JP3894891B2 - 高速,大出力電流かつ低消費電力の出力回路 - Google Patents
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Description
この発明は、半導体素子により構成されるドライバ回路やアンプ回路の最終段に用いられる出力回路に関する。特に本発明は、高速動作が可能で、大出力電流による駆動が可能で、かつ、定常状態では低消費電力を実現できる出力回路に関する。
本発明の出力回路は、半導体テストシステムのドライバとして、被試験半導体の入力ピンを正確に駆動するために最適に用いることができるが、汎用電子回路の出力段としても有効に用いることができる。
背景技術
ICテスタのような半導体テストシステムによって、ICやLSI等の半導体デバイスをテストする場合には、被試験半導体デバイスに対し、あらかじめ定めたテストタイミングで、該当するデバイスピンにICテスタにより形成されたテスト信号(テストパターン)を供給する。そして、ICテスタは、被試験デバイスからテスト信号に応答した出力信号を受信し、その出力信号を、ストローブ信号により所定のタイミングでサンプリングして、期待値データと比較することにより、被試験デバイスが正常に機能しているかを検証する。
被試験デバイスにドライバ等を経由して印加するテスト信号波形は、その電圧値や立ち上がりや下がりの時間が、その被試験デバイスの種類や試験目的に応じて正確に制御されている。したがって、そのテスト信号波形を忠実に被試験デバイスに伝送するためには、そのドライバの出力回路は高速動作が可能で、かつ、大電流を駆動できるものであることが必要である。また、最近の被試験半導体デバイスは数百あるいはそれ以上のピン数を有しており、半導体試験システムのテストチャンネルも数百以上を有する構成になっている。このため、ドライバの出力回路を低消費電力化することは、システム全体として低消費電力化に貢献するために重要である。
本発明の出力回路は、上記のような半導体テストシステムにおける応用に限るものではなく、広く電子回路の出力段に用いることができ、例えばアンプ回路の出力部分に有効に用いることができる。しかし、以下の記載においては、便宜上、半導体テストシステムに応用する場合を主にして説明を行う。
このような出力回路の従来技術例を第1図に示す。これは、ドライバ回路やアンプ回路など、電流駆動能力を要求される回路の一般的な構成例である。第1図の例において、出力回路10は、入力部のトランジスタQ1,Q2と出力部のトランジスタQ3,Q4、電流I1およびI2を流す定電流源、および抵抗R1,R2,R3により構成されている。出力回路10は、所定の電流値を所定の出力インピーダンスのもとで、例えば被試験デバイスにテスト信号を供給する。
半導体テストシステムでの応用のように、高速動作ができ、大出力電流を発生でき、かつ低消費電力であることを要求される場合、この第1図による従来の回路構成では、高速,大電流,低消費電力の全ての要求を満たすことは困難となることが多い。その具体的問題を以下に説明する。
ここで、この出力回路から負荷、例えば被試験半導体デバイスの入力ピン等、に供給する最大出力電流を70mA(ミリアンペア)、その出力回路の出力インピーダンスを50Ω(オーム)と仮定する。
ケース1
まず。低消費電力を目的として第1図の最終段の抵抗R1およびR2の抵抗をゼロ、すなわちR1=R2=0Ωとし、トランジスタQ3、Q4の定常状態での電流I3およびI4を10mA、すなわちI3=I4=10mA、さらにトランジスタQ1,Q2の定常状態での電流I1およびI2を5mA、すなわちI1=I2=5mA、とする。この設定において、最大出力電流70mAを駆動できるためには、トランジスタQ3とQ4は、ジャンクションを大きくする必要があるため、物理的サイズの大きなものとなる。
ところで、この回路構成において、トランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧VbeとトランジスタQ4のベース・エミッタ間電圧Vbeは互いに等しくなり、また、トランジスタQ2のベース・エミッタ間電圧VbeとトランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧Vbeも互いに等しくなる。さらに、一般にトランジスタのエミッタ(コレクタ)電流Iとベース・エミッタ間電圧Vbeおよび飽和電流Isの間には、次の関係があることが知られている(Kは定数)。
I=Is・exp(KVbe) ....(1)
ここで、飽和電流Isは、そのトランジスタのジャンクションの物理的サイズの関数であることが知られており、大電流を流す必要があるトランジスタは、飽和電流Isの値の大きい、したがって物理サイズの大きいトランジスタとなる。最終段のトランジスタQ3およびQ4が大電流を流す場合であっても、それらのトランジスタには例えば数十倍のような電流増幅率があるので、入力部のトランジスタQ1やQ2は大電流を駆動する必要はない。
しかし、トランジスタQ1の電流が5mAにおいて、そのベース・エミッタ間電圧VbeがトランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧Vbeと等しくなるためには、上記(1)式から、トランジスタQ3の半分の飽和電流Is値を有するトランジスタとしなければならない。このためトランジスタQ1は、35mAを駆動できる大きなサイズのものとなる。トランジスタQ2とQ4との関係についても同様である。したがって、トランジスタQ1やQ2は、5mA程度の駆動能力があればよいのに、35mAを駆動できる大きなサイズのトランジスタとなる。一般にサイズの大きなトランジスタは、浮遊容量や寄生容量が大となるので、高速動作をするには適さない。
ケース2
次に、高速出力動作を目的として、R1=R2=0Ω、I1=I2=5mAとし、トランジスタQ3とQ4は最大電流70mAを駆動するために、ケース1と同一とする。このケース2においては、トランジスタQ1とQ2を、5mAの電流値に最適化されたトランジスタとする。すなわちトランジスタQ1およびQ2はこの電流値5mAを流すのに必要な最小サイズで形成されたトランジスタであるものとする。この場合、トランジスタQ1およびQ2の物理サイズは、上記ケース1の場合(35mA)の7分の1でよい。したがって、寄生容量が小さく、導電路も短いため、高速動作が可能となる。
ここで、トランジスタQ1およびQ2のサイズが小であることは、上記の逆飽和電流Isが小であることを意味し、したがって、ケース1の場合と同一の電流値5mAを駆動するためには、ベース・エミッタ間電圧Vbは、ケース1の場合より大きくしなければならない。したがって、トランジスタQ3およびQ4のベース・エミッタ間電圧Vbeもそれに伴って大になる。このため、例えば定常電流として70mAのような大きな電流を流すことになる。すわなち、無負荷であってもトランジスタQ3とQ4に大電流を流すことになり、低消費電力化の目的に反する結果となる。
ケース3
高速動作かつ低消費電力を実現するために、I3=I4=10mA、I1=I2=5mAとし、ケース2の場合と同一サイズのトランジスタをQ1、Q2、Q3およびQ4を用いるとする。この関係を実現するためには、ケース2において生じた、トランジスタQ1およびQ2のベース・エミッタ間電圧VbeとトランジスタQ3およびQ4のベース・エミッタ間電圧Vbeとの差を、抵抗R1とR2による電圧降下により分担する。すなわち、トランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧Vbeと抵抗R1の両端電圧の和がトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧Vbeと等しくなるようにする。同様に、トランジスタQ4のベース・エミッタ間電圧Vbeと抵抗R2の両端電圧の和が、トランジスタQ2のベース・エミッタ間電圧Vbeと等しくなるようにする。この関係を実現するためには、抵抗R1やR2の抵抗値は、例えば約6オームになる。
この場合には、高速動作と低消費電力を実現することができる。しかし、この構成では、出力電流値が大になると出力インピーダンスが急激に増大するという欠点がある。上記のようにこの回路は、その出力トランジスタから負荷に最大70mAの電流を供給できることを想定している。このとき、出力電流値が所定値を越えると、抵抗による電圧降下により、出力トランジスタの一方を充分に順バイアスできず、そのトランジスタをオフにしてしまう。
例えば、この電流値がプラス方向(電源V+からトランジスタQ3を経て負荷の方向)に30mAを越えると、その電流値と抵抗R1による電圧降下が大となり、図中のノードOの電位が下がり、トランジスタQ4をオフにする。同様に電流値がマイナス方向(負荷からトランジスタQ4を経て電源V−の方向)に30mAを越えると、その電流値と抵抗R2による電圧降下が大となり、ノード0の電位が上昇し、トランジスタQ3をオフにする。
トランジスタQ3とQ4が共にオンの状態では、この出力回路の出力インピーダンスは、抵抗R1とトランジスタQ3の出力抵抗の直列接続(1)と抵抗R2とトランジスタQ4の出力抵抗の直列接続(2)とが並列に接続されたときの値となる。しかし、一方のトランジスタがオフになると、全体としての出力インピーダンス値は、直列接続(1)または(2)のいずれか一方のみとなるので、その値は例えば2倍に増大する。このため、被試験半導体デバイスのような負荷に対して、正確にテスト信号を供給することができなくなる。
発明の開示
従って、本発明の目的は、高速動作ができ、大出力電流を発生でき、かつ、低消費電力であり、あらゆる電子回路の出力段として使用できる出力回路を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、半導体テストシステムにおいて、テスト信号を被試験半導体デバイスに供給するためのドライバ回路の出力段に使用して最適な出力回路を提供することにある。
さらに、本発明の更に他の目的は、高速動作,大出力電流,低消費電力の目的を同時に達成でき、かつ、低価格で小規模な回路により構成することができる出力回路を提供することにある。
本発明の出力回路は、最終段のトランジスタのみに大電流駆動用トランジスタを用い、その他のトランジスタには小型高速用トランジスタを用いるとともに、その異なるタイプのトランジスタ間のベース・エミッタ電圧の差を抵抗回路網により分担するように構成し、さらに、この抵抗回路網による電圧降下を、逆方向電流により補償するための逆方向電流回路を設けて構成してある。
すなわち、本発明の出力回路は、電子回路の出力部に用いられ、入力信号を所望の電流レベルに変換して負荷に供給するための出力回路であり、入力信号を印加するための入力トランジスタと、負荷に所望の電流レベルで信号を供給するための一対の出力トランジスタと、その出力トランジスタ間に設けられ、上記負荷へ電流を供給するための接続点を有する抵抗回路網と、上記入力トランジスタのバイアス電位をシフトして上記出力トランジスタのバイアス電位を所定値に設定することにより、上記出力トランジスタのバイアス電流値を決定するためのレベルシフト回路と、上記出力トランジスタの一方から上記負荷に供給する電流値が所定値を越えたとき、上記抵抗回路網に上記抵抗回路網に供給している電流と逆方向の電流を供給する逆方向電流回路と、を有した構成とすることを特徴とする。
本発明の一実施例において、出力回路はさらに、上記入力トランジスタと上記レベルシフト回路に一定電流を供給するための定電流源を有する。また、好ましくは、上記一対の出力トランジスタは、コンプリメンタリ型で構成されており、その一方がNPNトランジスタであり、他方がPNPトランジスタとなっている。さらに好ましくは、上記逆方向電流回路は、コンプリメンタリ形式の一対のトランジスタであり、その一方がNPNトランジスタであり、他方がPNPトランジスタとなっている。
さらに、本発明の一実施例において、上記入力トランジスタは、無負荷時の出力電圧と入力電圧との差が約0ボルトとなるようにバイアスされた、一対のコンプリメンタリ形式のトランジスタで構成されている。または、上記入力トランジスタは、無負荷時の出力電圧と入力電圧との差が所定のプラスまたはマイナスのいずれか一方の電位値となるようにバイアスされた、NPNトランジスタまたはPNPトランジスタにより構成されている。
また、本発明の一実施例においては、上記逆方向電流回路に不要な電流が流れることを防止するための電流防止手段が設けられている。この電流防止手段は、上記出力トランジスタに接続された少なくとも一対のダイオードと、上記逆方向電流回路に接続された一対の電圧シフト手段とにより構成される。
本発明によれば、高速動作ができ、大出力電流を発生でき、かつ、低消費電力であり、あらゆる電子回路の出力段として使用できる出力回路を実現できる。したがって、本発明の出力回路は、例えば半導体テストシステムにおいて、テスト信号を被試験半導体デバイスに供給するためのドライバ回路の出力段に最適に応用することができる。本発明の出力回路は、低価格,小規模な回路構成により、高速動作,大出力電流かつ低消費電力の目的を同時に達成することができる。
発明を実施するための最良の形態
本発明をより詳細に説明するために、添付の図面に従ってこれを説明する。
第2図は、本発明の出力回路の基本的構成例を示している。この例において出力回路110は、レベルシフト回路22と、抵抗ネットワーク24と、トランジスタQ11,Q12,Q13,Q14とダイオードD1,D2,D3,D4とにより構成されている。
トランジスタQ11とQ12は、負荷に電流を供給するための最終段トランジスタであり、第1図におけるトランジスタQ3とQ4に相当する。したがって、トランジスタQ11とQ12は、例えば70mAのような電流を駆動できるような物理的サイズの大きなものとなっている。また、この例では、このトランジスタQ11とQ12はコンプリメンタリ形式で構成されており、Q11はNPNトランジスタであり、Q12はPNPトランジスタとなっている。
抵抗ネットワーク24は、出力回路110の出力インピーダンス値を決定するともに、トランジスタQ11とQ12に流れる電流により電圧降下を生じさせることにより、トランジスタQ11やQ12の定常(バイアス)電流を小さくできるようにするものである。したがって、第1図におけるケース3において説明した抵抗R1やR2に類似した機能を果たす。この具体的な回路例を第3図〜第5図および第7図に基づいて後で説明する。
レベルシフト回路22は、入力がゼロのときのDCバイアス電位を適切なDCレベルにレベルシフトして、トランジスタQ11とQ12に伝送するものである。また、レベルシフト回路22は、このレベルシフト機能に加え、第1図のトランジスタQ1とQ2に入力信号Vinを供給するためのバッファ機能を果たす。この具体的な回路例を第3図〜第5図、また、その変形例を第8図と第9図に基づいて後で説明する。
トランジスタQ13とQ14は、抵抗ネットワーク24における電圧降下を制御する機能を果たす。トランジスタQ13およびQ14により、トランジスタQ11,トランジスタQ12および抵抗ネットワーク24に大電流が流れても、トランジスタQ11またはQ12がオフになることを防止する逆方向電流回路を構成している。この例では、逆方向電流回路は、コンプリメンタリ形式で構成された一対のトランジスタであり、Q13はNPNトランジスタであり、Q14はPNPトランジスタとなっている。ダイオードD1,D2,D3,D4はトランジスタQ13やQ14に不要な電流が流れることを防止するための電流防止手段を構成している。これらのダイオードはトランジスタのベース・エミッタを用いて構成してもよい。
本発明の出力回路110は、最終段のトランジスタQ11とQ12のみが大電流で大きな物理サイズを必要とし、他のトランジスタは小型で高速にできる。また、トランジスタQ11とQ12は、電流値が大になってもオン状態を維持できるので、出力回路110の出力インピーダンスを一定に維持することができる。このため、入力信号波形(例えばテスト信号)を正確に負荷(例えば被試験半導体デバイスの入力ピン)に伝送できる。
第3図は本発明の出力回路110のより具体的な構成を示す回路図である。ここでは、第2図におけるレベルシフト回路22と抵抗ネットワーク24の具体的構成例を含んでいる。レベルシフト回路22は、トランジスタQ15,Q16、抵抗R15,R16、ダイオードD5,D6、および定電流源I15,I16で構成されている。したがって、第1図の従来技術の入力部の構成と比較して、レベルシフト用の抵抗R15,R16とダイオードD5,D6が付加されている点が異なる。またこの例では、抵抗ネットワークは抵抗R11とR12で構成されている。ダイオードD5やD6は、トランジスタのベース・エミッタにより構成してもよい。
この構成例において、抵抗R11とR12は、例えば互いに同一抵抗値でありノード1を基準に対称に構成されている。抵抗R11とR12は、トランジスタQ11とQ12に定常電流、例えば10mAが、無負荷の状態で流れているとき、トランジスタQ13およびQ14がわずかにオンとなるように、その抵抗値を決定する。トランジスタQ15,Q16、ダイオードD5,D6、抵抗R15,R16による電圧レベルのシフト量は、その電圧シフトによりトランジスタQ11およびQ12における電流値が意図した値、例えば無負荷で10mAとなるように決定する。
このようにした場合の、無負荷(抵抗R13に流れる電流がゼロ)における、出力回路110内の各部の電流を第4図に示す。定電流源I15,I16の電流値は、例えば5mAとする。またトランジスタQ11とQ12の無負荷での定常電流は、例えば10mAとする。この状態でトランジスタQ15のベースからエミッタ,ダイオードD5及び抵抗R15を経由してトランジスタQ11のベースまでの電位差は、トランジスタQ11のベースからエミッタ,ダイオードD1及び抵抗R11を経由してノード1至るまでの電位差と等しい。同様に、トランジスタQ16のベースからエミッタ,ダイオードD6及び抵抗R16を経由してトランジスタQ12のベースまでの電位差は、トランジスタQ12のベースからエミッタ,ダイオードD2及び抵抗R12を経由してノード1に至るまでの電位差と等しい。
次に、第5図において、入力信号が加えられたことにより、出力回路110から負荷に大きな電流を供給する場合の各部分の電流の状態を示す。トランジスタQ11から負荷に供給する電流が大のとき、抵抗R11の電圧降下により、ノード1の電位が下がる。このとき、抵抗R12は、ノード3においてダイオードD3に接続されているため、抵抗R12には、トランジスタQ13を通して、逆向きの電流が流れる。これにより、ノード3の電位を上げるため、トランジスタQ12が逆バイアスになることを防止することができる。このため、トランジスタQ11が大きな電流を流す場合であっても、トランジスタQ12がオフになることを防止できるので、出力回路110の出力インピーダンスを一定にできる。
同様にして、トランジスタQ12が負荷から引き込む電流が大のとき、抵抗R12の電圧降下により、ノード1の電位が上昇する。このとき、抵抗R11は、ノード2においてダイオードD4に接続されているため、抵抗R11には、トランジスタQ14を通して、逆向きの電流が流れる。これにより、ノード2の電位を下げるため、トランジスタQ11が逆バイアスになることを防止することができる。このため、トランジスタQ12が大きな電流を流す場合であっても、トランジスタQ11がオフになることを防止できるので、出力回路110の出力インピーダンスを一定にできる。
したがって、本発明の出力回路は、高速性,低消費電力および大出力電流の要件を同時に満足させることができる。ここで、ダイオードD1,D2,D3およびD4は、トランジスタQ13やQ14に不要な電流が流れることを防止するために設けられている。これらのダイオードはトランジスタで構成してもよい。また、ダイオードD3やD4は、所定の電圧シフトを得る目的のものなので、これを抵抗に置き換えてもよい。
第6図(a)〜(f)は、第3図〜第5図の例においてレベルシフト回路として用いられているダイオードD5と抵抗R15、あるいはダイオードD6と抵抗R16の変形例を示している。第3図〜第5図の例では、ダイオードD5と抵抗15は、第6図(a)の構成を用いている。同一の目的を果たすものとして、各種の変形が考えられ、例えば第6図(b)から第6図(f)のような構成に置き換えてもよい。さらに、ここに図示していない各種の回路構成があり得、例えばツェナーダイオード等を使用したレベルシフト回路でもよい。
第7図(a)および第7図(b)は、抵抗ネットワークの構成例を示している。第3図−第5図の例では、第7図(a)の構成を用いているが、第7図(b)のような構成に置き換えてもよい。また、ここに図示しない他の回路構成でもよい。本発明への応用においては、負荷に電流を供給する接続点であるノード1に対して、トランジスタQ11とQ12の各出力抵抗と抵抗回路網の抵抗値が互いに等しく対称形となることが好ましい。
第8図と第9図は、本発明の出力回路の変形実施例を示している。第3図〜第5図の実施例では、入力信号は電位ゼロを基準として出力回路110に印加するように構成している。すなわち、トランジスタQ15,Q16は、無負荷時の出力電圧と入力電圧との差が約0ボルトとなるようにバイアスされている。それに対し、第8図と第9図の実施例では、無負荷時の出力電圧と入力電圧との差が、所定のプラスあるはマイナスのいずれかの電圧値となるように構成している。
例えば、第8図の場合には、抵抗R45,ダイオードD25およびトランジスタQ25により1組のレベルシフト回路が構成され、抵抗R46,ダイオードD26およびトランジスタQ26によりもう1組のレベルシフト回路が構成されている。定電流源I25から電流をこれらのレベルシフト回路に流すことにより、所定の電圧シフトが実現でき、これによりトランジスタQ11やQ12、およびトランジスタQ13やQ14に流れる電流を所定値に設定する。このトランジスタQ11,Q12,Q13,Q14やダイオードD1,D2,D3,D4および抵抗R11やR12は、第3図〜第5図の実施例と同一である。この回路構成において、入力部のトランジスタQ27にはPNPトランジスタが用いられている。トランジスタQ27のエミッタは、マイナス電位にバイアスされているので、ベースに印加される入力信号は、マイナス電位にシフトしたものとなる。
第9図は、第8図の例と対称となっており、入力部がプラス電位にシフトした構成となっている以外は、第8図の場合と同一である。定電流源I26から電流をレベルシフト回路に流すことにより、入力トランジスタQ28のエミッタは、プラス電位にバイアスされた状態となる。この例では、トランジスタQ28にはNPNトランジスタが用いられている。したがって、ベースに印加される入力信号は、プラス電位にシフトしたものとなる。
以上説明したように、本発明によれば、高速動作ができ、大出力電流を発生でき、かつ、低消費電力であり、あらゆる電子回路の出力段として使用できる出力回路を実現できる。したがって、本発明の出力回路を、例えば半導体テストシステムにおいて、テスト信号を被試験半導体デバイスに供給するためのドライバ回路の出力段に最適に応用することができる。本発明の出力回路低価格小規模な回路構成により、高速動作,大出力電流かつ低消費電力の目的を同時に達成することができる。
好ましい実施例しか明記していないが、上述した開示に基づき、添付した請求の範囲で、本発明の精神と範囲を離れることなく、本発明の様々な形態や変形が可能である。
産業上の利用可能性
以上のように、本発明にかかる出力回路は、高速動作が可能で、大出力電流による駆動が可能で、かつ、定常状態では低消費電力を実現できるので、半導体テストシステムのドライバとして、被試験半導体の入力ピンを正確に駆動するために、最適に用いることができ、また、汎用電子回路の出力段としても有効に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来技術によるドライバやアンプ等の出力回路の基本的構成例を示す回路図である。
第2図は、ドライバやアンプ等の出力部に用いる本発明による出力回路の概略構成例を示す回路図である。
第3図は、第2図による本発明の出力回路のより具体的な構成例を示す回路図である。
第4図は、第3図の本発明の構成において、出力負荷電流がゼロの場合の回路各部におけるに電流の流れを示す回路図である。
第5図は、第3図の本発明の構成において、大きな出力電流が負荷に供給されている場合の回路各部の電流の流れを示す回路図である。
第6図(a)−(f)は、第3図から第5図におけるレベルシフト回路として用いることができる各種の構成を示す回路図である。
第7図(a)−(b)は、第3図から第5図における出力インピーダンスを決める抵抗ネットワークの構成例を示す回路図である。
第8図は、入力部の回路構成を不平衡な位置に設けた本発明の変形実施例を示す回路図である。
第9図は、第8図の変形実施例と対称な回路形式で構成した本発明の他の変形実施例を示す回路図である。
Claims (9)
- 電子回路の出力部に用いられ、入力信号を所望の電流レベルに変換して負荷に供給するための出力回路において、
入力信号を印加するための入力トランジスタと、
負荷に所望の電流レベルで信号を供給するための一対の出力トランジスタと、
上記一対の出力トランジスタの各出力に一端が接続される一対の抵抗を備え、この一対の抵抗の他端が上記負荷へ電流を供給するための接続点を形成する抵抗回路網と、
上記入力トランジスタのバイアス電位をシフトして上記出力トランジスタのバイアス電位を所定値に設定することにより、上記出力トランジスタのバイアス電流値を決定するためのレベルシフト回路と、
上記出力トランジスタの一方から上記負荷に供給する電流値が所定値を越えたとき、上記抵抗回路網にその抵抗回路網に供給している電流と逆方向の電流を供給するための逆方向電流回路と、
を有することを特徴とする出力回路。 - 上記入力トランジスタと上記レベルシフト回路に一定電流を供給するための定電流源をさらに有する請求項1記載の出力回路。
- 上記一対の出力トランジスタは、コンプリメンタリ型で構成されており、その一方がNPNトランジスタであり、他方がPNPトランジスタである請求項1記載の出力回路。
- 上記逆方向電流回路は、コンプリメンタリ形式の一対のトランジスタであり、その一方がNPNトランジスタであり、他方がPNPトランジスタである請求項1記載の出力回路。
- 上記逆方向電流回路に不要電流が流れることを防止するための電流防止手段が設けられた請求項1記載の出力回路。
- 上記入力トランジスタは、無負荷時の出力電圧と入力電圧との差が約0ボルトとなるようにバイアスされた一対のコンプリメンタリ形式のトランジスタで構成された請求項1記載の出力回路。
- 上記入力トランジスタは、無負荷時の出力電圧と入力電圧との差が、所定のプラスまたはマイナスのいずれか一方の電圧値となるようにバイアスされたNPNトランジスタまたはPNPトランジスタにより構成された請求項1記載の出力回路。
- 上記抵抗回路網は、上記接続点を基準として、上記一対の出力トランジスタに対して対称形となっている請求項1記載の出力回路。
- 上記電流防止手段は、上記出力トランジスタに接続された少なくとも一対のダイオードと、上記逆方向電流回路に接続された一対の電圧シフト手段とにより構成された請求項5記載の出力回路。
以上
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