JP4144108B2 - 関数電卓 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、各種関数等の計算機能が搭載された関数電卓に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、関数電卓と呼ばれる電子計算装置では、基本の四則計算機能の他に、関数計算機能や統計計算機能，微分積分計算機能等の複数種類の計算機能が搭載されており、各計算機能に応じたキーを選択的に操作することで、任意の種類の計算が行なえるようになっている。
【０００３】
一般に、高校や大学等の教育現場にあって、学力試験等を行なうに際しては、統計計算や微分積分計算そのものが出題されたりするので、このような多機能な電子計算装置を利用して答案を作成することが禁止されており、例えば単純な四則計算機能しか備えない電子計算装置しか利用が認められないのが現状である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、学生が所持している電子計算装置は、そのほとんどが前記多機能型の電子計算装置であり、試験会場に持ち込んで利用することができない問題がある。
【０００５】
本発明は、前記のような問題に鑑みなされたもので、各種備えられた計算機能の一部を制限し、且つその制限状態を外部に明確にして利用することが可能になる関数電卓を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明に係わる関数電卓は、複数の計算機能を有する関数電卓であって、装置本体の上部に被せるように取り付けられる着脱可能な機能制限解除用キャップと、前記機能制限解除用キャップが取り付けられた状態で当該キャップにより隠される位置に計算機能が制限されていることを示す表記が付けられた装置本体と、前記機能制限解除用キャップを装置本体に取り付けた時には全ての計算機能を利用可能とし、取り外した時には一部の計算機能以外の機能を利用不可能とする機能制限制御手段とを具備したことを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下図面により本発明の実施の形態について説明する。
【００１３】
（第１実施形態）
図１は本発明の電子装置の第１実施形態に係る電子計算装置の外観構成を示す正面図であり、同図（Ａ）は機能制限されていない通常使用状態を示す図、同図（Ｂ）は機能制限されている試験適合使用状態を示す図である。
【００１４】
電子計算装置の装置本体１１の正面には、テンキーや演算子キー，各種関数キー，ファンクションキー等を備えたキー入力部１２、及び液晶表示部１３が設けられ、この装置本体１１の上部には、機能制限解除用キャップ１４が着脱自在な構造にして設けられる。
【００１５】
前記機能制限解除用キャップ１４は、図１（Ａ）に示すように、装置本体１１の上部に被せるように取り付けた状態において、四則計算等の基本計算機能の他に、関数計算機能，統計計算機能，微分積分計算機能，プログラム計算機能等の、この計算装置に搭載されている複数種類の機能（モード）の全てを利用可能な機能制限解除モードに設定し、また、図１（Ｂ）に示すように、装置本体１１の上部から外した状態において、前記基本計算機能以外の機能（モード）を利用不可能な機能制限モードに設定するためのもので、この機能制限解除用キャップ１４における装置本体１１の操作面側と同一の側面には、機能制限解除モードに設定されていることを外部に知らせる制限解除メッセージ「通常使用」１５が印刷により表記される。
【００１６】
また、前記機能制限解除用キャップ１４の取り付けに際し、当該制限解除用キャップ１４に嵌め込まれて隠れ、装置本体１１内部の電子回路と電気的接続を図るキャップ接続部１６の、装置本体１１の操作面側と同一の側面には、機能制限モードに設定されていることを外部に知らせる制限メッセージ「試験対応」１７が印刷により表記される。
【００１７】
図２は前記電子計算装置の電子回路の構成を示すブロック図である。
【００１８】
電子計算装置の電子回路には、制御部（ＣＰＵ）２１が備えられる。
【００１９】
制御部（ＣＰＵ）２１は、キー入力部１２からのキー操作信号や液晶表示部１３の表示画面上に重ねて設けられたタブレット２６から位置検出回路２７を介して入力されるタッチ位置データに応じて、ＲＯＭ２２に予め記憶されているシステムプログラムを起動させ、あるいはフロッピディスク等の外部記憶媒体２８に記憶されている計算装置制御用プログラムを磁気ディスク装置等の記憶媒体読み取り部２９により読み取らせて起動させ、これら起動プログラムに従い、ＲＡＭ２３をワークメモリとして、回路各部の動作を制御する。
【００２０】
この制御部（ＣＰＵ）２１には、前記キー入力部１２、液晶表示部１３、タブレット２６、位置検出回路２７、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、記憶媒体読み取り部２９が接続される他に、機能制限解除認識部２４が接続されると共に、表示駆動回路２５を介して液晶表示部１３が接続される。
【００２１】
タブレット２６は、液晶表示部１３の表示画面上に重ねて設けられ、ペンや指先によりタッチされた位置に応じた電圧信号を発生するもので、このタブレット２６から出力されるタッチ位置に応じた電圧信号に基づき、位置検出回路２７により表示画面に対応させた座標が検出され、このタッチ位置座標に応じて制御部（ＣＰＵ）１１により操作の内容が判断される。
【００２２】
ＲＯＭ２２には、この電子計算装置の全体の動作を司るシステムプログラムが予め記憶されると共に、各種計算機能（モード）に応じた計算処理プログラムが記憶される他、前記機能制限解除用キャップ１４を装置本体１１から外した制限モードでの電源投入に伴ない液晶表示部１３に表示される機能制限時メッセージ「試験対応」２２ａ、及び前記機能制限解除用キャップ１４を装置本体１１に取り付けた制限解除モードでの電源投入に伴ない液晶表示部１３に表示させる機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂも記憶される。
【００２３】
ＲＡＭ２３には、前記液晶表示部１３に表示すべき表示データがビットマップ形式のデータとして記憶される表示データメモリ２３ａが備えられる他、入力された計算式や計算結果データ、計算経過データ、統計データ等が必要に応じて記憶されるワークエリアが備えられる。
【００２４】
機能制限解除認識部２４は、機能制限解除用キャップ１４の取り付け又は取り外しに伴なう当該制限解除用キャップ１４との信号線１４ａ，２４ａを介した電気的接続状態を認識するもので、機能制限解除用キャップ１４との接続認識状態では、制御部（ＣＰＵ）２１に対して機能制限解除信号となる接続確認信号（ｃ）が出力され、また、機能制限解除用キャップ１４との非接続認識状態では、前記機能制限解除信号となる接続確認信号（ｃ）の制御部（ＣＰＵ）２１への出力は停止される。
【００２５】
そして、前記機能制限解除認識部２４からの機能制限解除信号となる接続確認信号（ｃ）の出力中には、制御部（ＣＰＵ）２１は、制限解除モードに設定され、ＲＯＭ２２に記憶されている全ての計算機能プログラムの起動が可能な状態にセットされる。また、前記機能制限解除認識部２４からの機能制限解除信号となる接続確認信号（ｃ）の出力停止中には、制御部（ＣＰＵ）２１は、制限モードに設定され、ＲＯＭ２２に記憶されている複数種類の計算処理プログラムの中の基本計算機能のプログラムのみの起動が可能な状態、つまり、基本計算以外の関数計算機能や統計計算機能，微分積分計算機能，プログラム計算機能等のプログラムの起動が制限された状態にセットされる。
【００２６】
この場合、例えば前記各種計算機能の起動の制限、及びこの制限の解除は、ＲＯＭ２２に予め記憶されている各種計算機能プログラムそれぞれの起動可，起動不可を設定するフラグをＲＡＭ２３にセットすることで行なわれる。
【００２７】
図３は前記電子計算装置の機能制限解除認識部２４と機能制限解除用キャップ１４との電気的接続状態を示す図であり、同図（Ａ）はその回路構成図、同図（Ｂ）はその動作波形図である。
【００２８】
機能制限解除用キャップ１４内部の電気回路は、機能制限解除認識部２４からのから供給される２つの入力信号（ａ）に基づき２つの出力信号（ｂ）を生成する２つのフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２を組み合わせて構成され、また、機能制限解除認識部２４内部の電気回路は、前記入力信号（ａ）の一方と前記機能制限解除用キャップ１４から供給される２つの出力信号（ｂ）とに基づき接続確認信号（ｃ）を生成するアンドゲートＡＮＤ及びインバータＩＮＶを組み合わせて構成される。
【００２９】
すなわち、機能制限解除用キャップ１４を電子計算装置の装置本体１１に取り付け、機能制限解除認識部２４と信号線１４ａ，２４ａを介して電気的に接続されると、該機能制限解除認識部２４からの所定の入力信号（ａ）のみに応じた所定の出力信号（ｂ）が機能制限解除用キャップ１４から機能制限解除認識部２４に供給され、この所定の出力信号（ｂ）のみに応じて接続確認信号（ｃ）が生成され制御部２１に出力される。これにより、制御部（ＣＰＵ）２１は制限解除モードに設定され、キー入力に応じて全ての計算機能プログラムの起動可能な状態にセットされる。
【００３０】
この際、電子計算装置の装置本体１１の上部には、機能制限解除モードに設定されていることを外部に知らせる制限解除メッセージ「通常使用」１５が表記された形態となる。
【００３１】
そして、機能制限解除用キャップ１４が取り外されて機能制限解除認識部２４との電気的接続が断たれ、当該機能制限解除認識部２４において接続確認信号（ｃ）が生成されなくなると、制御部（ＣＰＵ）２１は機能制限モードに設定され、キー入力されても、基本計算機能以外の種類の計算機能プログラムは起動不可能な状態にセットされる。
【００３２】
この際、電子計算装置の装置本体１１の上部には、機能制限モードに設定されていることを外部に知らせる制限メッセージ「試験対応」１７が表記された形態となる。
【００３３】
図４は前記電子計算装置の機能制限解除認識部２４と機能制限解除用キャップ１４との電気的接続状態の他の実施形態（その１）を示す回路構成図であり、同図（Ａ）は機能制限解除用キャップ１４内に１つのフリップフロップＦＦを用いた場合の回路構成図、同図（Ｂ）は機能制限解除用キャップ１４内にフリップフロップＦＦを用いない場合の回路構成図である。
【００３４】
この何れの機能制限解除回路の場合でも、機能制限解除用キャップ１４の取り付けに伴ない、機能制限解除認識部２４では、その自らの入力信号（ａ）に応じた接続確認信号（ｃ）が生成されて制御部（ＣＰＵ）２１に供給され、制限解除モードに設定される。また、この何れの場合でも、機能制限解除用キャップ１４の取り外しに伴ない、機能制限解除認識部２４では、その自らの入力信号（ａ）に応じた接続確認信号（ｃ）が生成されなくなり、制御部（ＣＰＵ）２１は機能制限モードに設定される。
【００３５】
図５は前記電子計算装置の機能制限解除認識部２４と機能制限解除用キャップ１４との電気的接続状態の他の実施形態（その２）を示す回路構成図であり、同図（Ａ）は機能制限解除用キャップ１４内にショート回路を用いた場合の回路構成図、同図（Ｂ）は機能制限解除用キャップ１４内に抵抗回路を用いた場合の回路構成図、同図（Ｃ）は機能制限解除用キャップ１４内にダイオード回路を用いた場合の回路構成図である。
【００３６】
すなわち、図５（Ａ）に示すように、機能制限解除用キャップ１４内にショート回路を用いた場合には、機能制限解除認識部２４におけるモード検出端子１及び２において、完全ショートによる短絡信号が得られ、また、図５（Ｂ）に示すように、機能制限解除用キャップ１４内に抵抗回路を用いた場合には、機能制限解除認識部２４におけるモード検出端子１及び２において、抵抗値Ｒを介した所定の短絡信号が得られ、また、図５（Ｃ）に示すように、機能制限解除用キャップ１４内にダイオード回路を用いた場合には、機能制限解除認識部２４におけるモード検出端子１及び２において、ダイオードＤを介した所定の短絡信号が得られるもので、この何れの機能制限解除回路の場合でも、機能制限解除用キャップ１４の取り付けに伴ない、機能制限解除認識部２４では、それぞれ所定の短絡信号による接続確認信号（ｃ）が生成されて制御部（ＣＰＵ）２１に供給され、制限解除モードに設定される。また、この何れの場合でも、機能制限解除用キャップ１４の取り外しに伴ない、機能制限解除認識部２４では、各所定の短絡信号による接続確認信号（ｃ）が生成されなくなり、制御部（ＣＰＵ）２１は機能制限モードに設定される。
【００３７】
図６は前記第１実施形態の電子計算装置の装置本体１１に対する機能制限解除用キャップ１４の取り付け構造及び機能制限解除回路の接続構造を示す部分断面図である。
【００３８】
機能制限解除用キャップ１４は、装置本体１１の上端部に対して、その外側から被さるように嵌め合わせて取り付けられるもので、機能制限解除回路はキャップ内ＰＣＢ（回路基板）３１上に形成され、このキャップ内ＰＣＢ３１の端部に設けたコネクタ３２に機能制限解除認識部２４からの信号線２４ａとして設けた本体側ＰＣＢ（回路基板）３３が嵌め込まれることで電気的接続が図られる。
【００３９】
図７は前記第１実施形態の電子計算装置における機能制限モードと機能制限解除モードとの電源投入に伴なう機能状態報知メッセージの表示動作を示す図であり、同図（Ａ）は機能制限モードでの表示動作を示す図、同図（Ｂ）は機能制限解除モードでの表示動作を示す図である。
【００４０】
この電子計算装置の第１実施形態では、前記図１（Ａ）で示したように、機能制限解除用キャップ１４を装置本体１１に取り付けている機能制限解除モードの設定状態である場合に、その操作面側の側面において制限解除メッセージ「通常使用」１５が表記されて外部に知らされるだけでなく、図７（Ｂ）に示すように、キー入力部１２における電源キー「ＯＮ」の操作時点から計算操作の開始に伴なうオールクリアキー「ＡＣ」の入力が為されるまでは、ＲＯＭ２２内に記憶されている機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂが読み出され、液晶表示部１３に表示される。
【００４１】
そして、この場合には、全ての計算機能の起動が可能であり、そのことが外部に報知される。
【００４２】
また、前記図１（Ｂ）で示したように、機能制限解除用キャップ１４を装置本体１１から外している機能制限モードの設定状態である場合に、該装置本体１１の上部にキャップ接続部１６が露出してその操作面側の側面において制限メッセージ「試験対応」１７が表記されて外部に知らされるだけでなく、図７（Ａ）に示すように、キー入力部１２における電源キー「ＯＮ」の操作時点から計算操作の開始に伴なうオールクリアキー「ＡＣ」の入力が為されるまでは、ＲＯＭ２２内に記憶されている機能制限時メッセージ「試験対応」２２ａが読み出され液晶表示部１３に表示される。
【００４３】
そして、この場合には、関数計算機能や統計計算機能，微分積分計算機能，プログラム計算機能等を除く基本計算機能のみの起動が可能であり、そのことが外部に報知される。
【００４４】
したがって、前記構成の第１実施形態の電子計算装置によれば、装置本体１１の上端部に対して着脱可能にした機能制限解除用キャップ１４を設け、この機能制限解除用キャップ１４が取り付けられた状態では、機能制限解除モードとなり本装置に搭載された全ての計算機能の起動が可能な状態に設定されると共に、当該機能制限解除の状態であることが、前記機能制限解除用キャップ１４の側面に印刷表記された制限解除メッセージ「通常使用」１５により外部に明確に知らされ、また、機能制限解除用キャップ１４が外された状態では、機能制限モードとなり基本計算機能のみ起動可能な状態に設定されると共に、当該機能制限の状態であることが、前記機能制限解除用キャップ１４が外されることで露出するキャップ接続部１６の側面に印刷表記された制限メッセージ「試験対応」１７により外部に明確に知らされるようになるので、例えば基本計算機能のみの計算機なら使用が許可されている学生試験等において、前記機能制限解除用キャップ１４を外すことで、試験対応の基本計算機能でしか動作しないことが試験管理者に明確に伝えられ、当該多機能型の計算装置でも持ち込み利用できるようになる。
【００４５】
また、前記構成の第１実施形態の電子計算装置によれば、機能制限解除用キャップ１４と装置本体１１との電気的接続に応じて機能制限解除認識部２４から制御部（ＣＰＵ）２１に対して所定の接続確認信号（ｃ）が供給された場合に、前記機能制限解除モードに設定されて電源キー「ＯＮ」の操作に伴ないＲＯＭ２２内に記憶されている機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂが液晶表示部１３に表示され、機能制限解除用キャップ１４と装置本体１１との電気的切断に応じて機能制限解除認識部２４から制御部（ＣＰＵ）２１に対する所定の接続確認信号（ｃ）の供給が停止された場合に、前記機能制限モードに設定されて電源キー「ＯＮ」の操作に伴ないＲＯＭ２２内に記憶されている機能制限時メッセージ「試験対応」２２ａが液晶表示部１３に表示されるので、前記機能制限解除用キャップ１４を外している状態において何等かの不正操作により所定の接続確認信号（ｃ）を制御部（ＣＰＵ）に与えて機能制限解除モードに設定するのは困難であり、しかも、万一不正操作により前記機能制限解除認識部２４において所定の接続確認信号（ｃ）を発生させた場合でも、機能制限の解除状態であることは前記機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂの表示により明確に外部に知らされ、確実に不正防止が図られるようになる。
【００４６】
なお、前記第１実施形態では、機能制限解除用キャップ１４の取り付けに伴なう機能制限解除モードの設定メッセージの報知は、機能制限解除キャップ１４そのものに印刷表記した制限解除メッセージ「通常使用」１５、あるいは装置本体１１の液晶表示部１３に表示させる機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂで行なう構成としたが、それ以外に、図８に示すような報知手段として構成してもよい。
【００４７】
図８は前記第１実施形態の電子計算装置による機能制限解除モードの設定メッセージの報知状態を示す図であり、同図（Ａ）は機能制限解除用キャップ１４そのものによるメッセージ表示状態を示す図、同図（Ｂ）は機能制限解除用キャップ１４そのものによるメッセージ音発生状態を示す図である。
【００４８】
すなわち、機能制限解除用キャップ１４を装置本体１１に取り付けた機能制限解除モードの設定状態にあっては、図８（Ａ）に示すように、機能制限解除用キャップ１４の側面に設けた表示部１４ｂにおいて、装置本体１１との電気的接続に応じ、機能制限解除時メッセージ「全機能使用可能」を表示させ、全ての計算機能が起動可能であることを外部に明確に報知する構成としてもよい。
【００４９】
また、機能制限解除用キャップ１４を装置本体１１に取り付けた機能制限解除モードの設定状態にあっては、図８（Ｂ）に示すように、機能制限解除用キャップ１４の側面に設けた電子音発生部１４ｃにおいて、装置本体１１との電気的接続に応じ、機能制限解除時ブザー（ピピピ…）を発生させ、全ての計算機能が起動可能であることを外部に明確に報知する構成としてもよい。
【００５０】
これにより、例えば基本計算機能のみの計算機なら使用が許可されている学生試験等において、使用が許可されない機能制限解除モードの設定状態であることが明確に知らされるようになる。
【００５１】
なお、前記第１実施形態では、電子計算装置の装置本体１１に対し機能制限解除用キャップ１４を取り付けることで機能制限解除状態となり、また、機能制限解除用キャップ１４を取り外すことで機能制限状態となるように構成したが、次の、第２実施形態の電子計算装置（図９・図１０参照）で説明するように、電気的には前記第１実施形態同様の接続認識のための電子回路（図４〜図５）を有する機能制限用プラグ１４Ａ取り付けることで機能制限状態となり、また、機能制限用プラグ１４Ａを取り外すことで機能制限解除状態となるように構成してもよい。
【００５２】
（第２実施形態）
図９は本発明の電子装置の第２実施形態に係る電子計算装置の外観構成を示す斜視図である。
【００５３】
この第２実施形態の電子計算装置では、機能制限用プラグ１４Ａを、装置本体１１の上部から差し込むように取り付けた状態において、基本計算機能以外の機能（モード）を利用不可能な機能制限モードに設定されるもので、この機能制限用プラグ１４Ａにおける装置本体１１の操作面側と同一の側面には、機能制限モードに設定されていることを外部に知らせる制限メッセージ「試験対応」１７が印刷により表記される。
【００５４】
また、この第２実施形態の電子計算装置では、前記機能制限用プラグ１４Ａを、装置本体１１の上部から取り外した状態において、四則計算等の基本計算機能の他に、関数計算機能，統計計算機能，微分積分計算機能，プログラム計算機能等の、この計算装置に搭載されている複数種類の機能（モード）の全てを利用可能な機能制限解除モードに設定されるもので、この場合には、前記機能制限用プラグ１４Ａが取り外されて前記制限メッセージ「試験対応」１７の表記がなくなることで、この電子計算装置が機能制限解除状態であることは外部から明らかに判断できるので、前記第１実施形態の電子計算装置において表記を必要した制限解除メッセージ「通常使用」の印刷は成されない。
【００５５】
図１０は前記第２実施形態の電子計算装置の装置本体１１に対する機能制限用プラグ１４Ａの取り付け構造及び機能制限解除回路の接続構造を示す部分断面図である。
【００５６】
機能制限用プラグ１４Ａは、装置本体１１の上端部に形成したプラグ接続穴１１ａに対して、差し込むように嵌め込まれて取り付けられるもので、前記第１実施形態における機能制限解除用回路（図４〜図５）と同様の作用を成す機能制限回路はプラグ内ＰＣＢ（回路基板）３１上に形成され、このプラグ内ＰＣＢ３１の端部に設けたコネクタ３２に機能制限解除認識部２４からの信号線２４ａとして設けた本体側ＰＣＢ（回路基板）３３が嵌め込まれることで電気的接続が図られる。
【００５７】
この電子計算装置の第２実施形態では、機能制限用プラグ１４Ａを装置本体１１から外している機能制限解除モードの設定状態である場合に、キー入力部１２における電源キー「ＯＮ」の操作時点から計算操作の開始に伴なうオールクリアキー「ＡＣ」の入力が為されるまでは、ＲＯＭ２２内に記憶されている機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂが読み出され、液晶表示部１３に表示される（図７（Ｂ）参照）。
【００５８】
そして、この場合には、全ての計算機能の起動が可能であり、そのことが外部に報知される。
【００５９】
また、機能制限用プラグ１４Ａを装置本体１１に取り付けている機能制限モードの設定状態である場合に、その操作面側の側面において制限メッセージ「試験対応」１７が表記されて外部に知らされるだけでなく、キー入力部１２における電源キー「ＯＮ」の操作時点から計算操作の開始に伴なうオールクリアキー「ＡＣ」の入力が為されるまでは、ＲＯＭ２２内に記憶されている機能制限時メッセージ「試験対応」２２ａが読み出され液晶表示部１３に表示される（図７（Ａ）参照）。
【００６０】
そして、この場合には、関数計算機能や統計計算機能，微分積分計算機能，プログラム計算機能等を除く基本計算機能のみの起動が可能であり、そのことが外部に報知される。
【００６１】
したがって、前記構成の第２実施形態の電子計算装置によれば、装置本体１１の上端部に対して着脱可能にした機能制限用プラグ１４Ａを設け、この機能制限用プラグ１４Ａが外された状態では、機能制限解除モードとなり本装置に搭載された全ての計算機能の起動が可能な状態に設定されると共に、当該機能制限解除の状態であることが、前記電源ＯＮの操作時点において液晶表示部１３に表示される機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂによって外部に知らされ、また、機能制限用プラグ１４Ａが取り付けられた状態では、機能制限モードとなり基本計算機能のみ起動可能な状態に設定されると共に、当該機能制限の状態であることが、機能制限用プラグ１４Ａの側面に印刷表記された制限メッセージ「試験対応」１７により外部に明確に知らされるようになるので、例えば基本計算機能のみの計算機なら使用が許可されている学生試験等において、前記機能制限用プラグ１４Ａを取り付けることで、試験対応の基本計算機能でしか動作しないことが試験管理者に明確に伝えられ、当該多機能型の計算装置でも持ち込み利用できるようになる。
【００６２】
なお、前記第１実施形態における電子計算装置では、機能制限解除用キャップ１４の着脱により機能制限解除状態と機能制限状態との切り替えを行なう構成とし、また、前記第２実施形態における電子計算装置では、機能制限用プラグ１４Ａの着脱により機能制限状態と機能制限解除状態との切り替えを行なう構成としたが、次の第３実施形態（図１１・図１２参照）において説明するように、キャップやプラグ等の別体部品を用いず、装置本体１１におけるキー操作に応じて機能制限状態と機能制限解除状態との切り替えを行なうと共に、その状態表示を行なう構成としてもよい。
【００６３】
なお、前記第１実施形態における機能制限解除用キャップ１４と前記第２実施形態における機能制限用プラグ１４Ａとは、全く逆の作用を成す構成、つまり、前記機能制限解除用キャップ１４を機能制限用キャップとし、また、前記機能制限用プラグ１４Ａを機能制限解除用プラグとして構成してもよく、この場合、液晶表示部１３における表示やキャップ及びプラグ側面の印刷表記によって行なわれる制限状態の報知内容を、機能制限メッセージと機能制限解除時メッセージとで全く逆にして構成すればよい。
【００６４】
（第３実施形態）
図１１は本発明の電子装置の第３実施形態（その１）に係る電子計算装置の外観構成を示す正面図である。
【００６５】
この第３実施形態の電子計算装置では、装置本体１１の正面上部に対して機能制限設定キー３４が設けられ、制限解除モードでの通常使用の状態において、機能制限設定キー３４が操作されると、基本計算機能以外の機能（モード）を利用不可能な機能制限モードに設定されるもので、この場合には機能制限モードに設定されていることを外部に知らせるための機能制限時メッセージデータ「試験対応」２２ａが液晶表示部１３の画面下部に表示される。
【００６６】
また、前記機能制限モードでの試験対応の使用状態において、機能制限設定キー３４が操作されると、四則計算等の基本計算機能の他に、関数計算機能，統計計算機能，微分積分計算機能，プログラム計算機能等の、この計算装置に搭載されている複数種類の機能（モード）の全てを利用可能な機能制限解除モードに設定されもので、この場合には機能制限解除モードに設定されていることを外部に知らせるための機能制限解除時メッセージデータ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂが液晶表示部１３の画面下部に前記機能制限時メッセージデータ「試験対応」２２ａに替わって表示される。
【００６７】
なお、前記機能制限モード及び機能制限解除モードにそれぞれ対応して表示される機能制限時メッセージ「試験対応」２２ａ及び機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂは、前記機能制限設定キー３４に隣接して液晶表示部１３とは別に設けた状態表示部１３ａ（図１２参照）により専用に表示して、機能制限の有無状態をより明確に外部に知らせる構成としてもよい。
【００６８】
図１２は本発明の電子装置の第３実施形態（その２）に係る電子計算装置の外観構成を示す正面図である。
【００６９】
したがって、前記構成の第３実施形態の電子計算装置によれば、装置本体１１の正面上部に対して機能制限設定キー３４を設け、この機能制限設定キー３４を制限解除モードでの通常使用の状態において操作すると、機能制限モードとなり基本計算機能のみ起動可能な状態に設定されると共に、当該機能制限の状態であることが、液晶表示部１３（状態表示部１３ａ）に表示される機能制限時メッセージ「試験対応」２２ａによって外部に知らされ、また、前記機能制限モードでの試験対応の使用状態において前記機能制限設定キー３４を操作すると、機能制限解除モードとなり本装置に搭載された全ての計算機能の起動が可能な状態に設定されると共に、当該機能制限解除の状態であることが、液晶表示部１３（状態表示部１３ａ）に表示される機能制限解除時メッセージ「全機能・全メモリ使用可能」２２ｂによって外部に知らされるようになるので、例えば基本計算機能のみの計算機なら使用が許可されている学生試験等において、前記機能制限設定キー３４を操作するのみで、試験対応の基本計算機能でしか動作しないことが試験管理者に明確に伝えられ、当該多機能型の計算装置でも持ち込み利用できるようになる。
【００７０】
なお、前記第１〜第３実施形態における電子計算装置の搭載機能及び機能制限時と機能制限解除時とにおける起動可能な機能の種類は限定されるものではなく、その組み合わせは、例えば市場の要求に応じて設定すればよい。
【００７１】
また、前記第１〜第３実施形態では、機能制限解除用キャップ１４や機能制限用プラグ１４Ａの着脱、あるいは機能制限設定キー３４の操作毎に、機能制限解除モードと機能制限モードとが固定的に切り替え設定される構成としたが、次の第４実施形態において説明するように、機能制限を行なう際には、制限の対象となる機能の種類を任意に選択すると共に、その制限時間をも任意に設定し、例えば試験現場での出題内容や使用許可される計算機能、及び試験時間等に容易に適応できる構成としてもよい。
【００７２】
（第４実施形態）
この第４実施形態の電子計算装置は、例えば前記第３実施形態の電子計算装置（図１１・図１２参照）で示したような機能制限設定キー３４を設けた外観構成を有しており、電子回路としては、前記各実施形態の電子計算装置の電子回路（図２参照）と略同様の構成を有し、機能制限解除用キャップ１４や機能制限用プラグ１４Ａ等、別体部品の着脱により機能制限／制限解除を認識するための機能制限解除認識部２４が存在しない点が異なる。
【００７３】
図１３は本発明の電子装置の第４実施形態に係る電子計算装置におけるＲＡＭ２３内のメモリ構成を示す図である。
【００７４】
この第４実施形態の電子計算装置におけるＲＡＭ２３には、液晶表示部１３に表示すべき表示データがビットマップ形式のデータとして記憶される表示データメモリ２３ａをはじめ、入力された計算式や計算結果データ、計算経過データ、統計データ等が必要に応じて記憶される種々のワークエリアが備えられると共に、制限モードメモリ２３ｂ、制限機能メモリ２３ｃ、制限時間メモリ２３ｄ、制限コマンドメモリ２３ｅ、タイマメモリ２３ｆ、制限メッセージメモリ２３ｇ、制限パスワードメモリ２３ｈ、機能制限タイムテーブルメモリ２３ｉ、ファンクションデータメモリ２３ｊ、及び退避データメモリ２３ｋ等が備えられる。
【００７５】
制限モードメモリ２３ｂには、機能制限設定キー３４の操作に応じて機能制限モード処理が起動されたことを示すフラグデータがセットされる。
【００７６】
制限機能メモリ２３ｃには、制限対象として任意に選択入力された機能の種類を示すデータが記憶される。
【００７７】
制限時間メモリ２３ｄには、前記制限対象として選択入力された機能に対し任意に入力設定された機能制限時間が記憶される。
【００７８】
制限コマンドメモリ２３ｅには、制限対象をプログラム計算機能におけるプログラムコマンドとした場合に、制限対象として任意に選択入力されたコマンドのデータが記憶される。
【００７９】
タイマメモリ２３ｆには、前記制限時間メモリ２３ｄに入力設定された機能制限時間を計測するための計時データが逐次更新されて記憶される。
【００８０】
制限メッセージメモリ２３ｇには、実行入力された機能が制限中であることを表示により報知するためのメッセージデータが記憶される。
【００８１】
制限パスワードメモリ２３ｈには、制限対象として入力された任意の関数機能を示す番号と制限時間及び制限実行入力時刻とをそれぞれ変数として所定のアルゴリズムで生成された計算機能制限用のパスワードが記憶される。
【００８２】
機能制限タイムテーブルメモリ２３ｉには、制限対象として任意に入力された関数機能の制限時間に対応する時刻の範囲がタイムテーブルとして記憶される。
【００８３】
ファンクションデータメモリ２３ｊには、各種の関数機能を用いて過去に実行された複数の関数計算式が任意に格納されて記憶される。
【００８４】
退避データメモリ２３ｋには、前記制限対象として記憶された関数機能に対する制限時間内において、前記ファンクションデータメモリ２３ｊに記憶されている複数の関数計算式が退避されて記憶される。
【００８５】
図１４は本発明の第４実施形態（その１）に係る電子計算装置の時間指定機能制限処理を示すフローチャートである。
【００８６】
図１５は前記電子計算装置の時間指定機能制限処理に伴なう制限機能及び制限時間の入力表示画面を示す図である。
【００８７】
装置本体１１の正面上部に設けられている機能制限設定キー３４が操作されると、時間指定機能制限モードの制御プログラムが起動され、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされる（ステップＳ１）。
【００８８】
すると、液晶表示部１３の表示画面が制限対象となる任意の機能とその制限時間とを表示するための時間指定機能制限モード表示状態となる（ステップＳ２）。
【００８９】
そして、キー入力部１２において制限対象となる任意の関数機能に対応するファンクションキーが選択操作され、「ＥＸＥ」キーにより確定操作されると、この選択確定された制限対象となる任意の関数機能の種類が、図１５に示すように、液晶表示部１３の表示画面上に表示されると共に、当該制限対象とした関数機能に対する制限時間の入力待ち状態となる（ステップＳ３，Ｓ４→Ｓ５）。
【００９０】
ここでさらに、前記制限対象関数機能に対する任意の制限時間がキー入力部１２において入力されて指定され、「ＥＸＥ」キーが操作されると、当該入力指定された制限時間が前記液晶表示部１３の表示画面上に前記制限対象関数機能と共に表示されると共に、この制限対象関数機能の種類を示すデータ及び制限時間のデータがそれぞれＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄに対して記憶される（ステップＳ６）。
【００９１】
すると、ＲＡＭ２３内のタイマメモリ２３ｆにて逐次更新記憶される計時データあるいは図示しないコンデンサの充放電が開始されて前記制限時間メモリ２３ｄに記憶された機能制限時間の計測が開始される（ステップＳ７）。
【００９２】
例えば図１５に示す時間指定機能制限モード表示画面では、制限対象として「Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ（積分計算機能）」「Ｅｑｕａｔｉｏｎ（方程式計算機能）」が選択確定されると共に、その機能制限時間が「９０ｍｉｎ」として指定されたもので、これにより、今後９０分間は積分及び方程式の計算機能が制限されて使用不可能な状態に設定される。
【００９３】
このような時間指定機能制限状態にあって、何らかの関数機能に対応するキー入力が為されると、機能制限中の関数機能であるか否か、つまりこの場合には、積分計算機能か又は方程式計算機能の何れであるかが判断される（ステップＳ８，Ｓ９）。
【００９４】
ここで、前記制限対象機能以外の関数機能の実行入力が為されたと判断されると、この実行入力された関数機能に対応する制御プログラムが起動され、ユーザ所望の通常の処理が行なわれる（ステップＳ９→Ｓ１０）。
【００９５】
一方、前記キー入力された関数機能の種類が、ＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃに設定記憶されている制限対象の関数機能であると判断されると、前記タイマメモリ２３ｆにおける計時データあるいはコンデンサにおける充電電荷の放電状態に応じて、前記制限時間メモリ２３ｄに記憶されている機能制限時間が経過したか否か判断される（ステップＳ８，Ｓ９→Ｓ１１）。
【００９６】
ここで、制限時間中であると判断された場合には、前記関数機能のキー入力は無視され、対応機能の制限中であることを示すメッセージデータが制限メッセージメモリ２３ｇから読み出され、液晶表示部１３に表示される（ステップＳ１１→Ｓ１２，Ｓ１３）。
【００９７】
この後、前記同様に、ＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃに設定記憶されている制限対象機能に対応するキー入力が為された際に、前記制限時間メモリ２３ｄに記憶されている機能制限時間が経過していると判断された場合には、前記制限機能メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄにおける各記憶データが消去されると共に、制限モードメモリ２３ｂにセットされた制限モードフラグがリセットされ、この機能制限の設定状態が解除される（ステップＳ８，Ｓ９→Ｓ１１→Ｓ１４）。
【００９８】
すると、前記入力された関数機能に対応する制御プログラムが起動され、ユーザ所望の通常の処理が行なわれる（ステップＳ１５）。
【００９９】
したがって、前記構成の第４実施形態（その１）に係る電子計算装置の時間指定機能制限処理によれば、キー入力操作により任意の関数機能を選択的に制限対象機能として設定記憶させると共に、その制限時間を指定入力すると、前記指定された機能制限時間中においては、前記制限対象として指定された関数機能を実行させるためのキー入力は無視され、当該関数機能の制限中であることを示すメッセージが液晶表示部１３に表示されるので、例えばこの電子計算装置を試験会場に持ち込んだ際に、試験の出題内容や科目規定等に応じて使用許可されない計算機能をその試験時間中に対応させて容易に制限できるようになり、しかも、機能制限中であることを制限メッセージを表示させて外部に知らせることができるようになる。
【０１００】
なお、前記第４実施形態（その１）では、例えば試験会場にいる受験者それぞれ個人が、自分の電子計算装置に対して、制限対象機能の選択入力とその制限時間の指定入力とを同様に行なう必要があるが、次の第４実施形態（その２）（図１６・図１７参照）において説明するように、ある１人の電子計算装置において制限対象機能とその制限時間及び制限開始時刻とを符号化した機能制限用のパスワードを生成し、それ以外の人の電子計算装置は、この機能制限用のパスワードを入力することで、同様の機能制限モードに設定する構成としてもよい。
【０１０１】
図１６は本発明の第４実施形態（その２）に係る電子計算装置の機能制限パスワード生成処理及びパスワードによる機能制限設定処理を示すフローチャートである。
【０１０２】
図１７は前記電子計算装置の機能制限パスワード生成処理及びパスワードによる機能制限設定処理に伴ない表示されるパスワード生成表示画面及び制限機能設定画面を示す図である。
【０１０３】
一方の電子計算装置において、前記図１４におけるステップＳ１〜Ｓ６の処理と同様に、図１７（Ａ１）に示すように、制限対象となる関数機能が任意に選択入力されてＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃに設定記憶されると共に、その制限時間が指定入力されて制限時間メモリ２３ｄに記憶され、任意の機能制限状態に設定されると（ステップＡ１〜Ａ６）、前記制限機能メモリ２３ｃに記憶された制限対象となる関数機能の番号と前記制限時間メモリ２３ｄに記憶された機能制限時間及び現在時刻である制限実行入力時刻とをそれぞれ変数とした所定のアルゴリズムに従った符号化処理により機能制限パスワードが生成され、制限パスワードメモリ２３ｈに記憶されると共に、図１７（Ａ２）に示すように、液晶表示部１３に表示される（ステップＡ７，Ａ８）。
【０１０４】
すると、前記機能制限パスワードを生成した電子計算装置は、前記ＲＡＭ１３内の制限機能メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄにそれぞれ記憶された制限機能及びその制限時間に従って、前記図１４におけるステップＳ８以降の時間指定機能制限処理に移行される。
【０１０５】
そして、その他の電子計算装置において、機能制限設定キー３４の操作により、時間指定機能制限モードの制御プログラムを起動させ、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされた状態で、所定のキー操作によりパスワード入力モードに設定すると共に、前記一方の電子計算装置において生成表示された機能制限パスワードを、図１７（Ｂ１）に示すように、キー入力して表示させると、当該機能制限パスワードが解析され、図１７（Ｂ２）に示すように、前記同様の制限対象となる関数機能とその制限時間及び制限実行入力（開始）時刻が取得表示され、この電子計算装置におけるＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄに設定記憶される（ステップＢ１〜Ｂ４）。
【０１０６】
すると、前記解析取得された機能制限時間と制限実行入力（開始）時刻とに応じて現在時刻からの制限時間が算出され、前記図１４におけるステップＳ７以降の時間指定機能制限処理に移行される（ステップＢ５）。
【０１０７】
これにより、その他の電子計算装置においても、前記一方の電子計算装置と同様の時間指定機能制限状態に設定される。
【０１０８】
したがって、前記構成の第４実施形態（その２）に係る電子計算装置の機能制限パスワード生成処理及びパスワードによる機能制限設定処理によれば、一方の電子計算装置において、制限対象となる任意の関数機能を選択設定すると共に、その制限時間を指定入力すると、この制限対象機能と制限時間とを符号化した機能制限パスワードが生成された後に、前記任意選択された関数機能とその制限時間に従った機能制限状態となり、その他の電子計算装置において、前記生成された機能制限パスワードを入力すると、このパスワードが解析されて前記一方の電子計算装置にて設定したのと同一の制限対象機能とその制限時間とが取得され、これに従った機能制限状態となるので、例えば試験管理者が有する電子計算装置にて試験内容に応じた機能制限パスワードを生成し、これを受験者に知らせて該受験者各個人の電子計算装置に入力させ機能制限状態に設定することで、容易に受験者全員の電子計算装置を所望の時間指定機能制限状態に統一して設定できるようになる。
【０１０９】
なお、前記第４実施形態（その１）（その２）では、任意に選択された制限機能に対して１つの制限時間を指定入力し、複数の制限機能を選択した場合でも、その機能制限時間は同一に設定される構成としたが、次の第４実施形態（その３）（図１８・図１９参照）において説明するように、任意に選択された複数の制限対象機能のそれぞれに対して別々の機能制限時間を設定する構成としてもよい。
【０１１０】
図１８は本発明の第４実施形態（その３）に係る電子計算装置の時間指定機能別制限処理を示すフローチャートである。
【０１１１】
図１９は前記電子計算装置の時間指定機能別制限処理に伴なう制限機能及び制限時間の入力表示画面を示す図である。
【０１１２】
装置本体１１に設けられている機能制限設定キー３４が操作されると、時間指定機能別制限モードの制御プログラムが起動され、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされる（ステップＣ１）。
【０１１３】
すると、液晶表示部１３の表示画面が制限対象となる任意の機能とその制限時間とを個々に対応付けて表示するための時間指定機能別制限モード表示状態となる（ステップＣ２）。
【０１１４】
そして、キー入力部１２において制限対象となる任意の関数機能に対応するファンクションキーが選択操作されると共に、個々の制限機能の選択操作毎にその制限時間が指定入力され、「ＥＸＥ」キーにより確定操作されると、図１９に示すように、この選択確定された制限対象となる複数の関数機能の種類が各関数機能のそれぞれに対し個別に指定入力された制限時間と対応付けられて、液晶表示部１３の表示画面上に表示される（ステップＣ３，Ｃ４，Ｃ５）。
【０１１５】
すると、前記複数の制限対象関数機能の種類を示すデータとそのそれぞれにおける制限時間のデータとが、それぞれＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃと制限時間メモリ２３ｄとに対応付けられて記憶される（ステップＣ６）。
【０１１６】
すると、ＲＡＭ２３内のタイマメモリ２３ｆにて逐次更新記憶される計時データに基づいて前記制限時間メモリ２３ｄに記憶された複数の制限機能それぞれの機能制限時間の計測が開始される（ステップＣ７）。
【０１１７】
例えば図１９に示す時間指定機能別制限モード表示画面では、制限対象として「Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ（積分計算機能）」「Ｅｑｕａｔｉｏｎ（方程式計算機能）」「Ｍａｔ（行列計算機能）」が選択設定されると共に、そのそれぞれの機能制限時間が「１３５ｍｉｎ」「９０ｍｉｎ」「４５ｍｉｎ」として個別に指定されたもので、これにより、今後４５分間は行列計算機能が制限されて使用不可能な状態に設定されると共に、今後９０分間は方程式計算機能が制限されて使用不可能な状態に設定され、さらに今後１３５分間は成分計算機能が制限されて使用不可能な状態に設定される。
【０１１８】
このような時間指定機能別制限状態にあって、何らかの関数機能に対応するキー入力が為されると、機能制限中の関数機能であるか否か、つまりこの場合には、行列計算機能か又は方程式計算機能か又は積分計算機能の何れであるかが判断される（ステップＣ８，Ｃ９）。
【０１１９】
ここで、前記制限対象機能以外の関数機能の実行入力が為されたと判断されると、この実行入力された関数機能に対応する制御プログラムが起動され、ユーザ所望の通常の処理が行なわれる（ステップＣ９→Ｃ１０）。
【０１２０】
この際、前記機能制限メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄに記憶されている全ての制限対象機能についてそのそれぞれの機能制限時間が経過したか否か、つまり、機能制限状態が完全に解除されたか否か判断され、１つの制限対象設定機能でも制限解除されてないと判断された場合には、前記ステップＣ８における関数機能の入力待ち状態となる（ステップＣ１１→Ｃ８）。
【０１２１】
一方、前記キー入力された関数機能の種類が、ＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃに設定記憶されている複数の制限対象機能の内の１つであると判断されると、前記タイマメモリ２３ｆにおける計時データに応じて、前記制限時間メモリ２３ｄに記憶されている当該キー入力された制限対象機能の制限時間が経過したか否か判断される（ステップＣ８，Ｃ９→Ｓ１２）。
【０１２２】
ここで、前記キー入力された制限対象の関数機能についてその制限時間中であると判断された場合には、当該関数機能のキー入力は無視され、対応機能の制限中であることを示すメッセージデータが制限メッセージメモリ２３ｇから読み出され、液晶表示部１３に表示される（ステップＣ１２→Ｃ１３，Ｃ１４）。
【０１２３】
この後、前記同様に、ＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃに設定記憶されている制限対象機能に対応するキー入力が為された際に、当該制限機能に対応して制限時間メモリ２３ｄに記憶されている機能制限時間が経過していると判断された場合には、前記制限機能メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄに記憶されている当該制限機能とその制限時間のデータが削除され、前記入力された関数機能に対応する制御プログラムが起動され、ユーザ所望の通常の処理が行なわれる（ステップＣ８，Ｃ９→Ｃ１２→Ｃ１５，Ｃ１０）。
【０１２４】
すなわち、機能制限の実行入力時点から４５分経過した後に行列計算モードにするためのキー入力が行なわれると、当該行列計算機能に関する制限データが削除され、また、同時点から９０分経過した後に方程式計算モードにするためのキー入力が行なわれると、当該方程式計算機能に関する制限データが削除され、また、同時点から１３５分経過した後に積分計算モードにするためのキー入力が行なわれると、当該積分計算機能に関する制限データが削除されるもので、これにより、制限モードメモリ２３ｂにセットされた制限モードフラグがリセットされ、機能制限状態が完全に解除されたと判断された場合には、前記一連の時間指定機能別制限処理は終了され、全ての搭載機能が使用可能な通常使用の状態に戻る（ステップＣ１１→終了）。
【０１２５】
したがって、前記構成の第４実施形態（その３）に係る電子計算装置の時間指定機能別制限処理によれば、キー入力操作により任意の複数の関数機能を選択的に制限対象機能として設定記憶させると共に、そのそれぞれの制限機能毎に個別の制限時間を指定入力すると、各指定された機能制限時間中においては、それぞれ対応する制限対象関数機能を実行させるためのキー入力は無視され、当該関数機能の制限中であることを示すメッセージが液晶表示部１３に表示される。そして、前記指定された複数の制限対象関数機能それぞれの制限時間が経過する毎に、該当する関数機能の制限状態が解除されるので、例えばこの電子計算装置を試験会場に持ち込んだ際に、各科目毎の試験の出題内容等に応じて使用許可されない複数の計算機能を各試験時間範囲に対応させて容易に制限できるようになり、しかも、機能制限中であることを制限メッセージを表示させて外部に知らせることができるようになる。
【０１２６】
なお、前記第４実施形態（その１）（その２）（その３）では、制限対象として設定され制限時間中にある関数機能を実行させるための入力操作を行なうと、当該関数機能が制限中であることを示すメッセージ表示を行なう構成としたが、次の第４実施形態（その４）（図２０・図２１参照）において説明するように、搭載機能（モード）のメニューをアイコンで一覧表示した際に、制限対象機能を示すアイコンを変更表示させ、この制限対象機能のアイコンが選択入力された場合には、他の無関係なアイコン位置において制限残り時間を表示して入力機能が制限中であることを知らせる構成としてもよい。
【０１２７】
図２０は本発明の第４実施形態（その４）に係る電子計算装置の時間指定機能別制限表示処理を示すフローチャートである。
【０１２８】
図２１は前記電子計算装置の時間指定機能別制限表示処理に伴ない表示される制限機能及び制限時間の入力表示画面と搭載機能選択用のメニュー画面とを示す図である。
【０１２９】
装置本体１１に設けられている機能制限設定キー３４が操作されると、時間指定機能別制限モードの制御プログラムが起動され、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされる（ステップＤ１）。
【０１３０】
すると、液晶表示部１３の表示画面が制限対象となる任意の機能とその制限時間とを個々に対応付けて表示するための時間指定機能別制限モード表示状態となる（ステップＤ２）。
【０１３１】
そして、キー入力部１２において制限対象となる任意の関数機能に対応するファンクションキーが選択操作されると共に、個々の制限機能の選択操作毎にその制限時間が指定入力され、「ＥＸＥ」キーにより順次確定操作されると、図２１（Ａ）に示すように、この選択確定された制限対象となる複数の関数機能の種類が各関数機能のそれぞれに対し個別に指定入力された制限時間と対応付けられて、液晶表示部１３の表示画面上に表示されると共に、ＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃと制限時間メモリ２３ｄとに記憶される（ステップＤ３〜Ｄ６）。
【０１３２】
すると、ＲＡＭ２３内のタイマメモリ２３ｆにて逐次更新記憶される計時データに基づいて前記制限時間メモリ２３ｄに記憶された複数の制限機能それぞれの機能制限時間の計測が開始されるもので、この際、図２１（Ｂ）に示すように、搭載機能選択用のメニュー画面が各機能を示すアイコンの一覧画面として液晶表示部１３に表示され、前記制限機能メモリ２３ｃ及び制限時間メモリ２３ｄに基づき機能制限中にある、例えば行列計算機能を示すアイコンＩ3 と方程式計算機能を示すアイコンＩA とが白抜き反転されて変更表示される（ステップＤ７，Ｄ８）。
【０１３３】
このような時間指定機能別制限状態でのメニュー画面表示にあって、何らかの関数機能（モード）に対応するアイコンが選択入力されると、当該選択された機能（モード）を示すアイコンが変更表示されると共に、当該選択機能が機能制限中の関数機能であるか否か判断される（ステップＤ９，Ｄ１０，Ｄ１１）。
【０１３４】
ここで、前記制限対象機能以外の関数機能（モード）を示すアイコンが選択入力されたと判断されると、この選択入力された関数機能（モード）に対応する制御プログラムが起動され、ユーザ所望の通常の処理が行なわれる（ステップＤ１１→Ｄ１２）。
【０１３５】
一方、前記選択入力されたアイコンに対応する関数機能の種類が、ＲＡＭ２３内の制限機能メモリ２３ｃに設定記憶されている複数の制限対象機能の内の１つであると判断された場合、例えば図２１（Ｂ）に示す機能制限状態にある行列計算機能のＭＡＴアイコンＩ3 が選択入力されたと判断された場合には、図２１（Ｃ）に示すように、当該ＭＡＴアイコンＩ3 はマスク表示Ｉ3 ′されて選択機能の制限中であることが知らされる共に、当該選択機能や制限中の機能に無関係なアイコン、例えばＰＲＧＭアイコンＩB が一時消去され、これに替わって前記タイマメモリ２３ｆから読み出される計時データと前記制限時間メモリ２３ｄから読み出される選択機能（ＭＡＴ）の制限時間とに基づき算出された制限残り時間ＴL が、例えば「２５ｍＬＡＴＥ」として表示される（ステップＤ９〜Ｄ１１→Ｄ１３，Ｄ１４）。
【０１３６】
ここでさらに、前記マスク表示Ｉ3 されている機能制限中の行列計算機能に対する進入入力が、アイコン選択ではなくキー操作入力の検知に基づき判断された場合には、当該選択機能のキー入力は無視され、対応機能の制限中であることを示すメッセージデータが制限メッセージメモリ２３ｇから読み出され、液晶表示部１３に表示される（ステップＤ１５→Ｄ１６，Ｄ１７）。
【０１３７】
一方、前記マスク表示Ｉ3 されている機能制限中の行列計算機能に対する進入入力がなく、「ＯＦＦ」キーが操作された場合には、図２１（Ｂ）で示したように、機能制限中にある関数機能のアイコンＩ3 ，ＩA が白抜反転表示されているメニュー画面の表示状態に戻り、任意の機能のアイコン選択待ちとなる（ステップＤ１５→Ｄ１８→Ｄ９）。
【０１３８】
この後、前記ＲＡＭ２３内の制限時間メモリ２３ｄに記憶されている複数の制限対象機能にそれぞれ対応する制限時間が経過した場合には、全ての機能制限が解除され、任意の選択アイコンに対応する機能が通常に起動実行される。
【０１３９】
したがって、前記構成の第４実施形態（その４）に係る電子計算装置の時間指定機能別制限表示処理によれば、キー入力操作により任意の複数の関数機能を選択的に制限対象機能として設定記憶させると共に、そのそれぞれの制限機能毎に個別の制限時間を指定入力すると、搭載機能アイコンの一覧表示画面からなるメニュー画面において、機能制限状態にあるアイコンＩ3 ，ＩA が反転表示されて示されると共に、この機能制限中にある機能のアイコンが選択入力されると、制限機能と無関係な他のアイコン位置において当該選択入力された制限機能の制限残り時間ＴL が表示され、そして、この制限機能を実行させるためのキー入力は無視されて、当該関数機能の制限中であることを示すメッセージが液晶表示部１３に表示されるので、例えばこの電子計算装置を試験会場に持ち込んだ際に、各科目毎の試験の出題内容等に応じて使用許可されない複数の計算機能を各試験時間範囲に対応させて容易に制限できるばかりでなく、制限中にある機能の制限残り時間を表示できるようになる。
【０１４０】
なお、前記第４実施形態（その１）〜（その４）では、制限対象を装置本体１１に搭載された各機能（モード）毎に選択的に設定できる構成としたが、次の第４実施形態（その５）（図２２・図２３参照）において説明するように、プログラム計算機能における各コマンド毎にその使用を選択的に制限できる構成としてもよい。
【０１４１】
図２２は本発明の第４実施形態（その５）に係る電子計算装置のプログラム機能制限処理及びプログラムモード処理を示すフローチャートである。
【０１４２】
図２３は前記電子計算装置のプログラム機能制限処理及びプログラムモード処理に伴なう制限コマンドの入力表示画面及びプログラムの作成実行表示状態を示す図である。
【０１４３】
装置本体１１に設けられている機能制限設定キー３４が操作されると、機能制限モードの制御プログラムが起動され、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされる（ステップＥ１）。
【０１４４】
そして、制限対象機能としてプログラム計算機能がキー入力されて指定されると、当該プログラム計算機能そのものを機能制限するか、このプログラム計算機能にて用いられるプログラムの各コマンドの使用を制限するかがキー操作による指定に応じて判断される（ステップＥ２，Ｅ３）。
【０１４５】
ここで、コマンド毎の使用制限が指定されないと判断された場合には、当該プログラム計算機能のみの時間指定制限処理に移行される（ステップＥ３→Ｅ７）。
【０１４６】
一方、プログラム計算機能の制限指定の後に、そのコマンド毎の使用制限が指定されたと判断された場合には、図２３（Ａ）に示すように、プログラムの作成において用いられるコマンドの一覧表示画面が液晶表示部１３に表示される（ステップＥ３→Ｅ４）。
【０１４７】
そして、前記コマンド一覧表示画面の表示状態にあって、使用を制限（不可能に）したいコマンドが選択的に指定されると、この制限指定されたプログラムコマンドは、ＲＡＭ２３内の制限コマンドメモリ２３ｅに対して記憶され、これに基づく機能制限の実行入力状態となる（ステップＥ５，Ｅ６）。
【０１４８】
こうして、プログラム計算機能に用いられる任意のコマンドが選択的に制限対象として指定された状態で、プログラム計算モードが起動されると、図２３（Ｂ）に示すように、任意のプログラムの作成表示画面が液晶表示画面に表示され、任意のキー操作に応じて任意のプログラムが作成表示される（ステップＦ１）。
【０１４９】
そして、前記任意のプログラムを作成した後に、「ＥＸＥ」キーが操作されて当該プログラムの実行が指示されると、その実行プログラム中に前記ＲＡＭ２３内の制限コマンドメモリ２３ｅに記憶されている制限対象コマンドが存在するか否か判断される（ステップＦ２，Ｆ３）。
【０１５０】
ここで、前記実行プログラム中に制限対象となっているコマンドは存在しないと判断された場合には、当該実行プログラムに従った通常のプログラム計算処理が行なわれる（ステップＦ３→Ｆ４）。
【０１５１】
一方、前記実行プログラム中に前記ＲＡＭ２３内の制限コマンドメモリ２３ｅに記憶されている制限対象コマンドが存在すると判断された場合には、当該プログラムの実行が停止されると共に、図２３（Ｃ）に示すように、実行プログラム中に存在した制限対象となっているコマンドのプログラム部分に対応させて当該コマンドが使用制限中であることを示す使用制限コマンドメッセージ２２ａ′が表示される（ステップＦ３→Ｆ５，Ｆ６）。
【０１５２】
すると、前記制限対象となっているコマンドを含むプログラムがプログラム入力作成画面（図２３（Ｂ）参照）として再表示されると共に、前記制限対象となっているコマンドの表示形態が変更されて識別表示される（ステップＦ７，Ｆ８）。
【０１５３】
ここで、プログラムの編集作業が行なわれて、前記制限対象となっているコマンドが含まれないように訂正された後、「ＥＸＥ」キーの操作により当該訂正後プログラムの再実行が指示されると、前記ステップＦ３からの処理に戻り、再実行されたプログラム中に、さらに制限対象となっているコマンドが存在するか否か判断される（ステップＦ９→Ｆ１０，Ｆ１１→Ｆ３）。
