JP4029337B2 - 放射線画像撮像装置 - Google Patents
放射線画像撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4029337B2 JP4029337B2 JP2003015641A JP2003015641A JP4029337B2 JP 4029337 B2 JP4029337 B2 JP 4029337B2 JP 2003015641 A JP2003015641 A JP 2003015641A JP 2003015641 A JP2003015641 A JP 2003015641A JP 4029337 B2 JP4029337 B2 JP 4029337B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image data
- image
- ray
- row
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 15
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 80
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 6
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は放射線画像撮像装置に係り、特に連続透視時の画像データに対して漏洩信号情報に基づく補正を行う放射線画像撮像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
放射線画像撮像装置は、被検体にX線を照射し、透過X線を平面検出器で検出することで被検体のX線画像データを得ている。このX線平面検出器は、X線画像信号を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、各画素列ごとに設けられた信号読み出し線と、各検出素子ごとに設けられ、各検出素子からの信号読出し線を介した信号読出しを閉開するスイッチング手段とを有し、該スイッチング手段を制御して画素アレイの行ごとに該行に含まれる検出素子の信号電荷を読み出すようになっている(例えば、非特許文献1参照)。
【0003】
このようなX線平面検出器は、パルス透視のような、X線照射と信号読み出しが時間的に重ならないX線画像の撮像に用いられてきた。
【0004】
【非特許文献1】
飯沼 武、館野之男 編著「X線イメージング」
2001年6月15日 コロナ社発行
(第86頁〜第89頁、第3.57図、第3.60図、第3.61図)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のX線平面検出器で、連続透視のようなX線照射と信号読み出しが時間的に重なるX線画像の撮像を行う場合、画素アレイに直接X線による過剰なX線が入射すると、その入射領域の検出素子に信号容量を超える過剰な信号電荷が蓄積され、画素アレイの各行の検出素子からの信号読み出し時に該過剰な信号電荷が信号読み出し線に漏洩し、上記領域を通る信号読出し線を介して読み出される画素列に属する検出素子の信号に該漏洩電荷分が重畳される。
【0006】
これにより、例えば画素アレイ中に、X線絞りの影のようにX線が当たらない部分があると、漏洩電荷が重畳した列の部分とそうでない部分とで見かけの信号量が異なり、列方向に連続してアーチファクト(偽像)が生じる。
【0007】
このようなアーチファクトが生じると正しいX線画像が得られず、観察者が撮影画像を判読することが困難になる。
【0008】
本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、連続透視によるX線画像の撮像を行う場合に、X線平面検出器の画素の一部に直接X線による過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいX線画像を取得し、観察者が撮影画像を容易に判読できる放射線画像撮像装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1に記載された本発明の放射線画像撮像装置は、被検体にX線を照射するX線源と、前記X線源から照射されたX線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、該画素アレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子の信号電荷をX線照射中に信号読み出し線を介して読出し、画像データとして出力する読出し部とを有するX線平面検出器と、前記読出し部から出力された連続透視画像を構成する画像データを取得するとともに、前記画像データの取得に先立って前記検出素子から前記信号読み出し線に漏洩する少なくとも1行分の漏洩信号情報を取得する画像データ取得制御部と、前記取得された漏洩信号情報に基づいて前記X線平面検出器の1行分の補正データを記憶する補正データ記憶手段と、前記取得された画像データから前記補正データ記憶手段に記憶された補正データを減算することにより、画像データの補正を行う画像データ補正手段と、前記画像データ補正手段により補正された画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段と、を備えた放射線画像撮像装置であって、前記画像データ取得制御部は、前記補正データが記憶された後で、前記画像データを繰り返し取得し、前記画像データ補正手段は、前記繰り返し取得された1画像分毎の画像データを順次補正し、前記画像表示手段は、前記順次補正された画像データに基づいて、連続透視画像を表示することを特徴とする。
また、請求項2に記載された発明は、前記読出し部は前記画素アレイの信号電荷を空読みすることにより漏洩信号情報を出力する、ことを特徴とする。
【0010】
請求項2に記載の発明では、X線源から照射されたX線がX線平面検出器に入射すると、X線平面検出器の画素アレイの各検出素子によってX線が信号電荷に変換される。その後、連続透視画像を構成する各フレームの画像データを補正するのに先立って、読出し部が画素アレイの信号電荷を空読みし、少なくとも1行分の漏洩信号情報を出力する。この漏洩信号情報に基づく1行分の補正データを補正データ記憶手段が記憶する。
【0011】
なお信号電荷の空読みは少なくとも1行について行えばよいが、複数行分の信号電荷を空読みし、当該複数行分の漏洩信号情報に基づいて補正データを算出し、記憶するようにしてもよい。
【0012】
補正データが記憶されると、読出し部が画素アレイの各行毎に当該行に含まれる検出素子の信号電荷(補正前の画像データ)を読出し、画像データとして出力する。この画像データに対し、画像データ補正手段が画素アレイの各行に対応する画像データから補正データを減算して画像データの補正を行い、画像表示手段が上記画像データに基づく画像を連続透視画像の1フレームとして表示する。
【0013】
このように、X線平面検出器の画素アレイから漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報を基にX線画像データの補正を行うので、画素アレイの一部に直接X線による過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを得ることができ、またアーチファクトの解消された正しい画像を表示するので、観察者は撮影画像を容易に判読できる。
【0014】
請求項3に記載された本発明の放射線画像撮像装置は、前記画素アレイは、該画素アレイの一部の画素行に対しX線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施され、前記読出し部は前記画素アレイのうちX線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行の信号電荷を読出して漏洩信号情報を出力する、ことを特徴とする。
【0015】
請求項3に記載された発明では、X線源から照射されたX線がX線平面検出器に入射すると、X線平面検出器の画素アレイの各検出素子によってX線が信号電荷に変換される。その後、連続透視画像の各フレームを構成する画像データの信号を読み出す際に、読出し部が、画素アレイのうちX線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行(マスク行)の信号電荷を読出し、少なくとも1行分の漏洩信号情報を出力する。この漏洩信号情報に基づく補正データを、補正データ算出手段が記憶する。
【0016】
なおマスク行からの信号電荷の読出しは少なくとも1行について行えばよいが、複数行分の信号電荷を読出し、当該複数行分の漏洩信号情報に基づいて補正データを算出し、記憶するようにしてもよい。
【0017】
また、読出し部は画素アレイの他の画素行からも信号電荷(補正前の画像データ)を読出し、画像データとして出力する。この画像データに対し、画像データ補正手段が画素アレイの各画素行に対応する画像データから補正データを減算して画像データの補正を行い、画像表示手段が上記画像データに基づく画像を連続透視画像を構成する1フレームとして表示する。
【0018】
このように、X線平面検出器の画素アレイのうち、X線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行(マスク行)の信号電荷を読み出すことにより漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報を基にX線画像データの補正を行うので、画素アレイの一部に直接X線による過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを得ることができ、またアーチファクトの解消された正しい画像を表示するので、観察者は撮影画像を容易に判読できる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に従って本発明に係る放射線画像撮像装置の第一の実施の形態について詳説する。
【0020】
図1は、第一の実施の形態が適用された放射線画像撮像装置10の全体構成を示すブロック図である。
【0021】
放射線画像撮像装置10は、X線制御回路12を備えている。このX線制御回路12の制御によりX線源16からX線が照射され、被検体14を透過したX線がX線平面検出器18によって検出されて、画像データ取得制御部20の制御によりX線画像データとしてX線画像メモリ22に記憶される。
【0022】
上記X線画像メモリ22に記憶されたX線画像データは、漏洩信号補正部28によって漏洩信号補正が施されて補正後画像データメモリ30に記憶され、表示制御部32を介して表示モニタ34に画像として表示される。
【0023】
なお、X線源16およびX線平面検出器18は、放射線画像撮像装置10の使用状態に応じ、被検体14に対して相対的に移動できるようにしてもよい。
【0024】
操作部36は放射線画像撮像装置10の操作を行うもので、図示しないボタンやスイッチを含み、X線の照射/非照射、列補正データ算出時の漏洩信号情報取得数、画像データの表示等が設定可能に構成されている。
【0025】
画像データ取得制御部20は、X線平面検出器18から出力される画像データを取得し、画像データをX線画像メモリ22に記憶させる。また、画像データ取得制御部20は、画像データの補正に先立って、X線平面検出器18から漏洩信号情報を取得し、漏洩信号情報メモリ24に記憶させる(後述)。
【0026】
漏洩信号情報メモリ24には列補正データ算出部26が接続されており、この列補正データ算出部26は、漏洩信号情報メモリ24に記憶されている漏洩信号情報から列補正データを算出し、記憶する(後述)。
【0027】
列補正データ算出部26には漏洩信号補正部28が接続されており、漏洩信号補正部28は、列補正データ算出部26に記憶されている列補正データをX線画像メモリ22に記憶されているX線画像データから減ずることにより、漏洩信号補正を行う。この補正により、漏洩信号補正の施された画像データが得られる。
【0028】
表示制御部32は、操作部36の設定により、X線画像メモリ22に記憶されている漏洩信号補正前のX線画像データ、漏洩信号情報メモリ24に記憶されている漏洩信号、および補正後画像データメモリ30に記憶されている漏洩信号補正後の画像データに基づく画像を表示モニタ34に表示できるように構成されている。
【0029】
なお、放射線画像撮像装置10は、上記の他、図示しないCPUを含み、該CPUにより放射線画像撮像装置10の処理制御を行うようになっている。
【0030】
図2に、X線平面検出器18の要部構成を示す。X線平面検出器18には、X線が照射されると光を発する蛍光体層42が設けられおり、蛍光体層42の下には、基盤40の上に、蛍光体層42が発した光に対応する電荷(信号電荷)を蓄積する検出素子を二次元アレイ状に配列した画素アレイ44が設けられている。
【0031】
画素アレイ44の各検出素子は、拡大図に示すように、フォトダイオード54とFETスイッチ56とから構成されている。また、各検出素子は行ごとに備えられているスイッチ制御線46と列ごとに備えられている信号読出し線48とに接続されており、各行のスイッチ制御線46は読出し行選別回路50に、各列の信号読出し線48は読み出し回路52に接続されている。
【0032】
画素アレイ44から各検出素子の信号電荷のデータを読出すには、読出し行選別回路50により読出しの対象となる画素行のスイッチのみをONとし、それ以外のスイッチをOFFとした状態で、読出し回路52により、読み出し対象行に含まれる各列の画素の信号電荷を読み出す。
【0033】
読出し行選別回路50が全ての画素行のスイッチをOFFにした状態で読出し回路52がM行目のデータを読取ると(データの空読み)、漏洩信号情報が得られる。
【0034】
図3は、漏洩電荷重畳の影響を示す概念図である。図3(a)に示すように、画素アレイ44中のある領域に直接X線により過剰なX線が入射した場合、その領域を通過する全ての列が該X線の影響を受け、図3(b)に示すように過剰な信号電荷が発生し漏洩電荷として各列の信号電荷に重畳される。
【0035】
したがって、このような漏洩信号情報(漏洩電荷)を読出された信号電荷から減じることにより、画像データに対する漏洩信号補正を行うことができる。
【0036】
次に、上記実施の形態の作用を図4に基づいて説明する。図4は放射線画像撮像装置10で行われる処理のタイムチャートであり、各項目の処理が実行されるタイミングを示している。
【0037】
まず、信号電荷(補正前の画像データ)の取得に先立ち、画素アレイ44の全てのスイッチ制御線46が閉(OFF)の状態で、1行目から4行目の信号電荷を空読みする。これにより4行分の漏洩信号情報を取得し、漏洩信号情報メモリ24に記憶させる。
【0038】
次に、1行目のスイッチ制御線46を開(ON)にして1行目の信号電荷を取得し、X線画像メモリ22に記憶させる。その後、1行目のスイッチ制御線46を閉(OFF)にして2行目のスイッチ制御線46を開(ON)にし、2行目の信号電荷を取得し記憶する。以下、同様に最終行(本実施の形態ではK行とする)まで、信号電荷の取得および記憶を繰り返す。
【0039】
上記信号電荷(補正前の画像データ)の取得と並行して、列補正データの算出および記憶を行う。列補正データは、列補正データ算出部26が、漏洩信号情報メモリ24に記憶されている4行分の漏洩信号情報を平均化することにより得られる。得られた列補正データは、列補正データ算出部26が記憶する。
【0040】
なお、本実施の形態では4行分の漏洩信号情報を平均化することにより列補正データを得ているが、列補正データは少なくとも1行以上の漏洩信号情報から算出すればよい。
【0041】
補正前画像データが取得されてX線画像メモリ22に記憶され、列補正データが算出されて列補正データ算出部26に記憶されると、漏洩信号補正部28が、補正前画像データの各行のデータから列補正データを減ずることにより漏洩信号の補正を行う。この処理は、図4に示すように、画素アレイ44の各行に対して行われる。
【0042】
上記処理が終了すると、漏洩信号補正後の画像データが得られ、各行ごとに順次補正後画像データメモリ30に記憶される。補正後画像データメモリ30に記憶された画像データは、表示制御部32の制御により表示モニタ34に画像として表示される。
【0043】
なお、以上の記述は連続透視画像を構成する1フレームについての処理を説明したものであり、放射線画像撮像装置10を用いて行われる連続透視では、以上の処理が繰り返し行われる。
【0044】
以上説明したように、本実施の形態が適用された放射線画像撮像装置10では、画像データの取得に先立って、X線平面検出器18の全スイッチ制御線46を閉(OFF)にした状態で信号電荷の空読みをすることにより漏洩信号情報を取得し、この取得した漏洩信号情報を平均化して得られた列補正データをX線画像データの各行のデータから減ずることにより、漏洩信号電荷の補正を行う。
【0045】
したがって、X線平面検出器18の画素アレイの一部に直接X線による過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいX線画像を取得でき、また観察者が撮影画像を容易に判読できる。
【0046】
次に、本発明に係る放射線画像撮像装置の第2の実施の形態について説明する。なお、第2の実施の形態が適用された放射線画像撮像装置10’の全体構成は、第1の実施形態と同様(図1参照)であるので省略する。
【0047】
図5(a)に、放射線画像撮像装置10’のX線平面検出器18’の要部構成を示す。
【0048】
X線平面検出器18’の基本的な構成は図2に示すX線平面検出器18と同様であるが、X線平面検出器18’は、画素アレイ44のうち一部の画素行(本実施の形態では2行)に対しX線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施されている。この処理は、図5(b)に示すように、蛍光体層42の上記画素行に対応する部分を、X線を透過させない、鉛などのX線非透過材60で覆うことにより行われる。
【0049】
なお、X線の照射による信号電荷の発生防止処理は、上記の方法の他、図5(c)に示すように、X線が蛍光体層42に入射することにより発生する光が画素アレイ44に入射しないよう、一部の画素行を光を透過させない光非透過材62で覆い、残りの画素行を光を透過させる光透過材64で覆うことにより行うようにしてもよい。ここで、光非透過材62としては着色したプラスチックやガラス、金属などを用いることができ、光透過材64としては透明なプラスチックやガラス等を用いることができる。
【0050】
次に、上記実施の形態の作用を図6に基づいて説明する。図6は、図4と同様に、放射線画像撮像装置10’で行われる処理のタイムチャートを示すものであり、各項目の処理が実行されるタイミングを示している。
【0051】
まず、信号電荷(補正前の画像データ)の取得に先立ち、漏洩信号情報の取得を行う。本実施の形態では、画素アレイ44の1行目および2行目がマスクされ、この2行から漏洩信号情報を取得する場合について説明する。
【0052】
処理開始の時点では、画素アレイ44の全てのスイッチ制御線46を閉(OFF)の状態とする。処理を開始すると、1行目のスイッチ制御線46を開(ON)にして1行目の信号電荷を取得し、漏洩信号情報メモリ24に記憶させる。その後、1行目のスイッチ制御線46を閉(OFF)にして2行目のスイッチ制御線46を開(ON)にし、2行目の信号電荷を取得して1行目と同様に漏洩信号情報メモリ24に記憶させる。
【0053】
このようにして1行目および2行目から読取った信号電荷が漏洩信号情報となる。
【0054】
漏洩信号情報の取得が終了すると、信号電荷(補正前の画像データ)の取得を行う。この処理は、3行目以降、最終行(本実施の形態ではK行とする)までのマスクされていない画素行に対してなされるものであり、その方法は、マスク行からの信号電荷の取得および記憶の方法と同じである。
【0055】
上記信号電荷の取得と並行して、列補正データの算出および記憶を行う。列補正データは、列補正データ算出部26が、漏洩信号情報メモリ24に記憶されている2行分の漏洩信号情報を平均化することにより得られる。得られた列補正データは、列補正データ算出部26が記憶する。
【0056】
なお、本実施の形態では2行分の漏洩信号情報を平均化することにより列補正データを得ているが、列補正データは、画素アレイ44のうちマスクされた画素行の数に応じて、少なくとも1行以上の漏洩信号情報から算出すればよい。
【0057】
以下、X線画像データの補正および表示の処理は第一の実施の形態と同様であり、説明を省略する。
【0058】
なお、以上の記述は連続透視画像を構成する1フレームについての処理を説明したものであり、放射線画像撮像装置10’を用いて行われる連続透視では、以上の処理が繰り返し行われる。
【0059】
以上説明したように、本実施の形態が適用された放射線画像撮像装置10’では、画素アレイ44のうちマスクされた行の信号電荷を読出すことにより漏洩信号情報を取得し、この取得した漏洩信号情報を平均化して得られた列補正データをX線画像データの各行のデータから減ずることにより、漏洩電荷の補正を行う。
【0060】
したがって、第一の実施の形態の場合と同様に、X線平面検出器18’の画素アレイの一部に直接X線による過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいX線画像を取得でき、また観察者が撮影画像を容易に判読できる。
【0061】
なお、上述の第一および第二の実施の形態においては、X線平面検出器からの漏洩信号情報の取得を信号電荷(補正前の画像データ)の読出しに先立って行っているが、漏洩信号情報の取得は信号電荷の読出し後に行うようにしてもよい。
【0062】
例えば、第一の実施の形態においては、X線平面検出器18の1行目からK行目までの信号電荷を読み出しX線画像データとしてX線画像メモリ22に記憶した後、全ての画素行のスイッチをOFFにして1行目から4行目までのデータを読み取る(空読みする)ことにより漏洩信号情報を取得し、該漏洩信号情報に基づいて列補正データを算出してX線画像データを補正することができる。
【0063】
また、第二の実施の形態においては、X線平面検出器18’の(K−1)行目およびK行目をマスク行として該マスク行にX線照射による信号電荷の発生防止処理を施し、1行目から(K−2)行目までについて信号電荷を読み出しX線画像データとして記憶した後、(K−1)行目およびK行目のデータを取得して漏洩信号情報とし、該漏洩信号情報に基づいて列補正データを算出してX線画像データを補正することができる。
【0064】
なお、第一および第二の実施の形態においては、表示モニタ34に補正後の画像データに基づく画像が表示される場合について説明しているが、補正前の画像データに基づく画像や漏洩信号情報を表示し、補正後の画像データによる画像と比較できるようにしてもよい。
【0065】
また、第一および第二の実施の形態においては、漏洩電荷の補正がなされた画像データの出力として、表示モニタ34に画像として表示する場合について説明しているが、この他磁気ディスク等の記録装置を設けて連続透視画像を画像データとして記録し、くり返し画像表示できるようにしてもよい。
【0066】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、連続透視によるX線画像の撮像を行う場合に、X線平面検出器の画素アレイの一部に直接X線による過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを取得でき、観察者が撮影画像を容易に判読できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施形態に係る放射線画像撮像装置の全体構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第一の実施の形態に係り、X線平面検出器の要部構成を示す図である。
【図3】本発明の第一の実施の形態に係り、漏洩電荷重畳の影響を示す概念図である。
【図4】本発明の第一の実施の形態に係り、放射線画像撮像装置での処理を示すタイムチャートである。
【図5】本発明の第二の実施の形態に係り、X線平面検出器の要部構成を示す図である。
【図6】本発明の第二の実施の形態に係り、放射線画像撮像装置での処理を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
10,10’・・・放射線画像撮像装置、18,18’・・・X線平面検出器、22・・・X線画像メモリ、24・・・漏洩信号情報メモリ、30・・・補正後画像データメモリ、34・・・表示モニタ、42・・・蛍光体層、44・・・画素アレイ、46・・・スイッチ制御線、48・・・信号読出し線、60・・・X線非透過材、62・・・光非透過材、64・・・光透過材
Claims (3)
- 被検体にX線を照射するX線源と、
前記X線源から照射されたX線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、該画素アレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子の信号電荷をX線照射中に信号読み出し線を介して読出し、画像データとして出力する読出し部とを有するX線平面検出器と、
前記読出し部から出力された連続透視画像を構成する画像データを取得するとともに、前記画像データの取得に先立って前記検出素子から前記信号読み出し線に漏洩する少なくとも1行分の漏洩信号情報を取得する画像データ取得制御部と、
前記取得された漏洩信号情報に基づいて前記X線平面検出器の1行分の補正データを記憶する補正データ記憶手段と、
前記取得された画像データから前記補正データ記憶手段に記憶された補正データを減算することにより、画像データの補正を行う画像データ補正手段と、
前記画像データ補正手段により補正された画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段と、
を備えた放射線画像撮像装置であって、
前記画像データ取得制御部は、前記補正データが記憶された後で、前記画像データを繰り返し取得し、
前記画像データ補正手段は、前記繰り返し取得された1画像分毎の画像データを順次補正し、
前記画像表示手段は、前記順次補正された画像データに基づいて、連続透視画像を表示することを特徴とする放射線画像撮像装置。 - 前記読出し部は前記画素アレイの信号電荷を空読みすることにより漏洩信号情報を出力する、
ことを特徴とする請求項1に記載の放射線画像撮影装置。 - 前記画素アレイは、該画素アレイの一部の画素行に対しX線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施され、
前記読出し部は前記画素アレイのうちX線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行の信号電荷を読出して漏洩信号情報を出力する、
ことを特徴とする請求項1に記載の放射線画像撮像装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003015641A JP4029337B2 (ja) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | 放射線画像撮像装置 |
PCT/JP2004/000577 WO2004064640A1 (ja) | 2003-01-24 | 2004-01-23 | 放射線画像撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003015641A JP4029337B2 (ja) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | 放射線画像撮像装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004261209A JP2004261209A (ja) | 2004-09-24 |
JP2004261209A5 JP2004261209A5 (ja) | 2006-03-02 |
JP4029337B2 true JP4029337B2 (ja) | 2008-01-09 |
Family
ID=32767447
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003015641A Expired - Fee Related JP4029337B2 (ja) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | 放射線画像撮像装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4029337B2 (ja) |
WO (1) | WO2004064640A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5224282B2 (ja) * | 2008-11-05 | 2013-07-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像取得装置およびそのプログラム |
JP2012090032A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | ラインアーチファクト検出器及びその検出方法 |
WO2018079550A1 (ja) * | 2016-10-25 | 2018-05-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影方法、及び放射線画像撮影プログラム |
JP6695260B2 (ja) * | 2016-11-02 | 2020-05-20 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影方法、及び放射線画像撮影プログラム |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5962272A (ja) * | 1982-10-01 | 1984-04-09 | Sony Corp | スミアリデユ−サ |
JP4192284B2 (ja) * | 1998-01-13 | 2008-12-10 | 富士フイルム株式会社 | デジタルスチルカメラ |
JP2001061823A (ja) * | 1999-08-24 | 2001-03-13 | Konica Corp | 放射線画像処理方法及び放射線画像処理装置 |
-
2003
- 2003-01-24 JP JP2003015641A patent/JP4029337B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-01-23 WO PCT/JP2004/000577 patent/WO2004064640A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004261209A (ja) | 2004-09-24 |
WO2004064640A1 (ja) | 2004-08-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20070131843A1 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and correction method | |
EP2190187B1 (en) | Solid-state imaging device | |
EP1423733B1 (en) | Method and apparatus for identifying and correcting line artifacts in a solid state x-ray detector | |
JP4155921B2 (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2011072538A (ja) | X線画像撮影装置、撮影方法および撮影プログラム | |
US6751289B2 (en) | X-ray diagnostic apparatus | |
JP2004033659A (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP2004516874A (ja) | 二重エネルギ撮像のためのディジタル検出器の方法 | |
JP2010172429A (ja) | 放射線撮影装置及びその処理方法、放射線撮影システム | |
JPH11311673A (ja) | 放射線撮像装置 | |
US8547464B2 (en) | Solid-state imaging device and frame data correcting method which determine a voltage value corresponding to a pixel portion in frame data | |
KR20110040745A (ko) | 고체 촬상 장치 | |
JP6887812B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP4029337B2 (ja) | 放射線画像撮像装置 | |
JPH09289985A (ja) | X線画像表示方法及び装置 | |
JP5176081B2 (ja) | X線撮影方法およびx線撮影装置 | |
JP6152894B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP2006304213A (ja) | 撮像装置 | |
JP2004080749A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像方法 | |
WO2019069716A1 (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
JP6852287B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
US10695015B2 (en) | Solid-state image capturing device, radiation image capturing system, and method of controlling solid-state image capturing device | |
JP4500101B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2006192150A (ja) | X線撮影装置 | |
JP2005168961A (ja) | 放射線画像撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060118 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060118 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070314 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070501 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070920 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071003 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111026 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |