JP4098283B2 - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4098283B2
JP4098283B2 JP2004223542A JP2004223542A JP4098283B2 JP 4098283 B2 JP4098283 B2 JP 4098283B2 JP 2004223542 A JP2004223542 A JP 2004223542A JP 2004223542 A JP2004223542 A JP 2004223542A JP 4098283 B2 JP4098283 B2 JP 4098283B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
holding plate
chamber
substrate holding
rotating frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004223542A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004332117A (ja
Inventor
秀幸 小田木
真人 宍倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to JP2004223542A priority Critical patent/JP4098283B2/ja
Publication of JP2004332117A publication Critical patent/JP2004332117A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4098283B2 publication Critical patent/JP4098283B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Description

本発明は、ターゲットと基板を鉛直にして薄膜を成膜するスパッタリング技術にかかり、特に、基板を水平移動させる基板搬送ロボットに対応したスパッタリング方法と、そのスパッタリング方法に適した基板保持装置に関する。
薄膜を成膜するためのスパッタリング方法は、半導体素子や液晶素子を製造するために欠かせない技術となっており、特に、装置の組合せが柔軟であり、ダストの発生が少ないことから、基板搬送ロボットを使用した枚葉式スパッタリング方法が主流となっている。
図8に、そのような従来技術の枚葉式のスパッタリング装置101を示すと、該スパッタリング装置101は、基板の搬出入を行うL/UL室102と、基板搬送ロボット107が設けられた搬送室108と、ターゲット111が天井に設けられたスパッタ室106とがこの順で配置され構成されている。前記L/UL室102と前記搬送室108との間と、前記搬送室108と前記スパッタ室106との間は、それぞれ仕切バルブ105、109によって仕切られており、個別に真空排気できるように構成されている。
前記L/UL室102にはカセット昇降機構114が設けられており、前記スパッタ室106に基板を搬入するためには、先ず、前記L/UL室102と大気との間に設けられた扉103を開け、成膜対象の基板が満載されたカセット120を前記L/UL室102内に装着する。そして、前記扉103を閉じ、図示しない真空ポンプを起動して前記L/UL室102を真空排気した後、前記仕切バルブ105を開け、前記基板搬送ロボット107と前記カセット昇降機構114とを用いて、前記カセット120から基板を1枚ずつ取り出す。次いで、前記仕切バルブ109を開け、前記基板搬送ロボット107のハンド上に乗せた基板を前記スパッタ室106内に搬入する。
前記スパッタ室106内の底面には複数の支持棒104が立設されており、前記ハンド上に乗せた基板を前記ターゲット111と前記各支持棒104の間に位置させ、前記各支持棒104の下端に設けられた基板昇降機構112を動作させて前記各支持棒104を持ち上げると前記基板は前記各支持棒104の上端部分に乗せられる。
その状態で前記スパッタ室106から前記基板搬送ロボット107のハンドを抜き出すと、基板と前記ターゲット111とが対向配置されるので、前記仕切バルブ109を閉じてスパッタリングガスを導入してスパッタリングを開始できる状態になる。図8の符号113は前記各支持棒104に乗せられた状態の基板である。
このスパッタリング装置101では、前記スパッタ室106の底面に平板状のヒーター110が配置されており、前記基板昇降機構112を動作させ、前記各支持棒104を下げると前記基板113は前記ヒーター110上に置かれるので、加熱しながら薄膜を成長させることができるものである。
しかしながら、前記支持棒104は基板を水平に支持するため、前記スパッタ室106内でダストが発生すると、前記基板113表面に落下してしまう。このスパッタ室106の場合、前記ターゲット111が前記スパッタ室の天井に配置されているので、ターゲット111の保持枠等に堆積したターゲット材が剥離すると、前記成膜中の基板113の表面に落下し、薄膜に欠陥が生じ、歩留まりが悪くなってしまう。
特公平06−060394号公報 特開平04−030517号公報
本発明は上記従来技術の不都合を解決するために創作されたもので、その目的は、膜欠陥や基板のそり、歪みを生じさせずに大面積基板に薄膜を成膜することができるスパッタリング方法と、そのスパッタリング方法に適した基板保持装置を提供することにある。
上記課題を解決するために請求項1記載の発明は、成膜室内に鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、前記成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とを有し、シャフトと、前記シャフトに取り付けられた保持板回転枠とを有し、前記シャフトの回転によって前記保持板回転枠が回転するように構成されたスパッタリング装置であって、前記基板保持板は矩形形状に形成され、前記保持板回転枠の内側にはめ込まれていると共に、前記基板保持板にはヒーターが設けられ、前記基板よりも小さい矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽され、前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とするスパッタリング装置である。
請求項2記載の発明は、成膜室内に鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、前記成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とを有し、前記基板保持板と基板が同じ大きさであり、前記基板よりも小さい矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽され、前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とするスパッタリング装置である。
請求項3記載の発明は、成膜室内に鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、前記成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構と、シャフトと、前記シャフトに取り付けられた保持板回転枠とを有し、前記シャフトの回転によって前記保持板回転枠が回転するように構成されたスパッタリング装置であって、前記基板保持板は矩形形状に形成され、前記保持板回転枠の内側にはめ込まれていると共に、前記基板保持板にはヒーターが設けられ、前記基板保持板と基板が同じ大きさであり、前記基板よりも小さい矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽され、前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とするスパッタリング装置である。
請求項4記載の発明は、前記基板保持板には、前記基板保持板上に配置された水平な基板を持ち上げる複数本の棒が挿通され、前記マスク回転枠は、水平な状態で前記棒によって持ち上げられ、前記シャフトから取り外せるように構成されたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
請求項5記載の発明は、前記基板は、550×650mm2以上であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
請求項6記載の発明は、前記基板を搬送する基板搬送ロボットと、前記基板搬送ロボットが配置された基板搬送室とを有し、前記成膜室が前記基板搬送室に接続された請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
請求項7記載の発明は、複数の前記成膜室が前記基板搬送室の周囲に接続されたことを特徴とする請求項6記載のスパッタリング装置である。
請求項8記載の発明は、基板の搬出入を行うL/UL室と基板の脱ガスを行う予備加熱室が前記基板搬送室の周囲に配置されていることを特徴とする請求項6又は請求項7のいずれか1項に記載のスパッタリング装置である。
請求項9記載の発明は、前記基板搬送室とその周囲に配置された各室との間には開閉可能な仕切板が設けられており、前記基板搬送室とその周囲の各室とは、それぞれが独立に高真空状態を維持できるように構成されていることを特徴とする請求項7又は請求項8のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
このような本発明方法の構成によると、基板搬送ロボットを用いて基板を水平に移動させて搬入する際、基板を水平にしたままで基板保持板上に乗せてクランプし、次いで前記基板保持板を起立させるので、基板を脱落することなく鉛直にすることができ、そして、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットと平行に対向させてスパッタリングを行えば、成膜の際に基板表面にダストが落下することはない。
前記基板保持板にヒーターを設ければ、鉛直にされた基板を加熱しながら膜成長をさせることができるので、結晶性のよい薄膜を成膜することが可能となる。また、前記基板は前記基板保持板に密着されているので、加熱しても基板にそりや歪みが生じることがない。
このような本発明方法を行う際、基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に移動されて搬入された基板を水平のまま乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とが設けられた基板保持装置を使用すると基板を簡単に鉛直にできて都合がよい。
また、この基板保持装置で基板を鉛直にしたときに、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットと基板とが直ちに平行に対向されるようにしておけば、鉛直にした状態で基板を移動させなくて済み、装置の構成が簡単になる。
ところで、一般に広く用いられている真空用基板搬送ロボットでは、ハンド上に基板を乗せて水平に移動させることはできるが、ハンドを上下に動かして、基板を上下に移動させることはできないのが普通である。そこで、前記ハンド上に乗せられた基板が前記基板保持板上に位置するときに、その基板を持ち上げて上下移動させる第1の基板仮置機構と、前記基板保持板上に乗せられた基板を持ち上げて上下移動させる第2の基板仮置機構とをこの基板保持装置に設けておけば、前記第1、第2の基板仮置機構の動作と前記ハンドの動作によって、前記ハンド上にある未成膜の基板と前記基板保持板上にある成膜が終了した基板とを、それぞれ前記第1、第2の基板仮置機構に置いて交換できるようになるので、基板搬送ロボットに無駄な動きがなくなって、基板交換時間、ひいては成膜処理時間を短縮させることが可能となる。
その際、前記基板保持板にヒーターを設け、密着された基板を加熱しながらスパッタリングを行えば、そりや歪みを生じさせずに結晶性のよい薄膜を得ることができて好ましい。
基板にダストが落下せず、また、大型基板にそりや歪みを生じさせずに結晶性のよい薄膜を成膜することができる。
基板交換が効率的に行えるので、処理時間が短縮する。装置が大型化しないのでコストアップすることはない。
本発明方法の実施の形態を、その方法に用いられる基板保持装置の発明の実施の形態と共に図面を用いて説明する。
図1を参照し、2は本発明の基板保持装置であり、外周が四辺形の保持板回転枠5とシャフト21とを有している。前記シャフト21は水平に配置されており、前記保持板回転枠5は前記シャフト21に取り付けられ、この図1では水平にされている。
この基板保持装置2は、図2に示すような成膜室42内に配置されており、前記保持板回転枠5の内側には矩形形状に形成された基板保持板3がはめ込まれ、前記成膜室42内であって前記基板保持板3の下方にはベース17が水平に配置され、前記成膜室42の外部であって前記ベース17の下方には、基板昇降板12が水平に配置されている。
前記基板昇降板12は、図示しないモーターによって上下移動自在に構成されており、該基板昇降板12と前記ベース17とは、4つの中空円筒の支柱19で連結されて一緒に上下移動できるようにされている。前記各支柱19は、それぞれ伸縮自在な金属ベローズ11で気密に覆われており、前記基板昇降板12と前記ベース17の上下移動させたときでも、前記成膜室42内に大気が侵入しないようにされている。
前記ベース17の前記各支柱19が固定されている部分には丸穴14が開けられており、前記各丸穴14を通して前記各支柱19内に支持棒8が1本ずつ挿入されている。前記各支持棒8の下端部分は前記基板昇降板12に気密に挿通され、先端が前記基板昇降板12の裏面から突き出た部分には、それぞれプーリー25が設けられている。他方、前記各支持棒8の上端部分の上方には前記保持板回転枠5が位置するようにされており、該保持板回転枠5の、前記各支持棒8の上方に位置する部分には、孔13が開けられており、前記基板昇降板12を下方から上昇させたときに、前記各支持棒8が前記孔13に挿通され、前記各支持棒8の先端部分が前記保持板回転枠5上に出られるようにされている。
前記各支持棒8の高さは同じになるように揃えられて、それらの先端には爪部9がそれぞれ設けられており、また、前記孔13は前記基板保持板3の四隅付近に位置するように配置されている。従って、前記各支持棒8を前記孔13上に出し、前記各爪部9を前記基板保持板3上に位置するように向けた場合には、前記各爪部9上に前記基板保持板3とほぼ同じ大きさの基板を一時的に乗せることができるので、前記支持棒8と前記爪部9とで第1の基板仮置機構が構成されていることになる。
また、前記ベース17には8本のピン7が立設されており、前記各ピン7は、それらの上方に前記基板保持板3の縁が位置するように配置されている。前記基板保持板3の縁の、前記各ピン7の上方の位置する部分には孔15が開けられており、前記ベース17を下方から上昇させたときに、前記各ピン7が前記孔15に挿通され、それらの先端部分が前記基板保持板3の縁上に出られるようにされている。
前記各ピン7の高さは同じになるように揃えられ、それらの先端には爪部10がそれぞれ設けられており、また、前記孔15は前記基板保持板3の相対する2つの縁上に3個ずつと、残りの2辺の縁上に1個ずつ配置されており、前記各ピン7を前記基板保持板3上に出せば、前記各爪部10上に前記基板保持板3とほぼ同じ大きさの基板を一時的に乗せることができるので、前記各ピン7と前記各爪部10とで第2の基板仮置機構が構成されていることになる。
前記基板昇降板12の表面にはロータリーアクチュエーター24が設けられており、該基板昇降板12は前記ロータリーアクチュエーター24の回転軸が貫通され、その裏面に突き出た部分と前記プーリー25にはベルト26が掛けられており、前記ロータリーアクチュエーター24の回転力が前記各支持棒8に伝達され、前記各支持棒8が回動できるように構成されている。
そのロータリーアクチュエーター24によって、前記各支持棒8を回動させる際、前記支持棒8先端の前記爪部9は、4つ全部が前記基板保持板3の縁に沿う方向に向けられるか、前記基板保持板3の内側に向けられるかのいずれか一方の状態となるようにされており、前記各爪部9を縁に沿う方向に向ければ前記爪部9は前記孔13に引っかからず、前記支持棒8を前記孔13から出し入れができ、他方、前記各爪部9を内側に向けたときは、前記各爪部9は前記基板保持板3上に位置するようにされており、前記ロータリーアクチュエーター24を動作させて前記各支持棒8を回動させると、一方の状態から他方の状態へ切り替えられるようにされている。
また、前記爪部9の位置よりも前記爪部10の位置が低く、前記爪部9の高さと前記爪部10の高さとの間には、基板搬送ロボットのハンドを挿入できる程度の差が設けられている。
前記シャフト21には、モーター23と、該モーター23の回転方向を変換するウォームギア27とで構成された回転機構が設けられており、該回転機構を動作させ、前記シャフト21を回転させると前記保持板回転枠5と前記基板保持板3とを水平にも鉛直にもできるようにされており、前記支持棒8と前記ピン7とを前記孔13、15から抜き出して前記シャフト21を回転させれば、前記基板保持板3が前記ピン7や前記支持棒8とぶつかることがないようにされている。
また、前記保持板回転枠5には基板クランプ機構4が設けられており、水平にされた前記基板保持板3を起立させる際、その基板保持板3に基板を水平に乗せ、前記基板クランプ機構4によって基板をクランプしておけば、前記基板保持板3が略鉛直な状態にされても基板が脱落しないようにされている。
他方、前記シャフト21上には、前記保持板回転枠5よりもわずかに大きめに形成されたマスク回転枠6が鉛直に配置されており、該マスク回転枠6は2本の支持腕36に固定され、前記2本の支持腕36は、前記シャフト21に回転可能に取り付けられ、また、クランク機構38と成形ベローズ35とを介して前記成膜室42外に配置された圧空シリンダ34にも気密に接続されている。従って、前記マスク回転枠6は前記シャフト21で支持されているが、前記クランク機構38を静止させておけば、前記シャフト21が回転した場合でも、前記マスク回転枠6は回転せず、鉛直状態を維持できるように構成されている。
このマスク回転枠6の内側は成膜対象の基板よりもやや小さめの矩形形状にくりぬかれ、それによって窓部16が形成されており、前記保持板回転枠5が起立され、略鉛直にされて前記基板保持板3にクランプされた基板が前記マスク回転枠6に重ねられる際、その基板の無効領域である周辺部分は前記マスク回転枠6で遮蔽され、一方、基板表面の成膜領域は前記窓部16で露出されるようにされている。また、前記カソード電極33に略鉛直に設けられた図示しないスパッタリングターゲット(例えばITO材)に対し、前記略鉛直にされた基板は、直ちに所定間隔で平行に対向するようにされている。
このような成膜室42が、図7に示すようなマルチチャンバー型の成膜装置41に複数設けられており、更に、該成膜装置41には、基板の搬出入を行うL/UL室441、442と、基板の脱ガスを行う予備加熱室43も設けられており、各室は、基板搬送ロボット31が配置された基板搬送室45を中心としてその周囲に配置されている。
前記基板搬送室45とその周囲に配置された各室との間には開閉可能な仕切板が設けられており、中心の前記基板搬送室45とその周囲の各室とは、それぞれが独立に高真空状態を維持できるように構成されている。
この成膜装置41で処理する基板は大型のガラス基板(例えば550×650mm2)であり、前記L/UL室441、442と大気雰囲気との間に設けられた仕切板を開け、未処理のガラス基板が満載されたカセットを前記L/UL室441、442のどちらかに装着し、仕切板を閉じた後真空排気し、前記基板搬送ロボット31を動作させてそのハンド32の先端を前記カセットに挿入し、前記L/UL室441、442に設けられたカセット昇降機構を動作させ、前記カセットから前記ハンド32上に基板を1枚だけ移す。
次いで、前記L/UL室441、又は前記L/UL室442から前記ハンド32を抜き出し、前記予備加熱室43に基板を搬入する。所定時間が経過し、前記予備加熱室43での加熱・脱ガス処理が終了すると、その基板を前記ハンド32で取り出し、前記成膜室42の正面まで運ぶ。図3はその状態を示している。前記ハンド32上には加熱・脱ガスが終了した未成膜基板51が乗せられている。ここでは、前記成膜室42内の成膜作業は終了しており、図3に鉛直状態で示された前記保持板回転枠5内には所定膜厚の薄膜が成膜された成膜終了基板52がクランプされているものとする。
前述の図3は、いわば基板の入れ替え準備段階であり、引き続き行われる前記未成膜基板51と前記成膜終了基板52との交換作業を、図4(a)〜図6(n)を用いて説明する。この図4(a)〜図6(n)では、見やすいように前記未成膜基板51と前記成膜終了基板52以外の符号を省略してある。
先ず、図3の入れ替え準備段階から、前記成膜室42と前記基板搬送室45との間の仕切板を開けると共に前記基板クランプ機構4によって成膜終了基板52をクランプしながら前記基板保持板3を転倒させ、前記成膜終了基板52を水平にする(図4(a):転倒動作)。
次に、前記クランプを解除し、前記基板昇降板12を上昇させると前記各支持棒8は前記孔13に挿通される。このとき、前記各支持棒8先端の前記爪部9を前記基板保持板3の縁に沿った方向に向けておけば前記各爪部9は前記基板保持板3上に置かれた前記成膜終了基板52には当たることはなく、前記各爪部9を前記成膜終了基板52よりも高い位置まで上昇させることができる(同図(b):フックアップ動作(1))。
そして、前記ロータリーアクチュエーター24を動作させ、前記各爪部9を前記基板保持板3の内側に向けると前記各爪部9は前記基板保持板3上に位置される(同図(b):フックイン動作)。
その状態を維持しながら前記ハンド32を前記成膜室42内に入れ、その先端に乗せられた前記未成膜基板51を前記各爪部9上まで移動させ(同図(d):ハンドイン動作(1))、前記各支持棒8を更に持ち上げると、前記ハンド32の先端に乗せられていた前記未成膜基板51は前記各爪部9上に移しかえられる(図5(e):フックアップ動作(2))。
すると、前記ハンド32は空の状態となるので、そのハンド32を前記基板保持板3上から抜き出す(同図(f):ハンドアウト動作(1))。
次に、前記ベース17を上昇させて前記各ピン7を持ち上げると、前記各ピン7先端の爪部10に前記成膜終了基板52が乗せられる(同図(g):ピンアップ動作)。
このとき、前記成膜終了基板52を、前記ハンド32の高さよりも高くなるまで持ち上げておき、前記空のハンド32を前記成膜終了基板52の下に挿入する(同図(h):ハンドイン動作(2))。
次に、前記各ピン7を下げると前記成膜終了基板52は前記爪部10上から前記ハンド32上に移しかえられる(同図(i):ピンダウン動作)。前記ハンド32を前記成膜室42外へ抜き出すと(同図(j):ハンドアウト動作(2))、前記成膜室42から前記成膜終了基板52を搬出することができる。
前記孔13には、前記各爪部9を内側に向けたままで収納できるように、前記基板保持板3に達する切り欠きが設けられているので、前記各支持棒8を下げ、前記孔13の切り欠きに内側に向けたままの前記爪部9を収納すると、前記爪部9上にあった前記未成膜基板51は前記基板保持板3に移しかえられる(図6(k):フックダウン動作)。
前記各爪部9を前記孔13内に収納したまま前記基板保持板3の縁に沿った方向に向け(同図(l):フックアウト動作)、その後前記基板昇降板12を下げると前記各支持棒8と前記各ピン7とが前記孔13、15から抜き出される(同図(m):分離動作)。
そして前記基板クランプ機構4によって、前記基板保持板3上に置かれた前記未成膜基板51をクランプしながら起立させ(同図(n):起立動作)、前記成膜室42と前記基板搬送室45との間の仕切板を閉じた状態にしてスパッタリングガスを導入し、前記カソード電極33に電圧を印加すると前記ターゲットのスパッタリングが開始され、前記起立された未成膜基板51への薄膜の成膜が行われる。
このとき、前記鉛直にされた前記未成膜基板51は前記基板クランプ機構4によって前記基板保持板3に密着されており、また、前記基板保持板3はサンドイッチ構造に形成され、その中間の層がヒーターで構成されているので、前記ターゲットのスパッタリングの際、前記ヒーターに通電し、前記未成膜基板51を加熱しながら薄膜を成長させると、基板にそりや歪みを生じることなく、結晶性のよい薄膜を得ることができた。
他方、前記ハンド32に乗せられた前記成膜終了基板52は、前記基板搬送室45と前記L/UL室441、又は前記L/UL室442との間の仕切板が開けられた後、その中に装着されたカセットの空いているところに納められる。
そして、空になったハンド32先端には、前記カセット昇降機構によって未処理の基板が乗せられ、その未処理の基板は前記予備加熱室43で加熱・脱ガス処理が終了した未成膜基板と交換され、未成膜基板として前記ハンド32上に乗せられて、まもなく成膜が終了する成膜室42の前面で図3のように待機され、前記成膜室42において、引き続き図4(a)から図6(n)の一連の交換作業が行われる。このような一連の基板交換動作は、成膜すべき基板がなくなるまで繰り返される。
なお、前記圧空シリンダ34を動作させると、通常では垂直に配置されている前記マスク回転枠を水平にすることができ、水平にされた前記マスク回転枠を前記各支持棒8で持ち上げて前記ハンド32上に乗せると、前記L/UL室441、442に移送することができ、それによって前記マスク回転枠を大気中に取り出すことができる。また、それとは逆に、新しいマスク回転枠を前記基板搬送ロボット31によって前記L/UL室室441、442から前記成膜室42内に搬入し、前記各支持棒8上に乗せた場合には、前記支持腕36に装着できるようにされている。従って、この基板保持装置2では、前記成膜室42の高真空状態を維持したまま、表面にターゲット材が付着したマスク回転枠を新しいマスク回転枠と交換することができる。
なお、前記シャフト21の両端部分は磁性流体でシールされて前記成膜室42の外部に取り出されており、前記成膜室42の高真空状態を維持しながら回転できるようにされている。その両端部分に設けられたカバー38を取れば、前記基板保持板3にヒーターを入れたり、その温度を測定するための熱電対を挿入できるように構成されている。
以上説明したように、基板を略鉛直にしてスパッタリングを行うので、ターゲットやその周囲で発生したダストが基板上に落下することがなく、また、基板保持板で保持しながら大面積基板を加熱するので、基板にそりや歪みを生じさせずに結晶性のよい薄膜を成長させることができる。
また、上述のような未成膜基板と成膜終了基板との交換を行う結果、基板搬送ロボットに無駄な動作がなくなり、基板の交換時間が短縮でき、全体の処理時間も短くすることが可能となる。
更にまた、基板を第1、第2の基板仮置機構上に置いて交換するので、基板交換の際にも基板が擦られることがなく、ダストが発生しない。
なお、上記実施の形態は、支持棒8を4本、ピンを8本設けたが、本数はそれに限定されるものではなく、基板を安定に支持できる本数であればよい。
本発明の基板保持装置の好ましい実施の形態を示す図 その基板保持装置が配置される成膜室の一例を示す図 その基板保持装置と基板搬送ロボットとが入換準備段階にある状態を示す図 本発明方法の一例の以下の動作を説明するための図(a):転倒動作 (b):フックアップ動作 (c):フックイン動作 (d):ハンドイン動作 図4(d)に続く以下の動作を説明するための図(e):フックアップ動作 (f):ハンドアウト動作 (g):ピンアップ動作 (h):ハンドイン動作 (i):ピンダウン動作 (j):ハンドアウト動作 図5(j)に続く以下の動作を説明するための図(k):フックダウン動作 (l):フックアウト動作 (m):分離動作 (n):起立動作 本発明の基板加熱装置が用いられる成膜装置の一例を示す図 従来技術の成膜方法とそれに用いられる基板保持装置を説明するための図
符号の説明
2……基板保持装置 3……基板保持板 4……基板クランプ機構
7……ピン 8……支持棒 9、10……爪部
31……基板搬送ロボット 32……ハンド 42……成膜室

Claims (9)

  1. 成膜室内に鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、
    前記成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、
    前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、
    前記基板保持板を起立させる回転機構とを有し、
    シャフトと、前記シャフトに取り付けられた保持板回転枠とを有し、前記シャフトの回転によって前記保持板回転枠が回転するように構成されたスパッタリング装置であって、
    前記基板保持板は矩形形状に形成され、前記保持板回転枠の内側にはめ込まれていると共に、
    前記基板保持板にはヒーターが設けられ、
    前記基板よりも小さい矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、
    前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽され、
    前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とするスパッタリング装置。
  2. 成膜室内に鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、
    前記成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、
    前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、
    前記基板保持板を起立させる回転機構とを有し、
    前記基板保持板と基板が同じ大きさであり、
    前記基板よりも小さい矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、
    前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽され、
    前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とするスパッタリング装置。
  3. 成膜室内に鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、
    前記成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、
    前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、
    前記基板保持板を起立させる回転機構と、
    シャフトと、
    前記シャフトに取り付けられた保持板回転枠とを有し、前記シャフトの回転によって前記保持板回転枠が回転するように構成されたスパッタリング装置であって、
    前記基板保持板は矩形形状に形成され、前記保持板回転枠の内側にはめ込まれていると共に、
    前記基板保持板にはヒーターが設けられ、
    前記基板保持板と基板が同じ大きさであり、
    前記基板よりも小さい矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、
    前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽され、
    前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とするスパッタリング装置。
  4. 前記基板保持板には、前記基板保持板上に配置された水平な基板を持ち上げる複数本の棒が挿通され、
    前記マスク回転枠は、水平な状態で前記棒によって持ち上げられ、前記シャフトから取り外せるように構成されたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載のスパッタリング装置。
  5. 前記基板は、550×650mm2以上であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載のスパッタリング装置。
  6. 前記基板を搬送する基板搬送ロボットと、
    前記基板搬送ロボットが配置された基板搬送室とを有し、
    前記成膜室が前記基板搬送室に接続された請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載のスパッタリング装置。
  7. 複数の前記成膜室が前記基板搬送室の周囲に接続されたことを特徴とする請求項6記載のスパッタリング装置。
  8. 基板の搬出入を行うL/UL室と基板の脱ガスを行う予備加熱室が前記基板搬送室の周囲に配置されていることを特徴とする請求項6又は請求項7のいずれか1項に記載のスパッタリング装置。
  9. 前記基板搬送室とその周囲に配置された各室との間には開閉可能な仕切板が設けられており、前記基板搬送室とその周囲の各室とは、それぞれが独立に高真空状態を維持できるように構成されていることを特徴とする請求項7又は請求項8のいずれか1項記載のスパッタリング装置。
JP2004223542A 2004-07-30 2004-07-30 スパッタリング装置 Expired - Lifetime JP4098283B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004223542A JP4098283B2 (ja) 2004-07-30 2004-07-30 スパッタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004223542A JP4098283B2 (ja) 2004-07-30 2004-07-30 スパッタリング装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23617895A Division JP3901754B2 (ja) 1995-08-22 1995-08-22 基板保持装置、スパッタリング装置、基板交換方法、スパッタリング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004332117A JP2004332117A (ja) 2004-11-25
JP4098283B2 true JP4098283B2 (ja) 2008-06-11

Family

ID=33509447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004223542A Expired - Lifetime JP4098283B2 (ja) 2004-07-30 2004-07-30 スパッタリング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4098283B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007179797A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Tokyo Electron Ltd 成膜装置および発光素子の製造方法
DE602007006147D1 (de) 2007-02-02 2010-06-10 Applied Materials Inc Prozesskammer, Inline-Beschichtungsanlage und Verfahren zur Behandlung eines Substrats
KR101298933B1 (ko) * 2011-12-01 2013-08-22 참엔지니어링(주) 기판 검사 장치
WO2015125241A1 (ja) 2014-02-19 2015-08-27 堺ディスプレイプロダクト株式会社 スパッタリング装置
KR102083443B1 (ko) 2015-04-15 2020-03-02 가부시키가이샤 알박 기판홀딩기구, 성막 장치, 및 기판의 홀딩방법
KR101914771B1 (ko) * 2016-11-24 2018-11-02 한국알박(주) 막 증착 방법
JP6808839B2 (ja) * 2018-04-11 2021-01-06 株式会社アルバック 基板保持装置、基板保持方法及び成膜装置
KR102444830B1 (ko) * 2018-05-29 2022-09-16 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 진공 시스템에서 마스크들을 핸들링하는 방법들 및 진공 시스템
KR20240004704A (ko) * 2021-07-16 2024-01-11 가부시키가이샤 알박 진공 처리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004332117A (ja) 2004-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3947761B2 (ja) 基板処理装置、基板搬送機および基板処理方法
KR100598196B1 (ko) 반도체 처리 시스템에 있어서의 지지 기구
US20070231109A1 (en) Apparatus and method for processing substrates using one or more vacuum transfer chamber units
US8469346B2 (en) Substrate mounting mechanism and substrate processing apparatus using same
KR20100122893A (ko) 로드락 장치 및 기판 냉각 방법
JP4098283B2 (ja) スパッタリング装置
JP4645696B2 (ja) 被処理体の支持機構及びロードロック室
JP3901754B2 (ja) 基板保持装置、スパッタリング装置、基板交換方法、スパッタリング方法
JP3210154B2 (ja) 基板の姿勢変換装置
JP4776061B2 (ja) 薄膜形成装置
JP3664854B2 (ja) 真空処理装置
JP3827881B2 (ja) 真空処理装置及び基板起立装置
JP3580916B2 (ja) 基板加熱装置
JP2003347393A (ja) 基板保持装置、及びその基板保持装置を用いた真空処理装置
JP2000144430A (ja) 真空処理装置及びマルチチャンバ型真空処理装置
JP2003129235A (ja) スパッタリング方法
JP3242145B2 (ja) 基板搬送装置
JPH05160046A (ja) 基板加熱方法及びその装置
TWI791295B (zh) 成膜裝置
JP2020063465A (ja) 成膜装置、製造システム、有機elパネルの製造システム、及び成膜方法
JP2000174094A (ja) 半導体製造装置
JP2001085493A (ja) 半導体製造装置
JPH0610679Y2 (ja) 連続インライン式成膜装置
JPH11293458A (ja) 成膜装置
KR101004414B1 (ko) 액정표시장치 제조용 로드락챔버

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071211

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20080212

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080311

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080312

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110321

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110321

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140321

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term