JP4209844B2 - 圧縮接合方法 - Google Patents
圧縮接合方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4209844B2 JP4209844B2 JP2004546509A JP2004546509A JP4209844B2 JP 4209844 B2 JP4209844 B2 JP 4209844B2 JP 2004546509 A JP2004546509 A JP 2004546509A JP 2004546509 A JP2004546509 A JP 2004546509A JP 4209844 B2 JP4209844 B2 JP 4209844B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- film
- bonded
- bonding
- compression
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 82
- 230000006835 compression Effects 0.000 title claims description 53
- 238000007906 compression Methods 0.000 title claims description 53
- 238000005304 joining Methods 0.000 title claims description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 81
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 58
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 57
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 57
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 49
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 29
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 9
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 8
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 7
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 5
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 5
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 57
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 29
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 11
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical group [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000012536 packaging technology Methods 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K20/00—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K20/00—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
- B23K20/02—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating by means of a press ; Diffusion bonding
- B23K20/023—Thermo-compression bonding
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Joining Of Glass To Other Materials (AREA)
Description
図1は、前記米国特許に開示された圧縮接合方法を示す図面である。
図1を参照すれば、ガラス球レンズ11をシリコン基板12に接合するために、シリコン基板12がガラス球レンズ11に接触する面にアルミニウム膜13をコーティングし、圧縮手段14を使用してガラス球レンズ11を矢印15方向に圧力を加えると同時にアルミニウム13をヒーター16を使用して加熱する。
前記従来の圧縮接合方法は、平板状シリコン基板12に接合しようとする光学素子が、示されたガラス球レンズのように曲面を有さねばならず、半径が数ミリメートル以内の小さなサイズでなければならないという限界がある。前記従来の圧縮接合方法において、光学素子は曲面を有するため、アルミニウム膜13と一つの接点で接触する。光学素子に圧力を加えれば、圧力が接点に集中されてエネルギーが接点に集中しうるため、アルミニウム膜の格子構造を容易に分解させることで基板12と光学素子とが接合できる。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、また、基板及び被接合部材上に所定の形態に金属接合膜をパターニングする第1ステップと、前記金属接合膜の上部に前記被接合部材を位置させて前記基板に熱を加え、前記被接合部材に圧力を加えて前記金属接合膜と前記被接合部材とを接合する第2ステップと、を含むことを特徴とする圧縮接合方法を提供する。
前記第1ステップで、前記所定の形態はストライプ状またはドット状で形成できる。
前記被接合部材は、ガラスまたは金属で形成することが好ましい。
前記基板は、シリコン、金属及びセラミックのうち、何れか一つで形成し、前記金属接合膜は、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛及びチタンのうち、何れか一つで形成することが好ましい。
前記第1ステップで、前記所定の形態は、ストライプ状またはドット状で形成できる。
前記被接合部材は、ガラスまたは金属で形成することが好ましく、前記熱は、350℃以下に印加することが好ましい。
図2は、本発明の第1実施形態に係る圧縮接合方法を実施するために、基板と金属接合膜及び平板状の被接合部材を配列した構成を示す図面である。
