JP4199759B2 - インデックス情報作成装置、試料検査装置、レビュー装置、インデックス情報作成方法及びプログラム - Google Patents
インデックス情報作成装置、試料検査装置、レビュー装置、インデックス情報作成方法及びプログラム Download PDFInfo
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Description
例えば、パターン検査方法として、同一マスク上の異なる場所の同一パターンを撮像した光学画像データ同士を比較する「die to die検査」や、マスクパターンを描画する時に使用した設計データとなるCADデータやCADデータを装置入力フォーマットに変換した描画データをベースに設計画像データを生成して、それとパターンを撮像した測定データとなる光学画像データとを比較する「die to database検査」がある。かかる検査装置における検査方法では、試料はステージ上に載置され、ステージが動くことによって光束が試料上を走査し、検査が行われる。試料には、光源及び照明光学系によって光束が照射される。試料を透過あるいは反射した光は光学系を介して、センサ上に結像される。センサで撮像された画像は測定データとして比較回路へ送られる。比較回路では、画像同士の位置合わせの後、測定データと参照データとを適切なアルゴリズムに従って比較し、一致しない場合には、パターン欠陥有りと判定する。
また、多くの検査装置では、参照画像生成の為にCADデータからパターン情報を抽出する処理をソフトウェアとハードウェアの組み合わせで実装しているが、比較的広い領域を検査するために最適化された構成であるため、レビュー時に必要とする微細領域の参照画像を生成する場合には、オーバヘッドが大きすぎて全体の処理時間が掛かりすぎるという問題があった。
さらに、検査システムのコスト高騰に伴いレビュー処理のオフライン化が進んでいるが、オフラインでは検査装置の参照画像生成ユニットが利用できないため、微細領域の参照画像をソフトウェア処理のみで高速に生成する方法が必要とされている。
被検査試料を複数の領域に仮想分割する領域分割部と、
複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データを入力し、前記複数の領域のうち、前記複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出部と、
抽出された領域を示す識別子に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報を関連させて書き込んでインデックス情報を作成する書き込み部と、
を備えたことを特徴とする。
複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶する記憶部と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを順に読み出し、読み出された複数の図形データに基づいて前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
前記参照画像作成部により順に読み出される複数の図形データを並行して入力し、被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成部と、
を備えたことを特徴とする。
複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶する記憶部と、
前記被検査試料の光学画像を取得する光学画像取得部と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを読み出し、読み出された複数の図形データに基づいて前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
前記参照画像と前記光学画像とを比較する比較部と、
被検査領域を分割した複数の領域のうち、前記比較部による比較の結果、欠陥とされた画像が所属する領域を示す識別子と当該領域に所属する図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成部と、
を備え、
前記参照画像作成部において、前記インデックス情報に基づいて前記設計データから図形データを読み出し、読み出された図形データから当該領域の参照画像を作成することを特徴とする。
被検査試料のパターン欠陥をレビューするレビュー装置において、
各パターンを構成する複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶する記憶部と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを入力し、被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成部と、
前記インデックス情報に基づいて、前記設計データから所定の領域に所属する図形データを読み出し、読み出された図形データから前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
を備えたことを特徴とする。
被検査試料のパターン欠陥をレビューするレビュー装置において、
各パターンを構成する複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データと、前記被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報とを記憶する記憶部と、
前記インデックス情報に基づいて、前記設計データから所定の領域に所属する図形データを読み出し、読み出された図形データから前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
を備えたことを特徴とする。
被検査試料を複数の領域に仮想分割する領域分割工程と、
複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データを入力し、前記複数の領域のうち、前記複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出工程と、
抽出された領域を示す識別子に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報を関連させて書き込んでインデックス情報を作成する書き込み工程と、
を備えたことを特徴とする。
複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶装置に記憶する記憶工程と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを前記記憶装置から順に読み出し、読み出された複数の図形データに基づいて前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成工程と、
前記参照画像作成工程により順に前記記憶装置から読み出される複数の図形データを並行して入力し、被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成工程と、
を備えたことを特徴とする。
複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶装置に記憶する記憶工程と、
前記被検査試料の光学画像と参照画像とを比較する比較工程と、
被検査領域を分割した複数の領域のうち、前記比較工程による比較の結果、欠陥とされた画像が所属する領域を示す識別子と当該領域に所属する図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成工程と、
を備えたことを特徴とする。
被検査試料を複数の領域に仮想分割する領域分割処理と、
複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データを入力し、前記複数の領域のうち、前記複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出処理と、
抽出された領域を示す識別子に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報を関連させて書き込んでインデックス情報を作成する書き込み処理と、
を備えたことを特徴とする。
以下、実施の形態1では、特にレビューの様な微細領域に限定した参照画像生成時にCADデータのアクセスに無駄が多いことに着目し、パターン情報の抽出処理を効率化することにより、オフラインのソフトウェア処理での参照画像生成を、実用に耐える速度に高速化する手法について図面を用いて説明する。
図1において、インデックス情報作成装置200は、入力部240、出力部242、メモリ250、CPU(コンピュータ)204を備えている。図1では、本実施の形態1を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。インデックス情報作成装置200にとって、通常、必要なその他の構成が含まれても構わないことは言うまでもない。
図2において、インデックス情報作成装置200のCPU252が、領域分割部222、領域抽出部224、判定部226、書き込み部228が行う以下に説明する各処理内容を実行する。或いは、インデックス情報作成装置200は、CPU252の代わりに、ハードウェアとして、領域分割部222、領域抽出部224、判定部226、書き込み部228を備えてもよい。或いはハードウェアとソフトウェアとの組み合わせにより構成してもよい。
図3において、実施の形態1におけるインデックス情報作成方法は、領域分割工程(S102)、読み込み工程(S104)、領域抽出工程(S106)、判定工程(S108)、書き込み工程(S110)、判定工程(S112)、判定工程(S114)、出力工程(S116)という一例の工程を実施する。
図4では、一例として、フォトマスク101の検査領域をx方向の分割サイズX、y方向の分割サイズYにて格子状に分割した例を示している。そして、各升目の領域20には、領域番号として、座標が付されている。例えば、ここでは、CAD1のデータファイルとなるCADデータファイル10中のポインタ(或いはアドレスでもよい)情報を示すファイルオフセットが「off1」の箇所の図形データ(斜線部)の図形と、CADデータファイル10中のファイルオフセットが「off2」の箇所の図形データ(斜線部)の図形と、CAD2のデータファイルとなるCADデータファイル12中のポインタ情報を示すファイルオフセットが「off1’」の箇所の図形データ(斜線部)の図形とが、座標(1,3)の領域30に配置されることを示している。
図5に示すように、CADデータファイル10中の図形データB(斜線部B)の図形が、同じCADデータファイル10中のファイルオフセットが「off1」の箇所の図形データA(斜線部A)の図形と同一の領域30(例えば、座標(1,3)の領域)に配置されるような場合、その間隔となるデータサイズLが所定の範囲内であれば、わざわざ、図形データBについて新たにインデックス情報を作成しなくても図形データAについてのインデックス情報があれば続けて図形データBを読むことができるので省略することができる。予め、1つのファイルオフセットのデータサイズLを設定しておくことで、その範囲内の同じ領域30に配置される図形データについては、インデックス情報を省略してインデックス情報ファイルのデータ量を低減することができる。
図6において、インデックス情報20は、パターンファイル名、領域分割サイズと続き、次に、領域番号(X1,Y1)と、かかる領域番号(X1,Y1)に配置される図形の出現回数、配置される第1の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号、かかるパターンファイル中のファイルオフセット、配置される第2の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号、かかるパターンファイル中のファイルオフセット、・・・と続く情報が格納される。そして、領域番号ごとに、配置される図形の出現回数、配置される第1の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号、かかるパターンファイル中のファイルオフセット、配置される第2の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号、かかるパターンファイル中のファイルオフセット、・・・と続く情報が格納される。
図7では、図4で示した場合を一例として記載している。すなわち、インデックス情報20として、パターンファイル名となる「CAD1」及び「CAD2」、x方向の領域分割サイズとなる「1000」、y方向の領域分割サイズとなる「500」、領域番号となる座標(1,3)、出現回数となる「3」、第1の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号となる「1」、かかるパターンファイル中のファイルオフセット「off1」、第2の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号となる「1」、かかるパターンファイル中のファイルオフセット「off2」、第3の図形の図形データが含まれるパターンファイル番号となる「2」、かかるパターンファイル中のファイルオフセット「off1’」が格納されている。
図8において、マスクやウェハ等の基板を試料として、かかる試料の欠陥を検査する試料検査装置100は、CADデータファイルを格納した記憶装置の一例となる磁気ディスク装置109、参照画像作成部142、光学画像取得部150、比較回路108を備えている。また、レビュー装置300は、CPU(コンピュータ)302、表示部の一例となるモニタ306、マウスやキーボードといった操作部304、記憶装置の一例となる磁気ディスク装置309、磁気ディスク装置310を備えている。図8では、本実施の形態1を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。試料検査装置100、インデックス情報作成装置200、或いはレビュー装置300にとって、通常、必要なその他の構成が含まれても構わないことは言うまでもない。
図9では、例えば、欠陥と判定されたスキャン画像(光学画像)と対応する参照画像とを対比できるように並べて表示している。そして、付属情報として、欠陥番号や欠陥情報の詳細、分類ツール等が表示されている。かかる画面情報を元にユーザが目視で確認(レビュー)することができる。
実施の形態1では、オフラインでインデックス情報20を作成して、レビュー装置で利用する場合について説明したが、実施の形態2では、試料検査装置100でインデックス情報20を作成する場合について説明する。
図10において、試料検査装置100は、光学画像取得部150と制御系回路160を備えている。光学画像取得部150は、XYθテーブル102、光源103、拡大光学系104、フォトダイオードアレイ105、センサ回路106、レーザ測長システム122、オートローダ130、照明光学系170を備えている。制御系回路160では、コンピュータとなる制御計算機110が、データ伝送路となるバス120を介して、位置回路107、比較部の一例となる比較回路108、参照画像作成部の一例となる展開回路111及び参照回路112、インデックス情報作成部の一例となるインデックス情報作成回路140、オートローダ制御回路113、テーブル制御回路114、記憶装置の一例となる磁気ディスク装置109、記憶装置の一例となるメモリ115、記憶装置の一例となるフレシキブルディスク装置(FD)116、CRT117、パターンモニタ118、プリンタ119に接続されている。また、XYθテーブル102は、X軸モータ、Y軸モータ、θ軸モータにより駆動される。図10では、本実施の形態2を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。試料検査装置100にとって、通常、必要なその他の構成が含まれることは言うまでもない。
また、上述した実施の形態1における試料検査装置100もインデックス情報作成回路140を除いて、図10と同様な構成を備えていても構わない。そして、インデックス情報作成回路140の動作を除いて、上述した実施の形態1における試料検査装置100も以下に説明する動作を行なっても構わない。
被検査試料となるフォトマスク101は、XYθ各軸のモータによって水平方向及び回転方向に移動可能に設けられたXYθテーブル102上に載置され、フォトマスク101に形成されたパターンには、XYθテーブル102の上方に配置されている適切な光源103によって光が照射される。光源103から照射される光束は、照明光学系170を介して試料となるフォトマスク101を照射する。フォトマスク101の下方には、拡大光学系104、フォトダイオードアレイ105及びセンサ回路106が配置されており、露光用マスクなどの試料となるフォトマスク101を透過した光は拡大光学系104を介して、フォトダイオードアレイ105に光学像として結像し、入射する。拡大光学系104は図示しない自動焦点機構により自動的に焦点調整がなされていてもよい。
被検査領域は、図11に示すように、Y方向に向かって、スキャン幅Wの短冊状の複数の検査ストライプに仮想的に分割され、更にその分割された各検査ストライプが連続的に走査されるようにXYθテーブル102の動作が制御され、X方向に移動しながら光学画像が取得される。フォトダイオードアレイ105では、図11に示されるようなスキャン幅Wの画像を連続的に入力する。そして、第1の検査ストライプにおける画像を取得した後、第2の検査ストライプにおける画像を今度は逆方向に移動しながら同様にスキャン幅Wの画像を連続的に入力する。そして、第3の検査ストライプにおける画像を取得する場合には、第2の検査ストライプにおける画像を取得する方向とは逆方向、すなわち、第1の検査ストライプにおける画像を取得した方向に移動しながら画像を取得する。このように、連続的に画像を取得していくことで、無駄な処理時間を短縮することができる。
図12において、展開回路111は、階層構造展開回路202、調停回路204、パターン発生回路206、パターンメモリ208、パターン読み出し回路210を有している。そして、パターン発生回路206とパターンメモリ208とで1つの組となって、複数段配置されている。
ここで、フォトマスク101に描画される各パターンとなる図形は長方形や三角形を基本図形としたもので、例えば、図形の基準位置における座標(x、y)、辺の長さ、長方形や三角形等の図形種を区別する識別子となる図形コードといった情報で各パターン図形の形、大きさ、位置等を定義した図形データが格納されている。
かかる図形データが展開回路111に入力されると、階層構造展開回路202は、図形ごとのデータにまで展開し、その図形データの図形形状を示す図形コード、図形寸法などを解釈する。そして、パターン発生回路206において、所定の量子化寸法のグリッドを単位とするマス目内に配置されるパターンとして2値ないしは多値の設計画像データを展開する。そして、展開された設計画像データは、パターンメモリ208に一時的に蓄積される。言い換えれば、占有率演算部の一例となるパターン発生回路206では、設計パターンデータを読み込み、検査領域を所定の寸法を単位とするマス目として仮想分割してできた各マス目ごとに設計パターンにおける図形が占める占有率を演算し、nビットの占有率データをパターンメモリ208に出力する。例えば、1つのマス目を1画素として設定すると好適である。そして、1画素に1/28(=1/256)の分解能を持たせるとすると、画素内に配置されている図形の領域分だけ1/256の小領域を割り付けて画素内の占有率を演算する。そして、8ビットの占有率データとしてパターンメモリ208に出力する。
図13は、フィルタ処理を説明するための図である。
センサ回路106から得られた光学画像としての測定データは、拡大光学系104の解像特性やフォトダイオードアレイ105のアパーチャ効果等によってフィルタが作用した状態、言い換えれば連続変化するアナログ状態にあるため、画像強度(濃淡値)がデジタル値の設計側のイメージデータである第1の設計画像データにもフィルタ処理を施すことにより、測定データに合わせることができる。このようにして光学画像と比較する参照画像を作成する。
参照画像作成部の一例となる展開回路111及び参照回路112では、比較回路108での判定結果を読み出し、欠陥箇所及びその周辺を捉えた参照画像を改めて作成する。参照画像の作成にあたっては、展開回路111が制御計算機110を介してメモリ115からインデックス情報20を読み出し、欠陥箇所の領域30に基づいて、インデックス情報20から欠陥箇所の領域30に配置される図形の図形データが含まれるCADデータファイルのパターンファイル番号とそのファイルのアクセス箇所(ポインタ)となるファイルオフセットを抽出する。そして、展開回路111が制御計算機110を介して磁気ディスク装置109に格納されたCADデータファイルにアクセスして、必要な図形データを抽出する。そして、抽出された図形データを変換して欠陥箇所及びその周辺を捉えた参照画像を作成する。欠陥箇所及びその周辺を捉えた参照画像の作成に当たっては、1つの領域だけではなく複数の領域から作成してももちろん構わない点は実施の形態1と同様である。インデックス情報20から欠陥箇所の領域30に配置される図形の図形データが含まれるCADデータファイルのパターンファイル番号とそのファイルのアクセス箇所(ポインタ)となるファイルオフセットを抽出することができるので、CADデータファイルを先頭から全て検索しなくても必要な情報に素早くアクセスすることができる。そして、モニタとなるCRT117、或いはパターンモニタ118に作成した参照画像や光学画像等を表示して擬似欠陥なのか実欠陥なのかをユーザが目視で確認(レビュー)することができる。また、改めてレビュー用に作成された参照画像に合わせて、光学画像も取り直しても好適である。
実施の形態1におけるインデックス情報作成装置200の各構成をレビュー装置300に搭載しても好適である。実施の形態3では、実施の形態1におけるインデックス作成装置200の各構成をレビュー装置300に搭載した構成について説明する。