【０１５４】
したがって、前記構成の第４実施形態（その５）に係る電子計算装置のプログラム機能制限処理及びプログラムモード処理によれば、制限対象機能としてプログラム計算機能を指定すると共に、プログラムコマンドの使用制限を指定すると、該プログラムコマンドの一覧表示が行なわれ、任意に選択された使用制限コマンドがＲＡＭ２３内の制限コマンドメモリ２３ｅに記憶される。そして、プログラムモード処理において任意のプログラムが作成されてその実行が開始されると、当該実行プログラム中に含まれる使用制限コマンドの有無が判断され、使用制限コマンドが存在する場合には当該プログラムの実行が停止されると共に、その制限メッセージ２２ａ′が表示され、さらに、使用制限コマンドが識別表示されてプログラムの編集が行なえるので、同じ動作を行なうプログラムを異なるコマンドを使用して編集し作成し直すことができ、プログラム作成の学習をより効果的に行なうことができる。
【０１５５】
前記第４実施形態（その１）〜（その４）では、制限対象機能に対して指定する制限時間を、現時点からの連続制限時間として指定する構成としたが、次の第４実施形態（その６）（図２４・図２５参照）において説明するように、制限対象機能に対する制限時間をタイムテーブル上で断続的に設定できる構成としてもよい。
【０１５６】
図２４は本発明の第４実施形態（その６）に係る電子計算装置のタイムテーブル機能制限処理を示すフローチャートである。
【０１５７】
図２５は前記電子計算装置のタイムテーブル機能制限処理に伴なうタイムテーブル上での機能制限設定表示状態を示す図である。
【０１５８】
装置本体１１に設けられている機能制限設定キー３４が操作されると、機能制限モードの制御プログラムが起動され、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされる（ステップＧ１）。
【０１５９】
すると、図２５に示すように、液晶表示部１３の表示画面に対して機能制限設定用のタイムテーブルが表示され、このタイムテーブル上において、制限対象となる任意の機能とその制限時間帯が入力されて表示される（ステップＧ２，Ｇ３）。
【０１６０】
そして、「ＥＸＥ」キーにより確定操作が為されると、前記任意の制限機能とその制限時間帯とを設定表示したタイムテーブルのデータが、ＲＡＭ２３内の機能制限タイムテーブルメモリ２３ｉに対して記憶され、設定された機能制限処理が開始される（ステップＧ４，Ｇ５）。
【０１６１】
ここで、現在時刻の確認が行なわれると共に、前記ＲＡＭ２３内の機能制限タイムテーブルメモリ２３ｉに記憶されたタイムテーブルのデータが検索されて、制限機能に対応付けられた制限時間帯の開始時刻に前記現在時刻が一致するか否か判断される（ステップＧ６，Ｇ７，Ｇ８）。
【０１６２】
前記タイムテーブル上で設定された制限機能の制限開始時刻に現在時刻が一致しないと判断された場合には、前記制限時間帯の制限解除（終了）時刻に現在時刻が一致するか否か判断される（ステップＧ８→Ｇ９）。
【０１６３】
すなわち、前記ステップＧ８において、制限機能に対応付けられた制限時間帯の開始時刻に現在時刻が一致したと判断された場合には、当該制限対象機能の使用が不可能な制限処理に移行される（ステップＧ８→Ｇ１２）。
【０１６４】
そして、前記ステップＧ９において、前記制限時間帯の制限解除（終了）時刻に現在時刻が一致したと判断された場合には、それまで制限状態にあった機能の制限が解除され、この後、前記タイムテーブル上で設定されている全ての制限機能に対応する制限時間帯を現在時刻が経過したか否か判断される（ステップＧ９→Ｇ１０，Ｇ１１）。
【０１６５】
ここで、前記タイムテーブル上で設定されている全ての制限機能に対応する制限時間帯を現在時刻が経過してないと判断された場合には、再び前記ステップＧ６以降の処理に戻り、タイムテーブル上で設定されている次の制限時間帯に合わせた機能制限処理が前記同様に繰り返される（ステップＧ１１→Ｇ６〜Ｇ１０）。
【０１６６】
この後、前記タイムテーブル上で設定されている全ての制限機能に対応する制限時間帯を現在時刻が経過したと判断された場合には、前記一連のタイムテーブル機能制限処理による時間帯別の機能制限処理が終了される（ステップＧ１１→終了）。
【０１６７】
したがって、前記構成の第４実施形態（その６）に係る電子計算装置のタイムテーブル機能制限処理によれば、液晶表示部１３に表示されるタイムテーブル上で、制限対象機能とその制限時間帯とを入力して設定すると、当該タイムテーブル上の機能制限時間帯の制限開始時刻及び制限終了時刻と現在時刻とが比較一致判断され、各制限時間帯に対応した機能制限処理が成されるので、例えば複数の試験科目にそれぞれ対応した機能制限を、各試験の実施時間割りに沿って１回設定することで、全ての試験実施時間に合わせたそれぞれの不許可機能の制限処理を行なうことができる。
【０１６８】
なお、前記第４実施形態（その１）〜（その６）にて説明したそれぞれの機能制限処理にあって、次の第４実施形態（その７）（図２６・図２７参照）にて説明するように、適宜使用が可能なファンクションデータメモリ２３ｉに記憶されているユーザデータを、機能制限の実行に合わせて該機能制限中は読み出し不可能なメモリエリアに退避する構成を付加してもよい。
【０１６９】
図２６は本発明の第４実施形態（その７）に係る電子計算装置の機能制限時メモリ退避処理を示すフローチャートである。
【０１７０】
図２７は前記電子計算装置の機能制限時メモリ退避処理に伴なうファンクションデータメモリのデータ退避及び復帰表示状態を示す図である。
【０１７１】
機能制限設定キー３４の操作により、機能制限モードの制御プログラムが起動され、ＲＡＭ２３内の制限モードメモリ２３ｂに対して制限モードのフラグがセットされた後に（ステップＨ１）、キー操作によりメモリ非表示有無の設定が為されると共に（ステップＨ２）、前記第４実施形態（その１）〜（その６）と同様にして制限対象となる機能が選択設定され、その制限時間が指定入力されて、「ＥＸＥ」キーにより機能制限処理の実行入力が為されると、前記選択設定された制限機能及びその制限時間に従った機能制限処理の実行が開始される（ステップＨ３）。
【０１７２】
すると、ＲＡＭ２３内のファンクションデータメモリ２３ｊに記憶されている、つうじょうじは、たとえばず２７（Ａ）にしめすようによみだしひょうじされる、過去に蓄積された関数計算式等の全てのユーザデータが読み出され、同ＲＡＭ２３内の機能制限中には読み出しができない退避データメモリ２３ｋに対して転送されて退避される（ステップＨ４）。
【０１７３】
ここで、キー操作により前記ファンクションデータメモリ２３ｊに対するデータ呼び出し命令が入力されると（ステップＨ５）、前記ステップＨ２においてメモリ非表示の設定が成されたか否か判断され（ステップＨ６）、該メモリ非表示の設定が成されてないと判断された場合には、前記ステップＨ４において退避データメモリ２３ｋに転送退避されたユーザデータは前記ファンクションデータメモリ２３ｊに対して再転送されて戻され、退避データメモリ２３ｋ内のデータは消去される（ステップＨ６→Ｈ７）。
【０１７４】
そして、前記ファンクションデータメモリ２３ｊ内のユーザデータの読み出し表示処理が適宜行なわれる（ステップＨ８）。
【０１７５】
一方、前記キー入力操作によりファンクションデータメモリ２３ｊに対するデータ呼び出し命令が入力された際に（ステップＨ５）、前記ステップＨ２においてメモリ非表示の設定が成されていると判断された場合には、当該ファンクションデータメモリ２３ｊ内に記憶されている退避済みのユーザデータが消去される（ステップＨ６→Ｈ９）。
【０１７６】
そして、現在時刻が確認され（ステップＨ１０）、ＲＡＭ２３内の制限時間メモリ２３ｄに記憶されている機能制限の時間内であると判断された場合には、前期ユーザデータが退避されて消去されたファンクションデータメモリ２３ｊの内容が液晶表示部１３に表示される（ステップＨ１１→Ｈ１２）。
【０１７７】
この場合、前記ファンクションデータメモリ２３ｊ内には、記憶されているユーザデータが存在しないので、図２７（Ｂ）に示すように、過去に入力した関数計算式等のユーザデータは全く表示されることはないが、この機能制限中における必要なデータをユーザデータとして新たに書き込み及び読み出すことは可能である。
【０１７８】
一方、前記ステップＨ１０において確認された現在時刻が、制限時間メモリ２３ｄに記憶されている機能制限の時間内でないと判断された場合には、前記ステップＨ４において退避データメモリ２３ｋに転送退避されたユーザデータが前記ファンクションデータメモリ２３ｊに対し再転送されて戻された後、例えば図２７（Ｃ）に示すように、当該ファンクションデータメモリ２３ｊ内のユーザデータが液晶表示部１３に表示される（ステップＨ１１→Ｈ１３，Ｈ１２）。
【０１７９】
したがって、前記構成の第４実施形態（その７）に係る電子計算装置の機能制限時メモリ退避処理によれば、制限対象機能及びその制限時間の設定と共に、予めメモリ非表示の設定をすると、ＲＡＭ２３内のファンクションデータメモリ２３ｊ内に過去に蓄積記憶された種々の関数計算式等のユーザデータは、機能制限中は読み出し不能となる退避データメモリ２３ｋに対して転送退避されて消去され、ユーザデータの呼び出し命令が入力された際に、機能制限時間中である場合には、データ退避済みで過去のユーザデータが存在しないファンクションデータメモリ２３ｊの内容が読み出されて表示され、機能制限実行中でない場合には、前記退避データメモリ２３ｋに転送退避されたユーザデータがファンクションデータメモリ２３ｊへ戻された後、そのユーザデータが読み出されて表示されるので、機能制限処理の実行に伴ない、ファンクションデータメモリ２３ｊ内のユーザデータを消失せずとも、制限機能に関連する計算式等のユーザデータを読み出して利用可能となることを防止することができる。
【０１８０】
なお、前記第４実施形態（その１）〜（その７）では、その何れの電子計算装置にあっても、その個々の電子計算装置での入力操作により、機能制限のための設定操作を行なう構成としたが、例えば複数の電子計算装置を赤外線やオンライン等の通信手段を介して接続し、そのうち１台の電子計算装置における入力操作により設定した機能制限情報を、他の全ての電子計算装置に対し転送して同様の機能制限設定が成される構成とすれば、試験会場等における全受験者の電子計算装置に対する統一的な機能制限作業を、非常に簡単に行なうことができる。
【０１８１】
例えばパーソナルコンピュータ等の電子計算装置を各デスク上にオンラインで配置した教室において、該パーソナルコンピュータを試験中に使用許可した場合に、各パーソナルコンピュータの機能制限を試験内容に応じて容易且つ確実に行なうことができる。
【０１８２】
なお、前記第４実施形態（その１）〜（その７）において記載した電子計算装置における機能制限ためのそれぞれの手法、すなわち、図１４のフローチャートに示す時間指定機能制限処理、図１６のフローチャートに示す機能制限パスワード作成処理及びパスワードによる機能制限設定処理、図１８のフローチャートに示す時間指定機能別制限処理、図２０のフローチャートに示す時間指定機能別制限表示処理、図２２のフローチャートに示すプログラム機能制限処理及びプログラムモード処理、図２４のフローチャートに示すタイムテーブル機能制限処理、図２６のフローチャートに示す機能制限時メモリ退避処理等の各手法は、コンピュータに実行させることができるプログラムとして、メモリカード（ＲＯＭカード、ＲＡＭカード等）、磁気ディスク（フロッピーディスク、ハードディスク等）、光ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ等）、半導体メモリ等の外部記憶媒体２８に格納して配布することができる。そして、コンピュータは、この外部記憶媒体２８に記憶されたプログラムを磁気ディスク装置等の記憶媒体読み取り部２９によって読み込み、この読み込んだプログラムによって動作が制御されることにより、前記第４実施形態（その１）〜（その７）において説明した時間指定による機能制限の動作とその表示報知動作とを実現し、前述した手法による同様の機能制限処理を実行することができる。
【０１８３】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、複数の計算機能を有する関数電卓は、機能制限解除用キャップを装置本体に取り付けた時には全ての計算機能を利用可能とし、取り外した時には計算機能が制限されていることを示す表記が装置本体上に表され、一部の計算機能以外の機能を利用不可能にするようにしたので、学生の試験等において利用が許可されている計算機能以外の禁止の機能を前記機能制限解除用キャップの着脱に伴なう制限対象機能とすれば、この機能制限状態において該関数電卓を利用でき、しかも前記機能制限解除用キャップの着脱の有無によってその機能制限状態を確認できるようになる。
【０１８６】
よって、本発明によれば、複数種類備えられた機能の一部を制限し、且つその制限状態を外部に明確にして利用することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の電子装置の第１実施形態に係る電子計算装置の外観構成を示す正面図であり、同図（Ａ）は機能制限されていない通常使用状態を示す図、同図（Ｂ）は機能制限されている試験適合使用状態を示す図。
【図２】前記電子計算装置の電子回路の構成を示すブロック図。
【図３】前記電子計算装置の機能制限解除認識部と機能制限解除用キャップとの電気的接続状態を示す図であり、同図（Ａ）はその回路構成図、同図（Ｂ）はその動作波形図。
【図４】前記電子計算装置の機能制限解除認識部と機能制限解除用キャップとの電気的接続状態の他の実施形態（その１）を示す回路構成図であり、同図（Ａ）は機能制限解除用キャップ内に１つのフリップフロップＦＦを用いた場合の回路構成図、同図（Ｂ）は機能制限解除用キャップ内にフリップフロップＦＦを用いない場合の回路構成図。
【図５】前記電子計算装置の機能制限解除認識部と機能制限解除用キャップとの電気的接続状態の他の実施形態（その２）を示す回路構成図であり、同図（Ａ）は機能制限解除用キャップ内にショート回路を用いた場合の回路構成図、同図（Ｂ）は機能制限解除用キャップ内に抵抗回路を用いた場合の回路構成図、同図（Ｃ）は機能制限解除用キャップ内にダイオード回路を用いた場合の回路構成図。
【図６】前記第１実施形態の電子計算装置の装置本体に対する機能制限解除用キャップの取り付け構造及び機能制限解除回路の接続構造を示す部分断面図。
【図７】前記第１実施形態の電子計算装置における機能制限モードと機能制限解除モードとの電源投入に伴なう機能状態報知メッセージの表示動作を示す図であり、同図（Ａ）は機能制限モードでの表示動作を示す図、同図（Ｂ）は機能制限解除モードでの表示動作を示す図。
【図８】前記第１実施形態の電子計算装置による機能制限解除モードの設定メッセージの報知状態を示す図であり、同図（Ａ）は機能制限解除用キャップそのものによるメッセージ表示状態を示す図、同図（Ｂ）は機能制限解除用キャップそのものによるメッセージ音発生状態を示す図。
【図９】本発明の電子装置の第２実施形態に係る電子計算装置の外観構成を示す斜視図。
【図１０】前記第２実施形態の電子計算装置の装置本体に対する機能制限用プラグの取り付け構造及び機能制限解除回路の接続構造を示す部分断面図。
【図１１】本発明の電子装置の第３実施形態（その１）に係る電子計算装置の外観構成を示す正面図。
【図１２】本発明の電子装置の第３実施形態（その２）に係る電子計算装置の外観構成を示す正面図。
【図１３】本発明の電子装置の第４実施形態に係る電子計算装置におけるＲＡＭ内のメモリ構成を示す図。
【図１４】本発明の第４実施形態（その１）に係る電子計算装置の時間指定機能制限処理を示すフローチャート。
【図１５】前記電子計算装置の時間指定機能制限処理に伴なう制限機能及び制限時間の入力表示画面を示す図。
【図１６】本発明の第４実施形態（その２）に係る電子計算装置の機能制限パスワード生成処理及びパスワードによる機能制限設定処理を示すフローチャート。
【図１７】前記電子計算装置の機能制限パスワード生成処理及びパスワードによる機能制限設定処理に伴ない表示されるパスワード生成表示画面及び制限機能設定画面を示す図。
【図１８】本発明の第４実施形態（その３）に係る電子計算装置の時間指定機能別制限処理を示すフローチャート。
【図１９】前記電子計算装置の時間指定機能別制限処理に伴なう制限機能及び制限時間の入力表示画面を示す図。
【図２０】本発明の第４実施形態（その４）に係る電子計算装置の時間指定機能別制限表示処理を示すフローチャート。
【図２１】前記電子計算装置の時間指定機能別制限表示処理に伴ない表示される制限機能及び制限時間の入力表示画面と搭載機能選択用のメニュー画面とを示す図。
【図２２】本発明の第４実施形態（その５）に係る電子計算装置のプログラム機能制限処理及びプログラムモード処理を示すフローチャート。
【図２３】前記電子計算装置のプログラム機能制限処理及びプログラムモード処理に伴なう制限コマンドの入力表示画面及びプログラムの作成実行表示状態を示す図。
【図２４】本発明の第４実施形態（その６）に係る電子計算装置のタイムテーブル機能制限処理を示すフローチャート。
【図２５】前記電子計算装置のタイムテーブル機能制限処理に伴なうタイムテーブル上での機能制限設定表示状態を示す図。
【図２６】本発明の第４実施形態（その７）に係る電子計算装置の機能制限時メモリ退避処理を示すフローチャート。
【図２７】前記電子計算装置の機能制限時メモリ退避処理に伴なうファンクションデータメモリのデータ退避及び復帰表示状態を示す図。
【符号の説明】
１１ …装置本体、
１１ａ…プラグ穴、
１２ …キー入力部、
１３ …液晶表示部、
１３ａ…状態表示部、
１４ …機能制限解除用キャップ、
１４ｂ…キャップ側面表示部、
１４ｃ…電子音発生部、
１４Ａ…機能制限用プラグ、
１５ …制限解除メッセージ（通常使用）、
１６ …キャップ接続部、
１７ …制限メッセージ（試験対応）、
２１ …制御部（ＣＰＵ）、
２２ …ＲＯＭ、
２２ａ…機能制限時メッセージ（試験対応）、
２２ｂ…機能制限解除時メッセージ（全機能・全メモリ使用可能）、
２３ …ＲＡＭ、
２３ａ…表示データメモリ、
２３ｂ…制限モードメモリ、
２３ｃ…制限機能メモリ、
２３ｄ…制限時間メモリ、
２３ｅ…制限コマンドメモリ、
２３ｆ…タイマメモリ、
２３ｇ…制限メッセージメモリ、
２３ｈ…制限パスワードメモリ、
２３ｉ…機能制限タイムテーブル、
２３ｊ…ファンクションデータメモリ、
２３ｋ…退避データメモリ、
２４ …機能制限解除認識部、
２５ …表示駆動回路、
２６ …タブレット、
２７ …位置検出回路、
２８ …外部記憶媒体、
２９ …記憶媒体読み取り部、
３１ …キャップ（プラグ）内ＰＣＢ（回路基板）、
３２ …コネクタ、
３３ …本体側ＰＣＢ（回路基板）、
３４ …機能制限設定キー。

Claims (2)

1. 複数の計算機能を有する関数電卓であって、
   装置本体の上部に被せるように取り付けられる着脱可能な機能制限解除用キャップと、
   前記機能制限解除用キャップが取り付けられた状態で当該キャップにより隠される位置に計算機能が制限されていることを示す表記が付けられた装置本体と、
   前記機能制限解除用キャップを装置本体に取り付けた時には全ての計算機能を利用可能とし、取り外した時には一部の計算機能以外の機能を利用不可能とする機能制限制御手段と
   を具備したことを特徴とする関数電卓。
2. 前記機能制限制御手段は、
   前記装置本体に対する前記機能制限解除用キャップの取り付けに伴なう電気的接続及び取り外しに伴なう電気的切断を検出する断接検出手段と、
   この断接検出手段により前記装置本体に対する前記機能制限解除用キャップの電気的切断が検出された際と電気的接続が検出された際の何れか一方で該装置本体に搭載されている複数の計算機能のうちの一部の機能の起動を制限し、他方でその制限を解除する制御手段と
   を備えていることを特徴とする請求項１に記載の関数電卓。

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