제2 전극과 전기적으로 연결되어 상기 픽셀의 캐퍼시턴스를 측정하는 캐퍼시턴스 측정회로;를 구비한다.
Description
본 발명은 픽셀 내 잉크층의 두께를 측정하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 상세하게는 프린팅에 의하여 픽셀 내에 채워진 잉크층의 두께를 실시간으로 측정하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 상기한 잉크층의 두께를 측정하는 장치 및 방법을 이용하여 잉크젯 헤드의 각 노즐들을 제어하는 방법에 관한 것이다.
잉크젯 헤드는 노즐들을 통하여 잉크 방울들을 인쇄 매체 상의 원하는 위치에 토출시켜 화상을 형성하는 장치이다. 이러한 잉크젯 헤드는 최근에는 액정 디스플레이 장치(liquid crystal display device), 유기발광 디스플레이 장치(organic light emitting display device), 유기 박막트랜지스터(organic thin film transistor) 등과 같은 전자소자 분야로 그 응용 범위가 널리 확대되고 있다.
그 일례로 도 1에는 잉크젯 헤드를 이용하여 액정 디스플레이 장치용 컬러 필터를 제조하는 모습이 도시되어 있다. 도 1을 참조하면, 잉크젯 헤드(50)의 노즐들(55)로부터 소정 색상의 잉크 방울들(60)이 토출되어 기판(10) 상의 픽셀들(22) 내부에 채워지게 된다. 이어서, 잉크의 건조 과정을 거치게 되면 상기 픽셀들(22) 내부에는 고상(solid state)의 잉크층(65)이 소정 두께로 형성된다. 도 1에서 참조부호 20은 기판(10) 상에 형성되어 픽셀들(22)을 정의하는 블랙 매트릭스를 나타낸다. 이와 같은 컬러 필터의 제작 과정에서, 잉크젯 헤드(50)의 노즐들(55)은 서로 다른 토출 특성을 가질 수 있으며, 이러한 토출 특성의 차이로 인하여 노즐들(55)마다 토출되는 잉크 방울들(60)의 양이 달라지게 된다. 이와 같이, 노즐(55)마다 토출되는 잉크 방울(60)의 양이 달라지게 되면 도 2에 도시된 바와 같이 픽셀들(22) 내에서 잉크층들(65)이 서로 다른 두께로 형성되며, 이러한 두께의 불균일은 색특성을 크게 저하시키는 요인이 된다.
따라서, 이러한 잉크층 두께의 불균일 문제를 해결하기 위해서는 프린팅 작업시 잉크젯 헤드의 모든 노즐로부터 동일한 양의 잉크가 토출되어야 하는데, 이를 위해서는 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 인가되는 전압 파형들(wave forms)을 제어할 필요가 있다. 이러한 잉크젯 헤드의 노즐들을 제어하기 위한 전제로서 로드셀(load cell) 등과 같은 저울을 이용하여 노즐로부터 토출된 잉크방울의 질량을 측정하는 방법, 카메라를 이용하여 노즐로부터 토출된 잉크 방울의 부피를 측정하는 방법, 또는 노즐로부터 토출된 잉크 방울들을 픽셀 내에 채운 다음, 건조 과정을 거친 후 픽셀 내 잉크층의 두께를 측정하는 방법 등이 제안되어 왔다. 그러나, 저울을 이용하여 잉크 방울의 질량을 측정하는 방법은 측정 오차가 크고 측정 시간이 많이 소요된다는 문제점이 있으며, 잉크 방울의 부피를 측정하는 방법은 잉크 방울의 형상이 불규칙한 경우에는 측정에 어려움이 있다. 또한, 노즐로부터 토출된 잉크 방울들을 픽셀 내에 채운 다음, 건조 과정을 거친 후 잉크층 두께를 측정하는 방법은 건조 과정을 거쳐야 하므로 측정 시간이 많이 소요된다는 문제점이 있다.
본 발명은 프린팅에 의하여 픽셀 내에 채워진 잉크층의 두께를 실시간으로 측정하는 장치 및 방법을 제공하고자 한다. 또한, 본 발명은 상기한 잉크층의 두께를 측정하는 장치 및 방법을 이용하여 잉크젯 헤드의 각 노즐들을 제어하는 방법을 제공하고자 한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여,
본 발명의 구현예에 따르면,
기판;
상기 기판 상에 형성되는 것으로, 프린팅에 의하여 그 내부에 잉크가 채워지는 다수의 픽셀;
상기 픽셀들에 대응하는 형성되는 것으로, 상기 픽셀의 서로 대향하는 양 측면에 배치되는 한 쌍의 제1 및 제2 전극; 및
상기 제1 및 제2 전극과 전기적으로 연결되어 상기 픽셀의 캐퍼시턴스(capacitance)를 측정하는 캐퍼시턴스 측정회로;를 구비하는 잉크층의 두께 측정장치가 개시된다.
상기 프린팅은 잉크젯 방식에 의하여 프린팅되며, 상기 픽셀들은 잉크젯 헤 드의 노즐들에 대응하여 형성될 수 있다.
상기 픽셀 내에 형성된 잉크층의 두께는 상기 잉크층이 형성된 픽셀의 캐퍼시턴스를 실시간으로 측정함으로써 얻어질 수 있다.
상기 기판 상에 형성되어 상기 픽셀들을 정의하는 물질층을 더 구비할 수 있다.
본 발명의 다른 구현예에 따르면,
전술한 장치를 이용하여 픽셀 내 잉크층의 두께를 측정하는 방법에 있어서,
(a) 잉크가 채워지지 않은 픽셀들의 초기 캐퍼시턴스를 측정하는 단계;
(b) 프린팅에 의하여 상기 픽셀들 각각에 잉크를 채우는 단계;
(c) 상기 캐퍼시턴스 측정회로에 의하여 잉크가 채워진 픽셀들의 캐퍼시턴스를 측정하는 단계; 및
(d) 상기 픽셀들 각각에 채워진 잉크층의 두께를 계산하는 단계;를 포함하는 잉크층의 두께 측정방법이 개시된다.
상기 (d)단계에서, 상기 잉크층의 두께는 상기 픽셀 내에 잉크가 채워짐에 따라 측정되는 픽셀의 캐퍼시턴스 변화량에 의하여 계산될 수 있다.
본 발명의 또 다른 구현예에 따르면,
전술한 장치를 이용하여 잉크젯 헤드의 노즐들을 제어하는 방법에 있어서,
(a) 잉크가 채워지지 않은 픽셀들의 초기 캐퍼시턴스를 측정하는 단계;
(b) 상기 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 설정된 전압 파형(wave form)을 인가하여 상기 노즐들에 대응하는 상기 픽셀들 각각에 잉크를 채우는 단계;
(c) 상기 캐퍼시턴스 측정회로에 의하여 잉크가 채워진 픽셀들의 캐퍼시턴스를 측정하는 단계;
(d) 상기 픽셀들 각각에 채워진 잉크층의 두께를 계산하는 단계; 및
(e) 상기 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 얻고자 하는 잉크층의 목표 두께에 대응하는 전압 파형을 설정하는 단계;를 포함하는 잉크젯 헤드의 노즐 제어방법이 개시된다.
상기 (e)단계에서 상기 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 전압 파형을 설정한 다음, 상기 (a) 내지 (e) 단계를 적어도 한번 반복하여 수행할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 지칭하며, 각 구성요소의 크기나 두께는 설명의 명료성을 위하여 과장되어 있을 수 있다.
본 발명은 픽셀의 캐퍼시턴스(capacitance)를 측정함으로써 픽셀 내에 채워진 잉크층의 두께를 측정한다. 도 3은 두 전극 사이의 픽셀 내에 채워지는 잉크의 양에 따라 픽셀의 캐퍼시턴스가 변화하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 3을 참조하면, 픽셀 내에서는 소정 두께의 잉크층(165)이 형성되어 있고, 이 픽셀의 양측에는 각각 두 개의 제1 및 제2 전극(161,162)이 형성되어 있다. 상기 제1 및 제2 전극(161,162)은 픽셀의 캐퍼시턴스를 측정하기 위한 프로브(probe)로서, 도체로 이루어진다. 여기서, 픽셀의 캐퍼시턴스는 픽셀 내에 채워진 잉크층(165)의 두께에 따라 변화하게 된다. 구체적으로, 픽셀의 캐퍼시턴스는 픽셀의 길이(ℓ)에 반비례하고, 잉크층(165)의 단면적(A)에 비례하게 된다. 여기서, 상기 잉크층(165)의 단면적(A)은 픽셀의 폭에 잉크층(165)의 두께를 곱한 값이다. 따라서, 잉크층(165)의 두께가 증가하게 되면 픽셀의 캐퍼시턴스가 증가하게 된다. 본 발명은 이와 같은 원리를 이용하여 픽셀의 캐퍼시턴스 변화를 측정함으로써 픽셀 내에 채워지는 잉크층(165)의 두께 변화를 실시간으로 측정할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 잉크층 두께 측정 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다. 그리고, 도 5는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ'선을 따라 본 단면도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치(100)는 기판(101)과, 상기 기판(101) 상에 소정 형태로 배치되는 다수의 픽셀(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)과, 상기 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각에 대응하는 형성되는 한 쌍의 제1 및 제2 전극(111,112)를 구비한다. 도 5에서, 참조번호 115는 기판(101) 상에 형성되어 상기 다수의 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)을 정의하는 물질층을 나타낸다. 여기서, 상기 물질층(115)은 예를 들어 컬러 필터에서의 블랙 매트릭스에 대응될 수 있다.
상기 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에는 프린팅에 의하여 그 내부에 잉크가 채워진다. 도 4에는 기판(101) 상에 4개의 픽셀이 3열로 배열되는 경우가 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고 픽셀들의 개수 및 배열 상태는 다양하게 변형될 수 있다. 그리고, 도 4에는 픽셀 들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각이 4각형 형태로 형성된 경우가 도시되어 있으나, 이와 다른 다양한 형상으로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 프린팅은 잉크젯 방식에 의하여 수행될 수 있다. 하지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 도 4에는 상기 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)을 프린팅하기 위한 잉크젯 헤드(150)가 도시되어 있다. 도면에서, N1, N2, N3, N4는 잉크젯 헤드의 노즐 번호를 나타낸다. 그리고, P11, P12, P13는 노즐 N1에 대응하는 픽셀들을 나타내고, P21, P22, P23는 노즐N2에 대응하는 노즐들을 나타낸다. 그리고, P31, P32, P33는 노즐N3에 대응하는 노즐들을 나타내고, P41, P42, P43는 노즐 N4에 대응하는 노즐들을 나타낸다.
상기 잉크젯 헤드(150)는 화살표 방향으로 이동하면서 노즐들(N1,N2,N3,N4)로부터 소정의 잉크 방울들을 토출시킴으로써 상기 기판(101) 상의 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내를 소정 두께의 잉크층으로 채우게 된다. 상기 제1 및 제2 전극(111,112)은 픽셀(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)의 캐퍼시턴스를 측정하기 위한 프로브로서, 픽셀(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)의 서로 대향하는 양측에 배치되어 있다. 이러한 제1 및 제2 전극(111,112)은 도체로 이루어질 수 있다. 그리고, 캐퍼시턴스 측정회로(미도시)가 상기 제1 및 제2 전극(111,112)에 전기적으로 연결되어 픽셀(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)의 캐퍼시턴스를 측정한다. 상기와 같은 구조에서, 잉크젯 헤드(150)가 이동하면서 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각으로부터 소정 개수의 잉크 방울들을 토출시키고, 이렇게 토출된 잉크 방울들은 기판(101) 상의 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각에 채워져 소정 두께의 잉크층을 형성하게 된다. 그리고, 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에 잉크층이 형성되면, 캐퍼시턴스 측정회로(미도시)를 이용하여 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각의 캐퍼시턴스를 측정함으로써 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각에 채워진 잉크층의 두께를 측정할 수 있게 된다.
이하에서는 도 7을 참조하여 도 4 및 도 5에 도시된 본 발명의 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치(100)를 이용하여 픽셀(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)내 잉크층의 두께를 측정하는 방법을 보다 구체적으로 설명한다. 도 7는 본 발명의 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치를 이용하여 픽셀 내 잉크층의 두께를 측정하는 방법을 도시한 플로우 챠트(flow chart)를 도시한 것이다.
도 4, 도 5 및 도 7을 참조하면, 먼저, 프린팅 전의 상태, 즉 잉크가 채워지지 않은 상태에서 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각의 초기 캐퍼시턴스를 측정한다(301). 이어서, 잉크젯 헤드(150)에 의하여 프린팅 작업을 수행함으로써 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에 소정 두께의 잉크층들을 형성한다(302). 여기서, 상기 잉크젯 헤드(150)의 각 노즐들(N1,N2,N3,N4)에는 미리 설정된 전압 파형(wave form)이 인가된다. 이 과정 에서, 상기 잉크젯 헤드(150)는 소정 방향(도 4의 화살표 방향)으로 이동하면서 노즐들 (N1,N2,N3,N4)각각으로부터 잉크 방울들을 토출시키고, 이렇게 토출된 잉크 방울들은 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에 채워져 소정 두께의 잉크층을 형성하게 된다. 다음으로, 잉크층이 형성된 상태에서 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 각각의 캐퍼시턴스를 측정한다(303). 그리고, 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)의 초기 캐퍼시턴스와 잉크가 채워진 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)의 캐퍼시턴스를 비교하여 그 변화량을 측정함으로써 픽셀(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에 채워진 잉크층의 두께를 계산한다(304). 이에 따라, 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각으로부터 토출되는 잉크의 양을 측정할 수 있게 된다. 구체적으로, 픽셀 P11, P12 또는 P13에 형성된 잉크층의 두께를 측정하게 되면 노즐N1으로부터 토출되는 잉크 방울들의 양을 측정할 수 있으며, 픽셀 P21, P22 또는 P23에 형성된 잉크층의 두께를 측정하게 되면 노즐N2로부터 토출되는 잉크 방울들의 양을 측정할 수 있다. 그리고, 픽셀 P31, P32 또는 P33에 형성된 잉크층의 두께를 측정하게 되면 노즐N3로부터 토출되는 잉크 방울들의 양을 측정할 수 있으며, 픽셀 P41, P42 또는 P43에 형성된 잉크층의 두께를 측정하게 되면 노즐N4로부터 토출되는 잉크 방울들의 양을 측정할 수 있다. 한편, 픽셀들 P11, P12, P13에 형성된 잉크층들의 두께가 다른 경우에는 그 평균값에 의하여 노즐N1으로부터 토출되는 잉크 방울들의 양을 측정할 수 있다.
한편, 이상에서 설명된 방법에 의하여 측정된 잉크층들의 두께를 이용하여 잉크젯 헤드(150)의 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각으로부터 동일한 양의 잉크를 토출시킬 수 있도록 잉크젯 헤드의 노즐들을 제어할 수 있다. 이하에서는 잉크젯 헤드(150)의 각 노즐들(N1,N2,N3,N4)을 제어하는 방법을 설명한다.
먼저, 전술한 바와 같이, 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에 형성된 잉크들층의 두께를 측정하여 잉크젯 헤드(150)의 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각에 대응하는 잉크층의 두께를 결정한다. 다음으로, 결정된 잉크층의 두께와 얻고자 하는 잉크층의 목표 두께를 비교하여 상기 잉크젯 헤드(150)의 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각에 얻고자 하는 잉크층의 목표 두께에 대응하는 전압 파형을 설정한다. 그리고, 이렇게 설정된 전압 파형을 잉크젯 헤드(150)의 각 노즐들(N1,N2,N3,N4)에 인가하게 되면, 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각으로부터 동일한 양의 잉크가 토출될 수 있다. 한편, 전술한 공정들을 한번 이상 반복하게 되면 잉크젯 헤드(150)의 노즐들(N1,N2,N3,N4)을 보다 정확하게 제어할 수 있다. 즉, 새롭게 설정된 전압 파형을 노즐들(N1,N2,N3,N4) 각각에 인가한 후, 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43) 내에 형성된 잉크층의 두께를 측정한 다음, 그 측정 결과를 이용하여 전압 파형을 다시 설정하게 되면 잉크젯 헤드(150)의 노즐들(N1,N2,N3,N4)을 보다 정확하게 제어할 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치를 개략적으로 도시한 평면도이다. 이하에서는 전술한 실시예와 다른 점만을 설명하기로 한다.
도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치(200)에서는 전술한 실시예에서 하나의 노즐(N1,N2,N3,N4)에 대응하는 다수의 픽셀들(P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43)이 합쳐져 하나의 픽셀(P1,P2,P3,P4)을 형성한다. 예를 들면, 노즐 N1에 대응하여 도 3에서의 픽셀 P11, P12 및 P13가 합쳐진 픽셀 P1이 형성되고, 노즐 N2에 대응하여 도 3에서의 픽셀 P21, P22 및 P23가 합쳐진 픽셀 P2가 형성될 수 있다. 그리고, 노즐 N3에 대응하여 도 3에서의 픽셀 P31, P32 및 픽셀 P33가 합쳐진 픽셀 P3가 형성되고, 노즐 N4에 대응하여 P41, P42 및 P43가 합쳐진 픽셀 P4가 형성될 수 있다. 여기서, 도 3에서 픽셀 P11, P12 및 P13에 채워진 잉크의 합이 픽셀 P1에 채워질 수 있다. 이 경우, 상기 픽셀 P1에 형성된 잉크층의 두께를 측정하게 되면 전술한 실시예에서 계산된 노즐 N1에 대응하는 잉크층의 두께를 얻을 수 있게 된다. 상기와 같은 구조의 잉크층 두께 측정장치는 전술한 실시예보다 픽셀 패턴을 보다 단순하게 형성할 수 있으므로, 제조비용을 줄일 수 있다.
이상과 같이, 본 발명에 따르면 픽셀의 캐퍼시턴스를 측정함으로써 픽셀 내에 채워진 잉크층의 두께를 실시간으로 빠른 시간내에 측정할 수 있다. 그리고, 이렇게 측정된 잉크층의 두께를 이용하여 노즐들 각각에 인가되는 전압 파형을 조절함으로써 픽셀들 내에 모두 동일한 두께의 잉크층을 얻을 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치의 픽셀 패턴을 예를 들어 컬러 필터의 픽셀 패턴과 동일하게 형성하게 되면, 픽셀들 내에 균일한 두께의 잉크층이 형성된 컬러 필터를 얻을 수 있게 된다. 또한, 본 발명에 따르면, 픽셀 내에 액상의 잉크 가 채워진 후, 솔벤트(solvent) 증발함에 따라 잉크층의 두께가 변화하는 경우에도 잉크층의 두께를 실시간으로 모니터링할 수 있다. 즉, 픽셀 내에 잉크가 건조되지 않은 상태에서도 잉크층의 두께를 측정할 수 있다. 또한, 상기와 같은 잉크 두께 측정장치는 세척에 의하여 재사용이 가능하므로 큰 비용이 소요되지 않는다.
이상에서 본 발명에 따른 바람직한 실시예가 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.
도 1은 잉크젯 헤드를 이용하여 액정 디스플레이 장치용 컬러 필터를 제조하는 모습을 도시한 것이다.
도 2는 픽셀 내의 잉크층들이 불균일한 두께로 형성된 상태를 도시한 것이다.
도 3은 두 전극 사이의 픽셀 내에 채워지는 잉크의 양에 따라 픽셀의 캐퍼시턴스가 변화하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 5는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ'선을 따라 본 단면도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 잉크층 두께 측정장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 잉크층 두께 측정방법을 설명하기 위한 플로우 챠트(flow chart)이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100,200... 잉크층 두께 측정장치 101... 기판
111,211... 제1 전극 112,212... 제2 전극
150... 잉크젯 헤드 N1,N2,N3,N4... 노즐
P11,P12,P13,P21,P22,P23,P31,P32,P33,P41,P42,P43,P1,P2,P3,P4... 픽셀
Claims (11)
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- 기판; 상기 기판 상에 형성되는 것으로, 프린팅에 의하여 그 내부에 잉크가 채워지는 다수의 픽셀; 상기 픽셀들에 대응하게 형성되는 것으로, 상기 픽셀의 서로 대향하는 양 측면에 배치되는 한 쌍의 제1 및 제2 전극; 및 상기 제1 및 제2 전극과 전기적으로 연결되어 상기 픽셀의 캐퍼시턴스(capacitance)를 측정하는 캐퍼시턴스 측정회로;를 구비하는 측정장치를 이용하여 픽셀 내 잉크층의 두께를 측정하는 방법에 있어서,(a) 잉크가 채워지지 않은 픽셀들의 초기 캐퍼시턴스를 측정하는 단계;(b) 프린팅에 의하여 상기 픽셀들 각각에 잉크를 채우는 단계;(c) 상기 캐퍼시턴스 측정회로에 의하여 잉크가 채워진 픽셀들의 캐퍼시턴스를 측정하는 단계; 및(d) 상기 픽셀들 각각에 채워진 잉크층의 두께를 계산하는 단계;를 포함하는 잉크층의 두께 측정방법.
- 제 5 항에 있어서,상기 프린팅은 잉크젯 방식에 의하여 수행되는 것을 특징으로 하는 잉크층의 두께 측정방법.
- 제 5 항에 있어서,상기 (d)단계에서, 상기 잉크층의 두께는 상기 픽셀 내에 잉크가 채워짐에 따라 측정되는 픽셀의 캐퍼시턴스 변화량에 의하여 계산되는 것을 특징으로 하는 잉크층의 두께 측정방법.
- 제 5 항에 있어서,상기 잉크가 채워지는 픽셀의 캐퍼시턴스는 프린팅 과정 중에 실시간으로 측정되는 것을 특징으로 하는 잉크층의 두께 측정방법.
- 기판; 상기 기판 상에 잉크젯 헤드의 노즐에 대응하게 형성되는 것으로, 잉크젯 방식의 프린팅에 의하여 그 내부에 잉크가 채워지는 다수의 픽셀; 상기 픽셀들에 대응하게 형성되는 것으로, 상기 픽셀의 서로 대향하는 양 측면에 배치되는 한 쌍의 제1 및 제2 전극; 및 상기 제1 및 제2 전극과 전기적으로 연결되어 상기 픽셀의 캐퍼시턴스(capacitance)를 측정하는 캐퍼시턴스 측정회로;를 구비하는 측정 장치를 이용하여 상기 잉크젯 헤드의 노즐들을 제어하는 방법에 있어서,(a) 잉크가 채워지지 않은 픽셀들의 초기 캐퍼시턴스를 측정하는 단계;(b) 상기 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 설정된 전압 파형(wave form)을 인가하여 상기 노즐들에 대응하는 상기 픽셀들 각각에 잉크를 채우는 단계;(c) 상기 캐퍼시턴스 측정회로에 의하여 잉크가 채워진 픽셀들의 캐퍼시턴스를 측정하는 단계;(d) 상기 픽셀들 각각에 채워진 잉크층의 두께를 계산하는 단계; 및(e) 상기 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 얻고자 하는 잉크층의 목표 두께에 대응하는 전압 파형을 설정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 노즐 제어방법.
- 제 9 항 있어서,상기 (d)단계에서, 상기 잉크층의 두께는 상기 픽셀 내에 잉크가 채워짐에 따라 측정되는 픽셀의 캐퍼시턴스 변화량에 의하여 계산되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 노즐 제어방법.
- 제 9 항에 있어서,상기 (e)단계에서 상기 잉크젯 헤드의 노즐들 각각에 전압 파형을 설정한 다음, 상기 (a) 내지 (e) 단계를 적어도 한번 반복하여 수행하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 헤드의 노즐 제어방법.
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