図14において、レビュー装置300は、CPU302、モニタ306、マウスやキーボードといった操作部304、記憶装置の一例となる磁気ディスク装置309、磁気ディスク装置310を備えている。そして、レビュー装置300のCPU302が、領域分割部322、領域抽出部324、判定部326、書き込み部328、参照画像作成部320が行う実施の形態1において説明した各処理内容を実行する。或いは、レビュー装置300は、CPU302の代わりに、ハードウェアとして、参照画像作成部320、領域分割部222、領域抽出部224、判定部226、書き込み部228を備えてもよい。或いはハードウェアとソフトウェアとの組み合わせにより構成してもよい。試料検査装置100の構成は、実施の形態1、或いは実施の形態2における図10に示す構成からインデックス情報作成回路140を除いた構成と同様な構成であれば構わないので説明を省略する。図14では、本実施の形態3を説明する上で必要な構成部分以外については記載を省略している。試料検査装置100、或いはレビュー装置300にとって、通常、必要なその他の構成が含まれても構わないことは言うまでもない。
上述した各実施の形態では、インデックス情報を独立して作成する場合について説明したが、実施の形態4では、試料検査装置100における通常の検査用の参照画像の作成と連動させてインデックス情報を作成する場合について説明する。装置構成については、実施の形態2と同様で構わないため説明を省略する。
S202において、試料検査装置100における参照画像作成部の一例となる展開回路111は、制御計算機110を介して磁気ディスク装置109に格納されたCADデータファイル10から検査のためスキャン画像と同じ領域の参照画像を作成するために必要領域に相当する図形データを順に読み込む。
S220において、検査結果(判定結果)に基づき、参照画像の必要領域箇所が指定される。
上述した各実施の形態では、フォトマスク101に描画されるすべての図形データについて各領域30に関連させてインデックス情報を作成する場合について説明したが、実施の形態5では、検査の結果、欠陥が生じた箇所についてだけインデックス情報を作成する場合について説明する。装置構成については、実施の形態1〜3のいずれかと同様で構わないため説明を省略する。
図16において、S202〜S208の各工程は、実施の形態4と同様であるため説明を省略する。
S219において、検査結果(判定結果)に基づき、参照画像の必要欠陥箇所が指定される。
図1の構成では、スキャン幅Wの画素数(例えば2048画素)を同時に入射するフォトダイオードアレイ105を用いているが、これに限るものではなく、図17に示すように、XYθテーブル102をX方向に定速度で送りながら、レーザ干渉計で一定ピッチの移動を検出した毎にY方向に図示していないレーザスキャン光学装置でレーザビームをY方向に走査し、透過光を検出して所定の大きさのエリア毎に二次元画像を取得する手法を用いても構わない。
101 フォトマスク
102 XYθテーブル
103 光源
104 拡大光学系
105 フォトダイオードアレイ
106 センサ回路
107 位置回路
108 比較回路
109 磁気ディスク装置
110 制御計算機
111 展開回路
112 参照回路
115 メモリ
140 インデックス情報作成回路
142 参照画像作成部
150 光学画像取得部
200 インデックス情報作成装置
250 メモリ
252 CPU
222 領域分割部
224 領域抽出部
226 判定部
228 書き込み部
300 レビュー装置
302 CPU
306 モニタ
309,310 磁気ディスク装置
Claims (12)
- 被検査試料を複数の領域に仮想分割する領域分割部と、
複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データを入力し、前記複数の領域のうち、前記複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出部と、
抽出された領域を示す識別子に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報を関連させて書き込んでインデックス情報を作成する書き込み部と、
を備えたことを特徴とするインデックス情報作成装置。 - 前記インデックス情報作成装置は、さらに、
今回抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報が、以前に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報が示す位置から所定の範囲内であるかどうかを判定する判定部を備え、
前記書き込み部において、前記判定部により前記所定の範囲内であると判定された場合に、今回抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報をインデックス情報に書き込まないことを特徴とする請求項1記載のインデックス情報作成装置。 - 複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶する記憶部と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを順に読み出し、読み出された複数の図形データに基づいて前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
前記参照画像作成部により順に読み出される複数の図形データを並行して入力し、被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成部と、
を備えたことを特徴とする試料検査装置。 - 前記試料検査装置は、さらに、前記被検査試料の光学画像を取得する光学画像取得部と、
前記参照画像と前記光学画像とを比較する比較部と、
を備え、
前記参照画像作成部において、前記比較部による比較の結果、欠陥とされた画像が所属する前記複数の領域のいずれかに所属する図形データを前記インデックス情報に基づいて前記設計データから読み出し、読み出された図形データから当該領域の参照画像を作成することを特徴とする請求項3記載の試料検査装置。 - 複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶する記憶部と、
前記被検査試料の光学画像を取得する光学画像取得部と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを読み出し、読み出された複数の図形データに基づいて前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
前記参照画像と前記光学画像とを比較する比較部と、
被検査領域を分割した複数の領域のうち、前記比較部による比較の結果、欠陥とされた画像が所属する領域を示す識別子と当該領域に所属する図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成部と、
を備え、
前記参照画像作成部において、前記インデックス情報に基づいて前記設計データから図形データを読み出し、読み出された図形データから当該領域の参照画像を作成することを特徴とする試料検査装置。 - 被検査試料のパターン欠陥をレビューするレビュー装置において、
各パターンを構成する複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶する記憶部と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを入力し、被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成部と、
前記インデックス情報に基づいて、前記設計データから所定の領域に所属する図形データを読み出し、読み出された図形データから前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
を備えたことを特徴とするレビュー装置。 - 前記レビュー装置は、試料検査装置から欠陥とされた画像に関する情報を入力し、
前記参照画像作成部において、欠陥とされた画像が所属する領域について、当該領域を示す識別子と当該領域に所属する図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成することを特徴とする請求項6記載のレビュー装置。 - 被検査試料のパターン欠陥をレビューするレビュー装置において、
各パターンを構成する複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データと、前記被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報とを記憶する記憶部と、
前記インデックス情報に基づいて、前記設計データから所定の領域に所属する図形データを読み出し、読み出された図形データから前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成部と、
を備えたことを特徴とするレビュー装置。 - 被検査試料を複数の領域に仮想分割する領域分割工程と、
複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データを入力し、前記複数の領域のうち、前記複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出工程と、
抽出された領域を示す識別子に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報を関連させて書き込んでインデックス情報を作成する書き込み工程と、
を備えたことを特徴とするインデックス情報作成方法。 - 複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶装置に記憶する記憶工程と、
前記設計データに含まれる複数の図形データを前記記憶装置から順に読み出し、読み出された複数の図形データに基づいて前記被検査試料の光学画像と比較するための参照画像を作成する参照画像作成工程と、
前記参照画像作成工程により順に前記記憶装置から読み出される複数の図形データを並行して入力し、被検査領域を分割した複数の領域のいずれかを示す識別子と当該領域に所属する図形データの設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成工程と、
を備えたことを特徴とするインデックス情報作成方法。 - 複数の図形データが含まれる被検査試料用の設計データを記憶装置に記憶する記憶工程と、
前記被検査試料の光学画像と参照画像とを比較する比較工程と、
被検査領域を分割した複数の領域のうち、前記比較工程による比較の結果、欠陥とされた画像が所属する領域を示す識別子と当該領域に所属する図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報とを関連させたインデックス情報を作成するインデックス情報作成工程と、
を備えたことを特徴とするインデックス情報作成方法。 - 被検査試料を複数の領域に仮想分割する領域分割処理と、
複数の図形データが含まれる前記被検査試料用の設計データを入力し、前記複数の領域のうち、前記複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出処理と、
抽出された領域を示す識別子に抽出された領域に所属する前記図形データの前記設計データ中におけるポインタ情報を関連させて書き込んでインデックス情報を作成する書き込み処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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