JP3943927B2 - 光走査型観測装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、内視鏡など細孔部内検査装置に用いられる光走査型観測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光走査プローブがその基端部に設けられた光コネクタを介して光源、光カップラ等を具備する光学ユニットに着脱自在に連結している内視鏡細孔部内検査装置は、従来から良く知られている。例えば、特開平2001 −149304号公報には、本願の図13に示すように、プローブ1g、画像表示装置3、光学ユニット25および制御部26を備えた光走査プローブ装置が示されている。光学ユニット25は、光源11であるダイオードレーザと、光検出手段であるフォトマルチプライア12と、検出光分離手段としての4端子カップラ7を有している。この4端子カップラ7は、上記フォトマルチプライア12と光源11及び光コネクタ23に光学的に接続している。また、上記プローブ1gは、その基端に設けられた光コネクタ23を介して、光学ユニット25に着脱可能に接続している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来例においては、照明光および検出光が同じ光コネクタ23を通っていた。また、4端子カップラ7は、光学ユニット25側に設けられていた。このように構成された装置を内視鏡として用いる場合、洗浄や消毒を行うためプローブ1gを観測本体から切り離す必要がある。そこで、プローブ1gと光学ユニット25の間に光コネクタ23を設け、ここで、プローブ1gを取り外せるようにしている。しかしながら、このような構成においては、光コネクタ23の接続部分で光源12からの光が散乱し、この散乱光の一部がフォトマルチプライア12に入射してノイズとなり、SN比を低下させるという問題があった。さらに光コネクタ23の着脱を繰り返し行うことにより、接続部分の汚染や傷の付着などが生じ、この汚染や傷により散乱光が増加し、SN比を一層低下させるという問題があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記問題点に鑑み、プローブの先端部分が小さくでき、また、ノイズを低減する光走査型観測装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明による光走査型観測装置は、先端部と基端部を有するプローブと、観測装置本体と、画像表示装置と、サンプルに照射するための照明光を発生する光源と、前記照明光に照射されサンプルから戻ってくる検出光を検出する光検出手段とを備えた光走査型観測装置であって、前記プローブは、光伝送路と、前記先端部に配置される対物光学系と、前記検出光の少なくとも一部を前記照明光から分離する検出光分離手段と、前記照明光をサンプルに対して走査するスキャナとを具備し、前記検出光分離手段は前記プローブ内に配置されており、前記プローブは前記プローブ基端部で前記観測装置本体に対して着脱自在であることを特徴とする。
【0006】
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光分離手段は前記プローブ基端部近傍に配置されていることを特徴とする。
【0007】
また、本発明による光走査型観測装置は、前記検出光分離手段は、一部の光を透過し、一部の光を反射する部分透過反射材であることを特徴とする。
【0008】
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光伝送路は光ファイバで、前記光ファイバは前記照明光の波長においてシングルモードで動作することを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光伝送路は光ファイバで、前記光ファイバは前記照明光の波長においてマルチモードで動作することを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記検出光分離手段と前記光検出器の間および前記光分離手段と前記光源との間にそれぞれ別の光ファイバが設けられていることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記観測装置本体が、前記光源と前記光検出手段とを少なくとも具備していることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記検出光分離手段と前記光検出器の間に光ファイバを設けたことを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記観測装置本体は、少なくとも前記光検出手段を具備し、前記光源は前記光分離手段に光学的に接続されるよう前記プローブ内の基端部近傍に配置されていることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光分離手段と前記光源との間に光ファイバを設けたことを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記観測装置本体が、少なくとも前記光源を具備し、前記光検出手段が前記プローブ内の基端部近傍で前記光分離手段に光学的に接続されるよう配置されていることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光伝送路に偏光特性変換手段を設け、かつ前記検出光分離手段は、偏光ビームスプリッタであることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記偏光特性変換手段が、前記光伝送路に応力をかけたものであることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記対物光学系中に光伝送路にλ/4板を設けられ、かつ前記光伝送路は偏波面保持光ファイバ、前記検出光分離手段が偏光ビームスプリッタであることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光分離手段はファイバ光カップラで、前記光伝送手段は光ファイバであることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、ファイバ光カップラの少なくとも1つの端面に無反射終端を設けたことを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光伝送路に用いられる前記光ファイバの開口数または前記対物光学系の光伝送路側の開口数のうちどちらか小さいほうの開口数を NA' 、照明光波長をλ、前記ファイバのコア直径をφとすると、
