WO2004064640A1

WO2004064640A1 - 放射線画像撮像装置

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Publication number: WO2004064640A1
Application number: PCT/JP2004/000577
Authority: WO
Inventors: Ken Ishikawa
Original assignee: Hitachi Medical Corporation
Priority date: 2003-01-24
Filing date: 2004-01-23
Publication date: 2004-08-05
Also published as: JP4029337B2; JP2004261209A

Abstract

X線平面検出器の画素アレイからの信号電荷の読み出しに先立って信号電荷の空読みをすることにより漏洩信号情報を取得し、放射線画像撮像装置で連続透視によるX線画像の撮像を行う場合に、X線平面検出器の画素の一部に直接X線によるハレーションのような過剰なX線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいX線画像を取得し、観察者が撮影画像を容易に判読できるようにする。

Description

放射線画像撮像装置技術分野

本発明は放射線画像撮像装置に係り、特に連続透視時の画像データに対して漏洩信号情報に基づく補正を行う放射線画像撮像装置に関するものである。

明

背景技術

放射線画像撮像装置は、被検体に X線を照射し、透過 X線を平面検出器で検出することで被検体の X線画像データを得ている書。この X線平面検出器は、 X線画像信号を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、各画素列ごとに設けられた信号読み出し線と、各検出素子ごとに設けられ、各検出素子からの信号読出し線を介した信号読出しを閉開するスイッチング手段とを有し、該スィツチング手段を制御して画素ァレイの行ごとに該行に含まれる検出素子の信号電荷を読み出すようになっている。

特開 2002-301053号に開示されるように、このような X線平面検出器（FPD) で X線を連続照射して透視画像を取得する場合には、オフセット電圧がゆらぐために画像データが劣化することがある。この問題を解消するために、画像データ読み出し後の X線が照射されない期間に X線平面検出器で校正用データを収集してオフセット捕正データを作り、透視画像をこれにより捕正して良好な画像を得ていた。ここでいう校正用データは、暗電流など X線照射がない状態でデータ読み出しが終わった後にも検出器から継続して得られる出力である。

し力し、このような X線平面検出器に特徴的なオフセット電圧のゆらぎのほかにも、連続透視のように X線照射と信号読み出しが時間的に重なる X線画像の撮像を行う場合には問題点がある。従来の X線平面検出器で連続透視をすると、画素ァレイを構成する検出素子には、その素子内のデータ読み出しが行われていない時でも X線が入射する。検出素子に直接 X線などによる過剰な X線が入射すると、信号容量を超える過剰な信号電荷が蓄積される。この信号電荷は、例えば FET などのスィツチング手段の浮遊容量や信号読み出し線自体の容量に蓄積されると考えられる。こうして蓄積された電荷は、 .信号読み出し線などを経由して他の行に漏洩する。すなわち、画素アレイの各行の検出素子からの信号読み出し時に、このような電荷が蓄積されたある領域内の検出素子を通る信号読出し線を経由して、読み出される画素列に属する他の検出素子の信号に該漏洩電荷が重畳される。なお、ここで直接 X線とは、例えば被検体を通過しないために減衰していない強い X線をいう。

これにより、例えば画素アレイ中に、図 7の X線絞り 70の影 71のように X 線が当たらな!/、部分があると、漏洩電荷が重畳した列の部分とそうでなレ、部分とで見かけの信号量が異なり、列方向を区分するようなアーチファクト（偽像）が生じる。このようなアーチファタトが生じると正しい X線画像が得られず、観察者が撮影画像を判読することが困難になる。

本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、連続透視による X線画像の撮像を行う場合に、 X線平面検出器の画素の一部に直接 X線による過剰な χ·線が入射しても、それによつて生じるアーチファタトを解消することで正しい X線画像を取得して、 X線観察者が撮影画像を容易に判読できる放射線画像撮像装置を提供することを目的とする。発明の開示

上記目的を達成するために、本願発明の第 1の特徴によれば、被検体に X線を照射する X線源と、前記 X線源から照射された X線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素ァレイと、該画素ァレイの各行ごとに当該に含まれる検出素子からの画像信号電荷を X線照射中に読出し線を介して画像データとして出力する読出し部と、前記検出素子に読出しを指示するためのスィツチ制御線を含む読み出し行選別部を有する X線平面検出器と、上記画像データと漏洩信号とを X線照射下で行毎に読み出し指示する画像データ取得制御手段で、上記画像データの読み出しにあたっては読み出し対象行を上記読み出し行選別部経由で指示して上記読出し部から取得させ、また上記漏洩信号は上記検出器から上記信号読出し線に漏洩する少なくとも 1行の信号として上記漏洩信号を上記読出し部から取得させる手段と、上記中 1行分の漏洩信号を上記各行毎の画像データから減算することにより、補正画像データを作成する画像データ補正手段と、上記補正画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段と、を備えたことを特徴とする放射,線画像撮像装置を提供する。

本願発明の第 2の特徴によれば、上記本願発明第 1の特徴において、上記漏洩信号は、上記読み出し行選別部により読出しの指示をすることなく、上記読出し線を介して上記読み出し部で空読みして取得することを特徴とする。この特徴では、 X線源から照射された X線が X線平面検出器に入射すると、 X線平面検出器の画素アレイの各検出素子によって X線が信号電荷に変換される。その後、連続透視画像を構成する各フレームの画像データを捕正するのに先立って、読出.し部が画素アレイの信号電荷を空読みし、少なくとも 1行分の漏洩信号情報を出力する。この漏洩信号情報に基づく 1行分の補正データを補正データ記憶手段が記憶する。

なお、信号電荷の空読みは少なくとも 1行について行えばよいが、複数行分の信号電荷を空読みし、当該複数行分の漏洩信号情報に基づいて補正データを算出し、記憶するようにしてもよい。

捕正データが記憶されると、読出し部が画素アレイの各行毎に当該行に含まれる検出素子の信号電荷（補正前の画像データ）を読出し、画像データとして出力する。この画像データに対し、画像データ補正手段が画素アレイの各行に対応する画像データから捕正データを減算して画像データの補正を行い、画像表示手段が上記画像データに基づく画像を連続透視画像の 1フレームとして表示する。このように、 X線平面検出器の画素アレイから漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報を基に X線画像データの補正を行うので、画素アレイの一部に直接 X 線による過剰な X線が入射しても、それによって生じるアーチファタトを解消して正しい画像データを得ることができ、またアーチファクトの解消された正しい画像を表示するので、観察者は撮影画像を容易に判読できる。

本願発明の第 3の特徴によれば、上記本願発明第 1の特徴において、上記画素アレイのうち少なくとも 1行は、 X線が入射しないように遮蔽されることで信号電荷の発生が防止されており、上記漏洩信号は、上記読み出し行選別部経由で該 X線入射遮蔽行を指示してそこから取得される。この特徴では、 X線源から照射された X線が X線平面検出器に入射すると、 X線平面検出器の画素ァレイの各検出素子によって X線が信号電荷に変換される。その後、連続透視画像の各フレームを構成する画像データの信号を読み出す際に、読出し部が、画素アレイのうち X線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行（マスク行）の信号電荷を読出し、少なくとも 1行分の漏洩信号情報を出力する。この漏洩信号情報に基づく補正データを、補正データ算出手段が記憶する。

なお、マスク行からの信号電荷の読出しは少なくとも 1行について行えばよい 1 複数行分の信号電荷を読出し、当該複数行分の漏洩信号情報に基づいて補正データを算出し、記憶するようにしてもよい。

また、読出し部は画素アレイの他の画素行からも信号電荷（補正前の画像データ）を読出し、画像データとして出力する。この画像データに対し、画像データ補正手段が画素ァレイの各画素行に対応する画像データから補正データを減算して画像データの補正を行い、画像表示手段が上記画像データに基づく画像を連続透視画像を構成する 1フレームとして表示する。

このように、 X線平面検出器の画素アレイのうち、 X線の照射による信号雩荷の発生を防止する処理が施された画素行（マスク行）の信号電荷を読み出すことにより漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報を基に X線画像データの捕正を行うので、画素アレイの一部に直接 X線による過剰な X線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを得ることができ、またアーチファタトの解消された正しい画像を表示するので、観察者は撮影画像を容易に判読できる。

本願発明の第 4カゝら 6の特徴によれば、それぞれ上記本願発明第 1から 3の特徴において、上記漏洩信号は少なくとも 2行分得て、これを平均化して上記 1行分の漏洩信号とする補正データ作成手段をさらに備えた。

本願発明の第 7の特徴によれば、上記本願発明の第 3の特徴において、上記 X 線入射遮蔽行は、上記画素ァレイ上の遮蔽すべき行の上部に放射線非透過剤を施して構成される。

本願努明の第 8の特徴によれば、上記本願発明の第 3の特徴において、上記 X 線入射遮蔽行は、上記画素ァレイ上の遮蔽すべき行の上部に光非透過剤を施して構成される。

本願発明の第 9の特徴によれば、上記本願発明の第 8の特徴にぉ、て、上記 X 線入射遮蔽行以外の行の上部に光透過材を施して構成される。 ' 本願発明の第 10から 12の特徴によれば、それぞれ上記本願発明の第 1から 3 の特徴において、上記検出素子は各々フォトダイオードと FETスィッチからなる。

本願発明の第 13の特徴によれば、 X線源から照射される X線を、行方向に多数伸長するスイツチ制御線と列方向に多数伸長する読み出し回路線とからなるマトリッタスの交点に多数の検出素子を並べて構成した X線平面検出器で検出して、これをもとに連続透視画像を作成するにおいて、 X線を照射開始するステップ、少なくとも 1行分の漏洩信号を取得するステップ、前記 X線平面検出器から行ごとに信号電荷の取得を繰り返し捕正前データを取得するステップ、上記漏洩信号をもとに列補正データを作成するステツプ、上記列捕正データを上記取得した補正前データに対して補正するステップ、上記補正されたデータを捕正後画像データメモリに記憶するステップ、上記補正後画像データメモリに記憶された画像デ一タを表示するステツプとからなることを特舉とする X線画像表示の捕正方法を提供する。

本願発明の第 14の特徴によれば、上記本願発明の第 13の特徴において、上記漏洩信号取得ステップでは、上記スィッチ制御線による読出しの指示をすることなく、上記漏洩信号を上記読出し線を介して空読みして取得する。

本願発明の第 15の特徴によれば、上記本願発明の第 13の特徴において上記漏洩信号取得ステップでは、上記検出素子中のうち少なくとも 1行には、 X線が入射しないように遮蔽することで信号電荷の発生を防止しておいた状態で、上記漏洩信号を該 X線遮蔽行から取得する。 '

本願発明の第 16の特徴によれば、上記本願発明の第 13の特徴において、上記漏洩信号取得ステップでは、上記漏洩信号を少なくとも 2行分得て、上記列補正データ作成ステップでは漏洩信号を平均化して 1行分の捕正デタとする。図面の簡単な説明

図 1は、本発明の実施例 1に係る放射線画像撮像装置の全体構成を示すプロック図である。図 2は、本発明の実施例 1に係り、 X線平面検出器の要部構成を示す図である。図 3は、本発明の実施例 1に係り、漏洩電荷重畳の影響を示す概念図である。図 4は、本発明の実施例 1に係り、放射線画像撮像装置での処理を示すタイムチャートである。図 5は、本発明の実施例 2に係り、 X線平面検出器の要部構成を示す図である。図 6は、本発明の実施例 2に係り、放射線画像撮像装置での処理を示すタイムチャートである。図 7は、 X線検出器と絞りの関係を示す平面図である。発明を実施するための最良の形態

以下、添付図面に従って本発明に係る放射線画像撮像装置の実施の形態について詳説する。'

[実施例 1]

図 1は、第一の実施の形態が適用された放射線画像撮像装置 10の全体構成を示すブロック図である。

放射線画像撮像装置 10は、 X線制御回路 12を備えている。この X線制御回路 12の制御により X線源 16から X線が照射され、被検体 14を透過した X線が X 線平面検出器 18によって検出されて、画像データ取得制御部 20の制御により X 線画像データとして X線画像メモリ 22に記憶される。上記 X線画像メモリ 22 に記憶された X線画像データは、画像データ捕正部 28によつて漏洩信号分の捕正が施されて捕正後画像データメモリ 30に記憶され、表示制御部 32を介して表示モニタ 34に画像として表示される。 - なお、 X線源 16および X線平面検出器 18は、放射線画像撮像装置 10の使用状態に応じ、被検体 14に対して相対的に移動できるようにしてもよい。

操作部 36は放射線画像撮像装置 10の操作を行うもので、図示しないボタンゃスィッチを含み、 X線の照射 Z非照射、列捕正データ算出時の漏洩信号情報取得数、画像データの表示等が設定可能に構成されている。画像データ取得制御部 20 は、 X線平面検出器 18から出力される画像データを取得し、画像データを X線画像メモリ 22に記憶させる。また、画像データ取得制御部 20は、画像データの捕正に先立って、 X線平面検出器 18力ら漏洩信号情報を取得し、漏洩信号情報メモリ 24に記憶させる。この点は後述する。

漏洩信号情報メモリ 24には列補正データ算出部 26が接続されており、この列補正データ算出部 26は、漏洩信号情報メモリ 24に記憶されている漏洩信号情報力ら列補正データを算出し、記憶する。漏洩信号情報メモリ 24 と列補正データ算出部 26は補正データ作成手段 23として機能する。この点は後述する。

列補正データ算出部 26には画像データ補正部 28が接続されており、画像データ捕正部 28は、列補正データ算出部 26に記憶されている列補正データを X線画像メモリ 22に記憶されている X線画像データから行毎に減ずることにより、漏洩信号分の捕正を行う.。この補正により、漏洩信号分の補正の施された画像データが得られる。

表示制御部 32は、操作部 36の設定により、 X線画像メモリ 22に記憶されている漏洩信号補正前の X線画像データ、漏洩信号情報メモリ 24に記憶されている漏洩信号、および補正後画像データメモリ 30に記憶されている漏洩信号補正後の画像データに基づく画像を表示モニタ 34に表示できるように構成されている。

なお、放射線画像撮像装置 10は、上記の他、図示しない CPUを含み、該 CPU により放射線画像撮像装置 10の処理制御を行うようになっている。

図 2に、 X線平面検出器 18の要部構成を示す。 X線平面検出器 18には、 X線が照射されると光を発する蛍光体層 42が設けられおり、蛍光体層 2の下には、基盤 40の上に、蛍光体層 42が発した光に対応する電荷（信号電荷）を蓄積する検出素子を二次元アレイ状に配列した画素アレイ 44が設けられている。

画素アレイ 44の各検出素子は、拡大図に示すように、フォトダイォード 54と FETスィッチ 56とから構成されている。また、各検出素子は行ごとに備えられているスィツチ制御線 46と列ごとに備えられている信号読出し線 48とに接続されており、各行のスィッチ制御線 46は読出し行選別回路 50に、各列の信号読出し線 48は読み出し回路 52に接続されている。

画素アレイ 44力ら各検出素子の信号電荷のデータを読出すには、読出し行選別回路 50により読出しの対象となる画素行のスィッチのみを ONとし、それ以外のスィツチを OFFとした状態で、読出し回路 52により、読み出し対象行に含まれる各列の画素の信号電荷を順番に読み出す。

読出し行選別回路 50が全ての画素行のスィツチを OFFにした状態で読出し回路 52が任意行のデータを読取ると（データの空読み）、漏洩信号情報が得られる。図 3は、漏洩電荷重畳の影響を示す概念図である。図 3 (a) に示すように、画素アレイ 44中のある領域に直接 X線により過剰な X線が入射した場合、その領域を通過する全ての列が該 X線の影響を受け、図 3 (b) に示すように過剰な信号電荷が発生し漏洩電荷として各列の信号電荷に重畳されてしまう。このような漏洩信号情報すなわち漏洩電荷を、読出された信号電荷から減じることにより、画像データに対する漏洩信号補正を行うことができる。

次に、上記実施の形態の作用を図 4に基づいて説明する。図 4は放射線画像撮像装置 10で行われる処理のフローチヤ一トと各項目の処理が実行されるタイミングを示したタイムチャートを並列表記したものである。まず S111にて X線が照射される。 X線の照射は少なくとも以下 S112と S113の間は継続される。この図では以下 S112から S117のシークェンス繰り返しの間継続されるように表記したが、これに限られる訳ではない。

S112 において、漏洩信号情報を取得する。信号電荷すなわち補正前の画像データの取得に先立ち、画素アレイ 44の全てのスィッチ制御線 46が閉（OFF) の状態で、 1行目力ら 4行目の信号電荷 qを空読みする。これにより 4行分の漏洩信号情報を取得し、補正データ作成手段 23の漏洩信号情報メモリ 24に記憶させる。

S113において、下記信号電荷 (捕正前の画像データ）の取得 S114と並行して、列補正データの算出および記憶を行う。列捕正データは、補正データ作成手段 23 の列捕正データ算出部 26力、漏洩信号情報メモリ 24に記憶されている例えば 4 行分の漏洩信号情報を平均化することにより得られる。得られた列補正データは、列補正データ算出部 26·が記憶する。

S114において、 1行目のスィツチ制御線 46を開' (ON) にして、 1行目の信号電荷を取得し X線画像メモリ 22に記憶させる。その後、 1行目のスィツチ制御線 46を閉（OFF) にして 2行目のスィツチ制御線 46を開（ON) にし、 2行目の信号電荷を取得し記憶する。以下、同様に最終行まで、信号電荷の取得および記憶を繰り返す。

なお、本実施の形態では 4行分の漏洩信号情報を平均化することにより列補正データを得ているが、列捕正データは少なくとも 1行以上の漏洩信号情報から算出すればよい。また、 S113と S114は並列すると記載したが、 S112の後でかつ S115の前であれば、順序はどちらが先になつても構わない。

もともとのノイズの大きさを nとしたとき、空読する行の平均本数を Nとすると、上記捕正後の合成ノイズは、捕正分のノイズの増加を加味して、

合成ノイズ = {n²+ (n/Ni^/2) 2} ι/2_=η + (1/N) } ゾ²

となるので、例えば N=lのとき、合成ノィズは 1.4ηとなり約 3dBの増加となる。 N=4のとき、おおよそ l.lnとなり約 IdBの増加となる。 IdB程度の場合にはノイズの増加はほとんど認識できないので、 Nは 4以上が望ましい。

補正前画像データが取得されて X線画像メモリ 22に記憶され、列捕正データが算出されて列補正データ算出部 26に記憶されると、 S115にて、画像データ補正部 28力補正前画像データの各行のデータから列補正データを減ずることにより漏洩信号分の捕正を行う。この処理は、図 4に示すように、画素アレイ 44 の各行に対して同様に行われる。

S116 にて、上記処理の終了により後の画像データが得られ、各行ごとに順次捕正後画像データメモリ 30に記憶される。

S117にて、捕正後画像データメモリ 30に記憶された画像データは、表示制御部 32の制御により表示モニタ 34に画像として表示される。

S112から S117までは、連続透視画像を構成する 1フレームについての処理を説明したものである。放射線画像撮像装置 10を用いて行われる連続透視では、 S111で Xs線照射が開始されてから S112から S117までの処理が行われるが、 S113と S114が完了すれば X線の照射を停止させてよい。

以上説明したように、実施例 1によれば、画像データの取得に先立って、 X線平面検出器 18の全スィツチ制御線 46を閉（OFF) にした状態で信号電荷の空読みをして漏洩信号情報を取得し、この取得した漏洩信号情報を平均化して得られた列補正データを X線画像データの各行のデータから減ずることにより、漏浪信号電荷の捕正を行う。

したがって、 X線平面検出器 18の画素ァレイの一部に直接 X線による過剰な X線が入射しても、それによつて生じるアーチプアクトを解消して正しい X線画像を取得可能であり、また観察者は撮影画像を容易に判読できる。

[実施例 2]

次に、本発明に係る放射線画像撮像装置の別の実施の形態について説明する。なお、実施例 2の放射線画像撮像装置 10'の全体構成は、図 1に示される通りで実施例 1のそれと同様なので省略する。

図 5 (a) に、実施例 2に係わる放射線画像撮像装置 10'の X線平面検出器 18，の主要部の構成を示す。 X線平面検出器 18'の基本的な構成は、図 2に示す X線平面検出器 18と同様であるが、特に、画素アレイ 44の.うち一部の画素行に対し X線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施されている。図 5 (a) では 2行がマスクされている。

このマスク処理は、図 5 (b) に示すように、蛍光体層 42の上記画素行に対応する部分を、 X線を透過.させない鉛などの X線非透過材 60で覆うことにより行われる。

なお、 X線の照射による信号電荷の発生防止処理は、上記の他にも実現可能である。例えば、図 5 (c) に示すように、 X線が蛍光体層 42に入射することにより発生する光が画素アレイ 44に入射しないよう、一部の画素行を光を透過させない光非透過材 62で覆い、残りの画素行を光を透過させる光透過材 64で覆うことにより行うようにしてもよい。ここで、光非透過材 62 としては着色したブラスチックやガラス、金属などを用いることができ、光透過材 64 としては透明なプラスチックやガラス等を用いることができる。

次に、上記実施の形態の作用を図 6に基づいて説明する。図 6は、図 4と同様に、放射線画像撮像装置 10，で行われる処理のフローチャートと各項目の処理が実行されるタイミングを示したタイムチャートを示すものである。本実施例では、画素ァレイ 44の 1行目おょぴ 2行目がマスクされ、この 2行から漏洩信号情報を取得する場合について説明する。 S121で連続 X線透視のために X線照射が鬨始される。

S122で、画素アレイ 44の全てのスィッチ制御線 46をまず閉（OFF) の状態とし、次に、マスクをされた 1行目のスィッチ制御線 46を開（ON) にして 1行目の電荷を取得し、捕正データ作成手段 23の漏洩信号情報メモリ 24に記憶させる。その後、 1行目のスィッチ制御線 46を閉（OFF) にして同じくマスクをされた 2行目のスイツチ制御線 46を開（ON) にし、 2行目の電荷を取得して 1行目と同様に漏洩信号情報メモリ 24に記憶させる。このようにしてマスクをされた 1行目および 2行目から読取つた電荷が漏洩信号情報となる。

漏洩信号情報の取得が終了すると、 S123で、下記信号電荷の取得と並行して、列補正データの算出および記憶を行う。列補正データは、補正データ作成手段 23 の列補正データ算出部 26が、漏洩信号情報メモリ 24に記憶されている 2行分の漏洩信号情報を 2で除算して平均化することにより得られる。得られた列補正データは、列補正データ算出部 26で記憶する。なお、漏洩信号を 1行分だけ取得する場合は除算は不要である。

S124では、信号電荷つまり捕正前の画像データの取得を行う。つまり、 3行目力 ^最終行までのマスクされていない画素行より補正前の画像データを取得する。なお、本実施の形態では 2行分の漏洩信号情報を平均化することにより列補正データを得ているが、列補正データは、画素アレイ 44のうちマスクされた画素行の数に応じて、少なくとも 1行以上の漏洩信号情報から算出すればよい。また、 S123と S124は並列すると記載したが、 S122より後で S125より前であれば順序が前後しても差し支えない。

実施例 1で記載したように 4行以上が理想的である。

なお、 X線画像データの補正おょぴ表示の処理は、実施例 1と同様に S125から S128まで行われるので説明を省略する。以上 S122から S127までのステップは連続透視画像を構成する 1フレームについての処理を説明したものであり、放射線画像撮像置 10'を用いて行われる連続透視では、 S121で X線照射開始後は、少なくとも以下 S122と S123の間は X線照射が継続される。

本実施例が適用された放射線画像撮像装置 10'では、画素ァレイ 44のうちマスクされた行の信号電荷を読出すことにより'漏洩信号情報を取得し、この取得した漏洩信号情報を平均化して得られた列捕正データを X線画像データの各行のデータから減ずることにより、漏洩電荷の捕正を行う。

したがって、実施例 1の場合と同様に、 X線平面検出器 18，の画素アレイの一部に直接 X線による過剰な X線が入射しても、それによって生じるアーチファタトを解消して正しい X線画像を取得でき、また観察者が撮影画像を容易に判読でさる。

実施例 1と 2においては、 X線平面検出器からの漏洩信号情報の取得を信号電荷の読出しに先立って行うように記載しているが、漏洩信号情報の取得は信号電荷の読出し後に行うようにしてもよい。例えば、実施例 1においては、 X線平面検出器 18の 1行目から K行目までの信号電荷を読み出して X線画像データとして X線画像メモリ 22に記憶した後、全ての画素行のスィツチを OFFにして 1 行目から 4行目までのデータを読み取る（空読みする）ことにより漏洩信号情報を取得し、該漏洩信号情報に基づいて列補正データを算出して X線画像データを捕正することができる。

また、実施例 2においては、 X線平面検出器 18'の（K一 1) 行目おょぴ K行目をマスク行として該マスク行に X線照射による信号電荷の発生防止処理を施し、 1行目から（K一 2)行目までについて信号電荷を読み出し X線画像データとして記憶した後、（K一 1)行目および K行目のデータを取得して漏洩信号情報とし、該漏洩信号情報に基づいて列補正データを算出して X線画像データを補正することができる。

なお、実施例 1と 2においては、表示モユタ 34に補正後の画像データに基づく画像が表示される場合について説明しているが、補正前の画像データに基づく画像や漏洩信号情報を表示し、補正後の画像データによる画像と比較できるようにしてもよい。

また、実施例 1と 2においては、漏洩電荷の捕正がなされた画像データの出力として、表示モニタ 34に画像として表示する場合について説明しているが、この他磁気ディスク等の記録装置を設けて連続透視画像を画像データとして記録し、くり返し画像表示できるようにしてもよい。

Claims

請求の範囲被検体に X線を照射する X線源と、

前記 X線源から照射された X線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素ァレイと、該画素ァレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子からの画像信号電荷を X線照射中に読出し線を介して画像データとして出力する読出し部と、前記検出素子に読出しを指示するためのスィツチ制御線を含む読み出し行選別部を有する X線平面検出器と、

上記面像データと漏洩信号とを X線照射下で行毎に読み出し指示する画像データ取得制御手段で、上記画像データの読み出しにあたっては読み出し対象行を上記読み出し行選別部を経由し指示して上記読出し部から取得させ、また上記漏洩信号は上記検出器から上記信号読出し線に漏洩する少なくとも Γ行の信号として上記漏洩信号を上記読出し部から取得させる手段と、

上記中 1行分の漏洩信号を上記各行毎の画像データから減算することにより、補正画像データを作成する画像データ捕正手段と、

上記補正画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段と、

を備えたことを特徴とする放射線画 ί象撮像装置。

上記漏洩信号は、上記読み出し行選別部により読出しの指示をすることなく、上記読出し線を介して上記読み出し部で空読みして取得することを特徴とする請求項 1に記載の放射線画像診断装置。

上記画素アレイのうち少なくとも 1行は、 X線が入射しないように遮蔽されることで信号電荷の発生が防止されており、上記漏洩信号は、上記読み出し行選別部経由で該 X線入射遮蔽行を指示してそこから取得されることを特徴とする請求項 1に記載の放射線画像診断装置。

上記漏洩信号は少なくとも 2行分得て、これを平均化して上記 1行分の漏洩信号とする補正データ作成手段をさらに備えたことを特徴とする請求項 1に記載の放射線画像診断装置。

5. 上記漏洩信号は少なくとも 2行分得て、これを平均化して上記 1行分の漏洩信号とする捕正データ作成手段をさらに備えたことを特徴とする請求項 2に記載の放射線画像診断装置。

6. 上記漏洩信号は少なくとも 2行分得て、これを平均化して上記 1行分の漏洩信号とする捕正データ作成手段をさらに備えたことを特徴とする請求項 3に記載の放射線画像診断装置。

7. 上記 X線入射遮蔽行は、上記画素アレイ上の遮蔽すべき行の上部に放射線非透過剤を施して構成されることを特徴とする請求項 3 に記載の放射線画像診断装置。

8. 上記 X線入射遮蔽行は、上記画素アレイ上の遮蔽すべき行の上部に光非透過剤を施して構成されることを特徴とする請求項 3 に記載の放

9. 上記 X線入射遮蔽行以外の行の上部に光透過材を施して構成されることを特徴とする請求項 8に記載の放射線画像診断装置。

10. 上記検出素子は各々フォトダイォードと FETスィッチからなることを特徴とする精求項 1に記載の放射線画像診断装置。

11. 上記検出素子は各々フォトダイオードと FETスィッチからなることを特徴とする精求項 2に記載の放射線画像診断装置。

12. 上記検出素子は各々フォトダイォードと FETスィッチからなることを特徴とする精求項 3に記載の放射線画像診断装置。

13. X線源から照射される X線を、行方向に多数伸長するスィツチ制御線と列方向に多数伸長する読み出し回路線とからなるマトリックスの交点に多数の検出素子を並べて構成した X線平面検出器で検出して、これをもとに連続透視画像を作成するにおいて、

X線を照射開始するステップ、

少なくとも 1行分の漏洩信号を取得するステップ、

前記 X線平面検出器から行ごとに信号電荷の取得を繰り返し補正前データを取得するステップ、上記漏洩信号をもとに列捕正データを作成するステップ、

上記列補正データを上記取得した補正前データに対して補正するステツプ、

上記捕正されたデータを補正後画像データメモリに記憶するステツプ、

上記補正後画像データメモリに記憶された画像データを表示するステツプ、

とからなることを特徴とする X線画像表示の補正方法。

14. 上記漏洩信号取得ステップでは、上記スィッチ制御 Hによる読出しの指示をすることなく、上記漏洩信号を上記読出し線を介して空読みして取得することを特徴とする請求項 13に記載の X線画像表示の捕正方法。

15. 上記漏洩信号取得ステップでは、上記検出素子中のうち少なくとも 1 行には、 X線が入射しないように遮蔽することで信号電荷の発生を防止しておいた状態で、上記漏洩信号を該 X線遮蔽行から取得することを特徴とする請求項 13に記載の X線画像表示の捕正方法。

16. 上記漏洩信号取得ステップでは、上記漏洩信号を少なくとも 2行分得て、上記列捕正データ作成ステップでは漏洩信号を平均化して 1行分の捕正データとすることを特徴とする請求項 13に記載の X線画像表示の捕正方法。