JP4002128B2 - 観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法 - Google Patents

観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4002128B2
JP4002128B2 JP2002085839A JP2002085839A JP4002128B2 JP 4002128 B2 JP4002128 B2 JP 4002128B2 JP 2002085839 A JP2002085839 A JP 2002085839A JP 2002085839 A JP2002085839 A JP 2002085839A JP 4002128 B2 JP4002128 B2 JP 4002128B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibration
unit
contrast
observation
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002085839A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003278825A (ja
Inventor
川 豊 治 石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2002085839A priority Critical patent/JP4002128B2/ja
Publication of JP2003278825A publication Critical patent/JP2003278825A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4002128B2 publication Critical patent/JP4002128B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Vibration Prevention Devices (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する分野】
本発明は、電子顕微鏡等の観察装置に用いられる除振装置及び当該除振装置の制御方法に関する。
【0002】
また、本発明は、当該除振装置を備える観察システム及び当該観察システムの制御方法に関する。
【0003】
【従来の技術】
電子顕微鏡等の観察装置においては、当該観察装置が設置される床面の振動を受けて当該観察装置が微妙に振動することがある。このような場合には、観察時において、観察装置内部の試料の観察像も振動してしまい、観察装置の所定の分解能等の性能が損なわれることがある。
【0004】
よって、このような問題を解決するために、床面上に配置された基台の上にパッシブ除振器やアクティブ除振器等の除振器を介在させてベースプレートを配置し、このベースプレートの上に観察装置を載置することが行われている。このような場合、特にアクティブ除振器を設けた場合においては、当該アクティブ除振器の制御機構として、載置される観察装置による観察像の画像データから得られるずれ量を検出し、画像データから検出されたずれ量に基いてアクティブ除振器を駆動制御する制御機構が検討されている。そして、このような制御機構を用いて、観察装置の設置時におけるアクティブ除振器の駆動設定を行ったり、観察装置の設置後における経時変化によるアクティブ除振器の駆動設定条件の更新を行うことが考えられている。
【0005】
このようなアクティブ除振器の制御機構の一例として、特開平8−321274号公報(以下、公報という)に示された制御機構がある。以下、この公報について説明する。
【0006】
当該公報の実施例においては、床上に設置された架台(基台)の上にパッシブ除振部材(パッシブ除振器)とアクチュエータ部材(アクティブ除振器)とを設け、これらパッシブ除振部材とアクチュエータ部材により定盤(ベースプレート)を支持する。そして、観察装置である電子顕微鏡の本体が定盤上に搭載される。
【0007】
そして、振動を検出するための振動検出器を定盤上に設け、また電子顕微鏡の電磁レンズホルダ内に走査画像検出器を設ける。この走査画像検出器は、取り込んだ画像データから水平方向成分のずれ量を検出するものである。
【0008】
振動検出器からの振動データはローパスフィルタ及びA/D変換器を介してDSP部材に入力され、また、走査画像検出器からの水平方向成分のずれ量はA/D変換器及び画像処理装置を介してDSP部材に入力される。そして、DSP部材にはアクチュエータ部材を制御する実行プログラムが書き込まれており、DSP部材はこれによりアクチュエータ部材を制御する。このとき、上記水平方向成分のずれ量とアクチュエータ部材のパワーのそれぞれの2乗値等を評価関数とし、この評価関数が最小となるようにDSP部材はアクチュエータ部材を制御する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
上記公報の例においては、電子顕微鏡の画像データから水平方向成分のずれ量を検出し、検出された水平方向成分のずれ量とアクティブ除振器(アクチュエータ部材)のパワーのそれぞれの2乗等からなる評価関数が最小となるようにアクティブ除振器を制御し、これにより水平方向成分のずれ量を少なくするものであるが、当該水平方向のずれ量の振動(像振動)に関する周波数成分にまで考慮したものではなかった。
【0010】
すなわち、観察像の像振動には、周波数の異なる複数の振動成分(周波数成分)が含まれており、当該公報に記載された例のごとく水平方向成分のずれ量(X方向変位及びY方向変位)のみに着目してアクティブ除振器を制御しても、観察像の像振動を略完全に無くすことはできない。
【0011】
また、上記公報の例も含めて、企業の研究所等の現地に観察装置が設置されるとき、もしくは観察装置が当該現地に設置された後に、アクティブ除振器の駆動設定もしくは駆動設定条件の更新を行うためには、当該観察装置の供給メーカのメンテナンスエンジニアが当該現地に出向いて調整作業を行う必要があり、人件費等のコストがかかるという問題があった。
【0012】
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、観察像のずれ量の振動である像振動を略完全になくすことのできる除振装置及び除振装置の制御方法を提供することを目的とする。
【0013】
さらに、本発明は、当該除振装置を有する観察システム及び当該除振装置の制御方法を含む観察システムの制御方法を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の観察装置は、コントラスト検出用パターンを有する試料が内部に配置される試料室と、前記試料室の振動を抑制するためのアクチュエータと、所定のスポット径を有した電子ビームを前記コントラスト検出用パターンの輪郭部上に固定照射し、その電子ビーム照射によって試料から発生した電子を検出して前記輪郭部の振動に応じたコントラストデータを検出する第1の検出手段と、前記コントラストデータのコントラスト振動を検出する第2の検出手段と、検出された前記コントラスト振動の周波数成分を検出する第3の検出手段と、検出された前記周波数成分のうちの最大振幅となる最大振幅周波数を検出する第4の検出手段と、検出された前記最大振幅周波数と所定の設定周波数とを比較する比較手段と、前記比較手段による比較結果に基いて前記アクチュエータの駆動条件を設定する駆動条件設定手段と、前記駆動条件設定手段により設定された駆動条件により前記アクチュエータを駆動制御する駆動制御手段とを有することを特徴とする。
【0015】
また、本発明の観察装置におけるアクチュエータ制御方法は、コントラスト検出用パターンを有する試料が内部に配置される試料室と、前記試料室の振動を抑制するためのアクチュエータとを備える観察装置におけるアクチュエータ制御方法において、所定のスポット径を有した電子ビームを前記コントラスト検出用パターンの輪郭部上に固定照射し、その電子ビーム照射によって試料から発生した電子を検出して前記輪郭部の振動に応じたコントラストデータを検出する第1の検出工程と、検出されたコントラストデータのコントラスト振動を検出する第2の検出工程と、検出されたコントラスト振動の周波数成分を検出する第3の検出工程と、検出された周波数成分のうちの最大振幅となる最大振幅周波数を検出する第4の検出工程と、検出された最大振幅周波数と所定の設定周波数とを比較する比較工程と、前記比較工程による比較結果に基いて前記アクチュエータの駆動条件を設定する駆動条件設定工程と、前記駆動条件設定工程にて設定された駆動条件により前記アクチュエータを駆動制御する駆動制御工程とを有することを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【0019】
図1は、本発明における除振装置を備える観察システムを示す概略構成図であり、図中100は観察システムである。同図において、床1の上面には基台2が配置されており、当該基台2の上面にはアクチュエータ(アクティブ除振器)3及びパッシブ除振器4が配置されている。ここで、パッシブ除振器4は、固定マウント4aと当該固定マウント4a上に配置された弾性部材4bとから構成される。
【0020】
アクチュエータ3及びパッシブ除振器4の上にはベースプレート5が配置される。これにより当該ベースプレート5はアクチュエータ3及びパッシブ除振器4を介して基台2の上に載置される。そして、ベースプレート5の上面には、本発明の観察システムを構成する試料室6が載置される。当該試料室6の内部は、図示しない真空ポンプにより所定の真空度に真空引き可能とされ、その上端部には電子ビームEBを発生するための電子銃7が配置される。当該電子銃7で発生して加速された電子ビームEBは集束レンズ8、対物レンズ10によって、試料室6内の載置台11に載置された試料12上に集束されて照射される。このとき、偏向器9の作用により、電子ビームEBが偏向されて試料12上を走査する。なお、集束レンズ8、偏向器9、及び対物レンズ10は、おのおの対応する駆動制御回路16,17,及び18によって駆動制御され、これら駆動制御回路16,17,及び18はバスライン15に接続されている。
【0021】
電子ビームEBが照射された試料12からは、2次電子や反射電子等の被検出電子が発生し、当該被検出電子は検出器13により検出される。当該検出器13にて検出された被検出電子の検出データは増幅器14にて増幅され、当該増幅器14で増幅された検出データはバスライン15に送られる。
【0022】
このバスライン15には、観察モード条件記憶部19及び調整モード条件記憶部20が接続されており、試料を観察する際の通常の観察モードとアクチュエータ3の駆動制御の調整を行う際の調整モードとの2つのモードに対応する電子ビーム照射条件がおのおの格納されるようになっており、当該2つのモードは選択可能とされている。
【0023】
さらに、このバスライン15には、画像処理部21、画像表示部22、演算処理部23、最大振幅周波数検出部24、周波数閾値記憶部25、周波数比較部26、及び入力部27が接続されている。
【0024】
また、基台2上のアクチュエータ3には、当該アクチュエータ3を駆動制御するための駆動制御回路28が接続されており、当該駆動制御回路28は別のバスライン29に接続されている。さらに、基台2上には振動センサ30が配置されており、当該振動センサ30は増幅器31を介してバスライン29に接続されている。そして、ベースプレート5上にも振動センサ32が配置されており、当該振動センサ32は増幅器33を介してバスライン29に接続されている。
【0025】
さらに、このバスライン29には、駆動条件設定部34及び駆動条件記憶部35が接続されている。そして、上記バスライン15及びバスライン29の双方にはシステムコントローラ36が接続されている。当該システムコントローラ36は、上述の各構成要素を適宜制御するとともに、当該制御において必要とされる演算を行う。なお、上記除振器(アクティブ除振器,パッシブ除振器)3,4及びバスライン15,29に接続された特定の構成要素により除振装置が構成される。
【0026】
次に、上述の観察モード及び調整モードにおける実行動作について説明する。
【0027】
まず、観察モードを実行する際には、観察モード条件記憶部19に格納されている電子ビーム照射条件を読み出し、読み出された電子ビーム照射条件に基いて電子銃7、集束レンズ8、偏向器9、及び対物レンズ10を駆動制御し、これにより載置台11に載置された試料12上に電子ビームEBが照射される。電子ビームEBが照射された試料12からは被検出電子が発生し、当該被検出電子は検出器13にて検出され、検出器13による検出データは上述のごとく増幅器14にて増幅されてバスライン15に送られ、このバスライン15を介して画像処理部21に送られる。画像処理部21は受けた検出データを画像処理して画像データを作成し、当該画像データはバスライン15を介して画像表示部22に送られる。画像表示部22は受けた画像データに基いて表示画像を観察像として表示する。そして、オペレータ(操作者)は、当該観察像(表示画像)を目視にて観察する。
【0028】
このとき、アクチュエータ3は、駆動条件記憶部35に記憶されている駆動条件に基いて、駆動制御回路28により駆動制御されている。ここで、駆動条件記憶部35に記憶されている駆動条件は、観察システム100の設置時における駆動条件(更新前の駆動条件)、もしくは後述の調整モードの実行による更新後の駆動条件となっている。
【0029】
次いで、調整モードの実行について図2も参照して説明する。ここで、図2は調整モードの実行を示すフローチャートである。
【0030】
調整モードを実行する際には、メンテナンスエンジニアの操作により、調整モード条件記憶部20に格納されている電子ビーム照射条件を読み出し、読み出された電子ビーム照射条件に基いて電子銃7、集束レンズ8、偏向器9、及び対物レンズ10を駆動制御し、これにより載置台11に載置された試料12上に電子ビームEBが照射される。ここでの試料12としては調整モード専用の試料が用いられる。当該試料12の表面には、図3に示すように、明暗のコントラスト検出用のパターン12aが形成されており、検出時には当該パターン12aの輪郭部12bを境としてパターン内が「明」、パターン外が「暗」として、それに対応した検出データ(コントラストデータ)が検出される。そして、このときの電子ビーム照射条件はビームスポット照射を行う条件とされ、これにより試料12上で固定される所定のスポット径を有したビームスポットが、試料12のパターン12aの輪郭部12b上に走査が止められた状態で照射される。また、アクチュエータ3は、駆動条件記憶部35に予め格納されている更新前の駆動条件にて駆動制御回路28によって駆動制御されている(ステップS1)。
【0031】
電子ビームEBが照射された試料12からは被検出電子が発生し、当該被検出電子は検出器13にて連続的に検出され、これにより試料12上のパターン12aの輪郭部12bの振動に応じたコントラストデータ(明暗度データ)が検出される。検出器13による検出データは増幅器14にて増幅されてバスライン15に送られ、このバスライン15を介して演算処理部23に送られる。ここで、パターン12aの輪郭部12bの振動は、観察時での観察像の像振動に対応する。そして、観察システム100の振動に起因する試料12の振動は、当該試料12上のパターン12aの輪郭部12bに上記ビームスポットを照射して得られる検出データであるコントラストデータの振動に対応する。
【0032】
すなわち、試料12が電子ビームEBに対して相対的に変化し、図3に示す電子ビームEB1のようにパターン12a内を照射しているときは「明」のコントラストデータが検出され、また同図に示すEB2のようにパターン12a外を照射しているときは「暗」のコントラストデータが検出される(ステップS2)。
【0033】
演算処理部23は、コントラストデータを受けて、当該コントラストデータの時間経過に対する振動(コントラスト振動)を検出し、この検出結果に基いてコントラスト振動データを作成する。ここで、このコントラスト振動データの一例を図4に示す(ステップS3)。
【0034】
これに引き続いて、演算処理部23は、作成したコントラスト振動データをフーリエ変換してコントラスト振動の周波数成分を検出する。ここでの周波数成分は、周波数の異なる複数の振動成分のことをいう。そして、当該周波数成分全体に基いて周波数成分データを作成する。ここで、この周波数成分データの一例を図5に示す(ステップS4)。
【0035】
演算処理部23で作成された周波数成分データは、バスライン15を介して最大振幅周波数検出部24に送られる。当該最大振幅周波数検出部24では、受けた周波数成分データに基いて、当該データ中での最も振幅の大きい周波数成分を検出する。そして、検出した周波数成分に基いて最大振幅周波数データを作成する(ステップS5)。
【0036】
最大振幅周波数検出部24で作成された最大振幅周波数データは、バスライン15を介して周波数比較部26に送られる。当該周波数比較部26では、受けた最大振幅周波数データにある最大振幅周波数と予め設定されている周波数閾値(設定周波数)とを比較し、当該最大振幅周波数が当該周波数閾値より高いか又は低いかを判断する。なお、この周波数閾値は、キーボード等からなる入力部27の操作により設定入力され、周波数閾値記憶部25に予め格納されている。そして、当該周波数閾値記憶部25から周波数閾値を読み出すことにより、周波数比較部26での上述の比較が行われる。そして、上述した比較判断に基いて比較データが作成される(ステップS6)。
【0037】
周波数比較部26で作成された比較データはバスライン15を介してシステムコントローラ36に送られ、当該システムコントローラ36は、受けた比較データに基き、バスライン29を介して駆動条件設定部34を制御する。そして、これにより駆動条件設定部34によってアクチュエータ3の駆動条件が設定される。
【0038】
具体的には、上記比較データの内容が「最大振幅周波数が周波数閾値より高い」という場合では、システムコントローラ36はこれを受けて、現時点にてアクチュエータ3を駆動している更新前の駆動条件に対して駆動量(駆動ゲイン)を減少するように駆動条件設定部34を制御し、当該駆動条件設定部34はこれに応じて更新後の駆動条件を設定する。また、上記比較データの内容が「最大振幅周波数が周波数閾値より低い」という場合では、システムコントローラ36はこれを受けて、現時点にてアクチュエータ3を駆動している更新前の駆動条件に対して駆動量を増加するように駆動条件設定部34を制御し、当該駆動条件設定部34はこれに応じて更新後の駆動条件を設定する。この結果、床1の振動を打ち消す逆位相の動作をアクチュエータ3が行うような駆動条件が設定される。なお、この周波数閾値の具体的な数値としては、例えば10Hzが考えられる(ステップS7)。