φ<1.2λ/ NA'
であることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記対物光学系は、準共焦点光学系であることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光伝送路に用いられる前記光ファイバの開口数または前記対物光学系の光伝送路側の開口数のうちどちらか小さい方の開口数を NA ’、照明光波長をλ、前記ファイバのコア直径をφとすると、
2λ/ NA' <φ<3.6λ/ NA'
であることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、先端部と基端部を有するプローブと、観測装置本体と、画像表示装置と、低コヒーレンス光を発生する光源と、前記光源で発生した光を参照光とサンプルを照明する照明光に分離する光分離手段と、前記サンプルから戻ってくる検出光を前記参照光と合成して干渉光を発生させる光合成手段と、前記干渉光を検出する光検出手段と、前記参照光、照明光及び検出光のうち、少なくとも1つの光の位相を変調させる位相変化手段とを備えた光走査型観測装置であって、前記プローブは、前記照明光と検出光を伝送するサンプル光伝送路と、前記参照光を伝送する参照光伝送路と、前 記先端部に配置される対物光学系と、前記照明光をサンプルに対して走査するスキャナとを具備し、前記光分離手段及び前記光合成手段は前記プローブ内に配置されており、前記プローブは前記プローブ基端部で前記観測装置本体に対して着脱自在であることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記光分離手段および前記光合成手段はシングルモードファイバ光カップラであることを特徴とする。
また、本発明による光走査型観測装置は、前記参照光が通過する参照光路中に光路長を調整する機構を設けたことを特徴とする。
更に、本発明による光走査型観測装置は、前記参照光が通過する参照光路の終端部に反射手段を設けたことを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図示した実施例を参照して説明する。
実施例1
本発明の第1の実施形態を図1および2を用いて説明する。図1に示されるように、本実施例に係る光走査型観測装置は、プローブ1、観測装置本体2および画像表示装置3を備えている。プローブ1と観測装置本体2は、照明光コネクタ部14、検出光コネクタ部15およびスキャナ信号接続部16とを介して着脱自在に接続される。プローブ1はその先端部を体腔内に挿入して体腔内の観察を行うためのものであり、柔軟性を有している。また、内視鏡のチャンネルに挿通させて使用することもできる。
【0010】
上記観測装置本体2は、プロセッサ10、光源11、光検出手段であるフォトマルチプライア(以下、PMTという)12およびスキャナ制御回路13を具備している。スキャナ制御回路13はプロセッサ10およびスキャナ信号接続部16に信号線で電気的に接続している。光源11である半導体レーザ(以下LDという)およびPMT12は、それぞれ光伝達手段であるシングルモード光ファイバ(以下、SMFという)6a1、6a2を介して照明光コネクタ部14、検出光コネクタ部15に接続している。また、光源11とPMT12は、それぞれ信号線を介してプロセッサ10に接続している。なお、光検出手段としてPMTのほかフォトダイオード(以下PDという)、アバランシェ・フォトダイオード(以下APDという)などを用いることができる。
【0011】
図1に示されるように、プローブ1の先端部1aにはスキャナ5が設けられている。また、観測窓としてカバーガラス17が設けられており、先端部1a全体が密封構造になっている。他方、プローブ1の基端部1bには、検出光分離手段が設けられている。この検出光分離手段は、4つの端子a1、a2、b1およびb2を有するシングルモード光ファイバカップラ(以下、SMFカップラという)7aである。このSMFカップラ7aの端子a1は、SMFを介してプローブ1側の照明光コネクタ部14に接続している。また、他の端子a2は無反射終端8aにSMFを介して接続している。この無反射終端8aには、照明光を吸収する物質が用いられる。この物質はSMFのコアの屈折率と同じ屈折率を持つもので、例えばジェルなどがある。
【0012】
前記カップラ7aの端子b1には、SMFを介してプローブ1側の検出光コネクタ部15に接続している。また、他の端子b2はSMF6aと接続している。このSMF6aはプローブ1の先端部1aから基端部1bの間に設けられた光伝送路であり、先端部1aに設けられた対物光学系4まで延びている。
【0013】
上記対物光学系4とSMF6aとは一体で動かすことができる。この構成では、SMF6aの端面と対物光学系4の相対位置が変化しないので、サンプル上に集光する光(スポット)の持つ収差はどの位置でも少ない。よって、少ないレンズ枚数(本実施例では1枚)で高い開口数の光学系が実現できるというメリットがある。先端部1aに設けられたスキャナ5はスキャナ制御線9、スキャナ信号接続部16を介して観測装置本体2内に設けられたスキャナ制御回路13と接続している。
【0014】
光源11はLDであり、波長680nmのレーザ光を発生する。このレーザ光はSMF6a1を経て照明光コネクタ部14を通り、さらにプローブ1内のSMF、SMFカップラ7a、SMF6aの順路を経て対物光学系4に達し、サンプルに集光する。このサンプル面は、スキャナ5により走査される。このスキャナ5としては、特開平2001−149304号公報に示されるスキャナ(同公報第3実施形態、特に[0050]から[0054]の記載参照)と同等なものを用いることができる。
【0015】
図1において、サンプルからの反射光は、検出光として、カバーガラス17、対物光学系4を経てSMF6aに入る。SMF6aに入射した検出光は、SMFカップラ7a、端子b1、SMFを経由して検出光コネクタ部15に到達する。そして、SMF6a2を経てPMT12に達し、ここで電気信号に変換される。この変換された電気信号は、プロセッサ10で電気的に処理され、画像表示装置3に送られる。これにより、サンプルの画像及び所望の必要な情報が画像表示装置3に表示され、観察可能になる。更に、プローブ1に深さ方向のスキャニング機構を持たせると、サンプルを3次元的に表示することもできる。
【0016】
図1に示す対物光学系4とSMF6aの組み合わせで、共焦点光学系を構成することができる。この場合、SMF6aのコアがピンホールの役割を果たす。光学系となるための条件を次に示す。
SMF6aの開口数または対物光学系4のSMF6a側の開口数のうち、どちらか小さい方の開口数をNA’、照明光の波長をλ、前記光ファイバのコア直径をφとすると、共焦点光学系にするための条件は、
φ≦1.2λ/NA’ (1)
である。
本実施例では、SMF6aの開口数が0.11、対物光学系4のSMF6a側の開口数が0.15であるので、NA’=0.11となる。また、λ=680nm、φ=4.5μmである。よって、本実施例は、共焦点光学系にするための条件(1)を満足している。また、対物光学系4のサンプル側の開口数NAを0.6あるいは0.7とさらに大きくすることにより高分解能化を図ることができる。
【0017】
図2にスキャナ5の変形例を示す。図2において、矢印で示されたサンプルに対向して対物レンズ4aが配置され、その近傍にスキャニングミラー5aが配置されている。スキャニングミラー5aは、スキャナ制御回路13からの制御信号によって回動する。光源11からSMF6aを経て送られる照明光は固定ミラー5b、回動するスキャニングミラー5aで反射し対物レンズ4aにより集光し、サンプル上を走査する。この例では、サンプルからの反射光は、図2に示されるように検出光として、対物レンズ4a、スキャニングミラー5a、固定ミラー5bを経て、SMF6aに達する。このSMF6aの対物光学系側端面5cは、端面反射光の戻りを防止するために、斜めにカットされている。上記のようなスキャニングミラータイプのスキャナは、早い走査が可能である。そのため、サンプルの画像のフレームレート、すなわち、画像1コマを更新する早さを大きくすることができるメリットがある。このスキャニングミラータイプのスキャナは、他の実施例にも適用できる。
【0018】
上述のように実施例1では、検出光分離手段を観測装置本体内に設けず、プローブの基端部側に設けた。この構成により、プローブと観測装置本体とを結ぶコネクタ部(図1における照明光コネクタ部14)で光源からの光が散乱しても、この散乱光、すなわち、不要光は光源に戻るだけであるから、不要光が光検出手段に入射することがない。したがって、ノイズを低減できる。
【0019】
また、実施例1の構成によれば、検出光分離手段を基端部付近に設けたので、先端部の直径を小さくすることができる。さらに、対物光学系はレンズ1枚のみで構成できるので、軽量化および小型化が可能になり、これにより節減可能となるスペースを有効に活用することができる。例えば、スキャナの振り角を大きくすることにより、スキャン幅を大きくとることができる。また、先端部のうち、湾曲しない硬質部を短くして操作性を向上させることができる。
【0020】
また、実施例1では、検出光分離手段としてSMFカップラを用い、この一端を無反射終端にしている。この構成により、照明光の一部の不要光はこの無反射終端において吸収されるので、この一端から射出して基端部の内部で散乱された散乱光が光検出手段に戻らない。このように、不要光の発生を抑えることができるので、ノイズが低減する。
【0021】
また、実施例1の構成では光伝送路にSMFを用いているので、SMFのコアが共焦点ピンホールの役割を果たし、光学系が共焦点光学系になる。よって、焦点が合っていない部分からの信号は、SMF先端部で光束径が大きくなって、強度が低下するので、焦点が合った個所の情報のみを取得できる。
【0022】
実施例2
本発明の第2の実施形態は、図3に示される。なお、本実施形態において、実施例1と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。実施例1からの主な変更点は、光源、光伝送路、検出光分離手段および対物光学系である。
【0023】
実施例2では、光源11として波長405nmのレーザ光を発生するLDを用いている。また、光伝送路としてマルチモード光ファイバ(以下、MMFという)6bを用いている。また、検出光分離手段としてマルチモード光ファイバカップラ(以下、MMFカップラという)7bを用いる。よって、対物光学系4とMMF7bの組合せで準共焦点光学系を構成している。MMFカップラ7bと光源11であるLDとの間、及びMMFカップラ7bと光検出手段であるPMT12の間は、それぞれMMF6b3と MMF6b4で接続している。MMF6b、6b3、6b4は低モードのMMFであり、カットオフ波長1250nm以上でSMFとして機能する光ファイバであるが、本実施例では405nmの波長のレーザ光を通すことによりMMFとして使用する。
【0024】
低モード数のMMFを使用するとサンプルで反射・散乱された光のうち、MMFに入射する検出光の割合が増加する。このため、明るさを向上させることができる。モード数を高くしすぎると、分解能が低下するので、低モードのMMFを使用するのがよい。光源11のLDから発生する光の波長は、光ファイバのカットオフ波長の1/5以上とすることが望ましい。
【0025】
この実施例2では、対物光学系4は準共焦点光学系になっている。ここで、準共焦点光学系とは、共焦点光学系と非共焦点光学系の中間の光学特性となる光学系のことである。この準共焦点光学系においては、MMF6bのコアが共焦点ピンホールと類似の役割を果たす。準共焦点光学系となるための条件を示す。
MMF6bの開口数または対物光学系4のMMF6b側の開口数のうち、どちらか小さい方の開口数をNA’、照明光の波長をλ、前記光ファイバのコア直径をφとすると、準共焦点光学系にするための条件は、
1.2λ/NA’<φ≦3.6λ/NA’ (2)
である。
本実施例では、MMF6bの開口数が0.13、対物光学系4のSMF6b側の開口数が0.15であるので、NA’=0.13となる。また、λ=405nm、φ=9μmである。よって、本実施例は、準共焦点光学系にするための上記条件、(2)を満足している。また、対物光学系4のサンプル側の開口数は、0.65程度である。
【0026】
図3に示す実施例2では、観測装置本体2に設けられた光源11のLDは、波長405nmのレーザ光を発生する。そして、この光はMMF6b3を経て照明光コネクタ部14に達する。さらに、プローブ1内のMMF、MMFカップラ7b、MMF6bの順路を経て対物光学系4に達し、サンプルに集光する。このサンプル面は、スキャナ5により走査される。この光のスキャン方法およびスキャナ5の機構は実施例1の場合と同じである。
【0027】
サンプルで反射された反射光は、検出光としてMMF6bに入り、MMFカップラ7b、MMFを経て検出光コネクタ部15到達する。そして、観測装置本体2内のMMF6b4の経路に沿って、PMT12に達する。以下実施例1の場合と同様に処理される。
【0028】
上記実施例2の構成によれば、前記実施例1の構成による効果に加えて、低モード数のMMFおよびMMF光カップラを用いたことにより、明るさの向上が可能となる。さらに準共焦点系光学系を用いるため検出される光量が増加するので、高いSN比を得ることができる。
【0029】
実施例3
本発明の第3の実施形態は、図4および図5に示される。本実施形態において、前記実施例2と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。実施例2からの主な変更点は、検出光分離手段として部分透過反射部材(以下ハーフミラーという)を用いたことと不要光除去手段の構成である。
【0030】
図4に示されるように本実施例においては、基端部1bに設けられた検出光分離手段の主要構成は、ハーフミラー7cである。MMF6b1の出射端部とハーフミラー7cとを結ぶ線の延長線上には、光吸収材料の表面に反射防止コート処理を施した光吸収板8bが、光軸に対して傾斜して設けられている。さらに、MMF6b1の照明側端部とハーフミラー7cとの間に正レンズ6dが、また、MMF6b2の照明側端部とハーフミラー7cとの間に正レンズ6d1が配置されている。そして、MMF6b2と正レンズ6d1との間には絞り、または遮光手段6fが配置されている。対物光学系4のサンプル側開口数は、前記実施例1の場合と同程度である。また上記不要光吸収板8bは、表面を黒処理したもの、あるいは、照明光の波長帯を吸収するガラスでもよい。
【0031】
図4に示されるように実施例3においては、観測装置本体2に設けられた光源11からの照明光は、MMF6b3を経て照明光コネクタ部14に達する。そして、さらに、基端部1bに設けられたMMF6b1、正レンズ6d、ハーフミラー7c、MMF6bの順路を経て対物光学系4に達し、サンプルに集光する。このサンプルからの反射光は、検出光として、対物光学系4、MMF6b、ハーフミラー7c、正レンズ6d1、MMF6b2、検出部コネクタ15、観測装置本体2内のMMF6b4の順に伝送され、PMT12に達する。以下、実施例1で示したと同様に処理される。
【0032】
図5は、実施例3における検出光分離手段の詳細な構成を示す。ここでは、SN比を低下させる原因の一つである不要光を除去する点について説明する。MMF6b1から出射した照明光は、ハーフミラー7cで一部が反射されてMMF6bに入射する。MMF6bの基端側端面8cでは、入射光の一部が反射されて不要光が生じる。そのため、基端側端面8cには反射防止コートが施されている。これにより、不要光の発生を抑えている。更に、基端側端面8cを光軸に対して斜めにカットしている。このようにして、基端側端面8cで発生した不要光がハーフミラー7cを通過した後、MMF6b2に入射しないようにしている。
【0033】
前述のように、MMF6b1からの照明光の一部はハーフミラー7cで反射し、MMF6b2の基端側端面8cに集光する。一方、照明光の一部は、ハーフミラー7cをそのまま通過してしまう。この通過した光は、基端部1bの内部で散乱され不要光となる。しかし、MMF6b2の入射角度特性を考えると、直接MMF6b2に入射できる不要光は非常に少ない。また、散乱場所からハーフミラー7cを介してMMF6b2に到るまでの距離が長いので、この間で、光が十分に拡散される。よって、MMF6b2に入射する光量は非常に少ない。この構成だけでもSN比の悪化を防ぐことができる。なお、不要光の発生を更に抑えるには、図示のように光吸収板8bを配置することが好ましい。このようにすると、不要光は光吸収板8bの表面に入射し吸収されるので、ほとんどMMF6b2に戻らない。また、光吸収板8bは、ハーフミラー7c側の面の垂線がMMF6bとMMF6b1の間に位置するように、光軸に対して傾いて配置されている。したがって、この面で吸収できなかった光が反射しても、この反射光、すなわち、不要光が直接MMF6b1に入射することはない。また、不要光がハーフミラー7cで反射されたとしても、MMF6b2に入射することもない。また、不要光の除去効果を更に高めるためには、MMF6b2とハーフミラー7cの間に、絞りあるいは遮光手段6fを設けることが好ましい。
【0034】
上述のように実施例3においても、検出光分離手段を観測装置本体内に設けず、基端部側に設けた。この構成により、プローブと観測装置本体とを結ぶコネクタ部で光源からの光が散乱しても、この散乱光である不要光は光源に戻るだけであるから、不要光が光検出手段に入射することがない。したがって、ノイズを低減できる。また、MMFカップラを用いた前記実施例2では、光結合部で光の回り込みが僅かに生じる。そのため、ごく僅かであるものの照明光が光検出器に達し、SN比を低下させる。これに対して、実施例3の構成によれば、光の回り込みが構造上発生しないので、MMFカップラを用いた場合と比べてノイズの低減効果を大にすることができる。
【0035】
実施例4
本発明の第4の実施形態は、図6に示される。本実施形態において、前記の実施例3と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。前記実施例3からの主な変更点は、光源を観測装置本体側ではなくプローブ内の基端部近傍に設け、プローブと観測装置本体の間を連結する照明コネクタ部をなくした点である。
【0036】
実施例4では、光源11は基端部1b内に配置され、光源制御線14cと光源側コネクタ部14bを介して観測装置本体2内にあるプロセッサ10と接続している。光源11とハーフミラー7cの間には正レンズ6dが設けられるが、変形例として光源11と正レンズ6dの間に光ファイバを設けてもよい。
【0037】
実施例4の構成によれば、光源11を基端部1b近傍に設けることにより照明光コネクタ部を設ける必要がない。よって、照明光コネクタ部における光量の損失がない。また、光源11と正レンズ6dの間に光ファイバを設ける構成では、光源11が正レンズ6dに対して直接配置されているときより、MMF6bの基端側端面に集光する光のスポット形状が整う。これは、光ファイバーのコアがピンホールの役割を果たし、不要な光を除去するからである。よって、照明光のカップリング効果が高くなる。そしてMMF6bの基端側端面で散乱する光量が減少する。したがって、検出側に入る照明光量すなわちノイズが低減する。
【0038】
実施例5
本発明の第5の実施形態は、図7に示される。本実施形態において、第3の実施形態と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。実施例3からの主な変更点は、光検出手段PMT12を観測装置本体2内に設ける代わりに、プローブ1の基端部1b近傍に配置し、プローブ1と観測装置本体2の間を連結する検出光コネクタ部15をなくした点である。
【0039】
図7において、光検出装置PMT12は基端部1bに配置され、PMT信号線12cとPMT側コネクタ部12bを介して、観測装置本体2内にあるプロセッサ10と接続している。また、PMT12の前に絞り6eを設けている。絞り6eの位置は、検出光が正レンズ6d1で集光される位置である。よって、検出光以外の光である不要光は、絞り6eで遮光されるので、PMT12に到達しない。なお、絞り6eの代わりに、光ファイバを配置することもできる。
【0040】
本発明の実施例5の構成によれば、光検出手段を基端部に配置したことにより検出光コネクタ部を設けなくてよいので、ハーフミラー7cからの検出光が直接、検出器であるPMT12に入るため、検出光コネクタ部における光量の損失がない。しかもハーフミラー7cからの検出光が直接、検出器であるPMT12に入るため、明るさが向上する。また、正レンズ6d1とPM12の間に光ファイバを配置した変形例では、光ファイバの開口数NAよりも入射角が大きい光はファイバ中を伝播しないので、不要光を除去する効果を大きくすることができ、検出側に入るノイズが低減化を図ることができる。
【0041】
本発明の第6の実施形態は、図8に示される。本実施形態において、前記実施例3と同一の構成部分については、前記の図4と同一の符号を付してその説明を省略する。第3実施例からの主な変更点は、光源11及び光検出手段であるPMT12をプローブ1内の基端部1bの近傍に配置し、プローブ1と観測装置本体2の間を連結する照明光コネクタ部および検出光コネクタ部をなくした点である。
【0042】
図8に示すように、光源11とPMT12は、基端部1bに配置される。光源11は光源制御線14cと光源側コネクタ部14bを介して、また、PMT12は、PMT信号線12cとPMT側コネクタ部12bを介して、観測装置本体2内にあるプロセッサ10と接続している。また、PMT12とハーフミラー7cの間に正レンズ6d、絞り6e、遮光板6f、光ファイバ等を設ける点は前記実施例5の場合と同様である。
【0043】
この実施例6の構成によれば、基端部1bと観測装置本体2の間を連結する照明光コネクタ部および検出光コネクタ部を設けなくてよい。よって、ハーフミラー7cで分離された検出光は、直接、PMT12に入射できるので光の損失が少なく、明るさが向上する。また、PMT12と正レンズ6dとの間に絞り、遮光板あるいは光ファイバを設けることにより、不要光を除去する効果を増大でき、ノイズを一層低減できる。
【0044】
実施例7
本発明の第7の実施形態は、図9に示される。本実施形態において、前記実施例3と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。第3実施例からの主な変更点は、光源11の光として直線偏光を用い、プローブ1内に偏光特性変更手段として光ファイバのループ18を設け検出光分離手段として偏光ビ−ムスプリッタ−(以下PBSという)7dを用いたことである。
【0045】
図9に示すように、PBS7dが検出光分離手段と不要光除去手段として、基端部1bに配置される。観測装置本体2内の光源11から、偏光方向が紙面と平行である直線偏光が射出される。この直線偏光は、SMF6a1を経てPBS7dに達する。PBS7dは偏光方向が紙面と平行な直線偏光を透過し、偏光方向が紙面と垂直な直線偏光を反射する。よって、光源11からの直線偏光はPBS7dを通過しSMF6aに入射する。そして、SMF6aに設けられた偏光特性変換手段であるループ部18を通過する。このループ部18には応力がかかっているので、この部分で偏光方向が変化する。偏光方向を変えられた光はSMF6a、対物光学系4を経てサンプルに照射される。サンプルで反射された光、すなわち検出光は対物光学系4を経てSMF6aに入射する。そしてループ部18で偏光方向が変えられた後、PBS7dに入る。この検出光の偏光方向は、ループ部18を通過する前の照明光の偏光方向と直交している。これは、このようになるように、ループ部18に応力が加わっているからである。よって、このPBS7dにおいて検出光は反射し、SMF6a2を介して観測装置本体2内に設けられたPMT12に入り電気信号に変換される。
【0046】
この実施例7の構成によれば、SMF6aのプローブ基端側端面で反射する光、すなわち、不要光の偏光方向はSMF6aに入射する照明光の偏光方向と同じなので、PMT12側に不要光が反射しない。したがって、照明光が検出光側に回り込まない。このように、ループ部18とPBS7dを用いることにより不要光がPMT12に到達しないので、SN比の低下を防ぐことができる。更に、照明光のほとんどがPBS7dを通過し、検出光のほとんどがPBS7dで反射される。よって、ハーフミラーを使用した場合と比べると、光源からの光の利用効率を高めることができる。
【0047】
実施例8
本発明の第8の実施形態は、図10に示される。本実施形態において、前記実施例7と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。実施例7からの主な変更点は、光伝送路に偏波面保存光ファイバ(以下PMFという)6cを用い、このPMFの前方にはλ/4板19を配置したことである。
【0048】
図10において、プローブ1内には光伝送路としてPMF(Polarization Maintaining Fiber)6cが用いられている。また、PMF6cの端部と対物光学系4との間にλ/4板19が配置されている。また、基端部1bにはPBS7dが配置されている。光源11から出射した直線偏光の照明光はPBS7dを通過し、PMF6cを出射した後、λ/4板19で偏光方向が変えられる。通常、λ/4板19を通過した光は円偏光になる。この円偏光になった照明光は、対物光学系4を経てサンプルに照射される。サンプルで反射された光、すなわち検出光は、対物光学系4を経てλ/4板19で偏光方向が変えられて直線偏光になる。この検出光の偏光方向は、λ/4板19を通過する前の照明光の偏光方向と直交している。よって、PBS7dにおいては、検出光は反射し、SMF6a2を経てPMT12に入り電気信号に変換される。
【0049】
この実施例8の構成よれば、実施例7の場合と同様に、不要光がPMT12に到達しないので、SN比の低下を防ぐことができる。また、ハーフミラーを使用した場合と比べると、光源からの光の利用効率を高めることができる。
【0050】
本発明の第9の実施形態は、図11および12に示される。本実施例9において、実施例1と同一の構成部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。実施例1からの主な変更点は、基端部1b内に、位相変調手段である電気光学素子(以下EDという)20と光路長調整手段21、干渉光コネクタ部15aを設け、観測装置本体に低コヒーレンス光源11、バンドパスフイルタ(以下BPFという)22、光検出手段としてフォトダイオード(以下PDという)12aを設けたことである。
【0051】
図11に示すように、実施例9では、PD12aが設けられている。また、BPF22はPD12aとプロセッサ10に電気的に接続しており、PD12aは干渉光コネクタ部15aと接続している。光源11は、波長1310nm、コヒーレンス長20μmの低コヒーレンス光を発する。この光源11は、照明光コネクタ部14にSMF6a1を介して接続している。プローブ1内には、光源11からの低コヒーレンス光を、参照光と照明光に分離する光分離手段であるSMFカップラ7aが設けられている。なお、このSMFカップラ7aは、サンプルからの反射光(検出光)を、参照光と合成して干渉させる光合成手段としても用いられる。上記SMFカップラ7aの端子b2にはSMF6hが接続され、サンプル光伝送路が形成されている。SMF6hにはEO20が設けられ、SMF6hは上記EO20を介して先端部1aにある対物光学系4まで延びている。したがって、照明光と検出光はSMF6hを通過する。なお、SMFカップラ7aから対物光学系4のピント位置までの往復経路を、信号光経路とする。
【0052】
また、上記参照光を伝送する参照光伝送路は、SMF6g1、光路長調整手段21及びSMF6g2を備えている。光路長調整手段21はSMF6g1とSMF6g2の間に配置され、1対のコリメータレンズ21aと21bを備える。光路長調整手段21は、対物光学系4のピント位置と干渉位置を一致させるために設けられている。上記光路長調整手段21は、SMF6g1から出た光をコリメータレンズ21aでほぼ平行にし、対向させて配置した他のコリメータレンズ21bでSMF6g2に集光するものである。光路長の調整は、一対のコリメータレンズ21aと21bとの間の距離を変えることにより行う。この時、SMF6g1とコリメータレンズ21aとの間隔、SMF6g2とコリメータレンズ21bの間隔は、それぞれ変化しない。また、SMFカップラ7aと低コヒーレンス光源11との間はSMF6a2で接続され、SMFカップラ7aとPD12aとの間はSMF6a2で接続されている。なお、SMFカップラ7aからSMF6g2の端面8dまでの往復経路を、参照光経路とする。
【0053】
図11において、光源11からの低コヒーレンス光(波長1310nm、コヒーレンス長20μm)は、照明光コネクタ部14を経てSMFカップラ7aに送られ、そこで照明光と参照光に分かれる。照明光は、SMFカップラ7aからEO20、SMF6h及び対物光学系4を経てサンプルに到達する。サンプルで反射した光は、検出光として、対物光学系4、SMF6h及びEO20を経てSMFカップラ7aに戻る。参照光は、SMFカップラ7aから光路長調整手段21を経てSMF6g2に入る。SMF6g2の端面8dには、図12に示すように反射手段が設けられている。よって、参照光はこの端面8dで反射し、SMF6g2を経て再び光路長調整手段21に入り、SMFカップラ7aに戻る。このSMFカップラ7aにおいて、上記検出光と参照光は共に端子b1に入射する。これにより、検出光と参照光が合成され干渉を起こす。この干渉光は、SMF6a2でPD12aに送られ、PD12aで電気信号に変換される。この構成においては、信号光経路と参照光経路の光路長差が、コヒーレンス長以下で一致した場合のみ干渉が生じる。この場合、PD12aから出力した電気信号をBPF22を通過させると、交流成分、すなわち干渉信号が得られる。他方、光路長差がコヒーレンス長以下で一致しない場合は、PD12aから出力された電気信号は直流成分のみになるから、BPFでカットされる。なお、上記光路長調整は、製品の出荷時に対物光学系のピント位置とコヒーレンス長を予め調整しておくとよい。また、変形例としては、プローブに調整手段を設けておき、サンプル観察時に干渉する位置を手動または自動で調整できるようにしておくこともできる。
【0054】
図12は、実施例9における参照光伝送路6hの先端部の構成を示す。この参照光伝送路6hの終端部端面8dは反射面になっており、参照光が折り返される。また、この変形例としてミラーを設けて参照側のSMF端面から光を反射させてもよい。
【0055】
本実施例9によれば、照明光(検出光)と参照光との合成干渉作用を利用することにより、光分割手段と光合成手段との間の光路長がコヒーレンス長程度以下で一致した場合のみ干渉信号が得られ、光路長が一致しない信号はカットされるから、観測時におけるノイズを低減させることができる。
【0056】
以上説明したように、本発明の光走査型観測装置は、特許請求の範囲に記載された発明の他に、次に示すような特徴を備えている。
【0057】
(1)前記前記プローブの基端部近傍に、前記検出光分離手段で発生する不要光が検出光側光路に回り込まないための不要光除去手段を設けたことを特徴とする請求項4の光走査型観測装置。
(2)前記検出光分離手段と前記光検出器の間に絞りを配置したことを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(3)前記不要光除去手段は、光吸収材料であることを特徴とする前記(1)の光走査型観測装置。
(4)前記光吸収材料の表面は前記不要光の入射方向に対して傾いていることを特徴とする前記(3)の光走査型観測装置。
(5)前記光吸収材料の表面に不要光反射防止処理がなされていることを特徴とする前記(3)の光走査型観測装置。
(6)前記検出光分離手段と前記光検出器の間に光ファイバを設けたことを特徴とする前記(1)の光走査型観測装置。
(7)前記検出光分離手段は、偏光ビームスプリッタであることを特徴とする前記(1)の光走査型観測装置。
(8)前記光伝送路または前記対物光学系の少なくとも一方に偏光特性変換手段を設けたことを特徴とする前記(7)の光走査型観測装置。
(9)前記偏光特性変換手段は、前記光伝送路に応力をかけたものであることを特徴とする前記(8)の光走査型観測装置。
(10)前記偏光特性変換手段は、前記対物光学系の中に設けられたλ/4板であることを特徴とする前記(8)の光走査型観測装置。
(11)前記光伝送路は偏波面保持光ファイバであることを特徴とする前記(10)の光走査型観測装置。
(12)前記光伝送路はシングルモード光ファイバであることを特徴とする前記(9)または(10)の光走査型観測装置。
(13)前記光伝送路はマルチモード光ファイバであることを特徴とする前記(9)または(10)の光走査型観測装置。
(14)前記光分離手段はシングルモードファイバ光カップラで、前記光伝送手段はシングルモード光ファイバであることを特徴とする請求項3の光走査型観測装置。
(15)前記シングルモードファイバ光カップラの少なくとも一つの端面に無反射終端を設けたことを特徴とする前記(14)の光走査型観測装置。
(16)前記光分離手段はマルチモードファイバ光カップラで、前記光伝送手段はマルチモード光ファイバであることを特徴とする請求項3の光走査型観測装置。
(17)前記マルチモードファイバ光カップラの少なくとも一つの端面は無反射終端であることを特徴とする前記(16)の光走査型観測装置。
(18)前記光伝送路はマルチモード光ファイバであることを特徴とする請求項4の光走査型観測装置。
(19)前記マルチモード光ファイバの基端部側の端面が斜めにカットされていることを特徴とする前記(18)の光走査型観測装置。
(20)前記マルチモード光ファイバの基端部側に反射防止コートが施されていることを特徴とする前記(18)の光走査型観測装置。
(21)前記光分離手段と前記光源との間に光ファイバを設けたことを特徴とする請求項4の光走査型観測装置。
(22)前記観測装置本体は、前記光源と前記光検出手段とを少なくとも具備していることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(23)前記観測装置本体は、少なくとも前記光検出手段を具備し,前記光源は前記光分離手段に光学的に接続されるよう前記プローブ内の基端部近傍に配置されていることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(24)前記観測装置本体は、少なくとも前記光源を具備し、前記光検出手段は前記プローブ内の基端部近傍で前記光分離手段に光学的に接続されるよう配置されていることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(25)前記光源および前記光検出手段は前記光分離手段に光学的に接続されるようにして前記プローブ内の基端部近傍に配置されていることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(26)前記プローブは、体腔内に挿入されるプローブであることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(27)前記プローブは、先端部と基端部を除いて軟性であり、内視鏡のチャンネルに挿通可能であることを特徴とする前記(26)の光走査型観測装置。
(28)前記対物光学系は、共焦点光学系であることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(29)前記光伝送路は、光ファイバで、前記光ファイバの開口数または前記対物光学系の光伝送路側の開口数のうちどちらか小さい方の開口数をNA’、照明光波長をλ、前記ファイバのコア直径をφとすると、
φ<1.2λ/NA'
であることを特徴とする前記(28)の光走査型観測装置。
(30)前記対物光学系は、準共焦点光学系であることを特徴とする請求項1の光走査型観測装置。
(31)前記光伝送路は、光ファイバで、前記光ファイバの開口数または前記対物光学系の光伝送路側の開口数のうちどちらか小さい方の開口数をNA’、照明光波長をλ、前記ファイバのコア直径をφとすると、
2λ/NA'<φ<3.6λ/NA'
であることを特徴とする前記(30)の光走査型観測装置。
(32)前記プローブと観測装置本体2は着脱自在で、前記光分離手段および前記光合成手段はシングルモードファイバ光カップラであることを特徴とする請求項2の光走査型観測装置。
(33)前記参照光が通過する参照光路中に光路長を調整する機構を設けたことを特徴とする前記(32)の光走査型観測装置。
(34)前記参照光が通過する参照光路の終端部に反射手段を設けたことを特徴とする前記(32)または前記(33)の光走査型観測装置
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図2】図1のプローブ先端部に設けられるスキャナ機構の概略図である。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図4】本発明の第3の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図5】本発明の第3の実施形態に係る光分離手段の構成図である。
【図6】本発明の第4の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図7】本発明の第5の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図8】本発明の第6の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図9】本発明の第7の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図10】本発明の第8の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である
【図11】本発明の第9の実施形態に係る光走査型観測装置の構成図である。
【図12】本発明の第9の実施形態に係る参照光伝送路先端部の構成図である
【図13】本発明の先行技術に係る光走査型観測装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1,1g プローブ
1a プローブの先端部
1b プローブの基端部
2 観測装置本体
3 画像表示装置
4 対物光学系
4a 対物レンズ
4b プリズム
5 スキャナ
5a スキャニングミラー
5b 固定ミラー
6a,6a1,6a2,6g1,6g2,6h
シングルモード光ファイバ(SMF)
6b,6b1,6b2,6b3,6b4
マルチモード光ファイバ(MMF)
6c 偏波面保存ファイバ(PMF)
6d,6d1 正レンズ
6e 絞り
6f 遮光手段
7 4端子カップラ
7a シングルモード光ファイバカップラ(SMFカップラ)
7b マルチモード光ファイバカップラ(MMFカップラ)
7c ハーフミラー
7d PBS
8a 無反射終端
8b 光吸収板
8c 基端側端面
8d 端面
9 スキャナ制御線
10 プロセッサ
11 光源
12 フォトマルチプライア(PMT)
12a フォトダイオード(PD)
12b PMT側コネクタ部
12c PMT信号線
13 スキャナ制御回路
14 照明光コネクタ部
14b 光源側コネクタ部
14c 光源制御線
15 検出光コネクタ部
16 スキャナ信号接続部
17 カバーガラス
18 ループ部
19 λ/4板
20 電気光学素子(EO)
21 光路長調整手段
21a,21b コリメータレンズ
22 バンドパスフィルタ(BPF)
23 光コネクタ
25 光学ユニット
26 制御部
a1,a2,b1,b2 端子
Claims (23)
- 先端部と基端部を有するプローブと、
観測装置本体と、
画像表示装置と、
サンプルに照射するための照明光を発生する光源と、
前記照明光に照射されサンプルから戻ってくる検出光を検出する光検出手段とを備えた光走査型観測装置であって、
前記プローブは、光伝送路と、
前記先端部に配置される対物光学系と、
前記検出光の少なくとも一部を前記照明光から分離する検出光分離手段と、
前記照明光をサンプルに対して走査するスキャナとを具備し、
前記検出光分離手段は前記プローブ内に配置されており、
前記プローブは前記プローブ基端部で前記観測装置本体に対して着脱自在であることを特徴とする光走査型観測装置。 - 前記光分離手段は前記プローブ基端部近傍に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の光走査型観測装置。
- 前記検出光分離手段は、一部の光を透過し、一部の光を反射する部分透過反射材であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光走査型観測装置。
- 前記光伝送路は光ファイバで、前記光ファイバは前記照明光の波長においてシングルモードで動作することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の光走査型観測装置。
- 前記光伝送路は光ファイバで、前記光ファイバは前記照明光の波長においてマルチモードで動作することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の光走査型観測装置。
- 前記検出光分離手段と前記光検出器の間および前記光分離手段と前記光源との間にそれぞれ別の光ファイバが設けられていることを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の光走査型観測装置。
- 前記観測装置本体は、前記光源と前記光検出手段とを少なくとも具備していることを特徴とする請求項6に記載の光走査型観測装置。
- 前記検出光分離手段と前記光検出器の間に光ファイバを設けたことを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の光走査型観測装置。
- 前記観測装置本体は、少なくとも前記光検出手段を具備し、前記光源は前記光分離手段に光学的に接続されるよう前記プローブ内の基端部近傍に配置されていることを特徴とする請求項8に記載の光走査型観測装置。
- 前記光分離手段と前記光源との間に光ファイバを設けたことを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の光走査型観測装置。
- 前記観測装置本体は、少なくとも前記光源を具備し、前記光検出手段は前記プローブ内の基端部近傍で前記光分離手段に光学的に接続されるよう配置されていることを特徴とする請求項10に記載の光走査型観測装置。
- 前記光伝送路に偏光特性変換手段を設け、かつ前記検出光分離手段は、偏光ビームスプリッタであることを特徴とする請求項3に記載の光走査型観測装置。
- 前記偏光特性変換手段は、前記光伝送路に応力をかけたものであることを特徴とする請求項12に記載の光走査型観測装置。
- 前記対物光学系中に光伝送路にλ/4板を設けられ、かつ前記光伝送路は偏波面保持光ファイバ、前記検出光分離手段は偏光ビームスプリッタであることを特徴とする請求項3に記載の光走査型観測装置。
- 前記光分離手段はファイバ光カップラで、前記光伝送手段は光ファイバであることを特徴とする請求項2に記載の光走査型観測装置。
- ファイバ光カップラの少なくとも1つの端面に無反射終端を設けたことを特徴とする請求項15に記載の光走査型観測装置。
- 前記光伝送路に用いられる前記光ファイバの開口数または前記対物光学系の光伝送路側の開口数のうちどちらか小さいほうの開口数を NA' 、照明光波長をλ、前記ファイバのコア直径をφとすると、
φ<1.2λ/ NA'
であることを特徴とする請求項4または5に記載の光走査型観測装置。 - 前記対物光学系は、準共焦点光学系であることを特徴とする請求項4または5に記載の光走査型観測装置。
- 前記光伝送路に用いられる前記光ファイバの開口数または前記対物光学系の光伝送路側の開口数のうちどちらか小さい方の開口数を NA ’、照明光波長をλ、前記ファイバのコア直径をφとすると、
2λ/ NA' <φ<3.6λ/ NA'
であることを特徴とする請求項18に記載の光走査型観測装置。 - 先端部と基端部を有するプローブと、
観測装置本体と、
画像表示装置と、
低コヒーレンス光を発生する光源と、
前記光源で発生した光を参照光とサンプルを照明する照明光に分離する光分離手段と、
前記サンプルから戻ってくる検出光を前記参照光と合成して干渉光を発生させる光合成手段と、
前記干渉光を検出する光検出手段と、
前記参照光、照明光及び検出光のうち、少なくとも1つの光の位相を変調させる位相変化手段とを備えた光走査型観測装置であって、
前記プローブは、前記照明光と検出光を伝送するサンプル光伝送路と、前記参照光を伝送する参照光伝送路と、
前記先端部に配置される対物光学系と、
前記照明光をサンプルに対して走査するスキャナとを具備し、
前記光分離手段及び前記光合成手段は前記プローブ内に配置されており、
前記プローブは前記プローブ基端部で前記観測装置本体に対して着脱自在であることを特徴とする光走査型観測装置。 - 前記光分離手段および前記光合成手段はシングルモードファイバ光カップラであることを特徴とする請求項20に記載の光走査型観測装置。
- 前記参照光が通過する参照光路中に光路長を調整する機構を設けたことを特徴とする請求項20または21に記載の光走査型観測装置。
- 前記参照光が通過する参照光路の終端部に反射手段を設けたことを特徴とする請求項20乃至22の何れかに記載の光走査型観測装置。
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