JP4137061B2 - ワイヤループ形状、そのワイヤループ形状を備えた半導体装置、ワイヤボンディング方法 - Google Patents

ワイヤループ形状、そのワイヤループ形状を備えた半導体装置、ワイヤボンディング方法 Download PDF

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Description

本発明は、第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接合するワイヤボンディング方法、ワイヤループ形状及びこのワイヤループ形状を備えた半導体装置に関するものである。
従来より、半導体組立工程には図5に示すように、リードフレーム1にマウントされた半導体チップ2のパッド2a(第1ボンディング点A)とリードフレーム1のリード1a(第2ボンディング点Z)とをワイヤ3により接続する工程がある。この場合におけるワイヤ3のループ形状として、図5(a)に示す台形形状と図5(b)に示す三角形状とがある(例えば、特許文献1又は特許文献2参照)。
図5(a)に示す台形形状は、図6に示す工程により形成される。図6(a)に示すように、キャピラリ4が下降して第1ボンディング点Aに対しワイヤ先端に形成されたボール30をボンディングする。
次に図6(b)に示すように、キャピラリ4はB点まで上昇してワイヤ3を繰り出す。次に図6(c)に示すように、キャピラリ4を第2ボンディング点Zと反対方向にC点まで水平移動させる。
通常、キャピラリ4を第2ボンディング点Zと反対方向に移動させることをリバース動作という。これにより、ワイヤ3は、A点からC点まで傾斜した形状となり、ワイヤ3の部分に癖3aが付く。このA点からC点までの工程で繰り出されたワイヤ3は、図5(a)に示すネック高さ部H(2a〜3a間)となる。
続いて、図6(d)に示すように、キャピラリ4はD点まで上昇してワイヤ3を繰り出す。その後、図6(e)に示すように、キャピラリ4は再び第2ボンディング点Zと反対方向にE点まで水平移動、即ちリバース動作を行う。これにより、ワイヤ3は、C点からE点まで傾斜した形状となり、ワイヤ3の部分に癖3bが付く。
このC点からE点まで繰り出されたワイヤ3は、図5(a)に示す台形部長さ部分L(3a−3b間)となる。次に、図6(f)に示すように、キャピラリ4はF点まで上昇して図5(a)に示す傾斜部S(3b−1a)分だけワイヤ3を繰り出す。そして、図6(f)のf′、f″に示すように、キャピラリ4は下降して第2ボンディング点Zに位置し、第2ボンディング点Zにワイヤ3をボンディングする。
また、図5(b)に示す三角ループは、図7に示す工程により形成される。三角ループは、台形ループの台形部長さ部分L(3a−3b)を形成しないものであるので、図6(d)(e)に示す第2回目のリバース動作を行っていない。従って、図6(d)(e)(f(f′、f″を除く))の工程は、図7(d)の工程のみとなる。即ち、図6(b)(c)は図7(b)(c)と同じ工程であり、図7(c)に示す第1回目のリバース動作後、図7(d)に示すように、キャピラリ4はF点まで上昇してワイヤ3を繰り出す。その後、キャピラリ4は図6(f)のf′、f″と同様の図7(e(e′を含む))の動作を行って第2ボンディング点Zにワイヤ3をボンディングする。
しかし、この方法では、ネック高さ部H(2a−3a)を低くするためにリバース動作なしでループ形状を形成すると、ワイヤ3が第1ボンディング点Aから垂直に立ち上がっているので、ネック高さ部H(2a−3a)をある程度以下に低くしようとすると、ワイヤ3を引き回す際にネック高さ部Hにダメージを与えてしまうという問題点が生じる。
そこで、上記のような問題を解消するために、種々の発明がなされている。例えば特許文献3には、第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続したワイヤループにおいて、第1ボンディング点のボール頂上部分をワイヤの一部を含めて潰した状態にしたことを特徴とするワイヤループ形状が開示されている。
そして、このワイヤループ形状によれば、安定した低ワイヤループ形状及び形状保持力の高いワイヤループ形状とすることができ、配線距離の短い短ループは勿論のこと、配線距離の長い長ループにおいても安定した低ループ形状が得られる。また外部からの加圧に対して形状保持力が高いループが形成されるので、外部からの加圧によるワイヤ曲がり・倒れ・ネック切れが防止できる。たとえば、第2ボンディング点Zへのボンディング時におけるキャピラリ接触や超音波発振による衝撃、またワイヤの振動、またモールド時のモールド材注入によるモールドの流れ等の外力に対し、高いショック吸収能力があり、ワイヤ曲がり・倒れ・ネック切れを防止できるとされている。
特開平10−256297号公報(図6) 特開2000−227558号公報(図2) 特開2004−172477号公報(明細書全文)
しかしながら、上述の特開2004−172477号記載の発明は、第1ボンディング点のボール頂上部分にワイヤの一部を含めて潰したキャピラリ跡が発生してしまうため、第1ボンディング点へダメージを与えるおそれを懸念されないとも限らない。また、第1ボンディング点で潰したワイヤループの一部がボンディング点からリバース方向に向かってはみ出すことがあるので、配線が精細で、かつワイヤループの配線方向が半導体チップ端に対し斜め方向の場合に、はみ出したワイヤループが隣り合う第1ボンディング点のワイヤと接触する可能性が全くないというわけにもいかない。
本発明は、上述のような実情に鑑みなされたもので、その課題は第1ボンディング点のボール頂上部分にキャピラリによるワイヤの潰し跡を発生させることなく、安定した低ワイヤループ形状及びネック高さ部のダメージの少ないワイヤループ形状を提供し、かつ前記ワイヤループ形状を適用した半導体装置及び前記ワイヤループ形状を形成するためのワイヤボンディング方法を提供することにある。
本発明は、上記課題を達成するために、次の技術的手段を講じている。
即ち、請求項1記載のワイヤループ形状は、第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続したワイヤループ形状において、第1ボンディング点に上方からキャピラリが下降してワイヤ先端に形成されたボールを接続して該キャピラリ内部にボールの入り込み部を形成する第1の工程と、続いてキャピラリを第2ボンディング点方向へと斜め上昇させキャピラリ内部に入り込んだボールの入り込み部を第2ボンディング方向へ傾斜させる第2の折曲工程と、続いてキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点方向へ水平移動を行い、更に上昇移動を行った後に、第2ボンディング点方向へ水平移動させてループコントロールを行う第3の折曲工程と、次にキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点と逆方向へ水平移動又は斜め方向に下降移動させ、更に上昇移動させてループコントロールを行いながらワイヤを繰り出して第2ボンディング点方
向に移動させてワイヤを第2ボンディング点に接続する第4のループ制御工程とにより形成したことを特徴としている。
なお、前記第3の折曲工程をn回(nは1,2,3・・・)繰り返して折り曲げ癖をつけるようにしてもよい。
また、上記課題を解決するために請求項3記載のワイヤボンディング方法は、
第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続するワイヤボンディング方法において、第1ボンディング点にワイヤ先端に形成されたボールを接続する第1の工程と、続いてキャピラリを第2ボンディング点方向へと斜め上昇させキャピラリ内部に入り込んだボールの入り込み部を第2ボンディング方向へ傾斜させる第2の折曲工程と、続いてキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点方向へ水平移動を行い、更に上昇移動を行った後に、第2ボンディング点方向へ水平移動させてループコントロールを行う第3の折曲工程と、次にキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点と逆方向へ水平移動又は斜め方向に下降移動させ、更に上昇移動させてループコントロールを行いながらワイヤを繰り出して第2ボンディング点方向に移動させてワイヤを第2ボンディング点に接続する第4のループ制御工程とを備えたことを特徴としている。
なお、前記第3の折曲工程をn回(nは1,2,3・・・)繰り返すようにしてもよい。
また、上記課題を解決するために請求項3記載のワイヤボンディング方法は、
第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続するワイヤボンディング方法において、第1ボンディング点に上方からキャピラリが下降してワイヤ先端に形成されたボールを接続して該キャピラリ内部にボールの入り込み部を形成する第1の工程と、続いてキャピラリを第2ボンディング点方向へと斜め上昇させキャピラリ内部に入り込んだボールの入り込み部を第2ボンディング方向へ傾斜させる第2の折曲工程と、続いてキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点方向へ水平移動を行い、更に上昇移動を行った後に、第2ボンディング点方向へ水平移動させてループコントロールを行う第3の折曲工程と、次にキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点と逆方向へ水平移動又は斜め方向に下降移動させ、更に上昇移動させてループコントロールを行いながらワイヤを繰り出して第2ボンディング点方向に移動させてワイヤを第2ボンディン
グ点に接続する第4のループ制御工程とを備えたことを特徴としている。
なお、前記第3の折曲工程をn回(nは1,2,3・・・)繰り返して折り曲げ癖をつけるようにしてもよい。
このように、図4(b)に示すキャピラリ4の斜め上昇移動等によって、入り込み部hを傾斜させることができるが、これにより、ネック高さ部Hを低くしたままの状態で、低いワイヤループ形状を提供することが可能となる。また、ワイヤ30の折り曲げ箇所(癖)を複数箇所に設けたので、入り込み部hやネック部にダメージを与えることなく、かつ第1ボンディング点Aにキャピラリによる潰し跡を付けることなく低ワイヤループ形状を形成することができる。
以下、本発明の半導体装置、ワイヤループ形状及びワイヤボンディング方法の一実施形態を図1乃至図4に基づき説明する。なお、図1(b)は(a)の二点鎖線で囲まれた円形部分の拡大図、図2は当該ワイヤループ形状を形成するときのキャピラリの移動軌跡を示し、図3は第1ボンディング点にボールボンディングするときにキャピラリの中空内部に入り込むボールの入り込み部を示し、図4はワイヤループの形成工程を示す図である。
なお、以後の説明において、従来と同一又は相当する部材若しくは相当部分には同一符号を付して説明する。
本実施の形態に係る半導体装置10は、図1(a)に示すように、リードフレーム1にマウントされた半導体チップ2のパッド2a(第1ボンディング点A)とリードフレーム1のリード1a(第2ボンディング点Z)とをワイヤ3により接続した構造のものである。
ワイヤループ形状は三角ループで、第1ボンディング点Aのボールボンディング時に、図3に示すように、キャピラリ4内部に入り込んだボールの一部で形成される入り込み部hを、図1(a),(b)に示すように、第2ボンディング点Z方向へ傾斜させている。
このように入り込み部hを、第2ボンディング点Z方向に傾斜させているので、ネック高さ部H(2a−3a)が従来の三角ループの垂直形状のネック高さ部Hに比較してネック部にダメージを与えることなく低くすることができる。すなわち、低ワイヤループ形状を得ることができ、半導体装置10自体の薄型化をはかることができる。
次に、図1に示すような半導体装置10を得るための本発明によるワイヤボンディング方法の一実施の形態を図4により説明する。
まず、図4(a)に示すように、ワイヤ3をクランプするクランパ(図示せず)は開状態で、キャピラリ4が下降して第1ボンディング点Aにワイヤ先端に形成されたボール30をボンディングする。次に図4(b)に示すようにキャピラリ4はB点まで斜め方向に上昇移動してワイヤ3を繰り出しつつ、入り込み部h(第1ボンディング点のボールのうち第1の工程によってキャピラリ内部に入り込んだ部分)を傾斜させる。次に図4(c)に示すようにキャピラリ4をC点(この点は任意選択可能)まで上昇移動さると癖3aが付き、ワイヤ3をさらに繰り出す。


次に図4(d)に示すように、キャピラリ4は第2ボンディング点Zの方向へ水平移動する。この動作により、ワイヤ3は、B点からC点まで傾斜した形状となり、ワイヤ3の部分に癖3bが付く。そして、図4(e)に示すようにキャピラリ4をD点(この点は任意選択可能)まで上昇移動させ、さらにワイヤ3を繰り出す。
次に、図4(f)に示すように、キャピラリ4は第2ボンディング点Zの方向へ水平移動する。これにより、C点からD点まで傾斜した形状となり、ワイヤ3の部分に癖3cが付く。次に、図4(g)に示すように、キャピラリ4をE点(この点は任意選択可能)まで上昇移動させ、さらにワイヤ3を繰り出す。
続いて、図4(h)または(h′)に示すように、キャピラリ4は第2ボンディング点Zと反対方向に移動、即ちリバース動作を行いF(F′)点までほぼ水平移動又は斜め方向に下降移動する。このE点からF(F′)点までの動作により、ワイヤ3にはF(F′)点に癖が付く。次に図4(i)に示すように、キャピラリ4はG点まで上昇して図2に示す傾斜部Sの形成に必要な長さだけワイヤ3を繰り出す。
その後は従来と同様に、図4(j)に示すように、キャピラリ4は下降して第2ボンディング点Zに位置させ、ワイヤ3をボンディングする。
なお、前記キャピラリ4は0〜500μmの範囲内で移動可能とし、且つ、第1ボンディング点Aと第2ボンディング点Zを結ぶ線を基準として360°方向に移動可能とするのが好ましい。
実験的には、ネックダメージを与えない範囲のネック高さ部Hの高さは、従来の三角ループで120〜130μm、上記実施の形態に係るワイヤループ形状では65〜70μmであった。なお、特許文献3に示す技術のように、第1ボンディング点Aにキャピラリによる潰し後を付ける構成のときには、ネック高さ部Hは50μm以内にすることが可能である。
なお、上記実施の形態では、図4(b)で入り込み部hの傾斜を形成し、図4(c)から4(f)にかけて安定折り曲げ癖付けを2回行って2個所の癖付けをしているが、図4(f)工程の後、図4(c)から図4(f)までの一連の動作をn回繰り返すことにより、ネックダメージのない、安定した形状保持が高い低ワイヤループ形状が形成されることとなる。
本発明の実施の形態であるワイヤループ形状は、上記のようなワイヤボンディング方法によって形成され、また、本発明の実施の形態である半導体装置はこのようなワイヤループ形状を備えたものである。
本発明は、ネック高さ部を低くすることができる上に、従来の低ループより強い立ち上がり部を形成することができるため、安定した低ワイヤループ形状及びネック高さ部のダメージの少ないワイヤループ形状を形成するのに好適に利用することができる。
(a)は本発明に係る半導体装置とそのワイヤループ形状の一実施の形態を示す説明図、(b)は(a)の部分拡大図である。 本発明に係るワイヤループ形状のキャピラリの移動軌跡とワイヤ接続状態を一実施の形態として示す説明図である。 入り込み部の説明図である。 (a)〜(j)は本実施形態における各工程のキャピラリ移動によるワイヤ形態を示す状態図である。 (a)は従来の台形ループのワイヤループ形状を示す図、(b)は従来の三角ループのワイヤループ形状を示す図である。 (a)〜(f)は図5(a)の台形ループを形成するキャピラリの移動軌跡による各時点でのワイヤ形状を示す状態図である。 (a)〜(e)は図5(b)の三角ループを形成するキャピラリの移動軌跡による各時点でのワイヤ形状を示す状態図である。
符号の説明
1 リードフレーム
1a リード
2 チップ
2a パッド
3 ワイヤ
4 キャピラリ
30 ボール
h 入り込み部
H(2a−3a) ネック高さ部
S 傾斜部
A 第1ボンディング点
Z 第2ボンディング点

Claims (6)

  1. 第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続したワイヤループ形状において、第1ボンディング点に上方からキャピラリが下降してワイヤ先端に形成されたボールを接続して該キャピラリ内部にボールの入り込み部を形成する第1の工程と、続いてキャピラリを第2ボンディング点方向へと斜め上昇させキャピラリ内部に入り込んだボールの入り込み部を第2ボンディング方向へ傾斜させる第2の折曲工程と、続いてキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点方向へ水平移動を行い、更に上昇移動を行った後に、第2ボンディング点方向へ水平移動させてループコントロールを行う第3の折曲工程と、次にキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点と逆方向へ水平移動又は斜め方向に下降移動させ、更に上昇移動させてループコントロールを行いながらワイヤを繰り出して第2ボンディング点方向に移動させてワイヤを第2ボンディング点に接続する第4のループ制御工程とにより形成したことを特徴とするワイヤループ形状。
  2. 前記第3の折曲工程をn回(nは1,2,3・・・)繰り返して折り曲げ癖をつけることを特徴とする請求項1記載のワイヤループ形状。
  3. 第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続するワイヤボンディング方法において、第1ボンディング点にワイヤ先端に形成されたボールを接続する第1の工程と、続いてキャピラリを第2ボンディング点方向へと斜め上昇させキャピラリ内部に入り込んだボールの入り込み部を第2ボンディング方向へ傾斜させる第2の折曲工程と、続いてキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点方向へ水平移動を行い、更に上昇移動を行った後に、第2ボンディング点方向へ水平移動させてループコントロールを行う第3の折曲工程と、次にキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点と逆方向へ水平移動又は斜め方向に下降移動させ、更に上昇移動させてループコントロールを行いながらワイヤを繰り出して第2ボンディング点方向に移動させてワイヤを第2ボンディング点に接続する第4のループ制御工程とを備えたことを特徴とするワイヤボンディング方法。
  4. 前記第3の折曲工程をn回(nは1,2,3・・・)繰り返すことを特徴とする請求項3記載のワイヤボンディング方法。
  5. 第1ボンディング点と第2ボンディング点との間をワイヤで接続されたワイヤループ形状を有する半導体装置において、第1ボンディング点に上方からキャピラリが下降してワイヤ先端に形成されたボールを接続して該キャピラリ内部にボールの入り込み部を形成する第1の工程と、続いてキャピラリを第2ボンディング点方向へと斜め上昇させキャピラリ内部に入り込んだボールの入り込み部を第2ボンディング方向へ傾斜させる第2の折曲工程と、続いてキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点方向へ水平移動を行い、更に上昇移動を行った後に、第2ボンディング点方向へ水平移動させてループコントロールを行う第3の折曲工程と、次にキャピラリを上昇移動させた後、第2ボンディング点と逆方向へ水平移動又は斜め方向に下降移動させ、更に上昇移動させてループコントロールを行いながらワイヤを繰り出して第2ボンディング点方向に移動させてワイヤを第2ボンディング点に接続する第4のループ制御工程とにより形成したワイヤループ形状を有することを特徴とする半導体装置。
  6. 前記第3の折曲工程をn回(nは1,2,3・・・)繰り返して折り曲げ癖をつけることを特徴とする請求項5記載の半導体装置。
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