JP4056532B2 - 故障診断機能付きmemsデバイス - Google Patents
故障診断機能付きmemsデバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP4056532B2 JP4056532B2 JP2005102401A JP2005102401A JP4056532B2 JP 4056532 B2 JP4056532 B2 JP 4056532B2 JP 2005102401 A JP2005102401 A JP 2005102401A JP 2005102401 A JP2005102401 A JP 2005102401A JP 4056532 B2 JP4056532 B2 JP 4056532B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mems device
- movable part
- vibration
- fault diagnosis
- diagnosis function
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/3564—Mechanical details of the actuation mechanism associated with the moving element or mounting mechanism details
- G02B6/358—Latching of the moving element, i.e. maintaining or holding the moving element in place once operation has been performed; includes a mechanically bistable system
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/3586—Control or adjustment details, e.g. calibrating
- G02B6/359—Control or adjustment details, e.g. calibrating of the position of the moving element itself during switching, i.e. without monitoring the switched beams
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/351—Optical coupling means having switching means involving stationary waveguides with moving interposed optical elements
- G02B6/3512—Optical coupling means having switching means involving stationary waveguides with moving interposed optical elements the optical element being reflective, e.g. mirror
- G02B6/3514—Optical coupling means having switching means involving stationary waveguides with moving interposed optical elements the optical element being reflective, e.g. mirror the reflective optical element moving along a line so as to translate into and out of the beam path, i.e. across the beam path
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/351—Optical coupling means having switching means involving stationary waveguides with moving interposed optical elements
- G02B6/3512—Optical coupling means having switching means involving stationary waveguides with moving interposed optical elements the optical element being reflective, e.g. mirror
- G02B6/3518—Optical coupling means having switching means involving stationary waveguides with moving interposed optical elements the optical element being reflective, e.g. mirror the reflective optical element being an intrinsic part of a MEMS device, i.e. fabricated together with the MEMS device
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/354—Switching arrangements, i.e. number of input/output ports and interconnection types
- G02B6/3544—2D constellations, i.e. with switching elements and switched beams located in a plane
- G02B6/3546—NxM switch, i.e. a regular array of switches elements of matrix type constellation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/3564—Mechanical details of the actuation mechanism associated with the moving element or mounting mechanism details
- G02B6/3568—Mechanical details of the actuation mechanism associated with the moving element or mounting mechanism details characterised by the actuating force
- G02B6/357—Electrostatic force
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/35—Optical coupling means having switching means
- G02B6/3564—Mechanical details of the actuation mechanism associated with the moving element or mounting mechanism details
- G02B6/3584—Mechanical details of the actuation mechanism associated with the moving element or mounting mechanism details constructional details of an associated actuator having a MEMS construction, i.e. constructed using semiconductor technology such as etching
Description
この光スイッチの多くは、プリズムやミラー等の光学部品を機械的に光路内に出し入れして光路の切り替えを行うもので、構造上半導体微細加工技術を用いたMEMSデバイスによって光学系及び駆動系が一体形成されたチップにて構成されるものがある。
また、上記従来技術は、光スイッチを組み込んだ制御入力の補正を前提としたシステムであるので、現在市場に投入され出回っている光スイッチには適用できない。
本発明は、上述の問題を解決するもので、光スイッチに代表されるMEMSデバイスの部品点数を事実上増加することなく、可動部の機械的応答特性をモニタして致命的故障の前駆現象を捉え、しかも既に存在する制御入力の補正を前提としないシステムのMEMSデバイスの故障診断にも適用が可能なMEMSデバイスの故障診断の手段を提供を目的とする。
ここで、まず、MEMSデバイスの典型例として光スイッチの構造について説明する。
図2及び図3に基づき、本発明の実施形態となる光スイッチの構成/動作について説明する。本実施形態の光スイッチは、シリコン基板(350μm)/シリコン酸化膜(3μm)/シリコン・デバイス層(100μm)の構成を持つ(100)SOIウエハからなる。図2及び図3は前記光スイッチの平面図であるが、光スイッチは紙面に垂直な深さ方向(z方向)に均一な厚さを有する2次元構造体である。構造体の加工は概略次のようなステップで進められる。
2)フォトリソグラフィー技術により前記シリコン酸化膜のパターニングを行う。
3)パターニングされたシリコン酸化膜をマスクとしてシリコン・デバイス層をDRIE(Deep Reactive Ion Etching)等の手法により異方性エッチングする。
4)シリコン酸化膜に対して選択性のあるエッチャントを用いて、シリコン基板とシリコン・デバイス層の間に埋め込まれているシリコン酸化膜を除去し、可動部をリリースする。この時、可動部と固定部それぞれの島状に独立した構造部は面積的なコントラストがつけてあるため、適切な時間内でエッチングを終了する限り、固定部下のシリコン酸化膜は残存する。
5)ミラー、電極パッドの必要部位に対して、Au等の反射率の高い金属で表面をメタライズする。
ファイバ端面が互いに向き合ったクロス導波部にはミラー4が挿入され得る。ミラー4はクロス導波部に挿入されて光を反射する時に最も高精度にアライメントされている必要がある。ミラー4、櫛歯型静電アクチュエータ(単に静電アクチュエータとも称する)の可動電極5、板バネ状ヒンジ6A〜6Dといった一連の構成要素は可動ロッド7により連結され、それら全体として可動部を形成している。櫛歯型静電アクチュエータの第1固定電極8、第2固定電極9、及びアンカ10は絶縁層(シリコン酸化膜)を介してシリコン基板に固定されているが、可動部は基板から浮いた状態で4本の板バネ状ヒンジ6A,6B及び6C,6Dによって支持されている。このため、この4本の板バネ状ヒンジ6A,6B及び6C,6Dの附勢状態によって可動部が図2、図3の上方または下方に位置して安定状態となる。すなわち、板バネ状ヒンジ6A,6B及び6C,6Dが、図中上方に附勢され位置する場合にはミラー4が導波賂に挿入された第1安定状態であり、図中下方に附勢され位置する場合にはミラー4が導波賂より退避した第2安定状態である。また、可動ロッド7は図3に示すストッパ7S1、7S2の2箇所の部分において幅員が拡大しており、この太く変化している部分が固定部の一部であるアンカ10の壁面に衝突するようになっており、可動ロッド7の軸方向の移動可能な範囲の両端を規制するストッパ機構を構成している。図2に示す11、12は、第1固定電極8及び第2固定電極9の電位を電圧印加状態とアースに落とす状態に切り替えるための電極を示す。
本発明のための、可動部の微小振動を検出する振動検出手段としては、MEMSデバイスの可動部の変位を検出する何らかの変位センサを別途追加具備しても勿論構わないが、MEMSデバイスが静電駆動型のデバイスであるならば、その静電アクチュエータをそのまま静電容量型の変位センサとして利用することが、最良の方法である。上述の光スイッチの例で言えば、可動電極5と、第1固定電極8及び第2固定電極9のそれぞれとの間に構成される静電容量C1、C2を検出することで、可動電極5の変位すなわち可動部の振動を検出することができる。その様子を図6に示すが、この例のように2つの固定電極を備えるプッシュプル型の静電アクチュエータであればC1、C2の差分を採って更に変位検出の感度を倍増することができる。このようにして静電アクチュエータを兼ねる振動検出手段80から、可動部の振動を表す信号が取り出され動特性解析部90に送られる。
そして、故障診断部120では、この演算部110にて得られたデータの差分に対して、その差分が閾値と比較して大きいか小さいかを判断し、故障診断の有無を判定する。この場合、応答特性の変化は可動部の機械的特性の変化を表すので、前回値に対する変化量を予め定めた閾値と比較してそれ以上の変化量を検出した場合、可動部の機械的異常、すなわち故障発生と判断する。利用するデータに係る閾値は、実験に基づき、デバイスの利用の形態に応じて、適宜に決定することができる。本発明の方法によれば、可動部の応答特性に関するデータは常にその前の解析時のデータと比較されるので、その利用するデータに急激な変化があった時だけ故障が判断され、正常の緩やかな応答特性の変化には、仮にその変化が大きなものであってもこの方法による故障診断は感度がない。
Claims (10)
- 基板上に可動部と固定部と可動部を変位させるアクチュエータとが形成され、そのアクチュエータを駆動する制御部を備えてなり、アクチュエータによって可動部の位置を第1及び第2の安定位置の間で2値的に切り替え駆動するMEMSデバイスにおいて、
前記第1及び第2のいずれか一方の安定位置にある前記可動部に励振される微小振動を検出する振動検出手段と、その振動検出手段の出力に基づいて前記可動部の動特性を解析する動特性解析部と、その動特性解析部が出力するデータを蓄積するメモリと、そのメモリからデータを取り出して時間的に前後する2つのデータを比較し差分情報を算出する演算部と、その演算部の出力する差分情報に基づいて該MEMSデバイスの故障を診断する故障診断部とを備え、
前記アクチュエータは、前記可動部と前記固定部とにそれぞれ設けられる可動電極と固定電極とを対向させてなる静電アクチュエータであり、前記振動検出手段は、その静電アクチュエータの可動電極と固定電極とが構成する静電容量の振動を検出するものであることを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項1に記載の故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記制御部は、前記可動部が前記第1及び第2のいずれか一方の安定位置にある時に、前記2値的な切り替え駆動を惹起する強度に足らぬ前記励振駆動信号を前記アクチュエータに供給することを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項2に記載される故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記励振駆動信号は、前記可動部の共振周波数から、当該微小振動の振動パワーのピーク値から3dB降下した周波数までの周波数領域内の、一定周波数信号であることを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項3に記載される故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記励振駆動信号は、前記周波数範囲で周波数の掃引変化を繰り返すことを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項2に記載される故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記励振駆動信号は、インパルス信号であり、前記振動検出手段が検出する前記可動部の微小振動は、そのインパルス信号の印加が誘起する前記可動部の減衰振動であることを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項1に記載の故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記振動検出手段が検出する前記可動部の微小振動は、前記可動部の前記2値的な切り替え駆動が誘起する減衰振動であることを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項1に記載の故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記可動部と前記固定部とには、前記可動部と前記固定部との各一部同士の衝突によって前記可動部の可動範囲を規制するストッパ機構が具備され、前記振動検出手段が検出する前記可動部の微小振動は、前記可動部の前記2値的な切り替え駆動の際に前記ストッパ機構を衝突させて誘起される減衰振動であることを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項3に記載の故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記動特性解析部は、前記可動部の微小振動の振幅のデータもしくは前記励振駆動信号に対する位相遅れのデータの少なくともいずれかのデータを出力して前記メモリに蓄積することを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項4乃至請求項7のいずれかに記載の故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
前記動特性解析部は、前記可動部の微小振動の振幅もしくは位相の周波数応答特性のデータ、振幅の周波数応答特性の共振周波数に関するQ値のデータ、または振動エネルギの大きさのデータの少なくとも何れかのデータを出力して前記メモリに蓄積することを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。 - 請求項1乃至請求項9のいずれかに記載の故障診断機能付きMEMSデバイスにおいて、
このMEMSデバイスは、前記固定部に設置される複数の光ファイバ端部の間に構成される空中伝播光路に、前記可動部に設置されるミラーが、挿入または退避する位置を2値的に切り替え駆動する光スイッチであり、前記可動部の微小振動の振幅は、その微小振動を生じる前記2値的な切り替え駆動の一方の安定位置における、前記複数の光ファイバ端部同士のすべての相互間についての各光結合率がその仕様の満足を維持する範囲内の振幅とされることを特徴とする故障診断機能付きMEMSデバイス。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005102401A JP4056532B2 (ja) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | 故障診断機能付きmemsデバイス |
US11/388,033 US7463798B2 (en) | 2005-03-31 | 2006-03-22 | MEMS device with failure diagnosis function |
FR0602712A FR2883859A1 (fr) | 2005-03-31 | 2006-03-29 | Dispositif mems avec une fonction de diagnostic de defaillance |
CNB2006100738389A CN100422789C (zh) | 2005-03-31 | 2006-03-31 | 具有故障诊断功能的微机电系统器件 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005102401A JP4056532B2 (ja) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | 故障診断機能付きmemsデバイス |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006284746A JP2006284746A (ja) | 2006-10-19 |
JP4056532B2 true JP4056532B2 (ja) | 2008-03-05 |
Family
ID=36972790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005102401A Expired - Fee Related JP4056532B2 (ja) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | 故障診断機能付きmemsデバイス |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7463798B2 (ja) |
JP (1) | JP4056532B2 (ja) |
CN (1) | CN100422789C (ja) |
FR (1) | FR2883859A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2634532A1 (en) | 2008-04-04 | 2013-09-04 | Panasonic Corporation | Sensor device with failure diagnosing circuit |
US7730782B2 (en) * | 2008-04-04 | 2010-06-08 | Panasonic Corporation | Sensor device |
US8322214B2 (en) | 2008-04-04 | 2012-12-04 | Panasonic Corporation | Sensor device |
US8131508B2 (en) * | 2009-02-05 | 2012-03-06 | Panasonic Corporation | Sensor apparatus |
JP4337952B1 (ja) | 2009-02-05 | 2009-09-30 | パナソニック株式会社 | センサ装置 |
JP4386143B1 (ja) * | 2009-02-05 | 2009-12-16 | パナソニック株式会社 | センサ装置 |
JP5135401B2 (ja) * | 2010-09-10 | 2013-02-06 | 株式会社東芝 | 情報処理装置、故障予兆診断方法及びプログラム |
US8826742B2 (en) * | 2012-03-07 | 2014-09-09 | Panasonic Corporation | Pressure sensor using MEMS resonator |
JP2014149218A (ja) * | 2013-02-01 | 2014-08-21 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 慣性力検出装置 |
JP6115519B2 (ja) * | 2014-05-27 | 2017-04-19 | セイコーエプソン株式会社 | Mems駆動装置、電子機器、及びmems駆動方法 |
JP6413422B2 (ja) * | 2014-07-18 | 2018-10-31 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | 制振システム及び車両 |
DE102015217200A1 (de) * | 2015-09-09 | 2017-03-09 | Sauer Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Schwingungsamplitude eines Werkzeugs |
JP6848197B2 (ja) | 2016-03-31 | 2021-03-24 | 船井電機株式会社 | 光走査装置 |
JP6783134B2 (ja) | 2016-12-13 | 2020-11-11 | 日本ルメンタム株式会社 | 光モジュール及び光モジュールの製造方法 |
JP6915315B2 (ja) * | 2017-03-09 | 2021-08-04 | 株式会社リコー | 光偏向システムおよび故障判定方法 |
US10788659B2 (en) | 2018-10-24 | 2020-09-29 | Infinean Technologies Ag | Monitoring of MEMS mirror properties |
WO2023157102A1 (ja) * | 2022-02-16 | 2023-08-24 | 三菱電機株式会社 | 切替可否診断装置及び光スイッチ装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6385413A (ja) | 1986-09-30 | 1988-04-15 | Nec Corp | 装置故障診断回路 |
JP2002159098A (ja) | 2000-11-21 | 2002-05-31 | Tokai Rika Co Ltd | マイクロフォン装置 |
JP2003343449A (ja) | 2002-05-28 | 2003-12-03 | Tokico Ltd | 往復動型圧縮機 |
US7302131B2 (en) * | 2002-05-28 | 2007-11-27 | Jds Uniphase Inc. | Sunken electrode configuration for MEMs Micromirror |
JP4039150B2 (ja) | 2002-07-09 | 2008-01-30 | 株式会社デンソー | 光スイッチサブシステム |
KR100491975B1 (ko) * | 2002-10-24 | 2005-05-27 | 한국전자통신연구원 | 광 스위치의 출력변화를 감지하여 광 스위치의 오동작을검출하는 방법 및 장치 |
JP3907634B2 (ja) | 2003-07-02 | 2007-04-18 | 日本航空電子工業株式会社 | 光デバイス |
-
2005
- 2005-03-31 JP JP2005102401A patent/JP4056532B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-03-22 US US11/388,033 patent/US7463798B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-03-29 FR FR0602712A patent/FR2883859A1/fr not_active Withdrawn
- 2006-03-31 CN CNB2006100738389A patent/CN100422789C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060222291A1 (en) | 2006-10-05 |
CN100422789C (zh) | 2008-10-01 |
CN1841121A (zh) | 2006-10-04 |
US7463798B2 (en) | 2008-12-09 |
JP2006284746A (ja) | 2006-10-19 |
FR2883859A1 (fr) | 2006-10-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4056532B2 (ja) | 故障診断機能付きmemsデバイス | |
Marxer et al. | Vertical mirrors fabricated by deep reactive ion etching for fiber-optic switching applications | |
US7707873B2 (en) | Three-dimensional nanoscale metrology using FIRAT probe | |
EP2857876B1 (en) | Tunable VCSEL | |
US7582497B2 (en) | Method of manufacturing micro-optic device | |
US20030019832A1 (en) | Staggered torsional electrostatic combdrive and method of forming same | |
EP1684414A1 (en) | MEMS oscillator drive | |
JP2008102132A (ja) | 光分岐を使用する、マイクロ機械加工した干渉計のためのシステム、方法、および装置 | |
US6750655B2 (en) | Methods for affirming switched status of MEMS-based devices | |
KR101737717B1 (ko) | 주사 미러의 고장 검출 | |
WO2010001388A1 (en) | A mems device comprising oscillations' measurements means | |
JP2017041824A (ja) | 検出装置 | |
Syms | Long-travel electrothermally driven resonant cantilever microactuators | |
JP2004310003A (ja) | マイクロ電子機械システム可変光減衰器 | |
Gu-Stoppel et al. | Design, fabrication and characterization of low-voltage piezoelectric two-axis gimbal-less microscanners | |
CN108132093A (zh) | 一种悬膜光纤声波传感器及其制备方法 | |
Tien et al. | Actuation of polysilicon surface-micromachined mirrors | |
JP2005037885A (ja) | 光デバイス | |
JP2011002456A (ja) | 微細構造の可動エレメントを励起する方法 | |
US6931173B1 (en) | MEMS optical switches with guaranteed switching status | |
Bernstein et al. | MEMS tilt-mirror spatial light modulator for a dynamic spectral equalizer | |
Gasparyan et al. | Mechanical reliability of surface-micromachined self-assembling two-axis MEMS tilting mirrors | |
Kuriyama et al. | Design of optical system for electrostatic field distribution measurement using micromirror array | |
Chollet et al. | Vibration measurement with a micromachined mirror in a very-short external cavity laser | |
Hashimoto et al. | Micro-optical gate for fiber optic communication |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070830 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070904 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071030 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071211 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101221 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111221 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111221 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111221 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121221 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121221 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121221 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131221 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |