JP4031643B2 - Va液晶パネルのセルギャップ測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
従来、液晶パネルに封入された液晶の厚さ(セルギャップ)を測定する方法として、液晶を封入しない状態で、パネルの上から光を当て反射干渉光を測定することにより、空気層の厚さを求め、その空気層の厚さを液晶の厚さとしていた(反射干渉法)。
そこで、液晶は一軸性結晶の複屈折性があるので、液晶封入後の液晶パネル面に対して直角な方向に、偏光子を通した光を当てて光透過率を測定し、この光透過率から液晶の複屈折光路差(リターデーションという)を求め、それからセルギャップを求める方法が知られている。
等方性の液晶に対して、前記反射干渉法を用いることも考えられるが、液晶の屈折率とガラス等の屈折率が近い値であるので、弱い干渉光しか得られず、膜厚測定値に大きな誤差が入るという問題がある。
この方法によれば、VA液晶パネルに、光の方向がVA液晶パネルの光学軸に斜めになるようにして当てることにより、液晶層のみに起因する複屈折を人為的に生じさせる。これにより、VA液晶の厚さを正確に求めることができる。
同測定装置は、ハロゲンランプなどの光源11、単色光を得るモノクロメータ12、モノクロメータ12の出射光を導く入射光ファイバ13、入射光ファイバ13の光から直線偏光を取り出す偏光子14、サンプルとなるVA液晶パネル15、VA液晶パネル15を通った光から直線偏光を取り出す検光子16、検光子16を通過した光を導く出射光ファイバ17、受光器18、及びデータ処理装置19を有する。
なお、VA液晶パネル15への入射角θを変えるのに、フレームを固定し、VA液晶パネル15を載せる台を傾斜させる機構を採用してもよい。
n2 sin α=n1 sin θ (1)
となる(スネルの法則)。
n2=(ne+no)/2 (2)
またVA液晶内の光路長は、図3に示すようにd1となる。このd1と、VA液晶自体の厚さ(セルギャップ)d0との関係は、
d1 cosα=d0 (3)
である。
図5は、VA液晶をθだけ傾けた状態を示す図である。VA液晶の結晶軸をz軸で表し、光の進行方向をz′軸で表している。z′軸とz軸との角度はαである。
nα=[ne2no2/(ne2cos2α+no2sin2α)]1/2 (4)
一方、光の振幅の方向がy軸方向にある光(以下「正常光線」という)の受ける屈折率は、VA液晶の正常屈折率noそのものである。
Δn=ABS(nα−no) (5)
で表される(ABSは絶対値を表す)。α=0のとき、Δn=0となり、α>0ならばΔn>0となる。
データ処理装置19に、VA液晶のne,noと、入射角θとを、データとして与えてやると、データ処理装置19は、前記(1)式、(2)式より、VA液晶の中を通過する斜め異常光線の傾きαを求める。そして、前記(4)式より、VA液晶内の光の屈折率nαを求め、前記(5)式より、屈折率差Δnを求める。
d1=R/Δn (6)
に基づいて求めることができる。そして、データ処理装置19は、前記(3)式を使ってVA液晶内の光路長d1をセルギャップd0に変換する。このようにしてVA液晶パネルのセルギャップを求めることができる。
次に、当該リターデーションRの求め方を説明する。
図7は、入射角θを、y軸を中心にして傾けたときの、光学系の要部を示す斜視図である。光の入射方向をz″軸、y軸とz″軸に垂直にx″軸をとる。
Tp=cos2β (7)
で表され、直交ニコルの状態では、強度透過率Tcは、
Tc=sin2β (8)
で表される。ここで、βは、測定時の波長をλとすると、
β=πR/λ (9)
で定義される。
Tc/Tp=tan2β (10)
となり、リターデーションRは、
πR=λ tan-1√(Tc/Tp) (11)
で求めることができる。
また、光源11とモノクロメータ12と受光器18との組み合わせで強度測定をしていたが、モノクロメータ12を外し、受光器18の前に分光器を配置してもよい。分光器を使った場合の分光方法は任意でよく、例えば色フィルター、プリズム、又はグレーティングを採用することができる。
波長589nmにおけるリターデーションRをグラフから読み取り、セルギャップd0を本発明の方法により計算すると、図9の図表のようになった。
以上の結果から、本発明のVA液晶パネルのセルギャップ測定方法によれば、入射角θの値の如何にかかわらず、セルギャップd0が正確に求められることが分かる。
12 モノクロメータ
13 入射光ファイバ
14 偏光子
15 VA液晶パネル
16 検光子
17 出射光ファイバ
18 受光器
19 データ処理装置
d0 VA液晶の厚さ
d1 VA液晶の内の光路長
n1 VA液晶外の屈折率
n2 VA液晶の屈折率
ne 異常屈折率
no 正常屈折率
M モータ
Claims (7)
- 光源の光から一定の偏光成分を取り出し、この偏光成分の光をVA液晶パネルに、当該光の方向がVA液晶パネルの光学軸に斜めになるようにして当て、VA液晶パネルを透過した光の特定の偏光成分の透過強度を測定し、この透過強度に基づいてVA液晶パネルのリターデーションRを求め、このリターデーションRと、VA液晶の正常屈折率no及び異常屈折率neのデータとから、VA液晶の厚さを求めることを特徴とするVA液晶パネルのセルギャップ測定方法。
- 前記リターデーションRは、平行ニコル及び直交ニコルの状態で、透過強度をそれぞれ測定することにより求められることを特徴とする請求項1記載のVA液晶パネルのセルギャップ測定方法。
- 前記VA液晶の厚さは、VA液晶の正常屈折率no及び異常屈折率neとから、斜め異常光線のVA液晶内の屈折率nαを計算し、この屈折率nαと正常光線のVA液晶内の屈折率noとの差Δnを計算し、リターデーションRをこのΔnで割ることによりVA液晶内の光路長d1を求め、空気とVA液晶との界面での光の屈折を考慮して前記光路長d1をセルギャップd0に変換して得られることを特徴とする請求項1記載のVA液晶パネルのセルギャップ測定方法。
- 光源と、光源の光から一定の偏光成分を取り出す偏光子と、この偏光子の光をVA液晶パネルに当該光の方向がVA液晶パネルの光学軸に斜めになるようにして当てることのできる光軸設定手段と、VA液晶パネルを透過した光の特定の偏光成分を取り出す検光子と、検光子の透過強度を測定する受光器と、透過強度に基づいてVA液晶パネルのリターデーションRを求め、このリターデーションRと、VA液晶の正常屈折率no及び異常屈折率neのデータとから、VA液晶の厚さを求めるデータ処理装置とを備えることを特徴とするVA液晶パネルのセルギャップ測定装置。
- 前記光軸設定手段は、光軸とVA液晶パネルとの角度を変化させることのできる傾斜機構を含むことを特徴とする請求項4記載のVA液晶パネルのセルギャップ測定装置。
- 前記傾斜機構は、光軸の傾きを変化させるものであることを特徴とする請求項5記載のVA液晶パネルのセルギャップ測定装置。
- 前記傾斜機構は、VA液晶パネルの傾きを変化させるものであることを特徴とする請求項5記載のVA液晶パネルのセルギャップ測定装置。
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