図面を参照すれば、基板31の上面に金属接合膜33をストライプ状にパターニングした後、その上部に平板状の被接合部材35を配列する。次いで、基板31には熱を加えて金属接合膜33の上部に圧力を加えれば、金属接合膜33が変形されつつ基板31と被接合部材35とが接合される。ここで、金属接合膜33の幅wと厚さD及び、各ストライプ間の間隔G1は、使用する基板31、金属接合膜33及び被接合部材35の物質の種類によって変わる。
図2に示された形態の金属接合膜と同様に基板51の上面にストライプ状の第1金属接合膜53aをパターニングした後、被接合部材55の上面に第2金属接合膜53bをストライプ状にパターニングして、基板51に熱を加えると同時に被接合部材55の上面に圧力を加えて、第1及び第2金属接合膜53a、53bを加熱させて基板51と被接合部材55とを接合させる。
本発明の第2及び第3実施形態に係る圧縮接合方法で、基板41、51、金属接合膜43、53a、53b、及び被接合部材45、55の説明は、本発明の第1実施形態に係る圧縮接合方法の基板31、金属接合膜33、及び被接合部材35で詳述した通りである。
図面を参照すれば、直四角形のアルミニウム薄膜4は、Z軸方向の幅が0と1との間に固定され、厚さtを有する。圧力Pが−Y軸方向に与えられる時、アルミニウム薄膜4はX軸方向に拡張される。その時、アルミニウム薄膜4の拡張はZ軸方向において限定される。
図6Aないし図6Eは、本発明の第1実施形態に係る圧縮接合方法の工程図である。ここで、金属接合膜としてはアルミニウム薄膜を、被接合部材としてはガラス板を利用する。
図7及び図8は、基板に18μmの幅と10μmのギャップとを有するストライプ状のアルミニウム接合膜を形成して、300℃の熱を加えて800μmの直径を有するガラス球レンズを基板に接合した状態を撮った写真であるが、図7は、アルミニウム接合膜がガラス球レンズに付着された状態を示し、図8は、ガラス球レンズのARコーティングが基板に接合された状態を示す。ここで、剪断強度のサイズは6grfである。
図10は、基板に18μmの幅と20μmのギャップとを有するストライプ状のアルミニウム接合膜を形成して、320℃の熱と3900gfの荷重とを加えて1000μmの直径と810μmの長さとを有する非球面レンズを基板に接合した状態を撮った写真である。ここで、剪断強度は70gfを表した。
図9ないし図11の実験結果から、アルミニウム接合膜の幅とギャップのサイズとがほぼ同じであり、温度320℃、圧力3900gfである場合に最も高い剪断応力を耐えることが分かる。
基板にアルミニウム接合膜をドット状に形成し、ガラス板を接合する場合に更に強い接合力を表す。図12は、一辺が18μmであるスクエアドット状のアルミニウム接合膜を形成し、320℃の熱と5000gfの荷重とを加えてガラス板と基板とを接合した状態を示す写真である。剪断強度は200gf以上であった。
前記した説明で多くの事項が具体的に記載されているが、それらは、発明の範囲を限定するものであるより、好ましい実施形態の例示として解釈されねばならない。本発明の範囲は、説明された実施形態によって決まるのではなく、特許請求の範囲に記載された技術的思想により決まらねばならない。
Claims (6)
- 基板上に、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、またはチタンの何れか一つの膜を所定の形態にパターニングして金属接合膜を形成する第1ステップと、
前記金属接合膜の上部に被接合部材を配置して前記基板に熱を加え、前記被接合部材に圧力を加えて前記金属接合膜によって前記基板と前記被接合部材とを接合する第2ステップと、
を含むことを特徴とする圧縮接合方法。 - 基板上に、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、またはチタンの何れか一つの膜を所定の形態にパターニングして第1金属接合膜を形成し、被接合部材上に、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、またはチタンの何れか一つの膜を所定の形態にパターニングして第2金属接合膜を形成する第1ステップと、
前記第2金属接合膜が形成された前記被接合部材の表面を前記第1金属接合膜の上部に配置して前記基板に熱を加え、前記被接合部材に圧力を加えて前記第1金属接合膜と前記第2金属接合膜とによって前記基板と前記被接合部材とを接合する第2ステップと、
を含むことを特徴とする圧縮接合方法。 - 前記基板は、シリコン、金属及びセラミックのうち、何れか一つで形成することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
- 前記所定の形態は、ストライプ状またはドット状であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
- 前記被接合部材は、ガラスまたは金属で形成することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
- 前記第2ステップでは、前記基板に熱を加えることによって前記基板の温度を350℃以下にすることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0065843A KR100499134B1 (ko) | 2002-10-28 | 2002-10-28 | 압축 접합 방법 |
PCT/KR2003/001009 WO2004037476A1 (en) | 2002-10-28 | 2003-05-22 | Compression bonding method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006503710A JP2006503710A (ja) | 2006-02-02 |
JP4209844B2 true JP4209844B2 (ja) | 2009-01-14 |
Family
ID=32171534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004546509A Expired - Fee Related JP4209844B2 (ja) | 2002-10-28 | 2003-05-22 | 圧縮接合方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060011705A1 (ja) |
JP (1) | JP4209844B2 (ja) |
KR (1) | KR100499134B1 (ja) |
CN (1) | CN100404187C (ja) |
AU (1) | AU2003234348A1 (ja) |
WO (1) | WO2004037476A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5187906B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2013-04-24 | 国立大学法人東京工業大学 | 異種材料接合体及び異種材料接合方法 |
CN114054925A (zh) * | 2021-11-10 | 2022-02-18 | 合肥维信诺科技有限公司 | 一种掩膜板的制作方法 |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1251871B (ja) * | 1962-02-06 | 1900-01-01 | ||
JPS497635B1 (ja) * | 1968-12-27 | 1974-02-21 | ||
US3881043A (en) * | 1971-06-21 | 1975-04-29 | Ppg Industries Inc | Laminated safety windshields |
US4409278A (en) * | 1981-04-16 | 1983-10-11 | General Electric Company | Blister-free direct bonding of metals to ceramics and metals |
US4604299A (en) * | 1983-06-09 | 1986-08-05 | Kollmorgen Technologies Corporation | Metallization of ceramics |
JPH0618234B2 (ja) * | 1985-04-19 | 1994-03-09 | 日本電信電話株式会社 | 半導体基板の接合方法 |
US4684446A (en) * | 1985-09-26 | 1987-08-04 | General Electric Company | Secondary metallization by glass displacement in ceramic substrate |
US5170931A (en) * | 1987-03-11 | 1992-12-15 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate |
JP2886588B2 (ja) * | 1989-07-11 | 1999-04-26 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪アクチュエータ |
JPH0384958A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-10 | Nec Corp | マルチチップパッケージの製造方法 |
JP2657429B2 (ja) * | 1990-04-09 | 1997-09-24 | 株式会社ミクロ技術研究所 | 基板の回路実装方法及びその方法に使用する回路基板 |
US5178319A (en) * | 1991-04-02 | 1993-01-12 | At&T Bell Laboratories | Compression bonding methods |
US5125560A (en) * | 1991-11-04 | 1992-06-30 | At&T Bell Laboratories | Method of soldering including removal of flux residue |
US5234153A (en) * | 1992-08-28 | 1993-08-10 | At&T Bell Laboratories | Permanent metallic bonding method |
EP0631162B1 (en) * | 1993-06-25 | 1998-09-09 | AT&T Corp. | Optical fiber bonding techniques |
JP4077888B2 (ja) * | 1995-07-21 | 2008-04-23 | 株式会社東芝 | セラミックス回路基板 |
KR100355818B1 (ko) * | 1996-05-14 | 2002-12-26 | 사단법인 고등기술연구원 연구조합 | 유리와실리콘의정전접합방법 |
JP3141801B2 (ja) * | 1996-12-13 | 2001-03-07 | 日本電気株式会社 | Soi基板 |
EP1445995B1 (en) * | 1996-12-27 | 2007-02-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of mounting an electronic component on a circuit board and system for carrying out the method |
JP3521679B2 (ja) * | 1997-05-13 | 2004-04-19 | セイコーエプソン株式会社 | 圧着装置、液晶表示装置の製造方法及び圧着方法 |
JPH11307596A (ja) * | 1998-04-23 | 1999-11-05 | Hitachi Ltd | 低温接合方法 |
US6381837B1 (en) * | 1998-09-04 | 2002-05-07 | Visteon Global Technologies, Inc. | Method for making an electronic circuit assembly |
US6258627B1 (en) * | 1999-01-19 | 2001-07-10 | International Business Machines Corporation | Underfill preform interposer for joining chip to substrate |
JP3826605B2 (ja) * | 1999-03-08 | 2006-09-27 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置の実装構造の製造方法、液晶装置、および電子機器 |
JP4334054B2 (ja) * | 1999-03-26 | 2009-09-16 | 株式会社東芝 | セラミックス回路基板 |
JP2001034187A (ja) * | 1999-07-22 | 2001-02-09 | Nec Corp | 熱圧着装置および熱圧着方法 |
KR100646275B1 (ko) * | 1999-10-04 | 2006-11-17 | 엘지전자 주식회사 | 소자의 접합 방법 |
US6582548B1 (en) * | 2000-07-28 | 2003-06-24 | Triquint Technology Holding Co. | Compression bonding method using laser assisted heating |
AU2002216373A1 (en) * | 2000-12-21 | 2002-07-01 | Hitachi Ltd. | Solder foil and semiconductor device and electronic device |
KR100446624B1 (ko) * | 2002-02-27 | 2004-09-04 | 삼성전자주식회사 | 양극접합 구조체 및 그 제조방법 |
US6995339B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-02-07 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Heatable wiper rest area for a transparency |
US7387738B2 (en) * | 2003-04-28 | 2008-06-17 | Air Products And Chemicals, Inc. | Removal of surface oxides by electron attachment for wafer bumping applications |
-
2002
- 2002-10-28 KR KR10-2002-0065843A patent/KR100499134B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-05-22 US US10/532,965 patent/US20060011705A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-22 JP JP2004546509A patent/JP4209844B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-05-22 CN CNB038247682A patent/CN100404187C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-05-22 AU AU2003234348A patent/AU2003234348A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-22 WO PCT/KR2003/001009 patent/WO2004037476A1/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2004037476A1 (en) | 2004-05-06 |
KR20040037375A (ko) | 2004-05-07 |
US20060011705A1 (en) | 2006-01-19 |
CN1694777A (zh) | 2005-11-09 |
JP2006503710A (ja) | 2006-02-02 |
AU2003234348A1 (en) | 2004-05-13 |
CN100404187C (zh) | 2008-07-23 |
KR100499134B1 (ko) | 2005-07-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7659148B2 (en) | Bonding method and apparatus | |
US9658484B2 (en) | Pattern structure and method of manufacturing the pattern structure, and liquid crystal display device | |
US7659182B2 (en) | Method of wafer-to-wafer bonding | |
KR20170100598A (ko) | 동력학적으로 제한된 나노-스케일 확산 접합 구조 및 방법 | |
US7202553B2 (en) | Wafer bonding using reactive foils for massively parallel micro-electromechanical systems packaging | |
JP4620939B2 (ja) | 複合素子の製造方法 | |
TWI277504B (en) | Method of separating a mold from a solidified layer disposed on a substrate | |
JP4137177B2 (ja) | 導電パターンの形成方法、および配線基板 | |
US6666368B2 (en) | Methods and systems for positioning substrates using spring force of phase-changeable bumps therebetween | |
JP4209844B2 (ja) | 圧縮接合方法 | |
JP2009177078A (ja) | 実装構造 | |
US20070110361A1 (en) | Wafer level integration of multiple optical elements | |
KR101149893B1 (ko) | 기판의 가공결합재 | |
US20080217819A1 (en) | Micro/Nano-Pattern Film Contact Transfer Process | |
JP6128566B2 (ja) | 材料層を互いに接合する方法および生じるデバイス | |
JP5217557B2 (ja) | 電子部品の製造方法 | |
JP5319910B2 (ja) | 導電性パターンの埋設形成方法、積層基板の製造方法及び微細流路構造体の製造方法 | |
JP3901862B2 (ja) | ウェーハの結合方法 | |
US20070181633A1 (en) | Elastic interface for wafer bonding apparatus | |
JP6032667B2 (ja) | 接合方法 | |
JP2001087953A (ja) | 液体の表面張力を利用した部品の位置合わせ方法 | |
JP2019206180A (ja) | 樹脂製モールド、レプリカモールドの製造方法、及び光学素子の製造方法 | |
JP3164325U (ja) | 加圧力均一化体 | |
JP2004361635A (ja) | 曲面微細構造の形成方法 | |
Wei et al. | Laser Assembly and Packaging of a MEMS Device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080415 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080930 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081023 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111031 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |