JP4552779B2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4552779B2 JP4552779B2 JP2005194578A JP2005194578A JP4552779B2 JP 4552779 B2 JP4552779 B2 JP 4552779B2 JP 2005194578 A JP2005194578 A JP 2005194578A JP 2005194578 A JP2005194578 A JP 2005194578A JP 4552779 B2 JP4552779 B2 JP 4552779B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- inspected
- hoop
- unit
- transport
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
2 ガイド移送孔
3 被検査体
4 接着剤
5 成形被検査体
6 ピンプーリ
7 ピン
8 駆動部
9 ガイド
10 カバー
11 ブラケット
12 ブラケット
13 スライダー
14 連結バー
15 駆動部
16 検査部
17 認識機構
18 照明機構
19 巻出リール
20 巻取リール
21 ウエイト
22 ガイドローラ
23 ブラケット
24 カップリング
Claims (1)
- 被検査体が配設されたフープ状の搬送体を供給、収納するための巻出機構および巻取機構と、前記被検査体の検査を行う検査部と、少なくともピンプーリ、ガイド、駆動部からなり、前記巻出機構から供給された搬送体を移送し、前記被検査体を前記検査部へ搬送するための搬送機構と、この搬送機構と連結バーを介して連結するとともに、前記連結バーの一端に設けた駆動部を駆動させることにより、前記搬送機構を水平移動させる移動戻し機構を備え、前記検査部の検査結果に従って前記被検査体の不良を排除する際、前記搬送機構を水平移動させて前記不良を排除した後、前記搬送機構を元の位置へ復帰させることを特徴とした検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005194578A JP4552779B2 (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005194578A JP4552779B2 (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 検査装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007010601A JP2007010601A (ja) | 2007-01-18 |
JP2007010601A5 JP2007010601A5 (ja) | 2008-08-14 |
JP4552779B2 true JP4552779B2 (ja) | 2010-09-29 |
Family
ID=37749300
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005194578A Expired - Fee Related JP4552779B2 (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4552779B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111641094A (zh) * | 2020-07-07 | 2020-09-08 | 昆山博富仕自动化设备有限公司 | 接插件组装设备 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004307122A (ja) * | 2003-04-04 | 2004-11-04 | Canon Sales Co Inc | テープ搬送装置、テープ処理装置、テープ搬送方法及びテープ処理方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01140075A (ja) * | 1987-11-26 | 1989-06-01 | Tokyo Electron Ltd | テープキャリヤの検査方法 |
JPH01235866A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | Nec Corp | Tab icのハンドリング装置 |
-
2005
- 2005-07-04 JP JP2005194578A patent/JP4552779B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004307122A (ja) * | 2003-04-04 | 2004-11-04 | Canon Sales Co Inc | テープ搬送装置、テープ処理装置、テープ搬送方法及びテープ処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007010601A (ja) | 2007-01-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102023581B1 (ko) | 릴-투-릴 검사장치 및 릴-투-릴 검사방법 | |
JP5456792B2 (ja) | 電子部品をキャリアテープに充填するための方法および装置 | |
US10694649B2 (en) | Feeder maintenance apparatus and control method of feeder maintenance apparatus | |
JP4552779B2 (ja) | 検査装置 | |
WO2018042915A1 (ja) | 診断デバイス | |
KR100568404B1 (ko) | 전자부품실장용 필름 캐리어 테이프의 검사장치 및 검사방법 | |
WO2018087857A1 (ja) | 部品供給装置、表面実装機、及び部品供給方法 | |
KR100913627B1 (ko) | 캐리어테이프 피터 | |
JPH11174630A (ja) | ラベル貼付装置 | |
JP2001059821A (ja) | 表面検査方法及び装置 | |
JP7066184B2 (ja) | 加工検査装置 | |
JP2009128090A (ja) | テーピングic対応自動x線検査装置 | |
CN217954279U (zh) | 一种双面高速aoi检测机 | |
US20220381700A1 (en) | External appearance inspection apparatus and external appearance inspection method | |
KR102617146B1 (ko) | 금속 포일용 비전 검사 장치 및 그에 의한 검사 방법 | |
US20230343620A1 (en) | System and method for conveying and inspecting semiconductor package | |
JP2011075450A (ja) | 特性検査装置及びテーピング装置 | |
JP5415325B2 (ja) | 基板外観検査装置用の基板反転機構および該基板反転機構を備えた基板反転搬送手段 | |
JP2001311761A (ja) | Tab用オートハンドラにおける位置決め方法及びtab用オートハンドラ | |
JP2004117107A (ja) | ピンホール検査装置の校正装置 | |
JP3914879B2 (ja) | 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法 | |
JP2009162649A (ja) | テーピングic対応自動x線検査システム | |
KR101638097B1 (ko) | 커브드 스프링 검사장치 | |
JP4493650B2 (ja) | Tcpハンドリング装置 | |
JP3376552B2 (ja) | 基板のセンタリング装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080630 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080630 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20091126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100408 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100413 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100602 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100622 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100705 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |