JP4245008B2 - 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 - Google Patents
電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4245008B2 JP4245008B2 JP2006131084A JP2006131084A JP4245008B2 JP 4245008 B2 JP4245008 B2 JP 4245008B2 JP 2006131084 A JP2006131084 A JP 2006131084A JP 2006131084 A JP2006131084 A JP 2006131084A JP 4245008 B2 JP4245008 B2 JP 4245008B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- electrode
- electro
- opening region
- optical device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 123
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 139
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 67
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 33
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 18
- 239000010408 film Substances 0.000 description 116
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 79
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 61
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 2
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018182 Al—Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004988 Nematic liquid crystal Substances 0.000 description 1
- 229910018594 Si-Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910008465 Si—Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 1
- 239000000382 optic material Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136227—Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/12—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136209—Light shielding layers, e.g. black matrix, incorporated in the active matrix substrate, e.g. structurally associated with the switching element
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136213—Storage capacitors associated with the pixel electrode
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/40—Arrangements for improving the aperture ratio
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/13—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body combined with thin-film or thick-film passive components
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
電気光学装置用基板を備えてなる電気光学装置、並びに該電気光学装置を備えた、例えば
液晶プロジェクタ等の電子機器の技術分野に関する。
がリークすることを防ぐために、液晶容量と並列に保持容量が付加される。このような保
持容量は、液晶装置の表示領域を構成する複数の画素における開口領域の周囲に設けられ
た非開口領域に形成されている。開口領域は、非開口領域によって囲まれた領域であり、
矩形状に形成されていることが多い。加えて、非開口領域に形成された保持容量と、当該
保持容量上における開口領域に形成された透明な画素電極とを電気的に接続するためには
、画素電極及び保持容量が非開口領域で相互に重なるように画素電極を保持容量上まで延
在し、非開口領域において画素電極及び保持容量を電気的に接続するコンタクトホール等
の接続手段が設けてられている場合が多い(例えば、特許文献1参照。)。
開口領域における配線の配線幅の狭小化及び各種素子のサイズの小型化を行った場合、非
開口領域においてコンタクトホール等の接続手段を設けるためのスペースを確保すること
が困難となる製造プロセス上及び設計上の問題点がある。より具体的には、例えば、非開
口領域の幅が、相互に隣接する画素間に設けられた配線及び保持容量等の幅によって規定
される場合、単に配線等の幅を狭めることによって開口率を高めることが可能となったと
しても、形成されるべきコンタクトホールのサイズと、当該コンタクトホールを形成する
際に絶縁膜を部分的に除去するために用いられるマスクの位置合わせを考慮したマージン
とを確保することは困難である。
リクス方式で駆動される液晶装置等の電気光学装置であって、保持容量及び画素電極の電
気的な接続を確保しつつ、開口率を高めることが可能な電気光学装置に用いられる電気光
学装置用基板、及びそのような電気光学装置用基板を備えた電気光学装置、並びに電子機
器を提供することを課題とする。
また、基板と、前記基板上で第1方向に延在する複数のデータ線と、前記第1方向と交差する第2方向に延在する複数の走査線と、前記複数のデータ線及び前記複数の走査線の交差に対応して規定された複数の画素の夫々に形成された画素電極と、前記画素電極に対応して設けられたトランジスタと、前記データ線と重なるように前記第1方向に延在する前記トランジスタの半導体層と、前記複数の画素の夫々の開口領域の一部を規定し、前記半導体層の一部を覆うと共に前記第2方向に延在する遮光膜と、前記遮光膜が設けられた非開口領域に形成され、前記画素電極の電位を保持するための保持容量と、前記開口領域の前記第2方向に沿う領域端の一部を規定する前記遮光膜が設けられた領域から前記開口領域側に前記第1方向へ突出した凸部を有する導電膜と、前記画素電極と前記凸部とを電気的に接続する第1コンタクト部と、前記導電膜と前記保持容量とを電気的に接続する第2コンタクト部とを備え、前記保持容量は、第1電極と、前記第1電極上に形成された第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間に狭持された誘電体膜とを有し、前記第2電極は、前記遮光膜からなり、前記第2コンタクト部は、前記第2電極と重なる領域に形成されており、当該第2コンタクト部において、前記導電膜と前記第2電極とが電気的に接続されることを特徴とする。
また、前記保持容量は、前記基板と前記導電膜との間に設けられる。
開口領域を規定する領域端の一の領域端の一部から開口領域に突出した凸部を有している
。ここで、本発明の「開口領域」とは、実質的に光が透過する画素内の領域であり、例え
ば、画素電極が形成される領域であって、透過率の変更に応じて液晶等の電気光学物質を
抜けてきた出射光の階調を変化させることが可能となる領域である。換言すれば、「開口
領域」とは、画素に集光される光が光を透過させない、或いは光透過率が透明電極に比べ
て相対的に小さい配線、遮光膜、及び各種素子等の遮光体で遮られることがない領域を意
味する。
素内に非透明な配線或いは電極、若しくは各種素子等の遮光体が配設されている領域を意
味する。開口領域及び非開口領域を加えた画素のサイズにおける開口領域の割合を意味す
る開口率が大きいほど、本発明に係る電気光学装置用基板を備えた電気光学装置の表示性
能が向上する。
或いは電極等の縁で規定されている。ここで、「複数の領域端」とは、例えば開口領域が
矩形状である場合には、当該矩形状を規定する4つの辺を意味し、複数の領域端は開口領
域の外形を規定する。各領域端は、特定方向に一直線状に延びる場合に限定されず、大な
り小なり当該領域端が延びる方向に交わる方向に沿って凹凸形状を有していてもよい。
の接続手段である。導電膜が、例えば保持容量等の素子の一部を構成する電極に電気的に
接続されている場合には、当該保持容量は画素電極に供給された画像信号に応じて画素電
極の電位を一時的に維持できる。この場合、導電膜は、例えば保持容量及び画素電極を電
気的に中継する中継層として機能する。
場合、当該保持容量の電極は、画素電極との接続を図るためのコンタクト部を形成するた
めに幅が大きくなり、これに伴い非開口領域の幅も大きくなる。しかしながら、本発明に
よれば、非開口領域から開口領域に凸部を突出させておくことによって、例えば保持容量
の電極全体を開口領域に拡げる必要がない。
に接続されているため、保持容量及び画素電極の電気的な接続を中継する中継層として機
能する。
る場合に比べて、開口領域が狭められる割合を小さくできる。より具体的には、第1電極
及び第2電極が相互に重なる面積がより大きくなるように第1電極及び第2電極をパター
ニングすることによって保持容量の容量を大きくし、画素電極の電位を保持する保持性能
を向上させるほうが好ましい反面、一の領域端の全体に渡って第2電極を開口領域に張り
出させることは、開口率を高める観点からみて好ましい設計とは言い難い。そこで、導電
膜を介して画素電極及び保持容量を電気的に接続することによって、第2電極が開口領域
に突出する部分を低減でき、開口率の低下を抑制することが可能となる。
的に接続できる。
保持容量である。第2電極は、例えばデータ線に電気的に接続された画素電位側容量電極
であり、第1電極は、固定電位とされる固定電位側容量電極である。ここで、固定電位側
容量電極は通常複数の画素に渡って延在されるため、当該第1電極の面積は第2電極に比
べて相対的に大きくなる。そこで、第1電極及び第2電極を金属膜としておくことにより
、半導体を用いてこれら電極を構成する場合に比べて電気光学装置用基板全体で消費され
る消費電力を低減でき、且つ各画素部における素子の高速動作が可能になる。
開口領域を狭めていない。
第1電極は、第2コンタクト部によって電気的に接続されている。ここで、凸部は、開口
領域を規定する複数の領域端の一の領域端の一部から開口領域に突出しており、第1電極
も一の領域端の一部から開口領域に延びている。したがって、第1電極は、第2コンタク
ト部に接続される部分のみを開口領域に延ばしておけばよく、第1電極全体を開口領域に
延在させることによって開口率が低下することを低減できる。加えて、本発明の第1の発
明に係る電気光学装置用基板と同様に、非開口領域のうち一の領域端が延びる方向に沿っ
て第2コンタクト部の両側に延びる領域を狭めることができるため、開口率を高めること
が可能である。
を有しており、例えば非開口領域に形成された薄膜トランジスタ(TFT)のドレインに
電気的に接続された第1電極を介して画素電極に画像信号が供給される。
って画質が低下することを抑制できる。
ことにより、非開口領域に形成される配線又は素子のレイアウトに応じて一の領域端の中
央から凸部を開口領域に突出させることができない場合でも、導電膜及び画素電極を電気
的に接続できる。
域に突出しており、非開口領域における配線及び各種素子の配置に関する自由度が増す。
る。尚、「直上」とは、トランジスタの真上において他の遮光膜を介在させることなく保
持容量が配置されていることを意味する。この態様によれば、特にトランジスタの直上に
保持容量が配置されているため、トランジスタが有する半導体層の法線方向に対して大き
な角度に入射する入射光を遮ることができ、トランジスタにおける光リーク電流の発生を
低減できる。
形成法を用いて形成しておき、当該薄膜を部分的に除去することによって、データ線及び
導電膜を相互に離間させた状態で形成することが可能である。この態様によれば、データ
線及び導電膜を同一工程で形成できるため、製造プロセスを簡便にすることが可能である
。
用基板を備える。
表示性能に優れた電気光学装置を提供することができる。
備えている。
で、高品位の表示が可能な、投射型表示装置、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、
ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テ
レビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明に
係る電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置等も実現することが可能であ
る。
電気光学装置、並びに電子機器の各実施形態を説明する。
<1−1:電気光学装置の全体構成>
先ず、図1及び図2を参照しながら本発明の第1の発明に係る電気光学装置用基板及び
これを備えた電気光学装置の各実施形態を説明する。図1は、TFTアレイ基板をその上
に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た電気光学装置の平面図であり、図2
は、図1のH−H´断面図である。本実施形態では、電気光学装置の一例として、駆動回
路内蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例に挙げる。
向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入され
ており、TFTアレイ基板10と対向基板20とは、複数の画素部が設けられる画素領域
たる画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により相
互に接着されている。
からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、
加熱等により硬化させられたものである。シール材52中には、TFTアレイ基板10と
対向基板20との間隔(基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイバ或いはガ
ラスビーズ等のギャップ材が散布されている。本実施形態の液晶装置1は、プロジェクタ
のライトバルブ用として小型で拡大表示を行うのに適している。
域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。但し、この
ような額縁遮光膜53の一部又は全部は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設
けられてもよい。尚、画像表示領域10aの周辺に位置する周辺領域が存在する。言い換
えれば、本実施形態においては特に、TFTアレイ基板10の中心から見て、この額縁遮
光膜53より以遠が周辺領域として規定されている。
ータ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿っ
て設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿い、且つ、額
縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。更に、このように画像表示領域10
aの両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板1
0の残る一辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして複数の配線105が設
けられている。
通材106が配置されている。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコーナー部に対
向する領域において上下導通端子が設けられている。これらにより、TFTアレイ基板1
0と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。
データ線等の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形成されている。他方、
対向基板20上には、対向電極21の他、格子状又はストライプ状の遮光膜23、更には
最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティ
ック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。
る。対向基板20もTFTアレイ基板10と同様に透明基板である。
処理等の所定の配向処理が施された配向膜が設けられている。例えば、画素電極9aはI
TO(Indium Tin Oxide)膜などの透明導電膜からなり、配向膜は、ポリイミド膜などの
有機膜からなる。
ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設けられている。対向電極21
は例えば、ITO膜などの透明導電膜からなる。配向膜22は、ポリイミド膜などの有機
膜からなる。
ような構成を採ることで、上部容量電極300として設けられた上側遮光膜と併せ、TF
Tアレイ基板10側からの入射光のチャネル領域1a´ないしその周辺への侵入をより確
実に阻止することができる。
Tアレイ基板10と対向基板20との間には、液晶層50が形成される。液晶層50は、
画素電極9aからの電界が印加されていない状態で配向膜により所定の配向状態をとる。
01、走査線駆動回路104等の駆動回路に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリ
ングしてデータ線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリ
チャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の
当該電気光学装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。
次に、図3を参照しながら、液晶装置1の画素部の電気的な接続構成を詳細に説明する
。図3は、液晶装置1の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素に
おける各種素子、配線等の等価回路である。
複数の画素の夫々には、画素電極9a、及び本発明の「トランジスタ」の一例であるTF
T30が形成されている。TFT30は、画素電極9aに電気的に接続されており、液晶
装置1の動作時に画素電極9aをスイッチング制御する。画像信号が供給されるデータ線
6aは、TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信
号S1、S2、・・・、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複
数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。
イミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、・・・、Gmを、この順に線
順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的
に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉
じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、・・・、Snが所定
のタイミングで書き込まれる。画素電極9aを介して電気光学物質の一例としての液晶に
書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、・・・、Snは、対向基板に形成された
対向電極との間で一定期間保持される。
化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであ
れば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリ
ーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過
率が増加され、全体として液晶装置1からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出
射される。ここで保持された画像信号がリークすることを防ぐために、画素電極9aと対
向電極との間に形成される液晶容量と並列に、本発明の第1の発明に係る「保持容量」の
一例である蓄積容量70aが電気的に接続されている。これにより、画素電極9aにおけ
る電位保持特性が向上し、コントラストやフリッカーといった表示特性の向上が可能とな
る。
次に、図4乃至図6を参照しながら画素部の具体的な構成を説明する。図4は、データ
線、走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の平面
図である。図5は、図4のV−V´断面図である。図6は、図4のVI−VI´断面図で
ある。尚、図4乃至図6では、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするた
め、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。また、図5及び図6では、説明の便
宜上画素電極9aより上側に位置する部分の図示を省略している。図5において、TFT
アレイ基板10から画素電極9aまでの部分が、本発明の第1の発明に係る「電気光学装
置用基板」の一例である。
方向に対してマトリクス状に複数の透明な画素電極9aが設けられており、画素電極9a
の縦横の境界に各々沿って複数のデータ線6a及び複数の走査線3aが設けられている。
ように走査線3aが配置されている。走査線3a及びデータ線6aが互いに交差する個所
の夫々には画素スイッチング用のTFT30が設けられている。
形成されており、半導体層1aに含まれるTFT30の高濃度ソース領域1dにコンタク
トホール81aを介して電気的に接続されている。データ線6a及びコンタクトホール8
1a内部は、例えば、Al−Si−Cu、Al−Cu等のAl(アルミニウム)含有材料
、又はAl単体、若しくはAl層とTiN層等との多層膜からなる。データ線6aは、T
FT30を遮光する機能も有している。
1mと、本発明の第1の発明に係る「第2電極」の一例である上部容量電極300とが誘
電体膜75aを介して対向配置されることにより形成されている。
的に接続された画素電位側容量電極である。より具体的には、上部容量電極300は、本
発明の第1の発明に係る「第2コンタクト部」の一例であるコンタクトホール84aを介
して本発明の第1の発明に係る「導電膜」の一例である中継層93に電気的に接続されて
おり、中継層93と共に高濃度ドレイン領域1e及び画素電極9a間の電気的な接続を中
継する。
属膜である。上部容量電極300は、TFT30を遮光する上側遮光膜(内蔵遮光膜)と
しても機能する。上部容量電極300は、Al(アルミニウム)、Ag(銀)等の金属を
含んで形成されている。上部容量電極300は、例えば、Ti(チタン)、Cr(クロム
)、W(タングステン)、Ta(タンタル)、Mo(モリブデン)、Pd(パラジウム)
等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリ
シリサイド、これらを積層したもの等から構成されていてもよい。
延設されている。下部容量電極71mは、定電位源と電気的に接続され、固定電位に維持
された固定電位側容量電極である。
容量70aは、金属膜−誘電体膜−金属膜の3層構造を有する、所謂MIM(Metal−Ins
ulator−Metal)構造として構成されている。ここで、下部容量電極71mは、複数の画
素に渡って延在され、これら複数の画素によって共用される。本実施形態では、下部容量
電極71mを金属膜として形成しておくことにより、半導体を用いて下部容量電極71m
を構成する場合に比べて液晶装置1の駆動時に、当該液晶装置1全体で消費される消費電
力を低減でき、且つ各画素部における素子の高速動作が可能になる。
ature Oxide)膜等の酸化シリコン膜、あるいは窒化シリコン膜等から構成されている。
TFTアレイ基板10側から装置内に入射する戻り光からTFT30のチャネル領域1a
´及びその周辺を遮光する。下側遮光膜11aは、上部容量電極300及び下部容量電極
71mと同様に、例えば、Ti、Cr、W、Ta、Mo、Pd等の高融点金属のうちの少
なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層
したもの等からなる。
アレイ基板10の全面に形成されることにより、TFTアレイ基板10の表面の研磨時に
おける荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用TFT30の特性の劣化を防止
する機能を有する。
並びに中継層93を介して半導体層1aのうち高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続さ
れている。コンタクトホール85aは、本発明の「第1コンタクト部」の一例であり、第
3層間絶縁層43を貫通するように形成された孔部の内壁にITO等の画素電極9aを構
成する導電材料が成膜されることによって形成されている。
りチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a´と、走査線3a及び半導体層
1aとを絶縁する2層の絶縁膜2a及び2bを含むゲート絶縁膜2とを有している。半導
体層1aは、低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1c、高濃度ソース領域1d及
び高濃度ドレイン領域1eを備えたLDD(Lightly Doped Drain)構造を有している。低
濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1c、高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイ
ン領域1eは、半導体層1aの不純物領域を構成しており、チャネル領域1a´の両側に
ミラー対称に形成されている。
め、TFT30が有する半導体層1aの法線方向から半導体層1aが延びる方向に沿って
当該法線方向に対して大きな角度で半導体層1aに入射する入射光を遮ることができ、半
導体層1aに生じる光リーク電流を低減することが可能である。したがって、TFT30
の非動作時において低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1cに流れるオフ電流
が低減でき、且つTFT30の動作時に流れるオン電流の低下を抑制できる。よって、液
晶装置1は、その動作時に高品位で画像を表示できる。
ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール83aが各々開孔された第1層間絶縁膜41
が形成されている。第1層間絶縁膜41上には下部容量電極71m及び上部容量電極30
0が形成されており、これらの上には、コンタクトホール81aが開孔された第2層間絶
縁膜42が形成されている。データ線6aの上から第2層間絶縁膜42の全面及び中継層
93を覆うように、コンタクトホール85aが形成された第3層間絶縁膜43が形成され
ている。画素電極9a及び不図示の配向膜は、第3層間絶縁膜43の上面に設けられてい
る。
データ線6a及び中継層93は、例えば金属膜等の導電材料で構成される薄膜を第2層間
絶縁膜42上に薄膜形成法を用いて形成しておき、当該薄膜を部分的に除去、即ちパター
ニングすることによって相互に離間させた状態で形成される。したがって、データ線6a
及び中継層93を同一工程で形成できるため、液晶装置1の製造プロセスを簡便にできる
。
層93及びTFT30は、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、画素電極9aに対応
する各画素の開口領域(即ち、各画素において、表示に実際に寄与する光が透過又は反射
される領域)を囲む非開口領域内に配置されている。即ち、これらの走査線3a、蓄積容
量70a、データ線9a、下側遮光膜11a、及びTFT30は、表示の妨げとならない
ように、各画素の開口領域ではなく、非開口領域内に配置されている。
び下側遮光膜11aの夫々の縁を領域端とする略矩形状の平面形状を有する。例えば、一
の開口領域を規定する4つの領域端の一の領域端190は、上部容量電極300及び下部
容量電極71mの夫々がX方向に延びる部分の縁300e及び71meによって規定され
ている。中継層93は、非開口領域から開口領域に突出した凸部93aを有している。凸
部93aは、領域端190の中央から開口領域に突出している。
開口領域の面積が狭められることになる。しかしながら、本実施形態では、凸部93aを
領域端190の一部(例えば領域端190の中央)から開口領域に突出させることによっ
て、X方向に沿って領域端190のうち領域端190の中央を除く他の部分によって開口
領域との境界が構成される非開口領域の幅を狭めることができる。より具体的には、後述
するようにコンタクトホール85aは、凸部93aに電気的に接続されているため、領域
端190において領域端190の中央の両側に延びる非開口領域にはコンタクトホール8
5aを形成するためのスペースを確保する必要がなく、その分、非開口領域に形成された
配線等の遮光体を領域端190の中央の両側で狭めることが可能である。よって、凸部9
3aの両側の夫々において非開口領域の幅を狭くでき、開口領域全体の面積を大きくとる
ことが可能である。
平面形状は正確には矩形状にならない。しかしながら、中継層93によれば、凸部93a
を設けない場合に比べて相対的に開口率を高めることが可能であり、液晶装置1の画質を
高めることが可能である。加えて、非開口領域を狭めた場合でも、第3層間絶縁膜43を
部分的に除去してコンタクトホール85aを形成する際に、エッチング処理等の除去工程
を行うために必要となるスペースのマージンも確保できる。
、画素内において開口領域の平面形状が非対称な形状になることによって画質が低下する
ことを抑制できる。
造を詳細に説明する。
的に接続する接続手段の一例である。凸部93aは、中継層93の一部を構成しており、
非開口領域から開口領域に突出している。非開口領域において、中継層93は、コンタク
トホール84aを介して上部容量電極300に電気的に接続されている。したがって、蓄
積容量70aは、画素電極9aと電気的に接続されている。蓄積容量70aは、画素電極
9aに供給された画像信号に応じて画素電極9aの電位を一時的に維持できる。
的に接続した場合、上部容量電極300は、開口領域をより狭めるように画素電極9aと
重なることになる。より具体的には、上部容量電極300及び画素電極9aを相互に電気
的に接続するコンタクト部を形成するためのスペースを確保できるように、上部容量電極
300及び画素電極9aが相互に重なる部分が大きくなる。このような重なり部分が大き
くなると、上部容量電極300の縁で規定される非開口領域の幅も大きくなり、相対的に
開口領域が狭められる。そこで、本実施形態では、凸部93aを介して上部容量電極30
0及び画素電極9aを相互に電気的に接続することによって、すでに述べたように開口領
域の減少を極力抑制でき、且つ相対的に開口領域を広げることが可能である。
300と、第2層間絶縁膜42を貫通するように形成されたコンタクトホール85aとを
直接する接続する場合に比べて、開口領域が狭められる割合を小さくできる。より具体的
には、上部容量電極300及び下部容量電極71mが相互に重なる面積がより大きくなる
ように上部容量電極300及び下部容量電極71mをパターニングすることによって蓄積
容量70aの容量を大きくし、画素電極9aの電位を保持する保持性能を向上させるほう
が好ましい反面、領域端190の全体に渡って上部容量電極300を開口領域に張り出さ
せることは、開口率を高める観点からみて好ましい設計とは言い難い。そこで、中継層9
3を介して画素電極9a及び蓄積容量70aを相互に電気的に接続することによって、上
部容量電極300が開口領域に突出する部分を低減でき、開口率の低下を抑制することが
可能となる。
び蓄積容量70a相互の電気的な接続を確保しながら、開口率を向上させることができる
。したがって、本実施形態に係る液晶装置1によれば、高品位の画像を表示可能である。
次に、図7を参照しながら画素における中継層93の変形例を説明する。図7は、デー
タ線、走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の平
面図の変形例である。尚、以下では、上述の液晶装置1と共通する部分に同一の参照符号
を付し、詳細な説明を省略する。
央より端に近い側から開口領域に突出する凸部93aaを有している。凸部93aaによ
れば、非開口領域に形成される配線及び蓄積容量70a等の素子のレイアウトに応じて一
の領域端の中央から中継層93の一部を開口領域に突出させることができない場合でも、
凸部93aaを介して中継層93及び画素電極9aを電気的に接続できる。
次に、図8を参照しながら画素における中継層93の変形例の他の例を説明する。図8
は、データ線6a、走査線3a、画素電極9a等が形成されたTFTアレイ基板10の相
隣接する複数の画素群の平面図の変形例である。
開口領域の隅から開口領域に突出している。より具体的には、凸部93abは、領域端1
90及び領域端190に交わる他の領域端が相互に交わる部分(即ち、開口領域の隅)か
ら開口領域に突出している。したがって、凸部93abは、上述した領域端190の中央
或いは端に近い部分から開口領域に突出させる場合に限定されず、非開口領域における配
線及び蓄積容量等の各種素子の配置に応じて配設位置を便宜変更可能である。したがって
、非開口領域における配線及び蓄積容量等の各種素子の配置の関する自由度が増す。
次に、図9乃至図11を参照しながら、本発明の第2の発明に係る電気光学装置用基板
及びこれを備えた電気光学装置の各実施形態を説明する。図9は、データ線6a、走査線
3a、画素電極9a等が形成されたTFTアレイ基板10上の相隣接する複数の画素群の
平面図である。図10は、図9のX−X´断面図である。図11は、図9のXI−XI´
断面図である。
可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。また、
図10及び図11では、説明の便宜上画素電極9aより上側に位置する部分の図示を省略
し、第1実施形態に係る液晶装置1と共通する部分に共通の参照符号を付している。図1
0において、TFTアレイ基板10から画素電極9aまでの部分が、本発明の第2の発明
に係る「電気光学装置用基板」の一例である。
膜」の一例である中継層93、本発明の第2の発明に係る「保持容量」の一例である蓄積
容量70b、本発明の第2の発明に係る「第1コンタクト部」の一例であるコンタクトホ
ール85b、及び本発明の第2の発明に係る「第2コンタクト部」の一例であるコンタク
トホール84bを備えている。
容量電極300、及びこれら電極に挟持された誘電体膜75bを有している。上部容量電
極300は、固定電位側容量電極であり、下部容量電極71sは、コンタクトホール83
bを介してTFT30の高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続された画素電位側容量電
極である。下部容量電極71sは、ポリシリコン等の半導体層で形成されている。したが
って、蓄積容量70bは、所謂MIS(Metal-Insulator-Semiconductor)構造を有して
いる。尚、下部容量電極71sは、画素電位側容量電極としての機能の他、上側遮光膜と
しての上部容量電極300とTFT30との間に配置される、光吸収層或いは遮光膜とし
ての機能も有する。データ線6aは、第1層間絶縁膜41、絶縁膜61及び第2層間絶縁
膜42を貫通するコンタクトホール81bを介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続
されている。第1層間絶縁膜41及び第2層間絶縁膜42間には、部分的に絶縁膜61が
介在している。
て、データ線6aを介して供給される画像信号がTFT30のスイッチング動作に応じて
画素毎に供給される。上部容量電極300は、図9中X方向に沿って複数の画素に延在さ
れている。したがって、上部容量電極300は、複数の画素で共用されることによって電
極面積が下部容量電極71sより大きくなる。
で上部容量電極を形成する場合に比べて電極面積の増大による電気抵抗の増大分を抑制で
きる。よって、液晶装置の動作時における消費電力の低減、及び各画素における各種素子
の高速駆動が可能となり、液晶装置によって画像が表示される際の応答性が低下すること
を抑制できる利点がある。このような利点は、本実施形態のように上部容量電極300が
図中Y方向に沿って互いに隣接する画素に亘って延在するように形成されている場合に限
定されず、上部容量電極300が画像表示領域10aにおいてより大きな面積を占めるよ
うに複数の画素に渡って形成されている場合により顕著に現れる。
しているため、開口領域を狭めていない。
縁300eで規定されている。凸部93aは、領域端190の一部から開口領域に突出し
ており下部容量電極71sも領域端190の一部から開口領域に延びている。したがって
、下部容量電極71sは、コンタクトホール84bに接続される部分のみを開口領域に延
ばしておけばよく、下部容量電極71s全体を開口領域に延在させることによって開口率
が低下することを低減できる。加えて、第1実施形態と同様に、非開口領域のうちX方向
に沿ってコンタクトホール84bの両側に延びる非開口領域を狭めることができるため、
開口率を高めることが可能である。
積容量70bの電気的な接続を確保しながら、開口率を向上させることができ、液晶装置
によって表示される画像の画質を高めることが可能である。
造を詳細に説明する。
量電極300に重ならない第1部分71saを有している。中継層93は、非開口領域か
ら開口領域に突出した凸部93aを有している。
ている。コンタクトホール85bは、画素電極9a及び中継層93を電気的に接続してい
る。したがって、非開口領域に形成されたTFT30のドレインに電気的に接続された下
部容量電極71sを介して画素電極9aに画像信号が供給され、画像表示が行われる。
光学装置によれば、蓄積容量によって画素電極9aの電位を一時的に保持でき、且つ開口
率を高めることが可能であるため、高品位の画像を表示できる。
当該領域端190の中央を基準として端に近い側、及び開口領域の隅の何れかの領域から
凸部93aを開口領域に突出させておけば、開口率向上が実現されることは言うまでもな
い。加えて、保持容量70bが、TFT30の直上に設けられているため、特に半導体層
1aの法線方向に対して大きな角度で当該半導体層1aに斜めに入射する光を保持容量7
0bによって遮光できる。また、中継層93がデータ線6aと同層に形成されているため
、液晶装置の製造プロセスが簡便なものとなる。
次に、図12を参照しながら上述した液晶装置を各種の電子機器に適用する場合につい
て説明する。本実施形態に係る電子機器は、上述の液晶装置をライトバルブとして用いた
プロジェクタである。図12は、上述した液晶装置を備えた電子機器の一例であるプロジ
ェクタの構成例を示す平面図である。図12に示すように、プロジェクタ1100内部に
は、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。こ
のランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置され
た4枚のミラー1106および2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3
原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、111
0Bおよび1110Gに入射される。
等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動される
ものである。これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム11
12に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、Rおよ
びBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。したがって、各色の画像が合成さ
れる結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることと
なる。
着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110B
による表示像に対して左右反転される。尚、液晶パネル1110R、1110Bおよび1
110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する
光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。
の表示が可能であり、且つ小型サイズを有する、投射型表示装置、携帯電話、電子手帳、
ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワー
クステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現でき
る。
6a・・・データ線、10・・・TFTアレイ基板、11a・・・下側遮光膜、70a、
70b・・・蓄積容量、71m、71s・・・下部容量電極、75a、75b・・・誘電
体膜、93・・・中継層、300・・・上部容量電極
Claims (11)
- 基板と、
前記基板上で第1方向に延在する複数のデータ線と、
前記第1方向と交差する第2方向に延在する複数の走査線と、
前記複数のデータ線及び前記複数の走査線の交差に対応して規定された複数の画素の夫々に形成された画素電極と、
前記画素電極に対応して設けられたトランジスタと、
前記データ線と重なるように前記第1方向に延在する前記トランジスタの半導体層と、
前記複数の画素の夫々の開口領域の一部を規定し、前記半導体層の一部を覆うと共に前記第2方向に延在する島状の遮光膜と、
前記遮光膜が設けられた非開口領域に形成され、前記画素電極の電位を保持するための保持容量と、
前記開口領域の前記第2方向に沿う領域端の一部を規定する遮光膜が設けられた領域から前記開口領域側に前記第1方向へ突出した凸部を有する島状の導電膜と、
前記画素電極と前記凸部とを電気的に接続する第1コンタクト部と、
前記導電膜と前記保持容量とを電気的に接続する第2コンタクト部とを備え、
前記画素電極と前記保持容量とは、前記遮光膜を介して電気的に接続されており、
前記遮光膜は、前記第1方向の幅が幅広に形成され前記半導体層の一部を覆う第1遮光部と、前記第1遮光部よりも前記第1方向の幅が幅狭に形成され前記第1遮光部から前記第2方向に隣合う前記画素間において延在する第2遮光部とからなり、
前記第1コンタクト部は、前記第2方向に沿う前記第2遮光部の一辺から前記第1方向へ突出した前記導電膜の凸部と重なる領域に形成されており、
前記第2コンタクト部は、前記第2遮光部と重なる領域に形成されてなることを特徴とする電気光学装置用基板。 - 基板と、
前記基板上で第1方向に延在する複数のデータ線と、
前記第1方向と交差する第2方向に延在する複数の走査線と、
前記複数のデータ線及び前記複数の走査線の交差に対応して規定された複数の画素の夫々に形成された画素電極と、
前記画素電極に対応して設けられたトランジスタと、
前記データ線と重なるように前記第1方向に延在する前記トランジスタの半導体層と、
前記複数の画素の夫々の開口領域の一部を規定し、前記半導体層の一部を覆うと共に前記第2方向に延在する遮光膜と、
前記遮光膜が設けられた非開口領域に形成され、前記画素電極の電位を保持するための保持容量と、
前記開口領域の前記第2方向に沿う領域端の一部を規定する前記遮光膜が設けられた領域から前記開口領域側に前記第1方向へ突出した凸部を有する導電膜と、
前記画素電極と前記凸部とを電気的に接続する第1コンタクト部と、
前記導電膜と前記保持容量とを電気的に接続する第2コンタクト部とを備え、
前記保持容量は、第1電極と、前記第1電極上に形成された第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間に狭持された誘電体膜とを有し、
前記第2電極は、前記遮光膜からなり、
前記第2コンタクト部は、前記第2電極と重なる領域に形成されており、当該第2コンタクト部において、前記導電膜と前記第2電極とが電気的に接続されることを特徴とする電気光学装置用基板。 - 前記保持容量は、前記基板と前記導電膜との間に設けられることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置用基板。
- 前記第1電極及び前記第2電極の夫々は、金属膜であること
を特徴とする請求項2に記載の電気光学装置用基板。 - 前記開口領域を規定する複数の領域端のうち前記遮光膜が設けられた一の領域端は、前記走査線が延在する方向に沿って延在しており、
前記凸部は、前記一の領域端の中央から前記開口領域に突出していること
を特徴とする請求項1から4の何れか一項に記載の電気光学装置用基板。 - 前記開口領域を規定する複数の領域端のうち前記遮光膜が設けられた一の領域端は、前記走査線が延在する方向に沿って延在しており、
前記凸部は、中央を基準として前記中央より前記一の領域端の端に近い側から前記開口領域に突出していること
を特徴とする請求項1から4の何れか一項に記載の電気光学装置用基板。 - 前記凸部は、前記開口領域の隅から前記開口領域に突出していること
を特徴とする請求項1から4の何れか一項に記載の電気光学装置用基板。 - 前記保持容量は、前記トランジスタを覆うように配置されていること
を特徴とする請求項1から7の何れか一項に記載の電気光学装置用基板。 - 前記導電膜は、前記データ線と同層に形成されていること
を特徴とする請求項1から8の何れか一項に記載の電気光学装置用基板。 - 請求項1から9の何れか一項に記載の電気光学装置用基板を備えたこと
を特徴とする電気光学装置。 - 請求項10に記載の電気光学装置を具備してなること
を特徴とする電子機器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006131084A JP4245008B2 (ja) | 2006-05-10 | 2006-05-10 | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 |
US11/693,055 US8253909B2 (en) | 2006-05-10 | 2007-03-29 | Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006131084A JP4245008B2 (ja) | 2006-05-10 | 2006-05-10 | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008202881A Division JP4591573B2 (ja) | 2008-08-06 | 2008-08-06 | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007304235A JP2007304235A (ja) | 2007-11-22 |
JP4245008B2 true JP4245008B2 (ja) | 2009-03-25 |
Family
ID=38684769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006131084A Active JP4245008B2 (ja) | 2006-05-10 | 2006-05-10 | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8253909B2 (ja) |
JP (1) | JP4245008B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5233618B2 (ja) * | 2008-12-01 | 2013-07-10 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
CN103926760B (zh) * | 2013-01-14 | 2017-08-25 | 瀚宇彩晶股份有限公司 | 像素结构及像素阵列基板 |
JP6369801B2 (ja) * | 2014-07-24 | 2018-08-08 | Tianma Japan株式会社 | 液晶表示装置 |
CN107431075B (zh) * | 2015-02-27 | 2021-06-15 | 索尼公司 | 固态成像装置及电子装置 |
KR102454468B1 (ko) * | 2017-09-20 | 2022-10-14 | 주식회사 디비하이텍 | 유기 발광 다이오드 표시 장치용 신호 제어 유닛, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 유기 발광 다이오드 소자 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1153180C (zh) | 1998-11-26 | 2004-06-09 | 精工爱普生株式会社 | 电光装置及其制造方法和电子装置 |
JP2001021919A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
JP4599655B2 (ja) * | 2000-04-24 | 2010-12-15 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及びプロジェクタ |
JP3800940B2 (ja) * | 2000-09-22 | 2006-07-26 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス基板およびこれを用いた電気光学装置と電子機器 |
JP4144183B2 (ja) | 2001-02-14 | 2008-09-03 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、その製造方法及び投射型表示装置 |
JP4462128B2 (ja) | 2001-10-04 | 2010-05-12 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器 |
JP4082493B2 (ja) | 2002-06-06 | 2008-04-30 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 液晶表示装置 |
JP3821067B2 (ja) * | 2002-07-11 | 2006-09-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
JP4214741B2 (ja) | 2002-08-27 | 2009-01-28 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
JP4021392B2 (ja) * | 2002-10-31 | 2007-12-12 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
KR100905472B1 (ko) * | 2002-12-17 | 2009-07-02 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 이를 포함하는 액정 표시장치 |
JP2005222019A (ja) * | 2004-01-07 | 2005-08-18 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器、並びに電気光学装置の製造方法 |
JP2004193624A (ja) * | 2004-01-13 | 2004-07-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体回路、表示装置及び電子機器 |
JP2005250448A (ja) | 2004-02-05 | 2005-09-15 | Sharp Corp | 電子素子、表示素子及びその製造方法 |
-
2006
- 2006-05-10 JP JP2006131084A patent/JP4245008B2/ja active Active
-
2007
- 2007-03-29 US US11/693,055 patent/US8253909B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007304235A (ja) | 2007-11-22 |
US20070263156A1 (en) | 2007-11-15 |
US8253909B2 (en) | 2012-08-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8259248B2 (en) | Electrooptic device and electronic device | |
JP4197016B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP4241777B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2009047967A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4655943B2 (ja) | 電気光学装置及びその製造方法、並びに導電層の接続構造 | |
JP4245008B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP5223418B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2008040399A (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP2009122256A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4857775B2 (ja) | 電気光学装置 | |
JP5186728B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP5292738B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP5055828B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP4591573B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP2008191518A (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP2009300477A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4967556B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP5343476B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP5028906B2 (ja) | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器 | |
JP4984911B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP5278584B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2009265357A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
KR100830381B1 (ko) | 전기 광학 장치와 그 제조 방법, 전자 기기, 및 콘덴서 | |
JP5949468B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2007206594A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080610 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080902 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081029 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081216 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081229 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4245008 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120116 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120116 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130116 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130116 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140116 Year of fee payment: 5 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |