JP3914879B2 - 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）テープ、Ｔ-ＢＧＡ(Tape Ball Grid Array)テープ、ＣＳＰ（Chip Size Package）テープ、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）テープ、ＢＧＡ（Ball Grid Array）、ＣＳＰ（Chip Size Package）など（以下、単に「電子部品実装用フィルムキャリアテープ」と言う。）の配線パターンなどの不良を検知するための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
エレクトロニクス産業の発達に伴い、ＩＣ（集積回路）、ＬＳＩ（大規模集積回路）などの電子部品を実装するプリント配線板の需要が急激に増加しているが、電子機器の小型化、軽量化、高機能化が要望され、これら電子部品の実装方法として、最近ではＴＡＢテープ、Ｔ-ＢＧＡテープ、ＡＳＩＣテープ、ＢＧＡ、ＣＳＰなどの電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた実装方式が採用されている。特に、パーソナルコンピュータなどのように高精細化、薄型化、液晶画面の額縁面積の狭小化が要望されている液晶表示素子（ＬＣＤ）を使用する電子産業においてその重要性が高まっている。
【０００３】
このような電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、外観検査、出荷検査などにおいて、電子部品実装用フィルムキャリアテープの品質を検査することが実施されているが、電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良である断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査を、実体顕微鏡で、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施している。
【０００４】
ところで、従来より、このような電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査を行う検査では、図６（Ａ）（Ｂ）に示したように、電子部品実装用フィルムキャリアテープ１００の検査の際に、例えば、電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅをそれぞれ、検査員が検査装置の近傍に付設した搬送制御スイッチを押すことによって、検査位置に連続して搬送し、停止する。
【０００５】
そして、停止状態において、それぞれの電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅに対して、実体顕微鏡などの検査装置によって、例えば、断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査項目について、目視検査を行っている。
この場合、図６（Ｂ）に示したように、それぞれの電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅを良品、不良品が判断され、検査員が検査装置の近傍に付設した搬送制御スイッチ（良品スイッチ、不良品スイッチ）を押すことによって、それぞれの電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅを順次搬送させていく。
【０００６】
このようなサイクルが繰り返し行われ、例えば、被検査対象である電子部品実装用フィルムキャリアテープが巻装されたリール当たりの不良率が算出されるようになっている。
【０００７】
【特許文献１】
特開２０００−１９３７１７号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の検査では、検査員が搬送制御スイッチを押すことによって、電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅの搬送、停止が行われるので、搬送、停止時間にバラツキが生じて、検査歩留まりが低下し、生産性が低下することになっている。
【０００９】
しかも、検査員が搬送制御スイッチを、個々の電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅに対して操作しなければならないので、その分、煩雑な作業が必要となるとともに、検査に要する時間長くなってしまうことになる。
本発明は、このような現状を考慮して、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、生産性が向上するとともに、正確で精度の良い抜取り検査を実施することが可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置およびそのための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明されたものであって、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査装置であって、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を制御する搬送制御装置とを備え、
前記搬送制御装置が、
前記検査装置による検査の際に、電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して、所定の速度で搬送しつつ、所定時間停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行うように制御するように構成されているとともに、
前記検査装置における検査の結果、不良品が検出された場合に、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、前記検査位置で搬送をいったん停止して、前記検査位置で、検査装置において、再検査するように制御し、
前記再検査が終了した後、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、再び電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送しつつ、所定時間停止するように、搬送駆動装置の動作を制御するように構成されていることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査方法であって、
搬送駆動装置によって、電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送し、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置による検査の際に、電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して、所定の速度で搬送しつつ、所定時間停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置における検査の結果、不良品が検出された場合に、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、前記検査位置で搬送をいったん停止して、前記検査位置で、検査装置
において、再検査し、
前記再検査が終了した後、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、再び電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送しつつ、所定時間停止することを特徴とする。
【００１２】
このように構成することによって、搬送制御が自動的に搬送制御装置によって、所定の速度で搬送しつつ、所定時間停止するように行われるので、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、連続的に検査を実施することができる。
【００１３】
しかも、検査の結果、不良品が検出された場合に、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、検査位置で搬送をいったん停止して再検査することができるので、検査精度の向上が図れる。
従って、生産性が向上するとともに、正確で精度の良い抜取り検査を実施することが可能である。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態（実施例）について説明する。
図１は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
図１に示したように、１０は全体で本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を示している。
【００１５】
電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置１０（以下、単に「検査装置１０」と言う）は、図１に示したように、送り出し装置２０と、検査部３０と、巻き取り装置５０とを備えている。
送り出し装置２０には、電子部品実装用フィルムキャリアテープ（以下、単に「フィルムキャリアテープ」と言う）であって、その製造工程が終了したフィルムキャリアテープＴが、スペーサＳを介して巻装されたリールＲが、送り出し駆動軸２２に装着されている。そして、図示しない駆動モータの駆動により、送り出し駆動軸２２が回転して、フィルムキャリアテープＴがリールＲからスペーサＳとともに繰り出されて、案内ローラ２１を介して、検査部３０へと供給されるようになっている。
【００１６】
この検査部３０に供給されたフィルムキャリアテープＴは、バックテンションギア３２とドライブギア３４の間を通過する際に、ドライブギア３４の駆動が一時停止されて、フィルムキャリアテープＴの送給が停止されるとともに、フィルムキャリアテープＴのスプロケット孔に係合するバックテンションギア３２の逆転によって、フィルムキャリアテープＴが正確に所定の位置に、位置決めされるようになっている（ピッチ送りされる）。すなわち、ドライブギア３４の駆動が一時停止されて、フィルムキャリアテープＴの送給が停止されるようになっている。
【００１７】
なお、この場合の制御は、ドライブギア３４の回転を、ドライブギア３４を駆動する駆動機構であるパルスモータの回転による内部パルスを制御することにより行うようになっている。図中、３１、３３は、これらのギアとの間でフィルムキャリアテープＴを押さえるための押さえローラである。
そして、検査部３０には、図１に示したように、例えば、断線、短絡、欠け、突起などの、出荷検査、外観検査などの品質検査を、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施するための顕微鏡３６が配置されている。
【００１８】
このように、検査部３０によって、フィルムキャリアテープＴの不良が検知されたフィルムキャリアテープＴは、案内ローラ４２を通過して、次の巻き取り装置５０に供給される。
図１に示したように、巻き取り装置５０に供給されたフィルムキャリアテープＴは、巻き取り駆動軸５２に装着されたリールＲに、案内ローラ４２を介して、図示しない駆動モータの駆動により巻き取り駆動軸５２が回転することにより、フィルムキャリアテープＴが巻き取られる。
【００１９】
この際、送り出し装置２０のリールＲから繰り出されたスペーサＳが、案内ローラ５６、５７を介して、巻き取り装置５０のリールＲに供給されフィルムキャリアテープの間に介装され、フィルムキャリアテープ同士が接触して、フィルムキャリアテープが損傷しないように保護するようになっている。
また、検査装置１０では、リールＲに巻装されたフィルムキャリアテープＴが、送り出し装置２０から送給された後、検査部３０へと案内ローラ２１を介して供給される。
【００２０】
また、同様に、検査部３０にて検査が終了したフィルムキャリアテープＴは、案内ローラ４２を介して案内された後、案内ローラ４２と巻き取り装置５０のリールＲとの間で、フィルムキャリアテープＴがその自重によって、一定の長さ分だけ垂下され、この自重によってフィルムキャリアテープＴにテンション（張力）が付加され、巻き取り装置５０のリールＲに巻き取られるようになっている。
【００２１】
図２は、本発明の検査装置１０の制御機構を示す概略ブロック図である。
図２に示したように、制御装置７０には、入出力制御部７２を介してそれぞれ、入力装置７４、表示装置７６、検査部３０、駆動部７８が、ＣＰＵ（中央演算処理装置）８０に接続されている。また、ＣＰＵ８０には、記憶部８２が接続されている。
【００２２】
入力装置７４は、キーボードなどの入力装置であり、フィルムキャリアテープＴの種類、ロット番号、所定の搬送速度、所定の停止時間などの固有情報を制御装置７０に入力するためのものである。
また、駆動部７８は、これらの値に基づいて、搬送がＣＰＵ８０で演算処理されたデータに基づいて制御される、ドライブギア３４を駆動する駆動機構であるパルスモータなどである。記憶部８２は、これらの情報を一時記憶しておく、ＲＡＭなどの記憶装置である。
【００２３】
このように構成される本発明の検査装置１０では、図３のフローチャートのように作動されるようになっている。
すなわち、ステップＳ１において、入力装置７４によって、所定の搬送速度、所定の停止時間が入力される。
そして、ステップＳ２において、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、フィルムキャリアテープＴが、所定の速度で搬送され、所定の時間停止されるようになっている。
【００２４】
すなわち、図４（Ａ）（Ｂ）に示したように、フィルムキャリアテープＴの検査の際に、例えば、電子部品実装部２ａ〜２ｅがそれぞれ、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、自動的に検査位置に連続して所定の速度で搬送され、検査位置で所定の時間停止されるようになっている。
そして、ステップＳ３において、この検査位置での所定の時間の停止の間に、フィルムキャリアテープの検査部３０において、それぞれの電子部品実装部２ａ〜２ｅに対して、例えば、実体顕微鏡などの検査装置によって、例えば、断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査項目について検査が実施される。
【００２５】
次に、ステップＳ４において、フィルムキャリアテープの検査部３０において、不良品か、良品であるか判断される。
そして、この検査部３０における検査の結果、良品である場合には、ステップＳ５において、予め設定した停止時間の経過によって、ステップＳ２に戻り、この検査位置への連続搬送、停止が継続されるようになっている。すなわち、例えば、予め設定した停止時間が５秒である場合に、３秒で検査が終了して良品と判断した場合には、フィルムキャリアテープの搬送が５秒停止した後、ステップＳ２に戻り、この検査位置への連続搬送、停止が継続されるようになっている。
【００２６】
なお、この良品の数は、自動的にカウントされ、記憶部８２に記憶される。
そして、この検査部３０における検査の結果、不良品である場合、ステップＳ６において、例えば、図５（Ａ）に示したように、電子部品実装部２ｅが不良と判断した場合には、検査員が検査装置の近傍に付設した不良品スイッチである搬送制御スイッチ（図示せず）を押すことによって、この不良位置２ｅにおいて、フィルムキャリアテープＴの搬送が停止するように制御されるようになっている。
【００２７】
そして、ステップＳ７において、フィルムキャリアテープの検査部３０において、再び、この検査位置にある電子部品実装部２ｅに対して、例えば、実体顕微鏡などの検査装置によって、例えば、断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査項目について再検査が実施される。
そして、ステップＳ８において、フィルムキャリアテープの検査部３０において、不良品か、良品であるか判断される。
【００２８】
そして、図５（Ｂ）に示したように、再検査によって、この検査位置にある電子部品実装部２ｅを良品と判断した場合には、ステップＳ９において、検査員が搬送制御スイッチの良品スイッチ（図示せず）を押すことによって、再び、ステップＳ２に戻り、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、自動的に検査位置に連続して所定の速度で搬送され、検査位置で所定の時間停止されるようになっている。
【００２９】
なお、この場合、良品スイッチである搬送制御スイッチを含んだ入力装置７４からの入力によって、ステップＳ６において記憶部８２において不良品と判断された電子部品実装部２ｅの不良品の数はキャンセルされ、この良品の数がＣＰＵ８０で演算処理された後、
自動的にカウントされ、記憶部８２に記憶される。
一方、図５（Ｃ）に示したように、再検査によって、この検査位置にある電子部品実装部２ｅを不良品と判断した場合には、ステップＳ１０において、検査員が搬送制御スイッチの不良品スイッチ（図示せず）を押すことによって、不良が確定するとともに、再び、ステップＳ２に戻り、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、自動的に検査位置に連続して所定の速度で搬送され、検査位置で所定の時間停止されるようになっている。なお、この不良品の数は、不良品スイッチである搬送制御スイッチを含んだ入力装置７４からの入力によって、ＣＰＵ８０で演算処理された後、自動的にカウントされ、記憶部８２に記憶される。
【００３０】
なお、記憶された情報をもとに、図示しない不良マーキング装置により、不良の実装部にパンチ孔などのマークを付けるようにしてもよい。
このようなサイクルが繰り返し行われ、例えば、被検査対象である電子部品実装用フィルムキャリアテープが巻装されたリール当たりの不良率が算出され、例えば、表示装置７６、図示しないプリント装置などに表示されるようになっている。
【００３１】
なお、この実施例では、被検査対象である電子部品実装用フィルムキャリアテープが巻装されたリール当たりの不良率を算出するだけであるが、不良位置、不良の種類などを、制御装置７０に入力して表示するようにすることも可能である。
また、上記の所定の搬送速度、停止時間は、特に限定されるものではなく、適宜決定すればよい。
【００３２】
さらに、この実施例では、一条の電子部品実装部が連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープについて説明したが、フィルムキャリアテープの幅方向にも電子部品実装部が配列されたいわゆる多数個取りと呼ばれる多条の電子部品実装用フィルムキャリアテープにも適用することが可能である。
以上、本発明の好ましい実施の態様を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、上記実施例では、検査部３０での検査を人の目視にて実施するための顕微鏡３６としたが、ＣＣＤカメラ、ラインセンサなどによる自動認識による自動検査を行う際にも適用できるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００３３】
【発明の効果】
本発明によれば、搬送制御が自動的に搬送制御装置によって、所定の速度で搬送しつつ、所定時間停止するように行われるので、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、連続的に検査を実施することができる。
【００３４】
しかも、検査の結果、不良品が検出された場合に、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、検査位置で搬送をいったん停止して再検査することができるので、検査精度の向上が図れる。
従って、生産性が向上するとともに、正確で精度の良い抜取り検査を実施することが可能であるなどの幾多の作用効果を奏する極めて優れた発明である。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
【図２】図２は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の制御機構を示す概略ブロック図である。
【図３】図３は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の作動を説明するフローチャートである。
【図４】図４は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の作動を説明する概略図である。
【図５】図５は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の作動を説明する概略図である。
【図６】図６は、従来の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法を説明する概略図である。
【符号の説明】
２ａ〜２ｅ 電子部品実装部
１０ 検査装置
２０ 送り出し装置
２１ 案内ローラ
２２ 駆動軸
３０ 検査部
３２ バックテンションギア
３４ ドライブギア
３６ 顕微鏡
４２ 案内ローラ
５０ 巻き取り装置装置
５２ 駆動軸
５６ 案内ローラ
７０ 制御装置
７２ 入出力制御部
７４ 入力装置
７６ 表示装置
７８ 駆動部
８２ 記憶部
１００ 電子部品実装用フィルムキャリアテープ
１０２ａ〜１０２ｅ 電子部品実装部
Ｒ リール
Ｓ スペーサ
Ｔ フィルムキャリアテープ

Claims (2)

1. 電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査装置であって、
   前記電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
   前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
   前記搬送駆動装置の搬送を制御する搬送制御装置とを備え、
   前記搬送制御装置が、
   前記検査装置による検査の際に、電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して、所定の速度で搬送しつつ、所定時間停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行うように制御するように構成されているとともに、
   前記検査装置における検査の結果、不良品が検出された場合に、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、前記検査位置で停止した状態を維持して、前記検査位置で、検査装置において、再検査するように制御し、
   前記再検査が終了した後、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、再び電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送しつつ、所定時間停止するように、搬送駆動装置の動作を制御するように構成されていることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。
2. 電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査方法であって、
   搬送駆動装置によって、電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送し、
   前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行い、
   前記検査装置による検査の際に、電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して、所定の速度で搬送しつつ、所定時間停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行い、
   前記検査装置における検査の結果、不良品が検出された場合に、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、前記検査位置で停止した状態を維持して、前記検査位置で、検査装置において、再検査し、
   前記再検査が終了した後、搬送制御スイッチからの入力に基づいて、再び電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送しつつ、所定時間停止することを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法。

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