【0039】
駆動条件設定部34にて設定された更新後の駆動条件は駆動制御回路28に送られ、当該駆動制御回路28は新たに受けた当該駆動条件にてアクチュエータ3を駆動制御する(ステップS8)。
【0040】
更新後の駆動条件にてアクチュエータ3が駆動制御されている状態で、今度は観察モード条件記憶部19に格納されている電子ビーム照射条件を読み出し、読み出された電子ビーム照射条件に基いて試料12上に電子ビームEBを照射する。そして、上述の観察モードの実行時と同様に、検出器13により被検出電子を検出し、検出データを増幅後、画像処理部21にて画像処理して画像データを作成することにより、試料12のパターン12aの観察像を検出する(ステップS9)。
【0041】
画像処理部21にて作成された画像データは画像表示部22送られ、当該画像表示部22は当該画像データに基いて表示画像を観察像として表示する。画像表示部22により表示された観察像(表示画像)は、上記メンテナンスエンジニアにより目視にて確認され、当該観察像が良好であるか否かを判断される。このとき、必要に応じて振動センサ30,32の検出結果を確認し、基台2及びベースプレート5の振動条件を確認してもよい。(ステップS10)。
【0042】
当該観察像が良好である(ステップS10にて「YES」の)場合には、メンテナンスエンジニアの操作により、上記更新後の駆動条件が駆動記憶部35に更新されて記憶される(ステップS11)。
【0043】
また、当該観察像がまだ良好ではないと判断された(ステップS10にて「NO」の)場合には、上述のステップS3に戻り、コントラスト振動の検出を再度行い、その後ステップS4以降を繰り返し実行する。
【0044】
ステップS10にて観察像が良好と判断された更新後の駆動条件は、ステップS11にて駆動条件記憶部35に記憶されるので、これ以降、通常の動作である観察モードの実行の際には、適宜この駆動条件記憶部35から更新後の駆動条件を読み出され、当該更新後の駆動条件にてアクチュエータ3が駆動される。これにより、観察モードの実行時には、検出される観察像が良好な状態で試料の観察を行うことができる。
【0045】
次に、図6を用いて、本発明の実施の形態の変形例を説明する。なお、図6において、上述の実施の形態と同じ構成要素には同じ参照番号が付されている。
【0046】
図6は、本発明の変形例における除振装置を備える観察システムを示す概略構成図である。同図において、当該観察システムは、観察ユニット101、演算ユニット102、及び当該観察ユニット101と当該演算ユニット102とを接続するインターネット等の通信回線103から構成される。
【0047】
観察ユニット101は、上述の実施の形態の観察システムの基本構成を有したものであり、上述の観察システム100(図1参照)の構成から演算処理部23、最大振幅周波数検出部24、周波数閾値記憶部25、周波数比較部26、入力部27、及びシステムコントローラ36が取り除かれた構成とされている。そして、当該観察ユニット101は、図3に示すように、上記システムコントローラ36の代わりにバスライン15,29に個別に接続されたコントローラ36a,36bを備えるとともに、バスライン15,29の双方に接続された通信制御部41を備える。上記コントローラ36a,36bは、おのおの対応するバスライン15,29に接続された各構成要素の制御を行う。
【0048】
また、本変形例においては、演算ユニット102が付加されており、当該演算ユニット102は、バスライン44と当該バスライン44に接続された演算処理部23a、最大振幅周波数検出部24a、周波数閾値記憶部25a、周波数比較部26a、及び入力部27aが接続されている。ここで、これら演算処理部23a、最大振幅周波数検出部24a、周波数閾値記憶部25a、周波数比較部26a、及び入力部27aは、それぞれ図1における演算処理部23、最大振幅周波数検出部24、周波数閾値記憶部25、周波数比較部26、及び入力部27に対応する機能を有する。
【0049】
さらにバスライン44には、画像表示部45及びデータベース46が接続されている。当該画像表示部45は、観察ユニット101の画像表示部21にて画像処理されて作成された画像データを受けて、必要に応じて当該画像データに基いた表示画像を表示するためのものである。また、データベース46は、演算ユニット102の演算制御の対象となっている観察ユニット101の演算制御履歴データを格納するためのものである。さらに、バスライン44には通信制御部42及びコントローラ36cが接続されており、当該コントローラ36cはバスライン44に接続されている上記各構成要素の制御を行う。
【0050】
そして、観察ユニット101の通信制御部41と演算ユニット102の通信制御部42とは、上述したようにインターネット等からなる通信回線103により接続されている。
【0051】
次に、当該変形例の観察システムにおける観察モード及び調整モードにおける実行動作について説明する。
【0052】
観察モードの実行の動作については、上述の実施の形態の場合と基本的に同一である。すなわち、観察モード条件記憶部19に格納されている電子ビーム照射条件を読み出し、読み出された電子ビーム照射条件に基いて電子銃7、集束レンズ8、偏向器9、及び対物レンズ10を駆動制御し、これにより載置台11に載置された試料12上に電子ビームEBが照射される。電子ビームEBが照射された試料12からは被検出電子が発生し、当該被検出電子は検出器13にて検出され、検出器13による検出データは増幅器14にて増幅されてバスライン15に送られ、このバスラインを介して画像処理部21に送られる。画像処理部21は受けた検出データを画像処理して画像データを作成し、当該画像データはバスライン15を介して画像表示部22に送られる。画像表示部22は受けた画像データに基いて表示画像を観察像として表示する。そして、オペレータは、当該観察像(表示画像)を目視にて観察する。
【0053】
このとき、アクチュエータ3は、駆動条件記憶部35に記憶されている駆動条件に基いて、駆動制御回路28により駆動制御されている。ここで、駆動条件記憶部35に記憶されている駆動条件は、観察ユニット101の設置時における駆動条件(更新前の駆動条件)、もしくは後述の調整モードの実行による更新後の駆動条件となっている。
【0054】
次いで、当該変形例における調整モードの実行について、図4も参照して説明する。ここで、図7は、当該変形例における調整モードの実行を示すフローチャートである。
【0055】
調整モードを実行する際には、まず、演算ユニット102の入力部27a等を介してメンテナンスエンジニアが調整モード指令をコントローラ36cに送信することにより、当該コントローラ36cからバスライン44を介して調整モード指令信号が通信制御部42に送られる。通信制御部42は、調整モード指令信号を受けて、当該調整モード指令信号を通信回線103を介して観察ユニット101の通信制御部41に転送する。このとき、通信回線103を介した信号の転送は、インターネットで使用されるTCP/IP等の通信プロトコルが用いられ、以下同様に通信回線103を介した信号及びデータの転送は当該通信プロトコルが用いられる。
【0056】
観察ユニット101の通信制御部41は、受けた調整モード指令信号をコントローラ36aに送る。観察ユニット101のコントローラ36aは、当該調整モード指令信号を受けて、上述の実施の形態における調整モードの実行時と同様に、調整モード条件記憶部20に格納されている電子ビーム照射条件を読み出し、読み出された電子ビーム照射条件に基いて電子銃7、集束レンズ8、偏向器9、及び対物レンズ10を駆動制御し、これにより載置台11に載置された試料12上に電子ビームEBが照射される。ここでの試料12としても調整モード専用の試料が用いられる。すなわち、当該試料12の表面には、図3に示すように、明暗のコントラスト検出用のパターン12aが形成されており、検出時には当該パターン12aの輪郭部12bを境としてパターン内が「明」、パターン「外」が暗として、それに応じた検出データ(コントラストデータ)が検出される。そして、このときの電子ビーム照射条件はビームスポット照射を行う条件とされ、これにより試料12上で固定される所定のスポット径を有したビームスポットが、試料12のパターン12aの輪郭部12b上に走査が止められた状態で照射される。また、アクチュエータ3は、駆動条件記憶部35に予め格納されている更新前の駆動条件にて駆動制御回路28によって駆動制御されている(ステップS21)。
【0057】
電子ビームEBが照射された試料12からは被検出電子が発生し、当該被検出電子は検出器13にて連続的に検出され、これにより試料12上のパターン12aの輪郭部12bの振動に応じたコントラストデータ(明暗度データ)が検出される。検出器13による検出データは増幅器14にて増幅されてバスライン15に送られる。ここで、パターン12aの輪郭部12bの振動は、観察時での観察像の像振動に対応する。そして、観察ユニット101の振動に起因する試料12の振動は、試料12上のパターン12aの輪郭部12bに上記ビームスポットを照射して得られる検出データであるコントラストデータの振動に対応する。すなわち、試料12が電子ビームEBに対して相対的に変位し、図3に示す電子ビームEB1のようにパターン12a内を照射しているときは「明」のコントラストデータが検出され、また同図に示す電子ビームEB2のようにパターン外を照射しているときは「暗」のコントラストデータが検出される(ステップS22)。
【0058】
当該コントラストデータはバスライン15を介して通信制御部41に送られ、当該通信制御部41から通信回線103を介して演算ユニット102の通信制御部42に転送される(ステップS23)。
【0059】
通信制御部42は、通信回線103を介して受けたコントラストデータをバスライン44を介して演算処理部23aに送る。演算処理部23aは、コントラストデータを受けて、当該コントラストデータの時間経過に対する振動(コントラスト振動)を検出し、この検出結果に基いてコントラスト振動データを作成する。このコントラスト振動データは、上述の図4に示された一例に対応する(ステップS24)。
【0060】
これに引き続いて、演算処理部23aは、作成したコントラスト振動データをフーリエ変換してコントラスト振動の周波数成分を検出する。ここでの周波数成分は、周波数の異なる複数の振動成分のことをいう。そして、当該周波数成分全体に基いて周波数成分データを作成する。この周波数成分データは、上述の図5に示された一例に対応する(ステップS25)。
【0061】
演算処理部23aで作成された周波数成分データは、バスライン44を介して最大振幅周波数検出部24aに送られる。当該最大振幅周波数検出部24aでは、受けた周波数成分データに基いて、当該データ中での最も振幅の大きい周波数成分を検出する。そして、検出した周波数成分に基いて最大振幅周波数データを作成する(ステップS26)。
【0062】
最大振幅周波数検出部24aで作成された最大振幅周波数データは、バスライン44を介して周波数比較部26aに送られる。当該周波数比較部26aでは、受けた最大振幅周波数データにある最大振幅周波数と予め設定されている周波数閾値とを比較し、当該最大振幅周波数が当該周波数閾値より高いか又は低いかを判断する。なお、この周波数閾値は、キーボード等からなる入力部27aの操作により設定入力され、周波数閾値記憶部25aに予め格納されている。そして、当該周波数閾値記憶部25aから周波数閾値を読み出すことにより、周波数比較部26aでの上述の比較が行われる。そして、上述した比較判断に基いて比較データが作成される(ステップS27)。
【0063】
周波数比較部26aで作成された比較データはバスライン44を介して通信制御部42に送られる。通信制御部42は、比較データを受けて、当該比較データを通信回線103を介して観察ユニット101の通信制御部41に転送する(ステップS28)。
【0064】
観察ユニット101の通信制御部41は、通信回線103を介して比較データを受けて、当該比較データをバスライン29を介してコントローラ36bに送る。当該コントローラ36bは、受けた比較データに基き、バスライン29を介して駆動条件設定部34を制御する。そして、これにより駆動条件設定部34によってアクチュエータ3の駆動条件が設定される。
【0065】
具体的には、上述の実施の形態と同様に、上記比較データの内容が「最大振幅周波数が周波数閾値より高い」という場合では、コントローラ36bはこれを受けて、現時点にてアクチュエータ3を駆動している更新前の駆動条件に対して駆動量(駆動ゲイン)を減少するように駆動条件設定部34を制御し、当該駆動条件設定部34はこれに応じて更新後の駆動条件を設定する。また、上記比較データの内容が「最大振幅周波数が周波数閾値より低い」という場合では、コントローラ36bはこれを受けて、現時点にてアクチュエータ3を駆動している更新前の駆動条件に対して駆動量を増加するように駆動条件設定部34を制御し、当該駆動条件設定部34はこれに応じて更新後の駆動条件を設定する。この結果、床1の振動を打ち消す逆位相の動作をアクチュエータが行うような駆動条件が設定される。なお、この周波数閾値の具体的な数値としては、例えば10Hzが考えられる(ステップS29)。
【0066】
駆動条件設定部34にて設定された更新後の駆動条件は駆動制御回路28に送られ、当該駆動制御回路28は新たに受けた当該駆動条件にてアクチュエータ3を駆動制御する(ステップS30)。
【0067】
更新後の駆動条件にてアクチュエータ3が駆動制御されている状態で、今度は観察モード条件記憶部19に格納されている電子ビーム照射条件を読み出し、読み出された電子ビーム照射条件に基いて試料12上に電子ビームEBを照射する。そして、上述の観察モードの実行時と同様に、検出器13により被検出電子を検出し、検出データを増幅後、画像処理部21にて画像処理して画像データを作成することにより、試料12のパターン12aの観察像を検出する(ステップS31)。
【0068】
画像処理部21にて作成された画像データはバスライン15を介して通信制御部41に送られ、当該通信制御部41から通信回線103を介して演算ユニット102の通信制御部42に転送される(ステップS32)。
【0069】
演算ユニット102の通信制御部42は、通信回線103を介して受けた画像データをバスライン44を介して画像表示部45に送る。当該画像表示部45は当該画像データに基いて表示画像を観察像として表示する。画像表示部45により表示された観察像(表示画像)は、上記メンテナンスエンジニアにより目視にて確認され、当該観察像が良好であるか否かを判断される。このとき、必要に応じて振動センサ30,32の検出結果を通信回線103を介して受けて確認し、基台2及びベースプレート5の振動状態を確認してもよい(ステップS33)。
【0070】
当該観察像が良好である(ステップS33にて「YES」の)場合には、メンテナンスエンジニアが入力部27a等を介してその旨を入力し、当該入力信号はコントローラ36cに送られる。コントローラ36cは、当該入力信号を受けて、「YES」の旨の判断データをバスライン44を介して通信制御部42に送る。通信制御部42は、当該判断データを通信回線103を介して観察ユニット101の通信制御部41に転送する(ステップS34)。
【0071】
観察ユニット101の通信制御部41は、通信回線103を介して受けた判断データをバスライン29を介してコントローラ36bに送る。コントローラ36bは、当該判断データを受けて、上記更新後の駆動条件を駆動記憶部35に格納する。これにより駆動条件が当該駆動記憶部35に更新されて記憶される(ステップS35)。
【0072】
ここで、当該観察像がまだ良好ではないと判断された(ステップS33にて「NO」の)場合には、上述のステップS24に戻り、コントラスト振動の検出を再度行い、その後ステップS25以降を繰り返し実行する。
【0073】
ステップS33にて観察像が良好と判断された更新後の駆動条件は、ステップS35にて駆動条件記憶部35に記憶されるので、これ以降、通常の動作である観察モードの実行の際には、適宜この駆動条件記憶部35から更新後の駆動条件を読み出され、当該更新後の駆動条件にてアクチュエータ3が駆動される。これにより、観察モードの実行時には、検出される観察像が良好な状態で試料の観察を行うことができる。
【0074】
上述の本発明の変形例においては、例えば、図6における観察ユニット101が企業の研究所等の現地に設置され、また演算ユニット102が観察装置(観察ユニット101)の供給メーカの事業所に設置され、当該観察ユニット101と当該演算ユニット102とがインターネット等からなる通信回線103によって接続されることとなる。
【0075】
よって、当該現地に観察ユニット101が設置されるとき、もしくは観察ユニット101が当該現地に設置された後に、観察ユニット101のアクティブ除振器(アクチュエータ3)の駆動設定もしくは駆動設定条件の更新を行う際には、上記供給メーカの事業所内のメンテナンスエンジニアが演算ユニット102を操作し、これにより通信回線103を介して現地の観察ユニット101を遠隔操作すればよいので、メンテナンスエンジニアが現地に出向いて調整作業を行う必要がなく、人件費等のコストを低減することができる。
【0076】
なお、上述の変形例において、複数の観察ユニット101が設置場所を異にして設置されたときに、当該複数の観察ユニット101に対して通信回線103を介して一つの演算ユニット102を対応させることもできる。この場合、演算ユニット102のデータベース46は、当該複数の観察ユニット101の演算制御履歴を格納できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態における観察システムを示す概略構成図である。
【図2】 上記実施の形態における調整モードの実行を示すフローチャートである。
【図3】 電子ビームが照射される試料の要部拡大図である。
【図4】 コントラスト振動データの一例を示す図である。
【図5】 周波数成分データの一例を示す図である。
【図6】 本発明の変形例における観察システムを示す概略構成図である。
【図7】 上記変形例における調整モードの実行を示すフローチャートである。
【符号の説明】
3…アクチュエータ(アクティブ除振器), 6…試料室, 12…試料室,
21…画像処理部, 22…画像表示部, 23…演算処理部,
24…最大振幅周波数検出部, 25…周波数閾値記憶部,
26…周波数比較部, 27…入力部, 28…駆動制御回路,
34…駆動条件設定部, 35…駆動条件記憶部,
36…システムコントローラ

Claims (2)

  1. コントラスト検出用パターンを有する試料が内部に配置される試料室と、前記試料室の振動を抑制するためのアクチュエータと、所定のスポット径を有した電子ビームを前記コントラスト検出用パターンの輪郭部上に固定照射し、その電子ビーム照射によって試料から発生した電子を検出して前記輪郭部の振動に応じたコントラストデータを検出する第1の検出手段と、前記コントラストデータのコントラスト振動を検出する第2の検出手段と、検出された前記コントラスト振動の周波数成分を検出する第3の検出手段と、検出された前記周波数成分のうちの最大振幅となる最大振幅周波数を検出する第4の検出手段と、検出された前記最大振幅周波数と所定の設定周波数とを比較する比較手段と、前記比較手段による比較結果に基いて前記アクチュエータの駆動条件を設定する駆動条件設定手段と、前記駆動条件設定手段により設定された駆動条件により前記アクチュエータを駆動制御する駆動制御手段とを有する観察装置。
  2. コントラスト検出用パターンを有する試料が内部に配置される試料室と、前記試料室の振動を抑制するためのアクチュエータとを備える観察装置におけるアクチュエータ制御方法において、所定のスポット径を有した電子ビームを前記コントラスト検出用パターンの輪郭部上に固定照射し、その電子ビーム照射によって試料から発生した電子を検出して前記輪郭部の振動に応じたコントラストデータを検出する第1の検出工程と、検出されたコントラストデータのコントラスト振動を検出する第2の検出工程と、検出されたコントラスト振動の周波数成分を検出する第3の検出工程と、検出された周波数成分のうちの最大振幅となる最大振幅周波数を検出する第4の検出工程と、検出された最大振幅周波数と所定の設定周波数とを比較する比較工程と、前記比較工程による比較結果に基いて前記アクチュエータの駆動条件を設定する駆動条件設定工程と、前記駆動条件設定工程にて設定された駆動条件により前記アクチュエータを駆動制御する駆動制御工程とを有することを特徴とする観察装置におけるアクチュエータ制御方法。
JP2002085839A 2002-03-26 2002-03-26 観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法 Expired - Fee Related JP4002128B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002085839A JP4002128B2 (ja) 2002-03-26 2002-03-26 観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002085839A JP4002128B2 (ja) 2002-03-26 2002-03-26 観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003278825A JP2003278825A (ja) 2003-10-02
JP4002128B2 true JP4002128B2 (ja) 2007-10-31

Family

ID=29232647

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002085839A Expired - Fee Related JP4002128B2 (ja) 2002-03-26 2002-03-26 観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4002128B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010092634A (ja) * 2008-10-06 2010-04-22 Hitachi High-Technologies Corp 走査荷電粒子顕微鏡
JP5396061B2 (ja) * 2008-10-24 2014-01-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ 回路パターン検査装置,回路パターン検査装置を含む管理システム、および回路パターンの検査方法
JP6364282B2 (ja) * 2014-08-29 2018-07-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置
JP6927904B2 (ja) 2018-02-14 2021-09-01 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置
JP7437262B2 (ja) 2020-07-31 2024-02-22 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置および電気ノイズの計測方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003278825A (ja) 2003-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4002128B2 (ja) 観察装置および観察装置におけるアクチュエータ制御方法
US6043490A (en) Vibration cancellation system for a charged particle beam apparatus
US8751050B2 (en) Combined motion control system
JPH05185227A (ja) 自動溶接システムおよび自動溶接方法
JP2018128838A (ja) 制御装置、制御方法、および、制御プログラム
JP2001235438A (ja) 像観察方法および走査電子顕微鏡
JP2002286663A (ja) 試料分析および試料観察装置
US6618121B2 (en) Stage apparatus capable of suppressing rolling of a vibration isolation table
JPH02234336A (ja) 走査電子顕微鏡
JPH08321274A (ja) 電子顕微鏡のアクティブ除振装置
JP2016139466A (ja) 画像振動低減装置
JP4428174B2 (ja) 走査電子顕微装置
JP2590374B2 (ja) 走査型電子顕微鏡付き材料試験機
JPH10260145A (ja) エネルギー分散型x線マイクロアナライザ
JPH103876A (ja) 走査型電子顕微鏡の走査角度自動調整方法および走査角度 自動調整可能な走査型電子顕微鏡
JP3418133B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP2002184337A (ja) 走査電子顕微鏡
JPH10334845A (ja) 電子ビーム装置及びその調整方法
JP6782803B2 (ja) 画像振動低減装置および方法
JP4229610B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置、及びその制御方法
JP2586229B2 (ja) 走査型電子顕微鏡付き材料試験機
JPH02291649A (ja) 荷電粒子線装置
JP2002222840A (ja) 電子ビームテスタ
JP2008218364A (ja) 電子顕微鏡
JP4007561B2 (ja) 試料ステージ移動装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041018

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061004

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061212

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070807

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070816

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100824

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4002128

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100824

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110824

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120824

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120824

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130824

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130824

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees