JP2017041824A - 検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】弾性波を高い精度にて検出できる検出装置を提供すること。
【解決手段】検出装置100は、空気を介して伝搬される弾性波を検出する。検出装置100は、固定端FX及び自由端FRを有するカンチレバー構造を有するとともに、上記弾性波によって湾曲することにより振動する板状の第1の電極12と、第1の電極12と所定の距離を隔てて対向する板状の第2の電極32と、を備える。検出装置100は、第1の電極12と第2の電極32との間の静電容量の変化に基づいて上記弾性波を検出する。固定端FXから自由端FRへ向かう方向における第2の電極32の端は、自由端FRよりも固定端FX側に位置する。
【選択図】図3

Description

本発明は、検出装置に関する。
空気を介して伝搬される弾性波を検出する検出装置が知られている。例えば、特許文献1に記載のように、検出装置は、所定の距離を隔てて対向する板状の第1及び第2の電極を備える。第1の電極は、所定の方向における両端がそれぞれ固定端及び自由端であるカンチレバー構造を有する。第1の電極は、弾性波によって湾曲することにより振動する。検出装置は、第1及び第2の電極の間の静電容量の変化に基づいて弾性波を検出する。
特表2001−518246号公報
第1の電極の自由端は、第1の電極のうちの振動による変位が最大である部分である。ところで、固定端から自由端へ向かう方向における第2の電極の端の、固定端からの距離は、第1の電極の自由端の、固定端からの距離よりも長い。従って、上記検出装置においては、第1の電極の自由端と対向する位置に、第2の電極が存在する。このため、第1及び第2の電極の間の空気によって第1の電極の振動が減衰する程度が大きくなりやすい。その結果、弾性波を高い精度にて検出できない虞があった。
本発明の目的の一つは、弾性波を高い精度にて検出できる検出装置を提供することにある。
一つの側面では、検出装置は、空気を介して伝搬される弾性波を検出する。
更に、この検出装置は、固定端及び自由端を有するカンチレバー構造を有するとともに、上記弾性波によって湾曲することにより振動する板状の第1の電極と、上記第1の電極と所定の距離を隔てて対向する板状の第2の電極と、を備える。
加えて、この検出装置は、上記第1の電極と上記第2の電極との間の静電容量の変化に基づいて上記弾性波を検出する。
更に、上記固定端から上記自由端へ向かう方向における上記第2の電極の端は、上記自由端よりも上記固定端側に位置する。
弾性波を高い精度にて検出できる。
対象物に光を照射した場合における、当該対象物の吸光度の、当該光の波長に対する変化の一例を表すグラフである。 第1実施形態の検出装置の構成の一例を表すブロック図である。 図2の検出器の斜視図である。 図3のA−A線による検出器の断面図である。 図2の検出器の正面図である。 図2の検出器を製造する工程の一例を表す説明図である。 図2の検出器に弾性波が到来した場合における、電極間の電位の差の振幅の、当該弾性波の周波数に対する変化の一例を表すグラフである。 図2の光源の変形例を表すブロック図である。 第1実施形態の第1変形例の検出器の正面図である。 第1実施形態の第2変形例の検出器の正面図である。 ヘルムホルツ共振の一例を表す説明図である。 第2実施形態の検出装置の断面図である。 第2実施形態の第1変形例の検出装置の断面図である。 第2実施形態の第2変形例の検出装置の断面図である。 第2実施形態の第3変形例の検出装置の断面図である。 第3実施形態の検出装置の構成の一例を表すブロック図である。 図16の処理装置による波源の位置の推定を表す説明図である。 第3実施形態の変形例の処理装置による波源の位置の推定を表す説明図である。
以下、本発明の検出装置に関する各実施形態について図1乃至図18を参照しながら説明する。
<第1実施形態>
物体に光を照射した場合に、当該物体が、照射された光に応じて音波又は超音波等の弾性波を生成する光音響効果が知られている。図1は、対象物に光を照射した場合における、当該対象物の吸光度の、当該光の波長に対する変化を表す。吸光度は、光学密度と表されてもよい。図1は、参考文献1に含まれる図2.1が引用された図である。
参考文献1:丸尾勝彦、「近赤外分光法による非侵襲血糖値測定の研究」、電気通信大学大学院電気通信学研究科博士(工学)の学位申請論文、電気通信大学大学院、p22、2007年6月
対象物は、粉末状のグルコース、粉末状のアルブミン、粉末状のコレステロール、水、又は、濃度が10g/dLであるグルコース水溶液である。なお、図1においては、グルコース水溶液に対する吸光度に代えて、グルコース水溶液の吸光度から水の吸光度を減じた値が、グルコース水溶液の水に対する差分として表されている。
図1に表されるように、光が対象物に照射された場合において、当該対象物の吸光度の、当該光の波長に対する変化は、物質毎に異なる。また、対象物が照射された光に応じて生成する弾性波の強度は、吸光度と強い相関を有する。従って、生体に含まれる対象物に対応する特定の波長の光を当該生体に照射することにより、当該対象物を高い精度にて検出できる。そこで、第1実施形態の検出装置は、光音響効果を用いて、生体に含まれる対象物を検出する。
(構成)
図2に表されるように、第1実施形態の検出装置100は、光音響効果を用いて、対象物を検出する。本例では、対象物は、生体に含まれる。例えば、対象物は、グルコース、アルブミン、コレステロール、水、又は、腫瘍等である。例えば、対象物として水が検出されることにより、生体のむくみが検出されてよい。
検出装置100は、検出器1と、光源2と、を備える。
光源2は、所定の波長を有するレーザー光を生成する。本例では、光源2は、パルス発振動作を行なう。具体的には、光源2は、所定の発振周期が経過する毎に、所定の発振時間に亘って所定の強度を有するレーザー光(換言すると、パルス状のレーザー光)を生成する。本例では、発振周期は、後述する第1の電極12の共振周波数fに対応する周期に設定される。
例えば、波長は、500nm乃至3000nmの長さであり、発振周期は、0.1ms乃至1sの長さであり、発振時間は、0.01ns乃至0.1msの長さである。本例では、波長は、905nmであり、発振周期は、5msであり、発振時間は、0.5nsである。
図3に表されるように、検出器1は、空気を介して伝搬される弾性波を検出するセンサである。検出器1は、空気を介して伝搬される弾性波を電気信号に変換することにより、当該弾性波を検出する。例えば、弾性波は、超音波、又は、音波である。
本例では、検出器1は、静電容量型のセンサである。検出器1は、音響トランスデューサ、マイクロフォン、又は、圧力センサと表されてもよい。検出器1は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)として実現されてよい。
検出器1は、図3に表されるように、長方形状(本例では、正方形状)を有する板状である。例えば、検出器1の一辺の長さは、1mm乃至10mmの長さである。本例では、検出器1の一辺の長さは、6mmである。検出器1は、図3及び図4に表されるように、板状の第1の電極層10と、板状の絶縁層20と、板状の第2の電極層30と、を備える。図4は、図3のA−A線による検出器1の断面を表す。
絶縁層20は、第1の電極層10と接する。第2の電極層30は、第1の電極層10と反対側にて絶縁層20と接する。換言すると、第1の電極層10、絶縁層20、及び、第2の電極層30は、順に並ぶように積層されている。また、換言すると、絶縁層20は、第1の電極層10及び第2の電極層30に挟まれている。
例えば、第1の電極層10の厚さは、1μm乃至20μmの厚さであり、絶縁層20の厚さは、0.1μm乃至10μmの厚さであり、第2の電極層30の厚さは、10μm乃至1mmの厚さである。本例では、第1の電極層10の厚さは、7μmであり、絶縁層20の厚さは、1μmであり、第2の電極層30の厚さは、300μmである。
図3乃至図5に表されるように、X軸、Y軸及びZ軸を有する右手系の直交座標系を用いて検出器1について説明を加える。Z軸は、検出器1に直交する方向(換言すると、検出器1の厚み方向)に沿って延びる。Z軸の正方向は、第2の電極層30から第1の電極層10へ向かう方向である。
Y軸は、後述する第1の電極12の固定端FXから自由端FRへ向かう方向に沿って延びる。Y軸の正方向は、後述する第1の電極12の固定端FXから自由端FRへ向かう方向である。X軸は、後述する第1の電極12の固定端FX又は自由端FRに沿って延びる。
なお、後述する図9、図10、及び、図12乃至図15においても、図3乃至図5と同一の直交座標系が用いられる。
本例では、第1の電極層10は、シリコン(Si)からなる。第1の電極層10は、第1の支持部11と、第1の電極12と、を含む。
Z軸の負方向へ向かって検出器1を見た図である図5に表されるように、第1の支持部11は、Z軸に沿った方向にて第1の支持部11を見た場合において、所定の幅を有するとともに、第1の電極層10の外縁を形成するように当該外縁に沿って延びる。換言すると、第1の支持部11は、Z軸に沿った方向に延びるとともに、Z軸に沿った方向における両端が開口する中空の四角柱状である。
第1の電極12は、Z軸に沿った方向にて第1の電極12を見た場合において、長方形状(本例では、正方形状)を有する。
第1の電極12は、第1の支持部11の、X軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、Y軸の負方向側の部分から、Y軸の正方向へ向かって延出する。換言すると、第1の電極12のうちの、Y軸の負方向側の端FXは、第1の支持部11の、X軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、Y軸の負方向側の部分と連接する。これにより、第1の電極12は、第1の支持部11によって支持されている。
第1の電極12の端(換言すると、外縁)のうちの、Y軸の負方向側の端FX以外の部分は、第1の支持部11との間に所定の間隙(換言すると、スリット)13を有する。換言すると、第1の電極12のY軸に沿った方向における一方の端FXは、検出器1に固定され、且つ、第1の電極12のうちの、当該一方の端FX以外の部分は、検出器1に固定されない(換言すると、他の部材と接しない)。
これにより、第1の電極12は、弾性波によって湾曲することにより、図4の矢印SAにより表されるように振動する。第1の電極12のうちの、Y軸の負方向側の端FXは、固定端FXの一例である。また、第1の電極12のうちの、Y軸の正方向側の端FRは、自由端FRの一例である。
このように、第1の電極12は、固定端FX及び自由端FRを有するカンチレバー構造を有する。本例では、第1の電極12は、Square Beamである、と捉えられてもよい。
絶縁層20は、絶縁体からなる。本例では、絶縁層20は、二酸化ケイ素(SiO)からなる。絶縁層20は、シリコン酸化膜と表されてもよい。
絶縁層20は、図4に表されるように、外縁部21を含む。外縁部21は、Z軸に沿った方向にて外縁部21を見た場合において、所定の幅を有するとともに、絶縁層20の外縁を形成するように当該外縁に沿って延びる。
換言すると、外縁部21は、Z軸に沿った方向に延びるとともに、Z軸に沿った方向における両端が開口する中空の四角柱状である。絶縁層20は、絶縁層20のうちの第1の電極12と対向する部分にて開口するとともに、Z軸に沿った方向にて絶縁層20を貫通する第1の貫通孔22を有する、と捉えられてもよい。本例では、Z軸に沿った方向にて検出器1を見た場合において、外縁部21の幅は、第1の支持部11の幅と同じである。
本例では、第2の電極層30は、シリコン(Si)からなる。第2の電極層30は、第2の支持部31と、第2の電極32と、エレクトレット層33と、を含む。
第2の支持部31は、Z軸に沿った方向にて第2の支持部31を見た場合において、所定の幅を有するとともに、第2の電極層30の外縁を形成するように当該外縁に沿って延びる。換言すると、第2の支持部31は、Z軸に沿った方向に延びるとともに、Z軸に沿った方向における両端が開口する中空の四角柱状である。本例では、Z軸に沿った方向にて検出器1を見た場合において、第2の支持部31の幅は、第1の支持部11の幅と同じである。
第2の電極32は、Z軸に沿った方向にて第2の電極32を見た場合において、長方形状を有する。第2の電極32のY軸に沿った方向における長さは、第1の電極12のY軸に沿った方向における長さよりも短い。第2の電極32の、Y軸の正方向側の端は、Y軸に沿った方向において、自由端FRよりも固定端FX側に位置する。本例では、第2の電極32の、Y軸の正方向側の端は、Y軸に沿った方向において、自由端FR及び固定端FXの中間に位置する。
第2の電極層30は、第2の電極層30のうちの第1の電極12と対向する部分の中で、Y軸に沿った方向において第2の電極32よりも自由端FR側の部分にて開口するとともに、Z軸に沿った方向にて第2の電極層30を貫通する第2の貫通孔34を有する、と捉えられてもよい。
第2の電極32は、第2の支持部31の、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の負方向側の部分から、X軸の正方向へ向かって延出する。換言すると、第2の電極32のうちの、X軸の負方向側の端は、第2の支持部31の、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の負方向側の部分と連接する。
加えて、第2の電極32は、第2の支持部31の、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の正方向側の部分から、X軸の負方向へ向かって延出する。換言すると、第2の電極32のうちの、X軸の正方向側の端は、第2の支持部31の、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の正方向側の部分と連接する。
換言すると、第2の電極32のX軸に沿った方向における両方の端は、検出器1に固定される。これにより、第2の電極32は、第2の支持部31によって支持されている。
本例では、図3及び図4に表されるように、第2の電極32は、絶縁層20の厚さと等しい距離を隔てて第1の電極12と対向する。本例では、第2の電極32の厚さは、第2の支持部31の厚さよりも僅かに薄い。
図3に表されるように、第2の電極32は、Z軸に沿った方向にて第2の電極32を貫通する複数の貫通孔35を有する。
図3及び図4に表されるように、エレクトレット層33は、第2の支持部31及び第2の電極32の、Z軸の正方向側の表面を被覆する。エレクトレット層33は、エレクトレットからなる。例えば、エレクトレット層33は、フッ素樹脂等の高分子化合物を含む。本例では、エレクトレット層33は、コロナ放電によって帯電させられる。
なお、検出器1は、エレクトレット層33を備えずに、第1の電極12と第2の電極32との間に電圧を印加するように構成されていてもよい。
検出装置100は、第1の電極12と第2の電極32との間の静電容量の変化に基づいて、弾性波を検出する。本例では、検出装置100は、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差を検出することにより、弾性波を検出する。なお、検出装置100は、第1の電極12と第2の電極32との間を流れる電流を検出することにより、弾性波を検出してもよい。
例えば、第1の電極12の、n次の共振に対する共振周波数fは、数式1により表される。nは、自然数を表す。Lは、第1の電極12のY軸に沿った方向における長さを表す。αは、n次の共振に対して予め定められた係数を表す。例えば、αは、0.162であってよい。dは、第1の電極12の厚さ(換言すると、第1の電極12のZ軸に沿った方向における長さ)を表す。ρは、第1の電極12の材料の密度を表す。Eは、第1の電極12の材料のヤング率を表す。
Figure 2017041824
例えば、対象物に強度Iを有する光を照射した場合に、対象物が、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数fを有する弾性波を生成する場合を想定する。この場合、第1の電極12の自由端FRのZ軸に沿った方向における振幅Aは、数式2により表される。αは、対象物の吸収係数を表す。吸収係数は、吸光係数と表されてもよい。γは、対象物の比熱比を表す。Qは、第1の電極12のQ値を表す。
Figure 2017041824
数式2により表されるように、Q値が高くなるほど、第1の電極12の振幅Aが大きくなるので、弾性波を高い精度にて検出できる。また、数式2により表されるように、周波数fが低くなるほど、第1の電極12の振幅Aが大きくなるので、弾性波を高い精度にて検出できる。また、数式2により表されるように、第1の電極12の厚さdが小さくなるほど、第1の電極12の振幅Aが大きくなるので、弾性波を高い精度にて検出できる。
本例では、検出器1の少なくとも一部は、図6に表される工程に従って製造される。なお、検出器1の少なくとも一部は、図6に表される工程と異なる工程に従って製造されてもよい。
先ず、図6の(A)に表されるように、第1のシリコン層LAと、第1のシリコン層LAに接する絶縁層LBと、絶縁層LBに接する第2のシリコン層LCと、からなるSOI(Silicon On Insulator)基板を用意する。本例では、絶縁層LBは、二酸化ケイ素(SiO)からなる。
次に、図6の(B)に表されるように、フォトリソグラフィ技術を用いることにより、所定のパターンを有するフォトレジスト膜PRを、第2のシリコン層LCの、絶縁層LBと反対側の表面に形成する。そして、エッチング技術を用いることにより、第2のシリコン層LCのうちの、フォトレジスト膜PRが形成されていない部分を除去する。
次いで、図6の(C)に表されるように、フォトリソグラフィ技術を用いることにより、所定のパターンを有するフォトレジスト膜PRを、第1のシリコン層LAの、絶縁層LBと反対側の表面に形成する。そして、エッチング技術を用いることにより、第1のシリコン層LAのうちの、フォトレジスト膜PRが形成されていない部分を除去する。
その後、図6の(D)に表されるように、フォトレジスト膜PRを除去する。更に、臨界点乾燥(換言すると、超臨界乾燥)を含むエッチング技術を用いることにより、絶縁層LBのうちの、第1のシリコン層LAと接していない部分を除去する。
このようにして、検出器1の少なくとも一部は、製造される。例えば、第1の電極層10及び第2の電極層30のそれぞれは、図6に表される工程に従って製造されてよい。
図7は、弾性波が検出器1に到来した場合における、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差の振幅の、当該弾性波の周波数に対する変化を表す。図7に表されるように、振幅は、周波数に対して、特定の周波数fにて急峻なピークを有するように変化する。検出器1の特性を測定した結果において、Q値は、約104であり、感度は、16dBであり、SN比(Signal to Noise Ratio)は、42dBである。従って、検出器1は、特定の周波数の弾性波を高い精度にて検出できる。
(動作)
次に、検出装置100の動作について説明する。
先ず、光源2が、上記発振周期が経過する毎に、上記発振時間に亘って上記波長を有するレーザー光を生成する。光源2により生成されたレーザー光は、生体に照射される。これにより、生体に含まれる対象物は、照射されたレーザー光に応じて、上記発振周期に対応する周波数を有する弾性波を生成する。そして、生成された弾性波は、空気を介して伝搬されることにより第1の電極12に到達する。これにより、第1の電極12は、Z軸に沿った方向において振動する。
この結果、第1の電極12と第2の電極32との間の静電容量が変化するので、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差も変化する。本例では、発振周期は、第1の電極12の共振周波数fに対応する周期に設定される。従って、対象物が照射されたレーザー光に応じて生成する弾性波の周波数は、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数を有する。その結果、第1の電極12は、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数にて振動する。
従って、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差も、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数にて振動する。検出装置100は、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差の振動を検出することにより、弾性波を検出する。これにより、検出装置100は、生体に含まれる対象物を検出する。
以上、説明したように、第1実施形態の検出装置100において、第1の電極12は、固定端FX及び自由端FRを有するカンチレバー構造を有するとともに、弾性波によって湾曲することにより振動する板状である。更に、第2の電極32は、第1の電極12と所定の距離を隔てて対向する板状である。加えて、検出装置100は、第1の電極12と第2の電極32との間の静電容量の変化に基づいて弾性波を検出する。更に、固定端FXから自由端FRへ向かう方向における第2の電極32の端は、自由端FRよりも固定端FX側に位置する。
これによれば、第2の電極32は、第1の電極12の自由端FRと対向する位置に存在しない。これにより、第1の電極12及び第2の電極32の間の空気によって第1の電極12の振動が減衰する程度を抑制できる。この結果、弾性波を高い精度にて検出できる。
ところで、光音響効果を用いて対象物を検出する場合、対象物は、特定の周波数を有する弾性波を生成する。従って、特定の周波数を有する弾性波を高い精度にて検出する検出装置を用いなければ、対象物を高い精度にて検出できない虞がある。
これに対し、検出装置100によれば、第1の電極12の共振周波数の近傍の周波数の弾性波が第1の電極12に到達した場合、第1の電極12は共振する。従って、第1の電極12の共振周波数の近傍の周波数の弾性波を高い精度にて検出できる。この結果、光音響効果を用いて、生体に含まれる対象物を高い精度にて検出できる。
更に、第1実施形態の検出装置100において、第2の電極層30は、第2の電極層30のうちの第1の電極12と対向する部分の中で、固定端FXから自由端FRへ向かう方向において第2の電極32よりも自由端FR側の部分にて開口する第2の貫通孔34を有する。
これによれば、第1の電極12の自由端FRと対向する位置に第2の貫通孔34が存在する。これにより、第1の電極層10及び第2の電極層30の間の空気によって第1の電極12の振動が減衰する程度を抑制できる。この結果、弾性波を高い精度にて検出できる。
加えて、第1実施形態の検出装置100において、第2の電極32は、複数の貫通孔35を有する。
これによれば、第1の電極12及び第2の電極32の間の空気によって第1の電極12の振動が減衰する程度を抑制できる。この結果、弾性波を高い精度にて検出できる。
なお、検出装置100は、光源2に代えて、図8に表されるように、互いに異なる複数の波長をそれぞれ有する複数のレーザー光を生成する光源2Aを備えてもよい。光源2Aは、第1の光生成器201と、第2の光生成器202と、ハーフミラー203と、を備える。光源2Aが備える光生成器の数は、3つ以上であってもよい。
第1の光生成器201は、第1の波長を有するレーザー光を生成する。第2の光生成器202は、第1の波長と異なる第2の波長を有するレーザー光を生成する。ハーフミラー203は、第1の波長を有する光を透過するとともに、第2の波長を有する光を反射する。
このような構成により、光源2Aは、第1の波長を有するレーザー光と、第2の波長を有するレーザー光と、を同じ位置に照射する。検出装置100は、2つのレーザー光が照射されることによってそれぞれ生成された2つの弾性波を検出し、当該検出の結果に基づいて、所定の対象物によって生成された弾性波を検出する。
物体が、光の照射に応じて生成する弾性波の強度は、照射される光の波長に伴って変化する。従って、この変形例によれば、検出された弾性波から、対象物と異なる物体によって生成された弾性波の成分を除去できる。この結果、対象物を高い精度にて検出できる。
例えば、対象物が、第1の波長に対して生成する弾性波の強度が、対象物が、第2の波長に対して生成する弾性波の強度よりも大きい場合、検出装置100は、第1の波長に対する弾性波の検出の結果から、第2の波長に対する弾性波の検出の結果を減じた値に基づいて、対象物によって生成された弾性波を検出してよい。
なお、検出装置100は、生体と異なる物体に含まれる対象物を検出してもよい。例えば、検出装置100は、装置、部品、又は、構造物等に含まれる傷又は欠陥等を検出する探傷試験に用いられてもよい。探傷試験は、探傷検査、又は、非破壊検査と表されてもよい。また、検出装置100は、水に含まれる、ミネラル又は細菌等の種々の成分を検出する水質検査に用いられてもよい。また、検出装置100は、食品に含まれる、水、ビタミン、ミネラル、塩、糖又は添加物等の種々の成分を検出する食品検査に用いられてもよい。また、検出装置100は、気体に含まれる、水蒸気又は二酸化炭素等の種々の成分を検出する気体センサとして用いられてもよい。
また、検出器1は、光音響効果を用いない検出装置に適用されてもよい。
<第1実施形態の第1変形例>
第1実施形態の第1変形例の検出装置について説明する。第1実施形態の第1変形例の検出装置は、第1実施形態の検出装置に対して、第1の電極の形状が相違している。以下、第1実施形態の第1変形例の検出装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第1実施形態の第1変形例の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
図9に表されるように、第1実施形態の第1変形例の検出器1は、第1実施形態の第1の電極層10に代えて、第1の電極層10Aを備える。
第1の電極層10Aは、第1の支持部11Aと、第1の電極12Aと、を含む。第1の電極12Aは、本体部12A1と、2つの脚部12A2と、を含む。
第1の支持部11Aは、Z軸に沿った方向にて第1の支持部11Aを見た場合において、所定の幅を有するとともに、第1の電極層10Aの外縁を形成するように当該外縁に沿って延びる。換言すると、第1の支持部11Aは、Z軸に沿った方向に延びるとともに、Z軸に沿った方向における両端が開口する中空の四角柱状である。
第1の支持部11Aの、X軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、Y軸の負方向側の部分は、X軸に沿った方向における中央部にて幅広部11A1を有する。幅広部11A1は、Z軸に沿った方向にて第1の支持部11Aを見た場合において、第1の支持部11Aのうちの幅広部11A1以外の部分よりも幅が広い。
本体部12A1は、Z軸に沿った方向にて第1の電極12Aを見た場合において、X軸に沿った方向に延びる長辺と、Y軸に沿った方向に延びる短辺と、を有する長方形状を有する。2つの脚部12A2は、本体部12A1の、Y軸の負方向側の端のうちの、X軸に沿った方向における両端部から、Y軸の負方向へ向かってそれぞれ延出する。更に、2つの脚部12A2は、第1の支持部11Aの、X軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、Y軸の負方向側の部分から、Y軸の正方向へ向かって延出する。
換言すると、各脚部12A2のうちの、Y軸の負方向側の端FXは、第1の支持部11Aの、X軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、Y軸の負方向側の部分と連接する。これにより、第1の電極12Aは、第1の支持部11Aによって支持されている。
第1の電極12Aの端(換言すると、外縁)のうちの、Y軸の負方向側の端FX以外の部分は、第1の支持部11Aとの間に所定の間隙(換言すると、スリット)13Aを有する。換言すると、第1の電極12AのY軸に沿った方向における一方の端FXは、検出器1に固定され、且つ、第1の電極12Aのうちの、当該一方の端FX以外の部分は、検出器1に固定されない(換言すると、他の部材と接しない)。
これにより、第1の電極12Aは、弾性波によって湾曲することにより振動する。第1の電極12Aのうちの、Y軸の負方向側の端FXは、固定端FXの一例である。また、第1の電極12Aのうちの、Y軸の正方向側の端FRは、自由端FRの一例である。
このように、第1の電極12Aは、固定端FX及び自由端FRを有するカンチレバー構造を有する。本例では、第1の電極12Aは、Long Leg Beamである、と捉えられてもよい。
第1実施形態の第1変形例の検出装置100によっても、第1実施形態の検出装置100と同様の作用及び効果が奏される。
<第1実施形態の第2変形例>
第1実施形態の第2変形例の検出装置について説明する。第1実施形態の第2変形例の検出装置は、第1実施形態の検出装置に対して、第1の電極の形状が相違している。以下、第1実施形態の第2変形例の検出装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第1実施形態の第2変形例の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
図10に表されるように、第1実施形態の第2変形例の検出器1は、第1実施形態の第1の電極層10に代えて、第1の電極層10Bを備える。
第1の電極層10Bは、第1の支持部11Bと、第1の電極12Bと、を含む。第1の電極12Bは、本体部12B1と、第1の脚部12B2と、第2の脚部12B3と、を含む。
第1の支持部11Bは、Z軸に沿った方向にて第1の支持部11Bを見た場合において、所定の幅を有するとともに、第1の電極層10Bの外縁を形成するように当該外縁に沿って延びる。換言すると、第1の支持部11Bは、Z軸に沿った方向に延びるとともに、Z軸に沿った方向における両端が開口する中空の四角柱状である。
第1の支持部11Bの、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のそれぞれは、Y軸の負方向側の端部以外の部分にて幅広部11B1を有する。幅広部11B1は、Z軸に沿った方向にて第1の支持部11Bを見た場合において、第1の支持部11Bのうちの幅広部11B1以外の部分よりも幅が広い。
本体部12B1は、Z軸に沿った方向にて第1の電極12Bを見た場合において、Y軸に沿った方向に延びる長辺と、X軸に沿った方向に延びる短辺と、を有する長方形状を有する。
第1の脚部12B2は、本体部12B1の、X軸の負方向側の端のうちの、Y軸の負方向側の端部から、X軸の負方向へ向かって延出する。更に、第1の脚部12B2は、第1の支持部11Bの、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の負方向側の部分から、X軸の正方向へ向かって延出する。換言すると、第1の脚部12B2のうちの、X軸の負方向側の端FXは、第1の支持部11Bの、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の負方向側の部分と連接する。
第2の脚部12B3は、本体部12B1の、X軸の正方向側の端のうちの、Y軸の負方向側の端部から、X軸の正方向へ向かって延出する。更に、第2の脚部12B3は、第1の支持部11Bの、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の正方向側の部分から、X軸の負方向へ向かって延出する。換言すると、第2の脚部12B3のうちの、X軸の正方向側の端FXは、第1の支持部11Bの、Y軸に沿った方向に延びる2つの部分のうちの、X軸の正方向側の部分と連接する。
これにより、第1の電極12Bは、第1の支持部11Bによって支持されている。
第1の電極12Bの端(換言すると、外縁)のうちの、X軸に沿った方向における両端のうちの、Y軸の負方向側の端部FX以外の部分は、第1の支持部11Bとの間に所定の間隙(換言すると、スリット)13Bを有する。換言すると、第1の電極12BのY軸に沿った方向における一方の端部FXは、検出器1に固定され、且つ、第1の電極12Bのうちの、当該一方の端部FX以外の部分は、検出器1に固定されない(換言すると、他の部材と接しない)。
これにより、第1の電極12Bは、弾性波によって湾曲することにより振動する。第1の電極12Bのうちの、Y軸の負方向側の端部FXは、固定端FXの一例である。また、第1の電極12Bのうちの、Y軸の正方向側の端FRは、自由端FRの一例である。
このように、第1の電極12Bは、固定端FX及び自由端FRを有するカンチレバー構造を有する。本例では、第1の電極12Bは、Torsion Beamである、と捉えられてもよい。
第1実施形態の第2変形例の検出装置100によっても、第1実施形態の検出装置100と同様の作用及び効果が奏される。
<第2実施形態>
次に、第2実施形態の検出装置について説明する。第2実施形態の検出装置は、第1実施形態の検出装置に対して、弾性波によって空気を共振させる空間を設ける点において相違している。以下、第2実施形態の検出装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第2実施形態の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
先ず、図11に表される容器90におけるヘルムホルツ共振について説明する。
容器90は、内部に空間900を有するとともに、空間900と連通する開口901を有する。空間900は、基部902と、基部902と開口901とを連通する管部903と、を含む。
基部902は、体積Vを有する。管部903は、断面積Sの断面形状を有するとともに長さLを有する柱状である。なお、本例では、管部903の体積LSは、基部902の体積Vよりも十分に小さい。
基部902における空気がバネのように機能するので、管部903における空気は、剛体であるとともに質量ρSLを有し且つ管部903にて往復動するピストンである、と見なされ得る。ρは、空気の密度を表す。従って、空間900における空気の固有角振動数ωは、数式3により表される。
Figure 2017041824
cは、数式4により表されるように、音速を表す。γは、空気の比熱比を表す。pは、空気の圧力を表す。
Figure 2017041824
従って、開口901の近傍にて、固有角振動数ωに対応する周波数を有する弾性波が到来すると、空間900における空気は、共振(換言すると、共鳴)する。空間900における空気の、固有角振動数ωに対応する周波数を有する弾性波による共振は、ヘルムホルツ共振、又は、ヘルムホルツ共鳴と表されてよい。
そこで、第2実施形態の検出装置は、ヘルムホルツ共振を用いて、生体に含まれる対象物を検出する。
図12に表されるように、第2実施形態の検出装置100Aは、本体101と、検出器1と、光源2と、を備える。
本体101は、内部に空間102を有するとともに、空間102と連通する開口103を有する。本体101のうちのZ軸の正方向側の端は、平面状である。開口103は、本体101のうちのZ軸の正方向側の端面に位置する。
空間102は、基部102aと、基部102aと開口103とを連通する管部102bと、を含む。
本例では、基部102aは、X軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに直交する面を2つずつ有する直方体状である。例えば、基部102aの、X軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに沿った方向における長さは、1mm乃至100mmの長さである。
管部102bは、第1の管102b1と、第2の管102b2と、を含む。本例では、第1の管102b1、及び、第2の管102b2のそれぞれの断面は、円形状を有する。例えば、第1の管102b1、及び、第2の管102b2のそれぞれの断面の直径は、0.1mm乃至10mmの長さである。例えば、管部102bの長さは、1mm乃至100mmの長さである。なお、第1の管102b1、及び、第2の管102b2のそれぞれの断面は、円形状と異なる形状(例えば、長方形状)を有していてもよい。
第1の管102b1は、基部102aのうちの、Z軸の負方向側の端部であり且つY軸の正方向側の端部である位置から、Y軸の正方向へ向かって延出する。第2の管102b2は、第1の管102b1のうちのY軸の正方向側の端部から、Z軸の正方向へ向かって延出する。換言すると、第1の管102b1は、基部102aと、第2の管102b2と、を連通する。第2の管102b2は、第1の管102b1と、開口103と、を連通する。
検出器1は、第1の電極層10が基部102aに接するように、本体101の、基部102aを形成する壁に埋設されている。これにより、検出器1は、本体101に固定されている。本例では、検出器1は、基部102aのうちのZ軸の負方向側の端面を形成する壁に位置する。
更に、本体101は、管部102bを形成する壁に、光が透過する窓104を有する。窓104は、管部102bのうちのZ軸の負方向側の端部を形成する壁に位置する。換言すると、窓104は、Z軸に沿った方向において、空間102に対して検出器1と同じ側に位置する。本例では、窓104は、管部102bのうちの、第1の管102b1と第2の管102b2とが連接する部分と接する。換言すると、窓104は、第2の管102b2に沿って延びる直線上に位置する。換言すると、第2の管102b2は、窓104と開口103とを結ぶ直線に沿って延びている。本例では、窓104は、光が透過する材料からなる。なお、窓104は、開口であってもよい。
光源2は、生成したレーザー光が、窓104及び第2の管102b2を介して本体101の開口103を照射するように本体101に固定される。本例では、光源2は、窓104に対してZ軸の負方向側に位置する。
本体101は、空間102におけるヘルムホルツ共振の共振周波数が、第1の電極12の共振周波数と一致する形状を有する。なお、空間102の形状は、上述した形状と異なっていてもよい。本体101は、ヘルムホルツ共振器の一例である。
(動作)
次に、検出装置100Aの動作について説明する。
例えば、生体が本体101の開口103を閉塞するように、生体及び検出装置100Aの少なくとも一方が移動させられる。なお、生体は、本体101の開口103を閉塞しなくてもよい。
先ず、光源2が、上記発振周期が経過する毎に、上記発振時間に亘って上記波長を有するレーザー光を生成する。光源2により生成されたレーザー光は、窓104及び第2の管102b2を介して生体に照射される。これにより、生体に含まれる対象物は、照射されたレーザー光に応じて、上記発振周期に対応する周波数を有する弾性波を生成する。そして、生成された弾性波によって、空間102において空気が共振する。
空間102において共振した空気は、弾性波として第1の電極12に到達する。これにより、第1の電極12は、Z軸に沿った方向において振動する。
この結果、第1の電極12と第2の電極32との間の静電容量が変化するので、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差も変化する。本例では、発振周期は、第1の電極12の共振周波数fに対応する周期に設定される。従って、対象物が照射されたレーザー光に応じて生成する弾性波の周波数は、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数を有する。第1の電極12は、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数にて振動する。
従って、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差も、第1の電極12の共振周波数fの近傍の周波数にて振動する。検出装置100Aは、第1の電極12と第2の電極32との間の電位の差の振動を検出することにより、弾性波を検出する。これにより、検出装置100Aは、生体に含まれる対象物を検出する。
以上、説明したように、第2実施形態の検出装置100Aによれば、第1実施形態の検出装置100と同様の作用及び効果が奏される。
更に、第2実施形態の検出装置100Aにおいて、本体101は、検出器1と接する空間102を内部に有するとともに、空間102と連通する開口103を有する。
これによれば、本体101の内部の空間102における空気を、特定の周波数を有する弾性波によって共振させることができる。この結果、特定の周波数を有する弾性波を高い精度にて検出できる。
更に、第2実施形態の検出装置100Aにおいて、本体101は、光源2により生成された光が透過する窓104を有する。
これによれば、窓104から入射した光を、本体101の開口103を介して、対象物に照射できる。更に、対象物が生成した弾性波を検出器1によって検出できる。従って、検出装置100Aを移動させた場合であっても、光が照射される位置と、検出器1の位置と、の関係を維持できるので、弾性波を高い精度にて検出できる。この結果、対象物を高い精度にて検出できる。
加えて、第2実施形態の検出装置100Aにおいて、窓104は、空間102に対して検出器1と同じ側に位置する。
窓104の近傍には、光源2が設けられる。従って、検出装置100Aによれば、検出器1を、空間102に対して光源2と同じ側に設けることができる。この結果、検出器1が、空間102に対して光源2と異なる側に設けられる場合よりも、検出装置100Aの大きさを小さくすることができる。
更に、第2実施形態の検出装置100Aにおいて、空間102は、基部102aと、基部102aと開口103とを連通する管部102bと、を含み、管部102bのうちの第2の管102b2は、窓104と開口103とを結ぶ直線に沿って延びる。
これによれば、ヘルムホルツ共振に用いられる管部102bのうちの第2の管102b2を、光源2により生成されたレーザー光が通る光路としても用いることができる。従って、本体101のうちの管部102bと異なる位置に、光源2により生成されたレーザー光が通る光路を設ける必要がないので、検出装置100Aの大きさを小さくすることができる。
更に、第2実施形態の検出装置100Aにおいて、本体101は、空間102におけるヘルムホルツ共振の共振周波数が、第1の電極12の共振周波数と一致する形状を有する。
これによれば、第1の電極12の共振周波数と一致する周波数の弾性波によって、本体101の内部の空間102における空気が共振する。これにより、第1の電極12の共振周波数と一致する周波数の弾性波を高い精度にて検出できる。
なお、検出装置100Aは、検出器1に代えて、カンチレバー構造を有する振動板と、振動板の変形を検出する圧電体と、を備えるとともに振動板の変形に基づいて弾性波を検出する検出器を備えてもよい。また、検出装置100Aは、検出器1に代えて、カンチレバー構造を有する振動板と、振動板に照射されるレーザー光を生成する光源と、振動板から反射されたレーザー光を複数の位置にてそれぞれ検出することにより振動板によるレーザー光の反射方向の変化を検出する複数の光検出器と、を備えるとともに、振動板によるレーザー光の反射方向の変化に基づいて弾性波を検出する検出器を備えてもよい。
<第2実施形態の第1変形例>
第2実施形態の第1変形例の検出装置について説明する。第2実施形態の第1変形例の検出装置は、第2実施形態の検出装置に対して、ヘルムホルツ共振に用いる空間を形成する壁を振動させる点において相違している。以下、第2実施形態の第1変形例の検出装置の、第2実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第2実施形態の第1変形例の説明において、第2実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
図13に表されるように、第2実施形態の第1変形例の検出装置100Bは、第2実施形態の検出装置100Aが備える構成に加えて、検出器105と、振動板106と、振動制御器107と、を備える。
検出器105は、空気を介して伝搬される弾性波を検出するセンサである。本例では、検出器105は、検出器1よりも、検出可能な弾性波の周波数の帯域が広い。更に、本例では、検出器105は、検出器1よりも、弾性波の検出に対する応答が速い。例えば、検出器105は、ダイヤフラム構造を有する静電容量型のセンサである。
検出器105は、基部102aに接するように、本体101の、基部102aを形成する壁に埋設されている。これにより、検出器105は、本体101に固定されている。本例では、検出器105は、基部102aのうちのZ軸の負方向側の端面を形成する壁に位置する。
振動板106は、基部102aに接するように、本体101の、基部102aを形成する壁に振動可能に埋設されている。本例では、振動板106は、基部102aのうちのY軸の負方向側の端面を形成する壁に位置する。振動板106は、アクチュエータを含み、アクチュエータによって振動させられる。本例では、アクチュエータは、圧電式のアクチュエータである。なお、アクチュエータは、圧電式と異なる方式(例えば、電磁式)のアクチュエータであってもよい。
振動制御器107は、検出器105による検出の結果に基づいて、振動板106の振動を制御する。本例では、振動制御器107は、検出器105により検出された信号から、フィルタ(例えば、ローパスフィルタ)によってノイズを除去し、除去後の信号の振幅及び位相を調整し、調整後の信号を駆動信号としてアクチュエータに出力する。
振動制御器107による振動板106の振動の制御は、フィードバック制御と表されてよい。本例では、振動制御器107は、フィードバック制御による発振を抑制するように、振幅の調整を行なう。例えば、フィードバック制御におけるゲインの総和は、1以下に設定されてよい。更に、本例では、振動制御器107は、駆動信号の位相が、検出器105により検出された信号の位相に対して、90°だけ遅延するように、位相の調整を行なう。
このようにして、フィードバック制御によって、本体101の内部の空間102における空気の共振を増幅することができる。本例では、フィードバック制御は、ヘルムホルツ共振器のQ値に対する、電気機械的なアクティブ制御である、と捉えられてよい。
以上、説明したように、第2実施形態の第1変形例の検出装置100Bによれば、第2実施形態の検出装置100Aと同様の作用及び効果が奏される。
更に、第2実施形態の第1変形例の検出装置100Bにおいて、本体101は、空間102を形成する壁に振動可能に設けられた振動板106を有する。更に、検出装置100Bは、第1の検出器としての検出器1よりも、検出可能な弾性波の周波数の帯域が広く、且つ、空気を介して伝搬される弾性波を検出するとともに、空間102と接する第2の検出器105を備える。加えて、検出装置100Bは、第2の検出器105による検出の結果に基づいて振動板106の振動を制御する振動制御器107を備える。
これによれば、本体101の内部の空間102における空気の共振を増幅することができる。この結果、特定の周波数を有する弾性波をより一層高い精度にて検出できる。
なお、検出装置100Bは、検出器105を備えずに、検出器1による検出の結果に基づいて、振動板106の振動を制御してもよい。
<第2実施形態の第2変形例>
第2実施形態の第2変形例の検出装置について説明する。第2実施形態の第2変形例の検出装置は、第2実施形態の検出装置に対して、レーザー光が照射される位置を変更する点において相違している。以下、第2実施形態の第2変形例の検出装置の、第2実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第2実施形態の第2変形例の説明において、第2実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
図14に表されるように、第2実施形態の第2変形例の検出装置100Cは、第2実施形態の検出装置100Aが備える構成に加えて、照射制御器108を備える。
第2実施形態の第2変形例の本体101は、内部に第1の空間102を有するとともに、第1の空間102と連通する開口103を有する。本体101のうちのY軸の負方向側の端は、凹部101aを有する。開口103は、凹部101aのうちの中央部に位置する。
凹部101aは、第2の空間109を形成する。本例では、第2の空間109は、X軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに直交する面を2つずつ有する直方体状である。例えば、第2の空間109の、X軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに沿った方向における長さは、1mm乃至100mmの長さである。
第1の空間102は、基部102aと、管部102bと、を含む。
本例では、基部102aは、X軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに直交する面を2つずつ有する直方体状である。例えば、基部102aの、X軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに沿った方向における長さは、1mm乃至100mmの長さである。
本例では、管部102bの断面は、円形状を有する。例えば、管部102bの断面の直径は、0.1mm乃至10mmの長さである。例えば、管部102bの長さは、1mm乃至100mmの長さである。なお、管部102bの断面は、円形状と異なる形状(例えば、長方形状)を有していてもよい。
管部102bは、基部102aのうちの、Y軸の負方向側の端面の中央部から、Y軸の負方向へ向かって延出する。管部102bは、基部102aと、開口103と、を連通する。
検出器1は、第1の電極層10が基部102aに接するように、本体101の、基部102aを形成する壁に埋設されている。これにより、検出器1は、本体101に固定されている。本例では、検出器1は、基部102aのうちのZ軸の負方向側の端面を形成する壁に位置する。
更に、本体101は、凹部101aに、光が透過する窓104を有する。窓104は、第2の空間109のうちのZ軸の負方向側の端面を形成する壁に位置する。換言すると、窓104は、Z軸に沿った方向において、空間102に対して検出器1と同じ側に位置する。本例では、窓104は、光が透過する材料からなる。なお、窓104は、開口であってもよい。
光源2は、生成したレーザー光が、窓104及び第2の空間109を介して照射制御器108に入射されるように、本体101に固定される。本例では、光源2は、窓104に対してZ軸の負方向側に位置する。
本体101は、第1の空間102におけるヘルムホルツ共振の共振周波数が、第1の電極12の共振周波数と一致する形状を有する。なお、第1の空間102の形状は、上述した形状と異なっていてもよい。本体101は、ヘルムホルツ共振器の一例である。
照射制御器108は、本体101に支持されている。照射制御器108は、第2の空間109のうちの、管部102bに沿って延びる直線上の位置と異なる位置を有する。本例では、照射制御器108は、Z軸に沿った方向において、管部102bよりもZ軸の負方向側に位置する。なお、照射制御器108は、Z軸に沿った方向において、管部102bよりもZ軸の正方向側に位置してもよい。
照射制御器108は、光源2により生成されたレーザー光が照射される位置を、互いに異なる複数の位置のそれぞれに制御する。本例では、照射制御器108は、窓104を介して入射したレーザー光を反射する反射面を有するミラー(例えば、マイクロミラー、又は、ガルバノミラー等)を備え、当該反射面の方向を変更することにより、レーザー光が照射される位置を変更する。レーザー光が照射される位置の変更は、レーザー光の走査と表されてもよい。なお、照射制御器108は、焦点を変更する機構(例えば、デフォーマブルミラー等)を備え、当該機構を用いて、レーザー光が照射される位置を変更してもよい。
以上、説明したように、第2実施形態の第2変形例の検出装置100Cによれば、第2実施形態の検出装置100Aと同様の作用及び効果が奏される。
更に、第2実施形態の第2変形例の検出装置100Cにおいて、照射制御器108は、生成されたレーザー光が照射される位置を、互いに異なる複数の位置のそれぞれに制御する。
これによれば、複数の位置のそれぞれにおいて対象物を検出できる。従って、例えば、対象物の空間的な分布を取得できる。
加えて、第2実施形態の第2変形例の検出装置100Cにおいて、照射制御器108は、管部102bに沿って延びる直線上の位置と異なる位置を有する。
これによれば、開口103への弾性波の伝搬が照射制御器108によって阻害される程度を抑制できる。
<第2実施形態の第3変形例>
第2実施形態の第3変形例の検出装置について説明する。第2実施形態の第3変形例の検出装置は、第2実施形態の第2変形例の検出装置に対して、ヘルムホルツ共振に用いる空間を形成する壁を振動させる点において相違している。以下、第2実施形態の第3変形例の検出装置の、第2実施形態の第2変形例に対する相違点を中心として説明する。なお、第2実施形態の第3変形例の説明において、第2実施形態の第2変形例と共通する又は対応する符号が用いられる。
図15に表されるように、第2実施形態の第3変形例の検出装置100Dは、第2実施形態の第2変形例の検出装置100Cが備える構成に加えて、検出器105と、振動板106と、振動制御器107と、を備える。
検出器105は、空気を介して伝搬される弾性波を検出するセンサである。本例では、検出器105は、検出器1よりも、検出可能な弾性波の周波数の帯域が広い。更に、本例では、検出器105は、検出器1よりも、弾性波の検出に対する応答が速い。例えば、検出器105は、ダイヤフラム構造を有する静電容量型のセンサである。
検出器105は、基部102aに接するように、本体101の、基部102aを形成する壁に埋設されている。これにより、検出器105は、本体101に固定されている。本例では、検出器105は、基部102aのうちのZ軸の正方向側の端面を形成する壁に位置する。
振動板106は、基部102aに接するように、本体101の、基部102aを形成する壁に振動可能に埋設されている。本例では、振動板106は、基部102aのうちのY軸の正方向側の端面を形成する壁に位置する。振動板106は、アクチュエータを含み、アクチュエータによって振動させられる。本例では、アクチュエータは、圧電式のアクチュエータである。なお、アクチュエータは、圧電式と異なる方式(例えば、電磁式)のアクチュエータであってもよい。
振動制御器107は、検出器105による検出の結果に基づいて、振動板106の振動を制御する。本例では、振動制御器107は、検出器105により検出された信号から、フィルタ(例えば、ローパスフィルタ)によってノイズを除去し、除去後の信号の振幅及び位相を調整し、調整後の信号を駆動信号としてアクチュエータに出力する。
振動制御器107による振動板106の振動の制御は、フィードバック制御と表されてよい。本例では、振動制御器107は、フィードバック制御による発振を抑制するように、振幅の調整を行なう。例えば、フィードバック制御におけるゲインの総和は、1以下に設定されてよい。更に、本例では、振動制御器107は、駆動信号の位相が、検出器105により検出された信号の位相に対して、90°だけ遅延するように、位相の調整を行なう。
このようにして、フィードバック制御によって、本体101の内部の第1の空間102における空気の共振を増幅することができる。本例では、フィードバック制御は、ヘルムホルツ共振器のQ値に対する、電気機械的なアクティブ制御である、と捉えられてよい。
以上、説明したように、第2実施形態の第3変形例の検出装置100Dによれば、第2実施形態の第2変形例の検出装置100Cと同様の作用及び効果が奏される。
更に、第2実施形態の第3変形例の検出装置100Dにおいて、本体101は、第1の空間102を形成する壁に振動可能に設けられた振動板106を有する。更に、検出装置100Dは、第1の検出器としての検出器1よりも、検出可能な弾性波の周波数の帯域が広く、且つ、空気を介して伝搬される弾性波を検出するとともに、第1の空間102と接する第2の検出器105を備える。加えて、検出装置100Dは、第2の検出器105による検出の結果に基づいて振動板106の振動を制御する振動制御器107を備える。
これによれば、本体101の内部の第1の空間102における空気の共振を増幅することができる。この結果、特定の周波数を有する弾性波をより一層高い精度にて検出できる。
なお、検出装置100Dは、検出器105を備えずに、検出器1による検出の結果に基づいて、振動板106の振動を制御してもよい。
<第3実施形態>
次に、第3実施形態の検出装置について説明する。第3実施形態の検出装置は、第1実施形態の検出装置に対して、複数の検出器によって弾性波の波源の位置を推定する点において相違している。以下、第3実施形態の検出装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第3実施形態の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
図16に表されるように、第3実施形態の検出装置100Eは、2つの検出器1−1,1−2と、光源2と、レンズ111と、照射制御器112と、処理装置113と、を備える。
各検出器1−1,1−2は、第1実施形態の検出器1と同じ構成を有する。レンズ111は、光源2から入射したレーザー光を生体BD内の所定の位置にて結像させる。
照射制御器112は、光源2により生成されたレーザー光が照射される位置を、互いに異なる複数の位置のそれぞれに制御する。本例では、照射制御器112は、レンズ111を介して入射したレーザー光を反射する反射面を有するミラー(例えば、マイクロミラー、又は、ガルバノミラー等)を備え、当該反射面の方向を変更することにより、レーザー光が照射される位置を変更する。レーザー光が照射される位置の変更は、レーザー光の走査と表されてもよい。なお、照射制御器112は、焦点を変更する機構(例えば、デフォーマブルミラー等)を備え、当該機構を用いて、レーザー光が照射される位置を変更してもよい。
処理装置113は、光源2によってレーザー光が生成されてから、2つの検出器1−1,1−2のそれぞれにより弾性波が検出されるまでの時間を取得する。処理装置113は、取得した時間に基づいて、弾性波の波源の位置WSを推定する。
例えば、処理装置113は、光源2によってレーザー光が生成されてから、検出器1−1により弾性波が検出されるまでの時間t1と、光源2によってレーザー光が生成されてから、検出器1−2により弾性波が検出されるまでの時間t2と、を取得する。
処理装置113は、検出器1−1から、弾性波の波源の位置WSまでの距離R1を、時間t1に弾性波の速度vを乗じることにより推定する。例えば、処理装置113は、弾性波の速度vを予め保持する。なお、処理装置113は、温度を検出し、検出した温度に基づいて弾性波の速度vを推定してもよい。同様に、処理装置113は、検出器1−2から、弾性波の波源の位置WSまでの距離R2を、時間t2に弾性波の速度vを乗じることにより推定する。
更に、処理装置113は、図17に表されるように、検出器1−1の位置SP1を中心とする半径R1の円C1と、検出器1−2の位置SP2を中心とする半径R2の円C2と、の交点の位置WS1,WS2を算出する。処理装置113は、算出した位置WS1,WS2のうちの一方を、弾性波の波源の位置WSとして推定する。
以上、説明したように、第3実施形態の検出装置100Eによれば、第1実施形態の検出装置100と同様の作用及び効果が奏される。
更に、第3実施形態の検出装置100Eにおいて、照射制御器112は、生成されたレーザー光が照射される位置を、互いに異なる複数の位置のそれぞれに制御する。
これによれば、複数の位置のそれぞれにおいて対象物を検出できる。従って、例えば、対象物の空間的な分布を取得できる。
加えて、第3実施形態の検出装置100Eにおいて、処理装置113は、複数の検出器1−1,1−2のそれぞれに対して、レーザー光が生成されてから当該検出器1−1,1−2により弾性波が検出されるまでの時間に基づいて、弾性波の波源の位置WSを推定する。
これによれば、弾性波の波源の位置WSを高い精度にて推定できる。従って、弾性波を生成した対象物の位置を高い精度にて推定できる。従って、例えば、対象物の空間的な分布を高い精度にて取得できる。
なお、検出装置100Eが備える検出器の数は、3つ以上であってもよい。例えば、検出装置100Eが備える検出器の数が3つである場合、処理装置113は、光源2によってレーザー光が生成されてから、3つの検出器により弾性波が検出されるまでの時間t1〜t3をそれぞれ取得する。更に、処理装置113は、3つの検出器から、弾性波の波源の位置WSまでの距離R1〜R3を、時間t1〜t3に弾性波の速度vを乗じることによりそれぞれ推定する。
更に、処理装置113は、図18に表されるように、3つの検出器の位置SP1〜SP3をそれぞれ中心とし、且つ、半径R1〜R3をそれぞれ有する3つの円C1〜C3の交点の位置WSを算出する。処理装置113は、算出した位置WSを、弾性波の波源の位置WSとして推定する。
これによれば、弾性波の波源の位置WSをより一層高い精度にて推定できる。
また、検出装置100Eは、検出器1−1,1−2に代えて、カンチレバー構造を有する振動板と、振動板の変形を検出する圧電体と、を備えるとともに振動板の変形に基づいて弾性波を検出する検出器を備えてもよい。また、検出装置100Eは、検出器1−1,1−2に代えて、カンチレバー構造を有する振動板と、振動板に照射されるレーザー光を生成する光源と、振動板から反射されたレーザー光を複数の位置にてそれぞれ検出することにより振動板によるレーザー光の反射方向の変化を検出する複数の光検出器と、を備えるとともに、振動板によるレーザー光の反射方向の変化に基づいて弾性波を検出する検出器を備えてもよい。
また、検出装置100Eは、第2実施形態の検出装置100Aと同様に、弾性波によって空気を共振させる空間を内部に有する本体を備えてよい。この場合、本体には、複数の検出器1−1,1−2が設けられる。また、検出装置100Eは、弾性波によって空気を共振させる空間を内部に有する本体を検出器毎に備えていてもよい。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されない。例えば、上述した実施形態に、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において当業者が理解し得る様々な変更が加えられてよい。例えば、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、上述した実施形態の他の変形例として、上述した実施形態及び変形例の任意の組み合わせが採用されてもよい。
100,100A〜100E 検出装置
1 検出器
10,10A〜10B 第1の電極層
11,11A,11B 第1の支持部
11A1,11B1 幅広部
12,12A,12B 第1の電極
12A1,12B1 本体部
12A2 脚部
12B2 第1の脚部
12B3 第2の脚部
20 絶縁層
21 外縁部
22 第1の貫通孔
30 第2の電極層
31 第2の支持部
32 第2の電極
33 エレクトレット層
34 第2の貫通孔
35 貫通孔
101 本体
101a 凹部
102 空間
102a 基部
102b 管部
102b1 第1の管
102b2 第2の管
103 開口
104 窓
105 検出器
106 振動板
107 振動制御器
108 照射制御器
109 空間
111 レンズ
112 照射制御器
113 処理装置
2,2A 光源
201 第1の光生成器
202 第2の光生成器
203 ハーフミラー
90 容器
900 空間
901 開口
902 基部
903 管部
BD 生体
FR 自由端
FX 固定端
LA 第1のシリコン層
LB 絶縁層
LC 第2のシリコン層
PR フォトレジスト膜

Claims (12)

  1. 空気を介して伝搬される弾性波を検出する検出装置であって、
    固定端及び自由端を有するカンチレバー構造を有するとともに、前記弾性波によって湾曲することにより振動する板状の第1の電極と、
    前記第1の電極と所定の距離を隔てて対向する板状の第2の電極と、を備えるとともに、前記第1の電極と前記第2の電極との間の静電容量の変化に基づいて前記弾性波を検出し、
    前記固定端から前記自由端へ向かう方向における前記第2の電極の端は、前記自由端よりも前記固定端側に位置する、検出装置。
  2. 請求項1に記載の検出装置であって、
    第1の電極層と、
    前記第1の電極層と接するとともに絶縁体からなる絶縁層と、
    前記第1の電極層と反対側にて前記絶縁層と接する第2の電極層と、
    を備え、
    前記第1の電極層は、前記第1の電極と、前記第1の電極を支持する第1の支持部と、を含み、
    前記第2の電極層は、前記第2の電極と、前記第2の電極を支持する第2の支持部と、を含み、
    前記第1の電極の前記固定端は、前記第1の支持部と連接し、
    前記第1の電極の端のうちの前記固定端以外の部分は、前記第1の支持部との間に所定の間隙を有し、
    前記絶縁層は、前記絶縁層のうちの前記第1の電極と対向する部分にて開口する第1の貫通孔を有し、
    前記第2の電極層は、前記第2の電極層のうちの前記第1の電極と対向する部分の中で、前記固定端から前記自由端へ向かう方向において前記第2の電極よりも前記自由端側の部分にて開口する第2の貫通孔を有する、検出装置。
  3. 請求項1又は請求項2に記載の検出装置であって、
    前記第2の電極は、複数の貫通孔を有する、検出装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の検出装置であって、
    前記第1の電極及び前記第2の電極を含む検出器と、
    前記検出器と接する空間を内部に有するとともに、前記空間と連通する開口を有する本体と、
    を備える、検出装置。
  5. 請求項4に記載の検出装置であって、
    光を生成する光源を備え、
    前記本体は、前記生成された光が透過する窓を有する、検出装置。
  6. 請求項5に記載の検出装置であって、
    前記窓は、前記空間に対して前記検出器と同じ側に位置する、検出装置。
  7. 請求項5又は請求項6に記載の検出装置であって、
    前記空間は、基部と、前記基部と前記開口とを連通する管部と、を含み、
    前記管部の少なくとも一部は、前記窓と前記開口とを結ぶ直線に沿って延びる、検出装置。
  8. 請求項4乃至請求項7のいずれか一項に記載の検出装置であって、
    前記本体は、前記空間を形成する壁に振動可能に設けられた振動板を有し、
    前記検出装置は、
    第1の検出器としての前記検出器よりも、検出可能な弾性波の周波数の帯域が広く、且つ、空気を介して伝搬される弾性波を検出するとともに、前記空間と接する第2の検出器と、
    前記第2の検出器による前記検出の結果に基づいて前記振動板の振動を制御する振動制御器と、
    を備える、検出装置。
  9. 請求項4乃至請求項8のいずれか一項に記載の検出装置であって、
    前記本体は、前記空間におけるヘルムホルツ共振の共振周波数が、前記第1の電極の共振周波数と一致する形状を有する、検出装置。
  10. 請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の検出装置であって、
    前記第1の電極及び前記第2の電極を含む、複数の検出器と、
    光を生成する光源と、
    前記複数の検出器のそれぞれに対して、前記光が生成されてから前記検出器により前記弾性波が検出されるまでの時間に基づいて、前記弾性波の波源の位置を推定する処理装置と、
    を備える、検出装置。
  11. 請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の検出装置であって、
    前記生成された光が照射される位置を、互いに異なる複数の位置のそれぞれに制御する照射制御器を備える、検出装置。
  12. 請求項1乃至請求項11のいずれか一項に記載の検出装置であって、
    互いに異なる複数の波長をそれぞれ有する複数の光を生成する光源を備え、
    前記複数の光が照射されることによってそれぞれ生成された複数の弾性波を検出し、前記検出の結果に基づいて、所定の対象物によって生成された弾性波を検出する、検出装置。
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