JP2004516874A - 二重エネルギ撮像のためのディジタル検出器の方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】二回のX線フレーム照射の間では対応するオフセット・フレームの読み取りを行なわずに、比較的連続して二つのX線照射フレームを取得する。まず、時間t1にわたって第一のエネルギ・レベルで放射線検出器(22)を照射し、放射線検出器(22)を読み取って、第一の照射読み取り値を得、時間t2にわたって第二のエネルギ・レベルで放射線検出器(22)を照射し、放射線検出器(22)を読み取って、第二の照射読み取り値を得る。そして、t1に等しい時間の後に放射線検出器(22)を読み取って、オフセット読み取り値を得、第一及び第二の照射読み取り値からオフセット読み取り値を減算する。
【選択図】図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は一般的にはX線撮像に関し、さらに具体的には、二重エネルギ撮像(dual energy imaging)についてディジタルX線画像の画質を高める方法に関する。
【0002】
【発明の背景】
従来の放射線画像又は「X線」画像は、被撮像物体をX線放出器と写真フィルムで形成されているX線検出器との間に配置することにより得られている。放出されたX線は物体を透過してフィルムを露光し、フィルムの様々な点での露光の度合いは、X線の経路に沿った物体の密度によって大方決まる。
【0003】
現在は、フィルム検出器の代わりに、スイッチ素子及びフォトダイオードのような感光素子のアレイで構成される固体ディジタルX線検出器を利用するのが通例である。検出器アレイの様々な点に入射したX線によって電荷が生成され、この電荷を読み取って処理することにより、写真フィルム上のアナログ画像ではなく、電子形態の物体のディジタル画像を形成する。ディジタル式撮像は、画像を後に他の箇所に電子的に伝達したり、診断アルゴリズムで処理して被撮像物体の特性を決定したり、記憶したりすることができるため有利である。
【0004】
ディジタル撮像の過程では、画像は一般的には、検出器の読み取り値から直接生成される訳ではない。その代わりに、より鮮明な画像を形成するように検出器の読み取り値を処理する。具体的には、画像は通常、照射を行なわない状態で得られる画像である「オフセット」を除去するように処理される。オフセットは、検出器の漏洩電流、温度、背景放射線、及び他の様々な要因によって決まる。さらに良好な画質を提供すべくオフセットを検出器の読み取り値から除去することが望ましい。画像を撮影して画像に対応するオフセットを減算する一つの方法が米国特許第6,115,451号“Artifact Elimination In Digital Radiography”に開示されている。この特許は本発明の譲受人に共通に譲渡されており、文献の援用によって本明細書に取り込まれる。
【0005】
二重エネルギ減算(Dual Energy Subtraction,「DES」)は、ディジタルX線撮像の重要な臨床的応用である。DESは、異なるエネルギで二つのX線画像を取得して、これら二つの画像の結合によって出力画像を形成するものである。固体ディジタルX線検出器を用いると、二つの取得フレームが必要となる。一つの画像は比較的高い平均X線エネルギで取得され、第二の画像は相対的に低い平均X線エネルギで取得される。二回の画像取得の間の時間を利用してX線エネルギを修正する。呼吸、心臓の運動又は他の生理学的運動からのモーション・アーティファクトを最小限に抑えるために、二回のX線照射の間の時間を最短にすると望ましい。加えて、ディジタル検出器での放射線撮像には、X線フレームと同様の取得タイミングによるオフセット・フレームの減算を行なうことが必要である。
【0006】
従って、二重エネルギ減算応用についてディジタル放射線画像を取得するロバストな方法であって、相応の効果を得ると共にX線画像を取得する方法を含む方法が必要とされている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、二重エネルギ減算応用におけるディジタル放射線撮像のための改善された方法を提供することにある。また、二重エネルギ減算ディジタル放射線撮像応用においてモーション・アーティファクトを最小限に抑える方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上述の目的及び他の目的は、二つのX線照射フレームの間の時間経過を最短にする放射線撮像方法によって達成される。この方法は、二回のX線フレーム照射の間では対応するオフセット・フレームの読み取りを行なわずに、比較的連続して二つのX線照射フレームを取得することにより達成される。好ましくは、オフセット・フレームは、X線照射フレームに続いて、X線フレーム照射及び読み取りの系列に相関付けされた対応するタイミング系列で取得される。本発明の好適実施形態では、本方法は、時間t1にわたって第一の平均エネルギ・レベルで放射線検出器を照射する工程と、第一の照射読み取り値を得るために放射線検出器を読み取る工程と、時間t2にわたって第二の平均エネルギ・レベルで放射線検出器を照射する工程と、第二の照射読み取り値を得るために放射線検出器を読み取る工程と、t1に等しい時間の後に、オフセット読み取り値を得るために放射線検出器を読み取る工程と、第一及び第二の照射読み取り値からオフセット読み取り値を減算する工程とを含んでいる。
【0009】
本発明のもう一つの実施形態では、第一及び第二の照射読み取り値のタイミング系列に対応するタイミング系列で第一及び第二のオフセット読み取り値を採取して、オフセット読み取り値を採取するときの条件がX線照射値を採取したときの条件と厳密に類似することを保証し、これにより、アーティファクトぶ関連した誤差を最小限に抑える。好適実施形態では、第一のX線の照射時間は第二のX線の照射時間よりも長く、第二の照射読み取りの前に遅延時間(t3)を加えて、第二の照射読み取りの前の合計時間(t2+t3)が第一の照射読み取りの前の合計時間(t1)に等しくなるようにする。次いで、二回のオフセット読み取りの間に同様に間隔を空けたタイミング系列に従ってオフセット読み取り値を採取する。本発明のもう一つの側面では、第一及び第二の照射読み取り値から単一のオフセット読み取り値を減算する。本発明のもう一つの側面では、複数のオフセット読み取り値を採取して、これらのオフセット読み取り値の平均を第一及び第二の照射読み取り値から減算する。
【0010】
本発明の他の目的及び利点は、以下の詳細な説明及び特許請求の範囲、並びに添付図面を参照すると明らかとなろう。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明のさらに完全な理解のために、本発明の実例として添付図面にさらに詳細に図示され以下に記載されている実施形態を参照されたい。
【0012】
図1は、本発明を利用することのできる代表的なX線システムを模式的に示す。図1を参照して述べると、X線装置14がX線管15を含んでおり、X線管15は電源16によって励起されるとX線ビーム17を放出する。図示のように、X線ビームは、X線透過性テーブル20に載置されている患者に向かって照射される。テーブル及び患者を透過したビームの部分は参照番号22で示されているX線検出器に入射する。
【0013】
X線検出器は、列及び行を成して配列した光検出器の二次元アレイによって形成されている固体画像センサを含んでいる。共通の出力線に接続されている各々の列及び行に数千の光検出器が配置されている。シンチレータがX線フォトンを吸収して光へ変換する。低雑音型のフォトダイオード・アレイが光を吸収して電荷へ変換する。各々のフォトダイオードはピクセル又は画素に相当している。各々のピクセルでの電荷は、低雑音型の電子回路によって読み出されてディジタル・データへ変換され、画像プロセッサ28へ送られる。画像プロセッサは、X線画像信号を処理して強調するサーキットリを含んでいる。次いで、処理済の画像は典型的には、ビデオ・モニタ32に表示され、また画像記憶装置30に保管されてもよい。画像プロセッサ28はまた典型的には輝度制御信号を発生し、輝度制御信号は照射制御回路34に印加されて電源16を調節し、従ってX線照射を調節する。
【0014】
X線装置14の全体的な動作はシステム制御器36によって制御されており、システム制御器36は操作者インタフェイス・パネル38を介してX線技師から命令を受け取る。
【0015】
ここで、図2について説明する。同図には、本発明の撮像計画の一例を示す経時的なプロットが示されている。前述のように、ディジタル検出器システムでDESを実行するためには、二つのX線フレームと、これらのX線フレームに対応する少なくとも一つのオフセット・フレームを取得する必要がある。本撮像計画は、二つのX線フレームの取得の間の時間を最短にし、これにより、モーション・アーティファクトを最小限に抑える。次いで、オフセット・フレーム(一つ又は複数)が適当なタイミング系列で後に取得される。図2に示すシナリオ例では、X線のオンの時間は照射前には未知であり、図1に示すシステムの一部である自動照射制御センサによって制御されているものと想定している。
【0016】
図1のタイミング図では、各記号を下記のように定義する。
【0017】
tr=検出器読み出し時間
t1=一回目のX線照射の時間
t2=二回目のX線照射の時間
t3=ラッチ時間
Y1=一回目のX線照射の画像
Y2=二回目のX線照射の画像
O1=第一のオフセット・フレームの画像
O2=第二のオフセット・フレームの画像
N=スクラブ・フレームの可変の数
【0018】
この撮像シナリオ例では、二つのX線フレームY1及びY2が取得され、続いてオフセット・フレームO1及びO2が取得されている。X線フレームY1とY2との間の時間を最短にするためにはラッチ時間t3をゼロに等しく設定すればよい。このような場合には、t1及びt2が等しくないならば、オフセット・フレームO1及びO2の両方が、X線フレーム撮影のタイミング系列と同一のタイミング系列で要求される。従って、時間t1の後に、Y1を取得するための検出器読み出し時間trが存在し、続いて、時間t2及びY2を取得するための読み出し時間trが存在し、続いて、時間t1及びO1を取得するための読み出し時間trが存在し、続いて、時間t2及びO2を取得するための読み出し時間trが存在する。すると、エネルギ減算後の画像は下記のようにして算出される。
【0019】
X=f(Y1−O1,Y2−O2) (1)
式中、DES撮像を記述する関数は公知の方法によって導き出される。
【0020】
典型的には、低平均エネルギの照射Y1についての照射時間は、高平均エネルギの照射Y2についての照射時間よりも長い。従って、これら二回のX線照射の間の時間をさらに最短にするためには、低エネルギ照射Y1を最初に取得することが好ましい。第二のオフセット・フレームO2の取得を省くことができ、これにより、t2と、二回目のX線照射の画像Y2についての読み出し時間trとの間にラッチ時間t3を利用すれば電子的雑音の寄与を小さくすることができる。このような場合には、ラッチ時間t3は、合計時間t2+t3がt1に等しくなるようなt1とt2との間の差として定義される。従って、この場合には、DES画像は下記のようにして算出される。
【0021】
X=f(Y1−O1,Y2−O1) (2)
【0022】
また、固定時間型X線照射について、固定された照射時間t1とt2とが不等である場合にやはりラッチ時間t3を用いることもできる。さらに、固定時間型X線照射を用いると、時間t1及びt2、並びに必要であればt3が既知であるので、オフセット・フレーム(1又は複数)O1及びO2を、二回のX線照射Y1及びY2の前又は後のいずれかに採取することができる。
【0023】
タイミングの変化によって生ずる潜在的な画像アーティファクトを最小限に抑えるために、オフセット・タイミング系列がX線タイミング系列に合致するように幾つかのスクラブ・フレーム100を用いることもできる。典型的には、スクラブ・フレームの数は4に等しい。スクラブ・フレームは破棄されるオフセット読み出しである。スクラブ・フレームの適当な数を決定する方法は、米国特許第6,115,451号に開示されており、この特許は文献の援用によって本明細書に取り込まれる。
【0024】
DES画像を表示するための付加的な計算時間が利用可能である場合には、図2に示すY2フレーム取得の後に指定されたタイミング・シナリオに従って多数のオフセット・フレームを取得することにより、電子的雑音のさらなる低減を得ることができる。従って、例えば、スクラブ・フレームを用いず(N=0)、t1がt2に等しいか又はラッチ時間t3を用いると仮定すると、平均される多数のオフセット・フレームを取得するシナリオ例は以下の通りになる。時間t1にわたる遅延、第一のオフセット・フレームO1の読み出し、時間t1にわたる遅延、第二のオフセット・フレームO2の読み出し、以下同様をオフセット・フレームOMの読み出しまで行なう。尚、Mは平均されるオフセット・フレームの数に等しい。次いで、オフセット・フレームの平均をY1及びY2についてのオフセット減算に用いる。
【0025】
以上から、二重エネルギ撮像のための新規で且つ改善されたディジタル検出器の方法が当技術分野に提供されたことが看取されよう。本放射線撮像方法では、DES撮像に要求される二つのX線フレームの間のタイミングを最短にし、これにより、モーション・アーティファクトを減少させる。加えて、本方法は、単一のオフセット・フレーム撮影しか必要とされないように、X線照射フレームの時間ラッチ設定を提供する。本発明はまた、オフセット・フレームを取得する時間が短縮され、従って、DES画像を処理して表示する時間が短縮される点で有利である。本方法はまた、得られる画像の雑音を減少させる。本発明を1以上の実施形態と関連して説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されていないことを理解されたい。逆に、本発明は、特許請求の範囲の要旨及び範囲内に包含され得るすべての代替構成、改変及び均等構成を網羅している。
【図面の簡単な説明】
【図1】
本発明を利用することのできる放射線イメージング・システムの略線図である。
【図2】
本発明の撮像計画の一例を経時的に示すプロット図である。
【符号の説明】
14 X線システム
15 X線管
17 X線ビーム
20 X線透過性テーブル
22 X線検出器
100 スクラブ・フレーム
Claims (10)
- 時間t1にわたって第一のX線エネルギ・レベルで放射線検出器(22)を照射する工程と、
第一の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
時間t2にわたって第二のX線エネルギ・レベルで前記放射線検出器(22)を照射する工程と、
第二の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
t1に等しい時間の後に、オフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
前記第一及び第二の照射読み取り値から前記オフセット読み取り値を減算する工程とを備えた放射線撮像の方法。 - t1はt2よりも大きい請求項1に記載の方法。
- 第二の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る前記工程の前に、時間t3だけ遅延する工程をさらに含んでおり、t3はt1−t2に等しい請求項2に記載の方法。
- オフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る前記工程は、複数のスクラブ・フレーム(100)を読み取り、続いてt1に等しい時間を経た後に発生する請求項1に記載の方法。
- 前記複数のスクラブ・フレーム(100)は4に等しい請求項4に記載の方法。
- 時間t1にわたって第一のX線エネルギ・レベルで放射線検出器(22)を照射する工程と、
第一の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
時間t2にわたって第二のX線エネルギ・レベルで前記放射線検出器(22)を照射する工程と、
第二の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
t1に等しい時間の後に、前記第一の照射読み取り値に対応する第一のオフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
t2に等しい時間の後に、前記第二の照射読み取り値に対応する第二のオフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
前記第一の照射読み取り値から前記第一のオフセット読み取り値を減算する工程と、
前記第二の照射読み取り値から前記第二のオフセット読み取り値を減算する工程とを備えた放射線撮像の方法。 - t1はt2よりも大きく、第二の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る前記工程は、時間t3を経た後に発生し、前記第二の照射読み取り値に対応する第二のオフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る前記工程は、t2+t3に等しい時間を経た後に発生し、t3はt1−t2に等しい請求項6に記載の方法。
- 第一のオフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る前記工程は、複数のスクラブ・フレーム(100)を読み取り、続いてt1に等しい時間を経た後に発生する請求項6に記載の方法。
- 時間t1にわたって第一のX線エネルギ・レベルで放射線検出器(22)を照射する工程と、
第一の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
時間t2にわたって第二のX線エネルギ・レベルで前記放射線検出器(22)を照射する工程と、
第二の照射読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)を読み取る工程と、
M個のオフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)をM回読み取る工程と、
平均オフセット読み取り値を得るために前記M個のオフセット読み取り値を平均する工程と、
前記第一及び第二の照射読み取り値から前記平均オフセット読み取り値を減算する工程とを備えた放射線撮像の方法。 - M個のオフセット読み取り値を得るために前記放射線検出器(22)をM回読み取る前記工程は、複数のスクラブ・フレーム(100)を読み取り、続いてt1に等しい時間を経た後に発生する請求項9に記載の方法。
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