JP4073941B2 - 固相シート成長用基体および固相シートの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、固相シート成長用基体および固相シートの製造方法に関し、特に、融液を材料として固相シートを形成するための固相シート成長用基体および固相シートの製造方法に関するものである。
近年、固相シート成長用基体を半導体材料もしくは金属材料の融液に浸漬し、固相シート成長用基体の表面に固相シートを形成する方法が開発されている(例えば、特許文献1、2)。この方法では、一定間隔で配置された複数の固相シート成長用基体が連続的に坩堝中の融液に浸漬される。例えば、固相シートとして太陽電池に用いられる多結晶シリコンシートを製造する場合、不活性雰囲気中で、坩堝内において、リンまたはボロンなどのドーパントを添加した高純度シリコン材料が加熱溶解された融液に浸漬される。これにより、固相シート成長用基体の表面に多結晶シリコンシートが形成される。形成された多結晶シリコンシートは、固相シート成長用基体より剥離され、所望のサイズにレーザーもしくはダイサーなどで切断され、太陽電池用ウェハとされる。
図16は、特開2002−237465号公報(特許文献1)において開示された従来の固相シート成長用基体を概略的に示す斜視図である。図16を参照して、固相シート成長用基体100の図中上面には周縁溝10が形成されている。さらに、図中、左右の側面にも切り欠き溝170が形成されている。この構成により、周縁溝10の外側の周辺部12が2つのコの字型部分に分割されることになる。
図17は、国際公開第04/016836号パンフレット(特許文献2)に開示された従来の基板(固相シート成長用基体)を概略的に示す斜視図である。また、図18は、シリコンが基板(固相シート成長用基体)の表面に形成された状態における、図17のXVIII−XVIII線に沿った断面図である。
図17を参照して、基板第一面135Aおよび第二面136Aには堀構造F13が形成されている。この堀構造F13は、板状シリコンの主として製品として用いる部分から、周縁部分135a、136aに成長したシリコンを分離するものである。シリコン融液と基板C13(固相シート成長用基体)との表面張力は大きいため、シリコン融液は基板第一面135Aおよび周縁部分135aと接触するが、堀構造F13とは接触しない。そのために、図18に示すように、基板第一面135Aの表面で結晶成長した板状シリコン131Aと周縁部分135aの表面で結晶成長したシリコンとは堀構造F13を挟んで分離される。
また、基板C13(固相シート成長用基体)には、基板第三面138Aが形成されている。基板第一面135Aと基板第二面136Aと基板第三面138Aとの三面構造により、形成されたシリコンが基板C13(固相シート成長用基体)に係合される。
特開2002−237465号公報(第7図) 国際公開第04/016836号パンフレット(第13図)
しかし、上述した特開2002−237465号公報で開示されているような切り欠き溝170を有する固相シート成長用基体100を検討したところ、図16の三叉部30においてシリコン融液と固相シート成長用基体100との間の表面張力の作用が弱くなり、周縁溝10内にシリコン融液が入り込む可能性があることが分かった。周縁溝10内に入り込んだシリコン融液は、凝固することで、周縁溝10の効果を喪失させる。このため、製品となるシリコンシートの縁にバリが生じたり、膜厚分布が悪くなったり、シリコンシートに亀裂が入ったりする。よって、シリコンシートの再生産が必要となり、生産効率が低下し、製品コストが上昇するという問題がある。
また、上述した国際公開第04/016836号パンフレットで開示されているような基板C13(固相シート成長用基体)についても検討をおこなった。この基板C13(固相シート成長用基体)を用いた板状の多結晶シリコンの製造方法は、堀構造F13に囲まれた製品が形成される部分と、堀構造F13の外側の部分である周縁部分135aとを高純度シリコン融液に浸漬させ、堀構造F13に囲まれた部分に板状の多結晶シリコンを形成する方法である。この際、周縁部分135aにも多結晶シリコンが形成されることとなる。また、図18に示すように、図中、側面においても、基板C13(固相シート成長用基体)が融液へ浸漬された深さと同等分だけシリコンが延びることとなる。
この周縁部分135aに形成された多結晶シリコンは、基板C13(固相シート成長用基体)が融液から離脱すると同時に熱収縮を開始する。周縁部分135aに形成された多結晶シリコンは基板C13(固相シート成長用基体)の側面部分に形成された多結晶シリコンと一体となっているため、熱収縮による変形が基板C13(固相シート成長用基体)側面において阻害される。熱収縮による変形が阻害された周縁部分135aに形成された多結晶シリコンには応力が加わる。この応力は、やがてシリコンの破断応力に達し、基板C13(固相シート成長用基体)の周縁部分135aから脱落することとなる。この脱落した多結晶シリコンは、坩堝中の融液中、もしくは坩堝外へ落下することとなる。
シリコン融液中に落下した多結晶シリコンは十分に時間が経てば再溶融することとなるが、この落下した多結晶シリコンの再溶融を長時間待つことにより、生産効率が低下してしまい、製品コストが上昇するという問題がある。
また、再溶融が不十分な状態で次の基板C13(固相シート成長用基体)の浸漬が行なわれると、融液中に浮遊している多結晶シリコンが基板C13(固相シート成長用基体)と坩堝との間に挟まれ、基板C13(固相シート成長用基体)または基板C13(固相シート成長用基体)を融液に浸漬させるための浸漬機構が損傷するおそれがあるという問題がある。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、生産効率が高く、製造装置の破損のおそれの少ない固相シートの製造方法およびそれに用いる固相シート成長用基体を提供することである。
本発明の固相シート成長用基体は、主面と、主面を取り囲む側面とを有している。主面は周縁溝によって周縁溝より外側の周辺部と前記周縁溝より内側の内側部とに区画され、周辺部の側面には周縁溝から分離された複数のスリット溝が形成され、複数のスリット溝のうち互いに隣り合うスリット溝の間に位置する側面の部分が平坦面である。
本発明の固相シート成長用基体によれば、固相シート成長用基体の側面にはスリット溝が形成されている。このため、坩堝中の融液への脱落物にもスリット部が形成される。この脱落物は、融液中でスリット部から優先的に溶け、速やかに小片化される。よって、固相シート成長用基体と坩堝との間に脱落物が挟まるおそれが低減され、製造装置の破損を防止することができる。
また、大きな塊状の場合と比して、小片化された脱落物は速やかに完全溶融するので、再溶融の待ち時間が短縮化される。このため、複数の固相シート成長用基体を坩堝内の融液に浸漬させていく間隔を短くすることができる。よって、固相シートの生産効率を向上することができる。
本発明の固相シート成長用基体によれば、スリット溝は周縁溝から分離されている。このため、融液の表面張力が不足すると考えられるスリット溝と周縁溝とが合わさった部分が存在しない。よって、表面張力の不足を原因としてスリット溝や周縁溝に融液が侵入することを防止することができる。
上記の固相シート成長用基体において好ましくは、周辺部に形成される固相シートと、内側部に形成される固相シートとが周縁溝に沿って分離して形成されるように周縁溝が設けられている。
またスリット溝の幅が1mm以上5mm以下である。
スリット溝の幅が1mm以上であることにより、固相シート成長用基体が半導体の固相シートの製造に用いられた場合、スリット溝をブリッジするように固相シートが成長することが抑制される。また、スリット溝の幅が5mm以下であることにより、スリット溝内に材料融液が入り込んでスリット溝を埋めてしまうことが抑制される。
上記の固相シート成長用基体において好ましくは、スリット溝の深さが1mm以上である。
このため、固相シート成長用基体が半導体の固相シートの製造に用いられた場合、融液がスリット溝内で固相シート成長用基体と接触して成長してしまうことが抑制される。
上記の固相シート成長用基体において好ましくは、スリット溝を複数個有し、隣り合うスリット溝の間隔が1mm以上である。
このため、固相シート成長用基体100が半導体の固相シートの製造に用いられた場合、固相シート成長用基体100の破損を防止することができる。
本発明の固相シートの製造方法は、上記の固相シート成長用基体を融液に浸漬させ、融液を材料として固相シート成長用基体の主面に固相シートを成長させる。
本発明の固相シートの製造方法によれば、上述した本発明の固相シート成長用基体の効果と共に固相シートを製造することができる。
上記の固相シートの製造方法において好ましくは、固相シート成長用基体を融液に浸漬させる際に、スリット溝の一部分が浸漬され、スリット溝の一部分が浸漬されない。
このため、上述した脱落物に、固相シート成長用基体が浸漬された深さ以上の長さのスリット部を形成することができる。よって、脱落物に十分な長さのスリット状の分割がなされる。
上記の固相シートの製造方法において好ましくは、固相シート成長用基体がスリット溝を複数個有し、坩堝の内部に融液が入れられており、固相シート成長用基体が坩堝の内壁からスリット溝の間隔よりも長い距離を保って浸漬される。
このため、坩堝内でスリット部が優先的に溶融して小片化した脱落物が、固相シート成長用基体と坩堝との間に挟まれることがない。
上記の固相シートの製造方法において好ましくは、製造される固相シートが半導体である。
このため、半導体固相シートを、高い生産効率で、製造装置の破損を抑制しつつ、製造することができる。
以上説明したように、本発明によれば、固相シート成長用基体の周辺部の側面に周縁溝と分離したスリット溝が形成されているため、固相シートの生産効率を向上し、固相シートの製造装置の破損を防止することができる。
以下、本発明の実施の形態について図に基づいて説明する。
最初に、本発明の一実施の形態の固相シート成長用基体の構成について、図に基づいて説明する。
図1は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体の構成を概略的に示す斜視図である。図1を参照して、固相シート成長用基体100の主面1の縁部分の近傍には周縁溝10Aが形成されている。この周縁溝10Aにより、主面1は内側部11と周辺部12とに区画されている。内側部11は、周縁溝10Aより内側に位置し、製品となる固相シートが形成される領域であり、主面1の面積の大部分を占めている。周辺部12は、周縁溝10Aの外側に位置し、内側部11の例えば3辺を取り囲むように位置している。主面1は側面2A、2Bに取り囲まれている。ここで、側面2Aは周辺部12の側面であり、側面2Bは内側部11の側面である。
主面1の周辺部12の側面2Aには、スリット溝20が形成されている。このスリット溝20は、周縁溝10Aから分離されて形成されている。すなわち、周縁溝10Aとスリット溝20は、間隔ESにより隔てられており、繋がっていない。
周辺部12の側面2Aと内側部11の側面2Bとの境界部分には周縁溝10Bが形成されている。周縁溝10Aと周縁溝10Bとは連続的に形成されている。内側部の側面2Bには、内側部11と分離された領域に形成された凹みである係合用凹部29が形成されている。
スリット溝20の幅SWは、好ましくは1mm以上5mm以下である。また、スリット溝20の深さSDは、好ましくは1mm以上である。また、スリット溝20は複数個存在することが好ましく、その際、隣り合うスリット溝20の間隔SSは1mm以上であることが好ましい。スリット溝20の長さSLは、この固相シート成長用基体100が固相シートの原料となる融液に浸漬される際の浸漬深さ以上であることが好ましい。
周縁溝10A、10Bの幅EWは、好ましくは1mm以上5mm以下である。また、周縁溝10A、10Bの深さEDは、好ましくは1mm以上である。
続いて、本発明の一実施の形態の固相シート成長用基体が備え付けられた固相シートの製造装置について、図に基づいて説明する。
図2は、本発明の一実施の形態における固相シート製造装置の構成を概略的に示す断面図である。図2を参照して、内部の雰囲気を制御することのできるチャンバ502内は、装置主室511と装置副室509とに、ゲートバルブ510を介して区画されている。また、装置副室509は、別のゲートバルブ510を介して外界とつながっており、ゲートバルブ510が開放されれば、固相シート成長用基体100をチャンバ502に出し入れすることができる。装置副室509と装置主室511との間には、基体搬送用コンベア508が設置されており、固相シート成長用基体100を搬送可能である。
基体搬送用コンベア508の装置主室511側端部において、固相シート成長用基体100を着脱することのできる浸漬機構504が設けられている。この浸漬機構504は、固相シート成長用基体100を吊設した状態で移動可能な機構である。この移動可能範囲内に、坩堝501が設置されている。この坩堝501には、坩堝501の内容物を加熱するための溶解用ヒーター503が設けられており、材料を加熱融解して融液506とすることができる。この融液506に、固相シート成長用基体100の主面1が浸漬されることで、固相シート200が成長する。
次に、本発明の一実施の形態の固相シートが製造される過程を、図3〜図12を用いて説明する。
図3は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液に向かって進行していく様子を概略的に示す斜視図である。図3を参照して、固相シート成長用基体100は、浸漬機構504に吊設された状態で坩堝501内の融液506に向かって、図中矢印方向に移動される。固相シート成長用基体100の浸漬機構504に対する取り付け方向は、主面1が図中における下面(図示されていない側の面)となり、また係合用凹部29が進行方向側となるようにされる。
図4は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が坩堝内を移動する軌跡を概略的に示す断面図である。図4を参照して、図中矢印で示すように、浸漬機構504および固相シート成長用基体100が、坩堝501内を移動する。坩堝501内には、加熱溶融された固相シート材料の融液506が入れられている。固相シート成長用基体100の移動に伴い、固相シート成長用基体100の主面が、いったん融液506に浸漬された後、融液506から離脱される。
図5は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が最も深く融液に浸漬されたときの固相シート成長用基体の側面における固相シートの成長の様子を概略的に示す断面図である。図5を参照して、固相シート成長用基体100が最も深く浸漬された状態においても、融液506の湯面はスリット溝20の途中部分にある。すなわち、スリット溝20の一部分が融液506に浸漬され、かつ一部分が融液506に浸漬されていない状態となる。
固相シート成長用基体100が浸漬された部分において固相シート200の成長が行なわれるが、スリット溝20の部分には融液506に表面張力が作用して固相シート200が成長しない。
図6は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体の側面における固相シートの成長の様子を概略的に示す断面図である。図6を参照して、本発明の一実施の形態のスリット溝20は周縁溝10Aと分離されて形成されている。
スリット溝20の幅SWおよび深さSDが適切である場合、スリット溝20部分での固相シート200の成長が、より確実に抑制される。この結果、固相シート200はスリット溝20で分断された状態で形成される。
スリット溝20の幅SWが広過ぎると、融液506と固相シート成長用基体100との間の表面張力が不足する。その結果、融液506がスリット溝20内に侵入してしまい、スリット溝20を埋めるように固相シート200が形成されてしまう。例えば、半導体材料の融液506が用いられる場合、融液506の表面張力が十分に作用するようにするためには、スリット溝20の幅SWは5mm以下であることが好ましい。
スリット溝20の幅SWが狭過ぎると、融液506の粘性のためにスリット溝20を跨ぐ形で固相シート200が成長し、スリット溝20部分で固相シート200が分割されなくなる部分が生じる。例えば、半導体材料の融液506が用いられる場合、スリット溝20の幅SWを1mm以上とすることで、この現象を抑制することができる。
上述した理由から、スリット溝20の幅SWは1mm以上5mm以下であることが好ましい。また、この寸法範囲の中央値付近である3mm付近をスリット溝20の幅SWとすることにより、より安定的にスリット溝20部分での固相の成長を抑制することができる。
スリット溝20の深さSDが浅過ぎると、スリット溝20に入り込んだ融液506がスリット溝20の内壁と接触し、固相を形成してしまう。例えば半導体材料の融液506が用いられる場合、スリット溝20の深さSDを1mm以上とすることで、この現象を抑制することができる。
複数のスリット溝20の間隔SSは、固相シート成長用基体100と融液506との熱伝導の度合いに影響を及ぼす。スリット溝20の間隔SSが短過ぎると、側面2Aにおいてスリット溝20が形成されていない部分の面積が小さくなっていく。これにより、側面2Aと融液506との接触面積が小さくなる。
融液506から固相が形成されるためには、固相シート成長用基体100と融液506との間の十分な接触による熱伝導が必要となる。熱伝導が十分でなく、スリット溝20の周辺部において固相が形成されない場合、スリット溝20内への融液506の入り込みを防止するための表面張力が作用しないと考えられる。この結果、スリット溝20内部で固相が形成される。このようにスリット溝20内部で固相が形成される際、凝固膨張により固相の体積は融液506の体積よりも大きくなる。この結果、スリット溝20を拡張する力が作用し、固相シート成長用基体100の周辺部12の破損が生じ得る。
複数のスリット溝20の間隔SSが1mm未満である場合、この破損現象が頻発することが実験により確かめられている。よって、複数のスリット溝20の間隔SSは1mm以上であることが好ましい。
なお、複数のスリット溝20の間隔SSについての望ましい上限値は、固相シート成長用基体100が融液506に浸漬される際の固相シート成長用基体100と坩堝501内壁との間隔以下とされることが好ましい。この詳細については後述する。
図7は、本発明の比較例における固相シート成長用基体の側面における固相シートの成長の様子を概略的に示す断面図である。図7を参照して、この比較例は、スリット溝20の幅SWが広過ぎるか深さSDが浅過ぎるか少なくともいずれかの場合の例である。スリット溝20の幅SWが広過ぎる場合、スリット溝20部分における融液506と固相シート成長用基体100との表面張力が不十分となり、スリット溝20内部に融液506が侵入して固相が形成されている。スリット溝20の深さSDが浅過ぎる場合、スリット溝20に入り込んだ融液506がスリット溝20の内壁と接触し、固相を形成してしまう。
図8は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す上面図である。図8を参照して、図中の矢印は、固相シート成長用基体100および浸漬機構504の移動方向を示している。
図9は、図8のIX−IX線での断面図であり、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図である。図9を参照して、浸漬機構504の斜め上方への動き(図中、左上方に向かう実線矢印)に伴い、固相シート成長用基体100は融液506から離脱する。すると、固相シート成長用基体100の表面に形成された固相シート200は、周囲の雰囲気により急速に冷却される。固相シート200の主要部分に関しては、図中の白抜き矢印のように熱収縮が生じるが、右側端部が拘束されていないため、熱応力が緩和される。また、固相シート200は、係合用凹部29で固相シート成長用基体100と係合しているため、重力により落下することが防止される。固相シート成長用基体100の周辺部12および周辺部12の側面2Aに形成された固相物は、このような係合部分が存在しないため、熱収縮の際に、坩堝501内の融液506中に脱落物201として落下する。この脱落物201についての詳細は後述する。
図10は、本発明の比較例における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図であり、その断面位置は、図9と同様である。図10を参照して、周縁溝10Aの幅EWが広過ぎる場合、融液506と固相シート成長用基体100との間の表面張力が不足する。その結果、融液506が周縁溝10A内に侵入してしまい、周縁溝10Aを埋めるように固相が形成されてしまう。この場合、図9に示す本発明の一実施の形態の場合と異なり、固相シート200の一方端部が係合用凹部29に拘束され、他方端部が周縁溝10Aに拘束された状態となる。このように両端が拘束された状態で、図10に示す白抜き矢印のように熱応力が加わると、急速冷却された際の熱応力が緩和されないため、固相シート成長用基体100の内側部11に形成された固相シート200が破損する。
図11は、図8のXI−XI線での断面図であり、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図である。図11を参照して、固相シート成長用基体100の表面に形成された固相シート200は、周囲の雰囲気により急速に冷却される。固相シート200の主要部分に関しては、図中の白抜き矢印のように熱収縮が生じ熱応力が緩和されるが、図9において説明したように固相シート200が係合用凹部29にて係合されているため落下しない。周縁溝10Aの外側の周辺部12に形成された固相物は、このように係合されていないため、熱収縮時に、脱落物201として融液506へと落下する。この脱落物201の詳細については後述する。
図12は、本発明の比較例における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図であり、その断面位置は、図11と同様である。図12を参照して、周縁溝10Aの幅EWが広すぎる場合、融液506と固相シート成長用基体100との間の表面張力が不足する。その結果、融液506が周縁溝10A内に侵入してしまい、周縁溝10Aを埋めるように固相が形成されてしまう。この場合、図11に示す本発明の一実施の形態の場合と異なり、固相シート200の両端が周縁溝10Aに拘束された状態となる。このように両端が拘束された状態で、図12に示す白抜き矢印のように熱応力が加わると、急速冷却された際の熱応力が緩和されないため、固相シート成長用基体100の内側部11に形成された固相シート200が破損する。
図9に示すように浸漬機構504により融液506から引き上げられた固相シート成長用基体100は、図2で説明した基体搬送用コンベア508により装置副室509へと搬送される。この際、装置副室509と装置主室511との間のゲートバルブ510は開放された状態である。続いてこのゲートバルブ510を閉じた後に、必要に応じて装置副室509内の雰囲気の置換を行なった後に装置副室509と外界とを隔てるゲートバルブ510を開放し、固相シート成長用基体100を外界に取り出す。取り出された固相シート成長用基体100の内側部11の表面に形成された固相シート200が剥離され、必要に応じて切断され、製品として用いられる。
次に、前述した製造過程における脱落物201の詳細に関して、図13を用いて詳述する。図13は、本発明の一実施の形態における脱落物を概略的に示す斜視図である。図13を参照して、固相シート成長用基体100のスリット溝20が形成されている位置に対応して、脱落した固相シート200にもスリット部21が形成されている。また、スリット部21のスリットの幅は、おおよそスリット溝20の幅SWに等しくなる。この脱落物201はスリット部21において幅が細くなっていて強度が弱い。このため、脱落物201は、固相シート成長用基体100の周辺部12から脱落する際に、複数存在するスリット部21の内の数カ所程度において分裂し、数個程度の脱落物として融液506中へと落下する。
続いて、本発明の一実施の形態で用いられる坩堝501の内部寸法について、図14および図15を用いて説明する。
図14は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が坩堝内を移動する軌跡を概略的に示す上面図である。図14を参照して、固相シート成長用基体100が融液506内を移動しているときの、固相シート成長用基体100と坩堝501内壁との距離MSは、スリット溝20の間隔SSよりも長い距離とされる。
図15は、本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出する瞬間を概略的に示す断面図である。図15を参照して、固相シート成長用基体100が融液506から脱出するときの、固相シート成長用基体100と坩堝501内壁との距離MFは、スリット溝20の間隔SSよりも長い距離とされる。
本実施の形態によれば、図1および図6に示すように、固相シート成長用基体100の周辺部12の側面2Aにスリット溝20が形成されている。このため、図13に示すように、製造過程における固相シート200の脱落物201にスリット部21が形成される。以下に、このスリット部21の作用効果について説明する。
まず、脱落物201にスリット部21が形成されていると、融液506に落下した脱落物201のスリット部21から融液506が侵入する。よって、融液506と脱落物201との接触面積が広くなり、脱落物201が短時間で再溶融する。このため、再溶融の待ち時間が短縮され、生産効率が向上する。
また、脱落物201はL字状の断面形状を有するが、脱落物201がこのL字の角部を上にして融液506に落下した場合、この角部の内側にチャンバ502内の雰囲気を包容し、その結果、包容された雰囲気が融液506から浮力を受けることがある。本実施の形態においては上述したスリット部21からこの包容された雰囲気が抜け得るため、浮力が低減される。よって、もし脱落物201が融液506よりも比重が大きければ、確実に融液506に脱落物201が沈み、短時間で再溶融する。また、脱落物201が融液506よりも比重が小さい場合においても、浮力が低減すれば融液506に浸漬される部分が増えるため、短時間で再溶融する。このため、再溶融の待ち時間が短縮され、生産効率が向上する。
また、脱落物201はスリット部21から優先的に再溶解する。この優先的な再溶解は脱落物201全体が溶解し切るよりも短時間で完了し、その時点では、脱落物201は固相シート成長用基体100のスリット溝20の間隔SSにほぼ対応した長さを有する小片と化している。このように小片化されることで、再溶融が加速される。また、小片化されているため、固相シート成長用基体100と坩堝501との間に脱落物201が挟まる事故の発生を抑制することができる。
本実施の形態によれば、図1および図6に示されるように、スリット溝20と周縁溝10Aとが分離されて形成されている。仮に、スリット溝20と周縁溝10Aとが一体化されているとすると、両者が合わさった部分において融液506の表面張力が不足し、スリット溝20や周縁溝10Aに融液506が侵入してしまう。逆に、スリット溝20と周縁溝10Aとが分離されていれば、このような侵入を防止することができる。
本実施の形態によれば、好ましくは、図5に示すように、固相シート成長用基体100はスリット溝20の一部分が融液506に浸漬され、一部分が融液506に浸漬されない状態とされる。これにより、図13に示すような、一端が開放したスリット部21が確実に形成される。
本実施の形態によれば、好ましくは、スリット溝20の幅SWが1mm以上5mm以下である。これにより、固相シート成長用基体100が半導体の固相シートの製造に用いられた場合、脱落物201に確実にスリット部21を形成することができる。
本実施の形態の固相シート成長用基体100によれば、好ましくは、スリット溝20の深さSDが1mm以上である。これにより、固相シート成長用基体100が半導体の固相シートの製造に用いられた場合、脱落物201に確実にスリット部21を形成することができる。
本実施の形態によれば、好ましくは、スリット溝20を複数個有し、隣り合う前記スリット溝20の間隔が1mm以上である。これにより、固相シート成長用基体100が半導体の固相シートの製造に用いられた場合、固相シート成長用基体100の破損を防止することができる。
本実施の形態によれば、好ましくは、固相シート成長用基体100が坩堝501中の融液506に浸漬されている際、図14および図15に示す固相シート成長用基体100と坩堝501との距離MSおよびMFは、固相シート成長用基体100のスリット溝20の間隔SSよりも長い距離とされる。よって、スリット溝20の間隔SS以下の大きさの物体は固相シート成長用基体100と坩堝501との間に挟まることがない。本実施の形態においては、融液506中に落下した脱落物201は、スリット部21の作用により早い段階でその長さがスリット溝20の間隔SS以下である小片となっている。このため、脱落物201が、固相シート成長用基体100と坩堝501との間に挟まり製造装置を破損させることを抑制することができる。
本実施の形態によれば、好ましくは、固相シートは半導体である。これにより、太陽電池などに用いられる多結晶シリコンシートを製造することができる。また、融液506が半導体材料の融液506となるため、スリット溝20の幅SWが1mm以上5mm以下とされ、スリット溝20の深さSDが1mm以上とされた場合に、融液506に最適な表面張力が働き、脱落物201に確実にスリット部21が形成される。
本発明による固相シート成長用基体およびそれを用いた固相シートの製造方法で、太陽電池に用いられる半導体固相シートの製造を行なった具体例を以下に示す。
図1を参照して、黒鉛で形成された固相シート成長用基体100が準備された。固相シート成長用基体100の外形の概形は正方形の板状であった。この正方形の板状形状の正方形の一辺の長さW1は150mm、厚みHは20mmであった。また、内側部11の周縁溝10Aで挟まれた領域の長さW2は132mmであった。側面2Aに形成されたスリット溝20の幅SWは3mm、深さSDは2mm、長さSLは15mmであり、複数のスリット溝20の間隔SSは12mmであった。周縁溝10A、10Bの幅EWは3mm、深さEDは2mmであった。
図2を参照して、得られる固相シート200の比抵抗が2Ω・cmになるように、シリコン原料のボロン濃度が調整された。このシリコン原料が、高純度黒鉛製の坩堝501に入れられた。この坩堝501が、チャンバ502の装置主室511に設置された。
次に、チャンバ502が真空引きされた後、雰囲気としてArガスが導入された。チャンバ502内は、Arガスがチャンバ502上部から100L/minで常に供給されつつ圧力が800hPaとなるような定常状態とされた。
その後、坩堝501の周囲にあるシリコン溶解用ヒーター503の制御用熱電対の設定温度が1500℃とされた。これにより、シリコン原料が完全に溶融状態にされた。投入されたシリコン原料は溶融することで嵩が低くなるが、シリコン原料を追加投入して、シリコン融液506の湯面を所定の高さにした。その後、設定温度が1430℃に変更され、融液506の温度の安定化のため30分間保持された。
続いて、固相シート成長用基体100が浸漬機構504の先端に取り付けられた。その後、固相シート成長用基体100がシリコン融液506に、深さ10mmほど浸漬された。これにより、固相シート200が固相シート成長用基体100の表面に成長した。
その後、固相シート成長用基体100は基体搬送用コンベア508にて装置副室509に搬送された。続いて、装置副室509と装置主室511とを仕切るゲートバルブ510が閉じられ、装置副室509内がロータリーポンプで真空排気され、大気で置換された。その後、装置副室509の外に、固相シート200が形成された状態の固相シート成長用基体100が取り出された。
固相シート成長用基体100に形成された固相シート200は容易に剥離することができた。内側部11の領域から得られた132×132mmの固相シート200は、レーザー切断装置を用いて、126×126mmに切断された。
次に、このレーザー切断により得られた126×126mmサイズの固相シート200を用いて太陽電池の作製を行なった。上述した固相シート200は、硝酸とフッ酸との混合溶液でエッチングされ、その後、水酸化ナトリウム水溶液を用いてアルカリエッチングされた。続いて、POCl拡散によりp型基板にn層を形成した。シリコン固相シート200表面に形成されているPSG膜がフッ酸により除去された後、太陽電池の受光面となるn層上にプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法を用いてシリコン窒化膜が形成された。次に太陽電池の裏面となる面に形成されているn層が硝酸とフッ酸の混合溶液でエッチング除去され、p型基板が露出された。続いて、その上にスクリーン印刷法を用いてAlペーストを印刷され、焼成されることにより、裏面電極およびp層を同時に形成された。その後、半田コートが行なわれ、太陽電池が得られた。
このように製造された100枚の太陽電池のセル特性の測定がAM1.5(100mW/cm)の照射下にて行なわれ、その結果は良好であった。具体的には、平均開放電圧が580mV、平均短絡電流が30.8mA/cm、平均フィルファクターが0.736、平均変換効率が13.1%であった。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることを意図される。
本発明は、融液からなる材料をその表面に成長させるための固相シート成長用基体およびその固相シート成長用基体を用いた固相シートの製造方法に特に有利に適用され得る。
本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体の構成を概略的に示す斜視図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が備え付けられた固相シートの製造装置の構成を概略的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液に向かって進行していく様子を概略的に示す斜視図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が坩堝内を移動する軌跡を概略的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が最も深く融液に浸漬されたときの固相シート成長用基体の側面における固相シートの成長の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体の側面における固相シートの成長の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の比較例における固相シート成長用基体の側面における固相シートの成長の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す上面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の比較例における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の比較例における固相シート成長用基体が融液から脱出した直後の様子を概略的に示す断面図である。 本発明の一実施の形態における脱落物を概略的に示す斜視図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が坩堝内を移動する軌跡を概略的に示す上面図である。 本発明の一実施の形態における固相シート成長用基体が融液から脱出する瞬間を概略的に示す断面図である。 特開2002−237465号公報に開示された固相シート成長用基体の構成を概略的に示す斜視図である。 国際公開第04/016836号パンフレットに開示された板状シリコン形成用基板を概略的に示す斜視図である。 図17のXVIII−XVIII線における概略的な断面図である。
符号の説明
1 主面、2A,2B 側面、10,10A,10B 周縁溝、11 内側部、12 周辺部、20 スリット溝、21 スリット部、29 係合用凹部、30 三叉部、100 固相シート成長用基体、135a,136a 周縁部分、135A 基板第一面、136A 基板第二面、138A 基板第三面、170 切り欠き溝、200 固相シート、201 脱落物、501 坩堝、502 チャンバ、503 溶解用ヒーター、504 浸漬機構、506 融液、508 基体搬送用コンベア、509 装置副室、510 ゲートバルブ、511 装置主室、C13 基板。

Claims (9)

  1. 主面と、前記主面を取り囲む側面とを有し、前記主面は周縁溝によって前記周縁溝より外側の周辺部と前記周縁溝より内側の内側部とに区画され、前記周辺部の前記側面には前記周縁溝から分離された複数のスリット溝が形成され、前記複数のスリット溝のうち互いに隣り合うスリット溝の間に位置する前記側面の部分が平坦面である、固相シート成長用基体。
  2. 前記周辺部に形成される固相シートと、前記内側部に形成される固相シートとが前記周縁溝に沿って分離して形成されるように前記周縁溝が設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の固相シート成長用基体。
  3. 前記スリット溝の幅が1mm以上5mm以下であることを特徴とする、請求項1または2に記載の固相シート成長用基体。
  4. 前記スリット溝の深さが1mm以上であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の固相シート成長用基体。
  5. 前記スリット溝を複数個有し、隣り合う前記スリット溝の間隔が1mm以上であることを特徴とする、請求項1〜のいずれかに記載の固相シート成長用基体。
  6. 請求項1〜のいずれかに記載の前記固相シート成長用基体を融液に浸漬させ、前記融液を材料として前記固相シート成長用基体の前記主面に固相シートを成長させることを特徴とする、固相シートの製造方法。
  7. 前記固相シート成長用基体を前記融液に浸漬させる際に、前記スリット溝の一部分が浸漬され、前記スリット溝の一部分が浸漬されないことを特徴とする、請求項に記載の固相シートの製造方法。
  8. 前記固相シート成長用基体が前記スリット溝を複数個有し、坩堝の内部に前記融液が入れられており、前記固相シート成長用基体が前記坩堝の内壁から前記スリット溝の間隔よりも長い距離を保って浸漬されることを特徴とする、請求項またはに記載の固相シートの製造方法。
  9. 前記固相シートが半導体であることを特徴とする、請求項のいずれかに記載の固相シートの製造方法。
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