JP4011531B2 - 冷却機構を備えた熱分析装置 - Google Patents

冷却機構を備えた熱分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4011531B2
JP4011531B2 JP2003313086A JP2003313086A JP4011531B2 JP 4011531 B2 JP4011531 B2 JP 4011531B2 JP 2003313086 A JP2003313086 A JP 2003313086A JP 2003313086 A JP2003313086 A JP 2003313086A JP 4011531 B2 JP4011531 B2 JP 4011531B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling
cooling device
heat sink
gas
annular cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003313086A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005083763A (ja
Inventor
晋哉 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Science Corp
Original Assignee
SII NanoTechnology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SII NanoTechnology Inc filed Critical SII NanoTechnology Inc
Priority to JP2003313086A priority Critical patent/JP4011531B2/ja
Priority to US10/929,859 priority patent/US7234861B2/en
Publication of JP2005083763A publication Critical patent/JP2005083763A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4011531B2 publication Critical patent/JP4011531B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/20Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
    • G01N25/48Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation
    • G01N25/4806Details not adapted to a particular type of sample
    • G01N25/4826Details not adapted to a particular type of sample concerning the heating or cooling arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K17/00Measuring quantity of heat
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/20Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
    • G01N25/48Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation
    • G01N25/4846Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation for a motionless, e.g. solid sample
    • G01N25/4866Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation for a motionless, e.g. solid sample by using a differential method

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

本発明は、熱分析装置などヒートシンクの冷却を行うための冷却機構、およびそれを利用した示差走査熱量計などの熱分析装置に関する。
示差走査熱量計などの熱分析装置は、温度制御されたヒートシンク、前記ヒートシンク内にある試料、基準物質ホルダー、ヒートシンクを加熱するためのヒーター、ヒートシンクを冷却するための冷却装置を備えている。この冷却装置としては、従来液化窒素などを気化させた低温のガスにより冷却を行なうガス冷却装置(例えば特許文献1または特許文献2参照)と、コンプレッサーを内蔵しそれにより冷却された冷媒により冷却される金属製の冷却部材を介して、冷却を行なう電気冷却装置がある。そして従来では、ガス冷却装置か電気冷却装置のいずれかの冷却部材を必要に応じて取り替えて熱分析装置の加熱炉に装着して冷却を行っていた。
特公平7−122619(第4欄、第1図) 特公平7−65974(第4欄、第1図)
従来の示差走査熱量計においては一種類の冷却装置しか取り付けることができないため、一種類の冷却方法しか使用できない。そのため、ガス冷却装置を使用している場合は−150℃まで冷却することができるが、冷媒である液化窒素を補充しなくてはいけないし、また、急激にヒートシンクを冷却する場合、ガスの消費量が多くなるという問題点があった。
また、電気冷却装置を使用する場合は、冷媒は密封されているため、冷媒を補充しなくてもよいが、使い勝手が良く安価なものでは、その能力から−100℃以下には冷却できないという問題点があった。
さらに、用途に応じて、ヒートシンクを覆う冷却ヘッドを、電気冷却装置用のものと、ガス冷却装置用のものとで取り替えなければならないというわずらわしさがあった。
そこで本願発明は、上記問題点を解決し、急激な冷却を行なう場合にも、あるいは−100℃以下の温度へ冷却する場合においても、ガスの消費量を抑えて冷却することが可能な冷却装置を備えた熱分析装置を提供することを課題とする。また、用途に応じて冷却ヘッドを取り替えなければならないというわずらわしさを取り除くことを課題とする。
上記課題を解決するために、本願発明においては、試料を加熱冷却した時に試料に生じる変化を測定する熱分析装置において、試料を収納するヒートシンクと、前記ヒートシンクを過熱するヒーターと、前記ヒートシンクに熱接触された冷却機構とを有し、前記冷却機構は、環状空洞管を有し、前記環状空洞管には冷却ガスを導入する管および排気する管が設けられると共に、電気冷却装置の冷却ヘッドを固定する冷却ヘッド固定部が設けられ、前記冷却ガスまたは前記電気冷却装置の冷却ヘッドの、少なくとも1つ以上の冷却機構を用いることを特徴とする。環状空洞管の内壁には、冷却効率を高めるためのフィンが設けられている。冷却ヘッド固定部は冷却チャンバー内壁に熱接触されている。環状空洞管はその端面がヒートシンクの上部または下部に熱接触するようにヒートシンクにロウ付けまたはネジ止めで固定されている。
なお、ここで熱接触とは、接触させた時に熱流路が形成されるように接触することを意味する。
以上のように本発明による冷却装置においては、冷却機構をガス冷却装置と、電気冷却装置とで併用できるため、常時、−100℃以上では電気冷却装置を使用し、それ以下の温度ではガス冷却を用いて冷却することが可能である。すなわち、測定者が、使用温度に合わせて各冷却装置とつながる冷却部材を測定前に付け替える必要がない。
また、電気冷却装置とガス冷却装置を併用することで、ガス冷却装置の負荷が減少し、結果としてガスの消費量を抑えることが可能となり、液化窒素の補充の負担が軽減される。
さらに、電気冷却装置とガス冷却装置を併用することで、ヒートシンクの急激な冷却が容易となり、冷却時間の短縮により測定の効率化が得られる。
図1に本発明の複数の冷却手段が併用可能な冷却装置に用いられる冷却機構を示す。
図1に示されるように、この冷却機構は環状空洞管からなり、空洞1を有している。空洞1には、ガス冷却装置からの冷却ガスを導入する冷却ガス導入口2と冷却ガスを外部に排気する冷却ガス排気口3を有している。冷却装置の内壁4の内側には、冷却効率を高めるための複数の板状のフィン5を有している。
冷却装置の内壁4の内面には、円筒状の電気冷却装置冷却ヘッド固定部材6の底面が接触または、内壁4と一体化した構造となっており、熱的に接続されている。電気冷却装置固定部材6は、電気冷却装置の円筒状の冷却ヘッド11を円筒状の固定部材6の凹部に挿入することにより固定部材6を経て環状空洞管の内壁4、外壁7を冷却する。
電気冷却装置は、コンプレッサー式の冷媒循環による冷却装置である。コンプレッサーにより冷媒を圧縮、断熱膨張することによって冷却能力が得られる。
ガス冷却装置の使用方法は、液化窒素をヒーターで過熱し、気化したガスを冷却ガス導入口2から導入し、フィン5、内壁4、外壁7を冷却する。冷却に使われて温められたガスは、ガス排気口3から排気される。
次に冷却装置の接続方法について図2を用いて説明する。本発明の冷却装置は、電気冷却装置9とガス冷却装置8を併用することが可能であることを特徴とする。ガス冷却装置と電気冷却装置の接続部分が独立しているため、複数の冷却装置を同時に接続することが可能である。
電気冷却装置9は、金属製のパイプ10の中で冷媒が循環され、パイプ先端の冷却ヘッド11が冷却されている。冷却ヘッド11が前記電気冷却固定部材6に接触し、固定され、冷却機構全体を冷却する。
ガス冷却装置は、ガス冷却装置内で気化された冷却ガスが金属パイプ12を通して前記ガス導入口2に噴射される。冷却機構内部で冷却に使われ、温められたガスは前記ガス排気口3から排気される。
測定中や、測定後次の測定にかかるまでに急速な冷却を行う場合、ガス冷却装置と電気冷却装置を同時に稼動することが可能である。
次に本発明の冷却装置に接続する示差走査熱量計について図3を用いて説明する。
ヒートシンク13内に試料ホルダー14と基準物質ホルダー15がある。ヒートシンク側面には、加熱するための絶縁被覆付きヒーター16が巻かれている。試料、基準物質ホルダーの下には、それぞれ示差熱量検出器17が設けられ、前記検出器で温度差を検知する。
前記試料、基準物質ホルダー下部の示差熱量検出器17には、それぞれ熱電対細線18が溶接されており、試料温度と試料と基準物質の温度差を検知して熱流として出力する。
ヒートシンクの温度制御には、コントロール熱電対19から前記ヒートシンク13の温度を検知し、ヒーターと冷却装置を用いてPID制御を行う。これにより測定者によって決められた温度プログラムに沿ってヒーター16に電力を供給し、ヒートシンクの温度を精密に制御させることができる。
実施例では、冷却装置がヒートシンク下面に配置してあるが、上面や側面に配置しても同様の効果が得られる。上面に配置する場合には環状空洞管の下部が円筒状のヒートシンクの上面に熱接触するように固定される。また、環状空洞管をヒートシンクの側面にその外周を覆うようにして配置する場合は、環状空洞管の上端部につば部を設け、このつば部をヒートシンク上面に熱接触させて固定する。これにより、効率よくヒートシンクを冷却することができる。
本発明の冷却装置は、示差走査熱量計ならびにその他の熱分析装置にも接続することが可能とする。
本発明の冷却機構の断面図である。 本発明の冷却機構に冷却装置を接続した概略図である。 本発明の冷却機構に示差走査熱量計を接続した概略図である。
符号の説明
1 空洞
2 冷却ガス導入口
3 冷却ガス排気口
4 内壁
5 フィン
6 固定部材
7 外壁
8 ガス冷却装置
9 電気冷却装置
10、12 金属製パイプ
11 冷却ヘッド
13 ヒートシンク
14 試料ホルダー
15 基準物質ホルダー
16 絶縁被服付きヒーター
17 示差熱量検出器
18 熱電対細線
19 コントロール熱電対

Claims (7)

  1. 試料を加熱冷却した時に試料に生じる変化を測定する熱分析装置において、試料を収納するヒートシンクと、前記ヒートシンクを過熱するヒーターと、前記ヒートシンクに熱接触された冷却機構とを有し、前記冷却機構は、環状空洞管を有し、前記環状空洞管には冷却ガスを導入する管および排気する管が設けられると共に、電気冷却装置の冷却ヘッドを固定する冷却ヘッド固定部が設けられ、前記冷却ガスまたは前記電気冷却装置の冷却ヘッドの、少なくとも1つ以上の冷却機構を用いることを特徴とする熱分析装置。
  2. 前記環状空洞管は、円筒状の構造であることを特徴とする請求項1記載の熱分析装置。
  3. 前記冷却ガス導入管および冷却ガス排気管はそれぞれ少なくとも1つ設けられていることを特徴とする請求項1又は2記載の熱分析装置。
  4. 前記環状空洞管は、前記管の内壁にフィンを備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の熱分析装置。
  5. 前記固定部は少なくとも1つ設けられることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の熱分析装置。
  6. 前記固定部は、前記環状空洞管に熱的に接続していることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の熱分析装置。
  7. 前記環状空洞管は前記ヒートシンクにロウ付けされていることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の熱分析装置。
JP2003313086A 2003-09-04 2003-09-04 冷却機構を備えた熱分析装置 Expired - Fee Related JP4011531B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003313086A JP4011531B2 (ja) 2003-09-04 2003-09-04 冷却機構を備えた熱分析装置
US10/929,859 US7234861B2 (en) 2003-09-04 2004-08-30 Cooling mechanism, cooling apparatus having cooling mechanism, and thermal analyzer equipped with cooling apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003313086A JP4011531B2 (ja) 2003-09-04 2003-09-04 冷却機構を備えた熱分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005083763A JP2005083763A (ja) 2005-03-31
JP4011531B2 true JP4011531B2 (ja) 2007-11-21

Family

ID=34225131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003313086A Expired - Fee Related JP4011531B2 (ja) 2003-09-04 2003-09-04 冷却機構を備えた熱分析装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7234861B2 (ja)
JP (1) JP4011531B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4868305B2 (ja) 2006-01-27 2012-02-01 エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 示差走査熱量計
JP5283535B2 (ja) * 2009-02-20 2013-09-04 株式会社日立ハイテクサイエンス 示差走査熱量計
JP5709160B2 (ja) * 2010-03-29 2015-04-30 株式会社日立ハイテクサイエンス 熱分析装置
JP5551811B2 (ja) * 2013-05-24 2014-07-16 株式会社日立ハイテクサイエンス 示差走査熱量計
KR101646111B1 (ko) * 2014-04-29 2016-08-05 현대자동차 주식회사 엔진 단열막 열적 거동 측정장치
CN105203595B (zh) * 2015-09-23 2018-04-13 北京理工大学 一种准确测量含能材料溶解热装置及测试方法
CN106772186B (zh) * 2017-03-07 2019-05-07 北京无线电计量测试研究所 一种双负载波导量热计的替代效率测量方法和系统
US10466189B2 (en) * 2017-04-21 2019-11-05 Board Of Trustees Of Northern Illinois University Uniform chilling calorimeter system

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH573114A5 (ja) * 1974-06-25 1976-02-27 Mettler Instrumente Ag
CH651392A5 (de) * 1980-06-10 1985-09-13 Ciba Geigy Ag Waermeflusskalorimeter.
US4892707A (en) * 1983-07-25 1990-01-09 American Cyanamid Company Apparatus for the calorimetry of chemical processes
US5198752A (en) * 1987-09-02 1993-03-30 Tokyo Electron Limited Electric probing-test machine having a cooling system
JP2995207B2 (ja) * 1990-11-02 1999-12-27 セイコーインスツルメンツ株式会社 熱分析装置
US5484204A (en) * 1994-09-21 1996-01-16 Ta Instruments, Inc. Mechanical cooling system
US5876118A (en) * 1995-12-08 1999-03-02 The Perkin-Elmer Corporation Calorimeter having rapid cooling of a heating vessel therein
US5671603A (en) * 1995-12-08 1997-09-30 The Perkin-Elmer Corporation Apparatus for controlling level of cryogenic liquid
US6487866B1 (en) * 2000-07-10 2002-12-03 The United States Of America As Represented By The National Aeronautics & Space Administration Multipurpose thermal insulation test apparatus
US6626567B2 (en) * 2000-07-13 2003-09-30 Mikhail Boiarski Cooling system for thermal analysis
US6578367B1 (en) * 2001-03-02 2003-06-17 Ta Instruments-Waters Llc Liquid nitrogen cooling system
DE10122491A1 (de) * 2001-05-10 2002-11-14 Bayer Ag Vorrichtung und Verfahren zur parallelen Durchführung von Experimenten

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005083763A (ja) 2005-03-31
US20050053115A1 (en) 2005-03-10
US7234861B2 (en) 2007-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4868305B2 (ja) 示差走査熱量計
JP4831487B2 (ja) 示差走査熱量計
JP4011531B2 (ja) 冷却機構を備えた熱分析装置
JP2008530560A (ja) 温度制御炉を備えた示差走査熱量計(dsc)
US20080304540A1 (en) System and method for thermal analysis using variable thermal resistance
US6578367B1 (en) Liquid nitrogen cooling system
JP2011180123A (ja) 示差走査熱量計
JP2010249803A (ja) 熱疲労試験装置、及びプログラム
US8708556B2 (en) Thermal analyzer
JP6841425B2 (ja) 熱分析装置
JP3153034U (ja) 示差走査熱量計
JP5187663B2 (ja) 断熱型カロリーメータ
CN109164128B (zh) 一种用于热分析仪器的炉体
JP4185028B2 (ja) 冷却機構を有した示差走査熱量計
Zhao et al. Experimental study on cooling down process of a nitrogen-charged cryogenic loop heat pipe
JP2006040989A (ja) 半導体素子の熱電特性測定装置
JP2015111166A (ja) 蛍光x線分析装置
WO2008153913A1 (en) System and method for thermal analysis using variable thermal resistance
KR20240050701A (ko) 고온용 히트파이프용 냉각기 및 이를 포함하는 열성능 시험장비
JPH06307791A (ja) 高性能伝熱体
Mokdad et al. A Self-Validation Method for High-Temperature Thermocouples Under Oxidizing Atmospheres
JPH09222425A (ja) コールドトラップ方法および温度制御装置
CN218157655U (zh) 热管测试装置
JPH1196953A (ja) 冷却試料観察装置
JP5283535B2 (ja) 示差走査熱量計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060510

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070404

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070904

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070905

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4011531

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914

Year of fee payment: 3

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20091108

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914

Year of fee payment: 3

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees