JP2003139688A - 光イメージング装置 - Google Patents
光イメージング装置Info
- Publication number
- JP2003139688A JP2003139688A JP2001339787A JP2001339787A JP2003139688A JP 2003139688 A JP2003139688 A JP 2003139688A JP 2001339787 A JP2001339787 A JP 2001339787A JP 2001339787 A JP2001339787 A JP 2001339787A JP 2003139688 A JP2003139688 A JP 2003139688A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- light
- probe
- optical path
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
用した場合にも、確実に断層像を得ることが可能な光イ
メージング装置を実現する。 【解決手段】 光イメージング装置1は、光プローブ3
と、この光プローブ3のが着脱自在に接続される装置本
体4とから構成される。光プローブ3は、プローブ側光
コネクタ部5bが装置本体4の本体側光コネクタ部5a
に着脱自在に接続可能であり、装置本体4に対して交換
可能である。光プローブ3は、このプローブ内の信号光
路の光路長(プローブ側光コネクタ部5b〜被検体2の
目的部位の集光位置〜プローブ側光コネクタ部5b)に
対して、低コヒーレンス光の可干渉距離範囲内でほぼ一
致するように参照光路の光路長(プローブ側光コネクタ
部5b〜光ファイバ先端側端面28a〜プローブ側光コ
ネクタ部5b)が配設される。
Description
レンス光を集光し、その被検体からの戻り光の情報から
被検体の断層像を構築する光イメージング装置に関す
る。
ography )と呼ばれる光イメージング装置は、広く用い
られている。上記光イメージング装置は、光源で発生し
た低コヒーレンスの光を被検体に集光し、その際焦点位
置を走査することで、その被検体からの戻り光の情報か
ら被検体内部の断層像を構築するものである。
ば、特開平11−148897号公報に記載されている
ように、低コヒーレンス光源からの低コヒーレンス光を
被検体に集光し、この被検体からの戻り光を取り込む光
プローブ及び、この光プローブを着脱自在に接続し、取
り込んだ戻り光から被検体の断層像を構築する装置本体
を有するものが提案されている。
コヒーレンス光源で発生した低コヒーレンス光を光分岐
手段で信号光と参照光とに分岐し、分岐した信号光を被
検体に対して走査して被検体に集光する。そして、その
焦点からの被検体の反射光及び散乱光の一部は、戻り信
号光として上記光路を通り、再び光分岐手段側に戻るよ
うになっている。一方、光分岐手段で分岐した参照光
は、参照光伝達手段を経由し、再び光分岐手段側に戻さ
れる。このとき、参照光は、光路長調整手段により信号
光の光路長に対して殆ど等しくなるように光路長を調整
される。
照光と被検体側からの戻り信号光とは干渉し、光検出手
段である光検出器で検出されるようになっている。この
検出器の出力は、復調されて干渉した光の信号が抽出さ
れる。抽出された光の信号は、デジタル信号に変換され
た後、信号処理されて断層像に対応した画像データが生
成される。そして、生成された画像データは、モニタに
て被検体の断層画像として表示されるようになってい
る。
載の光イメージング装置は、2つの光路長調整手段を装
置本体側に設けて、光プローブを交換したときの光路長
変化に対応可能な構成としている。
開平11−148897号公報に記載の光イメージング
装置は、装置本体側にのみ参照光路を設け、光路長調整
手段を装置本体側にのみ設けている。このため、上記光
イメージング装置は、装置本体が大型化してしまう。更
に、この場合、上記光イメージング装置は、1つの装置
本体に対して極端に長さの異なる光プローブを交換して
使用すると、信号光路の光路長変化に応じた光路長調整
手段による参照光の光路長調整に限界があり、信号光路
と参照光路との光路長を一致させることが困難であっ
た。
であり、極端に長さの異なる光プローブを交換して使用
した場合にも、確実に断層像を得ることが可能な光イメ
ージング装置を提供することを目的とする。
コヒーレンス光源からの低コヒーレンス光を被検体に集
光し、この被検体からの戻り光を取り込む光プローブ及
び、この光プローブを着脱自在に接続し、取り込んだ戻
り光から被検体の断層像を構築する装置本体を有する光
イメージング装置において、前記低コヒーレンス光源で
発生した低コヒーレンス光を光分岐手段で信号光と参照
光とに分岐し、分岐した信号光を前記光プローブの先端
側に伝達して被検体に集光する信号光伝達手段と、前記
光分岐手段で分岐した参照光と前記被検体からの戻り信
号光とを干渉させるために、前記参照光を干渉手段へ伝
達する参照光伝達手段と、を具備し、前記参照光伝達手
段の参照光路の少なくとも一部を前記光プローブに設け
たことを特徴としている。また、本発明の請求項2は、
請求項1の光イメージング装置において、前記光プロー
ブ内の信号光路と前記光プローブ内の参照光路とが略同
一の光路長を有することを特徴としている。また、本発
明の請求項3は、請求項1の光イメージング装置におい
て、前記光プローブ内の信号光路と前記光プローブ内の
参照光路とに所定の差を有し、前記信号光伝達手段の信
号光路と前記参照光伝達手段の参照光路との光路長が略
同一の値を有することを特徴としている。この構成によ
り、極端に長さの異なる光プローブを交換して使用した
場合にも、確実に断層像を得ることが可能な光イメージ
ング装置を実現する。
施の形態を説明する。 (第1の実施の形態)図1ないし図5は本発明の第1の
実施の形態に係り、図1は本発明の第1の実施の形態の
光イメージング装置を示す構成図、図2ないし図5は図
1の光プローブの変形例を示し、図2は図1の第1の変
形例を示す光プローブの構成図、図3は図1の第2の変
形例を示す光プローブの構成図、図4は図1の第3の変
形例を示す光プローブの構成図、図5は図1の第4の変
形例を示す光プローブの構成図である。尚、本実施の形
態では、光イメージング装置は、生体内に挿入して患部
等の目的部位に対して直視で観察可能な構成のものに本
発明を適用する。
態の光イメージング装置1は、生体内に挿入可能な可撓
性を有し、後述の低コヒーレンス光源からの低コヒーレ
ンス光を被検体2の目的部位に対し集光する光プローブ
3と、この光プローブ3を着脱自在に接続し、被検体2
の目的部位からの戻り光から被検体2の断層像を構築す
る装置本体4とから主に構成される。
5bが装置本体4の本体側光コネクタ部5aに着脱自在
に接続可能であり、装置本体4に対して交換可能な構成
となっている。装置本体4は、超高輝度発光ダイオード
(スーパールミネッセントダイオード以下、SLDと略
記)等の低コヒーレンス光源11を有する。この低コヒ
ーレンス光源で発生する低コヒーレンス光は、その波長
が例えば1310nmで、その可干渉距離が例えば17
μm程度であるような短い距離範囲のみで干渉性を示す
低干渉性の特徴を備えている。つまり、この低コヒーレ
ンス光は、例えば2つに分岐された後、再び混合された
場合、分岐した点から混合した点までの2つの光路長の
差が17μm程度の短い距離範囲内にあるとき、干渉し
た光として検出され、それより光路長が大きいとき干渉
しない特性を示す。
光源11からシングルモードファイバ(以下、単に光フ
ァイバ)12の一端に入射され、他方の端面(先端面)
側に伝達される。この光ファイバ12は、途中の2×2
光カップラ部(以下、単に光カップラ部)13で光ファ
イバ14と光学的に結合されている。従って、この光カ
ップラ部13で低コヒーレンス光は、信号光と参照光と
の2つに分岐されて伝達される。
り)先端側に伝達された信号光は、平行レンズ15で平
行光にされ、ヘテロダイン干渉として音響光学変調素子
(AOD;Acousto-Optic Device ;又は音響光学変調
器(AOM;Acousto-Optic Modulator )とも呼ばれ
る)16で光変調される。
手段として光軸方向に進退動可能なステージ17aに設
けた本体側光路長調整レンズ17により光路長を調整さ
れるようになっている。このステージ17aは、図示し
ないステッピングモータにより駆動される。また、この
ステッピングモータは、装置本体4の後述する制御部3
3で制御駆動されるようになっている。
側光路長調整手段を設けることで、装置本体4内(低コ
ヒーレンス光源11〜本体側光コネクタ部5a端面〜後
述の検出部31)での信号光路と参照光路との光路長を
完全に一致するように構成される。尚、この調整は、予
め、図示しないリフレクトメータで測定し、装置本体4
内で合わせ込むようになっている。
ファイバ18の一端に入射され、本体側光コネクタ部5
aの端部まで伝達されるようになっている。この本体側
光コネクタ部5aにプローブ側光コネクタ部5bが接続
されていると、これら光コネクタ部5を介して信号光
は、光プローブ3へ伝達される。
ーブ側光コネクタ部5bから延設する光ファイバ19の
他方の端面(先端面)側に伝達される。この光ファイバ
19の先端側に伝達された信号光は、光プローブ3の先
端側に配設された対物レンズ20に伝達され、この対物
レンズ20によりその焦点で被検体2の目的部位に集光
される。そして、その焦点からの被検体2の目的部位の
反射光及び散乱光の一部は、戻り信号光として上記光路
を通り、再び装置本体4の光カップラ部13側に戻るよ
うになっている。
面19aは、水平走査手段としてXY方向へ変位される
PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)素子21に一体的に設
けられ、このPZT素子21で被検体2の目的部位に対
して二次元走査(XY走査)が行われるようになってい
る。
段として光軸方向(Z軸方向)に進退動されるステージ
22に一体的に設けられ、このステージ22が図示しな
いステッピングモータによりZ軸方向(光軸方向)に進
退動されることで、被検体2の目的部位に対して深部方
向に垂直走査が行われるようになっている。
ータ及びPZT素子21は、本体側光路長調整レンズ1
7と同様に装置本体4の制御部33で制御駆動されるよ
うになっている。尚、この場合、垂直走査に応じて、制
御部33は、本体側光路長調整レンズ17を光軸方向
(Z軸方向)に進退動させ、被検体2の目的部位に対す
る信号光の集光位置と、後述の干渉光の干渉位置とを一
致させるようにしても良い。また、この垂直走査終了後
に、制御部33は、本体側光路長調整レンズ17を原点
復帰させるように構成しても良い。
光は、光ファイバ14の先端側へ至る途中に偏光調整部
として捩じれを加えたループ部23で偏光調整される。
aからプローブ側光コネクタ部5bを介して光プローブ
3へ伝達されるようになっている。
一部を光プローブ3に設け、この光プローブ3内での信
号光路と参照光路との光路長を低コヒーレンス光の可干
渉距離範囲内でほぼ一致させるように構成している。
ーブ側光コネクタ部5bに延設された光ファイバ24の
他方の端面(先端面)側に伝達される。この光ファイバ
24の先端側に伝達された参照光は、平行レンズ25で
平行光にされ、プローブ側光路長調整手段として光軸方
向に進退動可能なステージ26aに設けたプローブ側光
路長調整レンズ26により光路長を調整されるようにな
っている。このステージ26aは、本体側光路長調整レ
ンズ17と同様に図示しないステッピングモータにより
駆動され、装置本体4の制御部33で制御駆動されるよ
うになっている。
ローブ3内の全信号光路の光路長(プローブ側光コネク
タ部5b〜被検体2の目的部位の集光位置〜プローブ側
光コネクタ部5b)と、光プローブ3に配設された全参
照光路の光路長(プローブ側光コネクタ部5b〜ファイ
バ端面〜プローブ側光コネクタ部5b)とが低コヒーレ
ンス光の可干渉距離範囲内でほぼ一致するように構成さ
れる。
リフレクトメータで測定し、光プローブ3内で合わせ込
むようになっている。更に具体的に説明すると、この調
整は、対物レンズ20の焦点に図示しない反射ミラーを
設置し、信号光路の光路長としてプローブ側光コネクタ
部5b〜反射ミラー(被検体2の目的部位の集光位置)
〜プローブ側光コネクタ部5bと、参照光路の光路長と
してプローブ側光コネクタ部5b〜光ファイバ先端側端
面28a〜プローブ側光コネクタ部5bとを測定し、合
わせ込む。
は、対物レンズ20による信号光の垂直走査に応じて、
参照光の光路長を調整するディレイラインを兼用するよ
うに構成しても良い。この場合、制御部33は、この垂
直走査に応じて、プローブ側光路長調整レンズ26を光
軸方向に進退動させ、被検体2の目的部位に対する信号
光の集光位置と、後述の干渉光の干渉位置とを一致さ
せ、垂直走査終了後に、原点復帰させるようになってい
る。
ファイバ28の一端に入射される。この光ファイバ28
の先端側端面28aまで伝達された参照光は、その一部
が参照光伝達手段として先端側端面28aで反射され
て、戻り参照光として上記光路を通り、再び装置本体4
の光カップラ部13側に戻るようになっている。そし
て、光カップラ部13側に戻った光路長が殆ど等しい戻
り信号光と戻り参照光とは、この光カップラ部13で干
渉され、フォトダイオード等の光検出部31で受光され
るようになっている。
光電変換し、この光電変換された干渉電気信号は、アン
プ等で増幅されて信号処理部32に入力される。信号処
理部32は、入力された干渉電気信号を信号光の信号部
分のみを抽出する復調処理を行い、A/D変換して、デ
ジタル信号を制御部33へ出力する。
ら断層像に対応した画像データを生成する。そして、生
成された画像データは、表示部34に出力され、その表
示画面に被検体2の3次元断層像画像(OCT断層像)
として表示されるようになっている。
3の特徴情報を保持する情報保持手段と、この情報保持
手段に保時された特徴情報を検知する情報検知手段とを
装置本体4に設け、光プローブ3が装置本体4に接続さ
れた際に、情報検知手段が検知した情報保持手段からの
特徴情報に基づき、制御部33が光路長調整手段である
本体側光路長調整レンズ17及びプローブ側光路長調整
レンズ26のステッピングモータを制御するように構成
しても良い。
1は、例えば、光プローブ3を体腔内等に挿入されて用
いられる。尚、光イメージング装置1は、図示しない内
視鏡やレーザ内視鏡等を用いて、処置具挿通用チャンネ
ル等に光プローブ3を挿通させて用いても良いし、上記
内視鏡等に一体化させて構成しても良い。また、光イメ
ージング装置1は、他の観察手段や処置手段と併用して
用いても良い。
2の生体組織に対し、光プローブ3から低コヒーレンス
光を集光し、その生体組織の内部の断層画像データを得
て、表示部34の表示面にOCT像を表示する。
2や観察目的部位が異なるために、極端に長さの異なる
光プローブ3を交換して使用する場合がある。光イメー
ジング装置1は、予め、装置本体4内での信号光路と参
照光路との光路長が完全に一致している。また、光イメ
ージング装置1は、予め、光プローブ3内に配設された
全信号光路の光路長と、全参照光路の光路長とが低コヒ
ーレンス光の可干渉距離範囲内でほぼ一致している。
光路と参照光路との光路長が低コヒーレンス光の可干渉
距離範囲内でほぼ一致するので、極端に長さの異なる光
プローブ3を交換して使用した場合にも、確実に断層像
を得ることができる。
位を観察するときに、この部位による屈折率の差異から
対物レンズ20の集光位置が異なってくる。目的部位の
概略は、事前に知ることができるので、その値を用いる
ことにより、プローブ内の信号光路の光路長を決定で
き、これに合わせてプローブ内の参照光路の光路長を予
め設定しても良い。
プローブ内の信号光路の光路長に合わせて光ファイバ2
4Bの長さを設定して配設する。このことにより、光プ
ローブ3は、プローブ側光路長調整レンズ26及びこの
ステッピングモータ等を設けることなく、プローブ先端
部を細径化することが可能となる。また、光プローブ3
Bは、プローブ側光コネクタ部5bの基端側に光ファイ
バ収納部41を設け、この光ファイバ収納部41に光フ
ァイバ24の途中を所定回数巻いて収納することで、更
なるプローブ先端部の細径化が可能となる。
は、プローブ側光コネクタ部5bの基端側で光ファイバ
24Cの途中を例えば1回巻いてループさせた後、この
ファイバ先端側の位置を光ファイバ19に対して平行に
配設する。このことにより、光プローブ3は、図2の光
プローブ3よりも若干プローブ先端部が太くなるが、信
号光路に参照光路を沿わせているので、環境変化(温
度、曲げによる歪み)の影響によるノイズを除去するこ
とが可能となる。
は、光サーキュレータ42を用いて光ファイバ24Dを
円環状に閉じるように構成しても良い。このことによ
り、光プローブ3Dは、光ファイバ24Dの端面から余
計な光が入射することによるノイズを除去することが可
能となる。また、同様な理由で、図5に示すように光プ
ローブ3Eは、1×2光カップラ部43を用いて光ファ
イバ24Eを閉じるように構成しても良い。
られる光ファイバがシングルモードファイバでなくマル
チモードファイバであっても良く、また、低コヒーレン
ス光源11がSLDでなくとも、LEDであっても良
い。
本発明の第2の実施の形態に係り、図6は本発明の第2
の実施の形態の光イメージング装置を示す構成図、図7
ないし図9は図6の光イメージング装置の変形例を示
し、図7は図6の第1の変形例を示す光イメージング装
置の構成図、図8は図6の第2の変形例を示す光イメー
ジング装置の構成図、図9は図6の第3の変形例を示す
光イメージング装置の構成図、図10は図6の光プロー
ブの変形例を示す構成図である。
くとも一部を光プローブ3に設け、この光プローブ3内
での信号光路と参照光路との光路長を低コヒーレンス光
の可干渉距離範囲内でほぼ一致させるように構成してい
るが、本第2の実施の形態は光プローブ内での信号光路
と参照光路との光路長に所定の差を有し、全信号光路の
光路長と全参照光路の光路長とが略同一の値を有するよ
うに構成する。それ以外の構成は、上記第1の実施の形
態とほぼ同様なので説明を省略し、同じ構成には同じ符
号を付して説明する。尚、本実施の形態では、光イメー
ジング装置は、体腔内等や工業用途の配管内部に挿入
し、目的部位に対して側視で観察可能な構成のものに本
発明を適用する。
態の光イメージング装置51は、体腔内等や工業用途の
配管内部に挿入可能な硬性の光プローブ52と装置本体
53とを着脱自在に接続する光コネクタ部54に光ロー
タリジョイント55を設け、この光ロータリジョイント
55により被検体2の目的部位に対してθ方向に走査さ
れるように構成している。光ロータリジョイント55
は、非回転部と回転部とで光が伝達可能な結合を行うも
のである。
aに光ロータリジョイント55の非回転部が設けられ、
この非回転部に光ファイバ18の先端側が接続される。
尚、それ以外の装置本体53の構成は、上記第1の実施
の形態で説明した装置本体4と同じ構成であるので説明
を省略する。
ネクタ部54bに光ロータリジョイント55の回転部が
設けられ、光ロータリジョイント55の非回転部に着脱
自在に接続可能であり、装置本体53に対して交換可能
な構成となっている。
イント55の回転部に光ファイバ19の基端側が延設さ
れると共に、この光ファイバ19の先端側にロッドレン
ズ56及びプリズム57が回動自在に接続される。即
ち、光プローブ52は、光ロータリジョイント55によ
り、光ファイバ19とロッドレンズ56及びプリズム5
7が被検体2の目的部位に対してθ方向に走査されるよ
うになっている。
れる信号光は、光ロータリジョイント55を介して光フ
ァイバ19へ伝達される。この光ファイバ19へ伝達さ
れた信号光は、ロッドレンズ56を介してプリズム57
によりその焦点で被検体2に集光され、その焦点からの
被検体2の反射光及び散乱光の一部は、戻り信号光とし
て上記光路を通り、再び装置本体53側に戻るようにな
っている。
ーブ側光コネクタ部54bから延設する光ファイバ24
が折り返されてプローブ側光コネクタ部54bに接続さ
れるようになっている。この光ファイバ24は、プロー
ブ側光コネクタ部54b間において、光プローブ52内
での信号光路の光路長(プローブ側光コネクタ部54b
〜被検体2の目的部位の集光位置〜プローブ側光コネク
タ部54b)に対し所定の差を有し、この所定差分短く
形成されている。
3は、光ファイバ58を設けると共に、このファイバ先
端側に参照光路のディレイラインとして、光軸方向に進
退動可能なステージ59aに設けた平行レンズ59と、
反射ミラー60が配置されている。尚、ステージ59a
は、本体側光路長調整レンズ17と同様に図示しないス
テッピングモータによりZ軸方向(光軸方向)に進退動
されることで、被検体2の目的部位に対して深部方向に
垂直走査(R方向走査)が行われるようになっている。
照光は、光プローブ52内の光ファイバ24を介して再
び装置本体53側へ伝達されるようになっている。参照
光は、装置本体53側の光ファイバ58の先端端面側か
ら平行レンズ15で平行光にされて反射ミラー60で反
射されて上記光路を通り、再び装置本体53側に戻るよ
うになっている。
のと同様に、装置本体53側へ戻った戻り信号光と戻り
参照光とは光カップラ部13で干渉されて光検出部31
で検出される。
51は、例えば、光プローブ52を体腔内等や工業用途
の配管内部に挿入されて用いられる。そして、光イメー
ジング装置51は、患部等の被検体2の生体組織や工業
用途の配管内部に対しθ方向に走査され、表示部34の
表示面に側視断面のOCT像を表示できるようにしてい
る。
第1の実施の形態で説明したのと同様に極端に長さの異
なる光プローブ52を交換して使用する場合がある。
2内で全信号光路(プローブ側光コネクタ部54b〜被
検体2の目的部位の集光位置〜プローブ側光コネクタ部
54b)と、全参照光路(プローブ側光コネクタ部54
b〜光ファイバ24〜プローブ側光コネクタ部54b)
との光路長に所定差が有る。
は、装置本体53が光ファイバ58と参照光路のディレ
イライン(平行レンズ59及び反射ミラー60)を配置
しているので、信号光路と参照光路との光路長が完全に
一致するように、参照光路のディレイライン(平行レン
ズ59及び反射ミラー60)のステッピングモータが制
御部33で制御される。
記第1の実施の形態と同様に信号光路と参照光路との光
路長が完全に一致するので、極端に長さの異なる光プロ
ーブ3を交換して使用した場合にも、確実に断層像を得
ることができる。
置51Bは、信号光路の本体側光路長調整レンズ17を
ディレイラインとして兼用すると共に、参照光路の光フ
ァイバ58の先端側を1×2光カップラ部61で光ファ
イバ14の基端側に接続して構成しても良い。
51に対して、図8に示すように光イメージング装置5
1Cは、光ファイバ24の途中にプローブ側光路長調整
レンズ26を設け、光ファイバ24bを介して光ファイ
バ58に伝達するように構成しても良い。
合わせて、図9に示すように光イメージング装置51D
は、光ファイバ24の途中にプローブ側光路長調整レン
ズ26を設け、光ファイバ24bを介して光ファイバ5
8に伝達するように構成し、信号光路の本体側光路長調
整レンズ17をディレイラインとして兼用すると共に、
参照光路の光ファイバ58の先端側を1×2光カップラ
部61で光ファイバ14の基端側に接続して構成しても
良い。
Bは、上記第1の実施の形態で説明したのとほぼ同様
に、プローブ側光コネクタ部54bの基端側に光ファイ
バ収納部41を設け、この光ファイバ収納部41に光フ
ァイバ24Bの途中を所定回数巻いて収納することで、
更なるプローブ先端部の細径化が可能となる。
3の実施の形態に係る光イメージング装置を示す構成図
である。上記第1,第2の実施の形態は、光プローブを
体腔内等や工業用途の配管内部に挿入されて用いられる
ものに本発明を適用して構成しているが、本第3の実施
の形態は、光プローブで例えば積層フィルム等の層状物
質を観察するものに本発明を適用して構成する。それ以
外の構成は、上記第1の実施の形態とほぼ同様なので説
明を省略し、同じ構成には同じ符号を付して説明する。
光イメージング装置71は、例えば積層フィルム等の層
状物質2Bを観察可能な光プローブ72と、この光プロ
ーブ72を着脱自在に接続し、被検体2からの戻り光か
ら被検体2の断層像を構築する装置本体73とから主に
構成される。
部74bが装置本体73の本体側光コネクタ部74aに
着脱自在に接続可能であり、装置本体73に対して交換
可能な構成となっている。
で発生した低コヒーレンス光が光源側レンズ81で平行
光にされ、ハーフミラー82を通過して光分岐手段であ
る光分岐ハーフミラー83に入射される。光分岐ハーフ
ミラー83に入射された低コヒーレンス光は、この光分
岐ハーフミラー83で信号光と参照光とに分岐される。
尚、光分岐手段として光分岐ハーフミラー83の代わり
に光カップラを用いても良い。
光は、本体側光コネクタ部74aに伝達され、この本体
側光コネクタ部74aにプローブ側光コネクタ部74b
が接続されていると、これら光コネクタ部74を介して
光プローブ72へ伝達される。光プローブ72へ伝達さ
れた信号光は、光路長調整手段として楔型プリズム84
a,84bを2つ組み合わせた光路長調整プリズム84
により、全信号光路と全参照光路との光路長が低コヒー
レンス光の可干渉距離範囲内でほぼ一致するように調整
される。
同様に予め、図示しないリフレクトメータで測定し、手
動又は制御部33の制御により図示しないステッピング
モータを駆動することで、装置全体(光プローブ72及
び装置本体73)内で合わせ込むようになっている。
テロダイン干渉として電気光学変調素子(EOD;Eele
ctro-Optic Device ;又は電気光学変調器EOM;Eele
ctro-Optic Modulator とも呼ばれる)85で光変調さ
れる。光変調された信号光は、光プローブ72の先端側
に配設された対物レンズ86に伝達され、この対物レン
ズ86によりその焦点で被検体2に集光される。そし
て、その焦点からの被検体2の反射光及び散乱光の一部
は、戻り信号光として上記光路を通り、再び装置本体7
3の光分岐ハーフミラー83側に戻るようになってい
る。
軸方向に進退動されるステージ86aに一体的に設けら
れ、このステージが図示しないステッピングモータによ
りZ軸方向(光軸方向)に進退動されることで、被検体
2の目的部位に対して深部方向に垂直走査が行われるよ
うになっている。このステージを駆動するステッピング
モータ86aは、装置本体73の制御部33で制御駆動
されるようになっている。
た参照光は、反射ミラー87で反射されて本体側光コネ
クタ部74aに伝達され、プローブ側光コネクタ部74
bを介して光プローブ72へ伝達される。光プローブ7
2へ伝達された参照光は、参照光伝達手段としての平面
ミラー88で反射されて、再び装置本体73の光分岐ハ
ーフミラー83側に戻るようになっている。
73内で参照光路の光路長が光分岐ハーフミラー83〜
反射ミラー87分、信号光路の光路長より長くなってい
るが、光プローブ72内でその分、信号光路が長く設け
られている。また、平面ミラー88は、ディレイライン
として光軸方向へ変位されるPZT(チタン酸ジルコン
酸鉛)素子89がステージ90に一体的に設けられ、こ
のPZT素子89で被検体2の目的部位に対する信号光
の集光位置と、干渉光の干渉位置とを一致させるように
なっている。
と信号光とは、光分岐ハーフミラー83側からの光路で
干渉する。即ち、光分岐ハーフミラー83は、参照光と
信号光とを結合する光結合手段を兼ねている。そして、
干渉光は、受光側レンズ91で集光されて、光検出部3
1で受光されるようになっている。
71は、積層フィルム等の層状物質2Bに対し、光プロ
ーブ72から低コヒーレンス光を集光し、その内部の断
層画像データを得て、表示部34の表示面にOCT像を
表示できるようにしている。ここで、光イメージング装
置71は、被検体2Bや観察目的部位が異なるために、
極端に長さの異なる光プローブ72を交換して使用する
場合がある。
体(光プローブ72及び装置本体73)内で全信号光路
の光路長と、全参照光路の光路長とが低コヒーレンス光
の可干渉距離範囲内でほぼ一致している。
号光路と参照光路との光路長が低コヒーレンス光の可干
渉距離範囲内でほぼ一致するので、極端に長さの異なる
光プローブ72を交換して使用した場合にも、確実に断
層像を得ることができる。
層の屈折率が分っていれば、制御部33により対物レン
ズ86の光軸方向への移動量から各層の厚さを算出し、
この算出結果により厚さ測定や内部の欠陥観察を行う。
この結果、本実施の形態の光イメージング装置71は、
上記第1の実施の形態と同様な効果を得ることが可能と
なる。
いガルバノミラーを用いることで、層状物質2Bに対し
てX走査,XY走査等の二次元走査が可能なように構成
しても良い。また、光イメージング装置71は、透明で
散乱の少ない積層フィルム等を測定する場合、ヘテロダ
イン検出法を必ずしも用いなくとも良い。この場合、光
イメージング装置71は、その分簡単な構成となる。
に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々変形実施可能である。
源からの低コヒーレンス光を被検体に集光し、この被検
体からの戻り光を取り込む光プローブ及び、この光プロ
ーブを着脱自在に接続し、取り込んだ戻り光から被検体
の断層像を構築する装置本体を有する光イメージング装
置において、前記低コヒーレンス光源で発生した低コヒ
ーレンス光を光分岐手段で信号光と参照光とに分岐し、
分岐した信号光を前記光プローブの先端側に伝達して被
検体に集光する信号光伝達手段と、前記光分岐手段で分
岐した参照光と前記被検体からの戻り信号光とを干渉さ
せるために、前記参照光を干渉手段へ伝達する参照光伝
達手段と、を具備し、前記参照光伝達手段の参照光路の
少なくとも一部を前記光プローブに設けたことを特徴と
する光イメージング装置。
路と前記光プローブ内の参照光路とが略同一の光路長を
有することを特徴とする付記項1に記載の光イメージン
グ装置。
路と前記光プローブ内の参照光路とに所定の差を有し、
前記信号光伝達手段の信号光路と前記参照光伝達手段の
参照光路との光路長が略同一の値を有することを特徴と
する付記項1に記載の光イメージング装置。
光路と前記参照光伝達手段の参照光路との光路長を等し
くするための光路長調整手段を設けたことを特徴とする
付記項1に記載の光イメージング装置。
光路と前記参照光伝達手段の参照光路との少なくとも一
方に、周波数を変調する光変調手段を設け、この光検出
手段からの出力にヘテロダイン検出法を用いて被検体の
情報を得ることを特徴とする付記項1に記載の光イメー
ジング装置。
光の光軸方向における干渉位置を変化させるためのディ
レイラインを設けたことを特徴とする付記項1に記載の
光イメージング装置。 (付記項7) 前記参照光伝達手段と前記信号光伝達手
段とを略同一の光学部材で構成することを特徴とする付
記項2又は3に記載の光イメージング装置。
交換可能な複数の光プローブを有し、これら全ての光プ
ローブで信号光路と参照光路との光路差が前記所定量に
等しいことを特徴とする付記項3に記載の光イメージン
グ装置。
光プローブに設けることを特徴とする付記項4に記載の
光イメージング装置。 (付記項10) 前記光路長調整手段を前記装置本体に
設けることを特徴とする付記項4に記載の光イメージン
グ装置。 (付記項11) 前記光路長調整手段を前記光プローブ
と前記装置本体とのそれぞれに設けることを特徴とする
付記項4に記載の光イメージング装置。
報を保持する情報保持手段と、この情報保持手段に保時
された特徴情報を検知する情報検知手段とを前記装置本
体に設け、前記光プローブが前記装置本体に接続された
際に、前記情報検知手段が検知した前記情報保持手段か
らの特徴情報に基づき、前記光路長調整手段を制御する
制御手段を設けたことを特徴とする付記項4に記載の光
イメージング装置。
号光路と前記参照光路とのそれぞれに設けることを特徴
とする付記項5に記載の光イメージング装置。 (付記項14) 前記信号光を走査する信号光走査手段
を設けることを特徴とする付記項1又は6に記載の光イ
メージング装置。 (付記項15) 前記参照光伝達手段及び前記信号光伝
達手段に光ファイバを用いることを特徴とする付記項7
に記載の光イメージング装置。
記光プローブの参照光路に設けることを特徴とする付記
項9に記載の光イメージング装置。 (付記項17) 前記光路長調整手段を前記光プローブ
の信号光路に設けることを特徴とする付記項9に記載の
光イメージング装置。 (付記項18) 前記光路長調整手段を前記装置本体の
参照光路に設けることを特徴とする付記項11に記載の
光イメージング装置。 (付記項19) 前記光路長調整手段を前記装置本体の
信号光路に設けることを特徴とする付記項11に記載の
光イメージング装置。
グルモードファイバであることを特徴とする付記項15
に記載の光イメージング装置。 (付記項21) 前記光ファイバは、マルチモードファ
イバであることを特徴とする付記項15に記載の光イメ
ージング装置。
いられる参照光用光ファイバは、少なくとも1回折り返
して配されることを特徴とする付記項15に記載の光イ
メージング装置。
いられる信号光用光ファイバと前記参照光伝達手段に用
いられる参照光用光ファイバとを略平行に配置すること
を特徴とする付記項15に記載の光イメージング装置。
いられる参照光用光ファイバの先端部側の端面反射によ
り、この参照光用光ファイバで伝達される参照光が折り
返されることを特徴とする付記項15に記載の光イメー
ジング装置。
路を光ファイバと光サーキュレータとの組み合わせで構
成することを特徴とする付記項15に記載の光イメージ
ング装置。
路を光ファイバと1×2の光カプラとの組み合わせで構
成することを特徴とする付記項15に記載の光イメージ
ング装置。
置本体とが参照光の入出口を形成した光コネクタ部に着
脱自在に接続し、この光プローブ内で参照光が往復する
ように前記参照光伝達手段を配置することを特徴とする
付記項15に記載の光イメージング装置。
に前記参照光用光ファイバの収納部を設けたことを特徴
とする付記項22に記載の光イメージング装置。 (付記項29) 前記収納部に前記参照光用光ファイバ
を全て収納することを特徴とする付記項28に記載の光
イメージング装置。
の低コヒーレンス光を被検体に集光し、この被検体から
の戻り光を取り込む光プローブ及び、この光プローブを
着脱自在に接続し、取り込んだ戻り光から被検体の断層
像を構築する装置本体を有する光イメージング装置にお
いて、前記低コヒーレンス光源で発生した低コヒーレン
ス光を光分岐手段で信号光と参照光とに分岐し、分岐し
た信号光を前記光プローブの先端側に伝達して被検体に
集光する信号光伝達手段と、前記光分岐手段で分岐した
参照光と前記被検体からの戻り信号光とを干渉させるた
めに、前記参照光を干渉手段へ伝達する参照光伝達手段
と、を具備し、前記信号光伝達手段の信号光路と前記参
照光伝達手段の参照光路との光路長を一致させるため
に、前記参照光伝達手段の参照光路の少なくとも一部を
前記光プローブに設けたことを特徴とする光イメージン
グ装置。
号光路と前記参照光伝達手段の参照光路との光路長を更
に等しくするための光路長調整手段を設けたことを特徴
とする付記項30に記載の光イメージング装置。
端に長さの異なる光プローブを交換して使用した場合に
も、確実に断層像を得ることが可能な光イメージング装
置を実現できる。
置を示す構成図
置を示す構成図
の構成図
の構成図
の構成図
装置を示す構成図
Claims (3)
- 【請求項1】 低コヒーレンス光源からの低コヒーレン
ス光を被検体に集光し、この被検体からの戻り光を取り
込む光プローブ及び、この光プローブを着脱自在に接続
し、取り込んだ戻り光から被検体の断層像を構築する装
置本体を有する光イメージング装置において、 前記低コヒーレンス光源で発生した低コヒーレンス光を
光分岐手段で信号光と参照光とに分岐し、分岐した信号
光を前記光プローブの先端側に伝達して被検体に集光す
る信号光伝達手段と、 前記光分岐手段で分岐した参照光と前記被検体からの戻
り信号光とを干渉させるために、前記参照光を干渉手段
へ伝達する参照光伝達手段と、 を具備し、前記参照光伝達手段の参照光路の少なくとも
一部を前記光プローブに設けたことを特徴とする光イメ
ージング装置。 - 【請求項2】 前記光プローブ内の信号光路と前記光プ
ローブ内の参照光路とが略同一の光路長を有することを
特徴とする請求項1に記載の光イメージング装置。 - 【請求項3】 前記光プローブ内の信号光路と前記光プ
ローブ内の参照光路とに所定の差を有し、前記信号光伝
達手段の信号光路と前記参照光伝達手段の参照光路との
光路長が略同一の値を有することを特徴とする請求項1
に記載の光イメージング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001339787A JP3869249B2 (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 光イメージング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001339787A JP3869249B2 (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 光イメージング装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003139688A true JP2003139688A (ja) | 2003-05-14 |
JP2003139688A5 JP2003139688A5 (ja) | 2005-07-07 |
JP3869249B2 JP3869249B2 (ja) | 2007-01-17 |
Family
ID=19154083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001339787A Expired - Fee Related JP3869249B2 (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 光イメージング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3869249B2 (ja) |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1704814A2 (en) | 2005-03-25 | 2006-09-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Optical tomography apparatus |
JP2006266861A (ja) * | 2005-03-24 | 2006-10-05 | Topcon Corp | 光画像計測装置 |
JP2006322767A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Kowa Co | 光断層画像化装置 |
JP2007101262A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
US7450242B2 (en) | 2004-12-10 | 2008-11-11 | Fujifilm Corporation | Optical tomography apparatus |
US7539362B2 (en) | 2005-11-21 | 2009-05-26 | Fujifilm Corporation | Optical probe and optical tomography system |
US7542145B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-06-02 | Fujifilm Corporation | Optical tomography method and optical tomography system |
US7544162B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-06-09 | Fujifilm Corporation | Optical probe |
US7551817B2 (en) | 2006-04-04 | 2009-06-23 | Fujifilm Corporation | Probe and optical tomography system |
US7557931B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-07-07 | Fujifilm Corporation | Optical coherence tomography method |
JP2010078845A (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光強度変調器のバイアス制御装置 |
WO2010044322A1 (ja) * | 2008-10-17 | 2010-04-22 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光断層測定装置 |
US7857758B2 (en) | 2005-09-30 | 2010-12-28 | Fujifilm Corporation | Optical probe and optical tomography system |
JP5492351B1 (ja) * | 2012-05-11 | 2014-05-14 | パナソニック株式会社 | 巻回装置、巻回方法、検査装置及び構造物製造方法 |
JP2016131592A (ja) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | テルモ株式会社 | 光ケーブル及び光画像診断装置 |
JP2016161437A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 株式会社ティーワイテクノ | 光干渉断層計測装置 |
JP2020195802A (ja) * | 2011-05-31 | 2020-12-10 | ライトラボ・イメージング・インコーポレーテッド | 多モード撮像システム、装置、および方法 |
-
2001
- 2001-11-05 JP JP2001339787A patent/JP3869249B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7450242B2 (en) | 2004-12-10 | 2008-11-11 | Fujifilm Corporation | Optical tomography apparatus |
JP2006266861A (ja) * | 2005-03-24 | 2006-10-05 | Topcon Corp | 光画像計測装置 |
EP1704814A2 (en) | 2005-03-25 | 2006-09-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Optical tomography apparatus |
JP2006322767A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Kowa Co | 光断層画像化装置 |
US7633623B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-12-15 | Fujifilm Corporation | Optical tomography system |
JP2007101262A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
US7542145B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-06-02 | Fujifilm Corporation | Optical tomography method and optical tomography system |
US7544162B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-06-09 | Fujifilm Corporation | Optical probe |
US7857758B2 (en) | 2005-09-30 | 2010-12-28 | Fujifilm Corporation | Optical probe and optical tomography system |
US7557931B2 (en) | 2005-09-30 | 2009-07-07 | Fujifilm Corporation | Optical coherence tomography method |
US7539362B2 (en) | 2005-11-21 | 2009-05-26 | Fujifilm Corporation | Optical probe and optical tomography system |
US7551817B2 (en) | 2006-04-04 | 2009-06-23 | Fujifilm Corporation | Probe and optical tomography system |
JP2010078845A (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光強度変調器のバイアス制御装置 |
WO2010044322A1 (ja) * | 2008-10-17 | 2010-04-22 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光断層測定装置 |
JP2020195802A (ja) * | 2011-05-31 | 2020-12-10 | ライトラボ・イメージング・インコーポレーテッド | 多モード撮像システム、装置、および方法 |
US11241154B2 (en) | 2011-05-31 | 2022-02-08 | Lightlab Imaging, Inc. | Multimodal imaging system, apparatus, and methods |
JP7110288B2 (ja) | 2011-05-31 | 2022-08-01 | ライトラボ・イメージング・インコーポレーテッド | 画像データ収集システム |
JP5492351B1 (ja) * | 2012-05-11 | 2014-05-14 | パナソニック株式会社 | 巻回装置、巻回方法、検査装置及び構造物製造方法 |
US9404733B2 (en) | 2012-05-11 | 2016-08-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method |
US9859584B2 (en) | 2012-05-11 | 2018-01-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method in which a position of stuck together first and second wound sheets are detected via interference light generated using reflected reference light from a reference surface |
JP2016131592A (ja) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | テルモ株式会社 | 光ケーブル及び光画像診断装置 |
JP2016161437A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 株式会社ティーワイテクノ | 光干渉断層計測装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3869249B2 (ja) | 2007-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3869257B2 (ja) | 光イメージング装置 | |
US6760112B2 (en) | Grin-fiber lens based optical endoscopes | |
US6992776B2 (en) | Method for studying a sample and optical interferometer for doing the same | |
JP3869249B2 (ja) | 光イメージング装置 | |
JP3842101B2 (ja) | 内視鏡装置 | |
JP4555074B2 (ja) | 対象をイメージングするための装置及び低干渉性光学放射を届けるための装置 | |
US7944566B2 (en) | Single fiber endoscopic full-field optical coherence tomography (OCT) imaging probe | |
US7023558B2 (en) | Acousto-optic monitoring and imaging in a depth sensitive manner | |
JP3479069B2 (ja) | 光学的イメージ形成および測定の方法および装置 | |
US7382464B2 (en) | Apparatus and method for combined optical-coherence-tomographic and confocal detection | |
JP5044126B2 (ja) | 内視鏡観察装置および画像形成を行う内視鏡の作動方法 | |
JP5229325B2 (ja) | 回転光ファイバユニット及び光コヒーレンス断層画像生成装置 | |
JP2000131222A (ja) | 光断層画像装置 | |
WO1999046557A1 (en) | Method and apparatus for measuring optical reflectivity and imaging through a scattering medium | |
JP4037538B2 (ja) | 光イメージング装置 | |
JP2005529322A5 (ja) | ||
JP2000097846A5 (ja) | 光走査プローブ装置及び光イメージング装置 | |
JP4960336B2 (ja) | 光走査型観察装置 | |
US20120194661A1 (en) | Endscopic spectral domain optical coherence tomography system based on optical coherent fiber bundle | |
JPH11148897A (ja) | 光イメージング装置 | |
JPH1172431A (ja) | 光断層イメージング装置 | |
JP2006015134A (ja) | 光走査装置 | |
JP2003199701A (ja) | 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置 | |
Li et al. | Miniature probe for forward-view wide-field optical-resolution photoacoustic endoscopy | |
JP4624605B2 (ja) | 光イメージング装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041028 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041028 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060524 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060530 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060731 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20061010 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061012 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111020 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111020 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121020 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131020 Year of fee payment: 7 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |